KR101174156B1 - 평판 표시장치 - Google Patents

Abstract

본 발명은 검사공정시 검사용 신호라인간의 전압차에 의한 신호라인의 단선을 방지할 수 있도록 한 평판 표시장치에 관한 것이다.

본 발명에 따른 평판 표시장치는 복수의 데이터 신호라인과 복수의 게이트 신호라인의 교차부에 화소셀이 형성된 표시영역과, 상기 표시영역의 신호라인의 라인불량을 검사하기 위한 복수의 검사용 신호라인을 가지는 평판 표시장치에 있어서, 교차하는 상기 검사용 신호라인들 중 단선된 신호라인과 절연막을 사이에 두고 중첩되도록 형성되어 단선된 신호라인을 멀티 패스로 접속시키는 연결부를 구비하는 것을 특징으로 한다.

이러한 구성에 의하여, 본 발명은 교차하는 검사용 신호라인 중 단선된 신호라인과 절연막을 사이에 두고 중첩되도록 형성되어 단선된 신호라인을 멀티 패스로 접속시키는 연결부를 구비함으로써 교차하는 검사용 신호라인간의 전압차에 의해 발생되는 단선을 방지할 수 있다.

Description

평판 표시장치{FLAT PANEL DISPLAY}

도 1은 종래의 액정 표시장치를 개략적으로 나타낸 도면.

도 2는 도 1에 도시된 A부분을 나타낸 도면.

도 3은 본 발명의 실시 예에 따른 액정 표시장치를 개략적으로 나타낸 도면.

도 4는 도 3에 도시된 B부분을 나타낸 도면.

<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>

10, 110 : 표시영역 12, 112 : TFT

14, 114 : 화소전극 20, 120 : 데이터 패드

22, 122 : 기수 데이터 검사패드

23, 123 : MPS용 기수 데이터 신호라인

24, 124 : 우수 데이터 검사패드

25, 125 : MPS용 우수 데이터 신호라인

30, 130 : 게이트 패드 2, 132 : 기수 게이트 검사패드

33, 133 : MPS용 기수 게이트 신호라인

34, 134 : 우수 게이트 검사패드

35, 135 : MPS용 우수 게이트 신호라인

50, 150 : 연결부 150a : 제 1 연결전극

150b : 제 2 연결전극 52, 152 : 컨택홀

본 발명은 평판 표시장치에 관한 것으로, 특히 검사공정시 검사용 신호라인간의 전압차에 의한 신호라인의 단선을 방지할 수 있도록 한 평판 표시장치에 관한 것이다.

통상적으로, 액정 표시장치(Liquid Crystal Display)는 비디오 신호에 따라 액정셀들의 광투과율을 조절하여 화상을 표시하는 액정패널과, 액정패널을 구동하는 구동회로부로 구성된다.

액정패널은 서로 대향하여 합착된 하부 어레이 기판 및 상부 어레이 기판과, 두 기판 사이에서 셀갭을 일정하게 유지시키기 위한 스페이서와, 스페이서에 의해 마련된 액정공간에 채워진 액정을 구비한다.

상부 어레이 기판은 칼러 구현을 위한 칼라 필터 및 빛샘 방지를 위한 블랙 매트릭스와, 액정셀들에 공통적으로 기준전압을 공급하는 공통전극과, 그들 위에 액정 배향을 위해 도포된 상부 배향막으로 구성된다.

하부 어레이 기판은 게이트라인들 및 데이터라인들과, 그 게이트라인들과 데 이터라인들의 교차부마다 형성된 박막트랜지스터(Thin Film Transisitor ; 이하 "TFT"라 함)와, 액정셀 단위로 형성되어 TFT에 접속된 화소전극과, 그들 위에 액정 배향을 위해 도포된 하부 배향막 등으로 구성된다.

액정 패널은 하부 어레이 기판과 상부 어레이 기판을 별도로 제작하여 합착한 다음 액정을 주입하여 완성하게 된다.

특히, 하부 어레이 기판은 제조공정 후에 신호라인들의 쇼트, 오픈과 같은 신호 라인 불량과 TFT의 불량여부를 검출하기 위하여 검사 과정을 거치게 된다.

검사공정에서는 MPS(Mass Production System) 검사장치를 이용하여 하부 어레이 기판에 형성된 신호라인의 단선 검사와 점 결함 및 라인 결함 등의 존재 여부를 검사하게 된다.

