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  1. 第1の配線と、第2の配線と、複数のメモリセルと、容量素子と、を有し、
    前記複数のメモリセルは、前記第1の配線と、前記第2の配線との間に、直列に電気的に接続され、
    前記メモリセルは、第1のトランジスタと、第2のトランジスタと、を有し、
    前記第1のトランジスタは、半導体材料を含む基板に設けられ、
    前記第2のトランジスタは、酸化物半導体を含んでいることを特徴とする半導体装置。
  2. ソース線と、ビット線と、信号線と、ワード線と、を有し、
    前記ソース線と、前記ビット線との間には、複数のメモリセルが直列に接続され、
    前記複数のメモリセルの一は、
    第1のゲート電極、第1のソース電極、および第1のドレイン電極を有する第1のトランジスタと、
    第2のゲート電極、第2のソース電極、および第2のドレイン電極を有する第2のトランジスタと、
    容量素子と、を有し、
    前記第1のトランジスタは、半導体材料を含む基板に設けられ、
    前記第2のトランジスタは、酸化物半導体層を含んで構成され、
    前記第1のゲート電極と、前記第2のソース電極または前記第2のドレイン電極の一方と、前記容量素子の電極の一方とは、電気的に接続され、
    前記ソース線と、前記第1のソース電極とは、電気的に接続され、
    前記ビット線と、前記第1のドレイン電極とは、電気的に接続され、
    前記信号線と、前記第2のソース電極または前記第2のドレイン電極の他方とは、電気的に接続され、
    前記ワード線と、前記第2のゲート電極と、前記容量素子の電極の他方とは、電気的に接続された半導体装置。
  3. 前記半導体装置は、
    第1の選択線と、
    第2の選択線と、
    前記第1の選択線と、ゲート電極において電気的に接続された第3のトランジスタと、
    前記第2の選択線と、ゲート電極において電気的に接続された第4のトランジスタと、を有し、
    前記ビット線は、前記第3のトランジスタを介して、前記第1のドレイン電極と、電気的に接続され、
    前記ソース線は、前記第4のトランジスタを介して、前記第1のソース電極と、電気的に接続された請求項1または請求項2に記載の半導体装置。
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