JPH01155242A - クロマトスキャナのデータ処理方法 - Google Patents
クロマトスキャナのデータ処理方法Info
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- JPH01155242A JPH01155242A JP31816987A JP31816987A JPH01155242A JP H01155242 A JPH01155242 A JP H01155242A JP 31816987 A JP31816987 A JP 31816987A JP 31816987 A JP31816987 A JP 31816987A JP H01155242 A JPH01155242 A JP H01155242A
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- 238000003672 processing method Methods 0.000 title claims description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 13
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 16
- 238000002835 absorbance Methods 0.000 claims description 2
- 238000011088 calibration curve Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000004809 thin layer chromatography Methods 0.000 description 5
- 238000001962 electrophoresis Methods 0.000 description 4
- 238000004587 chromatography analysis Methods 0.000 description 3
- 239000000499 gel Substances 0.000 description 3
- 238000007405 data analysis Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 1
- 238000001155 isoelectric focusing Methods 0.000 description 1
- 239000003550 marker Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/59—Transmissivity
- G01N21/5907—Densitometers
- G01N21/5911—Densitometers of the scanning type
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- Analytical Chemistry (AREA)
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- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は薄層クロマト(T L C)プレートや電気泳
動ゲルなどのサンプルプレートに展開されたパターンを
光学的に走査して解析するクロマトスキャナにおいて、
8I!l定データを処理する方法に関するものである。
動ゲルなどのサンプルプレートに展開されたパターンを
光学的に走査して解析するクロマトスキャナにおいて、
8I!l定データを処理する方法に関するものである。
特に本発明は、1枚のTLCプレートなどに同時に展開
された複数レーンのクロマトグラムをデータ解析するの
に好都合な方法に関するものである。
された複数レーンのクロマトグラムをデータ解析するの
に好都合な方法に関するものである。
(従来の技術)
1枚のサンプルプレートには複数のサンプルが同時に展
開され、複数のレーンが存在している。
開され、複数のレーンが存在している。
特定のスポットを定量する場合には検量線が必要であり
、また、SDS電気泳動や等電点電気泳動においては、
スポットの位置と分子量やPI(等電点)との対応関係
を示す分子量カーブやPIカーブが必要である。
、また、SDS電気泳動や等電点電気泳動においては、
スポットの位置と分子量やPI(等電点)との対応関係
を示す分子量カーブやPIカーブが必要である。
同一のサンプルプレートに展開されたパターン対しては
、−度に連続して測定を行なうのが通常であり、オート
レーンスキャンが行なわれている。
、−度に連続して測定を行なうのが通常であり、オート
レーンスキャンが行なわれている。
オートレーンスキャンで得られる測定データには、第6
図に示されるように、レーンごとに連続した番号がつけ
られ、記憶装置に記憶されていく。第6図で、1は装置
に固有のルートディレクトリ。
図に示されるように、レーンごとに連続した番号がつけ
られ、記憶装置に記憶されていく。第6図で、1は装置
に固有のルートディレクトリ。
ファイル1,2はシングルレーンスキャンで得られたデ
ータのファイル、レーン1〜レーンn1は一サンプルプ
