TWI542542B - 碳化矽粉末及其製造方法 - Google Patents

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Description

碳化矽粉末及其製造方法
本發明係關於使用艾其遜(Acheson)爐獲得之高純度碳化矽粉末、及其製造方法。
碳化矽(SiC)係作為研磨或研削材、陶瓷燒結體及導電性材料等之工業用材料,自過去以來即被廣泛使用。尤其,最近,由於省能源趨勢增強或因非核能(nuclear power free)而對自然再生能源之活用之期待等社會背景,而要求純度高之碳化矽粉末作為功率半導體等所使用之單結晶材料。
工業上量產碳化矽之技術已知有藉由以含矽(Si)之矽酸質原料(例如矽砂)與含碳之碳質原料(例如石油焦炭)作為原料,在艾其遜爐中於1600℃以上加熱,利用直接還原反應製造碳化矽之方法。
過去以來進行之由艾其遜爐之製造,由於原料中之雜質含有率高,雜質之控制困難,故無法製造高純度之碳化矽粉末。
因此,提案有使純度低之碳化矽粉末高純度化之方法。例如,專利文獻1中記載將含較多雜質之碳化矽粉末置於真空容器中,使真空度在9×10-5~1×10-2托耳(torr)之範圍,且在1,500~1,700℃之溫度範圍內加熱,而去除碳化矽粉末中之雜質,製造高純度碳化矽粉末之方法。
然而,在真空中升溫之專利文獻1的方法之裝置複雜、昂貴,且工業上無法一次大量生產。
另外,在專利文獻2記載將含較多雜質之碳化矽粉與氫氟酸之混合物導入於密閉容器中,在加壓下加熱處理之高純度碳化矽粉之製造方法。
然而,氫氟酸對人體有害且危險性高,在操作上困難,且會有工業上無法大量處理碳化矽粉之問題。
[先前技術文獻] [專利文獻]
[專利文獻1]特開昭64-61308號公報
[專利文獻2]專利第4006716號公報
本發明之目的係提供一種高純度之碳化矽粉末,及可便宜且大量而且安全地製造高純度碳化矽粉末之方法。
本發明人等為解決上述課題而積極檢討之結果,發現使用艾其遜爐,燒成使矽酸質原料與碳質原料混合而成之碳化矽製造用原料所獲得之特定碳化矽粉末,以及藉由該製造方法,可達成上述目的,因而完成本發明。
亦即,本發明為提供以下之[1]~[6]者。
[1]一種碳化矽粉末,其係使用艾其遜爐使混合矽酸質原料與碳質原料而成之碳化矽製造用原料燒成所獲得之碳化矽粉末,其特徵為前述碳化矽粉末中之雜質含有率為500ppm以下。
[2]一種碳化矽粉末之製造方法,其為製造前述[1]所記載之碳化矽粉末之方法,該方法係使用碳質原料與矽酸質原料之混合莫耳比(C/SiO2)為2.5~4.0,且雜質含有率為120ppm以下者作為前述碳化矽製造用原料。
[3]如前述[2]所記載之碳化矽粉末之製造方法,其中在作為艾其遜爐加熱手段之由碳所組成的發熱體中,其雜質含有率為前述碳化矽製造用原料中之雜質含有率以下。
[4]如前述[2]或[3]所記載之碳化矽粉末之製造方法,其中前述矽酸質原料係雜質含有率為50ppm以下之非晶質二氧化矽。
[5]如前述[2]~[4]中任一項所記載之碳化矽粉末之製造方法,其中前述碳質原料係雜質含有率為300ppm以下之碳黑。
[6]如前述[2]~[5]中任一項所記載之碳化矽粉末之製造方法,其中前述碳化矽製造用原料經預先顆粒化。
本發明之碳化矽粉末為高純度且便宜,除可使用作為功率半導體方面之單結晶用原料及治具以外,亦可使用作 為要求高純度之用途之陶瓷燒結體之原料。
依據本發明之製造方法,可便宜且大量而且安全地製造高純度之碳化矽粉末。
以下針對本發明詳細說明。
本發明之碳化矽粉末為使用艾其遜爐,燒成使矽酸質原料與碳質原料混合而成之碳化矽製造用原料所獲得之碳化矽粉末,該碳化矽粉末中之雜質之含有率為500ppm以下,較好為300ppm以下,更好為200ppm以下,又更好為150ppm以下,再更好為100ppm以下,最好為50ppm以下者。該含有率超過500ppm時,難以使用作為功率半導體方面之單結晶用原料及治具、以及要求高純度之用途之陶瓷燒結體之原料。
