JP2010186887A - 発光装置の製造方法 - Google Patents

発光装置の製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2010186887A
JP2010186887A JP2009030360A JP2009030360A JP2010186887A JP 2010186887 A JP2010186887 A JP 2010186887A JP 2009030360 A JP2009030360 A JP 2009030360A JP 2009030360 A JP2009030360 A JP 2009030360A JP 2010186887 A JP2010186887 A JP 2010186887A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
glass
glass material
sealing
light emitting
emitting device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2009030360A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5061139B2 (ja
Inventor
Kazuya Aida
和哉 相田
Hiromi Watabe
洋己 渡部
Seiji Yamaguchi
誠治 山口
Yoshinobu Suehiro
好伸 末広
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toyoda Gosei Co Ltd
Sumita Optical Glass Inc
Original Assignee
Toyoda Gosei Co Ltd
Sumita Optical Glass Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toyoda Gosei Co Ltd, Sumita Optical Glass Inc filed Critical Toyoda Gosei Co Ltd
Priority to JP2009030360A priority Critical patent/JP5061139B2/ja
Priority to US12/656,670 priority patent/US8101441B2/en
Publication of JP2010186887A publication Critical patent/JP2010186887A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5061139B2 publication Critical patent/JP5061139B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/52Encapsulations
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/02Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/04Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
    • H01L2224/05Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of an individual bonding area
    • H01L2224/05001Internal layers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/02Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/04Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
    • H01L2224/05Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of an individual bonding area
    • H01L2224/05001Internal layers
    • H01L2224/0502Disposition
    • H01L2224/05023Disposition the whole internal layer protruding from the surface
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/02Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/04Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
    • H01L2224/05Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of an individual bonding area
    • H01L2224/05001Internal layers
    • H01L2224/05099Material
    • H01L2224/051Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof
    • H01L2224/05138Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
    • H01L2224/05144Gold [Au] as principal constituent
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/02Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/04Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
    • H01L2224/05Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of an individual bonding area
    • H01L2224/05001Internal layers
    • H01L2224/05099Material
    • H01L2224/051Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof
    • H01L2224/05138Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
    • H01L2224/05155Nickel [Ni] as principal constituent
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/02Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/04Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
    • H01L2224/05Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of an individual bonding area
    • H01L2224/0554External layer
    • H01L2224/0556Disposition
    • H01L2224/05568Disposition the whole external layer protruding from the surface
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/02Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/04Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
    • H01L2224/05Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of an individual bonding area
    • H01L2224/0554External layer
    • H01L2224/05573Single external layer
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/02Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/04Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
    • H01L2224/05Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of an individual bonding area
    • H01L2224/0554External layer
    • H01L2224/05599Material
    • H01L2224/056Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof
    • H01L2224/05638Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
    • H01L2224/05644Gold [Au] as principal constituent
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/02Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/04Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
    • H01L2224/06Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of a plurality of bonding areas
    • H01L2224/061Disposition
    • H01L2224/06102Disposition the bonding areas being at different heights
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • H01L2224/161Disposition
    • H01L2224/16151Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/16221Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/16225Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/02Bonding areas ; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/04Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
    • H01L24/05Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of an individual bonding area
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/52Encapsulations
    • H01L33/56Materials, e.g. epoxy or silicone resin

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Led Device Packages (AREA)

Abstract

【課題】金型にガラス材が付着したり、封止時に発生するガスに起因して、ガラス材の湾曲面が所期形状に対し変形することのない発光装置の製造方法を提供する。
【解決手段】発光装置1の製造方法において、搭載部3上の発光素子2を、加熱によって軟化したガラス材11により封止するにあたり、金型92をガラス材11の上面に部分的に接触させて押し込んでガラス材11を部分的に凹ますことにより、ガラス材11の上面における金型92と非接触の部分を変形させ、ガラス材11の上面の少なくとも一部に湾曲面を形成するようにした。
【選択図】図4B

