JPH0573181B2 - - Google Patents
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- JPH0573181B2 JPH0573181B2 JP62000016A JP1687A JPH0573181B2 JP H0573181 B2 JPH0573181 B2 JP H0573181B2 JP 62000016 A JP62000016 A JP 62000016A JP 1687 A JP1687 A JP 1687A JP H0573181 B2 JPH0573181 B2 JP H0573181B2
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- 230000005611 electricity Effects 0.000 claims 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 21
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- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
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Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
〔産業上の利用分野〕
本発明は、プリント基板等の回路網の接続関係
の情報を得るため、当該回路網の接続関係を調べ
る電気回路網の接続関係調査方法に関する。 〔従来の技術〕 絶縁基板上に多数の端子点を設け、これら端子
点のうちの所要のものどうしをプリント配線によ
り接続し、端子点に電気部品を接続することによ
り所定の機能を発揮せしめる装置はプリント基板
として知られている。このような装置において、
電気部品を装着する前の回路基板（以下、このよ
うな基板をベアボードという）は、同一のものが
多数製造されるが、これら製造されたベアボード
の中には、回路に欠陥を有するものが存在するお
それがある。そして、このような欠陥のあるベア
ボードを使用した場合、装置は初期の機能を発揮
することはできない。このため、製造されたベア
ボードは１枚毎に回路欠陥の有無をチエツクされ
る。 ところで、一般にベアボード製造時において
は、回路網設計時に存在する回路の接続関係の情
報を使用することが不可能である場合が多い。従
つて、この場合、製造されたベアボードの回路の
接続接続は未知である。そこで、複数のベアボー
ドの各端子点の静電容量値（その端子点に接続さ
れた導体の面積に比例する）を測定し、各ベアボ
ードの同一端子点の静電容量値が他と大きく異な
る（導体に断線、短絡が生じると上記面積が異な
り、静電容量値が異なる）ベアボードを除外し、
残つたベアボードのなかの１枚のベアボードを選
択し、このベアボードの回路の接続関係を調べ、
この接続関係を情報として記憶しておき、これを
基準のベアボードとして他のベアボードを当該情
報と照合してチエツクする方法が用いられてい
る。以下、基準のベアボードの接続関係の情報を
見出し、他のベアボードを検査する装置を第４図
により説明する。 第４図はベアボード検査方法に使用される装置
のブロツク図である。図で、１は検査対象となる
ベアボード、２は導電プレート、３はベアボード
１と導電プレート２の間に挿入された誘電層であ
る。４はベアボード１の端子穴（端子点）であ
り、ここに所定の電気部品が挿入される。 端子点４は多数形成されている。５はベアボー
ド１の回路を形成する導体であり、所定の端子点
間を電気的に接続する。６，７はこの検査装置の
プロープであり、それぞれ各端子点４に任意に挿
入される。１０はプロープ６を所定の位置に移動
させ、その位置の端子点４に挿入させる位置決め
装置、１１はプロープ７を同様に移動、挿入させ
る位置決め装置である。１２はプロープ６とプロ
ープ７との間の抵抗値を測定する抵抗測定装置で
あり、各プロープ６，７が接触している端子点間
が導体５により接続されている場合は抵抗値が低
く、接続されていない場合は高い。１３は導電プ
レート２とプロープ６又はプロープ７に接続され
る導体との間の静電容量値を測定する容量測定装
