JPS61262635A - クロマトスキヤナ - Google Patents
クロマトスキヤナInfo
- Publication number
- JPS61262635A JPS61262635A JP10548085A JP10548085A JPS61262635A JP S61262635 A JPS61262635 A JP S61262635A JP 10548085 A JP10548085 A JP 10548085A JP 10548085 A JP10548085 A JP 10548085A JP S61262635 A JPS61262635 A JP S61262635A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- scanning
- peak
- sample
- section
- signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/59—Transmissivity
- G01N21/5907—Densitometers
- G01N21/5911—Densitometers of the scanning type
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N30/00—Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
- G01N30/90—Plate chromatography, e.g. thin layer or paper chromatography
- G01N30/95—Detectors specially adapted therefor; Signal analysis
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明はTLC(薄層クロマトグラフィ)プレートや電
気泳動ゲルのような試料に光を照射し、その反射光又は
透過光により定量を行なうクロマトスキャナに関するも
のである。
気泳動ゲルのような試料に光を照射し、その反射光又は
透過光により定量を行なうクロマトスキャナに関するも
のである。
(従来の技術)
TLCプレートや電気泳動ゲルは、試料上で直線上に離
散的に広がったパターンをもっている。
散的に広がったパターンをもっている。
第8図はTLCプレート、第9図は電気泳動ゲルの例で
あり、30.32はスポットである。
あり、30.32はスポットである。
従来のクロマトスキャナでは、TLCプレートや電気泳
動ゲルのようにY方向の直線上に離散的に広がったパタ
ーンを走査し、定量を行なう場合。
動ゲルのようにY方向の直線上に離散的に広がったパタ
ーンを走査し、定量を行なう場合。
ジグザグ走査の走査開始点を短冊形の走査範囲の端に設
定し、Y方向のステップ数を一定にし、第10図に示さ
れるようにジグザグのスイング幅で決まる短冊形の全面
を走査していた。
定し、Y方向のステップ数を一定にし、第10図に示さ
れるようにジグザグのスイング幅で決まる短冊形の全面
を走査していた。
(発明が解決しようとする問題点)
試料のスポットは離散しているが、従来のクロマトスキ
ャナではスポットの存在しない部分もスポットの存在す
る重要な部分と同様に走査しなければならず、特に定量
精度向上のために積算を行なう場合など、必要以外の部
分のために浪費する時間は膨大なものであった。
ャナではスポットの存在しない部分もスポットの存在す
る重要な部分と同様に走査しなければならず、特に定量
精度向上のために積算を行なう場合など、必要以外の部
分のために浪費する時間は膨大なものであった。
本発明は、試料スポットの位置を自動的に高速で探索す
ることにより、定量精度を下げずに走査時間を短縮する
クロマトスキャナを提供することを目的とするものであ
る。
ることにより、定量精度を下げずに走査時間を短縮する
クロマトスキャナを提供することを目的とするものであ
る。
(問題点を解決するための手段)
本発明は、第1図に示されるように、モード切換え部が
粗走査モードと本走査モードの切換えを行なう。
粗走査モードと本走査モードの切換えを行なう。
粗走査時にはステージ制御部により試料ステージ20は
X方向を固定してY方向のみのリニア走査を行なう。こ
のリニア走査時にピーク処理部は検出信号からピーク位
置を検出し、そのピーク位置はメモリ18に記憶される
。
X方向を固定してY方向のみのリニア走査を行なう。こ
のリニア走査時にピーク処理部は検出信号からピーク位
置を検出し、そのピーク位置はメモリ18に記憶される
。
本走査時にはステージ制御部により試料ステージ20は
ジグザグ走査を行なうが、このときステージ制御部はメ
モリ18に記憶されているピーク位置に従って、ピーク
位置では精度の高いジグザグ走査を行ない、ピーク位置
以外の部分ではジグザグ走査を省略し又は粗く走査を行
なうように試料ステージ20を制御する。データ処理部
はこの本走査時の検出信号から定量的なデータ処理を行
なう。
ジグザグ走査を行なうが、このときステージ制御部はメ
モリ18に記憶されているピーク位置に従って、ピーク
位置では精度の高いジグザグ走査を行ない、ピーク位置
以外の部分ではジグザグ走査を省略し又は粗く走査を行
なうように試料ステージ20を制御する。データ処理部
はこの本走査時の検出信号から定量的なデータ処理を行
なう。
(実施例)
第2図は本発明の一実施例を表わす。