이를 위해, 도 1에 도시된 바와 같이 액정패널(2)에는 액정셀들이 마련된 표시영역(10)과, 표시영역(10)의 외곽에 형성되며 검사과정에서 이용되는 데이터 검사패드(22, 24)와 게이트 검사패드(32, 34)가 마련된 비표시영역을 구비한다.

표시영역에는 게이트 라인(G)과, 그 게이트 라인과 교차하는 데이터 라인(D)과, 게이트 라인(G)과 데이터 라인(D)의 교차부에 각각 형성되는 TFT(12)와, TFT(12)와 접속된 화소전극(14)을 구비한다.

게이트 라인(G)은 TFT(12)의 게이트 전극에 전기적으로 접속되어 게이트 신호를 공급한다. 데이터 라인(D)은 TFT(12)의 소스 전극에 전기적으로 접속되어 TFT(12)를 경유하여 화소전극(14)에 화상신호를 공급한다.

TFT(12)는 게이트 라인(G)의 게이트 신호에 응답하여 데이터 라인(D)의 화상 신호가 화소 전극(14)에 충전되어 유지되게 한다. 이를 위하여, TFT(12)는 게이트 라인(G)에 접속된 게이트 전극과, 데이터 라인(D)에 접속된 소스 전극과, 화소전극(14)에 접속된 드레인 전극을 구비한다.

화소전극(14)은 게이트 라인(G)과 데이터 라인(D)의 교차로 마련된 화소영역에 형성되며 TFT(12)의 드레인 전극과 접속된다. 화소전극(14)은 충전된 화소전압에 의해 공통전극(도시하지 않음)과 전위차를 발생시키게 된다. 이러한 전위차에 의해 액정분자들이 유전 이방성에 의해 회전하게 된다. 액정 분자들의 회전 정도에 따라 화소 영역을 투과하는 광 투과율이 달라지게 됨으로써 화상을 구현하게 된다.

비표시영역에는 데이터 라인(D)과 접속되어 데이터 라인(D)을 검사하기 위한 데이터 검사패드(22, 24)와, 게이트 라인(G)과 접속되어 게이트 라인(G)을 검사하기 위한 게이트 검사패드(32, 34)를 구비한다. 여기서, 데이터 검사패드(22, 24) 및 게이트 검사패드(32, 34)는 MPS(Mass Production System) 검사공정 이후 스크라이빙 공정에 의해 제거된다.

데이터 검사패드(22, 24)는 MPS 검사공정에서 필요로 하는 MPS용 검사신호들을 표시영역의 데이터 패드(20)를 통해 데이터 라인(D)에 공급한다. 이러한 데이터 검사 패드(22, 24)는 기수 데이터 라인(D1, D3, D5...)과 접속된 기수 데이터 검사패드(22)와, 우수 데이터 라인(D2, D4, D6....)과 접속된 우수 데이터 검사패드(24)를 구비한다.

기수 데이터 검사패드(22)는 MPS용 기수 데이터 신호라인(23)을 통해 기수 데이터 패드(20)에 접속되고, 우수 데이터 검사패드(24)는 MPS용 우수 데이터 신호라인(25)을 통해 우수 데이터 패드(20)에 접속된다. 이때, 데이터 패드(20)의 위치에 따라 MPS용 기수 데이터 신호라인(23)과 MPS용 우수 데이터 신호라인(25)이 교차하는 부분(A)이 발생하게 된다. 이에 따라, 도 2에 도시된 바와 같이 MPS용 기수 데이터 신호라인(23)과 MPS용 우수 데이터 신호라인(25)이 교차하는 부분(A)에서 쇼트가 발생하지 않도록 MPS용 기수 데이터 신호라인(23) 또는 MPS용 우수 데이터 신호라인(25)를 점프(Jump)시키게 된다. 즉, 교차하는 부분(A)에서 기수 데이터 신호라인(23) 및 MPS용 우수 데이터 신호라인(25) 중 어느 하나(25)를 단선하고, 단선된 부분과 절연막을 사이에 두고 중첩되도록 연결부(50)를 형성하고, 연결부(50)에 복수의 컨택홀(52)을 형성하여 단선된 신호라인(25)을 접속시킨다. 따라서, 기수 데이터 검사패드(22)는 MPS용 기수 데이터 신호라인(23)을 통해 기수 데이터 패드(20)에 접속되는 반면에, 우수 데이터 패드(24)는 MPS용 기수 데이터 신호라인(23) 및 연결부(50)를 통해 우수 데이터 패드(20)에 접속된다.

