JP2005183966A - リソグラフィ装置およびデバイス製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】パターニングデバイスMAを保持するよう構成された支持構造MTを有し、パターニングデバイスが放射線のビームにパターンを生成するよう構成され、基板を保持するよう構成された基板テーブルWTと、支持構造と基板テーブルのうち少なくとも一方を移動させるよう構成されたアクチュエータと、運動信号をアクチュエータに提供するよう構成されたコントローラとを有し、運動信号がアクチュエータを制御して、支持構造および基板テーブルのうち少なくとも一方の運動を生成し、運動の位置の時間に対する4次以上の導関数の少なくとも1つの絶対値が最大値未満に制限され、パターン生成したビームを基板の目標部分に投影するよう構成された投影システムを有する。
【選択図】図1
Description
パターニングデバイスを保持するよう構成された支持構造を有し、パターニングデバイスが放射線のビームにパターンを生成するよう構成され、さらに、
基板を保持するよう構成された基板テーブルと、
支持構造と基板テーブルのうち少なくとも一方を移動させるよう構成されたアクチュエータと、
運動信号をアクチュエータに提供するよう構成されたコントローラとを有し、運動信号がアクチュエータを制御して、支持構造および基板テーブルのうち少なくとも一方の運動を生成し、運動の位置の時間に対する4次以上の導関数の少なくとも1つの絶対値が最大値未満に制限され、さらに、
パターン生成したビームを基板の目標部分に投影するよう構成された投影システムを有するリソグラフィ投影装置が提供される。
パターニングデバイスを保持するよう構成された支持構造を有し、パターニングデバイスが放射線のビームにパターンを生成するよう構成され、さらに、
基板を保持するよう構成された基板テーブルと、
支持構造と基板テーブルのうち少なくとも一方に接続されたアクチュエータと、
運動信号をアクチュエータに提供するよう構成されたコントローラとを有し、運動信号がアクチュエータを制御して、支持構造および基板テーブルのうち少なくとも一方の運動を生成し、これは加速の開始部分で運動の位置の時間に対する3次以上の導関数の高い少なくとも1つの値と、加速の終了部分で運動の位置の時間に対する3次以上の導関数のうちこれに対応する低い少なくとも1つの値を有し、運動の位置の時間に対する3次以上の導関数のうち高い少なくとも1つの値の絶対値が、運動の位置の時間に対する3次以上の導関数のこれに対応する低い少なくとも1つの値より大きく、さらに、
パターン生成したビームを基板の目標部分に投影するよう構成された投影システムを有するリソグラフィ投影装置が提供される。
− 放射線の投影ビームPB(例えばUV放射線またはEUV放射線)を供給する照明システム(照明装置)ILと、
− 品目PLに対して正確にパターニングデバイスの位置決めを行う第一位置決めデバイスPMに連結を行った、パターニングデバイス(例えばマスク)MAを支持するための第一支持構造(例えばマスクテーブル)MTと、
− 品目PLに対して正確に基板の位置決めを行う第二位置決め手段PWに連結を行った、基板(例えばレジスト塗布したウェハ)Wを保持するための基板テーブル(例えばウェハテーブル)WTと、
− パターニングデバイスMAによって投影ビームPBに与えられたパターンを、基板Wの目標部分C(例えば、1つあるいはそれ以上のダイから成る)に描像する投影システム(例えば屈折性投影システム)PLとを有する。
1.ステップモードにおいては、マスクテーブルMTおよび基板テーブルWTは基本的に静止状態に保たれている。そして、投影ビームに与えたパターン全体が1回の作動(すなわち1回の静止露光)で目標部分Cに投影される。次に基板テーブルWTがX方向および/あるいはY方向にシフトされ、異なる目標部分CがビームPBにより照射され得る。ステップモードでは、露光フィールドの最大サイズが、1回の静止露光で描像される目標部分Cのサイズを制限する。
2.走査モードにおいては、マスクテーブルMTおよび基板テーブルWTを同期走査する一方、投影ビームに与えられたパターンを目標部分Cに投影する(つまり1回の動的露光)。マスクテーブルMTに対する基板テーブルWTの速度および方向は、投影システムPLの拡大(縮小)および像反転特性によって決定される。走査モードでは、露光フィールドの最大サイズが、1回の動的露光で目標部分の(非走査方向における)幅を制限し、走査動作の長さが目標部分の(走査方向における)高さを決定する。
