JP2003506881A - Euv照明光学系の射出瞳における照明分布の制御 - Google Patents

Euv照明光学系の射出瞳における照明分布の制御

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Abstract

(57)【要約】 本発明は、投影露光装置用の照明光学系に関し、193nm以下の波長、特に、10〜20nmの波長の光を放射する光源1と、複数の格子素子10,40,42,100,102に区分けされている少なくとも一つの反射鏡34を有していて、二次光源14を生成する反射鏡装置を照明するための集光ユニット30,32と、絞り面16と、この絞り面16を照明光学系の射出瞳390に結像させる、一つ以上の光学素子36,38と、上記複数の格子素子の像が大部分一致して、予め定められたフィールドが或る強度分布で照明される物面39と、種類及び/又は充填度によって定められる或る照度分布を射出瞳390内に生成する光学素子30,310,320,330とを有し、上記照度分布の種類及び/又は充填度は、上記光学素子30,310,320,330を交換したり、移動したり、あるいは、変形したりすることによって変更される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、照明光学系、とくに193nm以下の波長を用いた、例えばVUV
リソグラフィーならびにEUVリソグラフィーといったリソグラフィーのための
照明光学系に係り、上記照明光学系は、少なくとも一つの光源を備え、かつ、実
際もしくは仮想の絞り面に複数の二次光源を形成するためであると同時に、前記
実際もしくは仮想の絞り面を該照明光学系の射出瞳に結像させる一つ以上の光学
素子に前記複数の二次光源を形成するための手段を備えていて、この手段は二次
光源を生成する複数の格子素子を持つ反射鏡またはレンズを有してなり、かつ、
上記照明光学系は、該照明光学系の射出瞳の中に予め決められた照度分布を生成
するための手段をも備えている。また、本発明は、少なくとも一つの光源と、物
面と、前記光源および前記物面の間に前記物面に対する共役面とを備えた193
nm以下の波長のための照明光学系に関する。
【0002】
【従来の技術】
電子部品の構成の幅をさらに減少させ、特にサブミクロン領域にまで縮小でき
るようにするためには、マイクロリソグラフィーに使用される光の波長を小さく
することが必要である。
【0003】 そこで、米国特許第5339346号明細書より知られるように、例えば軟X線を用
いたリソグラフィーといった、波長が193nmより小さい場合が想定できる。
【0004】 米国特許第5339346号明細書による照明、すなわち、光源に対して対をなすよ
うに対称に配置された四つの切り子面状反射鏡が必要になる照明以外に、露光光
学系のリングフィールドの均一な照明のために反射型のハニカムプレートを用い
て動作するような照明光学系を設けることもできる。このような光学系は、投影
光学系のフィールドが可能な限り少ない反射で均一に照明され、したがって、所
定の充填度までフィールドに依存しない瞳の照明が保証されているという長所を
有している。
【0005】 米国特許第5581605号明細書より、EUV照明光学系用の反射型のハニカムプ
レートが知られている。
【0006】 上記の米国特許第5339346号明細書、ならびに米国特許第5581605号明細書に開
示された内容は、本願に包括的に取り入れられている。
【0007】 VUV、およびEUVの照明光学系における解像力と焦点深度の向上が可能と
なるのは、マスクの構造に応じて、つまり、照明すべきレチクルに応じて、マス
クの照明が設定できるときである。従来の技術では、複数の格子素子を持つ反射
鏡もしくはレンズの下流側に設けられる絞りを用いて、照明の設定(セッティン
グ)の制御が行なわれている。これに関しては、例えば、米国特許第5526093号
明細書、特開平10-092727号公報、特開平10-275771号公報、特開平10-062710号
公報、特開平9-063943号公報に示されている。
【0008】 特開平10-303123号公報より、水銀ランプを用いた248nmより大きい波長用
の照明光学系が知られている。この照明光学系においては、オプティカルインテ
グレータの前に、予め設定された光量を上記オプティカルインテグレータに導入
する走査式の絞りが設けられ、これにより、絞り面に所定の照度分布が得られる
ようになっている。
【0009】 米国特許第5379090号明細書には、同様に、水銀ランプを用いた248nmよ
り大きい波長用の照明光学系が示されている。米国特許第5379090号明細書によ
るこの光学系は、二次光源の大きさを設定する可変、ないしズーム光学系を有し
ている。加えて、照明すべきマスク上に照度分布を形成するための絞りが用いら
れている。
【0010】 米国特許第5363170号明細書より、水銀ランプを用いた248nmより大きい
波長用の、さらに他の照明光学系が知られている。米国特許第5363170号明細書
によるこの光学系は、可変、ないしズーム光学系を用いて可変に照明されるオプ
ティカルインテグレータを備えており、これにより、二次光源が、したがってレ
チクル面における照明が変更されるようになっている。
【0011】 独国特許第19716794号公開公報には、オプティカルインテグレータと光線を形
成するための光学系とを備え、248nmより大きい波長用に形成された、近い
タイプのマイクロリソグラフィーに用いられる装置が示されている。光線を形成
するためのこの光学系は、オプティカルインテグレータの前に設けられており、
楕円形状の開口に合った楕円形の断面形状を形成するのに用いられている。
【0012】 米国特許第5305054号明細書には、オプティカルインテグレータを用いた24
8nmより大きい波長用のさらに他の照明光学系が示されている。米国特許第53
05054号明細書によるこの光学系には、オプティカルインテグレータの前に、四
重極状の照明を形成する四つの光束に光線を分けるための手段が設けられている
【0013】 従来技術による248nmより大きい波長用のこれらの光学系は全て、専ら反
射型の光学素子を用いており、とくに、これらの光学系より周知となった、オプ
ティカルインテグレータの屈折型のハニカム状集光器を有していることにその特
徴を有している。
【0014】 米国特許第5896438号明細書より、アンジュレータ光源を用いたEUV照明光
学系が知られている。この光学系の場合、走査式の反射鏡を用いて、反射型の格
子素子を有するオプティカルインテグレータを照明できるように構成されている
。米国特許第5896438号明細書より知られているこのオプティカルインテグレー
タの反射型の格子素子は、小さいハニカム・アスペクト比を有した矩形状に形成
されている。この照明装置における走査式の反射鏡は、EUV光線の角度スキャ
ンによって干渉性を高める役割を担っている。走査式の反射鏡を入れることで、
マスクの照明、つまり、レチクルの照明の質がどの程度まで影響を受けるかは、
米国特許第5896438号明細書からは明らかでない。
【0015】 米国特許第5896438号明細書の開示内容は、本願の開示内容に包括的に取り入
れられている。
【0016】 その後公開された文献、国際公開第99/57732号パンフレットより、複数の格子
素子を有する反射鏡を備えたEUV照明光学系が知られている。この光学系は、
予め定められた照度分布を射出瞳に形成するための手段を有している。
【0017】 従来技術によるEUV光学系において欠点であったのは、照明されたハニカム
の数や混合が少なすぎたために、マスクを有した絞り面での照度分布の制御が相
当の光量の損失を伴うものであったり、あるいは、物面すなわちレチクル面で予
め決めておくことのできる一様性(Uniformity)が得られなかったりしたことで
あった。
【0018】
【発明が解決しようとする課題】
本発明の課題は、上述した従来技術の欠点を解消することのできるEUV照明
光学系を提供することにある。とりわけ、任意のVUV、およびEUV光源に対
して、物面ないしレチクル面の均一な照明を行ないながら、同時に照明光学系の
射出瞳における照度分布を制御することができる光学系を提供することが求めら
れる。
【0019】
【課題を解決するための手段】
本発明の第一の実施形態においては、予め決められた照明分布を射出瞳に形成
する手段によって、或る数の格子素子が照明され、これにより、予め決められた
或る一様性(Uniformity)が物面で得られるようにEUV照明光学系が構成され
る。
【0020】 本発明の他の実施形態においては、物面に対して共役な面を有する照明光学系
が、物面に対する前記共役面、もしくはその近くに、予め決められた或る照度分
布を形成するための手段を備えて構成される。
【0021】 EUV照明光学系用の光源として、現在検討が進められているのは、 レーザープラズマ光源 ピンチプラズマ光源 シンクロトロン放射光源 である。
【0022】 レーザープラズマ光源の場合、強力なレーザー光線が標的(固体、ガスジェッ
ト、液滴)に集光される。この活性化によって標的は強く熱せられ、プラズマが
発生する。これにより、EUV光線が放射される。
【0023】 典型的なレーザープラズマ光源は、球状の放射を有している。つまり4πの放
射角領域および50μm〜200μmの直径を有している。
【0024】 ピンチプラズマ光源の場合、電気的な活性化によってプラズマが形成される。
【0025】 ピンチプラズマ光源は、4πで放射を行なう体積放射体(φ=1.00mm)
とでも表現でき、このとき、放射特性は、光源の形状によって与えられる。
【0026】 シンクロトロン放射光源の場合、現在、光源は三種類に分けられる。 − 偏向電磁石 − ウィグラー − アンジュレータ
【0027】 偏向電磁石による光源の場合は、偏向電磁石によって電子が偏向され、光子ビ
ームが放射される。
【0028】 ウィグラーによる光源は、電子、というより電子ビームを偏向するために、い
わゆるウィグラーを備えている。このウィグラーは、互いに隣接して並べられた
、磁極が交互に変えられる複数の磁石の対を有している。電子がウィグラーの中
を通過すると、電子が或る周期的な垂直方向の磁場にさらされることになり、こ
れに対応して電子が水平面内を振動する。ウィグラーは、さらに、干渉効果が現
れないという特徴を有している。ウィグラーによって生成されたシンクロトロン
放射光は、偏向電磁石によるものと似ており、水平面内の或る立体角の中に放射
される。この放射光は、偏向電磁石と異なり、ウィグラーの磁極の数だけ強めら
れた光束を有している。
【0029】 ウィグラー光源からアンジュレーター光源への移行はスムーズであり、その移
り変わりは定かでない。
【0030】 アンジュレータ光源の場合、アンジュレーター内の電子は、ウィグラーの場合
よりも弱い偏向磁極の磁場と、より短い周期を持った磁場とにさらされる。これ
により、シンクロトロン放射光の干渉効果が現れる。この干渉効果によって、シ
ンクロトロン放射光は、不連続で離散的なスペクトルを有しており、垂直方向と
同様、水平方向においても小さい立体角要素の中に放射が行なわれる。つまり、
強い指向性を有している。
【0031】 EUV照明光学系の原理的な構成に関しては、系属中の出願である、発明の名
称が「Beleuchtungssystem, insbesondere fuer die EUV-Lithographie」である
1999年3月2日に提出された欧州特許出願第99106348.8号明細書、発明の名
称が「Illumination system particularly for EUV-Lithography」である199
9年5月4日に提出された米国特許出願第09/305017号明細書、ならびに、発明
の名称が「Beleuchtungssystem, insbesondere fuer die EUV-Lithographie」で
ある1999年5月4日に提出された国際公開第99/57732号パンフレットに出願
人により示されており、これらの開示内容は、本願に包括的に取り入れられてい
る。
【0032】 本発明の好ましい一実施形態においては、照度分布を形成するための手段は、
例えば米国特許第5896438号明細書の場合のように、走査式の反射鏡を備えてい
る。このような走査式の反射鏡は、操作制御可能とされていることが望ましい。
走査式の反射鏡を用いることにより、照明分布を損失無く制御するという長所が
得られる。とりわけ、例えば、アンジュレーター光源といった小さなスループッ
