JP2001356027A - 走査ユニット - Google Patents

走査ユニット

Info

Publication number
JP2001356027A
JP2001356027A JP2001110081A JP2001110081A JP2001356027A JP 2001356027 A JP2001356027 A JP 2001356027A JP 2001110081 A JP2001110081 A JP 2001110081A JP 2001110081 A JP2001110081 A JP 2001110081A JP 2001356027 A JP2001356027 A JP 2001356027A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
scanning unit
support
unit according
cover element
recess
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2001110081A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4785264B2 (ja
Inventor
Lutz Rissing
ルッツ・リッシング
Michael Schwabe
ミヒャエル・シュヴァーベ
Dieter Spark
ディーター・シュパルク
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dr Johannes Heidenhain GmbH
Original Assignee
Dr Johannes Heidenhain GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dr Johannes Heidenhain GmbH filed Critical Dr Johannes Heidenhain GmbH
Publication of JP2001356027A publication Critical patent/JP2001356027A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4785264B2 publication Critical patent/JP4785264B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D5/00Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
    • G01D5/12Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means
    • G01D5/14Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage
    • G01D5/142Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage using Hall-effect devices
    • G01D5/145Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage using Hall-effect devices influenced by the relative movement between the Hall device and magnetic fields
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D11/00Component parts of measuring arrangements not specially adapted for a specific variable
    • G01D11/24Housings ; Casings for instruments
    • G01D11/245Housings for sensors