置であり、測定された値は当該端子点に接続され
ている導体５の延長距離にほぼ比例する。測定さ
れた容量値が近似する端子点相互は接続されてい
る可能性がある。１４は位置決め装置１０，１
１、抵抗測定装置１２および容量測定装置１３を
制御する制御コンピユータである。 この装置を用いた従来の接続関係調査方法は次
のとおりである。即ち、まず、プロープ６又はプ
ロープ７で全端子点の容量値を測定し、そのうち
の最大容量値およびその近似値を示す端子点を取
り出し、それら端子点について、２つの端子点の
組合せのすべてについて抵抗値を測定し、どの端
子点とどの端子点が接続されているかをチエツク
し、以下この手順を繰り返す。これにより、基準
となるベアボードの接続関係の情報を得ることが
できる。 〔発明が解決しようとする問題点〕 ところで、上記従来方法においては、接続され
た端子点の数が少ない回路が数多く存在するベア
ボードは、調査に多くの時間を要するのは明らか
である。これを図により説明する。第５図はベア
ボードの平面図である。図で、１６はベアボー
ド、１７は導体、P1〜P12はそれぞれ端子点であ
る。実際のベアボードでは端子点は数百〜数万点
備えられているが、図では説明を容易にするため
12個の端子点が示されている。図示の例では、１
つの導体に２つの端子点が接続された回路（複数
の端子点が接続されている１つの回路をネツトと
称する）が６つ存在する。この場合、各端子点
P1〜P12で測定される静電容量値はほぼ等しく、
これら各端子点P1〜P12のすべてについて調査を
必要とする。 この調査は次のように行われる。即ち、まず、
端子点P1と他の各端子点P2〜P12間の抵抗測定を
行う。その結果、端子点P1，P4が接続されてい
ることが判る。その測定回数は11回である。次
に、端子点P2について同様の測定を行う。この
場合の測定回数は、端子点P1との間は測定済み、
端子点P4との間は非接続であることが判るので、
９回である。このようにしてすべての端子点P1
〜P12の接続関係を調査するには36回の測定回数
を要する。 ところで、仮に１ネツトあたり10個の端子点を
有すれば、次の端子点を基準とした抵抗測定にお
いて、９個の端子点が測定対象から除外できるこ
とになり、次の測定における測定回数もそれだけ
減少されることになるが、上記のように２つの端
子点を有するネツトが多数存在すれば、１つの端
子点を基準とする抵抗測定毎に測定対象から除外
し得る端子点は少ないので、測定回数の減少は望
めず、測定時間は極めて長くなる。 本発明の目的は、上記従来技術の問題点を解決
し、抵抗測定回数を減少させることができ、これ
により接続関係の調査時間を短縮することができ
る電気回路網の接続関係調査方法を提供するにあ
る。 〔問題点を解決するための手段〕 上記の目的を達成するため、本発明は、基板上
の全端子点の静電容量値を測定し、近似する静電
容量値を示す各端子点について、それらの端子点
のうちのある端子点から所定の距離以内に存在す
る端子点を選び出し、当該ある端子点と選び出し
た端子点との間の抵抗測定を行い、これを上記各
端子点毎に順に行うことを特徴とする。 〔作用〕 まず、ベアボードの各端子点の静電容量値を測
定し、次に、近似した静電容量値をもつ端子点の
集合をつくり、この集合のうちの１つの端子点を
とりあげ、この１つの端子点からある距離以内に
ある端子点を選び出す。次いで、上記１つの端子
点と選び出された各端子点との間で抵抗測定を行
う。この方法を、上記集合内の各端子点について
順に実行する。ただし、以前の抵抗測定から接続
関係が判明している端子点間については抵抗測定
は行わない。このような方法により、抵抗測定回
数は大幅に減少する。 〔実施例〕 以下、本発明を図示の実施例に基づいて説明す
る。 第１図は本発明の実施例に係る接続関係調査方
法を説明するためのベアボードの平面図ある。図
では、第５図に示すものと同じベアボードが示さ
れている。C1は端子点P1を中心とし半径ｌの円
で囲まれる仮想の領域を示す。同様に、C2，C3，
……C11，C12も、それぞれ端子点P2，P3，……
P11，P12を中心とし半径ｌの円で囲まれる仮想の
領域を示す。 本実施例では、先ず最初に、各端子点P1〜P12
の静電容量値を第４図に示す装置を用いて測定す
る。これらの抵抗はほぼ同一の値を示すはずであ
り、したがつて、これら各端子点P1〜P12は同一