トを有する光源の場合に走査式の反射鏡を用いることが相応しく、このとき、走
査式の反射鏡は、この種の光学系でスループットを向上させるために使用される
【0033】 光源と物面との間に物面に対する共役面が無いような光学系の場合、走査の動
きを上手く制御することによって、それに応じて、二次光源を生成する格子素子
を持つ反射鏡を照明することができる。走査式の反射鏡とは別に、格子素子を有
した反射鏡の前にズーム効果を有する光学系が設けられるように構成してもよい
。このような光学系を用いると、像面、ここでは格子素子を有した反射鏡の面と
された面を一定にしながら、個々の光学素子をずらすことで、焦点距離を可変に
して照明することができる。
【0034】 本発明のさらなる望ましい実施形態においては、物面に対する共役面を持たな
いような光学系に対し、予め決められた大きさの照明分布を形成するため、例え
ば発散型の反射鏡および集光レンズといった正及び/又は負の屈折力の複数の光
学素子からなる集光ユニット全体が交換されるように構成される。
【0035】 したがって、例えば、フィールドハニカムプレートとして形成可能な格子素子
を有する反射鏡上に、より大きな、あるいは、より小さな円を照明することが可
能になる。
【0036】 物面に対する共役面を有している光学系に対しても、また、有していない光学
系に対しても、そのどちらの光学系に対しても、予め決められた照度分布を形成
する手段は、本発明のさらなる実施形態において、変形自在な表面を有した反射
鏡ないしレンズを備えている。
【0037】 変形自在の表面を有する反射鏡は、例えば、特開平5100097号公報、または米
国特許第5825844号明細書より知られている。上述の文献の開示内容は、本願に
包括的に取り入れられている。
【0038】 特開平5100097号公報において、表面の変形は、圧電素子を用いて引き起こさ
れる。ここで、反射鏡の裏面側には、複数のマニュピレータが設けられている。
米国特許第5825844号明細書より、圧電素子を用いて変形を起こさせる他に、電
磁気的に起こさせることも知られている。
【0039】 射出瞳に予め決められた照度分布を形成するための変形自在な反射鏡は、例え
ば、集光ユニット内に設けられてもよい。そして、中間像を有する、つまり、物
面ないしレチクル面に対する共役面を有する照明光学系の場合、変形可能な反射
鏡は、この面に設けることができる。
【0040】 射出瞳内における照度分布を得るには、いくつもの実現の仕方が存在する。本
発明の第一の実施形態においては、射出瞳は、円形状に照明される。円形の照明
に代わり、輪環形状の照明、あるいは四重極形状の照明を行うこともできる。
【0041】 大きいアスペクト比をフィールドが有するような光学系の場合、フィールドの
照明の一様性(Uniformity)を確実なものとするために、好ましくは、二次光源
を生成するための反射鏡もしくはレンズの格子素子は、フィールドよりも小さな
アスペクト比を有するフィールドハニカムを有し、そして、例えば、円柱形状及
び/又はトロイド形状に形成されている。これにより、不完全に照明されるフィ
ールドハニカムの数が減少する。このような光学系の作用に関しては、系属中の
出願で、発明の名称が「Komponenten mit anamorphotischer Wirkung zur Reduz
ierung des Waben-Aspektverhaeltnisses bei EUV-Beleuchtungssystemen」とさ
れた1999年7月9日に出願された独国特許出願第19931848.4号明細書に示さ
れており、この開示内容は、包括的に本願に取り入れられている。
【0042】 本発明により、装置を用いて得ることのできる照度分布の一様性は、物面ない
しレチクル面内の予め与えられたフィールドの内部で、10%未満、好ましくは
5%未満とされ、特に好ましくは1%未満とされる。ステッパーシステムの場合
、予め与えられたフィールドの内部での照度分布の一様性が考慮されるのに対し
、スキャナーシステムの場合、各フィールド点に対する走査エネルギーの一様性
が走査方向に対して垂直な方向で得られなければならない。
【0043】 上記照明光学系に加えて、本発明は、斯かる照明光学系を備えたEUV投影装
置、ならびに、マイクロエレクトロニクスの構成部材を製造する方法をも提供す
る。
【0044】
【発明の実施の形態】
以下、本発明を実施形態に基づき詳述する。
【0045】 図1Aおよび図1Bに、本実施形態ではアンジュレータとして形成されている
シンクロトロン放射光を用いたEUV照明光学系の原理的な構成を本発明を限定
することなく一例として示す。
【0046】 アンジュレータ光源は、予め決められた波長のスペクトルが放射される特徴的
な平面において、100mrad未満、好ましくは50mrad未満の光線発散
角を有している。この光源は、広がりを持つ光源であるため、第1の反射鏡ない
しレンズの複数の格子素子が正しくレチクル面に結像するように、複数の格子素
子を有する第2の反射鏡ないし第2のレンズを二次光源の位置に設ける必要があ
り得る。第1の反射鏡ないし第1のレンズの格子素子は、フィールドハニカムと
称され、第2の反射鏡ないし第2のレンズは、瞳ハニカムと称される。
【0047】 図1Aおよび図1Bには、光学系を原理的に説明するために屈折型の光学系の
表現を用いて、一つのEUV照明光学系が示されている。放射光源1から放射さ
れる光線の放射の拡がりは、本図では発散レンズ3、すなわち発散型の反射鏡を
用いて得られるものであるが、これに限定されるものではない。
【0048】 照明光学系の構成に関しては、系属中の出願である、発明の名称が「Beleucht
ungssystem, insbesondere fuer die EUV-Lithographie」である1999年3月
2日に提出された欧州特許出願第99106348.8号明細書、発明の名称が「Illumina
tion system particularly for EUV-Lithography」である1999年5月4日に
提出された米国特許出願第09/305017号明細書、ならびに、発明の名称が「Beleu
chtungssystem, insbesondere fuer die EUV-Lithographie」である1999年
5月4日に提出された国際公開第99/57732号パンフレットに出願人により示され
ており、これらの開示内容は、本願に包括的に取り入れられている。
【0049】 二次光源12を形成するための集光作用は、発散レンズ、つまり発散反射鏡3
の下流側に配置された集光反射鏡、つまり集光レンズ5によって得られる。放射
光を広げるための手段と、集光作用を有する反射鏡ないしレンズとは、いわゆる
集光ユニット、すなわち集光光学系7を形成している。複数の格子素子を有する
反射鏡を用いない場合、集光反射鏡5によって、光源1は、照明光学系の像面9
に向け、図1Aに示す如く二次光源12に結像されるであろう。複数の格子素子
10を有する反射鏡、つまり切り子面反射鏡を用いる場合、二次光源12は、複
数の二次光源14へと分解され、これにより、図1Bに示す如く、絞り面16に
複数の二次光源14が生成されるようになる。格子素子10は、このとき集光作
用を有するものとされている。以下、第1の反射鏡の複数の格子素子10をフィ
ールドハニカムと称する。
【0050】 図1Aおよび図1Bにおいて屈折型の光学系として表された照明光学系が、例
えばEUV光線用に構成される場合、しかして、照明光学系は、13nmの放射
光に合わせて反射型の、しかも、高い反射損失のゆえにできるだけ反射の小さい
ものに置き換えられなければならない。
【0051】 13nmの放射光における集光ユニットは、アンジュレータ光源用に、放射光
を広げる第1の斜入射形の反射鏡もしくは走査式反射鏡と、放射光を再び集光さ
せるように作用する第2の直入射形の反射鏡とから構成されている。走査式反射
鏡の長所は、これにより照明の大きさを変えることができるところにある。
【0052】 13nmの波長の場合に好適な構成を得るには、より高い反射率を鑑みて、斜
入射形反射鏡(R≒80%)の方が直入射形反射鏡(R≒65%)よりも好まし
い。
【0053】 光源は、水平方向に光を放射するのが好ましい。
【0054】 格子素子を有する反射鏡の下流側に配置されるいくつかの光学素子は、本願で
は投影光学系の射出瞳に一致している照明光学系の入射瞳に、照明光学系の絞り
面を結像させ、さらに、リングフィールドを形成するのに用いられている。従っ
て、これらの光学素子は、要求に応じて照明分布を形成するのに用いられている
【0055】 ステッパーシステムの場合には、予め与えられたフィールドの内部での強度分
布の一様性(Uniformity)は、10%未満、好ましくは5%未満、特に好ましく
は1%未満であることが要求される。
【0056】 強度分布E(x,y)の一様性(Uniformity)に対して以下の式が成り立つ。
【数1】 ここで、Emax は、与えられたフィールド内での最大強度、そして、Emin は最
小強度である。
【0057】 スキャナーシステムの場合には、走査エネルギーの一様性(Uniformity)は、
10%未満、好ましくは5%未満、特に好ましくは1%未満であることが要求さ
れる。 走査エネルギーSE(x)は、線積分として与えられ、
【数2】 となる。ここで、E(x,y)は、x−y平面における強度分布であり、線積分
は、例えばy方向にとられた走査方向に沿って行なわれる。ウェハ上の各点は、
そのx座標に応じて走査エネルギーSE(x)を有している。
【0058】 走査エネルギーの一様性(Uniformity)に対して以下の式が成り立つ。
【数3】 ここで、走査の道筋をたどった走査エネルギーの最大値をSEmax 、最小値をS
minと呼ぶ。
【0059】 図2Aには、本実施形態ではアンジュレータとされたシンクロトロン放射光源
を有する13nmの放射光用の照明光学系が概略的に示されている。
【0060】 この光学系は、光束を広げる斜入射形のトロイド型反射鏡として形成された集
光反射鏡30と、格子素子を有する反射鏡34を照明する直入射形の集光反射鏡
32とを有してなる。
【0061】 フィールド反射鏡36,38は、斜入射形のフィールド反射鏡として形成され
ている。これらの反射鏡は、レチクル面39にフィールドを形成し、射出瞳に絞
り面を結像させる。
【0062】 図2Bには、図2Aに示されたものと同じ構成が示されているが、ただし、反
射鏡30は、複数の格子素子、すなわちフィールドハニカムを有する反射鏡34
の照明を変更するための走査式反射鏡として構成されている。
【0063】 図2Cおよび図2Dには、中間像が形成されない場合の、図1Aないし図1B
に示された照明光学系が概略的に示されており、この照明光学系においては、例
えばアンジュレータ光源といったシンクロトロン放射光源から来る光線を広げる
集光反射鏡30は、変形自在の表面を有した反射鏡とされている。
【0064】 これにより、集光反射鏡32上の照明、およびフィールドハニカムを有する反
射鏡34上の照明を制御することができる。以下に、アンジュレータ光源を有す
る照明光学系に関して照明分布を変更することを具体的に述べておく必要がある
。アンジュレータ光源は、水平方向に±1mradの発散、垂直方向に±0.3
mradの発散を有して光を放射する。5000mm隔てた位置に、集光反射鏡
30が存在している。集光反射鏡30は、80°の傾き角を有している。300
0mm下流側に、傾き角5°を有した集光反射鏡32が置かれている。フィール
ドハニカムプレート、すなわち、フィールドハニカムを有する反射鏡34は、こ
の集光反射鏡32から650mm隔てた位置に存在している。下流側の光学系の
入射瞳を完全に満たすには、つまりσ=1.0とするには、このフィールドハニ
カムプレート34が直径にして64mmまで照明されている必要がある。図2C
における状態がこれに対応している。
【0065】 σ=1.0となる完全な充填を達成するには、上述した照明光学系の場合、以
下に示されるような半径を有するトーラス状の集光反射鏡30,32が必要とな
る。
【表1】
【0066】 例えば、σ=0.3の充填度を得るには、照明される直径を19.2mmに減
らさなければならない。図2Dにおける状態がこれに対応している。このとき、
相応しいマニュピレータによって、集光反射鏡30の半径を以下のように変える
必要がある。
【表2】 集光反射鏡30の半径が変更されるのに対し、集光反射鏡32の半径は一定のま
まである。
【0067】 集光反射鏡30が変形自在な表面を有する反射鏡として構成されていると、上
