JP2008275479A - スキャンテスト回路、及びスキャンテスト制御方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明のスキャンテスト回路は、制御信号を入力する制御用FFと、その出力が第1状態値の時シフト動作モードに、出力が第2の状態値の時通常動作モードとなる記憶素子のスキャンパスチェーンとを有し、制御用FFは、制御信号が第1から第2の状態値に遷移した場合は、複数の記憶素子に与えられるクロックの遷移後の最初のクロックパルスに同期して、第2の状態値を複数の記憶素子に出力し、制御信号が第2から第1の状態値に遷移した場合は、制御信号が遷移したタイミングで第1の状態値を複数のスキャン記憶素子に出力することを特徴とする。
【選択図】図1
Description
以下、本発明を適用した具体的な実施の形態1について、図面を参照しながら詳細に説明する。
図1に本実施の形態1にかかるスキャンテスト回路の構成の一例を示す。なお、図に示された符号のうち、図8と同じ符号を付した構成は、図8と同じか又は類似の構成を示している。
以下、本発明を適用した具体的な実施の形態2について、図面を参照しながら詳細に説明する。
図6に本実施の形態2にかかるスキャンテスト回路の構成の一例を示す。なお、図に示された符号のうち、図1と同じ符号を付した構成は、図1と同じか又は類似の構成を示している。
13 スキャンイネーブル信号入力端子
14 クロック端子
15 外部端子
21、22、23、24 組み合わせ回路
31、32、33、34、35、36 スキャン記憶素子
41 出力端子
42 スキャンアウト端子
101、102、103、104、105、106 制御用フリップフロップ
111、112、113、114、115、116、117 回路ユニット
Claims (11)
- スキャン制御信号を入力する制御用フリップフロップと、
前記制御用フリップフロップの出力が第1の状態値の時シフト動作を行う第1のモードに、前記制御用フリップフロップの出力が第2の状態値の時通常動作を行う第2のモードとなる複数のスキャン記憶素子がシリアルに接続されたスキャンパスチェーンとを有し、
前記制御用フリップフロップは、
前記スキャン制御信号が第1の状態値から第2の状態値に遷移した場合は、前記複数のスキャン記憶素子に与えられるクロックの前記遷移後の最初のクロックパルスに同期して、前記第2の状態値を前記複数のスキャン記憶素子に出力し、
前記スキャン制御信号が前記第2の状態値から前記第1の状態値に遷移した場合は、前記スキャン制御信号が遷移したタイミングで前記第1の状態値を前記複数のスキャン記憶素子に出力することを特徴とするスキャンテスト回路。 - 前記スキャン制御信号を入力する前記制御用フリップフロップは、
前記スキャン制御信号が第1の状態値の時、前記クロックに非同期に予め決められた固定値を出力し、
前記スキャン制御信号が第2の状態値の時、入力された前記スキャン制御信号の状態値を前記クロックに同期して出力する請求項1に記載のスキャンテスト回路。 - 前記制御用フリップフロップは、
半導体集積回路内に複数形成されていることを特徴とする請求項1または請求項2に記載のスキャンテスト回路。 - 前記制御用フリップフロップは、
半導体集積回路内に複数形成され、複数の前記制御用フリップフロップ各々は前記スキャン制御信号を入力し、前記制御用フリップフロップ各々はそれぞれ対応する前記スキャン記憶素子に前記制御用フリップフロップ各々の出力を供給する請求項1または請求項2に記載のスキャンテスト回路。 - 前記制御用フリップフロップは、
前記半導体集積回路内の前記複数のスキャン記憶素子の近傍に形成されることを特徴とする請求項3または請求項4に記載のスキャンテスト回路。 - 前記制御用フリップフロップはセット付フリップフロップより構成されていることを特徴とする請求項1記載のスキャンテスト回路
- 前記制御用フリップフロップはセット端子に前記スキャン制御信号が、データ入力端子に論理値0が入力される請求項5記載のスキャンテスト回路
- 前記制御用フリップフロップはリセット付フリップフロップより構成されていることを特徴とする請求項1記載のスキャンテスト回路
- 前記制御用フリップフロップの出力と前記スキャン記憶素子との間にさらに選択回路を備え、
前記選択回路は、第2のスキャン制御信号に応じて、前記スキャン記憶素子に、前記制御用フリップフロップの出力または前記スキャン制御信号のいずれか一方を出力する請求項1記載のスキャンテスト回路。 - 請求項1から請求項9の1つに記載のスキャンテスト回路を少なくとも1以上有する半導体集積回路。
- 通常動作を行うキャプチャ動作モードとシフト動作を行うシフト動作モードを有するスキャンテスト回路のスキャンテスト制御方法であって、
スキャン制御信号が第1の状態値から第2の状態値になった後、スキャンチェーンに最初に入力される同期クロックに応じて前記スキャンチェーンをキャプチャ動作モードとし、
スキャン制御信号が前記第2の状態値から前記第1の状態値になったタイミングに応じて、前記スキャンチェーンをシフト動作モードとする
ことを特徴とするスキャンテスト制御方法。
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