此處,所謂碳化矽粉末中之雜質意指除矽(Si)、碳(C)、氧(O)及氮(N)以外之成分。矽(Si)及碳(C)為碳化矽本身之成分,不包含在雜質中。氧(O)及氮(N)亦不包含在雜質中。
雜質之例列舉為硼(B)、磷(P)、鋁(Al)、鐵(Fe)、鈦(Ti)、鎳(Ni)、銅(Cu)、鈣(Ca)、鋅(Zn)等。
尤其,使用本發明之碳化矽粉末作為功率半導體之單結晶用原料時,碳化矽粉末中之硼(B)及磷(P)之各別的含有率較好為1ppm以下。又,該情況下,碳化矽粉 末中之鋁(Al)、鐵(Fe)及鈦(Ti)之各別的含有率較好為100ppm以下,更好為5ppm以下,最好為2ppm以下。
本發明之製造方法中使用之碳化矽製造用原料為碳質原料與矽酸質原料之混合莫耳比(C/SiO2)為2.5~4.0,且雜質含有率為120ppm以下者。
本說明書中,所謂「碳質原料與矽酸質原料之混合莫耳比」係指混合碳質原料與矽酸質原料,調製碳化矽製造用原料時之碳質原料中之碳(C)之莫耳與矽酸質原料中之矽酸(SiO2)之莫耳比(C/SiO2)。
碳質原料與矽酸質原料之混合莫耳比之範圍為2.5~4.0,較好為2.8~3.8,更好為3.0~3.6。該混合莫耳比未達2.5時或超過4.0時,製品之碳化矽粉末中會殘留較多未反應之矽酸質原料或碳質原料。因此,該混合莫耳比對碳化矽粉末之組成造成影響。
碳化矽製造用原料中之雜質含有率為120ppm以下,較好為100ppm以下,更好為70ppm以下,又更好為50ppm以下,再更好為40ppm以下,最好為20ppm以下。該含有率超過120ppm時,難以滿足與製造之碳化矽粉末有關之可使用作為半導體用單結晶原料之純度。
此處,所謂碳化矽製造用原料中之雜質係與上述之碳化矽粉末中之雜質相同,意指除矽(Si)、碳(C)、氧(O)及氮(N)以外之成分。
又,碳化矽製造用原料中之氧(O)在碳化矽粉末之 製造過程中幾乎被去除。
本發明之碳化矽製造用原料可使用使矽酸質原料與碳質原料經粉體混合獲得之混合原料預先顆粒化而成者。顆粒化之碳化矽製造用原料可藉由例如使二氧化矽與有機樹脂之混合物顆粒化而獲得者。
顆粒之粒度(最長尺寸;例如剖面為橢圓時為長徑之尺寸),就操作容易性、燒成效率等觀點而言,較好為0.3~10 mm,更好為0.5~5mm,最好為1~4mm。
本發明之製造法中使用之矽酸質原料列舉為例如天然矽砂及矽石粉,人造矽石粉、發煙二氧化矽、非晶質二氧化矽等。該等可單獨使用一種或組合兩種以上使用。另外。就反應性之觀點而言以非晶質二氧化矽較佳。
矽酸質原料中之雜質之含有率較好為50ppm以下,更好為25ppm以下。該含有率超過50ppm時,會有所製造之碳化矽粉末之純度變低之情況。
此處,所謂矽酸質原料中之雜質係與上述之碳化矽粉末中之雜質相同,意指除矽(Si)、碳(C)、氧(O)及氮(N)以外之成分。
另外,矽酸質原料中之B、P、Al、Fe、Ca、及Ti之各別之含有率較好為20ppm以下,更好為10ppm以下,又更好為5ppm以下,最好為1ppm以下。
矽酸質原料之粒度較好為10mm以下,更好為8mm以下,最好為6mm以下。該粒度超過10mm時,反應性顯著變差,成為生產性差之結果。
矽酸質原料之粒度之定義係與上述顆粒之粒度(最長尺寸)相同。
本發明之製造方法中使用之碳質原料可列舉為例如石油焦炭、石碳瀝青、碳黑、各種有機樹脂等。該等可單獨使用一種或組合兩種以上使用。其中,就純度之觀點而言,以碳黑較佳。
碳質原料中之雜質之含有率較好為300ppm以下,更好為200ppm以下,又更好為100ppm以下,最好為70ppm以下。該含有率超過300ppm時,會有所得碳化矽粉末之純度變低之情況。