기수 게이트 검사패드(32)는 MPS용 기수 게이트 신호라인(33)을 통해 기수 게이트 패드(30)에 접속되고, 우수 게이트 패드(34)는 MPS용 우수 게이트 신호라인(35)을 통해 우수 게이트 패드(30)에 접속된다. 이때, 게이트 패드(30)의 위치에 따라 MPS용 기수 게이트 라인(33)과 MPS용 우수 게이트 신호라인(35)이 교차하는 부분(A)이 발생하게 된다. 이에 따라, 도 2에 도시된 바와 같이 MPS용 기수 게이트 신호라인(33)과 MPS용 우수 게이트 신호라인(35)이 교차하는 부분(A)에서 쇼트가 발생하지 않도록 MPS용 기수 게이트 신호라인(33) 또는 MPS용 우수 게이트 신 호라인(35)를 점프시키게 된다. 즉, 교차하는 부분(A)에서 기수 게이트 신호라인(33) 및 MPS용 우수 게이트 신호라인(35) 중 어느 하나(35)를 단선하고, 단선된 부분과 절연막을 사이에 두고 중첩되도록 연결부(50)를 형성하고, 연결부(50)에 복수의 컨택홀(52)을 형성하여 단선된 신호라인(35)을 접속시킨다. 따라서, 기수 게이트 검사패드(32)는 MPS용 기수 게이트 라인(33)을 통해 기수 게이트 패드(30)에 접속되는 반면에, 우수 게이트 패드(34)는 MPS용 기수 게이트 신호라인(33) 및 연결부(50)를 통해 우수 게이트 패드(30)에 접속된다.

이러한 구성의 액정패널의 MPS 검사공정시 외부로부터 검사부의 측정단자를 통해 전기적 신호가 게이트 검사 패드(22, 24)를 통해 게이트 라인(G)과 데이터 검사 패드(32, 34)를 통해 데이터 라인(D)에 공급된다. 게이트 라인(G)과 데이터 라인(D)에 각각 공급된 MPS용 검사신호에 의해 각 신호라인들과 TFT(12)의 불량 유무를 판별하게 된다.

그러나, 종래의 액정패널의 MPS 검사공정시 MPS용 기수 데이터/게이트 신호라인(23, 33)과 MPS용 우수 데이터/게이트 신호라인(25, 35)에는 고전압의 MPS용 검사신호가 공급되기 때문에 연결부(50)가 형성된 신호라인의 교차부분(A)에서 신호라인간의 전압차에 의해 연결부(50)가 단선되는 문제점이 있다.

따라서, 본 발명의 목적은 검사공정시 검사용 신호라인간의 전압차에 의한 신호라인의 단선을 방지할 수 있도록 한 평판 표시장치를 제공하는데 있다.

상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시 예에 따른 평판 표시장치는 복수의 데이터 신호라인과 복수의 게이트 신호라인의 교차부에 화소셀이 형성된 표시영역과, 상기 표시영역의 신호라인의 라인불량을 검사하기 위한 복수의 검사용 신호라인을 가지는 평판 표시장치에 있어서, 교차하는 상기 검사용 신호라인들 중 단선된 신호라인과 절연막을 사이에 두고 중첩되도록 형성되어 단선된 신호라인을 멀티 패스로 접속시키는 연결부를 구비하는 것을 특징으로 한다.

상기 연결부는 복수의 컨택홀을 통해 상기 단선된 신호라인에 전기적으로 접속되어 제 1 패스를 형성하는 제 1 연결전극과, 복수의 컨택홀을 통해 상기 단선된 신호라인에 전기적으로 접속되어 제 2 패스를 형성하는 제 2 연결전극을 구비하는 것을 특징으로 한다.

상기 검사용 신호라인들은 기수 데이터 라인에 전기적으로 접속된 검사용 기수 데이터 신호라인과, 우수 데이터 라인에 전기적으로 접속된 검사용 우수 데이터 신호라인인 것을 특징으로 한다.

상기 연결부는 검사용 기수 데이터 신호라인과 검사용 우수 데이터 신호라인의 교차부에 형성되는 것을 특징으로 한다.

상기 검사용 신호라인들은 기수 게이트 라인에 전기적으로 접속된 검사용 기수 게이트 신호라인과, 우수 게이트 라인에 전기적으로 접속된 검사용 우수 게이트 신호라인인 것을 특징으로 한다.

상기 연결부는 검사용 기수 게이트 신호라인과 검사용 우수 게이트 신호라인의 교차부에 형성되는 것을 특징으로 한다.

