KR20070018638A - 웨이퍼 결함지수를 사용하여 국부성 불량 모드를 갖는결함성 반도체 웨이퍼의 검출 방법들 및 이에 사용되는장비들 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (29)
- 반도체 웨이퍼 상의 복수개의 칩들의 측정 데이터들로 구성된 데이터 파일을 저장하는 데이터 베이스;상기 데이터 파일을 사용하여 웨이퍼 맵을 생성시키는 웨이퍼 맵 생성기;상기 웨이퍼 맵에 공간 필터를 적용하여 여과된 맵을 생성시키는 여과된 맵 생성기;상기 여과된 맵 내에 국부적으로 존재하는 불량 그룹에 대한 정규화된 분포 값에 상응하는 웨이퍼 결함지수를 제공하는 웨이퍼 결함지수 산출기; 및상기 웨이퍼 결함지수를 목표 결함지수와 비교하여 상기 반도체 웨이퍼를 결함성 웨이퍼 또는 비결함성 웨이퍼로 분류하는 웨이퍼 결함지수 비교기를 포함하는 결함성 웨이퍼의 검출 장비.
- 제 1 항에 있어서,상기 공간 필터는 적어도 3개의 행들 및 적어도 3개의 열들을 따라 2차원적으로 배열된 적어도 9개의 칩들에 각각 대응하는 공간들을 갖고 상기 공간들의 각각은 가중치를 갖는 것을 특징으로 하는 결함성 웨이퍼의 검출 장비.
- 제 1 항에 있어서,상기 불량 그룹은 상기 여과된 맵 내의 불량 칩들중 하나의 고립된 칩(a single isolated chip) 또는 복수개의 인접한 칩들(a plurality of adjacent chips)로 구성된 것을 특징으로 하는 결함성 웨이퍼의 검출 장비.
- 제 1 항에 있어서,상기 데이터 베이스, 상기 웨이퍼 맵 생성기, 상기 여과된 맵 생성기, 상기 웨이퍼 결함지수 산출기 및 상기 웨이퍼 결함지수 비교기를 제어하는 제어기를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 결함성 웨이퍼의 검출 장비.
- 제 4 항에 있어서,상기 제어기에 의해 제어되는 레지스터를 더 포함하되, 상기 레지스터는 상기 공간 필터의 정보 및 상기 목표 결함지수를 저장하고, 상기 제어기는 상기 공간 필터의 정보 및 상기 목표 결함지수를 각각 상기 여과된 맵 생성기 및 상기 웨이퍼 결함지수 비교기로 전송하는 것을 특징으로 하는 결함성 웨이퍼 검출 장비.
- 제 4 항에 있어서,상기 제어기에 의해 제어되는 모니터를 더 포함하되, 상기 모니터는 상기 웨이퍼 결함지수 비교기, 상기 웨이퍼 결함지수 산출기, 상기 여과된 맵 생성기 및 상기 웨이퍼 맵 생성기의 출력 신호들중 적어도 하나를 화상 데이터로 변환시키는 것을 특징으로 하는 결함성 웨이퍼의 검출 장비.
- 반도체 웨이퍼 상에 형성된 복수개의 칩들을 전기적으로 측정하여 상기 복수개의 칩들을 양호한 칩들 및 불량 칩들로 분류하는 웨이퍼 테스터에 의해 측정된 데이터 파일을 저장하되, 상기 데이터 파일은 적어도 하나의 테스트 항목에 상응하는 측정 데이터들로 구성되는 데이터 베이스;상기 측정 데이터들을 웨이퍼 맵으로 변환시키되, 상기 웨이퍼 맵은 상기 양호한 칩들 및 상기 불량 칩들의 위치들을 평면 상에 나타내는 웨이퍼 맵 생성기;상기 웨이퍼 맵 상의 상기 복수개의 칩들에 각각 공간 필터를 적용하여 상기 복수개의 칩들의 각각을 여과된 양호한 칩(filtered good chip) 또는 여과된 불량 칩(filtered fail chip)으로 변환시키는 여과된 맵 생성기;상기 여과된 불량 칩들을 하나의 불량 그룹(fail group) 또는 적어도 두 개의 불량 그룹들로 분류시키는 그룹화된 맵 생성기;상기 불량 그룹들의 정규화된 분포 값(normalized distribution value)에 해당하는 웨이퍼 결함지수를 제공하는 웨이퍼 결함지수 산출기; 및상기 웨이퍼 결함지수를 목표 결함지수와 비교하여 상기 측정된 웨이퍼를 결함성 웨이퍼 또는 비결함성 웨이퍼로 분류하는 웨이퍼 결함지수 비교기를 포함하는 결함성 웨이퍼의 검출 장비.
