KR20070115466A - 드라이버 불량 검출 방법 및 이를 수행하기 위한 장치 - Google Patents

드라이버 불량 검출 방법 및 이를 수행하기 위한 장치 Download PDF

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Abstract

본 발명은 데이터 전류들의 크기 값들을 비교하여 드라이버의 불량을 검출하는 장치에 관한 것이다. 구동 회로부 및 데이터 전극들을 가지는 드라이버의 불량을 검출하는 장치는 검출부 및 스위칭부를 포함한다. 상기 스위칭부는 상기 검출부와 상기 데이터 전극들 사이의 연결을 스위칭하는 복수의 스위치들을 포함한다. 여기서, 상기 구동 회로부로부터 출력된 데이터 전류들은 상기 데이터 전극들 및 상기 스위칭부를 통하여 상기 검출부에 제공되고, 상기 검출부는 상기 데이터 전류들의 크기 값을 검출한다. 상기 드라이버 불량 검출 장치는 이웃하는 데이터 라인들 크기 값들의 차이 및/또는 N개의 데이터 라인들 단위로 해당 면적의 계산을 통하여 드라이버의 불량을 검출하므로, 상기 드라이버의 불량을 신속하면서도 정확하게 검출할 수 있다.
드라이버, 불량, 줄얼룩

Description

드라이버 불량 검출 방법 및 이를 수행하기 위한 장치{METHOD OF DETECTING DEFECT OF A DRIVER AND APPARATUS FOR PERFORMING THE SAME}
도 1은 일반적인 발광 소자를 도시한 도면이다.
도 2는 도 1의 발광 소자를 도시한 회로도이다.
도 3a는 도 2의 발광 소자의 구동 과정을 도시한 회로도이다.
도 3b는 데이터 전류들의 크기를 도시한 도면이다.
도 3c는 디스플레이부에 발생되는 줄얼룩을 도시한 평면도이다.
도 4는 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 드라이버 불량 검출 장치를 도시한 도면이다.
도 5a는 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 드라이버의 불량을 검출하는 과정을 도시한 회로도이다.
도 5b는 본 발명의 바람직한 다른 실시예에 따른 드라이버의 불량을 검출하는 과정을 도시한 도면이다.
본 발명은 드라이버 불량 검출 방법 및 이를 수행하기 위한 장치에 관한 것 으로, 더욱 상세하게는 데이터 전류들의 크기 값들을 비교하여 드라이버의 불량을 검출하는 방법 및 이를 수행하기 위한 장치에 관한 것이다.
드라이버는 발광 소자에 포함된 픽셀들을 구동시키는 소자로서, 자세한 설명은 이하 첨부된 도면들을 참조하여 상술하겠다.
도 1은 일반적인 발광 소자를 도시한 도면이다.
도 1을 참조하면, 발광 소자는 디스플레이부(100), 애노드 라인들(108), 캐소드 라인들(110a 및 110b) 및 드라이버(112)를 포함한다.
디스플레이부(100)는 상기 발광 소자가 이동통신단말기 등에 사용될 때 외부로 소정 이미지를 디스플레이하는 부분으로, 애노드전극층들(102)과 캐소드전극층들(104)이 교차하는 영역들에 형성되는 픽셀들(106)을 포함한다.
애노드전극층들(102)에 양의 전압이 제공되고 캐소드전극층들(104)에 음의 전압이 제공되는 경우, 픽셀들(106)은 소정 파장을 가지는 빛을 방출한다.
애노드 라인들(108)은 애노드전극층들(102)에 연결되며, 캐소드 라인들(110a 및 110b)은 캐소드전극층들(104)에 연결된다.
드라이버(112)는 도 1에 도시된 바와 같이 라인들(108, 110a 및 110b)의 종단과 결합하며, 구동 회로부(114)를 포함한다.
구동 회로부(114)는 픽셀들(106)을 구동시킨다.
도 2는 도 1의 발광 소자를 도시한 회로도이다.
도 2를 참조하면, 구동 회로부(114)는 제어부(200), 제 1 스캔 구동부(202), 제 2 스캔 구동부(204) 및 데이터 구동부(206)를 포함한다. 여기서, 데이터 라인들(D1 내지 D6)은 애노드전극층들(102) 및 애노드 라인들(108)에 상응하고, 스캔 라인들(S1 내지 S4)은 캐소드전극층들(104) 및 캐소드 라인들(110a 및 110b)에 상응한다.