Description

本発明は、搭載部上の発光素子が金型を用いてガラスにより封止される発光装置の製造方法に関する。
搭載部上の発光素子がガラスにより封止された発光装置が知られている(例えば、特許文献1参照)。特許文献1に記載の発光装置は、GaN系半導体化合物からなるフリップチップタイプのLED素子と、LED素子と電気的に接続される配線層を有する基板と、LED素子を封止して基板の表面に接着されるガラス封止部とを有している。ガラス封止部はドーム状に形成され、上面が湾曲面をなしている。
特開2005−223222号公報
ところで、特許文献1に記載の発光装置を製造するにあたり、ガラス封止部の上面と密着する金型を用いてプレス成形すると、金型をガラス材から離隔する際に金型にガラス材が付着し、ガラス封止部の上面の形状が所期形状に対して変形するおそれがある。また、成形時にガラス、基板等からガスが発生すると、ガスが金型とガラス材の間に入り込んでしまうため、これによってもガラス封止部の上面を的確に成形できなくなる。
本発明は、前記事情に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、金型にガラス材が付着したり、封止時に発生するガスに起因して、ガラス材の湾曲面が所期形状に対し変形することのない発光装置の製造方法を提供することにある。
前記目的を達成するため、本発明では、搭載部上の発光素子を、加熱によって軟化したガラス材により封止する際またはその後に前記ガラス材を加工する際に、金型を前記ガラス材の上面に部分的に接触させて押し込んで当該ガラス材に凹部を形成し、当該上面における前記金型と非接触の部分を変形させ、前記ガラス材の上面の少なくとも一部に湾曲面を形成する発光装置の製造方法が提供される。
上記発光装置の製造方法において、前記金型は、前記ガラス材の前記上面における前記発光素子の直上部分と非接触であり、当該上面の前記直上部分の周辺と接触する構成としてもよい。
上記発光装置の製造方法において、前記ガラス材の前記上面の前記直上部分に前記湾曲面を形成する構成としてもよい。
上記発光装置の製造方法において、前記搭載部には複数の前記発光素子が実装され、前記金型は、前記ガラス材の前記上面における隣接する前記発光素子の中間部分と接触する構成としてもよい。
上記発光装置の製造方法において、前記湾曲面を形成された前記ガラス材が硬化した後、前記ガラス材の前記凹部にダイシングブレードを進入させ、前記ガラス材及び前記搭載部を分割する構成としてもよい。
上記発光装置の製造方法において、前記金型は、前記ガラス材と接触する接触部が格子状に形成される構成としてもよい。
本発明によれば、金型にガラス材が付着したり、封止時に発生するガスに起因して、ガラス材の湾曲面が所期形状に対し変形することはない。
図1は本発明の一実施形態を示す発光装置の概略縦断面図である。 図2はLED素子の模式縦断面図である。 図3は発光装置の製造方法に関する説明図であり、(a)は発光素子を実装した配線基板の平面図、(b)は上金型の底面図である。 図4Aはガラス材の封止加工前の状態を示す模式説明図である。 図4Bはガラス材の封止加工時の状態を示す模式説明図である。 図5は発光装置の平面図である。 図6は変形例を示すガラス材の封止加工後の状態を示す模式説明図である。 図7は変形例を示す発光装置の概略縦断面図である。 図8は変形例を示すガラス材の封止加工時の状態を示す模式説明図である。 図9は変形例を示す発光装置の概略縦断面図である。 図10は変形例を示す上金型の底面図である。 図11は変形例を示す発光装置の平面図である。 図12は変形例を示す発光装置の説明図である。 図13は変形例を示す上金型の底面図である。 図14は変形例を示す発光装置の平面図である。 図15は変形例を示す発光装置の外観斜視図である。 図16は変形例を示す発光装置の製造方法に関する説明図であり、(a)は発光素子を実装した配線基板の平面図、(b)は上金型の底面図である。 図17は発光装置の製造方法の工程説明図である。 図18は封止前ガラスの加工状態を示す説明図であり、(a)はガラス粉末から封止前ガラスを生成する加工装置を示し、(b)はガラス粉末から生成された封止前ガラスを示し、(c)は得られた封止前ガラスをスライスした状態を示している。
図1から図5は本発明の一実施形態を示し、図1は発光装置の概略縦断面図であり、図2はLED素子の模式縦断面図である。
図1に示すように、この発光装置1は、フリップチップ型のGaN系半導体材料からなるLED素子2と、LED素子2を搭載する配線基板3と、配線基板3に形成されタングステン(W)−ニッケル(Ni)−金(Au)で構成される回路パターン4と、LED素子2を封止するとともに配線基板3と接着されるガラス封止部6とを有する。また、LED素子2と配線基板3との間には、ガラスがまわりこまない中空部5が形成されている。本実施形態においては、配線基板3および回路パターン4が、LED素子2を搭載しLED素子2へ電力を供給するための搭載部を構成している。
発光素子としてのLED素子2は、図2に示すように、サファイア(Al)からなる成長基板20の表面に、III族窒化物系半導体をエピタキシャル成長させることにより、バッファ層21と、n型層22と、MQW層23と、p型層24とがこの順で形成されている。このLED素子2は、700℃以上でエピタキシャル成長され、その耐熱温度は600℃以上であり、後述する低融点の熱融着ガラスを用いた封止加工における加工温度に対して安定である。また、LED素子2は、p型層24の表面に設けられるp側電極25と、p側電極25上に形成されるp側パッド電極26と、を有するとともに、p型層24からn型層22にわたって一部をエッチングすることにより露出したn型層22に形成されるn側電極27を有する。p側パッド電極26とn側電極27には、それぞれAuバンプ28が形成される。
p側電極25は、例えばロジウム(Rh)からなり、発光層としてのMQW層23から発せられる光を成長基板20の方向に反射する光反射層として機能する。尚、p側電極25の材質は適宜変更が可能である。本実施形態においては、p側電極25上には2点のp側パッド電極26が形成され、各p側パッド電極26にAuバンプ28が形成される。尚、p側パッド電極26は例えば3点であってもよく、p側電極25上に形成するp側パッド電極26の個数は適宜変更が可能である。
n側電極27は、同一エリアにコンタクト層とパッド層とが形成されている。図2に示すように、n側電極27は、Al層27aと、このAl層27aを覆う薄膜状のNi層27bと、Ni層27bの表面を覆うAu層27cによって形成されている。尚、n側電極27の材質は適宜変更が可能である。本実施形態においては、平面視にて、n側電極27がLED素子2の隅部に形成され、p側電極25がn側電極27の形成領域を除いて、ほぼ全面的に形成されている。
LED素子2は、厚さ100μmで346μm角に形成されており、熱膨張率は7×10−6/℃である。ここで、LED素子2のGaN層の熱膨張率は5×10−6/℃であるが、大部分を占めるサファイアからなる成長基板20の熱膨張率が7×10−6/℃であるため、LED素子2本体の熱膨張率は成長基板20の熱膨張率と同等となっている。尚、各図においてはLED素子2の各部の構成を明確にするために実寸と異なるサイズで各部を示している。
搭載部としての配線基板3は、アルミナ(Al)の多結晶焼結材料からなり、厚さ0.25mmで1.0mm角に形成されており、熱膨張率αが7×10−6/℃である。図1に示すように、配線基板3の回路パターン4は、基板表面に形成されてLED素子2と電気的に接続される表面パターン41と、基板裏面に形成されて外部端子と接続可能な裏面パターン42と、を有している。表面パターン41は、LED素子2の電極形状に応じてパターン形成されたW層4aと、W層4aの表面を覆う薄膜状のNi層4bと、Ni層4bの表面を覆う薄膜状のAu層4cと、を含んでいる。裏面パターン42は、後述する外部接続端子44に応じてパターン形成されたW層4aと、W層4aの表面を覆う薄膜状のNi層4bと、Ni層4bの表面を覆う薄膜状のAu層4cと、を含んでいる。表面パターン41と裏面パターン42は、配線基板3を厚さ方向に貫通するビアホール3aに設けられWからなるビアパターン43により電気的に接続されている。外部接続端子44はアノード側とカソード側で1つずつ設けられる。各外部接続端子44は、配線基板3に平面視にて対角に配されている。