レートをオートレーンスキャンして得られたデータのフ
ァイル、レーン1〜レーンn2は他のサンプルプレート
をオートレーンスキャンして得られたデータのファイル
である。
ータのファイル、レーン1〜レーンn1は一サンプルプ
レートをオートレーンスキャンして得られたデータのフ
ァイル、レーン1〜レーンn2は他のサンプルプレート
をオートレーンスキャンして得られたデータのファイル
である。
測定データに検量線1分子量カーブ、PIカーブなどを
適用してデータ処理を行なうときは、測定データをル−
ンずつ呼び出し、それらに検量線などを適用して処理を
行なっている。
適用してデータ処理を行なうときは、測定データをル−
ンずつ呼び出し、それらに検量線などを適用して処理を
行なっている。
(発明が解決しようとする問題点)
サンプルプレートのクロマトグラムを検量線やその他の
データ処理にかける場合、ル−ンだけにデータ処理を実
行するのは稀であり、一つのレーンのクロマトグラムに
必要な処理は同時に他のレーンのクロマトグラムに対し
ても施す必要があるのが殆んどである。すなわち、複数
のサンプルを同時泳動させるのはデータ処理した後の結
果をレーン間で比較検討するのが目的である場合が多い
からである。
データ処理にかける場合、ル−ンだけにデータ処理を実
行するのは稀であり、一つのレーンのクロマトグラムに
必要な処理は同時に他のレーンのクロマトグラムに対し
ても施す必要があるのが殆んどである。すなわち、複数
のサンプルを同時泳動させるのはデータ処理した後の結
果をレーン間で比較検討するのが目的である場合が多い
からである。
従来は、1枚のサンプルプレートに展開された複数レー
ンのデータに対してレーンごとにデータ処理を施してい
るので、その作業が煩しいという問題がある。
ンのデータに対してレーンごとにデータ処理を施してい
るので、その作業が煩しいという問題がある。
本発明は同一のサンプルプレート上で測定されたデータ
に対して一様にデータ処理を施すようにしてデータ処理
の煩わしさを除き、また、ファイルの管理も容易にする
ことのできるデータ処理方法を提供することを目的とす
るものである。
に対して一様にデータ処理を施すようにしてデータ処理
の煩わしさを除き、また、ファイルの管理も容易にする
ことのできるデータ処理方法を提供することを目的とす
るものである。
(問題点を解決するための手段)
本発明の方法では、測定データを処理するコンピュータ
システムとしてディレクトリによるファイル管理能力を
もつものを使用し、同一サンプルプレートの複数レーン
の走査による測定データには同一ディレクトリを作成し
て記憶し、データ処理時には同一ディレクトリをもつ測
定データに対して同一処理を施す。
システムとしてディレクトリによるファイル管理能力を
もつものを使用し、同一サンプルプレートの複数レーン
の走査による測定データには同一ディレクトリを作成し
て記憶し、データ処理時には同一ディレクトリをもつ測
定データに対して同一処理を施す。
(作用)
第1図に本発明により記憶装置に記憶されたデータのデ
ィレクトリ構造を示す。
ィレクトリ構造を示す。
lは特定のクロマトスキャナ装置に固有のディレクトリ
(ルートディレクトリ)であり、サブディレクトリ2,
3はTLCプレートや電気泳動ゲルなどのサンプルプレ
ートごとのディレクトリである。ファイルlオファイル
2と示されているのはシングルレーンスキャンで得られ
たデータのファイルである。サブディレクトリ2にはオ
ートレーンスキャンで測定されたーサンプルプレートの
レーン1からレーンn1までのデータが記憶されている
。サブディレクトリ3にはオートレーンスキャンで測定
された他のサンプルプレートのレーン1からレーンn2
までのデータが記憶されている。
(ルートディレクトリ)であり、サブディレクトリ2,
3はTLCプレートや電気泳動ゲルなどのサンプルプレ
ートごとのディレクトリである。ファイルlオファイル
2と示されているのはシングルレーンスキャンで得られ
たデータのファイルである。サブディレクトリ2にはオ
ートレーンスキャンで測定されたーサンプルプレートの
レーン1からレーンn1までのデータが記憶されている
。サブディレクトリ3にはオートレーンスキャンで測定
された他のサンプルプレートのレーン1からレーンn2
までのデータが記憶されている。
このように記憶されたデータに対し、例えばサブディレ
クトリ2に族するレーンlからレーンn1までの全ての
データに例えば検量線処理を施す場合は、ディレクトリ
名を指定することによってそのディレクトリ2内の全て
のレーン1〜レーンn1のデータに対して同じデータ処
理を施すことができる。
クトリ2に族するレーンlからレーンn1までの全ての
データに例えば検量線処理を施す場合は、ディレクトリ
名を指定することによってそのディレクトリ2内の全て
のレーン1〜レーンn1のデータに対して同じデータ処
理を施すことができる。
ディレクトリとオートレーンスキャンが1対1に対応し
ているので、ディレクトリを指定することで1回のオー
トレーンスキャンで作成された全てのクロマトグラムを
識別することができる。このように、オートレーンスキ
ャンで得られるクロマトグラムをディレクトリで管理す
ると好都合である。
ているので、ディレクトリを指定することで1回のオー
トレーンスキャンで作成された全てのクロマトグラムを
