JP2005345546A - 表示装置及び検査方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 所定の電位と、データ線Dnとを接続させる高抵抗な第1の短絡検出用抵抗Tr1nが接続されたデータ線Dnの電位を第1の検出用論理回路21nに入力し、所定の閾値に基づいて、入力されたデータ線Dnの電位を2値化して出力することで、データ線Dnの短絡を検出し、所定の電位と、ゲート線Gmとを接続させる高抵抗な第2の短絡検出用抵抗が接続されたゲート線Gmの電位を第2の検出用論理回路に入力し、所定の閾値に基づいて、入力されたゲート線Gmの電位を2値化して出力することで、ゲート線Gmの短絡を検出する。
【選択図】 図4
Description
図4に示すように、第1の実施の形態として示すデータ線テスト回路20Aは、各データ線Dnに対して接続されたトランジスタTr1n(nは、自然数)と、検出用論理回路21とを備えている。データ線Dnに短絡がある場合、図4に示すように、短絡箇所は、抵抗値(短絡抵抗)Rsを持つことになる。
このトランジスタTr1nを介して、所定の電源電位VDD又はグランド電位VSSが、データ線Dnに接続されることになる。トランジスタTr1nは、導通状態における電流・電圧比であるオン抵抗Rtが高抵抗となるようにサイズが調整されたトランジスタである。
続いて、図7を用いて、第2の実施の形態として示すデータ線テスト回路20A’について説明をする。図7に示すように、データ線テスト回路20A’は、第1の実施の形態として示したデータ線テスト回路20Aの検出用論理回路21に代えて、比較回路25と、バッファ26とを備えた構成となっている。
Claims (10)
- 画素スイッチと、上記画素スイッチに接続され、データ線を介して書き込まれた画素データを保持する画素容量とからなる複数の画素セルをマトリクス状に配置した基板と、上記画素スイッチに接続された複数のゲート線を順次、駆動するゲート線駆動回路と、複数の上記データ線を順次、駆動するデータ線駆動回路とを備える表示装置において、
所定の電位と、上記データ線とを接続させる高抵抗な第1の短絡検出用抵抗と、上記第1の短絡検出用抵抗が接続された上記データ線の電位を入力し、所定の閾値に基づいて、入力された上記データ線の電位を2値化して出力する第1の検出用論理回路とを有するデータ線テスト回路と、
所定の電位と、上記ゲート線とを接続させる高抵抗な第2の短絡検出用抵抗と、上記第2の短絡検出用抵抗が接続された上記ゲート線の電位を入力し、所定の閾値に基づいて、入力された上記ゲート線の電位を2値化して出力する第2の検出用論理回路とを有するゲート線テスト回路とを備えること
を特徴とする表示装置。 - 上記データ線テスト回路の第1の検出用論理回路は、上記ゲート線駆動回路により上記複数のゲート線を順次、駆動して上記画素スイッチを導通状態とすることで、上記画素容量が導通状態とされた場合の上記データ線の電位を入力し、所定の閾値に基づいて、入力された上記データ線の電位を2値化して出力すること
を特徴とする請求項1記載の表示装置。 - 上記データ線テスト回路及び上記ゲート線テスト回路は、上記基板上において、上記データ線駆動回路及びゲート線駆動回路が設けられている位置と同じ側に、それぞれ設けられていること
を特徴とする請求項1記載の表示装置。 - 画素スイッチと、上記画素スイッチに接続され、データ線を介して書き込まれた画素データを保持する画素容量とからなる複数の画素セルをマトリクス状に配置した基板と、上記画素スイッチに接続された複数のゲート線を順次、駆動するゲート線駆動回路と、複数の上記データ線を順次、駆動するデータ線駆動回路とを備える表示装置の検査方法において、
所定の電位と、上記データ線とを接続させる高抵抗な第1の短絡検出用抵抗が接続された上記データ線の電位を第1の検出用論理回路に入力し、
所定の閾値に基づいて、入力された上記データ線の電位を2値化して出力することで、上記データ線の短絡を検出し、