ガラス封止部6は、ZnO−B−SiO−Nb−NaO−LiO系の熱融着ガラスからなる。尚、ガラスの組成はこれに限定されるものではなく、例えば、熱融着ガラスは、LiOを含有していなくてもよいし、任意成分としてZrO、TiO等を含んでいてもよい。この熱融着ガラスは、ガラス転移温度(Tg)が490℃で、屈伏点(At)が520℃であり、LED素子2のエピタキシャル成長層の形成温度よりも、ガラス転移温度(Tg)が十分に低くなっている。本実施形態においては、エピタキシャル成長層の形成温度よりも、ガラス転移温度(Tg)が200℃以上低くなっている。また、熱融着ガラスの100℃〜300℃における熱膨張率(α)は6×10−6/℃である。熱膨張率(α)は、ガラス転移温度(Tg)を超えるとこれより大きな数値となる。これにより、熱融着ガラスは約600℃で配線基板3と接着し、ホットプレス加工が可能となっている。また、ガラス封止部6の熱融着ガラスの屈折率は1.7である。
また、熱融着ガラスの組成は、ガラス転移温度(Tg)がLED素子2の耐熱温度よりも低く、熱膨張率(α)が配線基板3と同等であれば任意である。ガラス転移温度が比較的低く、熱膨張率が比較的小さいガラスとしては、例えば、ZnO−SiO−RO系(RはLi、Na、K等のI族の元素から選ばれる少なくとも1種)のガラス、リン酸系のガラス及び鉛ガラスが挙げられる。これらのガラスでは、ZnO−SiO−RO系のガラスが、リン酸系のガラスに比して耐湿性が良好で、鉛ガラスのように環境的な問題が生じることがないので好適である。
ここで、熱融着ガラスとは加熱により軟化状態として成形したガラスであり、ゾルゲル法により成形されるガラスと異なる。ゾルゲルガラスでは成形時の体積変化が大きいのでクラックが生じやすくガラスによる厚膜を形成することが困難であるところ、熱融着ガラスはこの問題点を回避することができる。また、ゾルゲルガラスでは細孔を生じるので気密性を損なうことがあるが、熱融着ガラスはこの問題点を生じることもなく、LED素子2の封止を的確に行うことができる。
また、熱融着ガラスは、一般に、樹脂において高粘度といわれるレベルより、桁違いに高い粘度で加工される。さらに、ガラスの場合には、屈伏点を数十℃超えても粘度が一般の樹脂封止レベルまで低くはならない。また、一般の樹脂成型時レベルの粘度にしようとすると、LED素子の結晶成長温度を超える温度を要するもの、あるいは金型に付着するものとなり、封止・成形加工が困難になる。このため、10ポアズ以上で加工することが好ましい。
図1に示すように、ガラス封止部6は、発光素子2及び配線基板3を全面的に覆い、最大厚さが0.5mmとなっている。ガラス封止部6は、上方へ凸の湾曲面6fをなす上面6aと、上面6aの外縁から下方へ延び配線基板3と垂直な側面6bと、側面6bの下端から配線基板3と平行に延びる平坦面6cと、を有している。
以上のように構成される発光装置1は、以下の工程を経て製造される。
まず、ガラス成分の酸化物粉末を1200℃に加熱し、溶融状態で撹拌する。そして、ガラスを固化した後、ガラス封止部6の厚さに対応するようスライスして板状に加工する(板状加工工程)。
一方、ビアホール3aが形成された配線基板3を用意し、配線基板3の表面に回路パターンに応じてWペーストをスクリーン印刷する。次いで、Wペーストを印刷された配線基板3を1000℃余で熱処理することによりWを配線基板3に焼き付け、さらに、W上にNiめっき、Auめっきを施すことで回路パターン4を形成する(パターン形成工程)。
本実施形態においては、配線基板3は、セラミックを焼成した後に、回路パターン4が形成される。これは、焼成前のセラミック(例えばグリーンシート)に回路パターン4を形成してから焼成すると、焼成時及び焼成後の加熱・冷却による熱膨張及び熱収縮に起因し、回路パターン4の精度が悪くなるからである。
尚、焼成されたセラミックに回路パターン4を形成するにあたっては、Wペーストを印刷して熱処理したものに代えて、Cr,Ti等の金属を蒸着したもの、Cu箔を貼り付けた後に所定形状にエッチングしたもの等とし、これにNiめっき及びAuめっきを施すようにしてもよい。
図3は、発光装置の製造方法に関する説明図であり、(a)は発光素子を実装した配線基板の平面図、(b)は上金型の底面図である。
図3(a)に示すように、複数のLED素子2を縦及び横について等間隔で配線基板3に実装する(素子実装工程)。具体的には、配線基板3の回路パターン4の表面パターン41に複数のLED素子2を各Auバンプ28によって電気的に接合する。本実施形態においては、p側2点、n側1点の合計3点のバンプ接合が施される。
そして、各LED素子2が搭載された配線基板3を下金型91にセットし、板状の封止前ガラス11(図3中不図示)を上金型92にセットする。下金型91及び上金型92にはそれぞれヒータが配置され、各金型91,92で独立して温度調整される。図3(b)に示すように、上金型92は、平板状に形成され封止前ガラス11と非接触な本体92aと、この本体92aの下面に下方へ突出形成される接触部92bと、を有している。上金型92は、封止前ガラス11の各LED素子2の直上部分と非接触であって、封止前ガラス11の直上部分の周辺と接触するよう構成されている。上金型92は、例えば、ステンレス、タングステンカーバイド等からなる。本実施形態においては、上金型92の接触部92bは、格子状に形成され、封止前ガラス11における隣接するLED素子2の中間部分と接触する。
図4Aは、ガラス材の封止加工前の状態を示す模式説明図である。
次いで、図4Aに示すように、略平坦な配線基板3の実装面に封止前ガラス11を重ねて、各LED素子2を覆うように封止前ガラス11を配置する(ガラス配置工程)。この後、下金型91及び上金型92を加圧し、窒素雰囲気中で加熱によって軟化したガラス材のホットプレス加工を行う。このとき、封止前ガラス11は、配線基板3への配置前に加熱されていてもよいし、配置後に加熱されるようにしてもよい。ホットプレス加工は、上金型92から封止前ガラス11に配線基板3方向へ圧力を加えることにより行われる。これにより、LED素子2が搭載された配線基板3に封止前ガラス11が融着され、LED素子2は配線基板3上で封止前ガラス11により封止される。ここで、ホットプレス加工は、各部材に対して不活性な雰囲気中で行えばよく、窒素雰囲気の他に例えば真空中で行うようにしてもよい。
図4Bは、ガラス材の封止加工時の状態を示す模式説明図である。
このとき、図4Bに示すように、上金型92の接触部92bを封止前ガラス11の上面に部分的に接触させて押し込んで封止前ガラス11を部分的に凹ますことにより、この上面における上金型92と非接触の部分を変形させ、上面に湾曲面を形成する(加圧工程)。本実施形態においては、封止前ガラス11の上面の全体にわたって湾曲面が形成され、各LED素子2の直上部分にも湾曲面が形成されている。
また、加圧工程にて、接触部92bにより封止前ガラス11の上面における隣接する湾曲面の間に凹部11aが形成される。本実施形態においては、上金型92の接触部92をガラスから離隔した後も、凹部11aの形状がほぼそのまま維持されるように、接触部92の寸法及びガラスの粘度が設定されている。これに対し、本実施形態よりも、接触部92の寸法を小さくしたり、ガラスの粘度を小さくすることによって、上金型92をガラスから離隔した後に、凹部11aが小さくなるようにすることもできる。尚、本実施形態においては、接触部92bが配線基板3と離隔した状態でガラスの成形が行われるが、接触部92bを配線基板3と接触させてしまってもよい。封止前ガラス11に凹部11aが形成される際、ガラスは比較的高い粘度を有していることから、封止前ガラス11における接触部92b間の非接触部分については、接触部92b側が押し下げられて接触部92b間の中央が盛り上がった湾曲面が形成される。これにより、ガラス封止部6に、湾曲面6fを有する上面6a、上面6aの外縁から下方へ延びる側面6b、側面6bの下端から水平に延びる平坦面6cが、それぞれ形成される。尚、ガラス封止部6の上面6aと、上金型92の本体92aとの間には、気体層93が形成されている。
以上の工程で、複数の発光装置1が横方向に連結された状態の図4Bに示すような中間体12が作製される。この後、ガラス封止部6と一体化された配線基板3をダイシング装置にセットして、ダイシングブレードを凹部11aに進入させて、ガラス封止部6及び配線基板3を各LED素子2ごとに分割するようダイシングして発光装置1が完成する(分割工程)。
図5は、製造された発光装置の平面図である。
図5に示すように、平面視にて、発光装置1は正方形状を呈し、ガラス封止部6の外縁に平坦面6cが形成される。平坦面6cには上金型92からの圧力が直接的に加わっていることから、ガラス封止部6は平坦面6cの下側にて配線基板3と比較的強固に接合されている。