상기 목적 외에 본 발명의 다른 목적 및 특징들은 첨부 도면을 참조한 실시 예에 대한 설명을 통하여 명백하게 드러나게 될 것이다.

이하, 도 3 및 도 4를 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 예에 대하여 설명하기로 한다.

도 3은 본 발명의 실시 예에 따른 액정 표시장치를 개략적으로 나타낸 도면이다.

도 3을 참조하면, 본 발명의 실시 예에 따른 액정 표시장치는 기판(102) 상에 액정셀들이 마련된 표시영역(110)과, 표시영역(110)의 외곽에 형성되며 검사과정에서 이용되는 데이터 검사패드(122, 124)와 게이트 검사패드(132, 134)가 마련된 비표시영역을 구비한다.

표시영역에는 게이트 라인(G)과, 그 게이트 라인과 교차하는 데이터 라인(D)과, 게이트 라인(G)과 데이터 라인(D)의 교차부에 각각 형성되는 TFT(12)와, TFT(112)와 접속된 화소전극(114)을 구비한다.

게이트 라인(G)은 TFT(112)의 게이트 전극에 전기적으로 접속되어 게이트 신호를 공급한다. 데이터 라인(D)은 TFT(12)의 소스 전극에 전기적으로 접속되어 TFT(112)를 경유하여 화소전극(114)에 화상신호를 공급한다.

TFT(112)는 게이트 라인(G)의 게이트 신호에 응답하여 데이터 라인(D)의 화상신호가 화소 전극(114)에 충전되어 유지되게 한다. 이를 위하여, TFT(112)는 게 이트 라인(G)에 접속된 게이트 전극과, 데이터 라인(D)에 접속된 소스 전극과, 화소전극(114)에 접속된 드레인 전극을 구비한다.

화소전극(114)은 게이트 라인(G)과 데이터 라인(D)의 교차로 마련된 화소영역에 형성되며 TFT(112)의 드레인 전극과 접속된다. 화소전극(114)은 충전된 화소전압에 의해 공통전극(도시하지 않음)과 전위차를 발생시키게 된다. 이러한 전위차에 의해 액정분자들이 유전 이방성에 의해 회전하게 된다. 액정 분자들의 회전 정도에 따라 화소 영역을 투과하는 광 투과율이 달라지게 됨으로써 화상을 구현하게 된다.

비표시영역에는 데이터 라인(D)과 접속되어 데이터 라인(D)을 검사하기 위한 데이터 검사패드(122, 124)와, 게이트 라인(G)과 접속되어 게이트 라인(G)을 검사하기 위한 게이트 검사패드(132, 134)를 구비한다. 여기서, 데이터 검사패드(122, 124) 및 게이트 검사패드(132, 134)는 MPS(Mass Production System) 검사공정 이후 스크라이빙 공정에 의해 제거된다.

데이터 검사패드(122, 124)는 MPS 검사공정에서 필요로 하는 MPS용 검사신호들을 표시영역의 데이터 패드(120)를 통해 데이터 라인(D)에 공급한다. 이러한 데이터 검사 패드(122, 124)는 기수 데이터 라인(D1, D3, D5...)과 접속된 기수 데이터 검사패드(122)와, 우수 데이터 라인(D2, D4, D6....)과 접속된 우수 데이터 검사패드(124)를 구비한다.

기수 데이터 검사패드(122)는 MPS용 기수 데이터 신호라인(123)을 통해 기수 데이터 패드(120)에 접속되고, 우수 데이터 검사패드(124)는 MPS용 우수 데이터 신 호라인(125)을 통해 우수 데이터 패드(120)에 접속된다. 이때, 데이터 패드(120)의 위치에 따라 MPS용 기수 데이터 신호라인(123)과 MPS용 우수 데이터 신호라인(125)이 교차하는 부분(B)이 발생하게 된다. 이에 따라, 도 4에 도시된 바와 같이 MPS용 기수 데이터 신호라인(123)과 MPS용 우수 데이터 신호라인(125)이 교차하는 부분(B)에서 쇼트가 발생하지 않도록 MPS용 기수 데이터 신호라인(123) 또는 MPS용 우수 데이터 신호라인(125)을 멀티 점프(Multi Jump)시켜 멀티 패스(Multi Pass)를 형성한다. 즉, 교차하는 부분(B)에서 기수 데이터 신호라인(123) 및 MPS용 우수 데이터 신호라인(125) 중 어느 하나(125)를 단선하고, 단선된 부분과 절연막을 사이에 두고 중첩되도록 복수의 연결전극(150a, 150b)을 가지는 연결부(150)를 형성하고, 연결부(150)에 복수의 컨택홀(152)을 형성하여 단선된 데이터 신호라인(125)을 접속시킨다.