ネツトにある可能性ありと判断される。そこで、
次の段階として、各端子点P1〜P12の接続関係を
第４図に示す装置を用いて抵抗測定することによ
り調査する。この調査方法を以下に説明する。 最初に、端子点P1を特定し、領域C1を定める。
そして、この領域C1内に存在する端子点を選び
出す。選び出される端子点は端子点P2，P4であ
る。各端子点の位置は座標値として記憶されてい
るので、領域C1の端子点P2，P4は第４図に示す
制御コンピユータ１４により直ちに算出される。
次いで、端子点P1−P2間および端子点P1−P4間
の抵抗測定を行う。 端子点P1について上記の抵抗測定が終了する
と、今度は端子点P2を特定し、その領域C2を定
めてその範囲内にある端子点P1，P3，P5を選び
出す。そして、端子点P2と選び出された端子点
との間で抵抗測定を行う。この場合、端子点P2
−P1間の抵抗測定は既に実行されているので、
端子点P2−P3間および端子点P2−P5間の抵抗測
定のみが行われる。 このように、端子点P1〜P12を順次特定し、そ
の特定した端子点と、その端子点の領域内の端子
点との抵抗測定を行うと次頁の表のようになる。
の情報を得るため、当該回路網の接続関係を調べ
る電気回路網の接続関係調査方法に関する。 〔従来の技術〕 絶縁基板上に多数の端子点を設け、これら端子
点のうちの所要のものどうしをプリント配線によ
り接続し、端子点に電気部品を接続することによ
り所定の機能を発揮せしめる装置はプリント基板
として知られている。このような装置において、
電気部品を装着する前の回路基板（以下、このよ
うな基板をベアボードという）は、同一のものが
多数製造されるが、これら製造されたベアボード
の中には、回路に欠陥を有するものが存在するお
それがある。そして、このような欠陥のあるベア
ボードを使用した場合、装置は初期の機能を発揮
することはできない。このため、製造されたベア
ボードは１枚毎に回路欠陥の有無をチエツクされ
る。 ところで、一般にベアボード製造時において
は、回路網設計時に存在する回路の接続関係の情
報を使用することが不可能である場合が多い。従
つて、この場合、製造されたベアボードの回路の
接続接続は未知である。そこで、複数のベアボー
ドの各端子点の静電容量値（その端子点に接続さ
れた導体の面積に比例する）を測定し、各ベアボ
ードの同一端子点の静電容量値が他と大きく異な
る（導体に断線、短絡が生じると上記面積が異な
り、静電容量値が異なる）ベアボードを除外し、
残つたベアボードのなかの１枚のベアボードを選
択し、このベアボードの回路の接続関係を調べ、
この接続関係を情報として記憶しておき、これを
基準のベアボードとして他のベアボードを当該情
報と照合してチエツクする方法が用いられてい
る。以下、基準のベアボードの接続関係の情報を
見出し、他のベアボードを検査する装置を第４図
により説明する。 第４図はベアボード検査方法に使用される装置
のブロツク図である。図で、１は検査対象となる
ベアボード、２は導電プレート、３はベアボード
１と導電プレート２の間に挿入された誘電層であ
る。４はベアボード１の端子穴（端子点）であ
り、ここに所定の電気部品が挿入される。 端子点４は多数形成されている。５はベアボー
ド１の回路を形成する導体であり、所定の端子点
間を電気的に接続する。６，７はこの検査装置の
プロープであり、それぞれ各端子点４に任意に挿
入される。１０はプロープ６を所定の位置に移動
させ、その位置の端子点４に挿入させる位置決め
装置、１１はプロープ７を同様に移動、挿入させ
る位置決め装置である。１２はプロープ６とプロ
ープ７との間の抵抗値を測定する抵抗測定装置で
あり、各プロープ６，７が接触している端子点間
が導体５により接続されている場合は抵抗値が低
く、接続されていない場合は高い。１３は導電プ
レート２とプロープ６又はプロープ７に接続され
る導体との間の静電容量値を測定する容量測定装
置であり、測定された値は当該端子点に接続され
ている導体５の延長距離にほぼ比例する。測定さ
れた容量値が近似する端子点相互は接続されてい
る可能性がある。１４は位置決め装置１０，１
１、抵抗測定装置１２および容量測定装置１３を
制御する制御コンピユータである。 この装置を用いた従来の接続関係調査方法は次
のとおりである。即ち、まず、プロープ６又はプ
ロープ７で全端子点の容量値を測定し、そのうち