以上のように構成された発光装置1では、回路パターン4を通じてLED素子2に電圧が印加されると、LED素子2から青色光が発せられる。LED素子2から発せられた青色光は、ガラス封止部6の上面6a又は側面6bを通じて外部へ放射される。このとき、ガラス封止部6の上面6aは、上方へ凸な湾曲面6fをなしていることから、平坦面である場合と比べて、光の取り出し効率が向上している。
また、ガラス封止部6の上面6aが上金型92に対して非接触で形成されているので、上金型92にガラス材が付着して上面6aの表面形状が所期形状に対し変形することはない。また、上面6aと上金型92との間に、気体層93が形成されていることから、封止時にガラス材等からガスが発生したとしても、気体層93内に放散される。これにより、上面6aと上金型92が密着している場合のように、上面6aと上金型92の間にガスが入り込んで、上面6aの表面形状が所期形状に対して変形することもない。従って、ガラス封止部6の上面6aを所期形状として、所望の光学特性を得ることができる。
さらに、ガラス封止部6の上面6aが上金型92に対して非接触であることから、金型に接触させて成形した場合と比べて、上面6aの表面粗さを小さくすることができる。従って、封止加工後の上面6aの鏡面仕上げを簡略なものとしたり、省略したりすることができ、製造コストの低減を図ることができる。
さらにまた、封止前ガラス11の凹部11aにダイシングブレードを進入させてダイシングするようにしたので、ガラス封止部6の側面6bがダイシングブレードにより形成されるものと比べ、側面6bの表面粗さを小さくすることができる。また、ダイシング時に切削するガラスを最小限とすることができ、歩留まりが向上する。
さらにまた、セラミックを焼成した後に、配線基板3に回路パターン4を形成したので、回路パターン4の位置精度を高くすることができ、回路パターン4と電気的に接続されるLED素子2の位置精度も高くすることができる。この結果、上金型92の各接触部92bと配線基板3の各回路パターン4との相対的な位置関係のずれを最小限とし、製造される発光装置1のLED素子2とガラス封止部6の上面6cの中心軸とのずれを抑制することができる。尚、LED素子2とガラス封止部6の上面6cとの相対的な位置関係につき、精度が要求されない場合は、配線基板3のセラミックの焼成前に回路パターン4を形成してしまってもよい。
また、ガラス封止部6としてZnO−B−SiO−Nb−NaO−LiO系の熱融着ガラスを用いたので、ガラス封止部6の安定性及び耐候性を良好とすることができる。従って、発光装置1が過酷な環境下等で長期間にわたって使用される場合であっても、ガラス封止部6の劣化が抑制され、光取り出し効率の経時的な低下を効果的に抑制することができる。さらに、ガラス封止部6が高屈折率でかつ高透過率特性のため、高信頼性と高発光効率の両立を実現できる。
また、ガラス封止部6として屈伏点(At)がLED素子2の半導体層のエピタキシャル成長温度より低いガラスを用いたので、ホットプレス時にLED素子2が熱的なダメージにより損なわれることがなく、半導体層の結晶成長温度に対して充分に低い加工が可能である。
さらに、配線基板3とガラス封止部6の熱膨張率が同等であるので、高温で接着された後、常温あるいは低温状態としても剥離、クラック等の接着不良が生じにくい。さらに、一般にガラスはTg点以上の温度において熱膨張率が増大する特性を有しており、Tg点以上の温度でガラス封止が行われる場合には、Tg点以下だけでなくTg点以上の温度における熱膨張率も考慮することが安定したガラス封止を行うにあたり望ましい。すなわち、ガラス封止部6を構成するガラス材料は、上記したTg点以上の温度における熱膨張率を含む熱膨張率と、配線基板3の熱膨張率とを考慮した同等の熱膨張率とすることで、配線基板3に反りを発生させる内部応力を小にでき、配線基板3とガラス封止部6との接着性が得られているにもかかわらずガラスのせん断破壊が生じることを防ぐことができる。従って、配線基板3やガラス封止部6のサイズを大きくとり、一括生産できる数量を大にすることができる。また、発明者の確認では、−40℃←→100℃の液相冷熱衝撃試験1000サイクルでも剥離、クラックは生じていない。さらに、5mm×5mmサイズのガラス片のセラミック基板への接合基礎確認として、ガラス、セラミック基板とも種々の熱膨張率の組み合わせで実験を行ったところ、熱膨張率が高い方の部材に対する低い方の部材の熱膨張率の比が0.85以上ではクラックを生じることなく接合が行えることを確認した。部材の剛性やサイズ等にも依存するが、熱膨張率が同等というのは、この程度の範囲を示す。
さらに、LED素子2とガラス封止部6の熱膨張率が同等であるので、配線基板3を含めた部材の熱膨張率が同等となり、ガラス封止における高温加工と常温との温度差においても内部応力は極めて小さく、クラックを生じることのない安定した加工性が得られる。また、内部応力を小にできるので、耐衝撃性が向上し、信頼性に優れるガラス封止型LEDとできる。
配線基板3の表面パターン41は、ビアパターン43により裏面パターン42に引き出されるので、ガラスが不必要な箇所へ入り込むことや、電気端子が覆われること等への特別な対策を要することなく、製造工程を簡略化できる。また、板状の封止前ガラス11を複数のLED素子2に対して一括封止加工できるので、ダイサーカットにより複数の発光装置1を容易に量産することができる。なお、熱融着ガラスは高粘度状態で加工されるため、樹脂のように封止材料の流れ出しに対して充分な対策をとる必要はなく、ビアホールによらなくても外部端子が裏面に引き出されていれば充分に量産対応可能である。
尚、前記実施形態においては、格子状の上金型92を用いてLED素子2の封止とガラス封止部6aの湾曲面の形成を同時に行うものを示したが、封止用の金型と湾曲面形成用の金型を別個として、LED素子2の封止後の上面を湾曲させるようにしてもよい。すなわち、湾曲面の形成は、加熱によって軟化したガラス材により封止する際に限らず、封止後にガラス材を加工する際であってもよい。この場合における封止時のガラスの形状は任意であるが、例えば、図6に示すように平坦な成型面を有する他の金型を用いて配線基板3上のLED素子2を封止しておき、この後に上金型92によりガラスの上面を湾曲させることが好ましい。
また、前記実施形態においては、ガラス封止部6の上面6aに全体的に湾曲面が形成されるものを示したが、上金型92の押し込み量や接触部92bの寸法を調整することにより、例えば図7に示すように上面6aにおける側面6b側のみに湾曲面6fが形成され、LED素子2の直上部分が第2平坦面6dが形成されるものとすることも可能である。
さらに、図8に示すようにガラス封止部6のLED素子2の直上部分を上金型92により押し込んでLED素子2の直上部分に凹部11aを形成し、図9に示すようにガラス封止部6の上面6aにおけるLED素子2の直上部分が凹む湾曲面6fを形成してもよい。図9においては、LED素子2の直上部分に平坦面6eが形成され、側面6bは配線基板3と面一に形成されている。尚、上金型92の接触部92bの幅寸法を小さくしたりガラスの粘度を小さくすることにより、上金型92をガラスから離隔した後に凹部11aを変形させて小さくし、平坦面6eが存在しない形状とすることも可能である。この発光装置1では、LED素子2から放射された光が湾曲面にて反射し、ガラス封止部6の側面6bから主として光が取り出されるようになる。
前記実施形態の上金型92に代えて、例えば図10に示すように、接触部92bの格子形状の角部を丸めた上金型192を用いてもよい。この上金型192の接触部92bは、縦横に延びる直線部分の交差部に面取り部192cを有している。この上金型192を用いて製造した発光装置101を図11に示す。
図11に示すように、発光装置101は、平面視にて、ガラス封止部6の側面6bの角部に面取り部106dを有する。これにより、LED素子2から水平に放射される光についても、装置外部への取り出し効率が向上する。面取り部106dの寸法は、任意であるが、LED素子2の端部から出射された光が、ガラス封止部6と外部雰囲気との界面で臨界角とならないよう設定することが好ましい。
具体的には、面取り部106cが円弧である場合、図12に示すように、平面視において、対向する側面6b同士の距離をa、LED素子2の一辺の長さをb、ガラス封止部6と外部雰囲気との界面の臨界角をθとしたとき、面取り部106dの縦及び横の寸法cを、
c ≧ a − (a−b)・(1+tanθ)/2
とすることが好ましい。
また、前記実施形態の上金型92に代えて、例えば図13に示すように、接触部292bを円形の孔が縦及び横に等間隔で並ぶ形状とした上金型292を用いてもよい。この上金型292を用いて製造した発光装置201を図14に示す。図14に示すように、発光装置201のガラス封止部6は、平面視にて、側面206bが円形を呈している。
