JPS5880891A - プリント配線板の検査方法 - Google Patents
プリント配線板の検査方法Info
- Publication number
- JPS5880891A JPS5880891A JP56180151A JP18015181A JPS5880891A JP S5880891 A JPS5880891 A JP S5880891A JP 56180151 A JP56180151 A JP 56180151A JP 18015181 A JP18015181 A JP 18015181A JP S5880891 A JPS5880891 A JP S5880891A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- contact
- wiring board
- printed wiring
- mask
- inspected
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はコンビニ、−夕を用いたシリ″ント配線板の検
査方法に関するものである。
査方法に関するものである。
従来、プリント配線板検査装置は、嵐品である事が確認
された基準プリント配線板と、該基準プリント配線板の
ランド穴位置に対応して接触ぜンを設けたテストフイク
スチャーを用意し、該テストフイクスチャーと骸基準プ
リント配線板を重ねて、諌接触ビンを咳プリント配線板
のランド穴に接触させ、該接触ビンを順次電気的に走査
して、先づ該基準プリント配線板の配線情報を読取って
記憶する事によって、検査準備を完了し、次に該基準プ
リント配線板の代りに之と同一配置のランド穴と、配線
パターンを有する良否不明の被検査プリント配線板を用
いて、餓接触ピンを諒プリント配線板のランド穴に振触
させ、前記と同様に該接触ビンを順次電気的に走査して
、該被検査プリント配線板の配線情報を絖増ｐ乍ら、Ｒ
Ｋ記憶されて居る基準ンリント配線板の配線？＃報と比
較し、同一であるか台かで、良否の判定を行って居た。
された基準プリント配線板と、該基準プリント配線板の
ランド穴位置に対応して接触ぜンを設けたテストフイク
スチャーを用意し、該テストフイクスチャーと骸基準プ
リント配線板を重ねて、諌接触ビンを咳プリント配線板
のランド穴に接触させ、該接触ビンを順次電気的に走査
して、先づ該基準プリント配線板の配線情報を読取って
記憶する事によって、検査準備を完了し、次に該基準プ
リント配線板の代りに之と同一配置のランド穴と、配線
パターンを有する良否不明の被検査プリント配線板を用
いて、餓接触ピンを諒プリント配線板のランド穴に振触
させ、前記と同様に該接触ビンを順次電気的に走査して
、該被検査プリント配線板の配線情報を絖増ｐ乍ら、Ｒ
Ｋ記憶されて居る基準ンリント配線板の配線？＃報と比
較し、同一であるか台かで、良否の判定を行って居た。
尚、前記接触ぜンは、印加圧力によって、伸紬する構造
を有し、又、配線情報とは、例えば、。
を有し、又、配線情報とは、例えば、。
成る接触ピン査号と他の接触ビン査号への閣が電気的に
尋過でおるか、開放であるかを示す。
尋過でおるか、開放であるかを示す。
しかし、此の様な検査装置では、被検査プリント配線板
のｉ＊１ｋＫｐわせて、テストフイクスチャーをそれぞ
れ用意し交換しなければならないので、多種少量生産の
プリント配線板を検査するのは、コスト的に困難であっ
た。
のｉ＊１ｋＫｐわせて、テストフイクスチャーをそれぞ
れ用意し交換しなければならないので、多種少量生産の
プリント配線板を検査するのは、コスト的に困難であっ
た。
上記間組点を克服するために、第１図に示す徐に、接触
ビンｌを、絶縁基板２に、例えば、２．５４ｍの格子状
に配列した、汎用テストフイクスチャ−３が考えられた
。此の方式をとると、例えば約３２ｍＸ４０ｍの有効寸
法を有するプリント配縁板を検査する□ための、テスト
フイクスチャーの接触−ンの数は、約２０，０００本と
なるが、前述した株なプリント配線板の種別毎にテスト
アイクスチャーを別々に用意する会費がなくなる。そし
て、此の汎用テストフイクスチャー３のｋｆｉｌビンｌ
が、被検査シリ／トのランド穴以外の位置に尚って誤動
作を生じたり、傷をつけたりするのを防止するために、
同図に示す様に被検査プリント配線板４のランド穴！’
、６．？に対応した穴８が形成された絶縁体薄板から成
る、マスク９を用意し第２図に示す様に、接触ビン１ｍ
、１ｂｌｌ＠・・・の内被検査プリント配線板４０ラン
ド大位置と対応する接触ビンのみを該プリント配線板と
接触させ、他の接触ビンは、該マスク９によって接触を
阻止されて居る状態とする。
ビンｌを、絶縁基板２に、例えば、２．５４ｍの格子状
に配列した、汎用テストフイクスチャ−３が考えられた
。此の方式をとると、例えば約３２ｍＸ４０ｍの有効寸