識別することができる。このように、オートレーンスキ
ャンで得られるクロマトグラムをディレクトリで管理す
ると好都合である。
(実施例)
第2図は本発明が適用されるクロマトスキャナの一例を
表わす。
表わす。
4はTLCプレートや電気泳動ゲルなどのサンプルプレ
ートであり、XYステージ(図示略)に載せられている
。XYステージはXモータ5とYモータ6によってX方
向とY方向に移動させられる。7は光源であり、光源7
からの光はサンプルプレート4を透過(又は反射)して
受光部8により検出される。9は受光部8が検出した信
号から吸光度などを算出する信号処理部である。
ートであり、XYステージ(図示略)に載せられている
。XYステージはXモータ5とYモータ6によってX方
向とY方向に移動させられる。7は光源であり、光源7
からの光はサンプルプレート4を透過(又は反射)して
受光部8により検出される。9は受光部8が検出した信
号から吸光度などを算出する信号処理部である。
Xモータ5、Yモータ6を制御し、信号処理部9からの
測定データを入力してデータ処理を行なうためにマイク
ロコンピュータシステム10が設けられている、マイク
ロコンピュータシステム10にはROM12に記憶され
たプログラムと設定されたパラメータに従がってモータ
5,6を制御するとともに、信号処理部9からのデータ
処理を行なう制御部11と、データ処理の演算を行なう
演算部13と、オートレーンスキャンのパラメータを記
憶したり、信号処理部9から取り込んだデータを一時記
憶するRAM14が設けられている。
測定データを入力してデータ処理を行なうためにマイク
ロコンピュータシステム10が設けられている、マイク
ロコンピュータシステム10にはROM12に記憶され
たプログラムと設定されたパラメータに従がってモータ
5,6を制御するとともに、信号処理部9からのデータ
処理を行なう制御部11と、データ処理の演算を行なう
演算部13と、オートレーンスキャンのパラメータを記
憶したり、信号処理部9から取り込んだデータを一時記
憶するRAM14が設けられている。
マイクロコンピュータシステム10にはデータ処理され
た後のデータを保存するための外部記憶装置15(例え
ばプロッピーディスク装置など)、オートレーンスキャ
ンのパラメータを入力したり、対話形式でデータ処理を
行なうためのキーボード16、表示を行なうCRT17
が接続されている。
た後のデータを保存するための外部記憶装置15(例え
ばプロッピーディスク装置など)、オートレーンスキャ
ンのパラメータを入力したり、対話形式でデータ処理を
行なうためのキーボード16、表示を行なうCRT17
が接続されている。
第3図にオートレーンスキャンのパラメータを示す。
サンプルプレート4上にはレーンLt”Lnに沿ってス
ポット4aが展開されている。レーンの数はnである。
ポット4aが展開されている。レーンの数はnである。
パラメータとしてはオートレーンスキャンを開始するス
タート位置のXo、Yo、Y方向の終了点Ye、レーン
数n及びレーン間距離dである。
タート位置のXo、Yo、Y方向の終了点Ye、レーン
数n及びレーン間距離dである。
オートレーンスキャンはスタート位[(Xo。
Yo)からレーンL+に沿ってY方向にYeまで走査し
、次のレーンL2の開始点(X l、 Y o)に移動
して次のレーンL2の走査を行なう。レーンL1からレ
ーンLnまで順番に測定し、ファイルを作る。
、次のレーンL2の開始点(X l、 Y o)に移動
して次のレーンL2の走査を行なう。レーンL1からレ
ーンLnまで順番に測定し、ファイルを作る。
次に、オートレーンスキャンのディレクトリによる管理
を第4図により説明する。
を第4図により説明する。
まず、オートレーンスキャンのパラータXo。
Yo、Ya、n、dを読み取り(ステップSl)、ディ
レクトリ名が入力されるとそのディレクトリが既に存在
するかどうかをチエツクする(ステップS2.S3)。
レクトリ名が入力されるとそのディレクトリが既に存在
するかどうかをチエツクする(ステップS2.S3)。
もし既に存在してる場合はエラーメツセージを出力して
終了する(ステップs5)。
終了する(ステップs5)。
そのディレクトリが既に存在するものでない盛合、入力
されたディレクトリ名に基づいてディレクトリを作成す
る(ステップS6)。
されたディレクトリ名に基づいてディレクトリを作成す
る(ステップS6)。
レーン番号Nを1とし、ファイル名を作成する(ステッ
プ87〜S9)。
プ87〜S9)。
ファイル名は、例えば
********¥LANE**・CHTのように作成
される。ここで ********はディレクトリ名であり、次の¥LA
NE**はレーン番号であり1次の・CHTはファイル
の種類を表わしている。
される。ここで ********はディレクトリ名であり、次の¥LA
NE**はレーン番号であり1次の・CHTはファイル
の種類を表わしている。
次に、オートレーンスキャンを開始するためにXYステ
ージのX位置を次の式 %式%) で表わされる位置、Y位置をYOへ移動し、Y方向の終
了点Yeまで走査を行なってデータを取り込む(ステッ
プ810〜512)。取り込んだデータを外部記憶装置
15に記憶する(ステップSユ3)。その後、レーン番
号Nに1を加算して順次次のレーンの走査を行なってい
