JPH0142387B2 - - Google Patents
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- JPH0142387B2 JPH0142387B2 JP56180151A JP18015181A JPH0142387B2 JP H0142387 B2 JPH0142387 B2 JP H0142387B2 JP 56180151 A JP56180151 A JP 56180151A JP 18015181 A JP18015181 A JP 18015181A JP H0142387 B2 JPH0142387 B2 JP H0142387B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- printed wiring
- wiring board
- contact
- contact pins
- test fixture
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 22
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 17
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 5
- 239000012212 insulator Substances 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はコンピユータを用いたプリント配線板
の検査方法に関するものである。
の検査方法に関するものである。
従来、プリント配線板検査装置は、良品である
事が確認された基準プリント配線板と、該基準プ
リント配線板のランド穴位置に対応して接触ピン
を設けたテストフイクスチヤーを用意し、該テス
トフイクスチヤーと該基準プリント配線板を重ね
て、該接触ピンを該プリント配線板のランド穴に
接触させ、該接触ピンを順次電気的に走査して、
先づ該基準プリント配線板の配線情報を読取つて
記憶する事によつて、検査準備を完了し、次に該
基準プリント配線板の代りに之と同一配置のラン
ド穴と、配線パターンを有する良否不明の被検査
プリント配線板を用いて、該接触ピンを該プリン
ト配線板のランド穴に接触させ、前記と同様に該
接触ピンを順次電気的に走査して、該被検査プリ
ント配線板の配線情報を読取り乍ら、既に記憶さ
れて居る基準プリント配線板の配線情報と比較
し、同一であるか否かで、良否の判定を行つて居
た。
事が確認された基準プリント配線板と、該基準プ
リント配線板のランド穴位置に対応して接触ピン
を設けたテストフイクスチヤーを用意し、該テス
トフイクスチヤーと該基準プリント配線板を重ね
て、該接触ピンを該プリント配線板のランド穴に
接触させ、該接触ピンを順次電気的に走査して、
先づ該基準プリント配線板の配線情報を読取つて
記憶する事によつて、検査準備を完了し、次に該
基準プリント配線板の代りに之と同一配置のラン
ド穴と、配線パターンを有する良否不明の被検査
プリント配線板を用いて、該接触ピンを該プリン
ト配線板のランド穴に接触させ、前記と同様に該
接触ピンを順次電気的に走査して、該被検査プリ
ント配線板の配線情報を読取り乍ら、既に記憶さ
れて居る基準プリント配線板の配線情報と比較
し、同一であるか否かで、良否の判定を行つて居
た。
尚、前記接触ピンは、印加圧力によつて、伸縮
する構造を有し、又、配線情報とは、例えば、或
る接触ピン番号と他の接触ピン番号との間が電気
的に導通であるか、開放であるかを示す。しか
し、此の様な検査装置では、被検査プリント配線
板の種類に合わせて、テストフイクスチヤーをそ
れぞれ用意し交換しなければならないので、多種
少量生産のプリント配線板を検査するのは、コス
ト的に困難であつた。
する構造を有し、又、配線情報とは、例えば、或
る接触ピン番号と他の接触ピン番号との間が電気
的に導通であるか、開放であるかを示す。しか
し、此の様な検査装置では、被検査プリント配線
板の種類に合わせて、テストフイクスチヤーをそ
れぞれ用意し交換しなければならないので、多種
少量生産のプリント配線板を検査するのは、コス
ト的に困難であつた。
上記問題点を克服するために、第１図に示す様