の最大容量値およびその近似値を示す端子点を取
り出し、それら端子点について、２つの端子点の
組合せのすべてについて抵抗値を測定し、どの端
子点とどの端子点が接続されているかをチエツク
し、以下この手順を繰り返す。これにより、基準
となるベアボードの接続関係の情報を得ることが
できる。 〔発明が解決しようとする問題点〕 ところで、上記従来方法においては、接続され
た端子点の数が少ない回路が数多く存在するベア
ボードは、調査に多くの時間を要するのは明らか
である。これを図により説明する。第５図はベア
ボードの平面図である。図で、１６はベアボー
ド、１７は導体、P1〜P12はそれぞれ端子点であ
る。実際のベアボードでは端子点は数百〜数万点
備えられているが、図では説明を容易にするため
12個の端子点が示されている。図示の例では、１
つの導体に２つの端子点が接続された回路（複数
の端子点が接続されている１つの回路をネツトと
称する）が６つ存在する。この場合、各端子点
P1〜P12で測定される静電容量値はほぼ等しく、
これら各端子点P1〜P12のすべてについて調査を
必要とする。 この調査は次のように行われる。即ち、まず、
端子点P1と他の各端子点P2〜P12間の抵抗測定を
行う。その結果、端子点P1，P4が接続されてい
ることが判る。その測定回数は11回である。次
に、端子点P2について同様の測定を行う。この
場合の測定回数は、端子点P1との間は測定済み、
端子点P4との間は非接続であることが判るので、
９回である。このようにしてすべての端子点P1
〜P12の接続関係を調査するには36回の測定回数
を要する。 ところで、仮に１ネツトあたり10個の端子点を
有すれば、次の端子点を基準とした抵抗測定にお
いて、９個の端子点が測定対象から除外できるこ
とになり、次の測定における測定回数もそれだけ
減少されることになるが、上記のように２つの端
子点を有するネツトが多数存在すれば、１つの端
子点を基準とする抵抗測定毎に測定対象から除外
し得る端子点は少ないので、測定回数の減少は望
めず、測定時間は極めて長くなる。 本発明の目的は、上記従来技術の問題点を解決
し、抵抗測定回数を減少させることができ、これ
により接続関係の調査時間を短縮することができ
る電気回路網の接続関係調査方法を提供するにあ
る。 〔問題点を解決するための手段〕 上記の目的を達成するため、本発明は、基板上
の全端子点の静電容量値を測定し、近似する静電
容量値を示す各端子点について、それらの端子点
のうちのある端子点から所定の距離以内に存在す
る端子点を選び出し、当該ある端子点と選び出し
た端子点との間の抵抗測定を行い、これを上記各
端子点毎に順に行うことを特徴とする。 〔作用〕 まず、ベアボードの各端子点の静電容量値を測
定し、次に、近似した静電容量値をもつ端子点の
集合をつくり、この集合のうちの１つの端子点を
とりあげ、この１つの端子点からある距離以内に
ある端子点を選び出す。次いで、上記１つの端子
点と選び出された各端子点との間で抵抗測定を行
う。この方法を、上記集合内の各端子点について
順に実行する。ただし、以前の抵抗測定から接続
関係が判明している端子点間については抵抗測定
は行わない。このような方法により、抵抗測定回
数は大幅に減少する。 〔実施例〕 以下、本発明を図示の実施例に基づいて説明す
る。 第１図は本発明の実施例に係る接続関係調査方
法を説明するためのベアボードの平面図ある。図
では、第５図に示すものと同じベアボードが示さ
れている。C1は端子点P1を中心とし半径ｌの円
で囲まれる仮想の領域を示す。同様に、C2，C3，
……C11，C12も、それぞれ端子点P2，P3，……
P11，P12を中心とし半径ｌの円で囲まれる仮想の
領域を示す。 本実施例では、先ず最初に、各端子点P1〜P12
の静電容量値を第４図に示す装置を用いて測定す
る。これらの抵抗はほぼ同一の値を示すはずであ
り、したがつて、これら各端子点P1〜P12は同一
ネツトにある可能性ありと判断される。そこで、
次の段階として、各端子点P1〜P12の接続関係を
第４図に示す装置を用いて抵抗測定することによ
り調査する。この調査方法を以下に説明する。 最初に、端子点P1を特定し、領域C1を定める。
そして、この領域C1内に存在する端子点を選び
出す。選び出される端子点は端子点P2，P4であ
る。各端子点の位置は座標値として記憶されてい