3.別のモードでは、マスクテーブルMTが基本的に静止状態に維持されて、プログラマブルパターニングデバイスを保持し、投影ビームに与えられたパターンを目標部分Cに投影する間に、基板テーブルWTが動作するか、走査される。このモードでは、一般的にパルス状放射線ソースを使用して、基板テーブルWTを動作させるごとに、または走査中に連続する放射線パルス間に、プログラマブルパターニングデバイスを必要に応じて更新する。この動作モードは、以上で言及したようなタイプのプログラマブルミラーアレイなどのプログラマブルパターニングデバイスを使用するマスクなしリソグラフィに容易に適用することができる。
− 可動部品の開始および終了位置、
− 可動部品の運動の開始時間および/または停止時間、
− 特定の時間に獲得すべき可動部品の任意の中間位置および/または
− 特定の時間に獲得し、可動部品の2つの特定の位置間で維持しなければならない可動部品の速度である。
− 運動信号と制御信号間で予め規定した関係に基づくフィードフォワード部品および/または
− 運動信号によって規定されたようなその特徴の現在望ましい値に関連した可動部品の特徴(例えば位置または速度)の測定値に基づくフィードバック部品を含むことができる。
− 任意の位置および時間で露光が開始し、
− 任意の位置で露光が終了し、
− 露光後、オブジェクトテーブルは、可能な限り迅速に停止状態にしなければならない。
Claims (52)
- リソグラフィ投影装置で、
パターニングデバイスを保持するよう構成された支持構造を有し、パターニングデバイスは、放射線のビームにパターンを生成するよう構成され、さらに、
基板を保持するよう構成された基板テーブルと、
支持構造と基板テーブルとの少なくとも一方を移動するよう構成されたアクチュエータと、
運動信号をアクチュエータに供給するよう構成されたコントローラとを有し、運動信号がアクチュエータを制御して、支持構造および基板テーブルの少なくとも一方の運動を生成、運動の位置の時間に対する4次以上の導関数の少なくとも1つの絶対値が、最大値より小さくなるよう制限され、さらに、
パターンを生成したビームを基板の目標部分に投影するよう構成された投影システムを有する装置。 - 運動信号が、支持構造および基板テーブルの少なくとも一方の望ましい位置に関する運動信号を有する、請求項1に記載の装置。
- 運動信号の時間に対するn次導関数として働くべき時間の関数を構築し、構築した関数をn回積分することによって、運動信号を生成するよう構成された軌道プランナを有し、ここでn≧4である、請求項2に記載の装置。
- 時間の関数を構築することが、ほぼ一定の関数値を有する連続的な時間隔を画定することを含む、請求項3に記載の装置。
- 連続する各時間隔のほぼ一定の関数値が、プラスの最大値、プラスの最大値とほぼ同じ絶対値であるマイナスの絶対値、またはゼロである、請求項4に記載の装置。
- 構築された時間の関数の中間結果が、ジャークのプロフィール、加速度のプロフィール、速度のプロフィール、および位置のプロフィールを含めて決定され、位置のプロフィールが、構築された時間の関数の個々の積分として、運動信号に対応する、請求項3に記載の装置。
- ジャークのプロフィール、加速度のプロフィール、速度のプロフィールおよび位置のプロフィールのうち少なくとも1つの絶対値が、最大値より小さくなるよう制限される、請求項6に記載の装置。
- ほぼ一定の速度相および運動の停止ポイントのうち少なくとも一方に先立つ最大値が、運動の別の部分の最大値より小さい、請求項1に記載の装置。
- ほぼ一定の速度相および運動の停止ポイントのうち少なくとも一方に先立つ最大値が、運動の別の部分の最大値の25%以下である、請求項8に記載の装置。
- 停止ポイントに先立つ最大値が、運動の別の部分の最大値の50%以下であり、停止ポイントに先立つ運動のジャークの最大値が、運動の別の部分のジャークの最大値の50%以下である、請求項8に記載の装置。
- 支持構造および基板テーブルの少なくとも一方が走査方向にある、請求項1に記載の装置。
- 基板テーブルの運動がステッピング方向である、請求項1に記載の装置。
- 基板テーブルの運動が、ステッピング方向および走査方向である、請求項1に記載の装置。
- 運動のマイナスの加速度相の最大値が、運動のプラスの加速度相の最大値と等しい、請求項1に記載の装置。