に、接触ピン１を、絶縁基板２に、例えば、2.54
mmの格子状に配列した、汎用テストフイクスチヤ
ー３が考えられた。此の方式をとると、例えば約
32cm×40cmの有効寸法を有するプリント配線板を
検査するための、テストフイクスチヤーの接触ピ
ンの数は、約20000本となるが、前述した様なプ
リント配線板の種別毎にテストフイクスチヤーを
別々に用意する必要がなくなる。そして、此の汎
用テストフイクスチヤー３の接触ピン１が、被検
査プリントのランド穴以外の位置に当つて誤動作
を生じたり、傷をつけたりするのを防止するため
に、同図に示す様に被検査プリント配線板４のラ
ンド穴５，６，７に対応した穴８が形成された絶
縁体薄板から成る、マスク９を用意し第２図に示
す様に、接触ピン１ａ，１ｂ，１ｃ…の内被検査
プリント配線板４のランド穴位置と対応する接触
ピンのみを該プリント配線板と接触させ、他の接
触ピンは、該マスク９によつて接触を阻止されて
居る状態とする。
に、接触ピン１を、絶縁基板２に、例えば、2.54
mmの格子状に配列した、汎用テストフイクスチヤ
ー３が考えられた。此の方式をとると、例えば約
32cm×40cmの有効寸法を有するプリント配線板を
検査するための、テストフイクスチヤーの接触ピ
ンの数は、約20000本となるが、前述した様なプ
リント配線板の種別毎にテストフイクスチヤーを
別々に用意する必要がなくなる。そして、此の汎
用テストフイクスチヤー３の接触ピン１が、被検
査プリントのランド穴以外の位置に当つて誤動作
を生じたり、傷をつけたりするのを防止するため
に、同図に示す様に被検査プリント配線板４のラ
ンド穴５，６，７に対応した穴８が形成された絶
縁体薄板から成る、マスク９を用意し第２図に示
す様に、接触ピン１ａ，１ｂ，１ｃ…の内被検査
プリント配線板４のランド穴位置と対応する接触
ピンのみを該プリント配線板と接触させ、他の接
触ピンは、該マスク９によつて接触を阻止されて
居る状態とする。
此の状態で、該接触ピンのすべてを順次電気的
に走査して、該プリント配線板の配線情報を読取
つて記憶したり、或は又配線情報を読取つて、既
に記憶してある配線情報と比較して検査を行なう
事が考えられた。
に走査して、該プリント配線板の配線情報を読取
つて記憶したり、或は又配線情報を読取つて、既
に記憶してある配線情報と比較して検査を行なう
事が考えられた。
しかし乍ら、此の様な検査方法では、例えば、
被検査プリント配線板のランド穴が4000個の場合
であつても、20000本接触ピンの総てを電気的に
走査して居るので、実際上は、検査には全く関係
のない16000本の接触ピンに対する走査が、無駄
な時間を発生する事となつた。
被検査プリント配線板のランド穴が4000個の場合
であつても、20000本接触ピンの総てを電気的に
走査して居るので、実際上は、検査には全く関係
のない16000本の接触ピンに対する走査が、無駄
な時間を発生する事となつた。
一般的に、基準プリント配線板から配線情報を
読取るのに要する時間は、プリント配線板の良否
判定を行う検査時間と比較して、非常に長時間を
要する場合が多い。
読取るのに要する時間は、プリント配線板の良否
判定を行う検査時間と比較して、非常に長時間を
要する場合が多い。
従つて、本発明は、実際に必要とする接触ピン
のみを走査する様にして、短時間で基準プリント
配線板から配線情報を読取る事の出来る、プリン
ト配線板の検査方法を提供する事を目的とするも
のである。
のみを走査する様にして、短時間で基準プリント
配線板から配線情報を読取る事の出来る、プリン
ト配線板の検査方法を提供する事を目的とするも
のである。
以下、本発明の詳細を図面に基づき説明する。
第３図は、上記の目的に使用するコンピユータ
制御汎用プリント配線板検査装置の構成の一例を
示すもので３９は前述した接触ピン群を有するテ
ストフイクスチヤー、３１は検査装置全体を制御
するプロセツサー、３２は操作用コンソール、３
３及び３４は、記憶部で、３３は制御に必要なソ
フトウエア領域、３４は書込み及び読出し可能な
RAM領域を示す。３５はインターフエース部、
３６は制御部、３７は配線情報記憶部、３８はテ
ストフイクスチヤー３９の各接触ピンを順次電気
的に走査する走査部である。
制御汎用プリント配線板検査装置の構成の一例を