본 발명의 실시 예에 따른 연결부(150)는 단선된 데이터 신호라인(125)과 절연막을 사이에 두고 중첩되도록 형성된 제 1 연결전극(150a)과, 단선된 데이터 신호라인(125)과 절연막을 사이에 두고 중첩됨과 아울러 제 1 연결전극(150a)과 나란하게 형성된 제 2 연결전극(150b)을 구비한다.

제 1 연결전극(150a)은 "┒"자 형태로 형성되어 단선된 데이터 신호라인(125)과 중첩된다. 이러한, 제 1 연결전극(150a)은 상부 및 하부에 형성된 복수의 컨택홀(152)을 통해 단선된 데이터 신호라인(125)을 전기적으로 접속시키게 된다.

제 2 연결전극(150b)은 "L"자 형태로 형성되어 단선된 데이터 신호라인(125)과 중첩된다. 이러한, 제 2 연결전극(150b)은 상부 및 하부에 형성된 복수의 컨택 홀(152)을 통해 단선된 데이터 신호라인(125)을 전기적으로 접속시키게 된다.

따라서, 기수 데이터 검사패드(122)는 MPS용 기수 데이터 신호라인(123)을 통해 기수 데이터 패드(120)에 접속되는 반면에, 우수 데이터 패드(124)는 MPS용 기수 데이터 신호라인(123)과 제 1 연결전극(150a) 및 제 2 연결전극(150b)을 통해 우수 데이터 패드(120)에 접속된다.

기수 게이트 검사패드(132)는 MPS용 기수 게이트 신호라인(133)을 통해 기수 게이트 패드(130)에 접속되고, 우수 게이트 패드(134)는 MPS용 우수 게이트 신호라인(135)을 통해 우수 게이트 패드(130)에 접속된다. 이때, 게이트 패드(130)의 위치에 따라 MPS용 기수 게이트 라인(133)과 MPS용 우수 게이트 신호라인(135)이 교차하는 부분(B)이 발생하게 된다. 이에 따라, 도 4에 도시된 바와 같이 MPS용 기수 게이트 신호라인(133)과 MPS용 우수 게이트 신호라인(135)이 교차하는 부분(B)에서 쇼트가 발생하지 않도록 MPS용 기수 게이트 신호라인(133) 또는 MPS용 우수 게이트 신호라인(135)을 멀티 점프시켜 멀티 패스를 형성한다. 즉, 교차하는 부분(B)에서 기수 게이트 신호라인(133) 및 MPS용 우수 게이트 신호라인(135) 중 어느 하나(135)를 단선하고, 단선된 부분과 절연막을 사이에 두고 중첩되도록 연결부(150)를 형성하고, 연결부(150)에 복수의 컨택홀(152)을 형성하여 단선된 게이트 신호라인(135)을 접속시킨다.

본 발명의 실시 예에 따른 연결부(150)는 단선된 게이트 신호라인(135)과 절연막을 사이에 두고 중첩되도록 형성된 제 1 연결전극(150a)과, 단선된 게이트 신호라인(135)과 절연막을 사이에 두고 중첩됨과 아울러 제 1 연결전극(150a)과 나란 하게 형성된 제 2 연결전극(150b)을 구비한다.

제 1 연결전극(150a)은 "┒"자 형태로 형성되어 단선된 게이트 신호라인(135)과 중첩된다. 이러한, 제 1 연결전극(150a)은 상부 및 하부에 형성된 복수의 컨택홀(152)을 통해 단선된 게이트 신호라인(135)을 전기적으로 접속시키게 된다.

제 2 연결전극(150b)은 "L"자 형태로 형성되어 단선된 게이트 신호라인(135)과 중첩된다. 이러한, 제 2 연결전극(150b)은 상부 및 하부에 형성된 복수의 컨택홀(152)을 통해 단선된 게이트 신호라인(135)을 전기적으로 접속시키게 된다.

따라서, 기수 게이트 검사패드(132)는 MPS용 기수 게이트 신호라인(133)을 통해 기수 게이트 패드(130)에 접속되는 반면에, 우수 게이트 패드(134)는 MPS용 기수 게이트 신호라인(133)과 제 1 연결전극(150a) 및 제 2 연결전극(150b)을 통해 우수 게이트 패드(130)에 접속된다.