- 運動のマイナスの加速度の最大値が、運動の開始時におけるプラスの加速度の最大値の10倍以上および20倍以下である、請求項1に記載の装置。
- 運動信号が、最大値より小さくなるよう制限された運動の位置の時間に対する4次以上の導関数のうち少なくとも1つの有するフィードフォワードを使用して決定される、請求項1に記載の装置。
- リソグラフィ装置で、
パターニングデバイスを保持するよう構成された支持構造を有し、パターニングデバイスは、放射線のビームにパターンを生成するよう構成され、さらに、
基板を保持するよう構成された基板テーブルと、
リソグラフィ装置の部品を、部品の望ましい位置の設定ポイント信号に従って少なくとも1自由度で移動させるよう構成されたアクチュエータとを有し、設定ポイント信号の時間に対する4次以上の導関数のうち少なくとも1つが、境界に制限され、さらに、
パターン生成したビームを基板の目標部分に投影するよう構成された投影システムを有する装置。 - リソグラフィ装置の基板テーブルおよびパターニングデバイス支持構造の少なくとも一方の運動を制御するコンピュータプログラム製品で、支持構造および基板テーブルの少なくとも一方の運動を生成するようアクチュエータを制御するために使用する運動データを生成するよう構成されたソフトウェアコードを有し、運動の位置の時間に対する4次以上の導関数のうち少なくとも1つが、最大値より小さくなるよう制限されるものであるコンピュータプログラム製品。
- アクチュエータのための運動信号を供給するよう構成されたソフトウェアコードを有し、前記運動信号が、支持構造および基板テーブルの少なくとも一方の望ましい位置に対応する、請求項18に記載のコンピュータプログラム製品。
- ほぼ一定の速度相および運動の停止ポイントのうち少なくとも一方に先立つ最大値が、運動の別の部分の最大値より小さい、請求項18に記載のコンピュータプログラム製品。
- 支持構造および基板テーブルのうち少なくとも一方の運動が、リソグラフィ装置のステッピング方向である、請求項18に記載のコンピュータプログラム製品。
- 基板テーブルの運動がリソグラフィ装置のステッピング方向である、請求項18に記載のコンピュータプログラム製品。
- 基板テーブルの運動が、リソグラフィ装置のステッピング方向および走査方向である、請求項18に記載のコンピュータプログラム製品。
- 運動信号が、最大値より小さくなるよう制限された運動の位置の時間に対する4次以上の導関数のうち少なくとも1つの有するフィードフォワードを使用して決定される、請求項18に記載のコンピュータプログラム製品。
- デバイス製造方法で、
リソグラフィ装置のマスクテーブルおよび基板テーブルの少なくとも一方を、マスクテーブルおよび基板テーブルの少なくとも一方の望ましい位置に関する設定ポイント信号を使用して、少なくとも1自由度で起動することを含み、設定ポイント信号の時間に対する4次以上の導関数のうち少なくとも1つが、最大値に制限され、さらに、
パターンを生成した放射線のビームを、基板テーブルによって保持された基板の目標部分に投影することを含む方法。 - 自由度がリソグラフィ装置の走査方向を含む、請求項25に記載の方法。
- 自由度がリソグラフィ装置のステッピング方向を含む、請求項25に記載の方法。
- ほぼ一定の速度相および運動の停止ポイントのうち少なくとも一方に先立って、最大値を運動の別の部分の最大値より下まで低下させることを含む、請求項25に記載の方法。
- 設定ポイント信号が、最大値に制限された設定ポイント信号の時間に対する4次以上の導関数のうち少なくとも1つを有するフィードフォワードを使用して決定される、請求項25に記載の方法。
- リソグラフィ投影装置で、
パターニングデバイスを保持するよう構成された支持構造を有し、パターニングデバイスが放射線のビームにパターンを生成するよう構成され、さらに、
基板を保持するよう構成された基板テーブルと、
支持構造および基板テーブルの少なくとも一方に接続されたアクチュエータと、
運動信号をアクチュエータに供給するよう構成されたコントローラとを有し、運動信号がアクチュエータを制御して、支持構造および基板テーブルのうち少なくとも一方の加速を生成し、これは加速の開始部分で運動の位置の時間に対する4次以上の導関数の高い少なくとも1つの値と、加速の終了部分で運動の位置の時間に対する3次以上の導関数のうちこれに対応する低い少なくとも1つの値を有し、運動の位置の時間に対する3次以上の導関数のうち高い少なくとも1つの値の絶対値が、運動の位置の時間に対する3次以上の導関数のこれに対応する低い少なくとも1つの値の絶対値より大きく、さらに、