るので、領域C1の端子点P2，P4は第４図に示す
制御コンピユータ１４により直ちに算出される。
次いで、端子点P1−P2間および端子点P1−P4間
の抵抗測定を行う。 端子点P1について上記の抵抗測定が終了する
と、今度は端子点P2を特定し、その領域C2を定
めてその範囲内にある端子点P1，P3，P5を選び
出す。そして、端子点P2と選び出された端子点
との間で抵抗測定を行う。この場合、端子点P2
−P1間の抵抗測定は既に実行されているので、
端子点P2−P3間および端子点P2−P5間の抵抗測
定のみが行われる。 このように、端子点P1〜P12を順次特定し、そ
の特定した端子点と、その端子点の領域内の端子
点との抵抗測定を行うと次頁の表のようになる。
【表】
以上述べたように、本発明では、静電容量値が
近似している各端子点について、各端子点を順に
特定端子点とし、特定端子点と、特定端子点から
所定の距離以内に存在する端子点との間の抵抗測
定を行うようにしたので、抵抗測定回数を著しく
減少させることができ、接続関係の調査時間を大
幅に短縮することができる。
近似している各端子点について、各端子点を順に
特定端子点とし、特定端子点と、特定端子点から
所定の距離以内に存在する端子点との間の抵抗測
定を行うようにしたので、抵抗測定回数を著しく
減少させることができ、接続関係の調査時間を大
幅に短縮することができる。
第１図は本発明の実施例に係る接続関係調査方
法を説明するベアボードの平面図、第２図および
第３図は本発明の接続関係調査方法の手順を説明
するフローチヤート、第４図はベアボードの接続
関係調査に使用される装置のブロツク図、第５図
はベアボードの平面図である。 １６……ベアボード、P1〜P12……端子点、C1
〜C12……領域。
法を説明するベアボードの平面図、第２図および
第３図は本発明の接続関係調査方法の手順を説明
するフローチヤート、第４図はベアボードの接続
関係調査に使用される装置のブロツク図、第５図
はベアボードの平面図である。 １６……ベアボード、P1〜P12……端子点、C1
〜C12……領域。
Claims (1)
- １ 基板上に、電気的素子を接続する多数の端子
点およびこれら端子点のうちの所要のものどうし
を接続する回路を備えた電気回路網において、全
端子点の導電プレートとの間の静電容量値を測定
し、当該静電容量値が近似している各端子点につ
いて、順に、その端子点から所定の距離内に存在
する端子点との間の抵抗測定を行うことを特徴と
する電気回路網の接続関係調査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62000016A JPS63168577A (ja) | 1987-01-05 | 1987-01-05 | 電気回路網の接続関係調査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62000016A JPS63168577A (ja) | 1987-01-05 | 1987-01-05 | 電気回路網の接続関係調査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63168577A JPS63168577A (ja) | 1988-07-12 |
| JPH0573181B2 true JPH0573181B2 (ja) | 1993-10-13 |
Family
ID=11462628
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62000016A Granted JPS63168577A (ja) | 1987-01-05 | 1987-01-05 | 電気回路網の接続関係調査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63168577A (ja) |
-
1987
- 1987-01-05 JP JP62000016A patent/JPS63168577A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63168577A (ja) | 1988-07-12 |
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