示すもので３９は前述した接触ピン群を有するテ
ストフイクスチヤー、３１は検査装置全体を制御
するプロセツサー、３２は操作用コンソール、３
３及び３４は、記憶部で、３３は制御に必要なソ
フトウエア領域、３４は書込み及び読出し可能な
RAM領域を示す。３５はインターフエース部、
３６は制御部、３７は配線情報記憶部、３８はテ
ストフイクスチヤー３９の各接触ピンを順次電気
的に走査する走査部である。
先づ、第４図に示す様に、上述した格子状に配
列した接触ピン１を有するテストフイクスチヤー
３、被検査プリント配線板のランド穴に対応した
位置に穴８を形成した絶縁体薄板から成るマスク
９、及び短絡板１０を用意する。
列した接触ピン１を有するテストフイクスチヤー
３、被検査プリント配線板のランド穴に対応した
位置に穴８を形成した絶縁体薄板から成るマスク
９、及び短絡板１０を用意する。
短絡板１０は、導電体より成り、上述した接触
ピン１と接触すると、該ピン１と電気的に導通す
る性質を有して居り、接触状態をより良くするた
めに、同図の如く接触ピン１と対応した位置に穴
１１を形成しても良い。従つて、複数の接触ピン
１が該短絡板１０と接触すると、該接触ピン相互
間は、導通状態となる。
ピン１と接触すると、該ピン１と電気的に導通す
る性質を有して居り、接触状態をより良くするた
めに、同図の如く接触ピン１と対応した位置に穴
１１を形成しても良い。従つて、複数の接触ピン
１が該短絡板１０と接触すると、該接触ピン相互
間は、導通状態となる。
第４図に於て、接触ピン１を、マスク９を介し
て短絡板１０に押圧すると、マスク穴と対応する
位置の接触ピンのみが短絡板１０に接触して、該
接触ピン相互間が導通状態となるが、マスク９の
穴は、被検査プリント配線板のランド穴と対応し
た位置に形成されて居るので、結局被検査プリン
ト配線板のランド穴と対応した位置の接触ピン相
互間が導通状態となる。
て短絡板１０に押圧すると、マスク穴と対応する
位置の接触ピンのみが短絡板１０に接触して、該
接触ピン相互間が導通状態となるが、マスク９の
穴は、被検査プリント配線板のランド穴と対応し
た位置に形成されて居るので、結局被検査プリン
ト配線板のランド穴と対応した位置の接触ピン相
互間が導通状態となる。
従つて、すべての接触ピンを順次電気的に走査
すると、相互間が導通状態となつて居る接触ピン
番号を識別する事が可能となるので、記憶部のソ
フトウエア領域３３に格納した、「接触ピン番号
登録プログラム」を走らせてインターフエース３
５、制御部３６を介して走査部３８を制御し、相
互間が導通状態にある接触ピン番号を、RAM領
域３４に記憶させるが、此の段階を「登録」と称
する事とする。
すると、相互間が導通状態となつて居る接触ピン
番号を識別する事が可能となるので、記憶部のソ
フトウエア領域３３に格納した、「接触ピン番号
登録プログラム」を走らせてインターフエース３
５、制御部３６を介して走査部３８を制御し、相
互間が導通状態にある接触ピン番号を、RAM領
域３４に記憶させるが、此の段階を「登録」と称
する事とする。
次に、該短絡板１０を取外し、代りに第２図に
示す様に基準プリント配線板４を用意し、接触ピ
ン１をマスク９を介して４に押圧すると、前述し
た様に、４のランド穴５，６，７…のみに接触ピ
ン１ａ，１ｂ，１ｃ…が接触する事となるが、該
接触ピン番号は、上述した通り、既に第３図の
RAM領域３４に登録されて居るので、「配線情
報検出プログラム」を走らせて該登録ピン番号を
順次読出し乍ら、登録ピン号の接触ピン相互間の
みを順次走査して配線情報を読取り、配線情報記
憶部３７に格納する。
示す様に基準プリント配線板４を用意し、接触ピ
ン１をマスク９を介して４に押圧すると、前述し
た様に、４のランド穴５，６，７…のみに接触ピ
ン１ａ，１ｂ，１ｃ…が接触する事となるが、該
接触ピン番号は、上述した通り、既に第３図の
RAM領域３４に登録されて居るので、「配線情
報検出プログラム」を走らせて該登録ピン番号を
順次読出し乍ら、登録ピン号の接触ピン相互間の
みを順次走査して配線情報を読取り、配線情報記
憶部３７に格納する。
尚、第３図では配線情報記憶部３７は、プロセ
ツサー３１とインターフエース３５を介した独立
したハードウエア３７として示してあるがプロセ