に挙げられた半径の範囲内で表面を変形させることによって、σ=0.3からσ
=1.0までの間の任意の充填度を個々に設定することができる。このとき、表
面は、純粋なトーラス状の面に限定されない。円錐状の、あるいは高次の非球面
状の表面を採用することによって、結像特性を変更することが可能である。
【0068】 このような変形は、例えば、反射鏡の裏面側に設けられた複数のマニュピレー
タを用いることによって可能となる。これらのマニュピレータは、いくつかの圧
電素子、及び/又は電磁気的に動作させるための素子を有している。
【0069】 集光反射鏡30を交換するといったことも一例として可能である。交換式の光
学系を用いることにより、σ=0.3からσ=1.0までの間の任意の充填度を
個々に設定することができる。単に集光反射鏡30だけを交換することで、射出
瞳の照明をこれに伴って変更することができる。
【0070】 さらに他の実施形態が図2Eに概略的に示されている。機能的な点から見て、
図2Cおよび図2D示されたものと同様の部材には、同じ符号が付されている。
アンジュレータ光源1の光は、発散型の集光反射鏡30によって広げられる。こ
の広げられた光束370によって、集光反射鏡30の下流側に挿入された複数の
格子素子を有する反射鏡310が照明される。それゆえ、フィールドハニカムを
有する反射鏡34以外に、複数の格子素子を有するさらなる反射鏡310が設け
られている。この反射鏡310の複数の格子素子によって、入射する光束360
が個々の光束370に分解され、このとき、図2Eには、一例として、個々の格
子素子のうち一つの格子素子に対する一本の光束370のみが示されている。個
々の光束370は、凹型の集光反射鏡302によって、フィールドハニカムを有
する反射鏡34上に重ねられる。これにより、フィールドハニカムを有する反射
鏡34を極めて均一に照明することができる。図2Eに示す構成では、フィール
ドハニカムを有する反射鏡34は、このとき完全に照明されている。格子素子を
有する付加的な反射鏡310を用いることによって、フィールドハニカムを有す
る反射鏡34上に入射する光線が、反射鏡310を用いない場合に比べてより大
きな発散を有するようになるため、フィールドハニカムを有する反射鏡34の下
流側には、さらに複数の格子素子を有する反射鏡350が挿入されている。この
反射鏡350は、フィールドハニカムによって生成される二次光源の位置に設け
られている。瞳ハニカムと称される反射鏡350の複数の格子素子は、フィール
ドハニカムをレチクル面39に結像させる。光束370は、レチクル39で反射
され、照明光学系の射出瞳390まで図示されている。この射出瞳は、同時に下
流側に位置する投影光学系の入射瞳でもある。なお、投影光学系は、図2Eには
図示されていない。レチクル39における照明開口、つまり射出瞳390の照明
は、この場合、フィールドハニカムを有する反射鏡34の照明に直接依存してい
る。
【0071】 フィールドハニカムを有する反射鏡34の照明は、他方では、格子素子を有す
る反射鏡310によって行なわれる。この反射鏡310が、射出瞳390の照明
を可変とするために交換可能とされている。反射鏡310は、手動で、ターレッ
ト上で、あるいは、ロボットアームを用いて交換することができる。かくして、
光学素子を個々に交換することによって、射出瞳390における照明を変更する
ことが可能となる。図2Fでは、反射鏡310とは異なる複数の格子素子を有す
る反射鏡320が挿入されている。この反射鏡320は、フィールドハニカムを
有する反射鏡34を部分的にのみ照明する。このとき、レチクル39における開
口もまた、図2Eの場合と比べて減少し、射出瞳390の照明の大きさも減少す
る。
【0072】 格子素子を有する反射鏡310および反射鏡320の作用について、図2Gお
よび図2Hを参照しながらさらに詳細に説明する。図2Gおよび図2Hは、図2
Eおよび図2Fの照明光学系の一部を示す。ここで、符号は同一のものを用いた
。図2Gにおいて、光束360は、格子素子312を有する反射鏡310に入射
され、この反射鏡310を全て完全に照明する。格子素子312は、図2Gの実
施形態においては凹型に形成されている。個々の格子素子によって、焦点372
の位置に光源1の像、つまり二次光源が形成される。この焦点を過ぎると光束は
、再びコンデンサー反射鏡302に向かって発散する。コンデンサー反射鏡30
2によって、フィールドハニカムを有する反射鏡34上に格子素子312が結像
され、格子素子312の個々の像が重ね合わせられる。このとき、個々の格子素
子312は、フィールドハニカムを有する反射鏡34の照明される面全体に結像
される。フィールドハニカムを有する反射鏡34上における照明の形状は、この
とき、格子素子312の外形状に対応している。
【0073】 図2Hは、格子素子312を有する反射鏡310が、格子素子322を有する
反射鏡320によって置き換えられたものである。格子素子312および格子素
子322の焦点距離が同じとする一方、格子素子の大きさを小さくした。したが
って、反射鏡320は、反射鏡310よりも多くの格子素子を有している。この
ように格子素子の大きさが小さくされることによって、フィールドハニカムを有
する反射鏡34上で照明される面積が減少する。
【0074】 格子素子312および格子素子322は、凸型に形成することもできる。この
場合、二次光源372および二次光源382は虚像となる。凹型ないし凸型の表
面を有する格子素子以外にも、回折型の格子素子を用いることもできる。ジグザ
グの光路になるような構成となっているので、個々の格子素子312および格子
素子322、同様にコンデンサー反射鏡302は、例えばトーラス状の表面の形
を有して、非点収差を補正するアナモルフィックな作用を有していてもよい。
【0075】 格子素子312および格子素子322によってすでに二次光源が形成されるの
で、反射鏡34のフィールドハニカムによって形成された二次光源は、厳密に言
えば三次光源である。反射鏡310や反射鏡320無しで形成された二次光源は
、照明された格子素子312および格子素子322の数に応じて、同じ数の三次
光源に分解される。以下では、三次光源の場合も、二次光源と呼ぶことにする。
というのも、これらが光源の像を表しているからである。
【0076】 反射鏡310および反射鏡320の格子素子312および格子素子322は、
反射鏡310および反射鏡320上で個々に傾けられて配設されていてもよい。
これが必要となるのは、入射する光束360が、反射鏡310や反射鏡320に
平行な光束としてではなく入射する場合である。コンデンサー反射鏡302の前
側の焦点が、二次光源372の位置に存在するとき、光束370は、平行光束と
してフィールドハニカムを有する反射鏡34に入射する。コンデンサー反射鏡3
02の後ろ側の焦点が、フィールドハニカムを有する反射鏡34の位置に存在す
るとき、格子素子312の像は、正しく重ね合わされる。
【0077】 光束370は、必ずしも平行光束としてフィールドハニカムを有する反射鏡3
4上に入射される必要はない。コンデンサー反射鏡302の光学的な作用は、光
束370がフィールドハニカムを有する反射鏡34上に集束されて入射されるよ
うに設けられていてもよい。これにより、フィールドハニカムを有する反射鏡3
4とレチクル面39との間にコンデンサーレンズを用いずとも、レチクル面39
においてフィールドハニカムの像を重ね合わせるということが可能になる。これ
とは別に、個々のフィールドハニカムをそれぞれ傾けて配置させることも可能で
ある。
【0078】 図2Iおよび図2Kに、格子素子312および格子素子322を有する反射鏡
310および反射鏡320を正面および側面から見た様子を示す。反射鏡310
および反射鏡320の外形状は、光束360による照明に合わせられている。格
子素子312および格子素子322の外形状は、六角形に選択されている。格子
素子312および格子素子322は、同じ極率半径R0を有しており、したがっ
て同じ焦点距離を有している。しかしながら、格子素子322の外形状の大きさ
D2は、格子素子312の外形状の大きさD1より小さいものとなっている。格
子素子312および格子素子322の個々の外形状によって、フィールドハニカ
ムを有する反射鏡34上での照明が決定されるため、反射鏡34もまた六角形に
照明されるものの、格子素子312および格子素子322の大きさD1およびD
2に応じて異なる大きさで照明される。六角形の形状は、一方では、格子素子3
12および格子素子322をできるだけ密に詰めるようにするため、他方では、
フィールドハニカムを有する反射鏡34の照明をできるだけ丸く形成するために
選択されたものである。丸い照明のためには、丸い格子素子312および格子素
子322が理想的であろうが、これらは継ぎ目無く隣り合わせに並べることがで
きない。フィールドハニカムを有する反射鏡34の照明は、射出瞳390の照明
にも移されるが、射出瞳の照明は、もはやつながったものではなく、そのかわり
、フィールドハニカムを有する反射鏡34に形成された切り子面によって離散化
されている。とはいうものの、照明の外形は、依然として六角形のままである。
絞り面における遮蔽装置によって、六角形の照明の外形状を丸く切り取ることが
可能である。
【0079】 格子素子を有する反射鏡310を交換することによって、レチクル39上の構
造に応じて、射出瞳の照明を適合させることができる。異なる大きさの略丸い照
明以外に、特殊なレチクルの構造に対しては、レチクルを四つの異なる方向から
照明すると都合が良い。このいわゆる四重極照明によって、射出瞳390におい
て、四つの互いに離間した照明領域が得られることになる。このとき、この照明
される領域は、フィールドハニカムを有する反射鏡34に形成された切り子面の
ゆえに、離散的に照明される。四重極照明は、図2Mおよび図2Nに示されてい
るように、格子素子332,334,336および338を有する反射鏡330
を用いて得ることができる。この反射鏡330の作用を図2Mに基づいて説明す
る。図2Mには、四つの個々の格子素子332,334,336および338が
示されている。これらの格子素子332,334,336および338は、それ
ぞれ、或る凹面ないし凸面の軸外の部分をそれぞれ有している。正方形状の周縁
線331を有し、かつ回転対称の光学的作用を有するひとつながりの格子素子を
用いれば、フィールドハニカムを有する反射鏡34が正方形状に照明されること
になろう。この正方形状の格子素子から、四つの軸外の台形状の部分332,3
34,336および338を用いると、フィールドハニカムを有する反射鏡34
は、四つの台形によって照明されることになる。この台形状の格子素子332,
334,336および338は、反射鏡330上に任意に配設することができる
。こういった台形が適しているのは、図2Nに示されるように、格子素子を反射
鏡330上に密に詰めることができるためである。このとき、斜めのエッジの間
に位置している直線に沿って格子素子を部分334と部分338とに分けること
が必要であり、そして、これらの分けられた格子素子を、分けられていない格子
素子とともに表面を覆う配置に組み立てることが要求される。無論、台形状の格
子素子以外にも長方形状の格子素子も可能である。
【0080】 ジグザグの光路になるような構成となっているので、非点収差を少なくするの
に、格子素子のアナモルフィックな作用以外にも、その外形状を歪めることが都
合が良い可能性がある。格子素子を有する反射鏡310,320および330の
面にx−y座標系を引き、反射鏡310,320および330をx軸周りに傾け
ると、格子素子の形状は、y軸方向に引き離されたものになり、x方向における
格子素子の曲率半径は、量的にはy方向における曲率半径より小さいものになる
はずである。
【0081】 図2Oには、中間像Zを有する照明光学系が示されている。このとき、中間像
Zは、物面、つまりレチクル面に対して共役な面に存在している。図2Cおよび
図2Dに示されるものと同様の部材には、同じ符号を付す。このような光学系の
場合には、照明光学系の射出瞳における照明分布を変更するために、中間像Zに
、あるいは、これより焦点をずらした位置に、付加的な反射鏡200を配置する
ことが出来る。
【0082】 この光学系におけるレチクル面は、この付加的な反射鏡200に対して共役な
位置に存在しているため、レチクル面におけるフィールドの分布が略影響を受け
ないままであるのに対して、レチクル面における角度分布は、この反射鏡200
によって左右されうることになる。
【0083】 射出瞳における強度分布を変化させることを目的として、中間像Zを有する光
