TWI412766B - 主動元件陣列以及檢測方法 - Google Patents

Description

主動元件陣列以及檢測方法

本發明是有關於一種主動元件陣列及檢測方法，且特別是有關於一種可有效檢出短路缺陷的主動元件陣列及檢測方法。

一般而言，液晶顯示面板包括一主動元件陣列基板、一對向基板及夾於兩基板間的液晶層。主動元件陣列基板在製造完成之後必須對其主動元件陣列進行檢測，以確定主動式液晶顯示面板能正常地進行顯示。

目前，主動元件陣列的檢測多著眼於畫素結構能否正常的進行顯示。若主動元件陣列的其他線路出現缺陷，例如是短路或斷路，往往會在液晶顯示器或液晶顯示面板組裝完成後才會進一步被檢測出來。

換言之，目前的檢測方法中，主動元件陣列中某些傳輸線路上的缺陷是在液晶顯示面板組裝完成後才被檢測出來。因此，這樣的缺陷若使得產品無法正常運作則整個液晶顯示面板必須報廢，而浪費許多成本。特別是，在主動元件陣列的線路佈局中，為了節省布線面積，傳輸線路必須緊密地排列。此時，線路之間的短路缺陷更容易出現而液晶顯示面板的報廢率以及成本的浪費也可能隨之提升。

本發明提供一種主動元件陣列，其檢測線路設計可有效檢測出線路間的缺陷。

本發明提供一種檢測方法，可有效檢測出主動元件陣列中的短路缺陷。

本發明提供一種主動元件陣列，其包括多條掃描線、多條資料線、多個畫素結構、一第一檢測線路、一第二檢測線路、一第三檢測線路以及一第四檢測線路。掃描線彼此平行排列，以在掃描線的延伸方向上定義出相對的一第一區以及一第二區。資料線的延伸方向與掃描線的延伸方向相交，且資料線位於第一區以及第二區之間。畫素結構位於第一區以及第二區之間，且各畫素結構由其中一條掃描線與其中一條資料線驅動。第一檢測線路位於第一區，並電性連接奇數條的掃描線。第二檢測線路位於第一區，並電性連接第4n+1條的掃描線，在此，n為0或正整數。第三檢測線路位於第二區，並電性連接偶數條的掃描線。第四檢測線路位於第二區，並電性連接第4n+2條的掃描線。

本發明另提出一種檢測方法，以檢測如前所述之主動元件陣列。檢測方法包括有以下步驟。由第一檢測線路輸入第一檢測訊號於奇數條的掃描線中，並判斷與奇數條的掃描線連接之部分畫素結構是否被點亮。由第二檢測線路輸入第二檢測訊號於第4n+1條的掃描線中，而與第4n+3條的掃描線連接之部分畫素結構被點亮時，視為缺陷產生。由第三檢測線路輸入第三檢測訊號於偶數條的掃描線中，並判斷與偶數條的掃描線連接之部分畫素結構是否被點亮。由第四檢測線路輸入第四檢測訊號於第4n+2條的掃描線中，而與第4n+4條的掃描線連接之部分畫素結構被點亮時，視為缺陷產生。

基於上述，本發明的主動元件陣列及檢測方法可以有效地檢測出線路中的缺陷，而有助於提升主動元件陣列的良率。

為讓本發明之上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式作詳細說明如下。

圖1繪示為本發明之一實施例的主動元件陣列。請參照圖1，主動元件陣列100包括多條掃描線110、多條資料線120、多個畫素結構130、一第一檢測線路140、一第二檢測線路150、一第三檢測線路160以及一第四檢測線路170。掃描線110彼此平行排列，以在掃描線110的延伸方向上定義出相對的一第一區R1以及一第二區R2。換言之，第一區R1與第二區R2分別地位於掃描線110延伸方向上相對的兩端。資料線120的延伸方向與掃描線110的延伸方向相交，且資料線120位於第一區R1以及第二區R2之間。畫素結構130也是位於第一區R1以及第二區R2之間，且各畫素結構130由其中一條掃描線110與其中一條資料線120驅動。

當主動元件陣列100應用於顯示面板時，畫素結構130是進行顯示的主要元件。所以，畫素結構130所在區域例如為顯示區(未標示)，而第一區R1以及第二區R2則為不顯示畫面的非顯示區(未標示)。實際上，畫素結構130例如包括有主動元件132以及畫素電極134。