- 제 7 항에 있어서,상기 적어도 하나의 테스트 항목은 직류 테스트 항목 및 교류 테스트 항목을 포함하되, 상기 양호한 칩들 및 상기 불량 칩들에 대한 정보는 상기 테스트 항목들 의 각각에 대하여 독립적으로 제공되거나 상기 테스트 항목들의 전체에 대하여 제공되는 것을 특징으로 하는 결함성 웨이퍼 검출 장비.
- 제 7 항에 있어서,상기 공간 필터는 적어도 3개의 행들 및 적어도 3개의 열들을 따라 2차원적으로 배열된 적어도 9개의 칩들에 각각 대응하는 공간들을 갖고 상기 공간들의 각각은 가중치를 갖는 것을 특징으로 하는 결함성 웨이퍼의 검출 장비.
- 제 7 항에 있어서,상기 불량 그룹들중 하나의 불량 그룹은 상기 여과된 불량 칩들중 하나의 고립된 칩(a single isolated chip) 또는 복수개의 인접한 칩들(a plurality of adjacent chips)로 구성된 것을 특징으로 하는 결함성 웨이퍼의 검출 장비.
- 제 7 항에 있어서,상기 데이터 베이스, 상기 웨이퍼 맵 생성기, 상기 여과된 맵 생성기, 상기 그룹화된 맵 생성기, 상기 웨이퍼 결함지수 산출기 및 상기 웨이퍼 결함지수 비교기를 제어하는 제어기를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 결함성 웨이퍼의 검출 장비.
- 제 11 항에 있어서,상기 제어기에 의해 제어되는 레지스터를 더 포함하되, 상기 레지스터는 상기 공간 필터의 정보 및 상기 목표 결함지수를 저장하고, 상기 제어기는 상기 공간 필터의 정보 및 상기 목표 결함지수를 각각 상기 여과된 맵 생성기 및 상기 웨이퍼 결함지수 비교기로 전송하는 것을 특징으로 하는 결함성 웨이퍼 검출 장비.
- 제 11 항에 있어서,상기 제어기에 의해 제어되는 모니터를 더 포함하되, 상기 모니터는 상기 웨이퍼 결함지수 비교기, 상기 웨이퍼 결함지수 산출기, 상기 여과된 맵 생성기 및 상기 웨이퍼 맵 생성기의 출력 신호들중 적어도 하나를 화상 데이터로 변환시키는 것을 특징으로 하는 결함성 웨이퍼의 검출 장비.
- 반도체 웨이퍼 상에 형성된 복수개의 칩들을 전기적으로 측정함으로써 생성된 데이터 파일을 사용하여 웨이퍼 맵을 생성시키되, 상기 웨이퍼 맵은 상기 복수개의 칩들의 각각을 상기 전기적인 측정 결과들에 따라서 양호한 칩 또는 불량 칩으로 나타내고,상기 웨이퍼 맵 상의 상기 칩들의 각각에 공간 필터를 적용하여 상기 칩들의 각각을 여과된 양호한 칩 또는 여과된 불량 칩으로 변환시키고,상기 여과된 불량 칩들을 하나 또는 적어도 두 개의 불량 그룹들로 분류하되, 상기 불량 그룹들(fail groups)의 각각은 상기 여과된 불량 칩들중 하나의 고립된 칩(a single isolated chip) 또는 복수개의 인접한 칩들(a plurality of adjacent chips)로 구성되고,상기 불량 그룹들의 정규화된 분포 값에 해당하는 웨이퍼 결함지수를 산출하고,상기 웨이퍼 결함지수와 목표 결함지수를 비교하여 상기 측정된 웨이퍼를 결함성 웨이퍼 또는 비결함성 웨이퍼로 분류하는 것을 포함하는 결함성 웨이퍼의 검출 방법.