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 その検出ユニットが、確実に機械的な影響に
対して保護されている、特に磁気による位置測定装置の
ための走査ユニットを提供すること。 【解決手段】 少なくとも1つの凹部12;112;2
12並びにこの凹部12;112;212の領域内の少
なくとも1つの孔13;113を備える安定した支持体
11;111;211と、1つ又は複数の検出要素1
4.2を有し、かつ凹部12;112;212の領域内
に設けられており、その際少なくとも1つの孔13;1
13;213を経て案内されている電気接続導線15を
介して接触可能である検出ユニット14;114;21
4と、凹部12;112;212の上に設けられてお
り、この凹部を完全に覆うカバー要素16と、並びに少
なくとも、カバー要素16の下の凹部12;112;2
12の残留する自由な領域を埋める充填材19とから成
る、特に磁気による位置測定装置のための走査ユニット
による。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、特に磁気による位
置測定装置に適した走査ユニットに関する。
【0002】
【従来の技術】磁気による位置測定装置は、通常、交互
に設けられた、異なる磁化の部分領域、並びに測定方向
でこの部分領域に対し相対的に可動な走査ユニットから
成る磁気測定部を有する。走査ユニットの面の上には、
例えば、磁場に敏感な適当な検出要素を備える検出ユニ
ットが設けられている。検出要素としては、しばしば、
磁気抵抗性の、しかしながら機械的な影響に対して最も
敏感である材料から成る薄い層が使用される。従ってこ
のような走査ユニットを有する磁気による位置測定装置
が、機械工具内で使用される場合には、測定機構におい
て冷却手段及び切り屑等に基づいて、検出要素もしくは
検出ユニットの損傷が結果として生じる。このことはま
た、結果として位置測定装置の損失を伴う。
【0003】損傷を阻止するために、支持要素の凹部内
に設けられた検出ユニットを、この上に設けられたカバ
ー要素によって保護することが、このような位置測定装
置においては公知である。カバー要素として薄い金属箔
が使用されている場合、しかしながらこの金属箔を正確
に平坦にこの領域内に設けることは、比較的問題が多
い。しかしながら金属箔が正確に平坦に設けられない場
合は、測定部とカバー要素との間に予め与えられた走査
間隔において、検出要素と測定部との間の間隔が変化す
る。これより、検出信号がこの間隔に敏感に依存するこ
とに基づいて、望ましくない変動する信号の振幅が結果
として生じることになる。更に金属箔の正確で平坦でな
い配置は、結果として金属の切り屑又は他の汚れを、測
定部と走査ユニットとの間のこの位置に固定することを
伴う。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】従って、その検出ユニ
ットが、確実に機械的な影響に対して保護されている、
特に磁気による位置測定装置のための走査ユニットを提
供することが本発明の課題である。
【0005】
【課題を解決するための手段】この課題は、請求項1の
特徴を有する走査ユニットによって解決される。
【0006】本発明による走査ユニットの有利な実施形
は、従属する請求項において記載されている措置より明
らかにする。
【0007】本発明による走査ユニットは、従来の解決
策と比較して一連の利点を提供する。従って凹部の内部
に設けられた充填材に基づいて、完全な走査ユニットの
全部で1つの安定でコンパクトな構造が生じる。この他
本発明による措置は、機械的な影響の前の検出ユニット
を保護するカバー要素としての金属箔の最も平坦な配置
を可能にする。これによりまた、汚れの堆積並びに安定
したノイズの少ない走査信号に対する所望の鈍感さを生
み出す。
【0008】更に検出ユニットの接触部の場合は、フレ
キシブルな帯状導体によって、十分に自動化されて進行
することができる比較的簡単な接触部が実現可能である
ことを挙げることができる。
【0009】また接続導線が供給される孔が充填材で埋
められる場合は、走査ユニット内の電気接続導線も、確
実に機械的な損傷の前に保護されている。
【0010】硬化する際に減少もしくは収縮する充填材
を本発明による走査ユニットの凹部内で使用することに
基づいて、カバー要素として金属箔を使用する場合、結
果として、検出要素並びに支持要素において密着が生じ
る。これにより金属箔の強固な支持が生じ、これによ
り、箔と支持要素との間の偶発的な接着結合部が機能し
ないことが阻止される。更に充填材の収縮によって、平
坦な接着面においてせん断応力及び圧縮応力しか生じな
いことを保証し、これによって金属箔の剥離が確実に阻
止される。
【0011】適当な充填材を使用する別の利点として、
例えば金属箔が機械的に損傷を受けるべき場合に、結果
としてこのように汚れのクリープ区間の拡大が生じるこ
とを挙げることができる。
【0012】また基本的に位置測定装置においても、他