2は試料3に光照射を行なう光学系である。
TLCプレートや電気泳動ゲルのような試料3はX、Y
両方向に移動することのできる試料ステージ20上に保
持されている。試料ステージ20は駆動機構(図示略)
を介してマイクロコンピュータ12により制御され、粗
走査のリニア走査と本走査のジグザグ走査を行なう。
両方向に移動することのできる試料ステージ20上に保
持されている。試料ステージ20は駆動機構(図示略)
を介してマイクロコンピュータ12により制御され、粗
走査のリニア走査と本走査のジグザグ走査を行なう。
4は試料3からの反射光を受光して電気信号に変換する
光電変換部としての光電子増倍管、6は試料3からの透
過光を受光して電気信号に変換する光電変換部としての
光電子増倍管である。光電子増倍管4又は6の出力信号
は増幅器8で増幅され、信号変換部としてのA/D変換
器10でデジタル信号に変換された後、マイクロコンピ
ュータ12に取り込まれる。
光電変換部としての光電子増倍管、6は試料3からの透
過光を受光して電気信号に変換する光電変換部としての
光電子増倍管である。光電子増倍管4又は6の出力信号
は増幅器8で増幅され、信号変換部としてのA/D変換
器10でデジタル信号に変換された後、マイクロコンピ
ュータ12に取り込まれる。
マイクロコンピュータ12は取り込んだ信号から粗走査
時のピーク位置検出と本走査時のデータ処理を行なう。
時のピーク位置検出と本走査時のデータ処理を行なう。
14はマイクロコンピュータ12によるデータ処理結果
を表示するプリンタ、16はCRTである。
を表示するプリンタ、16はCRTである。
マイクロコンピュータ12は、本発明におけるデータ処
理部、ピーク処理部、メモリ、ステージ制御部及びモー
ド切換え部を実現する。
理部、ピーク処理部、メモリ、ステージ制御部及びモー
ド切換え部を実現する。
次に、本実施例の動作を第2図ないし第7図を参照して
説明する。
説明する。
光学系2による試料3の照射位置が走査開始点へくるよ
うに試料ステージ20を位置決めする(ステップS1)
。測定モードを粗走査モードに設定する(ステップS2
)、これにより試料ステージ20はマイクロコンピュー
タ12の制御を受けて、第4図に示されるように、X方
向を固定しY方向送りを大きくとってスポット30の列
のリニア走査を積算なしで行なう(ステップS3)。
うに試料ステージ20を位置決めする(ステップS1)
。測定モードを粗走査モードに設定する(ステップS2
)、これにより試料ステージ20はマイクロコンピュー
タ12の制御を受けて、第4図に示されるように、X方
向を固定しY方向送りを大きくとってスポット30の列
のリニア走査を積算なしで行なう(ステップS3)。
このリニア走査により光電子増倍管4又は6により第5
図に示されるような反射光強度又は透過光強度の波形が
検出される。マイクロコンピュータ12はこの波形から
各ピークについてピーク開始位置71wピークトップ位
置y2及びピーク終了位置y3というピーク位置を求め
るピーク処理を行なう(ステップS4)、このピーク処
理は、例えば第5図のような波形を微分し、微分値によ
り行なうことができる。
図に示されるような反射光強度又は透過光強度の波形が
検出される。マイクロコンピュータ12はこの波形から
各ピークについてピーク開始位置71wピークトップ位
置y2及びピーク終了位置y3というピーク位置を求め
るピーク処理を行なう(ステップS4)、このピーク処
理は、例えば第5図のような波形を微分し、微分値によ
り行なうことができる。
次に、このピーク処理で求められたピーク範囲71””
’y3を第6図に示されるY 1 ”Y 3のように適
当量だけ広げ(ステップS5)、この広げられたピーク
範囲を各ピークについてメモリに記憶する(ステップS
6)。
’y3を第6図に示されるY 1 ”Y 3のように適
当量だけ広げ(ステップS5)、この広げられたピーク
範囲を各ピークについてメモリに記憶する(ステップS
6)。
次に、再び照射位置を試料の走査開始点へ位置決めし、
測定モードを本走査モードに設定する(ステップS7)
。マイクロコンピュータ12ではメモリから最初のピー
ク位置を読み出しくステップS8)、試料ステージ20
をそのピーク位置まで移動させ、第7図に示されるピー
ク範囲AIについて本来のジグザグ走査を行ない、検出
信号を取り込んでデータ処理を行なう(ステップS9゜
5IO)。このジグザグ走査及びデータ処理は従来から
行なわれているものである。
測定モードを本走査モードに設定する(ステップS7)
。マイクロコンピュータ12ではメモリから最初のピー
ク位置を読み出しくステップS8)、試料ステージ20
をそのピーク位置まで移動させ、第7図に示されるピー
ク範囲AIについて本来のジグザグ走査を行ない、検出
信号を取り込んでデータ処理を行なう(ステップS9゜
5IO)。このジグザグ走査及びデータ処理は従来から
行なわれているものである。
第1のピーク範囲A1のジグザグ走査が終了するとマイ
クロコンピュータ12は次のピーク位置を読み出し、同
じようにジグザグ走査によるデータ処理を行なって行く
、このようにして、第7図にA+ v A2.A3.・
・・・・・で示されるピーク範囲のジグザグ走査が全て
のピークについて終了するまで、順次繰り返されて行く
(ステップ511)。
クロコンピュータ12は次のピーク位置を読み出し、同
じようにジグザグ走査によるデータ処理を行なって行く
、このようにして、第7図にA+ v A2.A3.・