제어부(200)는 외부 장치(미도시)로부터 입력되는 디스플레이 데이터를 이용하여 스캔 구동부들(202 및 204) 및 데이터 구동부(206)를 제어한다.
제 1 스캔 구동부(202)는 제 1 스캔 신호들을 스캔 라인들(S1 내지 S4) 중 일부(예를 들어 S1 및 S3)에 제공하고, 제 2 스캔 구동부(204)는 제 2 스캔 신호들을 나머지 스캔 라인들(S2 및 S4)에 제공한다.
데이터 구동부(206)는 복수의 전류원들(CS1 내지 CS6)을 포함하며, 제어부(200)의 제어하에 상기 디스플레이 데이터에 상응하며 전류원들(CS1 내지 CS6)로부터 출력된 데이터 전류들을 데이터 라인들(D1 내지 D6)에 제공한다. 그 결과, 픽셀들(E11 내지 E64)이 발광한다.
도 3a는 도 2의 발광 소자의 구동 과정을 도시한 회로도이고, 도 3b는 데이터 전류들의 크기를 도시한 도면이다. 또한, 도 3c는 디스플레이부에 발생되는 줄얼룩을 도시한 평면도이다.
도 3a를 참조하면, 전류원들(CS1 내지 CS6)로부터 발생된 제 1 데이터 전류들(I1 내지 I6)이 데이터 라인들(D1 내지 D6)에 제공된다. 이 경우, 제 1 스캔 라인(S1)이 접지에 연결되고, 나머지 스캔 라인들(S2 내지 S4)은 데이터 전류의 최대 휘도에 상응하는 전압(V1)을 가지는 비발광원에 연결된다. 그러므로, 데이터 전류 들(I1 내지 I6)은 데이터 라인들(D1 내지 D6), 제 1 스캔 라인(S1)에 상응하는 픽셀들(E11 내지 E61) 및 제 1 스캔 라인(S1)을 통하여 상기 접지로 흐른다. 그 결과, 픽셀들(E11 내지 E61)이 발광한다.
이어서, 제 2 스캔 라인(S2)이 상기 접지에 연결되고, 나머지 스캔 라인들(S1, S3 및 S4)은 상기 비발광원에 연결된다. 그런 후, 전류원들(CS1 내지 CS6)로부터 발생된 제 2 데이터 전류들(I1 내지 I6)이 데이터 라인들(D1 내지 D6)에 제공된다. 그 결과, 제 2 스캔 라인(S2)에 상응하는 픽셀들(E12 내지 E62)이 발광한다.
이와 유사한 방법으로, 제 3 스캔 라인(S3)에 상응하는 픽셀들(E13 내지 E63) 및 제 4 스캔 라인(S4)에 상응하는 픽셀들(E14 내지 E64)이 발광한다.
계속하여, 제 1 내지 4 스캔 라인들(S1 내지 S4) 단위로 위의 과정을 반복시킨다.
이렇게 동작하는 발광 소자에서, 전류원들(CS1 내지 CS6)이 원하는 크기의 데이터 전류들(I1 내지 I6)을 출력하여야 하나, 드라이버(112) 제조 과정의 오차로 인하여 원하는 크기의 데이터 전류들(I1 내지 I6)을 정확하게 출력하지 못하였다. 예를 들어, 도 3a에 도시된 바와 같이, 데이터 전류들(I1 내지 I6)이 1㎃를 가지도록 기설정되었음에도 불구하고, 전류원들(CS1 내지 CS6)이 1㎃를 가지는 데이터 전류들(I1 내지 I6)을 정확하게 출력하지는 못하였다. 이에 대한 그래프는 도 3b에 도시되어 있다.