の物理的な走査原理、例えば光学的な、誘導性の、又は
容量的なシステムに基づく走査ユニットを、本発明によ
り形成することができる。その際、磁場に敏感な検出要
素の代わりに、相応の選択的な検出ユニットを設けるこ
とができる。更に光学的な位置測定装置の場合には、カ
バー要素を透明に形成することができたりもする。
【0013】当然本発明により組み立てられた走査ユニ
ットは、線形の位置測定装置においても、回転子による
位置測定装置においても使用することができる。
【0014】
【発明の実施の形態】本発明の別の利点並びに詳細を、
添付した図を以下に説明することより明らかにする。
【0015】図1においては、本発明による走査ユニッ
ト10の実施例の部分的な断面図が概略的に図示されて
おり、部分的に組み立てられた走査ユニットの平面図
は、図2において示されている。走査ユニット10に隣
接して、示された測定方向xにおいて、位置に依存した
走査信号を発生させるための走査ユニット10により走
査される、磁気測定部20を認めることができる。大き
さの比率は、図1及び2においては縮尺が正確に再現さ
れていない。
【0016】工作物と工具の相対位置を高精度で設定す
るために、磁気によるこのような位置測定装置が、機械
工具においてほぼ使用することができる。測定部20の
走査部を介して走査ユニット10により発生された走査
信号は、図1においては図示されてない分析ユニット、
例えば数値による機械工具制御装置に供給され、そこで
別の加工が行なわれる。
【0017】本発明による走査ユニット10により走査
間隔Dで走査される磁気測定部20は、公知の様式及び
方法で形成されており、周期的な順番の異なる磁化を有
する部分領域21,22から成る。基本的に測定部20
の面には、公知の異なる磁化別形が使用可能である。更
に測定部20は、線形の測定部としても、回転子による
測定部としても形成でき、後者の場合には、相応のシリ
ンダドラム等に対する測定部20の配置がほぼ可能であ
る。
【0018】本発明による走査ユニット10は、走査ユ
ニット10の別の構成部品が設けられている安定した支
持体11を有する。図示された実施例においては、アル
ミニウムから成る支持体が設けられている。測定部20
の方向に向けられているその側に、支持体11が凹部1
2を備え、この凹部内にはまた、以下に更に説明される
機能に関連した種々の要素が設けられている。支持体1
1内の凹部12は、この例においては、図2における平
面図より明らかなように長方形に形成されており、長方
形の縦軸は、これによれば測定方向xに整向されてい
る。凹部12の深さhは、h=900μmである。
【0019】凹部12の領域内には、支持体11内でこ
の他に、図1において認めることができる通路もしくは
孔13が設けられている。この例においては、孔13が
長方形の横断面を備えており、長方形の縦軸は、測定方
向xに対して垂直に整向されており、図面に対して垂直
に整向されている。孔は、例えば3mm×10mmの寸
法を備える。
【0020】凹部12の中心領域においては、測定部−
走査部のために必要な検出ユニット14が設けられてい
る。磁気測定部20の走査部のために検出ユニット14
は、磁場に敏感な検出要素14.2を有する。この例に
おいて検出要素14.2は、公知の様式及び方法で、ガ
ラスから成る支持基礎部14.1の上に設けられた薄い
磁気抵抗性の線条層として形成されている。検出ユニッ
ト14は、凹部12内で、特に接着結合部によって固定
される。
【0021】検出ユニット14の電気的な接触は、この
例ではフレキシブルな帯状導体もしくはフレキシブルな
押圧スイッチとして形成されている、1つ又は複数の電
気接続導線を介して行なわれる。この場合フレキシブル
な帯状導体は、平坦に、検出ユニット14もしくは検出
要素14.2の上に設けられ、特に接着結合部を介して
検出ユニット14に固定されている。フレキシブルな帯
状導体と検出ユニット14との間には、測定方向xに間
隔を置いた電気的な接点の2つのグループが設けられて
おり、接触部に関してその他の点については、以下の図
3の記載を参照のこと。
【0022】接続導線15もしくはフレキシブルな帯状
導体は、後方に設けられた分析ユニットとの検出ユニッ
トの結合のために、走査ユニット10の支持体11内の
孔13を経て外へと案内される。
【0023】凹部12内に設けられた走査ユニット10
の要素を保護するために、凹部12の上に、凹部12を
完全に覆うカバー要素16が設けられている。この例に
おいてはカバー要素16が、約20〜30μmの厚みを
備える、抵抗力のある薄い金属箔として形成されてい
る。金属箔のための材料としては、非結晶の鉄−ニッケ
ル合金が特に有利であることが実証されている。何故な
らこの鉄−ニッケル合金は、一方では機械的に最も負荷
能力があるからである。他方ではこの材料が、非磁性で
あり、従って磁気測定部20の走査部からの走査信号の
検出にも影響を与えないからである。
【0024】更に凹部12の領域においては支持要素1
7a,17bが設けられており、これらの上には、カバ
ー要素16もしくは金属箔が載置されている。この場合