学系においては、フィールドハニカムを有する反射鏡34ないしは瞳ハニカムを
有する反射鏡の下流側の一時的な中間像Zの位置に、付加的な反射鏡200が設
けられる。反射鏡200の位置は、格子素子を有する反射鏡のフィールドハニカ
ム34の像が重なる平面内にある。この付加的な反射鏡200の下流側に、一つ
ないし二つのさらに付加的な反射鏡202が設けられ、これらの反射鏡によって
中間像Zがレチクル面に結像される。図示された例では、この目的のために、直
入射形の反射鏡202が設けられている。
【0084】 さらなる付加的な反射鏡202に後続するフィールド反射鏡36,38は、リ
ングフィールドを形成し、照明光学系の射出瞳を下流側の光学系の入射瞳に結像
させ、さらに、照度分布を制御する役割を担っている。
【0085】 付加的な反射鏡200は、例えば、フィールドハニカムを有する反射鏡34と
は別の、格子素子を有する付加的な反射鏡として形成することができる。このと
き、単体ハニカムと称されるこの付加的な反射鏡の格子素子は、集光型ないし発
散型の反射鏡としてか、あるいは、相応の回折型の素子として形成されている。
単体ハニカム201は、例えば密に詰められた六角形状に設けることができる。
このような構成が、図2Pに示されている。入射する光束は、複数の単体ハニカ
ムによって変換され、図2Qに示されるように、個々の単体ハニカム201から
予め定められた開口の光束203が射出されるようになっている。単体ハニカム
の大きさは、レチクル面での一様性に対する要求を満たすことができるように、
できるだけ小さく選ばれていなければならない。ハニカムの典型的な大きさは、
10μm程度である。レチクル面の強度分布に単体ハニカムによる離散化が現れ
ないようにするには、例えば、格子素子を有する付加的な反射鏡を、中間像に対
して焦点からずらすようにして設けるといったことが可能である。個々の単体ハ
ニカムの作用次第で、照明光学系の射出瞳の照明を変更することができる。 素子を交換することによって、充填度は、例えば、σ=0.2からσ=1.0ま
で変えることができる。
【0086】 図2I、図2K、および図2Nに示された格子素子の配置は、格子素子を有す
る付加的な反射鏡200にも同様に用いることができる。このとき、個々の格子
素子の焦点距離は、相応に適合させられたものである必要がある。
【0087】 これとは別に、付加的な反射鏡200を変形自在の反射鏡として形成してもよ
い。
【0088】 一般に、レチクル面に対する共役面での反射鏡表面の変形は、異なる二種類の
ものに区別することができる。 − 小さい空間周波数を有する静的な変形。これにより、レチクル面における
重心にある光線の角度分布が変更されることになる。この効果は、例えば、テレ
セントリック性の補正に利用することができる。 − 非常に大きい空間周波数を有する動的な変形。これにより、開口の分布が
、平均して一定となる重心にある光線の付近で変えられることになり、したがっ
て、照明光学系の射出瞳の照明に所望の変更が加えられることになる。照明分布
を制御するためのこのような動的な変形は、露光時間や走査速度に対して極めて
早いものでなければならない。
【0089】 非常に大きい空間周波数を有する動的な変形は、例えば、照明光学系の射出瞳
における照明分布を均一にするのに用いることができる。図7から図13に示す
ように、射出瞳内の二次光源の像の間には、照明されない領域が存在している。
付加的な変形自在の反射鏡200の表面を振動させることによって、静的な場合
では照明されない領域が、時間的に平均して見れば、同じ様に照明され得るよう
になる。
【0090】 絞り面での二次光源の均等な分布を得るため、図3に示すように、個々の格子
素子を有する切り子面の列40を、互いにずらして反射鏡34上に配設した。図
3中の円41は、EUV光源1による格子素子を有する反射鏡の照明を表してい
る。格子素子42のアスペクト比は、図示された場合では、17.5:1となっ
ている。
【0091】 フィールドハニカムとも以下に称される格子素子42は、照明光学系の絞り面
に二次光源を形成し、この二次光源の分布が反射鏡上の格子素子の配分の仕方に
よって与えられている。
【0092】 図4Aには、図3に示すような格子素子を有する反射鏡を用いた場合に、絞り
面に得られる二次光源44の分布が示されている。
【0093】 絞り面における影の付けられた面46は、下流側に配置される光学系に取り入
れられ得る、絞りの最大限の照明を表している。ここで、下流側に配置される光
学系の入射瞳は、本願では、照明光学系の射出瞳に一致している。
【0094】 典型的には、EUV照明光学系のウェハ側の開口は、NAウェハ=0.1の値
を有する。これは、レチクル面における光学系の横倍率がβ=−0.25である
ことに対応する。ここで、レチクル面の開口は、NAレチクル=0.025、つ
まり本実施形態に係る光学系の場合には、フィールドハニカムを有する反射鏡上
での直径は、64mmである。
【0095】 以下に、EUV照明光学系のさらに他の例を説明する。
【0096】 以下に説明する構成が前提としているウィグラー光源は、水平方向に33mr
adの開口、垂直方向に2mradの開口を有している。光源の長さは2mであ
る。
【0097】 ウィグラー光源のためのこの照明光学系は、二重に切り子面を設けること、つ
まり、格子素子を有する二つの反射鏡を前提としており、これは、一つには、大
きなアスペクト比を有する光源からの放射を取り入れるため、また、一つには、
円形の瞳を満たすためである。このような光学系は、原理的な構成において図4
Dに概略的に示されている。以下に用いられる符号は、この図に基づいている。
【0098】 放射光は、斜入射形の集光反射鏡30によって受け入れられ、略平行な光束に
変換される。後続のフィールドハニカムプレート34、および瞳ハニカムプレー
ト37は、直入射形の反射鏡として用いられている。フィールドハニカムは、照
明される矩形の面を最適に覆うように配分されている。個々のフィールドハニカ
ムは、照明光学系の絞りの中の放射状のグリッド上に配設された瞳ハニカムの一
つに対応させられている。瞳ハニカムの配置は、フィールドレンズ36,38の
収差が抑えられるように修正される。フィールドハニカム、および瞳ハニカムを
傾けることによって、物面、すなわちレチクル面39内のフィールドハニカムの
像が重ね合わせられる。この照明光学系は、二つの斜入射形のフィールド反射鏡
36,38を用いて、下流側の投影光学系に合わせられる。
【0099】 フィールドハニカムプレート34、および瞳ハニカムプレート37は、この光
学系においては、個々に傾けられた、しかも、フィールドハニカムの場合には、
大きなアスペクト比を有した集光型のハニカムから構成されている。
【0100】 照明光学系は、レチクル面における以下のようなフィールドに対して構成され
ている。 − r=104mm、かつΔr=±4.0mmで60°のセグメント =>
x−y−アスペクト比は108.9mm/8mm=13.6/1 − レチクル面での開口NAレチクル=0.05 − 瞳ハニカムプレートとレチクルとの間の長さ:L=1000mm − フィールドハニカムの数は、走査エネルギーに対する要求を満たすことが
できるように設定
【0101】 集光ユニット30は、大きさA=160mm×40mmのフィールドハニカム
プレート34が照明されるように構成されている。この照明は、全てのフィール
ドハニカムが照らされないように、斜入射形の集光反射鏡30の作用によって円
形状とされている。
【0102】 フィールドハニカムの形状は、矩形に選ばれている。このとき、フィールドハ
ニカムのアスペクト比は、レチクル面における、弧の長さのリングの幅に対する
比に相当する。ハニカムの大きさが20mm×1.2mmである場合に、120
個のフィールドハニカムが照明され、これにより、走査エネルギーの十分な均一
性が得られるようになっている。個々のフィールドハニカムの集光作用は、絞り
面に二次光源が形成されるように設けられている。
【0103】 二次光源の位置には、瞳ハニカムプレート37上の瞳ハニカムが存在し、この
瞳ハニカムによってフィールドハニカムがレチクル面に結像される。絞り面にお
ける瞳ハニカムの位置は、フィールドハニカムに格子を形成することとは無関係
に選ばれている。瞳ハニカムは、照明光学系の射出瞳に或る予め決められた分布
を形成するように配設されている。例えば、瞳ハニカムは、放射状のグリッド上
に配設されている。後続のフィールドレンズ36,38による瞳の収差を抑える
ために、瞳ハニカムは、歪んだグリッド上に設けられていてもよい。
【0104】 個々のフィールドハニカムは、瞳ハニカムの一つに対応させられている。フィ
ールドハニカム、および瞳ハニカムの対応のさせ方は、様々な異なる観点に応じ
て行われる。一つの可能性としては、空間的に隣接するハニカム毎に対応させる
というものである。これにより、偏向角は最小になる。他の可能性としては、瞳
面での強度分布を均一化するというものである。これは、フィールドハニカムの
面において強度分布が或る変動を呈する場合に効果を発揮する。フィールドハニ
カムおよび瞳ハニカムが似通った位置にあれば、この変動は瞳の照明に反映され
る。対応のさせ方を意図的に混ぜ合わせることによって、強度をならしてしまう
ことができる。フィールドハニカムおよび瞳ハニカムを傾けることで、光束が偏
向され、これにより、フィールドハニカムの像がレチクル面で重ね合わされるよ
うになる。
【0105】 フィールドレンズ36,38を用いない場合、レチクル面において、矩形のフ
ィールドが照明される。斜入射形のフィールド反射鏡によって、レチクル面にお
ける照明された環状のセグメントが形成される。さらに、これらのフィールド反
射鏡によって、照明光学系の絞り面が投影光学系の入射瞳に結像され、そして、
走査エネルギーの変化が制御可能となる。
【0106】 照明光学系の射出瞳の照明を制御するために、フィールドハニカム、ないし瞳
ハニカムを選択的に遮蔽、つまり照明しないままにしてもよい。考えられ得るの
は、射出瞳に或る決められた照明が得られるように、瞳ハニカムを予め配設して
おくというものである。例えば、瞳ハニカムの配置によって、射出瞳においてリ
ングが照明される。フィールドハニカムを有する反射鏡の照明を制御したり、あ
るいは、瞳ハニカムを有する反射鏡を遮蔽したりすることによって、四重極照明
への変更を行うことが可能となる。
【0107】 図4B〜図4Mには、ウィグラー光源を有するEUV照明光学系が示されてい
る。図1〜図4Aに示されるものと同じ部材には、同じ符号が付されている。
【0108】 図4Bは、集光反射鏡30をy−z面における断面で概略的に示すものである
。光源は、この集光反射鏡から上流側に1700mm離れた位置に存在している
【0109】 図4Cは、集光反射鏡30をx−z面における断面で概略的に示すものである
【0110】 図4Dには、照明光学系がy−z面における断面で示されている。光源は、図
示されておらず、集光反射鏡30から上流側に1700mm離れた位置に存在し
ている。
【0111】 図には、集光反射鏡30と、フィールドハニカムプレート34とも称される格
子素子を有する第1の反射鏡と、瞳ハニカムプレート37とも称される格子素子
を有する第2の反射鏡と、フィールドレンズ36,38と、そしてレチクル面3
9とが示されている。
【0112】 図4Eは、フィールドハニカムプレート34の概略図である。円弧状の照明も
描かれている。図示しやすくするために、全てのハニカム、つまり格子素子42
は、x−y方向に揃えられている。実際の光学系では、ハニカム42は、それぞ
れのx軸ならびにy軸周りに傾けられ、それぞれの固有のz軸の周りに回転され
ている。
【0113】 図4Fは、瞳ハニカムプレート37の概略図である。瞳ハニカム43は、スポ
ーク上に配設されている。
【0114】 図4Gは、本実施形態におけるフィールドハニカム42の配置の通りに、フィ
ールドハニカム42の位置を点で表して示している。
【0115】 図4Hは、フィールドレンズ36,38が無い場合に、瞳ハニカム43の位置
を表す点がどのようになるかを示しており、また、図4Iは、フィールドレンズ
36,38を用いる場合における瞳ハニカム43の位置を表す点の様子を示すも
のである。瞳ハニカム43の歪んだ配置によって、フィールドレンズ36,38
による瞳の収差が相殺される。
【0116】 図4Kは、図4B〜図4Iに示された光学系を用いた場合に、リングフィール
ドを有するレチクル面39の照明を示している。
【0117】 図4Lには、レチクル面39におけるx=0.0mm、15.0mm、30.