所定の電位と、上記ゲート線とを接続させる高抵抗な第2の短絡検出用抵抗が接続された上記ゲート線の電位を第2の検出用論理回路に入力し、
所定の閾値に基づいて、入力された上記ゲート線の電位を2値化して出力することで、上記ゲート線の短絡を検出すること
を特徴とする検査方法。 - 上記ゲート線駆動回路により上記複数のゲート線を順次、駆動して上記画素スイッチを導通状態とすることで、上記画素容量が導通状態とされた場合の上記データ線の電位を上記第1の検出用論理回路に入力し、
所定の閾値に基づいて、入力された上記データ線の電位を2値化して出力することで、上記画素セルに関する短絡を検出すること
を特徴とする請求項4記載の検査方法。 - 画素スイッチと、上記画素スイッチに接続され、データ線を介して書き込まれた画素データを保持する画素容量とからなる複数の画素セルをマトリクス状に配置した基板と、上記画素スイッチに接続された複数のゲート線を順次、駆動するゲート線駆動回路と、複数の上記データ線を順次、駆動するデータ線駆動回路とを備える表示装置において、
所定の電位と、上記データ線とを接続させる高抵抗な第1の短絡検出用抵抗と、上記第1の短絡検出用抵抗が接続された上記データ線の電位を入力し、入力された上記データ線の電位と、入力された上記データ線の電位の期待値である参照電位とを比較し、比較結果を2値化して出力する第1の比較回路とを有するデータ線テスト回路と、
所定の電位と、上記ゲート線とを接続させる高抵抗な第2の短絡検出用抵抗と、上記第2の短絡検出用抵抗が接続された上記ゲート線の電位を入力し、入力された上記ゲート線の電位と、入力された上記ゲート線の電位の期待値である参照電位とを比較し、比較結果を2値化して出力する第2の比較回路とを有するゲート線テスト回路とを備えること
を特徴とする表示装置。 - 上記データ線テスト回路の第1の比較回路は、上記ゲート線駆動回路により上記複数のゲート線を順次、駆動して上記画素スイッチを導通状態とすることで、上記画素容量が導通状態とされた場合の上記データ線の電位を入力し、入力された上記データ線の電位と、入力された上記データ線の電位の期待値である参照電位とを比較し、比較結果を2値化して出力すること
を特徴とする請求項6記載の表示装置。 - 上記データ線テスト回路及び上記ゲート線テスト回路は、上記基板上において、上記データ線駆動回路及びゲート線駆動回路が設けられている位置と同じ側に、それぞれ設けられていること
を特徴とする請求項6記載の表示装置。 - 画素スイッチと、上記画素スイッチに接続され、データ線を介して書き込まれた画素データを保持する画素容量とからなる複数の画素セルをマトリクス状に配置した基板と、上記画素スイッチに接続された複数のゲート線を順次、駆動するゲート線駆動回路と、複数の上記データ線を順次、駆動するデータ線駆動回路とを備える表示装置の検査方法において、
所定の電位と、上記データ線とを接続させる高抵抗な第1の短絡検出用抵抗が接続された上記データ線の電位を第1の比較回路に入力し、
入力された上記データ線の電位と、入力された上記データ線の電位の期待値である参照電位とを比較し、比較結果を2値化して出力することで、上記データ線の短絡を検出し、
所定の電位と、上記ゲート線とを接続させる高抵抗な第2の短絡検出用抵抗が接続された上記ゲート線の電位を第2の比較回路に入力し、
入力された上記ゲート線の電位と、入力された上記ゲート線の電位の期待値である参照電位とを比較し、比較結果を2値化して出力することで、上記ゲート線の短絡を検出すること
を特徴とする検査方法。 - 上記ゲート線駆動回路により上記複数のゲート線を順次、駆動して上記画素スイッチを導通状態とすることで、上記画素容量が導通状態とされた場合の上記データ線の電位を上記第1の比較回路に入力し、
入力された上記データ線の電位と、入力された上記データ線の電位の期待値である参照電位とを比較し、比較結果を2値化して出力することで、上記画素セルに関する短絡を検出すること
を特徴とする請求項9記載の検査方法。
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