도 3b에 도시된 바와 같이, 데이터 전류들(I1 및 I2)의 차이는 0,1㎃이지만, 데이터 전류들(I1 및 I3)의 차이는 0.3㎃이다. 도 3b에는 6개의 데이터 라인들(I1 내지 I6)만 도시하였으나, 실제적으로는 360개 이상의 데이터 라인들이 존재하며, 이 경우 멀리 떨어진 데이터 라인들 사이에 제공되는 데이터 전류들의 크기가 상당한 차이를 가질 수 있다. 즉, 데이터 전류들(I1 내지 I6)이 원하는 크기의 값을 가지지 못함으로 인하여, 데이터 라인들(D1 내지 D6) 사이에 명암차가 발생될 수 있었고, 특히 도 3c에 도시된 바와 같이 얼룩 모양처럼 보이는 줄얼룩이 디스플레이부(100)에 상응하는 화면에 발생될 수 있었다. 따라서, 줄얼룩이 발생될 수 있는 드라이버(112)를 검출할 필요가 있었고, 종래에는 이러한 방법으로 사람이 일일이 줄얼룩이 발생하였는 지의 여부를 검사하여야 했다. 그러나, 이러한 줄얼룩이 발생되었는 지의 여부는 사람마다 다르게 판단될 수 있어서 정확한 불량 검출이 불가능하였다. 또한, 사람이 드라이버(112)를 일일이 검사하므로, 검사 시간이 길어질 수 있었다.
본 발명의 목적은 드라이버의 불량을 신속하면서도 정확하게 검출할 수 있는 드라이버 불량 검출 방법 및 이를 수행하기 위한 장치를 제공하는 것이다.
상기한 바와 같은 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 구동 회로부 및 데이터 전극들을 가지는 드라이버의 불량을 검출하는 장치는 검출부 및 스위칭부를 포함한다. 상기 스위칭부는 상기 검출부와 상기 데이터 전극들 사이의 연결을 스위칭하는 복수의 스위치들을 포함한다. 여기서, 상기 구동 회 로부로부터 출력된 데이터 전류들은 상기 데이터 전극들 및 상기 스위칭부를 통하여 상기 검출부에 제공되고, 상기 검출부는 상기 데이터 전류들의 크기 값을 검출한다.
본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 데이터 라인들에 데이터 전류들을 제공하는 드라이버의 불량을 검출하는 방법은 상기 데이터 라인들 중 이웃하는 데이터 라인들에 제공되는 데이터 전류들의 크기 값들의 차이를 검출하는 단계; 및 상기 크기 값들의 차이와 기설정된 값을 비교하여 상기 드라이버의 불량 여부를 검출하는 단계를 포함한다.
본 발명에 따른 드라이버 불량 검출 방법 및 이를 수행하기 위한 장치는 이웃하는 데이터 라인들 크기 값들의 차이 및/또는 N개의 데이터 라인들 단위로 해당 면적의 계산을 통하여 드라이버의 불량을 검출하므로, 상기 드라이버의 불량을 신속하면서도 정확하게 검출할 수 있다.
이하에서는 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 자세히 설명하도록 한다.
도 4는 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 드라이버 불량 검출 장치를 도시한 도면이다.
우선, 본 발명의 드라이버 불량 검출 장치(402)의 동작 설명 전에 드라이버(400)에 대하여 도 1 및 도 4를 참조하여 살펴보겠다.
드라이버(400)는 복수의 픽셀들(106)을 구동시키며, 구동 회로부(404), 제 1 전극부(406) 및 제 2 전극부(408)를 포함한다.
제 1 전극부(406)는 도전체인 제 1 전극들(406a)을 가진다. 여기서, 제 1 전극부(406) 중 제 1 전극들(406a)을 제외한 영역(406b)은 절연물질로 이루어진다.
제 2 전극부(408)는 도전체인 제 2 전극들(408a)을 포함한다. 여기서, 제 2 전극부(408) 중 제 2 전극들(408a)을 제외한 영역(408b)은 절연물질로 이루어진다.
제 2 전극들(408a)은 라인들(108, 110a 및 110b)의 종단과 결합하는 전극들로서, 애노드 라인들(108)과 연결되는 데이터 전극들 및 캐소드 라인들(110a 및 110b)에 연결되는 스캔 전극들로 이루어진다. 여기서, 제 2 전극들(408a) 중 스위치들(SW1 내지 SW6)에 연결된 전극들이 데이터 전극들이며, 나머지 제 2 전극들이 스캔 전극들이다.
이러한 구조의 드라이버(400)에서, DC 전원, 입력 데이터 및 각종 제어 신호 등이 제 1 전극들(406a)을 통하여 구동 회로부(404)로 입력된다.