0mm、45.0mmの位置での断面の強度分布が示されている。
【0118】 図4Mには、走査エネルギーの推移が、走査の道筋に沿った強度分布の積分値
として与えられている。
【0119】 本願において投影光学系の入射瞳に一致している射出瞳での照度分布、つまり
照明のセッティング(setting)は、円形の照明の場合、充填因子σによって定
義され、以下の式が成立する。 充填因子:
【数4】
【0120】 変数r照明およびR光学系開口は、図5から知ることができる。変数R光学系 開口 は、光学系の最大の開口における入射瞳の円形照明の直径を与えるものであ
る。変数r照明は、入射瞳の円形照明の直径を与えるものである。六角形の、あ
るいは、連続していない入射瞳の照明の場合には、r照明は、入射瞳内の照明さ
れる面積全体にわたって半径方向に積分することによっても決めることができる
。この場合、充填度σは、以下に環状照明の場合に定義されるコヒーレント因子
σoutに相当するものとなる。定義から、σ=1.0のときには投影光学系の入
射瞳は完全に満たされ、そして、例えばσ=0.6は、満たされていない状態に
対応する。
【0121】 環状の照度分布の場合には、投影光学系の入射瞳は、輪環状に照明される。そ
の記述にあたっては、σout/σinに関する以下の定義を用いることができる。
【数5】 ここで、 I(r)=I(x,y):投影光学系の入射瞳における強度分布 x,y:投影光学系の入射瞳におけるx,y−位置 r:投影光学系の入射瞳における半径方向の位置 NAmax:最大の光学系の開口 R(NAmax):最大の光学系の開口の場合における入射瞳の半径方向の周縁
位置 r(90):内側に全強度の90%が入射するときの円の半径 r(10):内側に全強度の10%が入射するときの円の半径 σout,σin:コヒーレント因子 である。
【0122】 以下にさらに述べられる照明分布は、いわゆる四重極照明であり、例えば「マ
ンハッタン構造」を結像させるためのものである。
【0123】 図6A〜図6Dに示されるように、フィールドハニカムプレートの意図的な照
明41によって、二次光源44の数、したがって、絞りの照明を変更することが
できる。図6A〜図6Dは、格子素子40を有するフィールドハニカムプレート
の照明、ならびに、それに伴って現れる、照明光学系の射出瞳49における二次
光源44の分布を示すものである。ここで、照明光学系の射出瞳49は、同時に
、後方に接続された光学系の入射瞳でもある。
【0124】 フィールドハニカムプレートの照明は、このとき、フィールドハニカムプレー
トの上流側に設けられた遮蔽装置、操作制御可能な走査式反射鏡、交換可能な集
光反射鏡、変形可能な集光反射鏡、あるいは、交換可能とされた付加的な格子素
子付きの反射鏡によって意図的に変更することができる。
【0125】 図6Aは、充填度σ=1.0に対する照明を示す。図6Bには、充填度がσ=
0.6である円形照明が示されている。図6Cは、環状ないし輪環状に調節され
たセッティングを示していて、このとき、
【数6】 である。図6Dには、フィールドハニカムプレートの四重極照明が示されている
【0126】 図7〜図18には、図6A〜図6Dに示された異なる照明分布に対して行われ
た数値計算によるシュミレーション結果が示されている。
【0127】 以下のセッティング、すなわち分布について具体的に説明することにする。 1. σ=1.0での円形のセッティング 開口NAレチクルに相当する半径r=35.0mmによるフィールドハニカムプ
レートの照明 2. σ=0.6での円形のセッティング 半径r=20.0mmによるフィールドハニカムプレートの円形照明 3. 以下の条件での環状のセッティング
【数7】 半径rout=35.0およびrin=25mmによるフィールドハニカムプレート
の輪環照明 4. 四重極セッティング、 光軸からの距離a=21.2mm、かつ、対角線上の半径r=10mmによるフ
ィールドハニカムプレートの四つの円形照明
【0128】 上記1.〜4.によるフィールドハニカムプレートの照明を用いて得られる瞳
の照明は、軸上の点(x=0.0;y=0.0)および周縁でのフィールド上の
点(x=40.0;y=4.041)に関して計算され、図7〜図14に示され
ている。
【0129】 充填度σ=1.0の場合(上記1.の場合)に関して、瞳は、最大の開口とな
るNAレチクル=0.025まで213個の二次光源で均等に満たされている。
図7には、レチクル面の中心におけるフィールド点x=0,y=0に関する瞳の
照明が示されている。
【0130】 フィールドの周縁での点x=40.0,y=4.041に関して、図8に示さ
れているように、フィールドの周縁においても瞳の照明の形が保たれている。図
8に示された瞳は、重心にある光線の角度のオフセット分だけずれている。ここ
で、照明光学系の光軸が、レチクル面において基準系を表している。
【0131】 充填度σ=0.6(上記2.)に関して、瞳は、開口NAレチクル=0.02
5・0・0.025=0.015まで72個の二次光源で満たされている。レチ
クル面の中心におけるフィールド点(x=0,y=0)に関する瞳の照明は図9
に、周縁でのフィールド点(x=40.0,y=4.041)に関する照明は図
10に示されている。
【0132】 以下の条件、
【数8】 を満たす環状のセッティング(上記3.の場合)に関して、瞳は、NAout=0
.025からNAin=0.0175までの間の開口が102個の二次光源によっ
て満たされている。レチクル面の中心におけるフィールド点(x=0,y=0)
に関する照明は図11に、周縁でのフィールド点(x=40.0,y=4.04
1)に関する照明は図12に示されている。
【0133】 四重極照明を用いたハニカムプレートの照明の場合(上記4.の場合)、射出
瞳は、四つのセグメント内において、それぞれ18個の二次光源によって満たさ
れている。図13は、フィールドの中心における点に関する照明を示し、図14
は、フィールドの周縁での点に関する照明を示している。
【0134】 異なる照明のセッティングについて走査エネルギーの一様性(Uniformity)を
算出したものが、図15〜図18に表されている。ハニカムプレートの照明、換
言すればセッティングに対する依存性があることが分かる。
【0135】 充填度σ=1.0の円形照明の場合に関しては、走査エネルギーは、図15に
見られるように、一様性が損なわれるのが1%未満の状態を有して理想的に推移
する。
【0136】 充填度σ=0.6の円形照明の場合に関しては、図16から分かるように、混
合の過程で関与するフィールドハニカムの数が減少することによって、一様性の
損失は2%になっている。フィールドハニカムの数は、上述の充填度σ=1.0
に対する例では213個に達していたが、これに対して、σ=0.6の場合には
、わずか72個のフィールドハニカムしか照明されず、ゆえに、混合の過程にこ
れだけのフィールドハニカムしか関与しない。
【0137】 輪環照明の場合、多くのフィールドハニカムは、部分的にしか照明されない。
この結果、σ=1.0のときの213個のフィールドハニカムに対して、102
個のフィールドハニカムが混合の過程に関与する際、図17に示されるように、
一様性の損失が3%に達することになる。σ=0.6での円形照明に対して、輪
環照明の場合に一様性の損失がより大きくなるのは、より多くのフィールドハニ
カムが混合の過程で関与するにもかかわらず、フィールドハニカムの照明が部分
的にしか行なわれないことに起因している。
【0138】 四重極照明の場合には、図18から分かるように、走査エネルギーには、5%
の一様性を有しながら、或る特徴的な「四つのうねり」が見られる。このような
状態が発生するのは、四重極照明の場合、フィールド点によっては、余分のフィ
ールドハニカムが照明に寄与し得たり、あるいは、抜け落ちたり、殆ど全てのフ
ィールドハニカムが部分的にしか照明されていないことによるものである。
【0139】 示されたシミュレーションから分かるように、瞳の多様な照明は、ステッパー
システムの場合には要求される強度分布の一様性から、スキャナーシステムの場
合には要求される走査エネルギーの一様性から制限を受ける。一般的に言えるこ
とは、レチクル面に重ね合わされるハニカム像が少なくなればなるほど、混合も
それだけ悪くなり、したがって、フィールドの照明の一様性も悪くなるというこ
とである。仮に、極端な瞳の分布、つまり、円形照明においては小さいσ、輪環
照明に対しては細いリング、あるいは四重極といった瞳の分布に対して一様性を
向上させたいなら、ハニカムの数を増やしてやらなければならない。このことは
、フィールドハニカムプレートの寸法を同じに保つ場合には、ハニカムの寸法を
小さくしてハニカム像の倍率を上げることを意味している。
【0140】 本実施形態におけるハニカムは、大きなアスペクト比17.5:1を有してい
るため、照明される面の周縁にあるハニカムは、部分的にしか照明されない。図
19には、x−列98のそれぞれにおいて、二つのフィールドハニカム100,
102しか照明されないような構成が示されている。図20に示されるように、
照明される各ハニカム100,102は、照明光学系の絞り面に二次光源104
を形成する。フィールドハニカムプレートを丸い円で照明する場合に、絞り面に
おける二次光源104の分布は、結果的に楕円的なものになる。というのも、x
方向にさらにまだ二次光源が現れるからである。とはいえ、各フィールド点が各
二次光源から光を受けるわけではないため、レチクル面における各フィールド点
の瞳の照明は、丸いままである。具体的に言えば、図20に示されるように、フ
ィールドの周縁に関する瞳の分布は、右ないし左に偏っている。
【0141】 特別に形作られた遮蔽装置を用いて、不完全に照明されたフィールドハニカム
102の全てを覆うことができる。この遮蔽装置は、フィールドハニカム102
を有する反射鏡98の上流側に直に設けることができる。遮蔽装置の周縁の線は
、このとき、フィールドハニカム102の外形状に合わせられている。フィール
ドハニカム102を有する反射鏡98の異なる照明に対して、例えば交換される
等して、それに応じて合わせられた遮蔽装置が用いられる必要がある。
【0142】 アスペクト比を小さくするために、1999年7月9日に出願人のために出願
された独国特許出願第19931848.4号明細書に示されている如く、個々のハニカム
は、アナモルフィックな作用を有するように形成することができる。上記の明細
書の開示内容は、本願に包括的に取り入れられている。
【0143】 図21、および図22には、同数のフィールドハニカム42を有する二つのフ
ィールドハニカムプレート34が示されている。ここで、各フィールドハニカム
42のアスペクト比ならびに大きさは、しかし、異なるものとされている。図2
1におけるハニカム42.1のアスペクト比は、17.5:1を有し、図22に
おけるハニカム42.2のアスペクト比は、1:1を有している。図21および
図22を比較して分かるように、図21および図22のフィールドハニカムプレ
ートが同じ大きさの照明41で照明されるとき、正方形のハニカム42.2の場
合には、大きなアスペクト比を有するハニカム42.1の場合よりも、より多く
のハニカムが完全に照明されている。これにより、正方形のハニカムの場合の照
明の一様性の方が、大きなアスペクト比を有するハニカムを備えたフィールドハ
ニカムプレートの場合のものよりも優れたものになっている。こういった理由か
ら、アスペクト比を小さくしたフィールドハニカムを用いるときには、要求され
る一様性が同じであれば、必要となるフィールドハニカムの数は、より少ないも
のとなる。
【図面の簡単な説明】
【図1A】 光源としてアンジュレータ・ユニットを有した照明光学系の原
理的な構成図である。
【図1B】 光源としてアンジュレータ・ユニットを有した照明光学系の原
理的な構成図である。
【図2A】 図1Aならびに図1Bに示す構成の一実施形態を示す図である
【図2B】 走査式の反射鏡を有する図1Aならびに図1Bに示す構成の一
実施形態を示す図である。
【図2C】 集光ユニット内に変形自在の反射鏡を有する図1Aならびに図
1Bに示す構成の実施形態を示す図であって、変形自在の反射鏡が一の状態にあ
る場合を示す図である。
【図2D】 集光ユニット内に変形自在の反射鏡を有する図1Aならびに図
1Bに示す構成の実施形態を示す図であって、変形自在の反射鏡が他の状態にあ
る場合を示す図である。
【図2E】 格子素子を有する第2の反射鏡を備えた照明光学系を示す図で
ある。
【図2F】 図2Eに示された格子素子とは異なる格子素子を有する第2の
反射鏡を備えた照明光学系を示す図である。
【図2G】 図2Eに示された光学系の一部を示す図である。
【図2H】 図2Fに示された光学系の一部を示す図である。
【図2I】 図2Eに示された格子素子を有する第2の反射鏡の正面図であ
る。
【図2K】 図2Fに示された格子素子を有する第2の反射鏡の正面図であ
る。
【図2M】 四重極照明を形成するための反射鏡の可能な一実施形態を示す
図である。
【図2N】 四重極照明を形成するための反射鏡の可能な一実施形態を示す
図である。
【図2O】 レチクル面に対する共役面に変形自在の反射鏡が設けられた、
中間像を有する照明光学系を示す図である。
【図2P】 反射鏡面上に或る数のフィールドハニカムを有する付加的な反
射鏡の一部を示す図である。
【図2Q】 フィールドハニカムを有する付加的な反射鏡の側面図である。
【図3】 格子素子が上側に配設された反射鏡の一例を示す図である。
【図4A】 図3に示す反射鏡を用いるときの絞り面における二次光源の分
布を示す図である。
【図4B】 ウィグラー光源を有するEUV照明光学系の一実施形態を示す
図である。
【図4C】 ウィグラー光源を有するEUV照明光学系の一実施形態を示す
図である。
【図4D】 ウィグラー光源を有するEUV照明光学系の一実施形態を示す
図である。
【図4E】 ウィグラー光源を有するEUV照明光学系の一実施形態を示す
図である。
【図4F】 ウィグラー光源を有するEUV照明光学系の一実施形態を示す
図である。
【図4G】 ウィグラー光源を有するEUV照明光学系の一実施形態を示す
図である。
【図4H】 ウィグラー光源を有するEUV照明光学系の一実施形態を示す
図である。
【図4I】 ウィグラー光源を有するEUV照明光学系の一実施形態を示す
図である。
【図4K】 ウィグラー光源を有するEUV照明光学系の一実施形態を示す
図である。
【図4L】 ウィグラー光源を有するEUV照明光学系の一実施形態を示す
図である。
【図4M】 ウィグラー光源を有するEUV照明光学系の一実施形態を示す
図である。
【図5】 充填度を定義するための、投影光学系の開口と照明との関係を説
明する図である。
【図6A】 充填度がσ=1.0となるときのフィールドハニカムプレート
の照明を示す図である。
【図6B】 充填度がσ=0.6となるときのフィールドハニカムプレート
の照明を示す図である。
【図6C】 充填度がσout/σin=1.0/0.7となるときのフィール
ドハニカムプレートの輪環状の照明を示す図である。
【図6D】 四重極照明となるときのフィールドハニカムプレートの照明を
示す図である。
【図7】 σ=1.0のときの、光軸上のフィールド点に関する瞳の照明を
示す図である。
【図8】 σ=1.0のときの、フィールド周縁(x=40,y=4.04
)でのフィールド点に関する瞳の照明を示す図である。
【図9】 σ=0.6のときの、光軸上のフィールド点に関する瞳の照明を
示す図である。