・・・・・で示されるピーク範囲のジグザグ走査が全て
のピークについて終了するまで、順次繰り返されて行く
(ステップ511)。
以上の処理によりジグザグ走査を行なう範囲がスポット
のある領域のみに制限され、大部分を占めるバックグラ
ンド領域はジグザグ走査の対象から除外され、走査時間
が短縮される。
のある領域のみに制限され、大部分を占めるバックグラ
ンド領域はジグザグ走査の対象から除外され、走査時間
が短縮される。
以上の実施例では、ジグザグ走査を行なう本走査範囲を
スポットを含むピーク範囲のみに絞り。
スポットを含むピーク範囲のみに絞り。
ピーク範囲以外の領域では全く本走査を行なっていない
、しかし、例えば、ピーク範囲以外の領域でもジグザグ
走査は行なうがそのY方向送りを大きくしたり、積算回
数を減らすようにしてもよい。
、しかし、例えば、ピーク範囲以外の領域でもジグザグ
走査は行なうがそのY方向送りを大きくしたり、積算回
数を減らすようにしてもよい。
このような操作によっても走査時間を短縮することがで
きる。
きる。
(発明の効果)
本発明のクロマトスキャナは、光学系、光電変換部、信
号変換部、及びマイクロコンピュータにより駆動が制御
される試料ステージ、並びにマイクロコンピュータによ
り実現されるデータ処理部。
号変換部、及びマイクロコンピュータにより駆動が制御
される試料ステージ、並びにマイクロコンピュータによ
り実現されるデータ処理部。
ピーク処理部、メモリ、ステージ制御部及びモード切換
え部を備え、粗調査によって精度の高い本走査を行なう
範囲を自動的に制限するように動作するので、スポット
のないバックグランド部での走査時間が短縮され、定量
精度を下げずに走査時間を大幅に短縮することができる
。
え部を備え、粗調査によって精度の高い本走査を行なう
範囲を自動的に制限するように動作するので、スポット
のないバックグランド部での走査時間が短縮され、定量
精度を下げずに走査時間を大幅に短縮することができる
。
第1図は本発明の構成を示すブロック用、第2図は本発
明の一実施例を示す概略図、第3図は一実施例の動作を
示すフローチャート、第4図は同実施例における粗走査
のリニア走査を示す図、第5図はリニア走査で得られる
検出波形を示す図。 第6図はメモリに記憶されるピーク範囲を示す図、第7
図は同実施例における本走査範囲を示す図、第8図はT
LCプレートを示す図、第9図は電気泳動ゲルを示す図
、第10図は従来のジグザグ走査を示す図である。 2・・・・・・光学系、 4.6・・・・・・光電子増倍管、 10・・・・・・A/D変換器、 12・・・・・・マイクロコンピュータ、18・・・・
・・メモリ。 20・・・・・・試料ステージ。
明の一実施例を示す概略図、第3図は一実施例の動作を
示すフローチャート、第4図は同実施例における粗走査
のリニア走査を示す図、第5図はリニア走査で得られる
検出波形を示す図。 第6図はメモリに記憶されるピーク範囲を示す図、第7
図は同実施例における本走査範囲を示す図、第8図はT
LCプレートを示す図、第9図は電気泳動ゲルを示す図
、第10図は従来のジグザグ走査を示す図である。 2・・・・・・光学系、 4.6・・・・・・光電子増倍管、 10・・・・・・A/D変換器、 12・・・・・・マイクロコンピュータ、18・・・・
・・メモリ。 20・・・・・・試料ステージ。
Claims (1)
- (1)試料に光照射を行なう光学系と、 試料からの反射光又は透過光を受光して電気信号に変換
する光電変換部と、 この光電変換部からの出力信号をデジタル信号に変換す
る信号変換部と、 本走査時にこの信号変換部の出力信号を処理して出力す
るデータ処理部と、 粗走査時に前記信号変換部の出力信号からピークの位置
を検出するピーク処理部と、 このピーク処理部で検出されたピークの位置を記憶する
メモリと、 試料を移動させる試料ステージと、 粗走査時には予め設定された移動様式により、本走査時
には前記メモリに記憶されたピークの位置に従って前記
試料ステージの駆動を制御するステージ制御部と、 本走査時と粗走査時とで前記データ処理部、ピーク処理
部及びステージ制御部の動作を切り換えるモード切換え
部と、を備えたクロマトスキャナ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10548085A JPH0629847B2 (ja) | 1985-05-16 | 1985-05-16 | クロマトスキヤナ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10548085A JPH0629847B2 (ja) | 1985-05-16 | 1985-05-16 | クロマトスキヤナ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61262635A true JPS61262635A (ja) | 1986-11-20 |
JPH0629847B2 JPH0629847B2 (ja) | 1994-04-20 |
Family
ID=14408749