第一檢測線路140位於第一區R1，並電性連接奇數條的掃描線110。第二檢測線路150位於第一區R1，並電性連接第4n+1條的掃描線110。第三檢測線路160位於第二區R2，並電性連接偶數條的掃描線110。第四檢測線路170位於第二區R2，並電性連接第4n+2條的掃描線110。在此，n為0或正整數。

在本實施例中，第一檢測線路140與第三檢測線路160例如由相似的構件所組成。第一檢測線路140包括一第一檢測線142、一第一檢測墊144以及多個第一檢測開關146。第一檢測墊144位於第一檢測線142的一端。第一檢測開關146連接於奇數條的掃描線110與第一檢測線142之間，以使第一檢測訊號Go由第一檢測墊144經由第一檢測線142以及第一檢測開關146傳送至奇數條的掃描線110。

第三檢測線路160則包括一第三檢測線162、一第三檢測墊164以及多個第三檢測開關166。第三檢測線路160之各構件的連接關係與第一檢測線路140相似，不過第三檢測線路160是與偶數條的掃描線110電性連接。也就是說，第三檢測訊號Ge是由第三檢測墊164經由第三檢測線162以及第三檢測開關166傳送至偶數條的掃描線110。

在本實施例中，第一檢測開關146與第三檢測開關166可以控制第一檢測訊號Go與第三檢測訊號Ge傳送至對應的掃描線110與否。第一檢測開關146與第三檢測開關166例如都是由多個電晶體元件所組成。當然，在其他的實施例中，第一檢測開關146與第三檢測開關166也可以由其他可提供開關作用的元件所組成。

另外，第二檢測線路150與第四檢測線路170則例如是相似的設計。詳言之，第二檢測線路150包括一第二檢測線152、一第二檢測墊154以及多個第二檢測開關156。第二檢測墊154位於第二檢測線152的一端。第二檢測開關156連接於第4n+1條的掃描線110與第二檢測線152之間，以使第二檢測訊號Goh由第二檢測墊154經由第二檢測線152以及第二檢測開關156傳送至第4n+1條的掃描線110。

相似地，第四檢測線路170包括一第四檢測線172、一第四檢測墊174以及多個第四檢測開關176，且這些元件的連接關係近似於第二檢測線路150的設計。不過，第四檢測線路170的設計使得第四檢測訊號Geh由第四檢測墊174經由第四檢測線172以及第四檢測開關176傳送至第4n+2條的掃描線110。在此，第二檢測開關156以及第四檢測開關176例如為多個二極體元件，但本發明不限於此。

第一檢測線路140與第三檢測線路160例如可以傳送適當的檢測訊號(Go與Ge)來分別地檢測連接奇數行的畫素結構130與偶數行的畫素結構130。一但奇數行的畫素結構130中發生斷線缺陷時，可以利用第一檢測線路140檢測出來。偶數行的畫素結構130若發生斷線缺陷也可以利用第二檢測線路160檢測出來。另外，當相鄰兩行畫素結構130間發生短路缺陷時，也可以利用第一檢測線路140與第三檢測線路160檢測出來。

舉例來說，使用第一檢測線路140進行檢測時，第一檢測訊號Go應該只會傳送至奇數條的掃描線110。也就是說，奇數行的畫素結構130會被點亮。此時，奇數行的畫素結構130若有任何一者未被點亮則表示斷線缺陷發生。若有任何一個偶數行的畫素結構130也被點亮，則表示有短路缺陷發生。同樣的，使用第三檢測線路160進行檢測時，第三檢測訊號Gh應該只會使偶數行的畫素結構130被點亮，而不會使奇數行的畫素結構130被點亮。若有奇數行的畫素結構130被點亮則表示有短路缺陷。

不過，第一檢測線路140會同時將第一檢測訊號Go傳送至第一條與第三條掃描線110。所以第一條與第三條掃描線110之間，也就是奇數條的掃描線110之間，發生短路情形，利用第一檢測線路140無法被檢測出來。同樣地，偶數條的掃描線110之間所發生短路，也無法由第三檢測線路160檢測出來。

因此，主動元件陣列100中，第二檢測線路150與第四檢測線路170分別地連接每隔四條(every other four)的掃描線110。如此一來，奇數條的掃描線100之間若發生短路的情形或是偶數條的掃描現110之間發生短路的情形，則可藉由第二檢測線路150與第四檢測線路170來進行檢測。