此處,所謂碳質原料中之雜質係與上述之碳化矽粉末中之雜質相同,意指除矽(Si)、碳(C)、氧(O)及氮(N)以外之成分。
本發明之製造方法中使用之艾其遜爐之發熱體之種類為由碳所成者,只要可通電即可,並無特別限制,可列舉為例如石墨粉、碳棒。
發熱體中之雜質之含有率係上述碳化矽製造用原料中所含雜質之含有率以下為較好。
此處,所謂發熱體中之雜質係與上述之碳化矽粉末中之雜質相同,意指除矽(Si)、碳(C)、氧(O)及氮(N)以外之成分。
發熱體中之雜質之含有率較好為120ppm以下,更好為70ppm以下,又更好為50ppm以下,最好為25ppm以下。該含有率定在較佳範圍內時,可獲得更高純度之碳化 矽粉末。
發熱體之形態如上述只要可通電即可,可為粉狀亦可為棒狀。另外,棒狀之情況,該棒狀體之形態亦無特別限制,可為圓柱狀亦可為角柱狀。
針對本發明中使用之艾其遜爐,邊參照圖1及圖2邊加以說明。
圖1為艾其遜爐4之長度方向之剖面圖,圖2為與艾其遜爐4之長度方向垂直之方向之剖面圖。
艾其遜爐4為大氣開放型,為爐本體5之剖面成略U字狀之爐,且兩端具有電極蕊3、3。於長度方向之中央部以連結電極蕊3、3設置發熱體2,發熱體2之周圍填充碳化矽製造用原料1。且,碳化矽製造用原料1在爐本體5之內部空間中收容為半圓柱體狀。
電流流入電極蕊3、3之間,藉由使發熱體2通電加熱,而在發熱體2之周圍引起以下述式(1)所示之直接還原反應,生成碳化矽(SiC)之塊狀物。
SiO2+3C → SiC+2CO (1)
進行上述反應之溫度為1600~3000℃。
藉由粉碎所得之碳化矽塊狀物,可獲得高純度之碳化矽粉末。
粉碎手段可列舉為球磨機、震動粉碎機、噴射粉碎機等之一般之粉碎手段。
所得高純度之碳化矽粉末可依據成為目標之純度,以無機酸進行洗淨。無機酸可使用鹽酸、硫酸、硝酸等。
[實施例]
以下以實施例具體說明本發明,但本發明並不限於該等實施例。
1.使用材料
使用以下所示之材料。
(1)矽酸質原料A;結晶質二氧化矽(共立材料(股)製造,純化矽石粉,粒度:2mm以下)
(2)矽酸質原料B;非晶質二氧化矽(太平洋水泥(股)製造,試製品,粒度:5mm以下)
(3)矽酸質原料C;結晶質二氧化矽(豪州產,天然矽石粉,粒度:2mm以下)
(4)碳質原料A;碳黑(日本Cabot(股)製造,商品名「SHOW BLACK 550」,一次粒子之平均粒徑:50nm,二次粒子之平均粒徑:724μm)
(5)碳質原料B:碳黑(東海Carbon(股)製造,商品名「SEAST 600」,一次粒子之平均粒徑:25nm,二次粒子之平均粒徑:500μm)
(6)碳質原料C:碳黑(東海Carbon(股)製造,商品名「SEAST TA」,一次粒子之平均粒徑:120nm,二次粒子之平均粒徑:900μm)
(7)碳質原料D:碳黑(AIR WATER(股)製造,商品名「BELLFINE」,一次粒子之平均粒徑:20nm,二 次粒子之平均粒徑:243μm)
(8)碳質原料E;石油焦碳(中國產),二次粒子之平均粒徑:3000μm)
(9)發熱體之原料;發熱體用石墨粉(太平洋水泥 (股)製造之試製品)
(10)結合劑:聚乙烯醇(關東化學(股)特級)使用上述材料調製以下之材料。
(11)發熱體用石墨A;使上述發熱體用石墨粉在非氧化性環境下,以2,000℃之條件重複燒成兩次獲得。
(12)發熱體用石墨B;使上述發熱體用石墨粉在非氧化性環境下,以2,000℃之條件重複燒成四次獲得。
(13)發熱體用石墨C;使上述發熱體用石墨粉在非氧化性環境下,以2,000℃之條件重複燒成六次獲得。
(14)顆粒狀之混合原料A;混合矽酸質原料B 47質量份和碳質原料C 52質量份後,對該粉體混合原料100質量份添加30質量份之聚乙烯醇(20%)水溶液,製成顆粒狀(粒度:4mm)。