法を有するプリント配縁板を検査する□ための、テスト
フイクスチャーの接触−ンの数は、約２０，０００本と
なるが、前述した株なプリント配線板の種別毎にテスト
アイクスチャーを別々に用意する会費がなくなる。そし
て、此の汎用テストフイクスチャー３のｋｆｉｌビンｌ
が、被検査シリ／トのランド穴以外の位置に尚って誤動
作を生じたり、傷をつけたりするのを防止するために、
同図に示す様に被検査プリント配線板４のランド穴！’
、６．？に対応した穴８が形成された絶縁体薄板から成
る、マスク９を用意し第２図に示す様に、接触ビン１ｍ
、１ｂｌｌ＠・・・の内被検査プリント配線板４０ラン
ド大位置と対応する接触ビンのみを該プリント配線板と
接触させ、他の接触ビンは、該マスク９によって接触を
阻止されて居る状態とする。
此の状態で、該接触ビンのすべてを順次電気的に走査し
て、骸プリント配線板の配線情報をＭ堆って記憶したり
、或は又配線情報をｔ＆増って、既に記憶しである配線
情報と比較して検査を行なう事が考えられ穴。
て、骸プリント配線板の配線情報をＭ堆って記憶したり
、或は又配線情報をｔ＆増って、既に記憶しである配線
情報と比較して検査を行なう事が考えられ穴。
しかし乍ら、此の僚な検査方法では、例えば。
被検査プリント配線板のランド穴が４，０００偶の場合
であっても、２０，０００本の接鯵、−ンの総てを電気
的に走査して居るので、！ｌ！際上は、検査には全く関
係のないｌ ６．ＯＵ ０本の接触−ンに対する走査が
、無駄な時間を発生する事となった。
であっても、２０，０００本の接鯵、−ンの総てを電気
的に走査して居るので、！ｌ！際上は、検査には全く関
係のないｌ ６．ＯＵ ０本の接触−ンに対する走査が
、無駄な時間を発生する事となった。
一般的に、基準プリント配線板から配線情報を読取るの
ｆｃｌ！する時間は、プリント配ＩＩＩ板の良否判定を
行う検査時間と比較して、非常に長時間を要する場合が
多い。
ｆｃｌ！する時間は、プリント配ＩＩＩ板の良否判定を
行う検査時間と比較して、非常に長時間を要する場合が
多い。
従って、本発明は、実際に必費とする接触ビンのみを走
査する様にして、短時間で基準プリント配線板から配線
情報を読取る拳の出来る、プリント配線板の検量方法を
提供する事を目的とするものである。
査する様にして、短時間で基準プリント配線板から配線
情報を読取る拳の出来る、プリント配線板の検量方法を
提供する事を目的とするものである。
以下、本発明の畔細を回向に基づき説明する・第３図は
、上記の目的に使用するコンぜエータ制御汎用プリント
配線板検査装置の構成の一例を示すもので３９は前述し
た接触ビン群を有するテストフィクスチャー、３１４１
検査義置全ｔ＋を制御するゾ關セッサー、３２は操作用
コンソール、３３及び３４は、記憶部で、３３は制−に
必要なソフトウェア領域、３４は書込み及び絖出し可能
なＲＡＭ領域を示す。３５はインターフェース部、３６
ＩＩｉ制御鄭、３７は配線情報記憶部、３８はテストフ
ィクスチャ−３９の各澱触ピンを順次電気的に走査する
走査部である。
、上記の目的に使用するコンぜエータ制御汎用プリント
配線板検査装置の構成の一例を示すもので３９は前述し
た接触ビン群を有するテストフィクスチャー、３１４１
検査義置全ｔ＋を制御するゾ關セッサー、３２は操作用
コンソール、３３及び３４は、記憶部で、３３は制−に
必要なソフトウェア領域、３４は書込み及び絖出し可能
なＲＡＭ領域を示す。３５はインターフェース部、３６
ＩＩｉ制御鄭、３７は配線情報記憶部、３８はテストフ
ィクスチャ−３９の各澱触ピンを順次電気的に走査する
走査部である。
先づ％Ｍ４図に示す＃に、上述した格子状に配列した接
触ビン１を有するテストフィクスチャ−３、被検査プリ
ント配線板のランド穴に対応した位置に穴８を形成した
ｌｅ縁体薄板から成るマスク９、及び短絡板１０を用意
する。
触ビン１を有するテストフィクスチャ−３、被検査プリ
ント配線板のランド穴に対応した位置に穴８を形成した
ｌｅ縁体薄板から成るマスク９、及び短絡板１０を用意
する。
短絡板ｌＯは、導電体より成９、上述しｆｃ接触ピンｌ
と接触すると、該ビンｌと電気的に導通する性質を有し
てＭｐ、接触状態をよｐ良くするために、同一〇如く接
触ビンｌと対応した位置に穴ｌｌ管形成して４良φ。従
って、複数の接触ビンｌが諒短絡板１Ｇと做触すると、
該接触ピン相互間は、導通状態となる。
と接触すると、該ビンｌと電気的に導通する性質を有し
てＭｐ、接触状態をよｐ良くするために、同一〇如く接
触ビンｌと対応した位置に穴ｌｌ管形成して４良φ。従
って、複数の接触ビンｌが諒短絡板１Ｇと做触すると、
該接触ピン相互間は、導通状態となる。
第４１に於て、接触ビンｌを、マスク９を介して短絡板
１０に押圧すると、マスク穴と対応する位置の接触ビン
のみが短絡板１０に接触して、該接触ビン相互間が導通
状態となるが、マスク９の穴は、被検査プリント配線板
のランド穴と対応した位１１に形成されて居るので、結
局扱検査プリント配線板のランド穴と対応した位置の嵌
触ピン相互間が導通状態となる。
１０に押圧すると、マスク穴と対応する位置の接触ビン
のみが短絡板１０に接触して、該接触ビン相互間が導通
状態となるが、マスク９の穴は、被検査プリント配線板
のランド穴と対応した位１１に形成されて居るので、結
局扱検査プリント配線板のランド穴と対応した位置の嵌
触ピン相互間が導通状態となる。
従って、すべての接触ビンを順次電気的に＊食すると、
相互間が導通状態となって居る接触ビン査号を識別する
事が可能となるので、記憶部のソフトウェア領域３３４
Ｃ格納した、「接触ビン番号登録プログラム」を走らせ
てインターフェース３５、制（８１ｇ３６を介して走査
ｓ３８を制御し、相互間が導通状態ＫＴｏる接触ビン番
号を、ＲＡＭ領域３４に記憶させるが、此の段階ｔ−ｒ
登録」と称する事とする。
相互間が導通状態となって居る接触ビン査号を識別する
事が可能となるので、記憶部のソフトウェア領域３３４
Ｃ格納した、「接触ビン番号登録プログラム」を走らせ
てインターフェース３５、制（８１ｇ３６を介して走査
ｓ３８を制御し、相互間が導通状態ＫＴｏる接触ビン番
号を、ＲＡＭ領域３４に記憶させるが、此の段階ｔ−ｒ
登録」と称する事とする。
次に、該短絡板ｌＯを取外し、代りに第２図に示す様に
基準プリント配線板４を用意し、接触ピン１をマスク９
を介して４に押圧すると、削述した休に、４のラン、ド
ｌ（ｓ’、 ｅ 、 ７・・・のみに接触ピンｌａ、ｌ
ｂ、ｌｃ・・・が接触する事となるが、該恢触ピン食号
は、上述し大通り、既に第３図のＲＡＭ領ｔＩＲ３４に
登録されて居るので、「配線情報検出プログラム」を走
らせて該登録ピン番号を順次読出し乍ら、登録ピン臂号
の接触ビン相互間のみを順次走査して配縁↑に＠を読取
９、配縁情報記憶部３７ＩＩｃ格納する。
基準プリント配線板４を用意し、接触ピン１をマスク９
を介して４に押圧すると、削述した休に、４のラン、ド
ｌ（ｓ’、 ｅ 、 ７・・・のみに接触ピンｌａ、ｌ
ｂ、ｌｃ・・・が接触する事となるが、該恢触ピン食号
は、上述し大通り、既に第３図のＲＡＭ領ｔＩＲ３４に
登録されて居るので、「配線情報検出プログラム」を走
らせて該登録ピン番号を順次読出し乍ら、登録ピン臂号
の接触ビン相互間のみを順次走査して配縁↑に＠を読取
９、配縁情報記憶部３７ＩＩｃ格納する。
尚、第３図で轢配線情報記憶部３７は、プロセッサー３
１とインターフェース３５を介した独立したハードウェ
ア３７として示しであるがゾロセッサー３１より直接ア
クセス可能なＲＡＭ領域３４をあてる事も可能である。
１とインターフェース３５を介した独立したハードウェ
ア３７として示しであるがゾロセッサー３１より直接ア
クセス可能なＲＡＭ領域３４をあてる事も可能である。
又、登録されて盾ない接触ビンに関する配線情報は、「
配線情報検出プログラム」に依る事なく、すべて開放と
して３？ｌＣ格納しておけば良い。
配線情報検出プログラム」に依る事なく、すべて開放と
して３？ｌＣ格納しておけば良い。
此の段階を「配線情報の耽込み」と称する事とするが、
以上で被検査プリント配線板の検査準備を完了する。
以上で被検査プリント配線板の検査準備を完了する。
上述した、「登録」及び「配線情報の読込み」を行う事
によって、「配線情報検出プログラム」で走査される接
触ビンの数は大巾に減る事となるので、検査準備に要す
る時間は大巾に節約される事が明白である。
によって、「配線情報検出プログラム」で走査される接
触ビンの数は大巾に減る事となるので、検査準備に要す
る時間は大巾に節約される事が明白である。
又、次回の検査準備を行う際に、上記の「登録」及び「
配線情報の読込み」を繰返す手間を省くために、図示し
て店な−が、上記の配線情＠ｈ己惜部３７に格納しであ
るデータを、コンピュータ制御の磁気テープ等に移して
おき、次回の恒査早伽の際に該蝉気デープから、３７へ
格納すれば、尚一層の時間短縮が可能となるのは勿論で
ある。
配線情報の読込み」を繰返す手間を省くために、図示し
て店な−が、上記の配線情＠ｈ己惜部３７に格納しであ
るデータを、コンピュータ制御の磁気テープ等に移して
おき、次回の恒査早伽の際に該蝉気デープから、３７へ
格納すれば、尚一層の時間短縮が可能となるのは勿論で
ある。
１−検査」の段階では、纂２図に於て、基準プリント配
線板４０代りに基準プリント配線板と同一配置のランド
穴と配ＩＩＩ／々ターンを有する嵐否不明の被検査プリ
ント配線板４を用意□する。
線板４０代りに基準プリント配線板と同一配置のランド
穴と配ＩＩＩ／々ターンを有する嵐否不明の被検査プリ
ント配線板４を用意□する。
セして「配−情報の絖込み」と同様に、接触ぜンｌをマ
スク９を介して、４に押圧し、第３図のソフトウェア領
域３３４Ｃ格納しである「検査プログラム」を走らせて
、該接触ビン相互間の配線すイ報を、配１１ｉｉｌ＋１
＃報記憶ｓ３７に格納されて后る基準プリント配線板の
配線情報と順次比較して、良否の判定を行う。
スク９を介して、４に押圧し、第３図のソフトウェア領
域３３４Ｃ格納しである「検査プログラム」を走らせて
、該接触ビン相互間の配線すイ報を、配１１ｉｉｌ＋１
＃報記憶ｓ３７に格納されて后る基準プリント配線板の
配線情報と順次比較して、良否の判定を行う。
一般的には、「検査」段階では検査に要する時間は、「
配線情報の読込み」に賛する時間よシ短かい場合が多い
ので実際には、接触−ン数を限定して、走査する必要の
な一場合が多埴が、上述しｆｃ「登録」ビンのみを走査
する方式をとれば検査時間を短縮出来る４Ｉは勿論であ
る。
配線情報の読込み」に賛する時間よシ短かい場合が多い
ので実際には、接触−ン数を限定して、走査する必要の
な一場合が多埴が、上述しｆｃ「登録」ビンのみを走査
する方式をとれば検査時間を短縮出来る４Ｉは勿論であ
る。
以上の様に本発明は、振触ビンを格子状に配＾したテス
トフイクスチャーと、仮検査プリント配線板に対応する
穴あきマスクを備え、該プリント配線板のランド穴に接
触するピン着号を「登録」シ、次に骸「登録」接触ピン
相互間のみを走査して「配線情報の耽込み」を行うよう
にしたので、基準プリント配線板の配線情報の読込みの
所要時間を大巾に短縮する◆ができる。
トフイクスチャーと、仮検査プリント配線板に対応する
穴あきマスクを備え、該プリント配線板のランド穴に接
触するピン着号を「登録」シ、次に骸「登録」接触ピン
相互間のみを走査して「配線情報の耽込み」を行うよう
にしたので、基準プリント配線板の配線情報の読込みの
所要時間を大巾に短縮する◆ができる。
第１図は、汎用テストフイクスチャーの説明図、＃！２
図は被検査プリント配線板をマスクを介して、汎用テス
トフイクスチャーに押圧した説明１、第３図はコンピュ
ータ制御汎用プリント配Ｍ板検査装置の構成の一例を示
す図、第４図は短絡板を用いる場合の説明図。
図は被検査プリント配線板をマスクを介して、汎用テス
トフイクスチャーに押圧した説明１、第３図はコンピュ
ータ制御汎用プリント配Ｍ板検査装置の構成の一例を示
す図、第４図は短絡板を用いる場合の説明図。
Claims (1)
- ｌ 各種のプリント配置ｍｍの検査を可能とするために
格子状に配列された接触ビンを備えた汎用テストフイク
スチャーと、被検査プリント配線板のランド穴位置に対
応して穴が形成された絶縁体から成るマスクと、該接触
ビンと接触した時に該接触ビン相互間を電気的に短絡す
る短絡板と、被検査プリント配線板用の基準プリント配
線板とを用意し、先づ、骸マスクと該短絡板とを重ねて
、該マスクの穴を貫通して該デストフイクスチャーの接
触ぜンを該短絡板に接触させて短絡板に接触する一ン誉
号を登鈴する拳を第１スデツゾとし次に、該テストフイ
クスチャーの接触ビンを諒マスクの穴を貫通して数基・
準プリント配線板のランド穴に振触させて前記゛登鋒さ
れたぜン喬号間の配線情報を読取る蔓を＠２ステップと
して、検査準備を完了する事を特徴とするプリント配線
板の検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56180151A JPS5880891A (ja) | 1981-11-10 | 1981-11-10 | プリント配線板の検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56180151A JPS5880891A (ja) | 1981-11-10 | 1981-11-10 | プリント配線板の検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5880891A true JPS5880891A (ja) | 1983-05-16 |
| JPH0142387B2 JPH0142387B2 (ja) | 1989-09-12 |
Family
ID=16078285
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56180151A Granted JPS5880891A (ja) | 1981-11-10 | 1981-11-10 | プリント配線板の検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5880891A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59122555U (ja) * | 1983-02-08 | 1984-08-17 | 株式会社フジクラ | プリント回路板検査装置 |
| WO2018078752A1 (ja) * | 2016-10-26 | 2018-05-03 | 三菱電機株式会社 | 検査装置および検査方法 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6418070B2 (ja) * | 2015-06-05 | 2018-11-07 | 三菱電機株式会社 | 測定装置、半導体装置の測定方法 |
-
1981
- 1981-11-10 JP JP56180151A patent/JPS5880891A/ja active Granted
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59122555U (ja) * | 1983-02-08 | 1984-08-17 | 株式会社フジクラ | プリント回路板検査装置 |
| JPH026375Y2 (ja) * | 1983-02-08 | 1990-02-15 | ||
| WO2018078752A1 (ja) * | 2016-10-26 | 2018-05-03 | 三菱電機株式会社 | 検査装置および検査方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0142387B2 (ja) | 1989-09-12 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4417204A (en) | Printed circuit board tester and adapter with memory | |
| DE4417580C2 (de) | Testvorrichtung zum Testen einer elektronischen Schaltungsplatine | |
| US5744964A (en) | Method and apparatus for electrical test of wiring patterns formed on a printed circuit board | |
| US7847567B2 (en) | Verifying a printed circuit board manufacturing process prior to electrical intercoupling | |
| JPS5880891A (ja) | プリント配線板の検査方法 | |
| US6867597B2 (en) | Method and apparatus for finding a fault in a signal path on a printed circuit board | |
| JP3191467B2 (ja) | プリント基板検査データ作成方法 | |
| CN113030703A (zh) | 一种双界面智能卡模块开短路的测试装置 | |
| US6191600B1 (en) | Scan test apparatus for continuity testing of bare printed circuit boards | |
| US4091325A (en) | Verification technique for checking wrapped wire electronic boards | |
| US4734980A (en) | Printed circuit board wiring method | |
| US6490694B1 (en) | Electronic test system for microprocessor based boards | |
| JP3111959B2 (ja) | 布線検査装置の検査方法及び方式 | |
| CN220040667U (zh) | 自动测试设备的连接装置、*** | |
| CN220650802U (zh) | 一种用于检测被测装置中的电气缺陷的传感器装置 | |
| JP3361982B2 (ja) | 複数の端子を有する基板等の検査装置および検査方法 | |
| TWM650153U (zh) | 電路板電性測試編輯系統 | |
| JPH0511002A (ja) | 配線試験装置及び配線試験方法 | |
| CN116819281A (zh) | 自动测试设备的连接装置、***和方法 | |
| JPS6329261Y2 (ja) | ||
| WO1984002412A1 (en) | High speed testing of complex circuits | |
| JPH0573181B2 (ja) | ||
| JPH0213984Y2 (ja) | ||
| JP2827285B2 (ja) | ウェーハ検査装置 | |
| JPH0197878A (ja) | 分割布線試験方式 |