また、前記実施形態においては、1つの発光装置1に1つのLED素子2が搭載されるものを示したが、例えば図15に示すように、1つの発光装置301に複数のLED素子2が搭載されるものであってもよい。この発光装置301は、所定方向へ延び、複数のLED素子2が一列に長尺な配線基板3に搭載されている。ガラス封止部6は、配線基板3に沿って長尺に形成され、長手方向については同一断面となっている。ガラス封止部6は、上面306aが幅方向について湾曲して形成され、側面306bが上面306aの幅方向外縁から下方へ延びるよう形成され、平坦面306cが側面306bの下端から幅方向外側へ延びるよう形成されている。
この発光装置301は、図16(a)に示すように、配線基板3に縦横に等間隔で複数のLED素子2を搭載し、横方向のLED素子2を回路パターン304により電気的に接続しておく。そして、図16(b)に示すように、上金型392の接触部392bを横方向に延びる直線状に形成しておき、各LED素子2を縦方向に分断するように、上金型392の接触部392bを封止前ガラス11に接触させることにより、上面306aを湾曲させることができる。
また、前記実施形態においては、LED素子2としてGaN系半導体材料からなるものを用いた発光装置1を説明したが、LED素子はGaN系のLED素子2に限定されず、例えばZnSe系やSiC系のように他の半導体材料からなる発光素子であってもよい。また、LED素子2の発光波長も任意であり、LED素子2は緑色光、黄色光、橙色光、赤色光等を発するものであってもよい。
また、前記実施形態のガラス封止部6は耐候性に優れているものの、装置の使用条件等によって結露が生じた場合には、ガラス封止部6が変質するおそれがある。これに対しては、結露が生じない装置構成とすることが望ましいが、ガラス封止部6の表面にシリコン樹脂コートなどを施すことで、高温状態での結露によるガラスの変質を防止することもできる。さらに、ガラス封止部6の表面に施すコーティング材としては、耐湿だけでなく、耐酸、耐アルカリ性を有するものとして、例えばSiO系、Al系等のような無機材料が好ましい。
さらに、前記実施形態においては、上金型92と下金型91により配線基板3及びガラス封止部6に圧力を加えるものを示したが、下金型91を固定部材として上金型92のみによりガラスの封止加工を行うことも可能である。
また、ガラス封止部6に、MQW層23から発せられる青色光により励起されると、黄色領域にピーク波長を有する黄色光を発する蛍光体を含有させてもよい。蛍光体としては、YAG(Yttrium Aluminum Garnet)蛍光体、珪酸塩蛍光体や、YAGと珪酸塩蛍光体を所定の割合で混合したもの等を用いることができる。この場合、LED素子2から発せられた青色光の一部はガラス封止部6内の蛍光体により黄色光に変換され、他部は波長変換されることなくガラス封止部6から外部へ放射される。これにより、ガラス封止部6から放射される光は、黄色領域と青色領域とにピーク波長を有することとなり、この結果、装置外部へは白色光が放射される。また、紫外光を発するLED素子と、青色蛍光体、緑色蛍光体、赤色蛍光体の組合せにより白色光を得るようにしてもよい。
このようにガラス封止部6に蛍光体が含有される発光装置1の製造方法について、図17の工程説明図を参照しながら、以下に説明する。
まず、ZnO−B−SiO−Nb−NaO−LiO系の熱融着ガラスを粉砕し、これに例えばYAGからなる黄色蛍光体の粒子を混合し、蛍光体粒子がガラスの粉末内に均一に分散されたガラス粉末10を生成する(粉砕工程)。
図18は封止前ガラスの加工状態を示す説明図であり、(a)はガラス粉末から封止前ガラスを生成する加工装置を示し、(b)はガラス粉末から生成された封止前ガラスを示し、(c)は得られた封止前ガラスをスライスした状態を示している。
粉砕工程にて生成されたガラス粉末10を荷重を加えながら溶融した後に、ガラス粉末10を固化して封止前ガラス11を生成する(ガラス生成工程)。具体的には、図18(a)に示すように、下台80の平坦な上面80aに、下台80上の所定領域を包囲する筒状の側面枠81を設けて、上方を開口した凹部82を形成する。凹部82は上下にわたって同じ断面であり、凹部82の断面形状に対応して形成された荷重治具83の下部83aが、凹部82内で上下に移動可能となっている。この凹部82にガラス粉末10を入れた後、凹部82内を加圧する荷重治具83をセットする。そして、雰囲気空気を、7.6Torrに減圧するとともに650℃に加熱し、荷重治具83を利用して20kg/cmの圧力をガラス粉末10に加えて溶解する。
この後、溶解したガラス粉末10を冷却して固化することにより、図18(b)に示すような封止前ガラス11を得ることができる。生成された封止前ガラス11は、図18(c)に示すように、ガラス封止部6の厚さに対応するようスライスされて板状に加工される(板状加工工程)。本実施形態においては、ガラス封止部6の厚さは0.5mmである。この後、前記実施形態と同様に、パターン形成工程、素子実装工程、ガラス配置工程、加圧工程及び分割工程を経て発光装置1が製造される。
さらに、ガラス封止部6に、拡散粒子を含有させてもよい。拡散粒子としては、例えばジルコニア粒子、アルミナ粒子、シリカ粒子等を用いることができる。拡散粒子の材質は任意であるが、光の透過性の観点からは白色の材質が好ましく、ガラス加工時の安定性の観点からは融点が加工時の温度より高いことが好ましい。
また、前記実施形態のガラス封止部6について、B−SiO−LiO−NaO−ZnO−Nb系の熱融着ガラスのZnO組成の一部をBiとし、熱融着ガラスの屈折率をさらに高くしてもよい。熱融着ガラスの屈折率は、1.8であることが好ましい。そして、屈折率が1.8の熱融着ガラスを用いる場合、基板の屈折率(nd)が1.8以上である発光素子を用いることが、発光素子からの光の取り出し効率を向上させて発光効率の向上を図ることができ好ましい。基板の屈折率が1.8以上である発光素子としては、例えば、Ga基板、GaN基板、SiC基板等の上にGaN系半導体が形成された発光素子がある。
また、前記実施形態においては、搭載部としての配線基板3がアルミナ(Al)からなるものを示したが、アルミナ以外のセラミックから構成するようにしてもよい。さらには、搭載部を、金属製のリードフレームとしてもよいことは勿論である。ここで、アルミナより熱伝導性に優れる高熱伝導性材料からなるセラミック基板として、例えば、BeO(熱膨張率α:7.6×10−6/℃、熱伝導率:250W/(m・k))を用いても良い。このBeOからなる基板においても封止前ガラスにより良好な封止性を得ることができる。
さらに、他の高熱伝導性基板として、例えばW−Cu基板を用いても良い。W−Cu基板としては、W90−Cu10基板(熱膨張率α:6.5×10−6/℃、熱伝導率:180W/(m・k))、W85−Cu15基板(熱膨張率α:7.2×10−6/℃、熱伝導率:190W/(m・k))を用いることにより、ガラス封止部との良好な接合強度を確保しながら高い熱伝導性を付与することができ、LEDの大光量化、高出力化に余裕をもって対応することが可能になる。
また、前記実施形態においては、発光素子としてLED素子を用いた発光装置を説明したが、発光素子はLED素子に限定されるものではない。また、前記実施形態においては、中間体12を作製してこれを分割し、複数の発光装置1を同時に得るものを示したが、1つ発光素子1ごとに封止加工を行うようにしてもよい。さらに、下金型91は必ずしも必要ではなく、金型を上金型92のみとしてもよいし、その他、具体的な細部構造等についても適宜に変更可能であることは勿論である。
1 発光装置
2 LED素子
3 配線基板
3a ビアホール
4 回路パターン
4a W層
4b Ni層
4c Au層
4d Ag層
5 中空部
6 ガラス封止部
6a 上面
6b 側面
6c 平坦面
6d 第2平坦面
6f 湾曲面
10 ガラス粉末
11 封止前ガラス
11a 凹部
12 中間体
20 成長基板
21 バッファ層
22 n型層
23 MQW層
24 p型層
25 p側電極
26 p側パッド電極
27 n側電極
27a Al層
27b Ni層
27c Au層
28 Auバンプ
41 表面パターン
42 裏面パターン
43 ビアパターン
44 外部接続端子
80 下台
80a 上面
81 側面枠
82 凹部
83 荷重治具
83a 下部
91 下金型
92 上金型
92a 本体
92b 接触部
93 気体層
101 発光装置
106d 面取り部
192 上金型
192c 面取り部
201 発光装置
206b 側面
292 上金型
292b 接触部
301 発光装置
304 回路パターン
306a 上面
306b 側面
306c 平坦面
392 上金型
392b 接触部