舉例而言，利用第二檢測線路150進行檢測時，第二檢測訊號Goh會被傳送至第一、五...4n+1條掃描線110。因此，第一、五...4n+1行的畫素結構130會被點亮。此時，若第一條與第三條掃描線110之間發生短路情形，則第三行的畫素結構130也會被點亮。因此，奇數條掃描線110之間的短路缺陷可以有效率的被檢測出來。相同地，偶數條掃描線110之間的缺陷也可以有效地利用第四檢測線路170進行檢測而檢測出來。在本實施例中，第一檢測訊號Go與第三檢測訊號Ge可以相同，而第二檢測訊號Goh與第四檢測訊號Geh可以相同。

值得一提的是，受限於實際結構的設計，奇數條掃描線110之間的短路與偶數條掃描線110之間的短路往往不容易避免。主要是因為在結構設計上，主動元件陣列100更包括多條第一傳輸線路180以及多條第二傳輸線路190。第一傳輸線路180位於第一區R1中且連接奇數條的掃描線110。同時，第二傳輸線路190位於第二區R2中且連接偶數條的掃描線110。

第一傳輸線路180以及第二傳輸線路190會分別地連接至驅動主動元件陣列100用的驅動晶片(未繪示)，並將驅動晶片所提供的驅動訊號傳送至對應的掃描線110中。因此，各第一傳輸線路180應該為彼此電性獨立的線路，且各第二傳輸線路190應該為彼此電性獨立的線路以使主動元件陣列110可以正常地運作。

然而，第一區R1以及第二區R2不提供顯示之用。在結構設計上，第一區R1以及第二區R2的寬度會儘可能的被壓縮以減小非顯示區所佔面積並增加顯示區的面積。因此，第一傳輸線路180以及第二傳輸線路190必需緊密地排列，而使得第一傳輸線路180以及第二傳輸線路190容易因為製程上的誤差而產生短路缺陷。

相鄰第一傳輸線路180之間發生短路表示奇數條掃描線110之間發生短路，而相鄰第二輸線路190之間發生短路則表示偶數條掃描線110之間發生短路。這樣的短路缺陷無法由第一檢測線路140與第三檢測線路160檢出。因此，本實施例的第二檢測線路150與第四檢測線路170可以有效地將這樣的短路缺陷檢出而有助於提高主動元件陣列100的製程效率。

除上述元件外，主動元件陣列100可以更包括有一第一資料線檢測線路122以及一第二資料線檢測線路124，其分別地連接奇數條資料線120以及偶數條資料線120。第一資料線檢測線路122以及第二資料線檢測線路124用以傳送對應的檢測訊號於資料線120中。另外，主動元件陣列100還設有共用線路com，其與畫素電極134共同構成儲存電容Cs。此外，為了驅動這些檢測線路的檢測開關，主動元件陣列100還設有開關線路SW，以控制這些檢測開關的開啟與關閉。

綜上所述，本發明的主動元件陣列中設有第二檢測線路及第四檢測線路，以分別檢測奇數條的掃描線間、傳輸線間以及偶數條的掃描線間、傳輸線間是否有短路缺陷。因此，本發明的主動元件陣列及檢測方法有助於降低因組裝後才檢測出線路缺陷而造成的成本負擔。也因此，本發明的主動元件陣列具有相當不錯的良率。

雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作些許之更動與潤飾，故本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