ツサー３１より直接アクセス可能なRAM領域３
４をあてる事も可能である。又、登録されて居な
い接触ピンに関する配線情報は、「配線情報検出
プログラム」に依る事なく、すべて開放として３
７に格納しておけば良い。
ツサー３１とインターフエース３５を介した独立
したハードウエア３７として示してあるがプロセ
ツサー３１より直接アクセス可能なRAM領域３
４をあてる事も可能である。又、登録されて居な
い接触ピンに関する配線情報は、「配線情報検出
プログラム」に依る事なく、すべて開放として３
７に格納しておけば良い。
此の段階を、「配線情報の読込み」と称する事
とするが、以上で被検査プリント配線板の検査準
備を完了する。
とするが、以上で被検査プリント配線板の検査準
備を完了する。
上述した、「登録」及び「配線情報の読込み」
を行う事によつて、「配線情報検出プログラム」
で走査される接触ピンの数は大巾に減る事となる
ので、検査準備に要する時間は大巾に節約される
事が明白である。
を行う事によつて、「配線情報検出プログラム」
で走査される接触ピンの数は大巾に減る事となる
ので、検査準備に要する時間は大巾に節約される
事が明白である。
又、次回の検査準備を行う際に、上記の「登
録」及び「配線情報の読込み」を繰返す手間を省
くために、図示して居ないが、上記の配線情報記
憶部３７に格納してあるデータを、コンピユータ
制御の磁気テープ等に移しておき、次回の検査準
備の際に該磁気テープから、３７へ格納すれば、
尚一層の時間短縮が可能となるのは勿論である。
録」及び「配線情報の読込み」を繰返す手間を省
くために、図示して居ないが、上記の配線情報記
憶部３７に格納してあるデータを、コンピユータ
制御の磁気テープ等に移しておき、次回の検査準
備の際に該磁気テープから、３７へ格納すれば、
尚一層の時間短縮が可能となるのは勿論である。
「検査」の段階では、第２図に於て、基準プリ
ント配線板４の代りに基準プリント配線板と同一
配置のランド穴と配線パターンを有する良否不明
の被検査プリント配線板４を用意する。そして
「配線情報の読込み」と同様に、接触ピン１をマ
スク９を介して、４に押圧し、第３図のソフトウ
エア領域３３に格納してある「検査プログラム」
を走らせて、該接触ピン相互間の配線情報を、配
線情報記憶部３７に格納されて居る基準プリント
配線板の配線情報と順次比較して、良否の判定を
行う。
ント配線板４の代りに基準プリント配線板と同一
配置のランド穴と配線パターンを有する良否不明
の被検査プリント配線板４を用意する。そして
「配線情報の読込み」と同様に、接触ピン１をマ
スク９を介して、４に押圧し、第３図のソフトウ
エア領域３３に格納してある「検査プログラム」
を走らせて、該接触ピン相互間の配線情報を、配
線情報記憶部３７に格納されて居る基準プリント
配線板の配線情報と順次比較して、良否の判定を
行う。
一般的には、「検査」段階では検査に要する時
間は、「配線情報の読込み」に要する時間より短
かい場合が多いので実際には、接触ピン数を限定
して、走査する必要のない場合が多いが、上述し
た「登録」ピンのみを走査する方式をとれば検査
時間を短縮出来る事は勿論である。
間は、「配線情報の読込み」に要する時間より短
かい場合が多いので実際には、接触ピン数を限定
して、走査する必要のない場合が多いが、上述し
た「登録」ピンのみを走査する方式をとれば検査
時間を短縮出来る事は勿論である。
以上の様に本発明は、接触ピンを格子状に配列
したテストフイクスチヤーと、被検査プリント配
線板に対応する穴あきマスクを備え、該プリント
配線板のランド穴に接触するピン番号を「登録」
し、次に該「登録」接触ピン相互間のみを走査し
て「配線情報の読込み」を行うようにしたので、
基準プリント配線板の配線情報の読込みの所要時
間を大巾に短縮する事ができる。
したテストフイクスチヤーと、被検査プリント配
線板に対応する穴あきマスクを備え、該プリント
配線板のランド穴に接触するピン番号を「登録」
し、次に該「登録」接触ピン相互間のみを走査し
て「配線情報の読込み」を行うようにしたので、
基準プリント配線板の配線情報の読込みの所要時
間を大巾に短縮する事ができる。
第１図は、汎用テストフイクスチヤーの説明
図、第２は被検査プリント配線板をマスクを介し
て、汎用テストフイクスチヤーに押圧した説明