- 제 14 항에 있어서,상기 전기적인 측정 결과들은 적어도 하나의 테스트 항목을 포함하는 것을 특징으로 하는 결함성 웨이퍼의 검출 방법.
- 제 15 항에 있어서,상기 적어도 하나의 테스트 항목은 직류 테스트 항목 및 교류 테스트 항목을 포함하되, 상기 양호한 칩들 및 상기 불량 칩들에 대한 정보는 상기 테스트 항목들의 각각에 대하여 독립적으로 제공되거나 상기 테스트 항목들의 전체에 대하여 제공되는 것을 특징으로 하는 결함성 웨이퍼의 검출 방법.
- 제 14 항에 있어서, 상기 복수개의 칩들에 각각 상기 공간 필터를 적용하는 것은상기 복수개의 칩들중 선택된 하나의 칩 및 상기 선택된 칩을 둘러싸는 i개 의 주변 칩들을 설정하고,상기 설정된 칩들중 상기 양호한 칩들 및 상기 불량 칩들에 각각 "1" 및 "0"의 상태 값들을 부여하고,상기 설정된 칩들에 각각 상응하는 공간들에 가중치(weight)를 부여하고,상기 설정된 칩들의 상기 상태 값들 및 그에 대응하는 상기 가중치들을 각각 곱하여 i+1개의 공간 값들을 산출하고,상기 공간 값들의 합을 기준 필터 값과 비교하여 상기 선택된 칩을 여과된 불량 칩 또는 여과된 양호한 칩으로 분류시키는 것을 포함하는 것을 특징으로 하는 결함성 웨이퍼의 검출 방법.
- 제 17 항에 있어서,상기 i는 8인 것을 특징으로 하는 결함성 웨이퍼의 검출 방법.
- 제 17 항에 있어서,상기 가중치가 1이고 상기 기준 필터 값이 0.5인 경우에, 상기 여과된 불량 칩에 대한 상기 공간 값들의 합은 0.5 보다 작고 상기 여과된 양호한 칩에 대한 상기 공간 값들의 합은 0.5 보다 큰 것을 특징으로 하는 결함성 웨이퍼의 검출 방법.
- 웨이퍼 테스터를 사용하여 반도체 웨이퍼 상에 형성된 복수개의 칩들을 전기적으로 측정함으로써 생성된 데이터 파일을 데이터 베이스 내에 저장시키되, 상기 데이터 파일은 적어도 하나의 테스트 항목에 상응하는 측정 데이터들로 구성되고 상기 복수개의 칩들의 각각은 상기 측정 데이터들에 따라서 양호한 칩 또는 불량 칩으로 분류되고,상기 데이터 파일을 웨이퍼 맵 생성기를 사용하여 웨이퍼 맵으로 변환시키되, 상기 웨이퍼 맵은 상기 양호한 칩들 및 상기 불량 칩들의 위치들을 평면 상에 나타내고,상기 웨이퍼 맵 상의 상기 복수개의 칩들의 각각을 공간 필터 및 여과된 맵 생성기를 사용하여 여과된 양호한 칩 또는 여과된 불량 칩으로 변환시키고,상기 여과된 불량 칩들을 그룹화된 맵 생성기를 사용하여 하나 또는 적어도 두 개의 불량 그룹들로 분류하되, 상기 불량 그룹들의 각각은 상기 여과된 불량 칩들중 하나의 고립된 칩(a single isolated chip) 또는 복수개의 인접한 칩들(a plurality of adjacent chips)로 구성되고,상기 불량 그룹들의 정규화된 분포 값에 해당하는 웨이퍼 결함지수를 웨이퍼 결함지수 산출기를 사용하여 산출하고,상기 웨이퍼 결함지수를 웨이퍼 결함지수 비교기를 사용하여 목표 결함지수와 비교하여 상기 측정된 웨이퍼를 결함성 웨이퍼 또는 비결함성 웨이퍼로 분류하는 것을 포함하는 결함성 웨이퍼의 검출 방법.