이러한 구성의 액정패널의 MPS 검사공정시 외부로부터 검사부의 측정단자를 통해 전기적 신호가 게이트 검사 패드(122, 124)를 통해 게이트 라인(G)과 데이터 검사 패드(132, 134)를 통해 데이터 라인(D)에 공급된다. 게이트 라인(G)과 데이터 라인(D)에 각각 공급된 MPS용 검사신호에 의해 각 신호라인들과 TFT(112)의 불량 유무를 판별하게 된다.

이와 같은, 본 발명의 실시 예에 따른 액정 표시장치는 MPS 검사공정시 MPS용 기수 데이터/게이트 신호라인(123, 133)과 MPS용 우수 데이터/게이트 신호라인(125, 135)의 교차부분(B)을 제 1 및 제 2 연결전극(150a, 150b)을 통해 멀티 점프시켜 멀티 패스를 형성함으로써 제 1 및 제 2 연결전극(150a, 150b) 중 어느 하나 가 단선되더라도 다른 하나를 통해 연결부(150)을 단선을 최소화할 수 있다.

한편, 본 발명의 실시 예에 따른 액정 표시장치에서는 MPS용 데이터 신호라인들 간의 교차부분의 점프 구조 또는 MPS용 게이트 신호라인들 간의 교차부분의 점프 구조에 대하여 설명하였으나, 이에 한정되지 않고, MPS 검사를 위하여 표시영역에 MPS용 검사신호를 공급하는 신호라인의 교차부분의 점프 구조에서도 동일한 구조로 적용될 수 있다.

한편, 본 발명의 실시 예에서는 액정 표시장치를 일례로 들어 설명하였으나, 이에 한정되지 않고 MPS 검사장치로 신호라인의 불량을 검사할 수 있는 평판 표시장치에 적용될 수 있다.

상술한 바와 같이, 본 발명의 실시 예에 따른 평판 표시장치는 교차하는 검사용 신호라인 중 단선된 신호라인과 절연막을 사이에 두고 중첩되도록 형성되어 단선된 신호라인을 멀티 패스로 접속시키는 연결부를 구비함으로써 교차하는 검사용 신호라인간의 전압차에 의해 발생되는 단선을 방지할 수 있다.

이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술사상을 일탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의해 정하여 져야만 할 것이다.

Claims (6)

1. 복수의 데이터 신호라인과 복수의 게이트 신호라인의 교차부에 화소셀이 형성된 표시영역과, 상기 표시영역의 신호라인의 라인불량을 검사하기 위한 복수의 검사용 신호라인을 가지는 평판 표시장치에 있어서,

   교차하는 상기 검사용 신호라인들 중 단선된 검사용 신호라인과 절연막을 사이에 두고 중첩되도록 형성되어 단선된 검사용 신호라인을 멀티 패스로 접속시키는 연결부를 구비하고,

   상기 연결부는,

   복수의 컨택홀을 통해 상기 단선된 검사용 신호라인의 양 단선영역을 전기적으로 연결하는 제1 연결전극과;

   상기 제1 연결전극과 평행하는 방향으로 형성되어 복수의 컨택홀을 통해 상기 단선된 검사용 신호라인의 양 단선영역을 전기적으로 연결하는 제2 연결전극을 포함하는 것을 특징으로 하는 평판 표시장치.
2. 삭제
3. 제 1 항에 있어서,

   상기 검사용 신호라인들은,

   기수 데이터 라인에 전기적으로 접속된 검사용 기수 데이터 신호라인과,

   우수 데이터 라인에 전기적으로 접속된 검사용 우수 데이터 신호라인인 것을 특징으로 하는 평판 표시장치.
4. 제 3 항에 있어서,

   상기 연결부는 검사용 기수 데이터 신호라인과 검사용 우수 데이터 신호라인의 교차부에 형성되는 것을 특징으로 하는 평판 표시장치.
5. 제 1 항에 있어서,

   상기 검사용 신호라인들은,

   기수 게이트 라인에 전기적으로 접속된 검사용 기수 게이트 신호라인과,

   우수 게이트 라인에 전기적으로 접속된 검사용 우수 게이트 신호라인인 것을 특징으로 하는 평판 표시장치.
6. 제 5 항에 있어서,

   상기 연결부는 검사용 기수 게이트 신호라인과 검사용 우수 게이트 신호라인의 교차부에 형성되는 것을 특징으로 하는 평판 표시장치.

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