カバー要素16は、支持要素17a,17bと、接着結
合部を介して結合されており、このため必要な接着剤層
が、図1では符号18a,18bで示されている。選択
的にこの位置においては、他の結合技術、例えばはんだ
付け、硬質はんだ付け、溶接等も使用可能である。
【0025】図1及び2の例においては支持要素17
a,17bが、凹部12の深さhに対応する高さを備え
ており、即ち支持要素17a,17bのそれぞれの表面
が、支持要素11の表面と一致する。しかしながらこの
ため選択的に、支持要素が凹部の深さより大きい高さを
備えることも可能であり、従ってこれらの支持要素は凹
部から突出する。この別形においては、その表面が同様
に凹部から突出するように、凹部内の検出ユニットが設
けられる場合も有利である。同様にこの様式の配置は、
この上に設けられた金属箔が密に密着し、剥離しないた
めに寄与する。
【0026】カバー要素16は、図示された例において
は、この他にその縁部領域においても支持体11と結合
されている。このため金属箔は、この例においては下に
向かって湾曲され、接着剤18c,18dが、金属箔
と、支持体11の凹部12の縁部との間に収容される。
この様式及び方法で最も密な接着結合部が、カバー要素
16と支持体11との間で保証されている。
【0027】またこの位置においても原則的に選択的な
結合技術を、接着のために使用することができる。
【0028】カバー要素16は、この実施例において
は、更にまた尚検出ユニット14の領域内でもフレキシ
ブルな帯状導体と結合されており、その際結合部はま
た、平坦な接着結合部として形成されており、符号18
eで、図1においては、この位置において必要な接着剤
層が指示される。ここでもまた、基本的に他の結合技術
も使用可能である。
【0029】前もって説明した、異なる接着結合部のた
めに、特にエポキシ樹脂ベースの接着剤材料が使用され
る。この場合特に、機械的かつ化学的影響に対するその
安定性が、適当な接着剤材料の選択のために重要であ
る。
【0030】本質的な別の措置として、本発明による走
査ユニット10においては、凹部12内に残留する、カ
バー要素16の下の自由な領域を充填材19で埋めるこ
とが行なわれている。充填材19としては、カバー要素
16と支持体11との間の空間を埋め、埋めた後で硬化
するキャスティングコンパウンドが選択される。この場
合充填材19の充填は、支持体11内の孔13を介して
行なわれ、この孔を経て接続導線15も案内される。こ
の実施例においては、充填材19が、孔13もしくは通
路の領域も埋める。この様式及び方法で、走査ユニット
10内の接続導線15も機械的な負荷の前に保護され
る。
【0031】充填材19としては、特に、支持体11及
び検出ユニット13の熱膨張率と少なくとも同じ熱膨張
率を有する低粘性のキャスティングコンパウンドが選択
される。これにより、偶発的な温度変化によって引き起
こされる、走査ユニット13の内部の熱を条件とする応
力を阻止することができる。その他適当なキャスティン
グコンパウンドの選択においては、硬化する際減少もし
くは収縮する材料が選択される場合に有利であることが
実証されている。この様式及び方法で、カバー要素16
もしくは金属箔と、検出ユニット13との間の特に緊密
な接触が保証される。加えてこの材料選択は、検出要素
14.2からの金属箔の偶発的な持ち上がりを阻止する
ことができることを保証する。
【0032】図3においては、特に検出ユニット14を
有する走査ユニット10の領域を示す、図1による拡大
された部分図が図示されている。この場合支持体11上
には、接着層18fの上に検出ユニット14の支持基礎
部14.1が設けられており、この支持基礎部の上に
は、検出要素14.2が磁気抵抗性の薄い層の形態で存
在する。検出要素14.2は、フレキシブルな帯状導体
として形成された接続導線15と、この実施例において
は測定方向xに間隔を置いた接点15.1,15.2の
2つのグループの上で伝導するように結合され、従って
認めることができない別の接点が、図面に対して垂直に
延在する。更に図示された実施例においては、接続導線
15もしくはフレキシブルな帯状導体と、検出ユニット
14もしくは検出要素14.2を有する薄い層との間
に、フレキシブルな帯状導体を平坦に固定するための別
の接着層18gが設けられている。接続導線15もしく
はフレキシブルな帯状導体の上には、最後に別の接着層
18hが設けられており、この接着層によって、この上
に設けられたカバー要素16、即ち薄い金属箔との結合
が形成される。
【0033】図示された例に対しては選択的に、基本的
に固定部も、両方の接着層18g,18hにより省略す
ることができる。
【0034】当然本発明による考慮の枠内では、選択的
な走査ユニットの実施形も実現可能である。
【0035】図4及び5においては、部分的に組み立て
られた状態の本発明による走査ユニットの別の実施可能
性の平面図が図示されている。
【0036】図4において認めることのできる走査ユニ
ット110は、同様に長方形の凹部112を、安定した
