JP2006523944A - 照明装置のための光学素子 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】光学素子(100)は多数のファセットを有し、これらのファセットは、各々のファセットが前記光源(102)から光を受け取り、光をフィールド面(24)における割り当てられた離散的な点に導くように設けられており、かような偏向角を有し、離散的な点は、フィールド面(108)におけるフィールドが所定の形で照明されるように、選択されており、各々のファセットは、フィールド面(24)における夫々に割り当てられた離散的な点によって、照明装置の出射瞳(106)の割り当てられた領域を照明する。
Description
但し、xおよびyに依存するEは、x,yのフィールド面における強度分布である。均等な露光を得ようとするとき、走査エネルギがx位置に十分に独立していることは、好都合である。従って、走査方向における均一性は以下のように定義されている。
この場合、SEmaxは照明されたフィールド領域において最大限に発生する走査エネルギであり、SEminは照明されたフィールド領域において最小限に発生する走査エネルギである。
−端面に適当な傾斜角を有する小さな棒から鏡面反射器を組み立てること
−上記方法で製造されたマスターの亜鉛メッキ成形(GA)
本発明によって、第1に、光学素子におけるファセットの配列およびファセットの偏向角の種類によって、フィールド面および同時に出射瞳が照明されてなる光学素子を記載する。
1.1 瞳の異なった位置
1.2 瞳の異なった位置
3 環状フィールドセグメント
5 ファセットのある光学素子の面
10 環状フィールドセグメント3の中央のフィールド点
12 環状フィールドセグメント3の縁部のフィールド点
20 ネット格子
22 ネット格子のセル
24 フィールド面におけるフィールド点
26 ファセットネット
27 変換された変換ネット
29 鏡面反射器に逆方向に投影されるフィールド点
31 ファセットのある光学素子の、割り当てられたファセット
100 ファセットのある光学素子
102 光源
104 結像型光学系
106 照明装置の出射瞳
107 質量中心の光
108 フィールド面
110 フィールド形成型の光学素子
112 投影対物レンズ
114.1 6つの鏡付き投影対物レンズの鏡
114.2 6つの鏡付き投影対物レンズの鏡
114.3 6つの鏡付き投影対物レンズの鏡
114.4 6つの鏡付き投影対物レンズの鏡
114.5 6つの鏡付き投影対物レンズの鏡
114.6 6つの鏡付き投影対物レンズの鏡
116 像平面
130 六角形のファセット
132 ファセットのある光学素子の部分
200 入れ子式のコレクタ
212 8つの鏡付き投影対物レンズ
214.1 8つの鏡付き投影対物レンズの鏡
214.2 8つの鏡付き投影対物レンズの鏡
214.3 8つの鏡付き投影対物レンズの鏡
214.4 8つの鏡付き投影対物レンズの鏡
214.5 8つの鏡付き投影対物レンズの鏡
214.6 8つの鏡付き投影対物レンズの鏡
214.7 8つの鏡付き投影対物レンズの鏡
214.8 6つの鏡付き投影対物レンズの鏡
x方向 フィールド面における走査方向に対し垂直の方向
y方向 フィールド面における走査方向での方向
Claims (35)
- 193nm以下の波長を有する照明装置のための光学素子(100)であって、前記照明装置は、光源(102)と、フィールド面(108)と、出射瞳(106)とを有してなる光学素子において、
この光学素子(100)は、多数のファセットを有し、これらファセットは、各ファセットが、前記光源(102)から光を受け取り、光をフィールド面(24)における割り当てられた離散的な点に導くよう偏向角を有して設けられており、前記離散的な点は、前記フィールド面(108)におけるフィールドが所定の形で照明されるように、選択されていること、および各々のファセットは、前記フィールド面(24)における夫々に割り当てられた離散的な点によって、前記照明装置の前記出射瞳(106)の割り当てられた領域を照明することを特徴とする光学素子(100)。 - 前記多数のファセットは、フィールド点から走査方向における路に沿って結果的に生じる、前記出射瞳(106)の積分された照明が、十分に均一であるように、偏向角およびかような大きさを有して、設けられていることを特徴とする請求項1に記載の光学素子(100)。
- フィールド点から走査方向における任意の路に沿って結果的に生じる、前記出射瞳(106)の積分された照明は、好ましくは円形または双極子形または四極子形または環状であることを特徴とする請求項2に記載の光学素子(100)。
- 前記フィールド面(108)における前記フィールドは、環状フィールドセグメントであり、前記環状フィールドセグメントの中央における径方向は、前記照明装置の走査方向を定めることを特徴とする請求項1ないし3のいずれか1に記載の光学素子(100)。
- 走査方向に延びている直線上に位置している、前記フィールド面におけるすべての点の、その照明成分の各々の積分によって、前記出射瞳(106)の、同一の、積分された部分照明が結果として生じることを特徴とする請求項4に記載の光学素子(100)。
- 前記光学素子(100)は、多数の光源の像によって作られ、これらの光源の像を前記フィールド面(108)に結像させることを特徴とする請求項1ないし5のいずれか1に記載の光学素子(100)。
- 前記光源(102)から前記光学素子(100)への光路は、他の光学素子を有しないことを特徴とする請求項1ないし6のいずれか1に記載の光学素子(100)。
- 前記ファセットの前記偏向角は、集光作用を発生させるように設定されていることを特徴とする請求項1ないし7のいずれか1に記載の光学素子(100)。
- 少なくとも1つのファセットが、光学的な屈折力を有することを特徴とする請求項1ないし7のいずれか1に記載の光学素子(100)。
- 前記光学素子の少なくとも1つのファセットは、平面ファセットであることを特徴とする請求項1ないし8のいずれか1に記載の光学素子(100)。
- 光源(102)と、フィールド面(108)と、光学素子(100)と、出射瞳(106)とを有する、特にEUVリソグラフィのための、193nm以下の波長のための照明装置において、
前記光学素子(100)は、多数のファセットを有し、これらのファセットは、各々のファセットが前記光源(102)から光を受け取り、光をフィールド面(24)における離散的な点に導くような偏向角を有して設けられており、前記離散的な点は、前記フィールド面(108)におけるフィールドが所定の形で照明されるように、選択されていること、および各ファセットは、前記フィールド面(24)における夫々に割り当てられた離散的な点によって、前記照明装置の前記出射瞳(106)の、割り当てられた領域を照明することを特徴とする照明装置。 - 前記多数のファセットは、フィールド点から走査方向における路に沿って結果的に生じる、前記出射瞳(106)の積分された照明が、十分に均一であるように偏向角およびかような大きさを有して設けられていることを特徴とする請求項11に記載の照明装置。
- フィールド点から走査方向における任意の路に沿って結果的に生じる、前記出射瞳(106)の積分された照明は、好ましくは円形または四極子形または環状であることを特徴とする請求項12に記載の照明装置。
- 前記フィールド面(108)における前記フィールドは、環状フィールドセグメントであり、前記環状フィールドセグメントの中央における径方向は、前記照明装置の走査方向を定めることを特徴とする請求項11ないし13のいずれか1に記載の照明装置。
- 前記光学素子(100)は、前記フィールド面(108)における前記環状フィールドセグメントを形成することを特徴とする請求項14に記載の照明装置。
- 前記光学素子(100)は、多数の光源の像によって作られ、これらの光源の像を前記フィールド面(108)に結像させることを特徴とする請求項11ないし15のいずれか1に記載の光学素子(100)。
- 前記光源(102)から前記光学素子(100)への光路は、他の光学素子を有しないことを特徴とする請求項11ないし16のいずれか1に記載の照明装置。
- 前記照明装置は、更に、前記フィールド面(108)において前記環状フィールドセグメントを形成するためのすれすれ入射形のフィールド鏡(110)を有することを特徴とする請求項11ないし17のいずれか1に記載の照明装置。
- 前記すれすれ入射形のフィールド鏡(110)は、凸面状の形を有することを特徴とする請求項18に記載の照明装置。
- 前記照明装置は、更に、前記光学要素(100)を前記出射瞳へ結像させるための結像型の光学素子(104)を有することを特徴とする請求項11ないし19のいずれか1に記載の照明装置。
- 走査方向に延びている直線上に位置している、前記フィールド面におけるすべての点の、その照明成分の各々の積分のために、前記出射瞳(106)の、同一の、積分された部分照明が結果として生じることを特徴とする請求項11ないし20のいずれか1に記載の照明装置。
- 前記光学素子は交換可能であり、この結果、照明の種々の形が前記出射瞳(106)において形成されることができることを特徴とする請求項11ないし21のいずれか1に記載の照明装置。
- 特にEUVリソグラフィのための、193nm以下の波長のための照明装置であって、この照明装置は、光源からまたは光源の像からフィールド面への光路において、ファセットのある只1つの光学素子を有し、この光学素子は、前記光源またはこの光源の像を、前記照明装置のフィールド面へ結像させるのみならず、前記照明装置の瞳も照明することを特徴とする照明装置。
- 特にEUVリソグラフィのための、193nm以下の波長のための照明装置であって、この照明装置は、光源からまたは光源の像からフィールド面への光路において、ファセットのある只1つの光学素子および只1つの他の鏡を有し、前記光学素子は、前記光源を、前記照明装置のフィールド面へ投影するのみならず、照明装置の瞳も照明する照明装置。
- 前記他の鏡は、垂直入射形の鏡であることを特徴とする請求項24に記載の照明装置。
- 前記垂直入射形の鏡は、集光作用を有することを特徴とする請求項25に記載の照明装置。
- 前記鏡は、すれすれ入射形の鏡であることを特徴とする請求項24に記載の照明装置。
- 特にEUVリソグラフィのための、193nm以下の波長のための照明装置であって、只1つの、ファセットのある光学素子および少なくとも1つのすれすれ入射形の鏡を有する照明装置。
- 更に、垂直入射形の鏡を有する請求項28に記載の照明装置。
- 光源の光または光源の像を受け取るためのコレクタユニットを有し、前記光源の、受け取られた光は、前記只1つの、ファセットのある光学素子を照明する、請求項28または29に記載の照明装置。
- マイクロリソグラフィのための、特にEUV範囲にある特に193nm以下の波長のための投影露光装置であって、請求項11ないし30のいずれか1に記載の照明装置および投影対物レンズ(112/212)を有する投影露光装置。
- 前記投影対物レンズは、少なくとも6つの鏡を有することを特徴とする、マイクロリソグラフィのための、特にEUVリソグラフィのための、特に193nm以下の波長のための請求項31に記載の投影露光装置。
- 前記投影対物レンズは、少なくとも8つの鏡を有することを特徴とする請求項31または32に記載の投影露光装置。
- 前記照明装置は、前記投影露光装置のフィールド面を照明し、このフィールド面にはマスクが設けられており、前記投影対物レンズは、前記マスクの像を、感光性の支持体基板に投影し、この支持体基板には、感光性の物体が設けられていることを特徴とする請求項31ないし33のいずれか1に記載の投影露光装置。
- マイクロ電子式の構成部材、特に半導体チップを、請求項31ないし34のいずれか1に記載の投影露光装置によって製造する方法。
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Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008135743A (ja) * | 2006-11-28 | 2008-06-12 | Carl Zeiss Smt Ag | Euv投影マイクロリソグラフィのための照明光学、その照明光学を備えた照明系、その照明系を備えた投影露光装置、微細構造素子を製造する方法、その方法によって得られる微細構造素子 |
JP2010519726A (ja) * | 2007-02-20 | 2010-06-03 | カール・ツァイス・エスエムティー・アーゲー | 複数の1次光源を有する光学要素 |
JP2010539716A (ja) * | 2007-09-21 | 2010-12-16 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | 放射線源の放射光を集めるための光束誘導光学集光器 |
JP2012514863A (ja) * | 2009-01-09 | 2012-06-28 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | 特にマイクロリソグラフィ用の投影露光システムで用いるファセットミラーを構成する個別ミラー |
JP2014153485A (ja) * | 2013-02-06 | 2014-08-25 | Nikon Corp | 光分配装置、照明システム及びこれを備える露光装置 |
JP2014197706A (ja) * | 2008-09-30 | 2014-10-16 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | Euvマイクロリソグラフィ用の投影露光装置の照明光学系に使用するための視野ファセットミラー |
JP2015163994A (ja) * | 2009-12-11 | 2015-09-10 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | Euvマイクロリソグラフィのための照明光学ユニット |
JP2016075962A (ja) * | 2008-02-15 | 2016-05-12 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | マイクロリソグラフィのための投影露光装置に使用するファセットミラー |
KR20160054579A (ko) * | 2013-09-11 | 2016-05-16 | 칼 짜이스 에스엠티 게엠베하 | 조명 광학 유닛 및 euv 투영 리소그래피용 조명 시스템 |
Families Citing this family (278)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102006017336B4 (de) * | 2006-04-11 | 2011-07-28 | Carl Zeiss SMT GmbH, 73447 | Beleuchtungssystem mit Zoomobjektiv |
US9475611B2 (en) | 2007-04-19 | 2016-10-25 | Anheuser-Busch Inbev S.A. | Integrally blow-moulded bag-in-container having interface vents opening to the atmosphere at location adjacent to bag's mouth, preform for making it; and processes for producing the preform and bag-in-container |
US20080259298A1 (en) * | 2007-04-19 | 2008-10-23 | Asml Netherlands B.V. | Lithographic apparatus and device manufacturing method |
US20080257883A1 (en) | 2007-04-19 | 2008-10-23 | Inbev S.A. | Integrally blow-moulded bag-in-container having an inner layer and the outer layer made of the same material and preform for making it |
KR20100017443A (ko) * | 2007-05-31 | 2010-02-16 | 칼 짜이스 에스엠테 아게 | 성형 프로세스를 이용하여 광학 요소를 제조하기 위한 방법, 상기 방법으로 제조된 광학 요소, 집광기 및 조명 장치 |
DE102007047446A1 (de) | 2007-10-04 | 2009-04-09 | Carl Zeiss Smt Ag | Optisches Element mit wenigstens einem elektrisch leitenden Bereich und Beleuchtungssystem mit einem solchen Element |