【図10】 σ=0.6のときの、フィールド周縁(x=40,y=4.0
4)でのフィールド点に関する瞳の照明を示す図である。
【図11】 輪環照明のときの、光軸上のフィールド点に関する瞳の照明を
示す図である。
【図12】 輪環照明のときの、フィールド周縁(x=40,y=4.04
)でのフィールド点に関する瞳の照明を示す図である。
【図13】 四重極照明となるときの、光軸上のフィールド点に関する瞳の
照明を示す図である。
【図14】 四重極照明となるときの、フィールド周縁(x=40,y=4
.04)でのフィールド点に関する瞳の照明を示す図である。
【図15】 射出瞳においてσ=1.0を有する照明分布のときの、レチク
ル面において積分される走査エネルギーを示す図である。
【図16】 射出瞳においてσ=0.6を有する照明分布のときの、レチク
ル面において積分される走査エネルギーを示す図である。
【図17】 輪環状の照明分布となるときの、レチクル面において積分され
る走査エネルギーを示す図である。
【図18】 四重極状の照明分布となるときの、レチクル面において積分さ
れる走査エネルギーを示す図である。
【図19】 ハニカムプレート上に配設されたアスペクト比17.5:1の
ハニカムを有する光学系を示す図である。
【図20】 ハニカムプレート上におけるハニカムの図19に示すような配
置のときの、照明光学系の絞り面における照度分布を示す図である。
【図21】 アスペクト比17.5:1のハニカムを有するフィールドハニ
カムプレートを示す図である。
【図22】 アスペクト比1:1のハニカムを有するフィールドハニカムプ
レートを示す図である。
【符号の説明】
1・・・光源 10,40,312,322,332,334,336,338・・・格子素
子 14・・・二次光源 16・・・絞り面 30・・・集光反射鏡(集光ユニット、第2の光学素子) 32,302・・・集光反射鏡(集光ユニット) 34・・・フィールドハニカムプレート(格子素子を有する反射鏡) 36,38・・・フィールド反射鏡(第1の光学素子) 39・・・物面(レチクル面) 42,100,102・・・フィールドハニカム(格子素子) 43・・・瞳ハニカム(格子素子) 200・・・付加的な反射鏡(照度分布を生成する装置) 310,320,330・・・格子素子を有する反射鏡(第2の光学素子) 390・・・射出瞳 Z・・・共役面
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Claims (48)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 193nm以下の波長、とりわけ、10nmから20nmの
    波長の光を放射する光源(1)を有し、 二次光源(14)を生成する反射鏡装置を照明するための集光ユニット(30
    ,32)を有し、 前記反射鏡装置は、複数の格子素子(10,40,42,100,102)に
    区分けされている少なくとも一つの反射鏡(34)を有してなり、 さらに、絞り面(16)と、 この絞り面(16)を照明光学系の射出瞳(390)に結像させる、一つまた
    は複数の第1の光学素子(36,38)と、 前記複数の格子素子の像が大部分一致して、これらの像により予め定められた
    フィールドが或る強度分布で照明される物面39と、 種類及び/又は充填度によって予め設定される或る照度分布を射出瞳(390
    )内に生成する第2の光学素子(30,310,320,330)とを有し、 前記照度分布の種類及び/又は充填度は、前記光学素子(30,310,32
    0,330)を交換したり、移動したり、あるいは、変形したりすることによっ
    て変更可能に構成されている投影露光装置のための照明光学系。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の照明光学系において、 前記照明された格子素子の数と形状は、走査エネルギーの値の一様性が10%
    より小さく、好ましくは5%より小さく、より好ましくは1%より小さくなるよ
    うに選択され、前記走査エネルギーの値は、予め決められたフィールド内での強
    度分布に関する線積分値として、積分する方向に対して垂直な直線上に位置する
    点に対して定義されていることを特徴とする照明光学系。
  3. 【請求項3】 請求項1に記載の照明光学系において、 前記照明された格子素子の数と形状は、強度分布の一様性が10%より小さく
    、好ましくは5%より小さく、より好ましくは1%より小さくなるように選択さ
    れていることを特徴とする照明光学系。
  4. 【請求項4】 請求項1から3のいずれか1項に記載の照明光学系において
    、 前記物面(39)において大部分一致する前記複数の格子素子の前記複数の像
    の数は、前記光学素子を交換したり、移動させたり、あるいは変形させたりする
    ことによって2倍から3倍まで変化させられるように構成されていることを特徴
    とする照明光学系。
  5. 【請求項5】 請求項1から4のいずれか1項に記載の照明光学系において
    、 前記物面において大部分一致する前記複数の格子素子の前記複数の像の最小限
    の数は、50より大きく、好ましくは70より大きく、特に好ましくは100よ
    り大きいことを特徴とする照明光学系。
  6. 【請求項6】 請求項1から5のいずれか1項に記載の照明光学系において
    、 前記照明すべきフィールドは、リングフィールドであることを特徴とする照明
    光学系。
  7. 【請求項7】 請求項1から6のいずれか1項に記載の照明光学系において
    、 照明すべきフィールドのアスペクト比は、2:1から17.5:1の間とされ
    、特に13:1とされていることを特徴とする照明光学系。
  8. 【請求項8】 請求項1から7のいずれか1項に記載の照明光学系において
    、前記格子素子は、矩形形状を有していることを特徴とする照明光学系。
  9. 【請求項9】 請求項1から8のいずれか1項に記載の照明光学系において
    、 前記格子素子は、アナモルフィックな作用を有していることを特徴とする照明
    光学系。
  10. 【請求項10】 請求項9に記載の照明光学系において、 前記反射鏡の前記格子素子は、アナモルフィックな作用を生じさせるために、
    円柱形状及び/又はトロイド形状に形成されていることを特徴とする照明光学系
  11. 【請求項11】 請求項9または10に記載の照明光学系において、 前記格子素子は、前記フィールドのアスペクト比より小さい、特に0.5倍ほ
    ど小さいアスペクト比を有していることを特徴とする照明光学系。
  12. 【請求項12】 請求項1から11のいずれか1項に記載の照明光学系にお
    いて、 前記第2の光学素子は、二次光源の位置に遮蔽装置を有していることを特徴と
    する照明光学系。
  13. 【請求項13】 請求項1から11のいずれか1項に記載の照明光学系にお
    いて、 前記第2の光学素子は、二次光源の位置に遮蔽装置を有し、該遮蔽装置は、前
    記複数の光学素子を有する反射鏡の直ぐ近くに設けられていることを特徴とする
    照明光学系。
  14. 【請求項14】 請求項1から11のいずれか1項に記載の照明光学系にお
    いて、 前記第2の光学素子は、前記光源(1)と、前記複数の格子素子を有する反射
    鏡(34)との間に設けられ、前記第2の光学素子を交換したり、移動させたり
    、あるいは変形したりすることにより、前記複数の格子素子を有する反射鏡の照
    明が変更されるように構成されていることを特徴とする照明光学系。
  15. 【請求項15】 請求項14に記載の照明光学系において、 前記第2の光学素子は、制御可能な走査式反射鏡とされていることを特徴とす
    る照明光学系。
  16. 【請求項16】 請求項14に記載の照明光学系において、 前記第2の光学素子は、ズーム機能を有した光学装置であることを特徴とする
    照明光学系。
  17. 【請求項17】 請求項14に記載の照明光学系において、 前記第2の光学素子は、変形自在の表面を有する反射鏡であることを特徴とす
    る照明光学系。
  18. 【請求項18】 請求項17に記載の照明光学系において、 前記変形自在の表面を有する反射鏡は、複数のマニピュレータを備えているこ
    とを特徴とする照明光学系。
  19. 【請求項19】 請求項18に記載の照明光学系において、 前記マニピュレータは、前記反射鏡の裏面側に設けられていることを特徴とす
    る照明光学系。
  20. 【請求項20】 請求項19に記載の照明光学系において、 前記マニピュレータは、圧電素子、及び/又は、変形を起こさせるよう電磁気
    的に動作させるための素子を備え、前記圧電素子、及び/又は、電磁気的に動作
    させるための前記素子が操作制御可能とされていることを特徴とする照明光学系
  21. 【請求項21】 請求項14に記載の照明光学系において、 前記第2の光学素子は、複数の格子素子を有する付加的な反射鏡(310,3
    20,330)であることを特徴とする照明光学系。
  22. 【請求項22】 請求項21に記載の照明光学系において、 複数の格子素子を有する前記付加的な反射鏡(310,320,330)と、
    格子素子を有する前記反射鏡(34)との間には、少なくとも一つの集光反射鏡
    (302)を有する光学系が設けられ、前記付加的な反射鏡(310,320,
    330)の前記複数の格子素子の像が、格子素子を有する前記反射鏡(34)上
    で大部分一致するように構成されていることを特徴とする照明光学系。
  23. 【請求項23】 請求項21または22に記載の照明光学系において、 複数の格子素子を有する前記付加的な反射鏡(310,320,330)が交
    換可能とされていることを特徴とする照明光学系。
  24. 【請求項24】 請求項21から23のいずれか1項に記載の照明光学系に
    おいて、 前記付加的な反射鏡の前記複数の格子素子(312,322,332,334
    ,336,338)は、集束作用もしくは発散作用を有していることを特徴とす
    る照明光学系。
  25. 【請求項25】 請求項21から24のいずれか1項に記載の照明光学系に
    おいて、 前記付加的な反射鏡の前記複数の格子素子(312,322,332,334
    ,336,338)は、回折を生じるように形成されていることを特徴とする照
    明光学系。
  26. 【請求項26】 請求項21から25のいずれか1項に記載の照明光学系に
    おいて、 前記付加的な反射鏡の前記複数の格子素子(312,322)は、六角形の外
    形を有していることを特徴とする照明光学系。
  27. 【請求項27】 請求項21から25のいずれか1項に記載の照明光学系に
    おいて、 前記付加的な反射鏡の前記複数の格子素子(332,334,336,338
    )は、集束型の面もしくは発散型の面の軸外の部分を有していることを特徴とす
    る照明光学系。
  28. 【請求項28】 請求項14に記載の照明光学系において、 前記第2の光学素子は、交換可能な反射鏡であることを特徴とする照明光学系
  29. 【請求項29】 193nm以下の波長、とりわけ、10nmから20nm
    の波長の光を放射する光源(1)と、 物面、すなわちレチクル面(39)と、 前記光源(1)と前記物面(39)との間に、前記物面(39)に共役面(Z
    )とを有してなる投影露光装置のための照明光学系において、 前記共役面(Z)の位置、もしくはその近くの位置には、該照明光学系の射出
    瞳(390)内に予め決められた照度分布を生成する装置(200)が設けられ
    ていることを特徴とする照明光学系。
  30. 【請求項30】 請求項29に記載の照明光学系において、 二次光源を生成するための手段を備え、該手段は、少なくとも一つの反射鏡装
    置、またはレンズ装置を有し、該反射鏡装置、またはレンズ装置は、複数の格子
    素子(10,40,100,102)に区分けされている少なくとも一つの反射
    鏡、またはレンズ(34)を備えていることを特徴とする照明光学系。
  31. 【請求項31】 請求項29または30に記載の照明光学系において、 一つ、もしくは複数の第1の光学素子(36,38)を備え、該光学素子は、
    該照明光学系の前記射出瞳(39)内に、格子素子によって生成された二次光源
    を結像させるように構成されていることを特徴とする照明光学系。
  32. 【請求項32】 請求項29から31のいずれか1項に記載の照明光学系に
    おいて、 予め決められた照明を生成するための前記手段は、変形自在の表面を有した反
    射鏡を備えていることを特徴とする照明光学系。
  33. 【請求項33】 請求項32に記載の照明光学系において、 前記変形自在の表面を有する反射鏡またはレンズは、複数のマニピュレータを
    備えていることを特徴とする照明光学系。
  34. 【請求項34】 請求項33に記載の照明光学系において、 前記マニピュレータは、前記反射鏡の裏面側に設けられていることを特徴とす
    る照明光学系。
  35. 【請求項35】 請求項33または34に記載の照明光学系において、 前記マニピュレータは、圧電素子、及び/又は、変形を起こさせるよう電磁気
    的に動作させるための素子を備え、前記圧電素子、及び/又は、電磁気的に動作
    させるための前記素子が制御可能とされていることを特徴とする照明光学系。
  36. 【請求項36】 請求項32から35のいずれか1項に記載の照明光学系に
    おいて、 前記変形自在の表面は、大きな空間周波数を有する動的な変形が生起されるよ
    うに制御されることを特徴とする照明光学系。
  37. 【請求項37】 請求項36に記載の照明光学系において、 前記大きな空間周波数での動的な変形は、前記二次光源の離散的な像が前記射
    出瞳内でずらされ、時間的に平均して前記射出瞳を概ね満たすように選択されて
    いることを特徴とする照明光学系。
  38. 【請求項38】 請求項29に記載の照明光学系において、 照度分布を生成する前記手段は、複数の格子素子を有する付加的な反射鏡を備
    えていることを特徴とする照明光学系。
  39. 【請求項39】 請求項38に記載の照明光学系において、 前記付加的な反射鏡の前記複数の格子素子は、集束作用もしくは発散作用を有
    するように形成されていることを特徴とする照明光学系。
  40. 【請求項40】 請求項38または39に記載の照明光学系において、 前記付加的な反射鏡の前記複数の格子素子は、回折を生じるように形成されて
    いることを特徴とする照明光学系。
  41. 【請求項41】 請求項38から40のいずれか1項に記載の照明光学系に
    おいて、 複数の格子素子を有する前記付加的な反射鏡が交換可能とされていることを特
    徴とする照明光学系。
  42. 【請求項42】 請求項1から41のいずれか1項に記載の照明光学系にお
    いて、 前記射出瞳における照度分布の種類は、円状の分布か、もしくは、少なくとも
    円状の分布に近いものとされていることを特徴とする照明光学系。
  43. 【請求項43】 請求項42に記載の照明光学系において、 前記円形の、もしくは円形に近い形状で照明された射出瞳の充填度σは、1.