支持体111内に備え、この凹部内には、例えば検出ユ
ニット114が設けられている。検出ユニットに隣接し
て長方形の孔113が認めることができ、この孔を経
て、接触された状態で電気接続導線が案内される。上述
の例とは違い凹部112においては、もはや、測定方向
に間隔を置いた、長方形の横断面を有する2つの支持要
素しか設けられておらず、これに対して支持要素117
としては、いまや、検出ユニット114を完全に取り囲
む、凹部112内で取り巻く***部が使用される。支持
要素117のうえにはまた、図4においては認めること
ができないカバー要素、例えば金属箔が載置されてい
る。その他別の基本的な構造は、前の実施例の構造と一
致する。
【0037】また最初の例に似ている本発明による走査
ユニットの別形210は、図5においては部分的に組み
立てられた状態で示されている。支持要素211の凹部
212内には、最初の実施例に類似して、両方の支持要
素217a,217bが設けられている。支持要素21
7a,217bの間には、検出ユニット214が配置さ
れ、その際正確な位置取りのため同一の3つの組み立て
ストッパ230a,230b及び230cが、凹部21
2内に設けられている。この例においては互いに直角に
設けられた組み立てストッパ230a〜230cによ
り、検出ユニットが自動的に正確な位置に位置取りする
ことができ、引き続き固定並びに接触することができ
る。検出ユニットが、ほぼ、組み立ての際に右上から左
下の方向に移動されることにより、同一の所望の位置に
正確に位置取りすることを保証することができる。
【0038】詳細には図示されてない別の実施別形にお
いては、ほぼ支持体内で更に多くの孔もしくは通路が設
けられており、これらを経て充填材が、走査ユニットの
内部空間へと充填される。
【0039】その他選択的な接触部別形も、検出ユニッ
トのために可能である。検出ユニットの接触部のために
フレキシブルな帯状導体を使用する代わりに、例えば通
常の結合導線も使用することができる。選択的な接触部
が図1及び2における例に対して使用される際、検出ユ
ニットの検出要素とカバー要素との間に、この領域にお
ける偶発的な電気的な過緊張(Ueberspannu
ngen)に対するのと同様に、機械的な影響に対して
敏感な検出要素を保護する、付加的な保護層が設けられ
る場合は有利であると実証されている。上記の例におけ
るこのような保護層が、フレキシブルな帯状導体によっ
て形成される一方で、他の接触部の場合は、適当な保護
ラッカーもしくは適当な保護箔も使用することができ
る。
【0040】更に同様に、検出ユニットを場合によって
はその背面から接続すること、また接続導線を支持体内
の相応の孔を経て外へと案内することが可能である。
【0041】使用する場合に応じて説明した実施例は、
従って本発明による考慮の枠内で適合するように変更す
ることができる。
【0042】
【発明の効果】本発明により、その検出ユニットが、確
実に機械的な影響に対して保護されている、特に磁気に
よる位置測定装置のための走査ユニットが得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】走査された磁気測定部と結合している本発明に
よる走査ユニットの実施形の概略図を示す。
【図2】部分的に組み立てられた状態の図1による走査
ユニットの平面図を示す。
【図3】図1による走査ユニットの拡大部分図を示す。
【図4】部分的に組み立てられた状態の本発明による走
査ユニットの1つの選択的な実施形の平面図を示す。
【図5】部分的に組み立てられた状態の本発明による走
査ユニットの別の選択的な実施形の平面図を示す。
【符号の説明】
10 走査ユニット 11 支持体 12 凹部 13 孔 14 検出ユニット 14.1 支持基礎部 14.2 検出要素 15 接続導線 15.1,15.2 接点 16 カバー要素 17a,17b 支持要素 18a,18b 接着剤層 18e 接着結合部 18f〜18h 接着層 19 充填材 20 磁気測定部 21,22 異なる磁化の部分領域 110 走査ユニット 111 支持体 112 凹部 113 孔 114 検出ユニット 117 支持要素 210 走査ユニット 211 支持要素 212 凹部 214 検出ユニット 217a,217b 支持要素 230a〜230c 組み立てストッパ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ルッツ・リッシング ドイツ連邦共和国、83358 ゼーブルック、 アム・ゼーフェルト、12 (72)発明者 ミヒャエル・シュヴァーベ ドイツ連邦共和国、83253 リムスティン グ、ホーホフェルストラーセ、7アー (72)発明者 ディーター・シュパルク ドイツ連邦共和国、83308 トローストベ ルク、ペーター−ミュルリッター−ストラ ーセ、32ベー Fターム(参考) 2F063 AA02 CA28 DA01 DA05 DD02 DD06 EA02 GA52 GA72 NA02 2F077 AA41 CC02 NN24 PP11 VV04