パターン生成したビームを基板の目標部分に投影するよう構成された投影システムを有するものであるリソグラフィ投影装置。 - 運動の位置の時間に対する3次導関数の絶対値が最大値より小さい、請求項30に記載の装置。
- 運動の位置の時間に対する4次以上の導関数の少なくとも1つが最大値より小さい、請求項30に記載の装置。
- 運動信号がアクチュエータを制御し、開始部分と終了部分の中間期間について、運動の位置の時間に対する3次以上の導関数のうち対応するほぼゼロの少なくとも1つの有する加速を生成する、請求項30に記載の装置。
- 加速度がプラスの加速度であり、コントローラがさらに、運動信号をアクチュエータに供給するよう構成され、運動信号がアクチュエータを制御して、支持構造および基板テーブルのうち少なくとも一方のマイナスの加速を生成し、これは運動の位置の時間に対する3次以上の導関数のうち高いマイナスの加速度の少なくとも1つを有し、運動の位置の時間に対する3次以上の導関数のうち高いマイナスの加速度の少なくとも1つの絶対値が、運動の位置の時間に対する3次以上の導関数のうち対応する低い少なくとも1つの絶対値より大きい、請求項30に記載の装置。
- マイナスの加速度が、開始期間について運動の位置の時間に対する3次以上の導関数のうち高いマイナスの加速度の少なくとも1つと、終了期間について運動の位置の時間に対する3次以上の導関数のうち高いマイナスの加速度の少なくとも1つを有する、請求項34に記載の装置。
- マイナスの加速度が、開始期間と終了期間との間の中間期間について運動の位置の時間に対する3次以上の導関数のうち対応するほぼゼロの少なくとも1つを有する、請求項35に記載の装置。
- 加速度がプラスの加速度であり、コントローラがさらに、運動信号をアクチュエータに供給するよう構成され、運動信号がアクチュエータを制御して、支持構造および基板テーブルのうち少なくとも一方のマイナスの加速を生成し、これはマイナスの加速の開始期間における運動の位置の時間に対する3次以上の導関数のうち低いマイナスの加速度の少なくとも1つと、運動の位置の時間に対する3次以上の導関数のうちこれに対応する高いマイナスの加速度の1つを有し、運動の位置の時間に対する3次以上の導関数のうち対応する高いマイナスの加速度の少なくとも1つの絶対値が、運動の位置の時間に対する3次以上の導関数のうち低いマイナスの加速度の少なくとも1つの絶対値より大きい、請求項30に記載の装置。
- 加速度がプラスの加速度相およびマイナスの加速度相を有する、請求項30に記載の装置。
- 加速度が走査方向を有する、請求項30に記載の装置。
- 加速度がステッピング方向を有する、請求項30に記載の装置。
- 加速度がさらに走査方向を有する、請求項40に記載の装置。
- 運動信号が位置信号を有する、請求項30に記載の装置。
- リソグラフィ装置のパターニングデバイス支持構造および基板テーブルのうち少なくとも一方の運動を制御するコンピュータプログラム製品で、パターニングデバイス支持構造および基板テーブルのうち少なくとも一方の加速度を生成するようアクチュエータを制御するために使用する運動データを生成するよう構成され、加速の開始位置における運動の位置の時間に対する3次以上の導関数のうち高い少なくとも1つと、加速の終了位置における運動の位置の時間に対する3次以上の導関数のうち対応する低い少なくとも1つとを有するソフトウェアコードを有し、運動の位置の時間に対する3次以上の導関数のうち高い少なくとも1つの絶対値が、運動の位置の時間に対する3次以上の導関数のうち対応する低い少なくとも1つの絶対値より大きいものであるコンピュータプログラム製品。
- 運動の位置の時間に対する3次導関数の絶対値が、最大値より小さい、請求項43に記載のコンピュータプログラム製品。
- 運動の位置の時間に対する4次以上の導関数のうち少なくとも1つの絶対値が、最大値より小さい、請求項43に記載のコンピュータプログラム製品。
- 開始部分と終了部分との間の中間期間について運動の位置の時間に対する3次以上の導関数のうち対応するほぼゼロの少なくとも1つを有する加速度を生成するため、アクチュエータの制御に使用する運動データを生成するよう構成されたソフトウェアコードを有する、請求項43に記載のコンピュータプログラム製品。