    0より小さく、とりわけ0.6より小さいことを特徴とする照明光学系。
  44. 【請求項44】 請求項1から41のいずれか1項に記載の照明光学系にお
    いて、 前記射出瞳の照度分布の種類は、輪環状の分布とされていることを特徴とする
    照明光学系。
  45. 【請求項45】 請求項1から41のいずれか1項に記載の照明光学系にお
    いて、 前記射出瞳の照度分布の種類は、四重極状の分布とされていることを特徴とす
    る照明光学系。
  46. 【請求項46】 請求項1から45のいずれか1項に記載の照明光学系と、
    マスクと、投影光学系と、感光性の物体、とりわけ支持装置上のウェハとを備え
    たマイクロリソグラフィー用のEUV−投影露光装置。
  47. 【請求項47】 請求項46に記載のEUV−投影露光装置において、 スキャナーシステムとして形成されていることを特徴とするEUV−投影露光
    装置。
  48. 【請求項48】 請求項46または47に記載のEUV−投影露光装置を用
    いてマイクロエレクトロニクスの構成部材、とくに半導体チップを製造する方法
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Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004090955A1 (ja) * 2003-04-04 2004-10-21 Nikon Corporation 照明光学装置、投影露光装置及び露光方法
JP2007288188A (ja) * 2006-04-11 2007-11-01 Carl Zeiss Smt Ag ズーム対物光学系を備えた照明システム
US7333178B2 (en) 2002-03-18 2008-02-19 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method
JP2008544531A (ja) * 2005-06-21 2008-12-04 カール ツァイス エスエムテー アーゲー 瞳ファセットミラー上に減衰素子を備えた二重ファセット照明光学系
JP2009267403A (ja) * 2008-04-22 2009-11-12 Asml Netherlands Bv 照明システムおよびリソグラフィ方法
US7697116B2 (en) 2002-03-18 2010-04-13 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method
JP2010219522A (ja) * 2009-03-12 2010-09-30 Nikon Corp オプティカルインテグレータ、照明光学系、露光装置、およびデバイス製造方法
JP2011517101A (ja) * 2008-04-11 2011-05-26 カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー 光学アパーチャ装置
KR101322292B1 (ko) 2005-07-08 2013-10-28 일렉트로 싸이언티픽 인더스트리이즈 인코포레이티드 텔레센트릭 축상 암 시야 조명으로 구현된 광학 시스템의 사용과 성능의 최적화
US9158124B2 (en) 2012-12-21 2015-10-13 Ricoh Company, Ltd. Image display device and vehicle incorporating the same

Families Citing this family (69)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4238390B2 (ja) * 1998-02-27 2009-03-18 株式会社ニコン 照明装置、該照明装置を備えた露光装置および該露光装置を用いて半導体デバイスを製造する方法
DE10100265A1 (de) * 2001-01-08 2002-07-11 Zeiss Carl Beleuchtungssystem mit Rasterelementen unterschiedlicher Größe
DE10053587A1 (de) * 2000-10-27 2002-05-02 Zeiss Carl Beleuchtungssystem mit variabler Einstellung der Ausleuchtung
US6947124B2 (en) 1998-05-05 2005-09-20 Carl Zeiss Smt Ag Illumination system particularly for microlithography
DE10138313A1 (de) 2001-01-23 2002-07-25 Zeiss Carl Kollektor für Beleuchtugnssysteme mit einer Wellenlänge < 193 nm
DE19855106A1 (de) * 1998-11-30 2000-05-31 Zeiss Carl Fa Beleuchtungssystem für die VUV-Mikrolithographie
US7248667B2 (en) 1999-05-04 2007-07-24 Carl Zeiss Smt Ag Illumination system with a grating element
EP1200879B1 (de) * 1999-07-30 2007-06-20 Carl Zeiss SMT AG Steuerung der Beleuchtungsverteilung in der Austrittspupille eines EUV-Beleuchtungssystems
TW594847B (en) 2001-07-27 2004-06-21 Canon Kk Illumination system, projection exposure apparatus and method for manufacturing a device provided with a pattern to be exposed
CN1273871C (zh) * 2002-03-18 2006-09-06 Asml荷兰有限公司 光刻装置和器件的制作方法
US7084412B2 (en) 2002-03-28 2006-08-01 Carl Zeiss Smt Ag Collector unit with a reflective element for illumination systems with a wavelength of smaller than 193 nm
DE10240002A1 (de) * 2002-08-27 2004-03-11 Carl Zeiss Semiconductor Manufacturing Technologies Ag Optisches Teilsystem insbesondere für eine Projektionsbelichtungsanlage mit mindestens einem in mindestens zwei Stellungen verbringbaren optischen Element
KR101144458B1 (ko) 2003-07-30 2012-05-14 칼 짜이스 에스엠티 게엠베하 마이크로 인쇄술용 조명 시스템
JP4241281B2 (ja) 2003-09-17 2009-03-18 キヤノン株式会社 露光装置
WO2005036266A1 (de) 2003-09-17 2005-04-21 Carl Zeiss Smt Ag Masken, lithographievorrichtung und halbleiterbauelement
JP2005109304A (ja) * 2003-10-01 2005-04-21 Canon Inc 照明光学系及び露光装置
EP1811547A4 (en) * 2005-02-03 2010-06-02 Nikon Corp OPTICAL INTEGRATOR, OPTICAL LIGHTING DEVICE, EXPOSURE DEVICE AND EXPOSURE METHOD
JP2006216917A (ja) * 2005-02-07 2006-08-17 Canon Inc 照明光学系、露光装置およびデバイス製造方法
US7405871B2 (en) * 2005-02-08 2008-07-29 Intel Corporation Efficient EUV collector designs
US7982854B2 (en) 2005-04-20 2011-07-19 Carl Zeiss Smt Gmbh Projection exposure system, method for manufacturing a micro-structured structural member by the aid of such a projection exposure system and polarization-optical element adapted for use in such a system
KR101213950B1 (ko) * 2005-05-03 2012-12-18 칼 짜이스 에스엠티 게엠베하 편광을 이용한 마이크로리소그래피 노광장치 및 제1 및 제2오목거울을 구비한 마이크로리소그래피 투영시스템
US7372570B2 (en) 2005-05-13 2008-05-13 Bio-Rad Laboratories, Inc. Incident light redistribution to compensate for radial gradient in detector
US20070085980A1 (en) * 2005-10-18 2007-04-19 Scott Lerner Projection assembly
KR101370203B1 (ko) 2005-11-10 2014-03-05 칼 짜이스 에스엠테 게엠베하 광원의 요동을 측정하기 위한 시스템을 구비한 euv 조명시스템
JP2007150295A (ja) 2005-11-10 2007-06-14 Carl Zeiss Smt Ag ラスタ要素を有する光学装置、及びこの光学装置を有する照射システム
US20070109520A1 (en) * 2005-11-17 2007-05-17 Whitney Theodore R Modular illuminator for a scanning printer
DE102006036064A1 (de) * 2006-08-02 2008-02-07 Carl Zeiss Smt Ag Beleuchtungssystem für eine Projektionsbelichtungsanlage mit Wellenlängen ≦ 193 nm
DE102006056035A1 (de) * 2006-11-28 2008-05-29 Carl Zeiss Smt Ag Beleuchtungsoptik für die EUV-Projektions-Mikrolithographie, Beleuchtungssystem mit einer derartigen Beleuchtungsoptik, Projektionsbelichtungsanlage mit einem derartigen Beleuchtungssystem, Verfahren zur Herstellung eines mikrostrukturierten Bauteils sowie durch das Verfahren hergestelltes mikrostrukturiertes Bauteil
DE102008014832A1 (de) * 2007-04-19 2008-10-23 Carl Zeiss Smt Ag Projektionsbelichtungsanlage für die Mikrolithographie
JP5077724B2 (ja) * 2007-06-07 2012-11-21 カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー マイクロリソグラフィツール用の反射照明システム
US20090040493A1 (en) * 2007-08-09 2009-02-12 Hideki Komatsuda Illumination optical system, illumination optical apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method
US8081296B2 (en) * 2007-08-09 2011-12-20 Nikon Corporation Illumination optical apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method
DE102007045396A1 (de) * 2007-09-21 2009-04-23 Carl Zeiss Smt Ag Bündelführender optischer Kollektor zur Erfassung der Emission einer Strahlungsquelle
EP2243047B1 (en) 2008-02-15 2021-03-31 Carl Zeiss SMT GmbH Facet mirror for use in a projection exposure apparatus for microlithography
DE102008000788A1 (de) * 2008-03-20 2009-09-24 Carl Zeiss Smt Ag Beleuchtungssystem für eine Mikrolithographie-Projektionsbelichtungsanlage
EP2541324B1 (en) 2008-03-20 2016-04-13 Carl Zeiss SMT GmbH Optical system
EP2146248B1 (en) * 2008-07-16 2012-08-29 Carl Zeiss SMT GmbH Illumination system of a microlithographic projection exposure apparatus
DE102008042462B4 (de) 2008-09-30 2010-11-04 Carl Zeiss Smt Ag Beleuchtungssystem für die EUV-Mikrolithographie
CN102422225B (zh) 2009-03-06 2014-07-09 卡尔蔡司Smt有限责任公司 用于微光刻的照明光学***与光学***
US8969969B2 (en) * 2009-03-20 2015-03-03 International Business Machines Corporation High threshold voltage NMOS transistors for low power IC technology
DE102009041405B4 (de) * 2009-09-14 2020-08-20 Carl Zeiss Smt Gmbh Maskeninspektionsmikroskop mit variabler Beleuchtungseinstellung
DE102009048553A1 (de) 2009-09-29 2011-03-31 Carl Zeiss Smt Gmbh Katadioptrisches Projektionsobjektiv mit Umlenkspiegeln und Projektionsbelichtungsverfahren
DE102009047316A1 (de) * 2009-11-30 2010-12-23 Carl Zeiss Smt Ag Optische reflektierende Komponente zum Einsatz in einer Beleuchtungsoptik für eine Projektionsbelichtungsanlage der EUV-Mikrolithographie
KR20230160966A (ko) 2010-04-02 2023-11-24 가부시키가이샤 니콘 조명 광학계, 노광 방법 및 디바이스 제조 방법
DE102010029049B4 (de) * 2010-05-18 2014-03-13 Carl Zeiss Smt Gmbh Beleuchtungsoptik für ein Metrologiesystem für die Untersuchung eines Objekts mit EUV-Beleuchtungslicht sowie Metrologiesystem mit einer derartigen Beleuchtungsoptik
DE102010040811A1 (de) * 2010-09-15 2012-03-15 Carl Zeiss Smt Gmbh Abbildende Optik
DE102010043498A1 (de) 2010-11-05 2012-05-10 Carl Zeiss Smt Gmbh Projektionsobjektiv einer für EUV ausgelegten mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage, sowie Verfahren zum optischen Justieren eines Projektionsobjektives
DE102012203950A1 (de) * 2012-03-14 2013-09-19 Carl Zeiss Smt Gmbh Beleuchtungsoptik für eine Projektionsbelichtungsanlage
DE102012208096A1 (de) 2012-05-15 2013-05-29 Carl Zeiss Smt Gmbh Beleuchtungssystem für die EUV- Projektionslithografie
KR101992516B1 (ko) * 2012-10-08 2019-06-24 칼 짜이스 에스엠티 게엠베하 마이크로리소그래피 장치의 작동 방법