DE102008041593A1 (de) * | 2007-10-09 | 2009-04-16 | Carl Zeiss Smt Ag | Beleuchtungsoptik für die Mikrolithographie |
DE102008009600A1 (de) | 2008-02-15 | 2009-08-20 | Carl Zeiss Smt Ag | Facettenspiegel zum Einsatz in einer Projektionsbelichtungsanlage für die Mikro-Lithographie |
JP6112478B2 (ja) | 2008-03-20 | 2017-04-12 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | マイクロリソグラフィのための投影対物系 |
DE102008002749A1 (de) * | 2008-06-27 | 2009-12-31 | Carl Zeiss Smt Ag | Beleuchtungsoptik für die Mikrolithografie |
DE102008042462B4 (de) | 2008-09-30 | 2010-11-04 | Carl Zeiss Smt Ag | Beleuchtungssystem für die EUV-Mikrolithographie |
DE102009032194A1 (de) | 2008-10-16 | 2010-04-22 | Carl Zeiss Smt Ag | Optischer Spiegel mit einer Mehrzahl benachbarter Spiegelelemente und Verfahren zur Herstellung eines derartigen Spiegels |
KR101478400B1 (ko) * | 2009-03-06 | 2015-01-06 | 칼 짜이스 에스엠티 게엠베하 | 조명 광학 시스템 및 마이크로리소그래피용 광학 시스템 |
DE102009014701A1 (de) | 2009-03-27 | 2010-09-30 | Carl Zeiss Smt Ag | Optische Baugruppe |
DE102009045135A1 (de) | 2009-09-30 | 2011-03-31 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungsoptik für die Mikrolithographie |
EP2622609A1 (en) | 2010-09-27 | 2013-08-07 | Carl Zeiss SMT GmbH | Mirror, projection objective comprising such a mirror, and projection exposure apparatus for microlithography comprising such a projection objective |
DE102011006003A1 (de) | 2011-03-24 | 2012-05-16 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungsoptik zum Einsatz in einer Projektionsbelichtungsanlage für die Mikrolithografie |
KR102291997B1 (ko) | 2012-03-09 | 2021-08-23 | 칼 짜이스 에스엠티 게엠베하 | Euv 투영 리소그래피용 조명 옵틱스 및 이러한 조명 옵틱스를 갖는 광학 시스템 |
DE102012203950A1 (de) | 2012-03-14 | 2013-09-19 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungsoptik für eine Projektionsbelichtungsanlage |
DE102012212453A1 (de) | 2012-07-17 | 2014-01-23 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungsoptik |
US8961298B2 (en) | 2013-01-11 | 2015-02-24 | Bally Gaming, Inc. | Bet sensors, gaming tables with one or more bet sensors, and related methods |
DE102013203689A1 (de) | 2013-03-05 | 2014-09-11 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Beleuchtung eines Bildfeldes |
DE102013204443A1 (de) | 2013-03-14 | 2014-10-02 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optische Baugruppe zur Lichtleitwerterhöhung |
DE102013219057A1 (de) | 2013-09-23 | 2015-03-26 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Facettenspiegel für eine Projektionsbelichtungsanlage |
DE102014203187A1 (de) | 2014-02-21 | 2015-08-27 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungsoptik für die Projektionslithografie |
DE102014216801A1 (de) | 2014-08-25 | 2016-02-25 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Facettenspiegel für eine Beleuchtungsoptik für die Projektionslithographie |
DE102014217620A1 (de) | 2014-09-03 | 2016-03-03 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungsoptik für eine Projektionsbelichtungsanlage |
DE102014217612A1 (de) | 2014-09-03 | 2016-03-03 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungoptik für die Projektonslithograpfie |
DE102015208512A1 (de) | 2014-09-03 | 2016-03-03 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungsoptik für die Projektionslithografie |
DE102014217611A1 (de) | 2014-09-03 | 2016-03-03 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungsoptik für die Projektionslithografie |
DE102014217610A1 (de) | 2014-09-03 | 2016-03-03 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungsoptik für die Projektionslithografie |
DE102014217608A1 (de) | 2014-09-03 | 2014-11-20 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zum Zuordnen einer zweiten Facette eines im Strahlengang zweiten facettierten Elements einer Beleuchtungsoptik |
US10747830B2 (en) * | 2014-11-21 | 2020-08-18 | Mesh Labs Inc. | Method and system for displaying electronic information |
DE102015219057A1 (de) | 2014-12-15 | 2016-06-16 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungssystem für die EUV-Projektionslithografie |
CN105093847B (zh) * | 2015-08-04 | 2017-05-10 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 曝光机 |
DE102015217603A1 (de) | 2015-09-15 | 2017-03-16 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungsoptik für die Projektionslithografie |
DE102015224597A1 (de) | 2015-12-08 | 2016-10-06 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Feldfacettenspiegel für die EUV-Projektionslithographie |
DE102015224598A1 (de) | 2015-12-08 | 2016-03-03 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungsoptik |
DE102016213785A1 (de) | 2016-07-27 | 2018-02-01 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Einstellung eines Beleuchtungssettings |
DE102016225563A1 (de) | 2016-12-20 | 2018-06-21 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Hohlwellenleiter zur Führung von EUV-Licht mit einer Nutzwellenlänge |
DE102017215664A1 (de) | 2017-09-06 | 2019-03-07 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches System für eine Projektionsbelichtungsanlage |
DE102017216703A1 (de) | 2017-09-21 | 2019-03-21 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Charakterisierung mindestens einer optischen Komponente einer Projektionsbelichtungsanlage |
CN109261547B (zh) * | 2018-10-18 | 2020-11-03 | 合肥泰禾光电科技股份有限公司 | 物料分选方法及装置 |
DE102019200193B3 (de) * | 2019-01-09 | 2020-02-06 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches System für eine Projektionsbelichtungsanlage |
DE102019212017A1 (de) | 2019-08-09 | 2021-02-11 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches Beleuchtungssystem zur Führung von EUV-Strahlung |
DE102020208665A1 (de) | 2020-07-10 | 2022-01-13 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches Beleuchtungssystem zur Führung von EUV-Strahlung |
DE102020210771A1 (de) | 2020-08-26 | 2021-08-19 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Facettenspiegel für eine projektionsbelichtungsanlage und projektionsbelichtungsanlage mit entsprechendem facettenspiegel sowie verfahren zum betrieb derselben |
DE102020210829A1 (de) | 2020-08-27 | 2022-03-03 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Pupillenfacettenspiegel für eine Beleuchtungsoptik einer Projektionsbelichtungsanlage |
DE102020211096A1 (de) | 2020-09-02 | 2022-03-03 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Feldfacette für einen Feldfacettenspiegel einer Projektionsbelichtungsanlage |
DE102020212229B3 (de) | 2020-09-29 | 2022-01-20 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Blenden-Vorrichtung zur Begrenzung eines Strahlengangs zwischen einer Lichtquelle und einer Beleuchtungsoptik einer Projektionsbelichtungsanlage für die Projektionslithographie |
DE102020212367A1 (de) | 2020-09-30 | 2022-03-31 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optische Komponente |
DE102020212351A1 (de) | 2020-09-30 | 2022-03-31 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Mikrospiegel-Array für eine beleuchtungsoptische Komponente einer Projektionsbelichtungsanlage |
DE102020212569A1 (de) | 2020-10-06 | 2021-12-09 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projektionsbelichtungsanlage für die Halbleiterlithographie |
DE102020212927A1 (de) | 2020-10-14 | 2022-04-14 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Abstützung eines optischen elements |
DE102020213416A1 (de) | 2020-10-23 | 2021-10-07 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projektionsbelichtungsanlage mit einer Heizvorrichtung und einem Polarisator |
DE102020213837A1 (de) | 2020-11-04 | 2021-08-19 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Facettenspiegel-Vorrichtung |