図、第３図はコンピユータ制御汎用プリント配線
板検査装置の構成の一例を示す図、第４図は短絡
板を用いる場合の説明図。 １……接触ピン、３……汎用テストフイクスチ
ヤ、５，６，７……ランド穴、８……穴、９……
マスク、１０……短絡板。
図、第２は被検査プリント配線板をマスクを介し
て、汎用テストフイクスチヤーに押圧した説明
図、第３図はコンピユータ制御汎用プリント配線
板検査装置の構成の一例を示す図、第４図は短絡
板を用いる場合の説明図。 １……接触ピン、３……汎用テストフイクスチ
ヤ、５，６，７……ランド穴、８……穴、９……
マスク、１０……短絡板。
Claims (1)
- １ 各種のプリント配線板の検査を可能とするた
めに格子状に配列された接触ピンを備えた汎用テ
ストフイクスチヤーと、被検査プリント配線板の
ランド穴位置に対応して穴が形成された絶縁体か
ら成るマスクと、該接触ピンと接触した時に該接
触ピン相互間を電気的に短絡する短絡板と、被検
査プリント配線板用の基準プリント配線板とを用
意し、先づ、該マスクと該短絡板とを重ねて、該
マスクの穴を貫通して該テストフイクスチヤーの
接触ピンを該短絡板に接触させて短絡板に接触す
るピン番号を登録する事を第１ステツプとし次
に、該テストフイクスチヤーの接触ピンを該マス
クの穴を貫通して該基準プリント配線板のランド
穴に接触させて前記登録されたピン番号間の配線
情報を読取る事を第２ステツプとして、検査準備
を完了する事を特徴とするプリント配線板の検査
方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56180151A JPS5880891A (ja) | 1981-11-10 | 1981-11-10 | プリント配線板の検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56180151A JPS5880891A (ja) | 1981-11-10 | 1981-11-10 | プリント配線板の検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5880891A JPS5880891A (ja) | 1983-05-16 |
| JPH0142387B2 true JPH0142387B2 (ja) | 1989-09-12 |
Family
ID=16078285
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56180151A Granted JPS5880891A (ja) | 1981-11-10 | 1981-11-10 | プリント配線板の検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5880891A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2017003295A (ja) * | 2015-06-05 | 2017-01-05 | 三菱電機株式会社 | 測定装置、半導体装置の測定方法 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59122555U (ja) * | 1983-02-08 | 1984-08-17 | 株式会社フジクラ | プリント回路板検査装置 |
| WO2018078752A1 (ja) * | 2016-10-26 | 2018-05-03 | 三菱電機株式会社 | 検査装置および検査方法 |
-
1981
- 1981-11-10 JP JP56180151A patent/JPS5880891A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2017003295A (ja) * | 2015-06-05 | 2017-01-05 | 三菱電機株式会社 | 測定装置、半導体装置の測定方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5880891A (ja) | 1983-05-16 |
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