く(ステップ514)。全てのレーンの走査が行なわれ
ると終了する。
ージのX位置を次の式 %式%) で表わされる位置、Y位置をYOへ移動し、Y方向の終
了点Yeまで走査を行なってデータを取り込む(ステッ
プ810〜512)。取り込んだデータを外部記憶装置
15に記憶する(ステップSユ3)。その後、レーン番
号Nに1を加算して順次次のレーンの走査を行なってい
く(ステップ514)。全てのレーンの走査が行なわれ
ると終了する。
次に、データ処理の例を第5図に基づいて説明する。
データ処理は例えば検量線の適用、マーカ処理、拡大縮
小、エクスパンド、平行移動などであり。
小、エクスパンド、平行移動などであり。
いずれの処理の場合も同様である。
データ処理を行なうことが指定され(ステップ520)
、ディレクトリ名が指定される(ステップ521)と、
指定されたディレクトリ内でクロマトのエクステンショ
ンをもつもののリストを作る(ステップ522)、上記
の例ではファイル名に・CRTをもつもののリストが作
られる。
、ディレクトリ名が指定される(ステップ521)と、
指定されたディレクトリ内でクロマトのエクステンショ
ンをもつもののリストを作る(ステップ522)、上記
の例ではファイル名に・CRTをもつもののリストが作
られる。
データ処理後のファイルを新たにディレクトリ名を作成
して記憶するのか1元のディレクトリに重ね書きするの
かが入力されるのを待つ(ステップ523)。
して記憶するのか1元のディレクトリに重ね書きするの
かが入力されるのを待つ(ステップ523)。
重ね書きが指定された場合は、データ処理後のファイル
を記憶するストア・ディレクトリ名を初めに指定したも
のとする(ステップ524)。
を記憶するストア・ディレクトリ名を初めに指定したも
のとする(ステップ524)。
その後、ファイルリストから順次ファイルを呼び出して
RAMにロードし、データ処理を実行する(ステップ8
25〜828)。データ処理後のファイルを同じファイ
ル名でストア・ディレクトリに記憶する(ステップ52
9)、リストアツブされたファイルが終了するまでこの
データ処理を実行する。
RAMにロードし、データ処理を実行する(ステップ8
25〜828)。データ処理後のファイルを同じファイ
ル名でストア・ディレクトリに記憶する(ステップ52
9)、リストアツブされたファイルが終了するまでこの
データ処理を実行する。
一方、重ね書きしないことが指定された場合は新たにデ
ィレクトリ名が入力されるのを待って(ステップS23
,530)、その入力されたディレクトリ名が既に存在
するかどうかをチエツクする(ステップ531)、存在
すればエラーメツセージを出力して終了する(ステップ
533)。
ィレクトリ名が入力されるのを待って(ステップS23
,530)、その入力されたディレクトリ名が既に存在
するかどうかをチエツクする(ステップ531)、存在
すればエラーメツセージを出力して終了する(ステップ
533)。
存在しなければそのディレクトリ名に基づいて新たにデ
ィレクトリを作成し、新たに作成したディレクトリをス
トア・ディレクトリとする(ステップS32,834,
535)。
ィレクトリを作成し、新たに作成したディレクトリをス
トア・ディレクトリとする(ステップS32,834,
535)。
その後、リストアツブされたファイルについて順次デー
タ処理を実行していく(ステップ525〜529)。
タ処理を実行していく(ステップ525〜529)。
(発明の効果)
本発明では測定データを処理するコンピュータシステム
としてディレクトリによるファイル管理能力をもつもの
を使用し、同一サンプルプレートの複数レーンの走査に
よる測定データには同一ディレクトリを作成して記憶し
、データ処理時には同一ディレクトリをもつ測定データ
に対して同一処理を施すようにしたので、オートレーン
スキャンされたデータのファイルの管理と識別が容易に
なる。
としてディレクトリによるファイル管理能力をもつもの
を使用し、同一サンプルプレートの複数レーンの走査に
よる測定データには同一ディレクトリを作成して記憶し
、データ処理時には同一ディレクトリをもつ測定データ
に対して同一処理を施すようにしたので、オートレーン
スキャンされたデータのファイルの管理と識別が容易に
なる。
同一サンプルプレートに展開された複数レーンのクロマ
トグラムに対して一様に適用することを必要とするデー
タ処理に対しては、ファイルを1つ1つ指定する必要が
ないので、データ処理が容易になる。
トグラムに対して一様に適用することを必要とするデー
タ処理に対しては、ファイルを1つ1つ指定する必要が
ないので、データ処理が容易になる。
第1図は本発明により記憶されるファイルのディレクト
リ構造を示す図、第2図は本発明が適用されるクロマト
スキャナの一例を示す構成図、第3図はオートレーンス
キャンのパラメータを示す図、第4図は本発明における
オートレーンスキャンのディレクトリによる管理を示す
ブロー図、第5図は本発明によるデータ処理の手順を示
すフロー図、第6図は従来のデータ処理方法におけるフ
ァイルの記憶様式を示す図である。 4・・・・・・サンプルプレート・ 5.6・・・・・・モータ、 8・・・・・・受光部、 9・・・・・・信号処理部、 10・・・・・・マイクロコンピュータシステム、15
・・・・・・外部記憶装置。 特許出願人 株式会社島津製作所