DE102020215906A1 (de) | 2020-12-15 | 2022-06-15 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Dämpfungseinrichtung, optische Baugruppe und Projektionsbelichtungsanlage |
DE102021200114A1 (de) | 2021-01-08 | 2021-12-30 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Spiegelprojektionsoptik, Verfahren zur Überprüfung eines optischen Elements, optisches Element und Lithografiesystem |
DE102021200113A1 (de) | 2021-01-08 | 2022-07-14 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optische Vorrichtung, Verfahren zur Steuerung einer optischen Vorrichtung, Computerprogrammprodukt und Lithografiesystem |
DE102021212993A1 (de) | 2021-01-08 | 2022-07-14 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Messung einer Absorption einer elektromagnetischen Strahlung durch ein optisches Element, Vorrichtung zur Messung einer Umformungseigenschaft eines optischen Elements und Lithografiesystem |
DE102021101523B3 (de) | 2021-01-25 | 2021-10-14 | Carl Zeiss IQS Deutschland GmbH | Vorrichtung zur Herstellung einer klebenden Verbindung zwischen Bauteilen eines Lithografiesytems, Verfahren zur Herstellung einer klebenden Verbindung zwischen Bauteilen eines Lithografiesystems und Lithografiesystem |
DE102021213096A1 (de) | 2021-01-28 | 2022-07-28 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zum herstellen eines mechanischen systems für eine lithographieanlage |
DE102021201001A1 (de) | 2021-02-03 | 2022-08-04 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Herstellung eines optischen Elements, Vorrichtung zur Herstellung eines optischen Elements, optisches Element und Lithografiesystem |
DE102021201203A1 (de) | 2021-02-09 | 2022-08-11 | Carl Zeiss Smt Gmbh | System und projektionsbelichtungsanlage |
DE102021201257A1 (de) | 2021-02-10 | 2021-12-30 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung eines Spektrums einer Strahlung, Computerprogrammprodukt und Lithografiesystem |
DE102021201396A1 (de) | 2021-02-15 | 2022-08-18 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Herstellung eines mehrteiligen Spiegels einer Projektionsbelichtungsanlage für die Mikrolithographie |
DE102021201689A1 (de) | 2021-02-23 | 2022-08-25 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optische Baugruppe, Verfahren zur Deformation eines optischen Elements und Projektionsbelichtungsanlage |
DE102021202502B4 (de) | 2021-03-15 | 2023-01-19 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zum Verändern einer Form einer Oberfläche eines Objekts |
DE102021202769A1 (de) | 2021-03-22 | 2022-09-22 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optische Baugruppe sowie Verfahren zu deren Herstellung, Verfahren zur Deformation eines optischen Elements und Projektionsbelichtungsanlage |
DE102021202770A1 (de) | 2021-03-22 | 2022-03-03 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Erzeugung eines Plasmas und Projektionsbelichtungsanlage für die Halbleiterlithographie |
DE102021202802B3 (de) | 2021-03-23 | 2022-03-24 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projektionsbelichtungsanlage mit einer Vorrichtung zur Bestimmung der Konzentration von atomarem Wasserstoff |
DE102021202849A1 (de) | 2021-03-24 | 2022-01-05 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projektionsbelichtungsanlage für die Halbleiterlithographie |
DE102021202909A1 (de) | 2021-03-25 | 2022-09-29 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Messvorrichtung zum interferometrischen Vermessen einer Oberflächenform |
DE102021202911A1 (de) | 2021-03-25 | 2022-09-29 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Messvorrichtung zum interferometrischen Vermessen einer Oberflächenform |
DE102021203475A1 (de) | 2021-04-08 | 2022-10-13 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Herstellung eines Spiegels einer Projektionsbelichtungsanlage für die Mikrolithographie |
DE102021203721A1 (de) | 2021-04-15 | 2022-10-20 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Aktuator-sensor-vorrichtung und lithographieanlage |
DE102021203723A1 (de) | 2021-04-15 | 2022-04-21 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verbindungsanordnung, projektionsbelichtungsanlage und verfahren |
DE102022108541A1 (de) | 2021-04-23 | 2022-10-27 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Verfahren zur Herstellung eines Beprobungselementes und Beprobungselement |
DE102022200726A1 (de) | 2021-04-23 | 2022-10-27 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Bestimmung einer Reflexionseigenschaft eines zu untersuchenden optischen Elements, Vorrichtung zur Bestimmung einer Reflexionseigenschaft eines zu untersuchenden optischen Elements, Computerprogrammprodukt und Lithografiesystem |
DE102021204265A1 (de) | 2021-04-29 | 2022-11-03 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zu Reinigung einer Oberfläche eines Elementes und Reinigungsvorrichtung |
DE102021204582B3 (de) | 2021-05-06 | 2022-07-07 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches system und projektionsbelichtungsanlage |
DE102021205104A1 (de) | 2021-05-19 | 2022-03-03 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projektionsbelichtungsanlage mit deformierbarem Element und Verfahren zur Herstellung eines Elements |
DE102021205149B3 (de) | 2021-05-20 | 2022-07-07 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Qualifizierung eines Facettenspiegels |
DE102021205278B4 (de) | 2021-05-21 | 2023-05-17 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Einstellbarer Abstandshalter, Optisches System, Projektionsbelichtungsanlage und Verfahren |
DE102021205368A1 (de) | 2021-05-27 | 2022-12-01 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Komponente für eine Projektionsbelichtungsanlage für die Halbleiterlithografie und Verfahren zur Auslegung der Komponente |
DE102021205426A1 (de) | 2021-05-27 | 2022-12-01 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optikvorrichtung, Verfahren zur Einstellung einer Soll-Deformation und Lithografiesystem |
DE102021205425A1 (de) | 2021-05-27 | 2022-12-01 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optikvorrichtung, Verfahren zur Einstellung einer Soll-Deformation und Lithografiesystem |
DE102021205809B3 (de) | 2021-06-09 | 2022-08-18 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Verschraubung eines Aktuator-Sensor-Moduls einer Projektionsbelichtungsanlage |
DE102022203929A1 (de) | 2021-06-16 | 2022-12-22 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Vorrichtung zur Positionierung einer ersten Komponente eines optischen Systems, Komponente eines optischen Systems, optische Einrichtung und Lithografiesystem |
DE102021206427A1 (de) | 2021-06-22 | 2022-12-22 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projektionsbelichtungsanlage für die Halbleiterlithografie |
DE102022115356A1 (de) | 2021-06-24 | 2022-12-29 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Vorrichtung zur Temperierung eines Bauteils |
DE102022204833A1 (de) | 2021-07-02 | 2023-01-05 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches system, lithographieanlage und verfahren zum herstellen eines optischen systems |
DE102021206953A1 (de) | 2021-07-02 | 2022-06-02 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches system, lithographieanlage und verfahren zum betreiben eines optischen systems |
DE102021207522A1 (de) | 2021-07-15 | 2023-01-19 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Beschichtung einer Komponente für eine Projektionsbelichtungsanlage und Komponente einer Projektionsbelichtungsanlage |
DE102021208562A1 (de) | 2021-08-06 | 2023-02-09 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Temperaturmessvorrichtung, lithographieanlage und verfahren zum messen einer temperatur |