이 경우, 구동 회로부(404)는 상기 입력 데이터를 디스플레이 데이터로 변환시키고, 상기 변환된 디스플레이 데이터에 상응하는 데이터 전류들을 상기 데이터 전극들, 애노드 라인들(108) 및 애노드전극층들(102)을 통하여 픽셀들(106)에 제공한다. 예를 들어, 구동 회로부(404)는 0X000, 0X001 등과 같이 이진 데이터가 아닌 상기 입력 데이터를 이진 데이터인 상기 디스플레이 데이터로 변환하고, 그런 후 상기 디스플레이 데이터에 상응하는 데이터 전류들을 픽셀들(106)에 제공한다.
또한, 구동 회로부(404)는 스캔 신호들을 상기 스캔 전극들 및 캐소드 라인들(110a 및 110b)을 통하여 캐소드전극층들(104)에 제공한다.
이하, 본 발명의 드라이버 불량 검출 장치(402)의 동작을 상술하겠다.
도 4를 참조하면, 본 발명의 드라이버 불량 검출 장치(402)는 드라이버(400)의 불량을 검출하는 장치로서, 스위칭부(410), 검출부(412), 메모리(414) 및 불량 판단부(416)를 판단한다.
스위칭부(410)는 복수의 스위치들(SW1 내지 SW6)을 포함하며, 스위치들(SW1 내지 SW6)을 이용하여 상기 데이터 전극들과 검출부(412) 사이의 연결을 스위칭한다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 스위치들(SW1 내지 SW6)은 순차적으로 턴-온(turn on)되며, 그래서 구동 회로부(404)로부터 출력된 데이터 전류들이 턴-온된 스위치를 통하여 검출부(412)로 제공된다. 물론, 스위치들(SW1 내지 SW6)은 2개 이상 단위로 턴-온될 수도 있다.
검출부(412)는 구동 회로부(404)로부터 상기 데이터 전극들 및 스위치들(SW1 내지 SW6)을 통과하여 제공되는 데이터 전류들의 크기 값들을 검출한다.
메모리(414)는 검출부(412)에 의해 검출된 상기 데이터 전류들의 크기 값들을 저장한다.
불량 판단부(416)는 메모리(414)에 연결되며, 메모리(414)로부터 상기 데이터 전류들의 크기 값들을 읽어 드라이버(400)의 불량 여부를 검출한다. 이에 대한 자세한 설명은 이하 첨부된 도면들을 참조하여 상술하겠다.
본 발명의 다른 실시예에 따르면, 불량 판단부(416)는 검출부(412)에 직접적으로 연결되며, 그래서 검출부(412)에 의해 검출된 데이터 전류들의 크기 값들을 비교하여 드라이버(400)의 불량 여부를 판단한다.
도 5a는 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 드라이버의 불량을 검출하는 과정을 도시한 회로도이고, 도 5b는 본 발명의 바람직한 다른 실시예에 따른 드라이버의 불량을 검출하는 과정을 도시한 도면이다.
구동 회로부(404)는 동일한 크기(1㎃)의 데이터 전류들을 데이터 라인들(D1 내지 D6)에 제공되도록 기설정되었으나, 드라이버(400)의 제조상 오차로 인하여 도 5a에 도시된 바와 같이 다른 데이터 전류들이 데이터 라인들(D1 내지 D4)에 제공될 수 있다. 그 결과, 디스플레이부(100)에 줄얼룩이 발생될 수 있다.
따라서, 본 발명의 불량 검출 장치(402)는 드라이버(400)가 라인들(108, 110a 및 110b)과 결합하기 전에 드라이버(400)의 불량을 검출한다.
예를 들어, 제 1 스위치(SW1)가 턴-온되고, 그런 후 검출부(412)는 제 1 스위치(SW1)를 통과하여 제공되는 제 1 데이터 전류(I1)의 크기 값을 검출한다.
이어서, 제 2 스위치(SW2)가 턴-온되고, 그런 후 검출부(412)는 제 2 스위치(SW2)를 통과하여 제공되는 제 2 데이터 전류(I2)의 크기 값을 검출한다.
이와 같은 과정을 제 6 스위치(SW6)까지 수행시키며, 그 결과 검출부(412)는 데이터 전류들(I1 내지 I6)이 각기 1㎃, 1.28㎃, 1.1㎃, 1.1㎃, 1㎃ 및 1㎃ 크기 값을 가짐을 검출한다.