Claims (17)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 少なくとも1つの凹部(12;112;
    212)並びにこの凹部(12;112;212)の領
    域内の少なくとも1つの孔(13;113)を備える安
    定した支持体(11;111;211)と、 1つ又は複数の検出要素(14.2)を有し、かつ凹部
    (12;112;212)の領域内に設けられており、
    その際少なくとも1つの孔(13;113;213)を
    経て案内されている電気接続導線(15)を介して接触
    可能である検出ユニット(14;114;214)と、 凹部(12;112;212)の上に設けられており、
    この凹部を完全に覆うカバー要素(16)と、並びに少
    なくとも、カバー要素(16)の下の凹部(12;11
    2;212)の残留する自由な領域を埋める充填材(1
    9)とから成る、特に磁気による位置測定装置のための
    走査ユニット。
  2. 【請求項2】 凹部(12;112;212)の領域内
    に、1つ又は複数の支持要素(17a,17b;11
    7;217a,217b)が設けられており、これらの
    支持要素の上にカバー要素(16)が載置されているこ
    とを特徴とする請求項1に記載の走査ユニット。
  3. 【請求項3】 カバー要素(16)が、支持要素(17
    a,17b;117;217a,217b)と結合され
    ていることを特徴とする請求項2に記載の走査ユニッ
    ト。
  4. 【請求項4】 カバー要素(16)が、支持要素(17
    a,17b)と接着されていることを特徴とする請求項
    3に記載の走査ユニット。
  5. 【請求項5】 支持要素が凹部の高さよりも大きな高さ
    を備え、また検出ユニットが、その表面が凹部から突出
    するように凹部内に設けられていることを特徴とする請
    求項2に記載の走査ユニット。
  6. 【請求項6】 カバー要素(16)が、その縁部領域内
    で支持体(11)と接着されていることを特徴とする請
    求項4に記載の走査ユニット。
  7. 【請求項7】 電気接続導線(15)が、フレキシブル
    な帯状導体として形成されており、フレキシブルな帯状
    導体が、平坦に、カバー(16)の方向に向けられてい
    る検出ユニット(14)の面の上に載置されていること
    を特徴とする請求項1に記載の走査ユニット。
  8. 【請求項8】 フレキシブルな帯状導体と検出ユニット
    (14)との間に、接点(15.1,15.2)の間隔
    をおいた2つのグループが設けられていることを特徴と
    する請求項7に記載の走査ユニット。
  9. 【請求項9】 フレキシブルな帯状導体が、検出ユニッ
    ト(14)と平坦に接着されていることを特徴とする請
    求項7に記載の走査ユニット。
  10. 【請求項10】 カバー要素(16)が、検出ユニット
    (14)の領域内でフレキシブルな帯状導体と接着され
    ていることを特徴とする請求項7に記載の走査ユニッ
    ト。
  11. 【請求項11】 検出要素とカバー要素との間に、保護
    層が設けられていることを特徴とする請求項1に記載の
    走査ユニット。
  12. 【請求項12】 カバー要素(16)が、薄く抵抗力の
    ある非磁性の金属箔として形成されていることを特徴と
    する請求項1に記載の走査ユニット。
  13. 【請求項13】 金属箔のための材料として、非結晶の
    ニッケル−鉄合金が使用されていることを特徴とする請
    求項12に記載の走査ユニット。
  14. 【請求項14】 充填材(19)が、支持体(11;1
    11;211)内の孔(13;113)も埋めるように
    形成されていることを特徴とする請求項1に記載の走査
    ユニット。
  15. 【請求項15】 充填材(19)として、その熱膨張率
    が支持体(11;111;211)及び検出ユニット
    (14;114;214)の熱膨張率とできるだけ同じ
    になるように選択されている低粘性のキャスティングコ
    ンパウンドが使用されていることを特徴とする請求項1
    に記載の走査ユニット。
  16. 【請求項16】 硬化する際に減少する充填材(19)
    が選択されていることを特徴とする請求項1に記載の走
    査ユニット。
  17. 【請求項17】 支持体(11;111;211)の材
    料としてアルミニウムが使用されていることを特徴とす
    る請求項1に記載の走査ユニット。
JP2001110081A 2000-04-13 2001-04-09 走査ユニット Expired - Fee Related JP4785264B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE10018269A DE10018269B4 (de) 2000-04-13 2000-04-13 Abtasteinheit
DE10018269:0 2000-04-13