DE102021208563A1 (de) | 2021-08-06 | 2022-09-01 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Vorrichtung und verfahren zum bestimmen einer temperatur in einer lithographieanlage |
DE102021208628A1 (de) | 2021-08-09 | 2023-02-09 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Abstützung eines optischen elements |
DE102021208664A1 (de) | 2021-08-10 | 2023-02-16 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Spiegel für eine Projektionsbelichtungsanlage der Mikrolithographie |
DE102021120747A1 (de) | 2021-08-10 | 2023-02-16 | Carl Zeiss Sms Ltd. | Verfahren zur Entfernung eines Partikels von einem Maskensystem |
DE102021208801B3 (de) | 2021-08-11 | 2022-08-11 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projektionsbelichtungsanlage und Verfahren zur Auslegung einer Klebstoffschicht |
DE102021208843A1 (de) | 2021-08-12 | 2023-02-16 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projektionsbelichtungsanlage für die Halbleiterlithographie mit einem Verbindungselement |
DE102021208879A1 (de) | 2021-08-13 | 2023-02-16 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches element, projektionsoptik und projektionsbelichtungsanlage |
DE102021209098A1 (de) | 2021-08-19 | 2022-05-25 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Schutzschlauch und projektionsbelichtungsanlage |
DE102021209099A1 (de) | 2021-08-19 | 2023-02-23 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches system und projektionsbelichtungsanlage |
DE102022121000B4 (de) | 2021-08-23 | 2024-03-07 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Spiegelanordnung für eine EUV-Projektionsbelichtungsanlage mit einer Schutzvorrichtung zum Schutz der optischen Wirkfläche und EUV-Projektionsbelichtungsanlage |
DE102022204387A1 (de) | 2021-08-24 | 2023-03-16 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Reinigung einer zu reinigenden Oberfläche, Element für die Lithografie und/oder Halbleiterindustrie und Lithografiesystem |
DE102021210103B3 (de) | 2021-09-14 | 2023-03-02 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren, optisches system und projektionsbelichtungsanlage |
DE102021210104A1 (de) | 2021-09-14 | 2022-07-07 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches system, projektionsbelichtungsanlage und verfahren |
DE102021210470B3 (de) | 2021-09-21 | 2023-01-19 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projektionsbelichtungsanlage für die Halbleiterlithografie |
DE102021210577A1 (de) | 2021-09-23 | 2023-03-23 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches system, projektionsbelichtungsanlage und verfahren |
DE102021210708A1 (de) | 2021-09-24 | 2022-11-24 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Dosiervorrichtung und verfahren zum herstellen einer lithographieanlage |
DE102022205758A1 (de) | 2021-10-07 | 2023-04-13 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches system und verfahren |
DE102021211619A1 (de) | 2021-10-14 | 2023-04-20 | Carl Zeiss Smt Gmbh | EUV- Mehrfachspiegelanordnung |
DE102021211626A1 (de) | 2021-10-14 | 2023-04-20 | Carl Zeiss Smt Gmbh | EUV-Mehrfachspiegelanordnung |
DE102021212394A1 (de) | 2021-11-03 | 2023-05-04 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches system, lithographieanlage und verfahren |
DE102021212553A1 (de) | 2021-11-08 | 2023-05-11 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches system, lithographieanlage und verfahren |
DE102022210796A1 (de) | 2021-11-11 | 2023-05-11 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Initialisierung einer Komponente einer Projektionsbelichtungsanlage für die Halbleiterlithografie |
DE102021212971A1 (de) | 2021-11-18 | 2023-05-25 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches system, projektionsbelichtungsanlage und verfahren |
DE102021213168A1 (de) | 2021-11-23 | 2023-05-25 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren |
DE102021213441A1 (de) | 2021-11-29 | 2022-09-15 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zum herstellen eines optischen systems |
DE102021213458A1 (de) | 2021-11-30 | 2022-08-18 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projektionsbelichtungsanlage für die Halbleiterlithografie |
DE102021213612A1 (de) | 2021-12-01 | 2023-06-01 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches system, testgerät, lithographieanlage, anordnung und verfahren |
DE102021213610A1 (de) | 2021-12-01 | 2023-06-01 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren, optisches system, testgerät und anordnung |
DE102021213864A1 (de) | 2021-12-07 | 2022-07-07 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum Schutz einer Klebstoffverbindung |
DE102021214139A1 (de) | 2021-12-10 | 2023-06-15 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projektionsbelichtungsanlage mit einem Korrekturermittlungsmodul |
DE102021214665A1 (de) | 2021-12-20 | 2022-12-15 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projektionsbelichtungsanlage für die Halbleiterlithografie mit einer Temperierstruktur |
DE102021214981A1 (de) | 2021-12-23 | 2023-06-29 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren und trockenvorrichtung |
DE102022200205B3 (de) | 2022-01-11 | 2022-11-24 | Carl Zeiss Smt Gmbh | EUV-Projektionsbelichtungsanlage und Verfahren zur Entfernung von Fremdkörpern |
DE102022200264A1 (de) | 2022-01-12 | 2022-12-15 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Vorrichtung zur Verkippung eines Spiegels, optisches Bauelement, optische Baugruppe, Verfahren zur Verkippung eines Spiegels, Verfahren zur Herstellung einer Vorrichtung zur Verkippung eines Spiegels und EUV-Projektionsbelichtungsanlage |
DE102022213100A1 (de) | 2022-01-13 | 2023-07-13 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Aktuator-/sensor-vorrichtung, optikmodul und lithographieanlage |
DE102022200277A1 (de) | 2022-01-13 | 2023-01-26 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren, Vorrichtung, Präparationsverfahren und Präparationsvorrichtung zur Herstellung eines Grundkörpers, Grundkörper, optisches Element und Lithografiesystem |
DE102022200400A1 (de) | 2022-01-14 | 2022-06-30 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verbindung von komponenten einer optischen einrichtung |
DE102022213113A1 (de) | 2022-01-18 | 2023-07-20 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Überwachung einer Justageeinstellung, interferometrische Messvorrichtung, Hologrammvorrichtung und Lithografiesystem |
DE102022212378A1 (de) | 2022-01-24 | 2023-07-27 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Vorrichtung zur Aufnahme und Kühlung eines Optikkörpers, Verfahren zur Herstellung eines Optikkörpers, Kühlverfahren zur Kühlung eines Optikkörpers, optisches Element und Lithografiesystem |
DE102022211909A1 (de) | 2022-01-25 | 2023-07-27 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches system, lithographieanlage und verfahren zum betreiben eines optischen systems |
DE102022200976A1 (de) | 2022-01-31 | 2023-01-05 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Kalibrierkörper und Verfahren zur Kalibrierung |
DE102022201007A1 (de) | 2022-01-31 | 2022-11-17 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Vorrichtung zur Verbindung wenigstens einer ersten und einer zweiten Modulkomponente, Modul eines Lithografiesystems, optisches Element und Lithografiesystem |
DE102023200212A1 (de) | 2022-02-01 | 2023-08-03 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projektionsbelichtungsanlage und Verfahren zur Manipulation von Schwingungen |
DE102022201304A1 (de) | 2022-02-08 | 2023-01-05 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Bestimmung des Endes einer Aufwärmphase eines optischen Elementes |