(15)顆粒狀之混合原料B;混合矽酸質原料B 62.5質量份和碳質原料D 37.5質量份後,與前述方法同樣,添加聚乙烯醇,且以造粒機製成顆粒狀(粒度:2mm)。
如下列分析上述材料之化學成分。結果示於表1。
2.分析方法
(1)B(硼)及P(磷)之含有率之分析方法
依據土壤中之B(硼)之分析方法(參照BUNSEKI KAGAKU VOL47,No7,pp451~454)之利用鹼熔融法之ICP-AES分析進行分析。
具體而言,將試料1g及Na2CO3 4g置於白金坩堝中之後,將該白金坩堝載置於電爐中且在700℃加熱1小時。接著每隔1小時,邊攪拌白金坩堝內之混合物,邊在800℃加熱4小時,進而在1000℃加熱15分鐘。於加熱後之混合物(熔成物)中添加50質量%之HCl 120ml,使用加熱板,在140℃邊粉碎熔融物10分鐘邊溶解。加水補足至100ml後進行過濾。對所得固體成分進行ICP-AES分析。所得結果示於表1。
(2)B及P以外之元素(Al、Fe、Ca、及Ti)之含有率之分析方法
依據「JIS R 1616」所記載之加壓酸分解法之ICP-AES分析測定。所得結果示於表1。
又,關於表1中之各原料,前述6種原料(B、P、Al、Fe、Ca、Ti)以外之雜質含有率之合計為10ppm以下。
[實施例1~8、比較例1、2]
於圖1及圖2所記載之艾其遜爐中收容表2所記載之混合原料、及發熱體用石墨後,以最大負荷70kwh通電加熱12小時,生成碳化矽之塊狀物。使用桌上型磨床(Top Grinder)粉碎所得碳化矽之塊狀物,獲得碳化矽粉末。使用上述分析方法測定所得碳化矽粉末中之雜質(B、P、Al、Fe、Ca、及Ti)之含有率。結果示於表3。
關於表2中之「混合原料」及「發熱體」,「雜質之含有率」均為表1中所記載之六種雜質之合計量。
且,關於表3中之實施例1~8之任一者,表3中所記載之六種雜質以外之雜質之合計量亦均為10ppm以下。
又,艾其遜爐加熱時之爐內溫度係在1600~3000℃之範圍內。
1‧‧‧矽酸質原料與碳質原料之混合物(碳化矽製造用原料)
2‧‧‧發熱體用石墨
3‧‧‧電極蕊
4‧‧‧艾其遜爐
5‧‧‧爐本體
圖1為艾其遜爐之長度方向之剖面圖。
圖2為與艾其遜爐之長度方向垂直之方向之剖面圖。

Claims (8)

  1. 一種碳化矽粉末之製造方法,其特徵係包含:將雜質之含有率為50ppm以下之矽酸質原料與雜質之含有率為300ppm以下之碳質原料以使碳質原料與矽酸質原料之混合莫耳比(C/SiO2)為2.5~4.0之方式混合,來調製碳化矽製造用原料之步驟,與在具備由碳所組成的發熱體之艾其遜爐內,將前述碳化矽製造用原料予以繞成而得雜質之含有率為120ppm以下之碳化矽粉末之步驟。
  2. 如申請專利範圍第1項之碳化矽粉末之製造方法,其中前述由碳所組成的發熱體中,其雜質含有率為前述碳化矽製造用原料中雜質之含有率以下。
  3. 如申請專利範圍第1項之碳化矽粉末之製造方法,其中前述由碳所組成的發熱體中,其雜質含有率為120ppm以下。
  4. 如申請專利範圍第2項之碳化矽粉末之製造方法,其中前述由碳所組成的發熱體中,其雜質含有率為120ppm以下。
  5. 如申請專利範圍第1~4項中任一項之碳化矽粉末之製造方法,其中前述矽酸質原料為非晶質二氧化矽。
  6. 如申請專利範圍第1~4項中任一項之碳化矽粉末之製造方法,其中前述碳質原料為碳黑。
  7. 如申請專利範圍第1~4項中任一項之碳化矽粉末之製造方法,其中前述矽酸質原料為非晶質二氧化矽,且 前述碳質原料為碳黑。
  8. 如申請專利範圍第1~4項中任一項之碳化矽粉末之製造方法,其中前述碳化矽製造用原料經預先顆粒化。
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