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2001356027A true JP2001356027A (ja) 2001-12-26
JP4785264B2 JP4785264B2 (ja) 2011-10-05

Family

ID=7638563

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001110081A Expired - Fee Related JP4785264B2 (ja) 2000-04-13 2001-04-09 走査ユニット

Country Status (3)

Country Link
US (1) US6566866B2 (ja)
JP (1) JP4785264B2 (ja)
DE (1) DE10018269B4 (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7109651B2 (en) 2002-11-26 2006-09-19 Nitto Denko Corporation Organic electroluminescence cell, planar light source and display device
JP2008008754A (ja) * 2006-06-29 2008-01-17 Aisan Ind Co Ltd 回転角度検出装置
WO2013069524A1 (ja) * 2011-11-11 2013-05-16 日立オートモティブシステムズ株式会社 磁界角計測装置およびそれを用いた回転機
JP2019128277A (ja) * 2018-01-25 2019-08-01 日本電産サンキョー株式会社 磁気センサ装置
JP2020139946A (ja) * 2019-03-01 2020-09-03 ドクトル・ヨハネス・ハイデンハイン・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツングDr. Johannes Heidenhain Gesellschaft Mit Beschrankter Haftung 角度スケールを走査するための走査ユニットおよびこの走査ユニットを備えた角度測定装置

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE20200330U1 (de) 2002-01-10 2002-07-04 ASM Automation Sensorik Meßtechnik GmbH, 85452 Moosinning Messvorrichtungs-Kopf mit Frontplatte
DE102009018342A1 (de) * 2008-04-24 2009-10-29 Hirschmann Automotive Gmbh Magnetischer Positionssensor mit einer Abgreifschicht aus einem amorphen Metall
EP2138806A1 (de) 2008-06-27 2009-12-30 SICK STEGMANN GmbH Positionsmessvorrichtung
US20110101964A1 (en) * 2009-11-05 2011-05-05 Udo Ausserlechner Magnetic Encoder Element for Position Measurement
DE102012224386B3 (de) 2012-12-27 2014-02-13 Sick Ag Induktiver Sensor
EP3657133B1 (de) 2018-11-20 2021-01-06 Dr. Johannes Heidenhain GmbH Sensoreinheit und positionsmesseinrichtung mit dieser sensoreinheit
EP4109047A1 (de) * 2021-06-21 2022-12-28 Dr. Johannes Heidenhain GmbH Mitnehmer für eine positionsmesseinrichtung

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5851580A (ja) * 1981-09-24 1983-03-26 Hitachi Ltd 磁気検出センサ装置
JPH0694747A (ja) * 1992-09-10 1994-04-08 Sumitomo Electric Ind Ltd センサ装置及びそのセンサ装置を用いた回転センサ
JP2000100995A (ja) * 1998-09-18 2000-04-07 Fujitsu Ten Ltd 電子機器及びその製造方法

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE7711655U1 (de) * 1977-04-14 1978-10-05 Gebhard Balluff Fabrik Feinmechanischer Erzeugnisse, 7303 Neuhausen Berührungslos steuerbarer elektrischer Schalter
DE3800824A1 (de) * 1988-01-14 1989-07-27 Standard Elektrik Lorenz Ag Vorrichtung mit wenigstens einem in einem gehaeuse angeordneten magnetfeldabhaengigen widerstand
US5157245A (en) * 1988-06-29 1992-10-20 Murata Mfg. Co., Ltd. Magnetic sensor
JPH082631Y2 (ja) * 1988-08-05 1996-01-29 三菱電機株式会社 ホール効果型センサ装置
JPH0489506A (ja) * 1990-08-02 1992-03-23 Mitsubishi Electric Corp 角度検出装置
US5250925A (en) * 1992-05-11 1993-10-05 General Motors Corporation Package for speed sensing device having minimum air gap
US5508611A (en) * 1994-04-25 1996-04-16 General Motors Corporation Ultrathin magnetoresistive sensor package
DE4432468C1 (de) * 1994-09-13 1995-10-26 Siemens Ag Näherungsschalter und ein Verfahren zu dessen Herstellung
DE4442181C1 (de) * 1994-11-26 1995-10-26 Loh Optikmaschinen Ag Werkzeug zur Feinbearbeitung optischer Flächen
DE19607179C1 (de) * 1996-02-27 1997-07-10 Heidenhain Gmbh Dr Johannes Elektrische Positionsmeßeinrichtung