이렇게 검출된 데이터 전류들(I1 내지 I6)의 크기 값들은 메모리(414)에 저장된다.
계속하여, 불량 판단부(416)는 메모리(414)로부터 데이터 전류들(I1 내지 I6)의 크기 값들을 읽어들이고, 데이터 전류들(I1 내지 I6)의 크기 값들을 비교한다.
일 예로, 이웃하는 데이터 전류들의 크기 값들이 차이가 기설정된 크기 값, 예를 들어 0.25㎃ 이상인 경우, 드라이버(400)가 불량이라고 하자.
이 경우, 불량 판단부(416)는 데이터 전류들(I1 내지 I6)의 크기 값들 중 이웃하는 데이터 전류들의 크기 값들을 비교하여 제 1 데이터 전류(I1)와 제 2 데이터 전류(I2)의 크기 값들 차이가 0.25㎃보다 크다는 사실을 검출한다. 따라서, 불량 판단부(416)는 드라이버(400)가 불량이라고 판단한다.
다른 예로, 이웃하는 데이터 전류들의 크기 값들이 차이가 기설정된 크기 값, 예를 들어 0.3㎃ 이상인 경우, 드라이버(400)가 불량이라고 하자.
이 경우, 불량 판단부(416)는 데이터 전류들(I1 내지 I6)의 크기 값들 중 이웃하는 데이터 전류들의 크기 값들을 비교하여 데이터 라인들 사이의 크기 값들 차이가 모두 0.3㎃보다 작다는 사실을 검출한다. 따라서, 불량 판단부(416)는 드라이버(400)가 정상이라고 판단한다.
요컨대, 본 발명의 불량 검출 장치(402)는 데이터 전류들(I1 내지 I6) 사이의 크기 값들을 비교하여 드라이버(400)의 불량 여부를 판단한다.
그러나, 이웃하는 데이터 전류들의 크기 값들의 차이가 정상범위에 있는 경우에도, 멀리 떨어진 데이터 전류들의 크기 값들의 차이가 커서 줄얼룩이 발생될 수도 있다. 따라서, 본 발명의 불량 검출 장치(402)는 도 5b에 도시된 바와 같이 면적을 이용한 불량 판단 과정을 더 수행할 수 있다.
도 5b에 도시된 바와 같이, 데이터 전류들(I1 내지 I6)의 크기 값들을 그래프로 표시하면, 기설정된 값(1㎃)을 기준으로 하여 일정한 면적이 형성된다.
이 경우, 본 발명의 불량 판단부(416)는 데이터 전류들(I1 내지 I6)의 크기 값들을 N(3이상의 정수)개 단위로 하여 해당 면적을 계산하고, 상기 면적이 불량 판단의 기준이 되는 기설정된 면적보다 큰 지의 여부를 판단한다. 예를 들어, 불량 판단부(416)가 데이터 전류들(I1 내지 I6)의 크기 값들을 3개 단위로 하여 해당 면적을 계산하는 경우, 데이터 전류들(I1 내지 I3)이 형성하는 제 1 면적(A)과 데이터 전류들(I4 및 I6)이 형성하는 제 2 면적(B)을 별도로 계산한다.
이어서, 불량 판단부(416)는 제 1 면적(A)을 기설정된 면적과 비교하고, 제 2 면적(B)을 상기 기설정된 면적과 비교한다.
일 예로, 면적들(A 및 B)이 상기 기설정된 면적보다 모두 작은 경우, 불량 판단부(416)는 드라이버(400)가 정상이라고 판단한다.
다른 예로, 제 2 면적(B)은 상기 기설정된 면적보다 작으나, 제 1 면적(A)이 상기 기설정된 면적보다 큰 경우, 불량 판단부(416)는 드라이버(400)가 불량이라고 판단한다.
따라서, 실질적으로 불량이 있으면서도 이웃하는 데이터 전류들 사이의 크기 값들의 차를 비교함에 의해서는 불량이 검출되지 않는 드라이버에 대하여도, 위와 같이 면적을 이용하여 불량을 검출하면 드라이버(400)의 불량을 검출해낼 수 있다.