DE102022201301A1 (de) | 2022-02-08 | 2023-08-10 | Carl Zeiss Smt Gmbh | EUV-Projektionsbelichtungsanlage mit einer Heizvorrichtung |
DE102023200336A1 (de) | 2022-02-08 | 2023-08-10 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projektionsbelichtungsanlage für die Halbleiterlithografie mit einem Verbindungselement |
DE102022212721A1 (de) | 2022-02-16 | 2023-08-17 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren |
DE102023201200A1 (de) | 2022-03-01 | 2023-09-07 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projektionsbelichtungsanlage für die Halbleiterlithografie |
DE102022202116A1 (de) | 2022-03-02 | 2023-02-23 | Carl Zeiss Smt Gmbh | System und projektionsbelichtungsanlage |
DE102022202241A1 (de) | 2022-03-04 | 2023-03-02 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches system und projektionsbelichtungsanlage |
DE102022202355A1 (de) | 2022-03-09 | 2023-02-02 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Mikrospiegelbaugruppe, Herstellungsverfahren zur Herstellung einer Mikrospiegelbaugruppe und Verfahren zum Verkippen einer Spiegelfläche |
DE102023201812A1 (de) | 2022-03-09 | 2023-09-14 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum Lösen einer Klebstoffverbindung |
DE102022202424A1 (de) | 2022-03-10 | 2023-03-02 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren und Prüfsystem zur Analyse von Dichtungssystemen |
DE102023201828A1 (de) | 2022-03-14 | 2023-09-14 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Steckeraufnahme, Heizvorrichtung und Projektionsbelichtungsanlage |
DE102023201560A1 (de) | 2022-03-21 | 2023-09-21 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Bauteil und projektionsbelichtungsanlage |
DE102022202938A1 (de) | 2022-03-24 | 2023-09-28 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Anordnung und projektionsbelichtungsanlage |
DE102022202989A1 (de) | 2022-03-25 | 2023-09-28 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optikvorrichtung, Verfahren zur Messung einer Ist-Verkippung einer optischen Oberfläche eines optischen Elements und Lithografiesystem |
DE102022203150A1 (de) | 2022-03-31 | 2023-01-05 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optikvorrichtung, Verfahren zur Erfassung einer Temperaturverteilung und Lithografiesystem |
DE102022203298A1 (de) | 2022-04-01 | 2023-10-05 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur chemischen Bearbeitung einer Oberfläche |
DE102022203299A1 (de) | 2022-04-01 | 2023-10-05 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Überprüfung der Qualität einer Verschraubung |
DE102022203257A1 (de) | 2022-04-01 | 2023-10-05 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Ansteuervorrichtung, optisches system, lithographieanlage und verfahren |
DE102022203255A1 (de) | 2022-04-01 | 2023-10-05 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Ansteuervorrichtung, optisches system und lithographieanlage |
DE102022203254B3 (de) | 2022-04-01 | 2023-03-02 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Wasserführendes system, projektionsbelichtungsanlage und messvorrichtung |
DE102022203369A1 (de) | 2022-04-05 | 2023-10-05 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Anordnung, Verfahren und Computerprogrammprodukt zur Kalibrierung von Facettenspiegeln |
DE102022203433A1 (de) | 2022-04-06 | 2023-10-12 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verbindung von komponenten einer optischen einrichtung |
DE102022208738A1 (de) | 2022-08-24 | 2024-02-29 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Ausrichtung von zwei Komponenten |
WO2023194220A1 (en) | 2022-04-06 | 2023-10-12 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Device and method for aligning two components |
DE102022203438B4 (de) | 2022-04-06 | 2023-12-07 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optische Anordnung, optisches Modul, optische Abbildungseinrichtung und -verfahren, Verfahren zum Abstützen eines optischen Elements, mit aktiv verkippbarem optischem Element |
DE102022203393A1 (de) | 2022-04-06 | 2023-10-12 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Ausrichtung von zwei Komponenten |
DE102022203745A1 (de) | 2022-04-13 | 2022-09-15 | Carl Zeiss Smt Gmbh | EUV-Kollektor für eine EUV-Projektionsbelichtungsanlage |
DE102022203758A1 (de) | 2022-04-13 | 2023-10-19 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verbindung von komponenten einer optischen einrichtung |
DE102022203881A1 (de) | 2022-04-20 | 2023-04-13 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Leiterplatte für ein optisches system, optisches system, lithographieanlage und verfahren zum herstellen einer leiterplatte für ein optisches system |
DE102022203999A1 (de) | 2022-04-26 | 2022-07-21 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Kalibrierung einer diffraktiven Messstruktur, Vorrichtung zur Kalibrierung einer diffraktiven Messstruktur und Lithografiesystem |
DE102022204095A1 (de) | 2022-04-27 | 2023-11-02 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zum Vermessen einer Beleuchtungswinkelverteilung auf einem Objektfeld sowie Beleuchtungsoptik mit einer hierüber vorgegebenen Beleuchtungskanal-Zuordnung |
DE102022204098A1 (de) | 2022-04-27 | 2023-11-02 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungsoptik für die Projektionslithografie |
DE102022204044A1 (de) | 2022-04-27 | 2023-11-02 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Abstützung von komponenten einer optischen einrichtung |
DE102022204268A1 (de) | 2022-04-29 | 2023-11-02 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches Bauteil für eine Lithographieanlage |
DE102022204580A1 (de) | 2022-05-11 | 2023-04-20 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zum herstellen oder betreiben eines spiegels in einer lithographieanlage |
DE102022204643A1 (de) | 2022-05-12 | 2023-11-16 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches system, lithographieanlage mit einem optischen system und verfahren zum herstellen eines optischen systems |
DE102022205227A1 (de) | 2022-05-25 | 2023-04-27 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optikvorrichtung, Verfahren zur Ermittlung einer Ist-Deformation, Verfahren zur Einstellung einer Solldeformation und Lithografiesystem |
DE102023203580A1 (de) | 2022-05-31 | 2023-11-30 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Kühlmittelleitung zur Bereitstellung eines Fluids zur Temperierung von Bauteilen |
DE102022214283A1 (de) | 2022-06-07 | 2023-12-07 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches System für eine Lithographieanlage und Lithographieanlage |
DE102022205815A1 (de) | 2022-06-08 | 2023-12-14 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Komponente für eine Projektionsbelichtungsanlage für die Halbleiterlithografie und Projektionsbelichtungsanlage |
DE102022206038A1 (de) | 2022-06-15 | 2023-12-21 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Kompensation von Aktuatoreffekten von Aktuatoren |
DE102022206065B3 (de) | 2022-06-15 | 2023-02-23 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches system, projektionsbelichtungsanlage und verfahren |
DE102022206126A1 (de) | 2022-06-20 | 2023-03-09 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Bauteil zum Einsatz in einer Projektionsbelichtungsanlage |
DE102022206124A1 (de) | 2022-06-20 | 2023-12-21 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Vorrichtung und verfahren zum bearbeiten einer oberfläche eines optischen elements einer lithographieanlage |
DE102022206110A1 (de) | 2022-06-20 | 2023-12-21 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Abbildende EUV-Optik zur Abbildung eines Objektfeldes in ein Bildfeld |