- 제 20 항에 있어서,상기 데이터 베이스, 상기 웨이퍼 맵 생성기, 상기 여과된 맵 생성기, 상기 그룹화된 맵 생성기, 상기 웨이퍼 결함지수 생성기 및 상기 웨이퍼 결함지수 비교기는 제어기에 의해 제어되는 것을 특징으로 하는 결함성 웨이퍼의 검출 방법.
- 제 21 항에 있어서,상기 공간 필터 및 상기 목표 결함지수는 상기 반도체 웨이퍼를 측정하기 전에 설정되고 상기 제어기에 의해 제어되는 레지스터에 저장되는 것을 특징으로 하는 결함성 웨이퍼의 검출 방법.
- 제 22 항에 있어서,상기 공간 필터는 크기 및 가중치에 의해 정의되는 것을 특징으로 하는 결함성 웨이퍼의 검출 방법.
- 제 22 항에 있어서, 상기 공간 필터를 설정하는 것은상기 복수개의 칩들중 선택된 하나의 칩 및 상기 선택된 칩을 둘러싸는 i개의 주변 칩들을 설정하고,상기 설정된 칩들에 각각 상응하는 i+1개의 공간들을 설정하고,상기 i+1개의 공간들에 각각 가중치를 부여하는 것을 포함하는 것을 특징으로 하는 결함성 웨이퍼의 검출 방법.
- 제 24 항에 있어서,상기 "i" 는 8 또는 24인 것을 특징으로 하는 결함성 웨이퍼의 검출 방법.
- 제 24 항에 있어서,상기 가중치는 1인 것을 특징으로 하는 결함성 웨이퍼의 검출 방법.
- 제 24 항에 있어서, 상기 복수개의 칩들의 각각을 상기 여과된 양호한 칩 또는 상기 여과된 불량 칩으로 변환시키는 것은상기 설정된 칩들중 상기 양호한 칩들 및 상기 불량 칩들에 각각 "1" 및 "0"의 상태 값들을 부여하고,상기 설정된 칩들의 상기 상태 값들 및 그에 대응하는 상기 가중치들을 각각 곱하여 i+1개의 공간 값들을 산출하고,상기 공간 값들의 합을 0.5와 비교하여 상기 선택된 칩을 상기 여과된 불량 칩 또는 상기 여과된 양호한 칩으로 분류하는 것을 포함하는 것을 특징으로 하는 결함성 웨이퍼의 검출 방법.
- 제 22 항에 있어서, 상기 목표 결함지수를 설정하는 것은복수개의 기준 웨이퍼들(reference wafers) 상에 형성된 복수개의 기준 칩들(reference chips)을 웨이퍼 테스터를 사용하여 전기적으로 측정하여 기준 데이터 파일들을 생성시키고,상기 기준 데이터 파일들을 사용하여 상기 각 기준 웨이퍼들에 대한 웨이퍼 결함지수들을 산출하고,상기 웨이퍼 결함지수들의 빈도수(frequency)를 보여주는 도수 분포도(histogram)를 작성하고,상기 도수 분포도로부터 표준 평균 및 표준 편차를 구하고,상기 표준 평균 및 상기 표준 편차를 사용하여 베타 확률 분포도를 작성하고,상기 베타 확률 분포도로부터 상기 목표 웨이퍼 결함지수를 설정하는 것을 포함하는 것을 특징으로 하는 결함성 웨이퍼의 검출 방법.
- 제 20 항에 있어서,상기 적어도 하나의 테스트 항목은 직류 테스트 항목 및 교류 테스트 항목을 포함하되, 상기 양호한 칩들 및 상기 불량 칩들에 대한 정보는 상기 테스트 항목들의 각각에 대하여 독립적으로 제공되거나 상기 테스트 항목들의 전체에 대하여 제공되는 것을 특징으로 하는 결함성 웨이퍼의 검출 방법.
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