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10548085A Expired - Lifetime JPH0629847B2 (ja) | 1985-05-16 | 1985-05-16 | クロマトスキヤナ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0629847B2 (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5391127A (en) * | 1992-05-15 | 1995-02-21 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Control apparatus in a motor vehicle for controlling a throttle valve on the base of actuation of an accelerator pedal and intake air quantity |
WO2001077680A1 (fr) * | 2000-04-12 | 2001-10-18 | Hamamatsu Photonics K.K. | Procede de mesure pour bande d'essai immunochromatographique |
WO2001077679A1 (fr) * | 2000-04-12 | 2001-10-18 | Hamamatsu Photonics K.K. | Methode de mesure pour bandelette de test immuno-chromatographique |
US7173704B2 (en) | 2003-02-26 | 2007-02-06 | Hamamatsu Photonics K.K. | Measuring device for immunochromatography test piece and light source device |
US7173705B2 (en) | 2003-02-26 | 2007-02-06 | Hamamatsu Photonics K.K. | Measuring device for immunochromatography test piece |
JP2013040890A (ja) * | 2011-08-19 | 2013-02-28 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 電磁波パルス測定装置 |
-
1985
- 1985-05-16 JP JP10548085A patent/JPH0629847B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5391127A (en) * | 1992-05-15 | 1995-02-21 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Control apparatus in a motor vehicle for controlling a throttle valve on the base of actuation of an accelerator pedal and intake air quantity |
WO2001077680A1 (fr) * | 2000-04-12 | 2001-10-18 | Hamamatsu Photonics K.K. | Procede de mesure pour bande d'essai immunochromatographique |
WO2001077679A1 (fr) * | 2000-04-12 | 2001-10-18 | Hamamatsu Photonics K.K. | Methode de mesure pour bandelette de test immuno-chromatographique |
US6819422B2 (en) | 2000-04-12 | 2004-11-16 | Hamamatsu Photonics K.K. | Measuring method for immunochromatographic test strip |
US6879399B2 (en) | 2000-04-12 | 2005-04-12 | Hamamatsu Photonics K.K. | Measuring method for immunochromatographic test strip |
US7173704B2 (en) | 2003-02-26 | 2007-02-06 | Hamamatsu Photonics K.K. | Measuring device for immunochromatography test piece and light source device |
US7173705B2 (en) | 2003-02-26 | 2007-02-06 | Hamamatsu Photonics K.K. | Measuring device for immunochromatography test piece |
JP2013040890A (ja) * | 2011-08-19 | 2013-02-28 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 電磁波パルス測定装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0629847B2 (ja) | 1994-04-20 |
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