DE102022206112A1 (de) | 2022-06-20 | 2023-12-21 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Abbildende EUV-Optik zur Abbildung eines Objektfeldes in ein Bildfeld |
DE102022206198A1 (de) | 2022-06-21 | 2022-09-15 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Qualifizierung einer Komponente einer Projektionsbelichtungsanlage für die Halbleiterlithografie |
DE102023204960A1 (de) | 2022-06-30 | 2024-01-04 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zum Betrieb eines Lithografiesystems und Lithografiesystem |
DE102022116699A1 (de) | 2022-07-05 | 2024-01-11 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches Element und Projektionsbelichtungsanlage für die Halbleiterlithographie |
DE102022116700A1 (de) | 2022-07-05 | 2024-01-11 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optische Baugruppe, Projektionsbelichtungsanlage für die Halbleiterlithographie und Verfahren |
DE102022116696A1 (de) | 2022-07-05 | 2024-01-11 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Grundkörper für ein optisches Element mit einer Anbindungsgeometrie und Verfahren zur Herstellung eines Grundkörpers eines optischen Elementes sowie Projektionsbelichtungsanlage |
DE102022116695A1 (de) | 2022-07-05 | 2024-01-11 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Grundkörper für ein optisches Element und Verfahren zur Herstellung eines Grundkörpers für ein optisches Element sowie Projektionsbelichtungsanlage |
DE102022116693A1 (de) | 2022-07-05 | 2024-01-11 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches Element mit schwingungsmindernden Abschnitten von Fluidleitungen und Verfahren zur Herstellung eines Grundkörpers eines optischen Elementes sowie Projektionsbelichtungsanlage |
DE102022116698B3 (de) | 2022-07-05 | 2023-09-21 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projektionsbelichtungsanlage für die Halbleiterlithographie |
WO2024008676A1 (de) | 2022-07-05 | 2024-01-11 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur herstellung eines grundkörpers eines optischen elementes für die halbleiterlithografie, grundkörper, optisches element und projektionsbelichtungsanlage |
DE102022206832A1 (de) | 2022-07-05 | 2024-01-11 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zum regeln einer position einer optischen komponente einer lithographieanlage |
DE102022208286A1 (de) | 2022-08-09 | 2024-02-15 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Herstellung eines Grundkörpers für die Halbleiterlithografie, optisches Element und Projektionsbelichtungsanlage |
DE102022116694A1 (de) | 2022-07-05 | 2024-01-11 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Herstellung eines Grundkörpers eines optischen Elementes, Grundkörper sowie Projektionsbelichtungsanlage für die Halbleiterlithographie |
DE102023206334A1 (de) | 2022-07-11 | 2024-01-11 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Steuervorrichtung und optisches system |
DE102022207027A1 (de) | 2022-07-11 | 2024-01-11 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Vorrichtung und verfahren zur bereitstellung von sensordaten eines optischen systems, optisches system und lithographieanlage mit einem optischen system |
DE102022207123A1 (de) | 2022-07-12 | 2024-01-18 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Zapfen für ein Spannsystem |
DE102022207148A1 (de) | 2022-07-13 | 2024-01-18 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projektionsbelichtungsanlage für die Halbleiterlithographie |
DE102022207312A1 (de) | 2022-07-18 | 2024-01-18 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches system und projektionsbelichtungsanlage |
DE102022207348A1 (de) | 2022-07-19 | 2022-09-15 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren und justierelementsatz |
DE102023205175A1 (de) | 2022-07-22 | 2024-01-25 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zum Bestimmen eines Gesamtschwerpunkts einer Verteilung von Lichtintensitäten |
DE102022207555A1 (de) | 2022-07-25 | 2024-01-25 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches system, lithographieanlage mit einem optischen system und verfahren zum herstellen eines optischen systems |
DE102022207545A1 (de) | 2022-07-25 | 2023-04-27 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optische Komponente |
DE102022207546B3 (de) | 2022-07-25 | 2023-10-12 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Facettenspiegel-Baugruppe, Beleuchtungsoptik, optisches System, Projektionsbelichtungsanlage, Verfahren zur Herstellung eines mikrostrukturierten Bauteils sowie Bauteil |
DE102022207687A1 (de) | 2022-07-27 | 2024-02-01 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Inspektion eines Bauteils, computerimplementiertes Verfahren und Lithografiesystem |
DE102022207689A1 (de) | 2022-07-27 | 2022-09-29 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren, Vorrichtung und Computerprogrammprodukt zur Identifikation von Kontaminationen bei Komponenten einer EUV-Lithografie-Anlage |
DE102022207884B4 (de) | 2022-07-29 | 2024-02-15 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Messvorrichtung, Verfahren zur interferometrischen Vermessung, Bearbeitungsverfahren, optisches Element und Lithografiesystem |
DE102022208010A1 (de) | 2022-08-03 | 2024-02-08 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Aufbringung eines Fluids und Komponente |
DE102022208239A1 (de) | 2022-08-08 | 2024-02-08 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Sensorischen Messung Chemischer und/oder Physikalischer Eigenschaften einer Klebeschicht und/oder eines die Klebeschicht Kontaktierenden Mediums, sowie Verfahren zur Herstellung einer entsprechenden Vorrichtung und Verfahren zur Sensorischen Messung |
DE102022208206A1 (de) | 2022-08-08 | 2024-02-08 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Stabilisierung einer Klebstoffverbindung einer optischen Baugruppe |
DE102022208231B3 (de) | 2022-08-08 | 2023-06-07 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Ansteuervorrichtung, optisches system und lithographieanlage |
DE102022208204A1 (de) | 2022-08-08 | 2023-08-31 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Kompensation von Abbildungsfehlern einer EUV-Projektionsbelichtungsanlage |
WO2024052300A1 (en) | 2022-09-09 | 2024-03-14 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Illumination system, radiation source apparatus, method for illuminating a reticle, and lithography system |
DE102022209453A1 (de) | 2022-09-09 | 2024-03-14 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Faserstrang für einen Sektorheizer, Sektorheizer und Projektionsvorrichtung |
DE102023203506A1 (de) | 2022-09-12 | 2024-03-14 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Vakuumkammer für Komponenten für die Halbleiterlithografie und Verfahren zur automatisierten Reinigung der Vakuumkammer |
WO2024056600A1 (en) | 2022-09-13 | 2024-03-21 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Method to adjust an illumination beam path within an illumination optics and illumination optics having an adjustment system |
DE102023206503A1 (de) | 2022-09-14 | 2024-03-14 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Abbildende Optik |
DE102022209791B3 (de) | 2022-09-19 | 2023-07-06 | Carl Zeiss Smt Gmbh | EUV-Kollektor für eine EUV-Projektionsbelichtungsanlage |
DE102022209852A1 (de) | 2022-09-19 | 2022-11-10 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Thermische aktuatoranordnung |
DE102022209868A1 (de) | 2022-09-20 | 2024-03-21 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optische baugruppe, optisches system und projektionsbelichtungsanlage |