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5851580A (ja) * 1981-09-24 1983-03-26 Hitachi Ltd 磁気検出センサ装置
JPH0694747A (ja) * 1992-09-10 1994-04-08 Sumitomo Electric Ind Ltd センサ装置及びそのセンサ装置を用いた回転センサ
JP2000100995A (ja) * 1998-09-18 2000-04-07 Fujitsu Ten Ltd 電子機器及びその製造方法

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7109651B2 (en) 2002-11-26 2006-09-19 Nitto Denko Corporation Organic electroluminescence cell, planar light source and display device
JP2008008754A (ja) * 2006-06-29 2008-01-17 Aisan Ind Co Ltd 回転角度検出装置
JP4680136B2 (ja) * 2006-06-29 2011-05-11 愛三工業株式会社 回転角度検出装置
WO2013069524A1 (ja) * 2011-11-11 2013-05-16 日立オートモティブシステムズ株式会社 磁界角計測装置およびそれを用いた回転機
JP2013104698A (ja) * 2011-11-11 2013-05-30 Hitachi Automotive Systems Ltd 磁界角計測装置およびそれを用いた回転機
JP2019128277A (ja) * 2018-01-25 2019-08-01 日本電産サンキョー株式会社 磁気センサ装置
JP7050500B2 (ja) 2018-01-25 2022-04-08 日本電産サンキョー株式会社 磁気センサ装置
JP2020139946A (ja) * 2019-03-01 2020-09-03 ドクトル・ヨハネス・ハイデンハイン・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツングDr. Johannes Heidenhain Gesellschaft Mit Beschrankter Haftung 角度スケールを走査するための走査ユニットおよびこの走査ユニットを備えた角度測定装置
JP7440291B2 (ja) 2019-03-01 2024-02-28 ドクトル・ヨハネス・ハイデンハイン・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツング 角度スケールを走査するための走査ユニットおよびこの走査ユニットを備えた角度測定装置

Also Published As

Publication number Publication date
DE10018269B4 (de) 2009-04-09
DE10018269A1 (de) 2001-10-18
US20010030535A1 (en) 2001-10-18
JP4785264B2 (ja) 2011-10-05
US6566866B2 (en) 2003-05-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2001356027A (ja) 走査ユニット
US5896030A (en) Magnetic sensor with components attached to transparent plate for laser trimming during calibration
JP2009128116A (ja) 電流センサ
US6225716B1 (en) Commutator assembly apparatus for hall sensor devices
JPH06323868A (ja) スケール装置
JP2002528908A (ja) 自己接着電子回路
JP5356793B2 (ja) 磁気検出装置及びその製造方法
JPS5851580A (ja) 磁気検出センサ装置
JP2007232616A (ja) 磁気センサ装置
US7518157B2 (en) Optoelectronic component assembly
JP5086733B2 (ja) 磁気検出プローブ、磁気検出プローブの製造方法
JPH07181065A (ja) マイクロメカニックセンサを接着によって支持体上に固定するための装置
JPH0235921B2 (ja)
JP4151667B2 (ja) 物理量センサの製造方法及びボンディング装置
JP4967852B2 (ja) 磁気式エンコーダ及びモータ
JP3233129B2 (ja) 磁気検出装置
JPH08145609A (ja) 位置検出装置
JP3851815B2 (ja) 磁気ヘッド装置
JPH04329328A (ja) 接触圧力センサおよびその測定方法
JP2006084410A (ja) 磁気センサ装置
JPH0886848A (ja) 磁気検出器
JP2550839Y2 (ja) 磁気センサ
JPH06174490A (ja) 磁気検出装置
JPS6031269Y2 (ja) 磁電変換器
JP2001004729A (ja) 磁気ヘッド

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20071211

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20100517

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100720

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20101001

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110222

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110510

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110621

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110712

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140722

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees