JPH0197878A - 分割布線試験方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 【概要］ 本発明は印刷配線基板の回路パターンについてその絶縁
抵抗を検査する試験方式に関し、特に分割ヘッド方式に
おいて重複して試験することなく印刷配線基板のパター
ンを短時間で有効に試験する方式を提供することを目的
とし、印刷配線基板のパターンに、分割ヘッドに設けた
格子状の接触ピンを押圧し、試験電圧をスイッチング回
路により切換えながら印加したときの回路パター、ンの
抵抗を検査する布線試験方式において、試験・判断部に
、接触ピンに試験電圧を印加するため直前のフロムアド
レスを判断し、ヘッド領域外のときは導通テストを行わ
ず、ヘッド領域内であれば最初のヘッドアクセス時のみ
試験する手段と、各ヘッドロケーション毎に分割された
ネットの部分のうち最老番ポイントを求め、そのポイン
トで絶縁試験を行い、若番側ヘッドでは行わないように
する手段とを具備する構成としている。

［産業上の利用分野コ 本発明は印刷配線基板の回路パターンについて、その絶
縁抵抗を検査する試験方式に関する。

従来、印刷配線基板の必要な試験領域の全格子点に接触
ピンを押圧する方式があり、このとき分割領域をカバー
する分割ヘッドを利用して、そのヘッドを全領域に移動
させ試験を行っていたが、検査点が重複するこめ試験時
間が多大となった。

そのため簡潔に正確な試験を短時間でできる方式を開発
することが要望された。

［従来の技術］ 印刷配線基板は高密度化・多層化が図られ、その配線パ
ターンについて試験するとき、試験領域の全格子点に接
触ピン（プローブ）を持つ全ピン方式と、試験領域を複
数に分割して分割ヘッドを用いる方式とがある。

全ピン方式では例えば２．５ｍｍの格子位置を考えその
全ての個所に切換と接触する接触ピン（プローブ）を取
り付け、ピンを基板に押圧したとき、各ピン毎に試験電
圧をスイッチング回路により切換えながら、印加する。

このとき配線パターンの実際の使用に近い電気的状態を
短時間で検査することが出来る。

また分割ヘッド方式では、試験領域を分割した大きさの
試験ヘッドを用いて、機械的走査（移動）により全領域
を試験する。この方式では試験端子数が膨大とはならず
、価格が極端に高くならず、且つ試験装置内部のリーク
電流は小さいため、絶縁試験精度を高くすることが出来
る。

［発明が解決しようとする問題点］ 全ピン方式では試験端子数が膨大となり、従って高価に
なる欠点があった。更に試験用接触ピンの数が多数で且
つスイッチング回路が直列に挿入されているため、リー
ク電流が大きくなって、絶縁試験の精度が低下する欠点
があった。分割ヘッド方式ではヘッド移動の時間が必要
となり、絶縁試験の回数が増える粂とは動作原理上当然
であるが、それ以外に同一試験ポイントを重複して試験
する欠点が大きい。即ち試験時間が長大化するのみでな
く、分割区域近辺に起きた不良点について複数の不良結
果メツセージが出力され、区別が難しい欠点が生じた。

本発明の目的は前述の欠点を改善し、分割ヘッド方式に
おいて重複して試験をすることなく、印刷配線基板のパ
ターンを短時間で有効に試験する方式を提・供すること
にある。

［問題点を解決するための手段］ 第１図は本発明の原理構成を示す図である。第１図にお
いて、１は印刷配線基板、２は回路パターン、３は分割
ヘッド、４は接触ピン、５は試験・判断部、６は導通試
験手段、７は絶縁試験手段を示す。

印刷配線基板１の回路パターン２に分割ヘッド３に設け
た格子状の接触ピン４を押圧し、試験電圧をスイッチン
グ回路により切換えながら印加したときの回路パターン
の接続を検査する布線試験方式において、本発明は下記
の構成としている。

即ち、 試験・判断部５に、接触ピン４に試験電圧を印加するた
め直前のフロムアドレスを判断し、ヘッド領域内のとき
は導通試験を行わず、ヘッド領域内であれば最初のヘッ
ドアクセス時のみ試験を行う手段６と、各ヘッドロケー
ション毎に分割されたネットの部分の内、最老番ポイン
トを求めそのポイントで絶縁試験を行い、若番側ヘッド
では行わないようにする手段７とを具備することである
。

［作用］ 本発明は分割ヘッドが基板上の回路パターンをアクセス
するため、領域にアドレスを付けてあり、分割ヘッドを
２つ使用するかまたは１つのヘッドで試験後に移動させ
て試験する場合に適用される。

例えば試験プログラムの形で分割ヘッド内の試験・判断
部５に準備されている構成手段として、導通試験手段６
と、絶縁試験手段７とがある。そして分割ヘッドを持っ
てきて試験すべきピンについてアドレスが定まったとき
、フロムアドレス（電圧印加側の端子アドレスをいう）
を見て、そのアドレスがヘッド領域内であるか外である
かを判断する。領域外のときは導通試験手段６により導
通試験を行わず、他のピンを探して試験に入り、領域内
のとき最初のヘッドアクセス時のみ導通試験手段６によ
り導通試験を行う。

またヘッドロケーション毎に分割されたネットのうち、
最老番ピンの点を求め、その点で絶縁試験手段７により
絶縁試験を行う。そして若番側ヘッドでは絶縁試験を行
わないようにする。

［実施例］ 第２図は本発明の実施例としてテストプログラムを組込
んでおき試験を行う場合の動作フローチャートを示す。

試験を開始してプログラムを１つ持って来て判断する。

ステップ■では接触ピンのアドレスがヘッドエリア内か
どうかを判断する。

ここでヘッドエリア内とは２ヘッド分のアクセスされた
領域をいう。判断が否のときは試験がなされず、データ
は無視される。判断が肯定のときはステップ■において
ネットの先頭かどうか判断する。ネットとはテストプロ
グラム上で配線端子群を指す語句である。判断が肯定の
ときは「フロムセットのみ」を行う。ここでフロムセッ
トとは接触ピンに電源電圧の一方を印加して、基板上の
回路パターンに接触させることをいう。このときはフロ
ムセットを行ったのみで、試験を行うことなく次のテス
トプログラムを取り込む。ステップ■における判断が否
のとき、ステップ■においてネットの終わりかどうかを
調べる。終わりでないときステップ■に移る。ステップ
■において否のとき、直前のフロムアドレスのセットが
ヘッドエリア内かどうかを判断する。エリア外のため否
のときは導通試験を行ってもエラーとなるだけであるか
ら、ステップ■においてＣモード（導通試験モード）か
否かを判断する。否のときは導通試験命令を与えること
でフロムセットのみで良い。また肯定のときは無視して
良い。

ステップ■において肯定のときは、領域内であるからス
テップ■に進む。ステップ■において直前のフロムアド
レスが同一ヘット内か否か判断する。肯定のとき（内の
とき）は同一ピンについて２度試験する可能性が有るた
め、ステップ■においてそのヘッドは最初のアクセスか
否かを判断する。否のとき２度の試験は行わないからス
テップ■に進む。ステップ■における否定のとき、及び
ステップ■における肯定のときは、共に導通試験の命令
を実行するためステップ■に進む。ステップ■において
肯定のときステップ■においてそのネットのヘッド領域
内の最若番アドレスを求める。

これはネットの端のとき最初のアドレスが最若番アドレ
スとは限らず、また老番ヘッドの最若番アドレスは若番
ヘッドの最老番アドレスより大きな値となっているから
である。そしてそのアドレスにつきステップＯにおいて
、老番のヘッド側かどうかを判断する。否のとき（若番
のとき）ステップ■において最初のヘッドロケーション
かどうか判断する。肯定のときと、ステップ０における
否定（老番）のとき、絶縁試験を行うためステップ＠に
進む。ステップ■において否定のとき次の処理は行わな
い。

次に本発明の実施例として、第３図に印刷配線基板の例
と、それに対するプログラムの例を第４図に示す。第３
図における基板は括弧付き表示で示す（１）からαφま
ての１０個のヘッド領域に分けてチエツクポイントは１
から１７まで示しである。

第４図においてヘッドロケーションの欄では若番・老番
に分けて２つのヘッドが使用される領域の番号を示す。

したがって正確にはこの欄の数字は括弧付きとなる。左
側の欄のＲ１，Ｒ２−・の意味は絶縁試験を行うポイン
トの番号を、Ｖ５．Ｖｌｌ・・−・は導通試験を行うチ
エツクポイントの番号を、Ｃ４，Ｃ７・・−は同じく導
通試験を行うチエツクポイントの番号を示している。表
内のＸｌ、Ｘ５−・はフロムセットのみを行うポイント
を番号を示す。

Ｒ１，Ｒ５−・・の意味はポイント１番と絶縁試験を行
えという命令である。そのためヘッドロケーション１．
２の欄を下方へ見るときは、領域（１）に対してヘッド
を固定し、領域（２）に対してヘッドを移動するとき、
まず領域（２）について試験を行う。そのチエツク内容
はＸ　１　、　Ｒ１−Ｒ９までの８個の項目である。こ
のときはフロムセット・絶縁試験・導通試験を各ポイン
トに対して実行することである。今ヘッドロケーション
が若番１．老番３のとき、Ｒ１の命令の所で１番にフロ
ムセット、Ｖ、５の命令の所で５番と導通試験を行うと
不良と出るから、この所を四角で囲んで示している。次
にＶｌｌの命令の所で１１番と導通試験を行うと、不良
と出るから、この所を四角で囲んである。この欄ではＣ
１５についてもエラーがあるため、プログラムの最下段
のエラー表示は３つあり、１−５のように一表示は断線
していることを示す。

他のヘッドロケーションについても同様に処理して行く
。エラー表示の欄において１５　＋　１６のような＋表
示は短絡表示である。

このようにして作成されたプログラムにより試験を実行
すると、全ピンについてでは無く、空欄の試験を行わず
、且つフロムセットの表示は導通または絶縁試験をしな
いため、フロムセットのみでは極めて短時間で済む。例
えばフロムセットは１００μ秒程度であり、導通試験な
どは１〜１０ｍ秒を要するから、フロムセットが多いと
き短時間で済む。第４図に示すプログラムについて、ピ
ン数１７であって左欄では絶縁試験は５ピンに、導通試
験は１２ピンに対し命令を与える。そして裏全体では絶
縁試験２６、導通試験１２、フロムセットが１０２であ
る。

［発明の効果コ このようにして本発明によると、分割ヘッド型で導通・
絶縁試験を行うとき、全ビンについて試験するのでは無
く、前述の手段を実行するとき、特にプログラムにより
試験を実行すれば良（、そのとき短時間で処理すること
ができる。また装置が節約できるため価額が低度となる
効果を有する。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の原理構成を示す図、 第２図は実施例の動作フローチャート、第３図は試験さ
れる印刷配線基板の例、第４図は第３図について試験プ
ログラムの例を示す図である。 １・−印刷配線基板 ２・・・回路パターン ３・−・・・分割ヘッド ４−接触ピン ５−・・試験・判断部 ６−・−導通試験手段 ７−・−絶縁試験手段 特許出願人　　　　富士通株式会社 代　理　人　　弁理士　　鈴木栄祐 ｇｐ＊Ｉ配繰冨根 本―目の汗埋図 第１図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 　印刷配線基板（１）の回路パターン（２）に、分割ヘ
   ッド（３）に設けた格子状の接触ピン（４）を押圧し、
   試験電圧をスイッチング回路により切換えながら印加し
   たときの回路パターンの接続を検査する布線試験方式に
   おいて、 試験・判断部（５）に、接触ピン（４）に試験電圧を印
   加するため直前のフロムアドレスを判断し、ヘッド領域
   外のときは導通試験を行わず、ヘッド領域内であれば最
   初のヘッドアクセス時のみ試験を行う手段（６）と、 各ヘッドロケーション毎に分割されたネットの部分の内
   、最老番ポイントを求めそのポイントで絶縁試験を行い
   、若番側ヘッドでは行わないようにする手段（７）とを
   具備する ことを特徴とする分割布線試験方式。