DE102023208854A1 (de) | 2022-09-20 | 2024-03-21 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Kühlvorrichtung zum kühlen einer positionssensitiven komponente einer lithographieanlage |
DE102022209854A1 (de) | 2022-09-20 | 2022-11-17 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verbindungsanordnung |
DE102022209922A1 (de) | 2022-09-21 | 2023-09-21 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Reflektometervorrichtung, messanordnung, verfahren zum herstellen eines optischen referenzelements und verfahren zum vermessen einer probe einer lithographieanlage |
DE102022209908A1 (de) | 2022-09-21 | 2024-03-21 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Facettenspiegel, Beleuchtungsoptik, Anordnung eines Facettenspiegels, Projektionsbelichtungsanlage und Verfahren zur Herstellung eines nanostrukturierten Bauelements |
DE102022210024A1 (de) | 2022-09-22 | 2023-09-07 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Qualifizierung eines Computergenerierten Hologramms, Regularisierungsverfahren und Lithografiesystem |
DE102022210037A1 (de) | 2022-09-23 | 2024-03-28 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Anordnung zum Tempern mindestens eines Teilbereichs eines optischen Elementes |
DE102022210035A1 (de) | 2022-09-23 | 2024-03-28 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Führung von komponenten einer optischen einrichtung |
DE102022210158A1 (de) | 2022-09-26 | 2024-03-28 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Anordnung, Verfahren und Computerprogrammprodukt zur Kalibrierung von Facettenspiegeln |
DE102022210132A1 (de) | 2022-09-26 | 2022-12-01 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Komponente für eine Projektionsbelichtungsanlage für die Halbleiterlithografie und Verfahren zur Herstellung der Komponente |
DE102022210229A1 (de) | 2022-09-27 | 2022-11-24 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Magnetsystem und Verfahren zur reibungsreduzierten Lagerung und/oder Lagebeeinflussung eines optischen Elements |
DE102022210171A1 (de) | 2022-09-27 | 2024-03-28 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches element, optisches system und projektionsbelichtungsanlage |
DE102022210274A1 (de) | 2022-09-28 | 2024-03-28 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Messvorrichtung und messverfahren zum messen einer in einem optischen system abfallenden spannung, optisches system und lithographieanlage |
DE102022210289A1 (de) | 2022-09-28 | 2022-12-01 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Positionierung eines optischen Elements, Messvorrichtung zur Vermessung einer optischen Oberfläche und Lithografiesystem |
DE102022210356A1 (de) | 2022-09-29 | 2022-11-24 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches system, lithographieanlage mit einem optischen system und verfahren zum herstellen eines optischen systems |
DE102022125354A1 (de) | 2022-09-30 | 2024-04-04 | Asml Netherlands B.V. | Kühlvorrichtung zum Kühlen einer positionssensitiven Komponente einer Lithographieanlage |
DE102022211226A1 (de) | 2022-10-24 | 2024-04-25 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projektionsbelichtungsanlage für die Halbleiterlithographie und Verfahren |
DE102022211334A1 (de) | 2022-10-26 | 2023-09-14 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Ansteuerung eines Aktuators und Aktuator |
DE102023207047A1 (de) | 2022-10-27 | 2024-05-02 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Kühlleitungsvorrichtung für eine lithographieanlage, lithographieanlage und verfahren zum steuern eines drucks einer kühlflüssigkeit in einer kühlleitung einer lithographieanlage |
DE102023208302A1 (de) | 2022-11-02 | 2024-05-02 | Carl Zeiss Smt Gmbh | System für eine lithographieanlage und lithographieanlage |
DE102023208848A1 (de) | 2022-11-07 | 2024-05-08 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungssystem für eine lithographieanlage, lithographieanlage und verfahren zum betreiben eines beleuchtungssystems einer lithographieanlage |
DE102022211696A1 (de) | 2022-11-07 | 2024-05-08 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches system und lithographieanlage mit einem optischen system |
DE102023208851A1 (de) | 2022-11-08 | 2024-05-08 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches system und projektionsbelichtungsanlage |
DE102022211799A1 (de) | 2022-11-08 | 2022-12-29 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Manipulator, optisches system, projektionsbelichtungsanlage und verfahren |
DE102022211875A1 (de) | 2022-11-09 | 2024-05-16 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Korrektur lokaler Oberflächenerhebungen auf spiegelnden Oberflächen |
DE102022212136A1 (de) | 2022-11-15 | 2023-01-12 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Ermittlung von Bildfehlern hochauflösender Abbildungssysteme per Wellenfrontmessung |
DE102022212120A1 (de) | 2022-11-15 | 2023-11-23 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren und fasereinblasvorrichtung |
DE102022212168A1 (de) | 2022-11-16 | 2024-05-16 | Carl Zeiss Smt Gmbh | EUV-Optik-Modul für eine EUV-Projektionsbelichtungsanlage |
DE102022212167A1 (de) | 2022-11-16 | 2023-09-14 | Carl Zeiss Smt Gmbh | EUV-Quellen-Modul für eine EUV-Projektionsbelichtungsanlage |
DE102022212257A1 (de) | 2022-11-17 | 2023-11-02 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Herstellung eines Grundkörpers und Grundkörper mit einer Leichtbaustruktur sowie Projektionsbelichtungsanlage |
DE102022212377A1 (de) | 2022-11-21 | 2023-10-12 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Dichtungsvorrichtung, verfahren und verwendung |
DE102022212463A1 (de) | 2022-11-22 | 2024-05-23 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches system, lithographieanlage und verfahren zum betreiben eines optischen systems einer lithographieanlage |
DE102022212537A1 (de) | 2022-11-24 | 2024-05-29 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches system, lithographieanlage mit einem optischen system und anordnung mit einem optischen system |
DE102022213143A1 (de) | 2022-12-06 | 2024-06-06 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Spiegelanordnung zur Absorption von Strahlung und Lithographiesystem |
DE102022213142A1 (de) | 2022-12-06 | 2024-06-06 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Spiegelanordnung mit gekühlten Spiegelelementen und Lithographiesystem |
WO2024120941A1 (en) | 2022-12-09 | 2024-06-13 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Mirror socket, optical system and projection exposure apparatus |
DE102022213681A1 (de) | 2022-12-15 | 2024-06-20 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Kühlvorrichtung für eine lithographieanlage |
DE102022213810A1 (de) | 2022-12-16 | 2023-02-23 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Überwachung einer Linse eines Lithografiesystems, Optikvorrichtung für ein Lithografiesystem und Lithografiesystem |
DE102022213752A1 (de) | 2022-12-16 | 2023-02-09 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Interferometervorrichtung zur Vermessung einer Oberfläche, Verfahren zur interferometrischen Vermessung einer Oberfläche und Lithografiesystem |
DE102022213987A1 (de) | 2022-12-20 | 2023-12-14 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Montage einer optischen Baugruppe, optische Baugruppe und Projektionsbelichtungsanlage |
DE102023200146A1 (de) | 2023-01-11 | 2023-03-09 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren und justagesystem zur justage einer position eines facettenspiegels einer lithographieanlage |
DE102023200329B3 (de) | 2023-01-17 | 2024-05-02 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optische Baugruppe, Verfahren zur Montage der optischen Baugruppe und Projektionsbelichtungsanlage |