リ構造を示す図、第2図は本発明が適用されるクロマト
スキャナの一例を示す構成図、第3図はオートレーンス
キャンのパラメータを示す図、第4図は本発明における
オートレーンスキャンのディレクトリによる管理を示す
ブロー図、第5図は本発明によるデータ処理の手順を示
すフロー図、第6図は従来のデータ処理方法におけるフ
ァイルの記憶様式を示す図である。 4・・・・・・サンプルプレート・ 5.6・・・・・・モータ、 8・・・・・・受光部、 9・・・・・・信号処理部、 10・・・・・・マイクロコンピュータシステム、15
・・・・・・外部記憶装置。 特許出願人 株式会社島津製作所
Claims (1)
- 測光部、測光信号から吸光度を算出する信号処理部、測
定データを記憶する記憶部、及びXYステージを制御す
るとともに、測定データを処理するコンピュータシステ
ムを備えたクロマトスキャナにおいて、コンピュータシ
ステムとしてディレクトリによるファイル管理能力をも
つものを使用し、同一サンプルプレートの複数レーンの
走査による測定データには同一ディレクトリを作成して
記憶し、データ処理時には同一ディレクトリをもつ測定
データに対して同一処理を施すことを特徴とするデータ
処理方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31816987A JPH01155242A (ja) | 1987-12-14 | 1987-12-14 | クロマトスキャナのデータ処理方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31816987A JPH01155242A (ja) | 1987-12-14 | 1987-12-14 | クロマトスキャナのデータ処理方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01155242A true JPH01155242A (ja) | 1989-06-19 |
Family
ID=18096243
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP31816987A Pending JPH01155242A (ja) | 1987-12-14 | 1987-12-14 | クロマトスキャナのデータ処理方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01155242A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010271157A (ja) * | 2009-05-21 | 2010-12-02 | Shimadzu Corp | 質量分析を用いた試料の分析方法 |
CN101907568A (zh) * | 2010-07-16 | 2010-12-08 | 常州亿晶光电科技有限公司 | 电池组件透光层透射率的模拟测试装置 |
CN101915751A (zh) * | 2010-07-16 | 2010-12-15 | 常州亿晶光电科技有限公司 | 电池组件透光层透射率的模拟测试装置及其测试方法 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59117648A (ja) * | 1982-12-24 | 1984-07-07 | Fuji Electric Co Ltd | デ−タ処理方式 |
JPS61196154A (ja) * | 1985-02-27 | 1986-08-30 | Olympus Optical Co Ltd | 電気泳動装置による総蛋白値の定量方法 |
-
1987
- 1987-12-14 JP JP31816987A patent/JPH01155242A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59117648A (ja) * | 1982-12-24 | 1984-07-07 | Fuji Electric Co Ltd | デ−タ処理方式 |
JPS61196154A (ja) * | 1985-02-27 | 1986-08-30 | Olympus Optical Co Ltd | 電気泳動装置による総蛋白値の定量方法 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2010271157A (ja) * | 2009-05-21 | 2010-12-02 | Shimadzu Corp | 質量分析を用いた試料の分析方法 |
CN101907568A (zh) * | 2010-07-16 | 2010-12-08 | 常州亿晶光电科技有限公司 | 电池组件透光层透射率的模拟测试装置 |
CN101915751A (zh) * | 2010-07-16 | 2010-12-15 | 常州亿晶光电科技有限公司 | 电池组件透光层透射率的模拟测试装置及其测试方法 |
CN101915751B (zh) * | 2010-07-16 | 2014-03-05 | 常州亿晶光电科技有限公司 | 电池组件透光层透射率的模拟测试装置及其测试方法 |
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