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  1. 駆動回路と、
    駆動回路と、
    第3の駆動回路と、
    第1のメモリセルと、
    第2のメモリセルと、を有し、
    前記第1の駆動回路は、第1のビット線を駆動する機能を有し、
    前記第2の駆動回路は、第2のビット線を駆動する機能を有し、
    前記第3の駆動回路は、第1のワード線を駆動する機能を有し、
    前記第3の駆動回路は、第2のワード線を駆動する機能を有し、
    前記第1メモリセルは、第1のトランジスタと、第1の容量素子とを有し、
    前記第1のトランジスタのゲートは、前記第1のワード線と電気的に接続され、
    前記第1のトランジスタのソース又はドレインの一方は、前記第1のビット線と電気的に接続され、
    前記第1のトランジスタのソース又はドレインの他方は、前記第1の容量素子の電極と電気的に接続され、
    前記第2のメモリセルは、第2のトランジスタと、第2の容量素子とを有し、
    前記第2のトランジスタのゲートは、前記第2のワード線と電気的に接続され、
    前記第2のトランジスタのソース又はドレインの一方は、前記第2のビット線と電気的に接続され、
    前記第2のトランジスタのソース又はドレインの他方は、前記第2の容量素子の電極と電気的に接続され、
    前記第1のメモリセルを有するセルアレイは、絶縁膜を介して、前記第1の駆動回路と重なる領域を有し、
    前記第2のメモリセルを有するセルアレイは、前記絶縁膜を介して、前記第2の駆動回路と重なる領域を有することを特徴とする半導体装置
  2. 請求項1において、
    前記第1のトランジスタの活性層は、酸化物半導体を有し、
    前記第2のトランジスタの活性層は、酸化物半島体を有することを特徴とする半導体装置
  3. 請求項1又は請求項2において、
    前記第の駆動回路乃至前記第3の駆動回路は、それぞれトランジスタを有し、
    前記トランジスタの活性層は、シリコン又はゲルマニウムを有することを特徴とする半導体装置
  4. 請求項1乃至請求項3のいずれか一において、
    前記第1のメモリセルを有する、第1のセルアレイ層と、
    前記第1のセルアレイ層上の、第2のセルアレイ層と、を有することを特徴とする半導体装置。
  5. 請求項1乃至請求項4のいずれか一において、
    前記第2のメモリセルを有する、第3のセルアレイ層と、
    前記第3のセルアレイ層上の、第4のセルアレイ層と、を有することを特徴とする半導体装置。
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