- 加速度がプラスの加速度であり、パターニングデバイス支持構造および基板テーブルのうち少なくとも一方のマイナスの加速度を生成するようアクチュエータを制御するために使用される運動データを生成するよう構成された運動の位置の時間に対する3次以上の導関数のうち高いマイナスの加速度の少なくとも1つをソフトウェアコードを有し、これは、加速の終了位置における運動の位置の時間に対する3次以上の導関数のうち対応する少なくとも1つの高いマイナスの加速度を有し、運動の位置の時間に対する3次以上の導関数のうち少なくとも一つの高いマイナスの加速度の絶対値が、運動の位置の時間に対する3次以上の導関数のうち対応する低い少なくとも1つの絶対値より大きい、請求項43に記載のコンピュータプログラム製品。
- 加速度がプラスの加速度であり、パターニングデバイス支持構造および基板テーブルのうち少なくとも一方のマイナスの加速度を生成するようアクチュエータを制御するために使用される運動データを生成するよう構成され、マイナスの加速度の開始期間における運動の位置の時間に対する3次以上の導関数のうち低いマイナスの加速度の少なくとも1つと、マイナスの加速の終了位置における運動の位置の時間に対する3次以上の導関数のうち対応する高いマイナスの加速度の少なくとも1つとを有するソフトウェアコードを有し、運動の位置の時間に対する3次以上の導関数のうち対応する高いマイナスの加速度の少なくとも1つの絶対値が、運動の位置の時間に対する3次以上の導関数のうち低いマイナスの加速度の少なくとも1つの絶対値より大きい、請求項43に記載のコンピュータプログラム製品。
- 加速度が、プラスの加速度相およびマイナスの加速度相を有する、請求項43に記載のコンピュータプログラム製品。
- 加速度が走査方向を有する、請求項43に記載のコンピュータプログラム製品。
- 加速度がステッピング方向を有する、請求項43に記載のコンピュータプログラム製品。
- 運動信号が位置信号を有する、請求項43に記載のコンピュータプログラム製品。
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Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005183966A true JP2005183966A (ja) | 2005-07-07 |
Family
ID=34653713
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004362923A Pending JP2005183966A (ja) | 2003-12-16 | 2004-12-15 | リソグラフィ装置およびデバイス製造方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7016019B2 (ja) |
JP (1) | JP2005183966A (ja) |
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---|---|
US7016019B2 (en) | 2006-03-21 |
US20050128460A1 (en) | 2005-06-16 |
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Date | Code | Title | Description |
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|
RD05 | Notification of revocation of power of attorney |
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A977 | Report on retrieval |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Written amendment |
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A02 | Decision of refusal |
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