US9046500B2 (en) * 2012-12-20 2015-06-02 Kla-Tencor Corporation Adaptable illuminating apparatus, system, and method for extreme ultra-violet light
DE102013204443A1 (de) * 2013-03-14 2014-10-02 Carl Zeiss Smt Gmbh Optische Baugruppe zur Lichtleitwerterhöhung
US9448343B2 (en) * 2013-03-15 2016-09-20 Kla-Tencor Corporation Segmented mirror apparatus for imaging and method of using the same
CN103226240B (zh) * 2013-04-17 2015-04-15 同济大学 一种多通道正入射成像***及其装调方法
DE102013223935A1 (de) 2013-11-22 2015-05-28 Carl Zeiss Smt Gmbh Beleuchtungssystem für die EUV-Belichtungslithographie
DE102014221175A1 (de) * 2014-10-17 2016-04-21 Carl Zeiss Smt Gmbh Beleuchtungsoptik für ein Projektionsbelichtungssystem
DE102014221313A1 (de) 2014-10-21 2016-04-21 Carl Zeiss Smt Gmbh Beleuchtung für die EUV-Projektionslithografie
KR20170086559A (ko) 2014-11-18 2017-07-26 칼 짜이스 에스엠티 게엠베하 투영 리소그라피를 위한 광학 서브시스템 및 투영 리소그라피를 위한 조명 광학 유닛
DE102014226917A1 (de) 2014-12-23 2015-12-17 Carl Zeiss Smt Gmbh Beleuchtungssystem für die EUV-Projektionslithographie
JP6324912B2 (ja) * 2015-01-27 2018-05-16 東芝テック株式会社 レンズミラーアレイ、光学ユニット及び画像形成装置
JP2018507437A (ja) 2015-02-19 2018-03-15 エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. 放射源
US10580546B2 (en) * 2015-03-02 2020-03-03 Asml Netherlands B.V. Radiation system
DE102015212619A1 (de) * 2015-07-06 2017-01-12 Carl Zeiss Smt Gmbh Abbildende Optik zur Abbildung eines Objektfeldes in ein Bildfeld sowie Projektionsbelichtungsanlage mit einer derartigen abbildenden Optik
DE102017205548A1 (de) 2017-03-31 2018-10-04 Carl Zeiss Smt Gmbh Optische Baugruppe zum Führen eines Ausgabestrahls eines Freie-Elektronen-Lasers
KR102001457B1 (ko) * 2018-03-12 2019-07-18 한국 천문 연구원 비축-포물면을 결정하는 방법
DE102018215505A1 (de) 2018-09-12 2018-10-31 Carl Zeiss Smt Gmbh Projektionsoptik für eine Projektionsbelichtungsanlage
CN109683327B (zh) * 2018-12-06 2021-02-26 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 基于等离子体调控的光束焦斑整形及动态控制***和方法
CN109613689A (zh) * 2018-12-24 2019-04-12 珠海博明软件有限公司 一种远心平行光源
US11543753B2 (en) * 2019-10-30 2023-01-03 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Tunable illuminator for lithography systems

Family Cites Families (44)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2910280C2 (de) * 1978-03-18 1993-10-28 Canon Kk Optische Abbildungssysteme
US4458302A (en) 1981-06-03 1984-07-03 Hitachi, Ltd. Reflection type optical focusing apparatus
JPS5964830A (ja) * 1982-10-05 1984-04-12 Canon Inc 照明装置
JPS59218729A (ja) * 1983-05-27 1984-12-10 Hitachi Ltd 投影露光装置
ATE121555T1 (de) * 1988-03-11 1995-05-15 Rosser Roy J Optische vorrichtungen und methoden für ihre herstellung.
US5222112A (en) 1990-12-27 1993-06-22 Hitachi, Ltd. X-ray pattern masking by a reflective reduction projection optical system
US5305054A (en) 1991-02-22 1994-04-19 Canon Kabushiki Kaisha Imaging method for manufacture of microdevices
JPH04353800A (ja) * 1991-05-31 1992-12-08 Olympus Optical Co Ltd 軟x線顕微鏡
JP3102076B2 (ja) 1991-08-09 2000-10-23 キヤノン株式会社 照明装置及びそれを用いた投影露光装置
JP3010844B2 (ja) * 1991-10-03 2000-02-21 株式会社ニコン X線反射鏡
JP3304378B2 (ja) 1992-02-25 2002-07-22 株式会社ニコン 投影露光装置、及び素子製造方法
US5581605A (en) 1993-02-10 1996-12-03 Nikon Corporation Optical element, production method of optical element, optical system, and optical apparatus
US5439781A (en) * 1993-05-10 1995-08-08 At&T Corp. Device fabrication entailing synchrotron radiation
US5339346A (en) 1993-05-20 1994-08-16 At&T Bell Laboratories Device fabrication entailing plasma-derived x-ray delineation
JP3093528B2 (ja) 1993-07-15 2000-10-03 キヤノン株式会社 走査型露光装置
US5677939A (en) * 1994-02-23 1997-10-14 Nikon Corporation Illuminating apparatus
JP3278317B2 (ja) * 1995-03-24 2002-04-30 キヤノン株式会社 露光装置及びデバイス製造方法
US5512759A (en) * 1995-06-06 1996-04-30 Sweatt; William C. Condenser for illuminating a ringfield camera with synchrotron emission light
JPH0963943A (ja) 1995-08-23 1997-03-07 Nikon Corp 照明光学装置および該装置を備えた露光装置
US6038279A (en) 1995-10-16 2000-03-14 Canon Kabushiki Kaisha X-ray generating device, and exposure apparatus and semiconductor device production method using the X-ray generating device
US5757882A (en) 1995-12-18 1998-05-26 Osmic, Inc. Steerable x-ray optical system
DE59700582D1 (de) * 1996-01-10 1999-11-25 Bastian Niemann Kondensor-monochromator-anordnung für röntgenstrahlung
JPH09251097A (ja) * 1996-03-15 1997-09-22 Nikon Corp X線リソグラフィー用反射縮小結像光学系
JP3862347B2 (ja) 1996-04-11 2006-12-27 キヤノン株式会社 X線縮小露光装置およびこれを利用したデバイス製造方法
DE19716794A1 (de) 1996-04-22 1997-10-30 Nikon Corp Verfahren und Vorrichtung zur Nah-Typ-Mikrolithographie
JP3284045B2 (ja) * 1996-04-30 2002-05-20 キヤノン株式会社 X線光学装置およびデバイス製造方法
JPH1062710A (ja) 1996-08-22 1998-03-06 Nikon Corp 照明光学系
JPH1092727A (ja) 1996-09-11 1998-04-10 Canon Inc 投影露光装置
JPH10275771A (ja) 1997-02-03 1998-10-13 Nikon Corp 照明光学装置
JP3259657B2 (ja) 1997-04-30 2002-02-25 キヤノン株式会社 投影露光装置及びそれを用いたデバイスの製造方法
JPH1152289A (ja) 1997-08-05 1999-02-26 Minolta Co Ltd 二次元照明光学系及びこれを用いた液晶プロジェクター
US5920380A (en) 1997-12-19 1999-07-06 Sandia Corporation Apparatus and method for generating partially coherent illumination for photolithography
JP4238390B2 (ja) * 1998-02-27 2009-03-18 株式会社ニコン 照明装置、該照明装置を備えた露光装置および該露光装置を用いて半導体デバイスを製造する方法
US6947120B2 (en) * 1998-05-05 2005-09-20 Carl Zeiss Smt Ag Illumination system particularly for microlithography
EP0955641B1 (de) * 1998-05-05 2004-04-28 Carl Zeiss Beleuchtungssystem insbesondere für die EUV-Lithographie
DE19903807A1 (de) 1998-05-05 1999-11-11 Zeiss Carl Fa Beleuchtungssystem insbesondere für die EUV-Lithographie
US6438199B1 (en) * 1998-05-05 2002-08-20 Carl-Zeiss-Stiftung Illumination system particularly for microlithography
US6118577A (en) * 1998-08-06 2000-09-12 Euv, L.L.C Diffractive element in extreme-UV lithography condenser
JP2000091220A (ja) 1998-09-08 2000-03-31 Nikon Corp 投影露光装置及び投影露光方法
US6186632B1 (en) * 1998-12-31 2001-02-13 The Regents Of The University Of California Condenser for ring-field deep-ultraviolet and extreme-ultraviolet lithography
US6398374B1 (en) * 1998-12-31 2002-06-04 The Regents Of The University Of California Condenser for ring-field deep ultraviolet and extreme ultraviolet lithography
US6195201B1 (en) 1999-01-27 2001-02-27 Svg Lithography Systems, Inc. Reflective fly's eye condenser for EUV lithography
EP1200879B1 (de) * 1999-07-30 2007-06-20 Carl Zeiss SMT AG Steuerung der Beleuchtungsverteilung in der Austrittspupille eines EUV-Beleuchtungssystems
US6285737B1 (en) * 2000-01-21 2001-09-04 Euv Llc Condenser for extreme-UV lithography with discharge source

Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8279405B2 (en) 2002-03-18 2012-10-02 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method
US7333178B2 (en) 2002-03-18 2008-02-19 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method
US7697116B2 (en) 2002-03-18 2010-04-13 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method
WO2004090955A1 (ja) * 2003-04-04 2004-10-21 Nikon Corporation 照明光学装置、投影露光装置及び露光方法
JP2008544531A (ja) * 2005-06-21 2008-12-04 カール ツァイス エスエムテー アーゲー 瞳ファセットミラー上に減衰素子を備えた二重ファセット照明光学系
KR101322292B1 (ko) 2005-07-08 2013-10-28 일렉트로 싸이언티픽 인더스트리이즈 인코포레이티드 텔레센트릭 축상 암 시야 조명으로 구현된 광학 시스템의 사용과 성능의 최적화
JP2007288188A (ja) * 2006-04-11 2007-11-01 Carl Zeiss Smt Ag ズーム対物光学系を備えた照明システム
US9341955B2 (en) 2008-04-11 2016-05-17 Carl Zeiss Smt Gmbh Optical aperture device
JP2011517101A (ja) * 2008-04-11 2011-05-26 カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー 光学アパーチャ装置
US8687169B2 (en) 2008-04-11 2014-04-01 Carl Zeiss Smt Gmbh Optical aperture device
JP2009267403A (ja) * 2008-04-22 2009-11-12 Asml Netherlands Bv 照明システムおよびリソグラフィ方法
JP2010219522A (ja) * 2009-03-12 2010-09-30 Nikon Corp オプティカルインテグレータ、照明光学系、露光装置、およびデバイス製造方法
US9158124B2 (en) 2012-12-21 2015-10-13 Ricoh Company, Ltd. Image display device and vehicle incorporating the same
US9746669B2 (en) 2012-12-21 2017-08-29 Ricoh Company, Ltd. Image display device and vehicle incorporating the same
US10514539B2 (en) 2012-12-21 2019-12-24 Ricoh Company, Ltd. Image display device and vehicle incorporating the same
US11079595B2 (en) 2012-12-21 2021-08-03 Ricoh Company, Ltd. Image display device and vehicle incorporating the same

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