100．．．主動元件陣列

110．．．掃描線

120．．．資料線

122．．．第一資料線檢測線路

124．．．第二資料線檢測線路

130．．．畫素結構

132．．．主動元件

134．．．畫素電極

140．．．第一檢測線路

142．．．第一檢測線

144．．．第一檢測墊

146．．．第一檢測開關

150．．．第二檢測線路

152．．．第二檢測線

154．．．第二檢測墊

156．．．第二檢測開關

160．．．第三檢測線路

162．．．第三檢測線

164‧‧‧第三檢測墊

166‧‧‧第三檢測開關

170‧‧‧第四檢測線路

172‧‧‧第四檢測線

174‧‧‧第四檢測墊

176‧‧‧第四檢測開關

180‧‧‧第一傳輸線路

190‧‧‧第二傳輸線路

com‧‧‧共用線路

Cs‧‧‧儲存電容

R1‧‧‧第一區

R2‧‧‧第二區

SW‧‧‧開關線路

圖1繪示為本發明之一實施例的主動元件陣列。

100‧‧‧主動元件陣列

110‧‧‧掃描線

120‧‧‧資料線

122‧‧‧第一資料線檢測線路

124‧‧‧第二資料線檢測線路

130‧‧‧畫素結構

132‧‧‧主動元件

134‧‧‧畫素電極

140‧‧‧第一檢測線路

142‧‧‧第一檢測線

144‧‧‧第一檢測墊

146‧‧‧第一檢測開關

150‧‧‧第二檢測線路

152‧‧‧第二檢測線

154‧‧‧第二檢測墊

156‧‧‧第二檢測開關

160‧‧‧第三檢測線路

162‧‧‧第三檢測線

164‧‧‧第三檢測墊

166‧‧‧第三檢測開關

170‧‧‧第四檢測線路

172‧‧‧第四檢測線

174‧‧‧第四檢測墊

176‧‧‧第四檢測開關

180‧‧‧第一傳輸線路

190‧‧‧第二傳輸線路

com‧‧‧共用線路

Cs‧‧‧儲存電容

R1‧‧‧第一區

R2‧‧‧第二區

SW‧‧‧開關線路

Claims (10)

1. 一種主動元件陣列，包括：多條掃描線，彼此平行排列，以在該些掃描線的延伸方向上定義出相對的一第一區以及一第二區；多條資料線，該些資料線的延伸方向與該些掃描線的延伸方向相交，且該些資料線位於該第一區以及該第二區之間；多個畫素結構，位於該第一區以及該第二區之間，且各該畫素結構由其中一該掃描線與其中一該資料線驅動；一第一檢測線路，位於該第一區，並電性連接奇數條的該些掃描線；一第二檢測線路，位於該第一區，並電性連接第4n+1條的該些掃描線而非其他該些掃描線，其中n為0或正整數；一第三檢測線路，位於該第二區，並電性連接偶數條的該些掃描線；以及一第四檢測線路，位於該第二區，並電性連接第4n+2條的該些掃描線而非其他該些掃描線。
2. 如申請專利範圍第1項所述之主動元件陣列，其中該第一檢測線路包括：一第一檢測線；一第一檢測墊，該第一檢測墊位於該第一檢測線的一端；以及多個第一檢測開關，連接於奇數條的該些掃描線與該第一檢測線之間。
3. 如申請專利範圍第2項所述之主動元件陣列，其中該些第一檢測開關為多個電晶體元件。
4. 如申請專利範圍第1項所述之主動元件陣列，其中該第二檢測線路包括：一第二檢測線；一第二檢測墊，該第二檢測墊位於該第二檢測線的一端；以及多個第二檢測開關，連接於第4n+1條的該些掃描線與該第二檢測線之間。
5. 如申請專利範圍第4項所述之主動元件陣列，其中該些第二檢測開關為多個二極體元件。
6. 如申請專利範圍第1項所述之主動元件陣列，其中該第三檢測線路包括：一第三檢測線；一第三檢測墊，該第三檢測墊位於該第三檢測線的一端；以及多個第三檢測開關，連接於偶數條的該些掃描線與該第三檢測線之間。
7. 如申請專利範圍第6項所述之主動元件陣列，其中該些第三檢測開關為多個電晶體元件。
8. 如申請專利範圍第1項所述之主動元件陣列，其中該第四檢測線路包括：一第四檢測線；一第四檢測墊，該第四檢測墊位於該第四檢測線的一端；以及多個第四檢測開關，連接於第4n+2條的該些掃描線與該第四檢測線之間。
9. 如申請專利範圍第8項所述之主動元件陣列，其中該些第四檢測開關為多個二極體元件。
10. 一種檢測方法，以檢測如申請專利範圍第1項所述之主動元件陣列，該檢測方法包括：由該第一檢測線路輸入該第一檢測訊號於奇數條的該些掃描線中，並判斷與奇數條的該些掃描線連接之部分該些畫素結構是否被點亮；由該第二檢測線路輸入該第二檢測訊號於第4n+1條的該些掃描線中，而與第4n+3條的該些掃描線連接之部分該些畫素結構被點亮時，視為缺陷產生；由該第三檢測線路輸入該第三檢測訊號於偶數條的該些掃描線中，並判斷與偶數條的該些掃描線連接之部分該些畫素結構是否被點亮；以及由該第四檢測線路輸入該第四檢測訊號於第4n+2條的該些掃描線中，而與第4n+4條的該些掃描線連接之部分該些畫素結構被點亮時，視為缺陷產生。