요컨대, 본 발명의 드라이버 불량 검출 방법은 종래와 달리 사람의 시각을 이용한 불량 검출 방법과 달리 드라이버 불량 검출 장치를 이용하므로, 신속하면서 도 정확하게 드라이버(400)의 불량을 검출할 수 있다.
상기한 본 발명의 바람직한 실시예는 예시의 목적을 위해 개시된 것이고, 본 발명에 대한 통상의 지식을 가지는 당업자라면 본 발명의 사상과 범위 안에서 다양한 수정, 변경, 부가가 가능할 것이며, 이러한 수정, 변경 및 부가는 하기의 특허청구범위에 속하는 것으로 보아야 할 것이다.
이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명에 따른 드라이버 불량 검출 방법 및 이를 수행하기 위한 장치는 이웃하는 데이터 라인들 크기 값들의 차이 및/또는 N개의 데이터 라인들 단위로 해당 면적의 계산을 통하여 드라이버의 불량을 검출하므로, 상기 드라이버의 불량을 신속하면서도 정확하게 검출할 수 있는 장점이 있다.

Claims (10)

  1. 구동 회로부 및 데이터 전극들을 가지는 드라이버의 불량을 검출하는 장치에 있어서,
    검출부; 및
    상기 검출부와 상기 데이터 전극들 사이의 연결을 스위칭하는 복수의 스위치들을 가지는 스위칭부를 포함하되,
    상기 구동 회로부로부터 출력된 데이터 전류들은 상기 데이터 전극들 및 상기 스위칭부를 통하여 상기 검출부에 제공되고, 상기 검출부는 상기 데이터 전류들의 크기 값을 검출하는 것을 특징으로 하는 드라이버 불량 검출 장치.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 스위치들은 하나씩 턴-온되는 것을 특징으로 하는 드라이버 불량 검출 장치.
  3. 제 1 항에 있어서, 상기 드라이버 불량 검출 장치는,
    상기 검출부에 의해 검출된 상기 데이터 전류들의 크기 값들을 저장하는 메모리; 및
    상기 검출부에 의해 검출된 상기 데이터 전류들의 크기 값들을 통하여 상기 드라이버의 불량 여부를 판단하는 불량 판단부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 드라이버 불량 검출 장치.
  4. 제 3 항에 있어서, 상기 불량 판단부는 이웃하는 데이터 전극들을 통하여 제공된 데이터 전류들의 크기 값들을 비교하여 상기 드라이버의 불량 여부를 판단하는 것을 특징으로 하는 드라이버 불량 검출 장치.
  5. 제 3 항에 있어서, 상기 불량 판단부는 3개 이상의 데이터 전류들의 크기 값들이 형성하는 면적을 기설정된 면적과 비교하여 상기 드라이버의 불량 여부를 판단하는 것을 특징으로 하는 드라이버 불량 검출 장치.
  6. 제 1 항에 있어서, 상기 드라이버는 유기 전계 발광 소자에 사용되는 소자인 것을 특징으로 하는 드라이버 불량 검출 장치.
  7. 데이터 라인들에 데이터 전류들을 제공하는 드라이버의 불량을 검출하는 방법에 있어서,
    상기 데이터 라인들 중 이웃하는 데이터 라인들에 제공되는 데이터 전류들의 크기 값들의 차이를 검출하는 단계; 및
    상기 크기 값들의 차이와 기설정된 값을 비교하여 상기 드라이버의 불량 여부를 검출하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 드라이버 불량 검출 방법.
  8. 제 7 항에 있어서, 상기 크기 값들의 차이를 검출하는 단계는,
    상기 데이터 전류들의 크기 값들을 검출하는 단계; 및
    이웃하는 데이터 라인들에 제공되는 데이터 전류들의 크기 값들의 차이를 검출하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 드라이버 불량 검출 방법.
  9. 제 8 항에 있어서, 상기 크기 값들의 차이를 검출하는 단계는,
    상기 크기 값들을 저장하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 드라이버 불량 검출 방법.
  10. 제 7 항에 있어서, 상기 드라이버 불량 검출 방법은,
    상기 데이터 전류들을 N(3이상의 정수)개 단위로 하여 해당 면적을 계산하는 단계; 및
    상기 계산된 면적과 기설정된 면적을 비교하여 상기 드라이버의 불량 여부를 판단하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 드라이버 불량 검출 방법.
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