Claims (6)

  1. 搭載部上の発光素子を、加熱によって軟化したガラス材により封止する際またはその後に前記ガラス材を加工する際に、
    金型を前記ガラス材の上面に部分的に接触させて押し込んで当該ガラス材を部分的に凹ますことにより、当該上面における前記金型と非接触の部分を変形させ、前記ガラス材の上面の少なくとも一部に湾曲面を形成する発光装置の製造方法。
  2. 前記金型は、前記ガラス材の前記上面における前記発光素子の直上部分と非接触であり、当該上面の前記直上部分の周辺と接触する請求項1に記載の発光装置の製造方法。
  3. 前記ガラス材の前記上面の前記直上部分に前記湾曲面を形成する請求項2に記載の発光装置の製造方法。
  4. 前記搭載部には複数の前記発光素子が実装され、
    前記金型は、前記ガラス材の前記上面における隣接する前記発光素子の中間部分と接触する請求項3に記載の発光装置の製造方法。
  5. 前記湾曲面を形成された前記ガラス材が硬化した後、
    前記ガラス材の前記凹部にダイシングブレードを進入させ、前記ガラス材及び前記搭載部を分割する請求項4に記載の発光装置の製造方法。
  6. 前記金型は、前記ガラス材と接触する接触部が格子状に形成される請求項5に記載の発光装置の製造方法。
JP2009030360A 2009-02-12 2009-02-12 発光装置の製造方法 Active JP5061139B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009030360A JP5061139B2 (ja) 2009-02-12 2009-02-12 発光装置の製造方法
US12/656,670 US8101441B2 (en) 2009-02-12 2010-02-12 Method of manufacturing light-emitting device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009030360A JP5061139B2 (ja) 2009-02-12 2009-02-12 発光装置の製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2010186887A true JP2010186887A (ja) 2010-08-26
JP5061139B2 JP5061139B2 (ja) 2012-10-31

Family

ID=42540748

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009030360A Active JP5061139B2 (ja) 2009-02-12 2009-02-12 発光装置の製造方法

Country Status (2)

Country Link
US (1) US8101441B2 (ja)
JP (1) JP5061139B2 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2013172163A1 (ja) * 2012-05-16 2013-11-21 株式会社ブイ・テクノロジー 露光装置
US9315416B2 (en) 2010-09-16 2016-04-19 Toyoda Gosei Co., Ltd. Method of manufacturing light-emitting device
JP2017168620A (ja) * 2016-03-16 2017-09-21 豊田合成株式会社 発光装置およびその製造方法
WO2024070699A1 (ja) * 2022-09-30 2024-04-04 日本電気硝子株式会社 蓋部材及びその製造方法

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5061139B2 (ja) * 2009-02-12 2012-10-31 株式会社住田光学ガラス 発光装置の製造方法
CN102456801A (zh) * 2010-10-20 2012-05-16 展晶科技(深圳)有限公司 发光二极管封装结构
KR101230622B1 (ko) * 2010-12-10 2013-02-06 이정훈 집단 본딩을 이용한 반도체 디바이스 제조 방법 및 그것에 의해 제조된 반도체 디바이스
US9269681B2 (en) * 2012-11-16 2016-02-23 Qualcomm Incorporated Surface finish on trace for a thermal compression flip chip (TCFC)
US9434876B2 (en) * 2014-10-23 2016-09-06 Central Glass Company, Limited Phosphor-dispersed glass
KR101784406B1 (ko) * 2015-02-25 2017-10-12 금호전기주식회사 투명 전광 장치
KR102396332B1 (ko) 2015-09-22 2022-05-12 삼성전자주식회사 Led 디스플레이용 미세간격 코팅부재 및 이를 이용한 코팅방법
TWI610470B (zh) * 2016-06-13 2018-01-01 隆達電子股份有限公司 發光二極體晶片級封裝結構、直下式背光模組及發光裝置的製造方法
JP2019021711A (ja) * 2017-07-13 2019-02-07 豊田合成株式会社 発光装置

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61291424A (ja) * 1985-06-14 1986-12-22 Matsushita Electric Ind Co Ltd ガラスレンズの成形型および成形方法
JPS6461224A (en) * 1987-08-28 1989-03-08 Akutetsukusu Inc Laminated foam product
JP2003182297A (ja) * 2002-10-24 2003-07-03 Yasuo Iba 膨らみ装飾体の製造方法
JP2003326598A (ja) * 2002-05-09 2003-11-19 Suminoe Textile Co Ltd 凹凸模様を有する表皮材及びその製造方法
JP2005011953A (ja) * 2003-06-18 2005-01-13 Toyoda Gosei Co Ltd 発光装置
JP2006080165A (ja) * 2004-09-07 2006-03-23 Toyoda Gosei Co Ltd 発光装置
JP2006216753A (ja) * 2005-02-03 2006-08-17 Toyoda Gosei Co Ltd 発光装置およびその製造方法
JP2008041844A (ja) * 2006-08-03 2008-02-21 Toyoda Gosei Co Ltd 光学装置及びその製造方法

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2963526B2 (ja) * 1990-10-30 1999-10-18 株式会社日立製作所 透過型投影スクリーンとその製造方法、並びにオーバヘッドプロジェクタおよびプロジェクションテレビセット
JP3160645B2 (ja) * 1996-04-30 2001-04-25 安夫 射場 膨らみ構造体の製造方法
JP3051858B2 (ja) * 1996-04-30 2000-06-12 安夫 射場 装飾体の製造方法
JPH118414A (ja) 1997-06-18 1999-01-12 Sony Corp 半導体装置および半導体発光装置
JPH11227398A (ja) * 1998-02-12 1999-08-24 Yasuo Iba 装飾体の製造方法及び装飾体
JP2001038808A (ja) * 2000-01-01 2001-02-13 Yasuo Iba 膨らみ構造体の製造方法
KR100832956B1 (ko) * 2000-04-24 2008-05-27 로무 가부시키가이샤 측면발광반도체 발광장치
JP3919186B2 (ja) * 2002-08-30 2007-05-23 株式会社リコー マイクロレンズ駒、マイクロレンズ駒形成方法
US6998777B2 (en) * 2002-12-24 2006-02-14 Toyoda Gosei Co., Ltd. Light emitting diode and light emitting diode array
US20040223315A1 (en) * 2003-03-03 2004-11-11 Toyoda Gosei Co., Ltd. Light emitting apparatus and method of making same
JP4029843B2 (ja) * 2004-01-19 2008-01-09 豊田合成株式会社 発光装置
US7824937B2 (en) * 2003-03-10 2010-11-02 Toyoda Gosei Co., Ltd. Solid element device and method for manufacturing the same
CN100511732C (zh) * 2003-06-18 2009-07-08 丰田合成株式会社 发光器件
JP2005223222A (ja) 2004-02-06 2005-08-18 Toyoda Gosei Co Ltd 固体素子パッケージ
US7470926B2 (en) * 2004-09-09 2008-12-30 Toyoda Gosei Co., Ltd Solid-state optical device
US20060171152A1 (en) * 2005-01-20 2006-08-03 Toyoda Gosei Co., Ltd. Light emitting device and method of making the same
JP2007123410A (ja) 2005-10-26 2007-05-17 Asahi Glass Co Ltd ガラス被覆発光ダイオード素子
KR100809263B1 (ko) * 2006-07-10 2008-02-29 삼성전기주식회사 직하 방식 백라이트 장치
CN101344600B (zh) * 2007-07-13 2011-01-26 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 镀膜镜片的制作方法
JP5061139B2 (ja) * 2009-02-12 2012-10-31 株式会社住田光学ガラス 発光装置の製造方法

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61291424A (ja) * 1985-06-14 1986-12-22 Matsushita Electric Ind Co Ltd ガラスレンズの成形型および成形方法
JPS6461224A (en) * 1987-08-28 1989-03-08 Akutetsukusu Inc Laminated foam product
JP2003326598A (ja) * 2002-05-09 2003-11-19 Suminoe Textile Co Ltd 凹凸模様を有する表皮材及びその製造方法
JP2003182297A (ja) * 2002-10-24 2003-07-03 Yasuo Iba 膨らみ装飾体の製造方法
JP2005011953A (ja) * 2003-06-18 2005-01-13 Toyoda Gosei Co Ltd 発光装置
JP2006080165A (ja) * 2004-09-07 2006-03-23 Toyoda Gosei Co Ltd 発光装置
JP2006216753A (ja) * 2005-02-03 2006-08-17 Toyoda Gosei Co Ltd 発光装置およびその製造方法
JP2008041844A (ja) * 2006-08-03 2008-02-21 Toyoda Gosei Co Ltd 光学装置及びその製造方法

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9315416B2 (en) 2010-09-16 2016-04-19 Toyoda Gosei Co., Ltd. Method of manufacturing light-emitting device
WO2013172163A1 (ja) * 2012-05-16 2013-11-21 株式会社ブイ・テクノロジー 露光装置
JP2017168620A (ja) * 2016-03-16 2017-09-21 豊田合成株式会社 発光装置およびその製造方法
WO2024070699A1 (ja) * 2022-09-30 2024-04-04 日本電気硝子株式会社 蓋部材及びその製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
US8101441B2 (en) 2012-01-24
JP5061139B2 (ja) 2012-10-31
US20100203658A1 (en) 2010-08-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5061139B2 (ja) 発光装置の製造方法
JP4905009B2 (ja) 発光装置の製造方法
JP4905069B2 (ja) 発光装置及びその製造方法
JP5104490B2 (ja) 発光装置及びその製造方法
US9653661B2 (en) Light-emitting device, method of manufacturing the same, method of mounting the same and lighting device
JP4979299B2 (ja) 光学装置及びその製造方法
US20080284310A1 (en) Light emitting device, light source and method of making the device
US7989236B2 (en) Method of making phosphor containing glass plate, method of making light emitting device
JP4961887B2 (ja) 固体素子デバイス
US8685766B2 (en) Solid element device and method for manufacturing the same
US20150050760A1 (en) Semiconductor light emitting device and method for manufacturing same
JP5307364B2 (ja) 蛍光体含有ガラスの製造方法及び固体素子デバイスの製造方法
JP2009059883A (ja) 発光装置
JP2009176961A (ja) 実装基板の製造方法及び線状光源の製造方法
JP5407116B2 (ja) 発光装置
JP5287643B2 (ja) 光学装置の製造方法及び光学装置
JP5144578B2 (ja) 発光装置の製造方法
JPWO2004082036A1 (ja) 固体素子デバイスおよびその製造方法
JP2008277055A (ja) 光源装置
JP2009123853A (ja) 発光装置、発光装置の製造方法及び配線体
JP5467963B2 (ja) 発光装置の製造方法
JP5109620B2 (ja) 発光装置、基板装置及び発光装置の製造方法
JP5362635B2 (ja) 発光装置の製造方法
JP2011238819A (ja) 発光装置及びパッケージ

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20110422

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120724

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20120725

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120806

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150810

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5061139

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250