DE102023200423A1 (de) | 2023-01-20 | 2023-12-28 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Kühlvorrichtung für eine lithographieanlage, lithographieanlage und verfahren zum dämpfen einer druckschwankung einer flüssigkeit in einer flüssigkeitsleitung einer kühlvorrichtung einer lithographieanlage |
DE102023201137A1 (de) | 2023-02-13 | 2024-01-11 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Anordnung und Verfahren zum Schutz einer Klebstoffverbindung |
DE102023201546B3 (de) | 2023-02-22 | 2024-01-25 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zum Entschichten einer optischen Oberfläche, Vorrichtung zum Entschichten einer optischen Oberfläche und Lithografiesystem |
DE102023201840A1 (de) | 2023-03-01 | 2024-02-22 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Baugruppe für die Halbleitertechnik und Projektionsbelichtungsanlage |
DE102023201860A1 (de) | 2023-03-01 | 2023-04-20 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Baugruppe und Verfahren zur Verbindung zweier Bauteile |
DE102023203830A1 (de) | 2023-04-25 | 2024-03-28 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Distanzvorrichtung, optisches system, lithographieanlage und verfahren |
DE102023203832A1 (de) | 2023-04-25 | 2024-04-04 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches system und projektionsbelichtungsanlage |
DE102023203897A1 (de) | 2023-04-27 | 2024-04-04 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zum herstellen einer komponente einer lithographieanlage, komponente und lithographieanlage |
DE102023204394A1 (de) | 2023-05-11 | 2024-05-23 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Minimierung von Druckschwankungen und Projektionsbelichtungsanlage |
DE102023205426A1 (de) | 2023-06-12 | 2024-05-29 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Modul mit zwei Fügepartnern für eine Projektionsbelichtungsanlage für die Halbleiterlithografie, Projektionsbelichtungsanlage und Verfahren |
DE102023205587A1 (de) | 2023-06-15 | 2023-07-27 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Bauelement für die Halbleiterlithografie, Verfahren zum Herstellen eines Gelenkkörpers für einen Sensor eines Lithografiesystems und Lithografiesystem |
DE102023116898A1 (de) | 2023-06-27 | 2024-06-20 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches Modul und Projektionsbelichtungsanlage |
DE102023206344A1 (de) | 2023-07-04 | 2024-06-06 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches system und projektionsbelichtungsanlage |
DE102023206565A1 (de) | 2023-07-11 | 2024-05-29 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Wasserführendes system und projektionsbelichtungsanlage |
DE102024200329A1 (de) | 2024-01-15 | 2024-05-08 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Filtration eines Kühlschmiermittels, Bearbeitungseinrichtung sowie Lithografiesystem |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06333798A (ja) * | 1993-05-10 | 1994-12-02 | American Teleph & Telegr Co <Att> | シンクロトロン放射を利用するデバイス製造 |
JPH07169677A (ja) * | 1993-05-20 | 1995-07-04 | At & T Corp | プラズマ誘導x線描画を伴う装置製作方法 |
JP2000223415A (ja) * | 1999-01-27 | 2000-08-11 | Svg Lithography Syst Inc | リソグラフィのための照明装置のコンデンサおよび構成方法 |
JP2002071922A (ja) * | 2000-06-21 | 2002-03-12 | Carl-Zeiss-Stiftung Trading As Carl Zeiss | 複数の光学素子を基体に連結する方法 |
JP2002139672A (ja) * | 2000-10-20 | 2002-05-17 | Carl Zeiss Stiftung Trading As Carl Zeiss | 8枚の反射鏡を用いたマイクロリソグラフィ用の投影光学系 |
JP2002203784A (ja) * | 2000-10-27 | 2002-07-19 | Carl Zeiss Stiftung Trading As Carl Zeiss | 照明の設定が変更可能な照明系 |
JP2003022967A (ja) * | 2001-06-01 | 2003-01-24 | Asml Netherlands Bv | リトグラフ装置、デバイス製造方法、その方法により製造されたデバイス、制御システム、コンピュータ・プログラムおよびコンピュータ・プログラム製品 |
Family Cites Families (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4195913A (en) * | 1977-11-09 | 1980-04-01 | Spawr Optical Research, Inc. | Optical integration with screw supports |
US4202605A (en) * | 1979-04-05 | 1980-05-13 | Rockwell International Corporation | Active segmented mirror |
US4289380A (en) * | 1980-04-03 | 1981-09-15 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Laser beam linear adjustable integrating mirror |
CN1059039A (zh) * | 1990-08-15 | 1992-02-26 | 中国科学院长春光学精密机械研究所 | 大面积紫外光刻(曝光)方法及其装置 |
US5581605A (en) * | 1993-02-10 | 1996-12-03 | Nikon Corporation | Optical element, production method of optical element, optical system, and optical apparatus |
US5361292A (en) * | 1993-05-11 | 1994-11-01 | The United States Of America As Represented By The Department Of Energy | Condenser for illuminating a ring field |
US5485498A (en) * | 1994-07-01 | 1996-01-16 | Motorola, Inc. | X-ray interface and condenser |
US5737137A (en) * | 1996-04-01 | 1998-04-07 | The Regents Of The University Of California | Critical illumination condenser for x-ray lithography |
EP0955641B1 (de) * | 1998-05-05 | 2004-04-28 | Carl Zeiss | Beleuchtungssystem insbesondere für die EUV-Lithographie |
DE19903807A1 (de) * | 1998-05-05 | 1999-11-11 | Zeiss Carl Fa | Beleuchtungssystem insbesondere für die EUV-Lithographie |
DE19935404A1 (de) * | 1999-07-30 | 2001-02-01 | Zeiss Carl Fa | Beleuchtungssystem mit mehreren Lichtquellen |
DE10138313A1 (de) * | 2001-01-23 | 2002-07-25 | Zeiss Carl | Kollektor für Beleuchtugnssysteme mit einer Wellenlänge < 193 nm |
US6398374B1 (en) * | 1998-12-31 | 2002-06-04 | The Regents Of The University Of California | Condenser for ring-field deep ultraviolet and extreme ultraviolet lithography |
US6573978B1 (en) * | 1999-01-26 | 2003-06-03 | Mcguire, Jr. James P. | EUV condenser with non-imaging optics |
EP1772775B1 (de) * | 1999-02-15 | 2008-11-05 | Carl Zeiss SMT AG | Mikrolithographie-Reduktionsobjektiveinrichtung sowie Projektionsbelichtungsanlage |
US6639733B2 (en) * | 2000-03-16 | 2003-10-28 | Light Prescriptions Innovators, Llc. | High efficiency non-imaging optics |
DE10016176A1 (de) * | 2000-03-31 | 2001-10-04 | Zeiss Carl | Mikrolithographisches Beleuchtungssystem und Mikrolithographische Projektionsbelichtungsanlage damit |
-
2003
- 2003-04-17 DE DE10317667A patent/DE10317667A1/de not_active Withdrawn
-
2004
- 2004-04-13 DE DE502004010448T patent/DE502004010448D1/de not_active Expired - Lifetime
- 2004-04-13 CN CN2004800103036A patent/CN1774675B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2004-04-13 WO PCT/EP2004/003855 patent/WO2004092844A2/de active Application Filing
- 2004-04-13 EP EP04726991A patent/EP1614008B1/de not_active Expired - Fee Related
- 2004-04-13 JP JP2006505094A patent/JP2006523944A/ja active Pending
-
2005
- 2005-10-14 US US11/251,136 patent/US20060132747A1/en not_active Abandoned
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06333798A (ja) * | 1993-05-10 | 1994-12-02 | American Teleph & Telegr Co <Att> | シンクロトロン放射を利用するデバイス製造 |
JPH07169677A (ja) * | 1993-05-20 | 1995-07-04 | At & T Corp | プラズマ誘導x線描画を伴う装置製作方法 |
JP2000223415A (ja) * | 1999-01-27 | 2000-08-11 | Svg Lithography Syst Inc | リソグラフィのための照明装置のコンデンサおよび構成方法 |
JP2002071922A (ja) * | 2000-06-21 | 2002-03-12 | Carl-Zeiss-Stiftung Trading As Carl Zeiss | 複数の光学素子を基体に連結する方法 |
JP2002139672A (ja) * | 2000-10-20 | 2002-05-17 | Carl Zeiss Stiftung Trading As Carl Zeiss | 8枚の反射鏡を用いたマイクロリソグラフィ用の投影光学系 |
JP2002203784A (ja) * | 2000-10-27 | 2002-07-19 | Carl Zeiss Stiftung Trading As Carl Zeiss | 照明の設定が変更可能な照明系 |
JP2003022967A (ja) * | 2001-06-01 | 2003-01-24 | Asml Netherlands Bv | リトグラフ装置、デバイス製造方法、その方法により製造されたデバイス、制御システム、コンピュータ・プログラムおよびコンピュータ・プログラム製品 |
Cited By (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008135743A (ja) * | 2006-11-28 | 2008-06-12 | Carl Zeiss Smt Ag | Euv投影マイクロリソグラフィのための照明光学、その照明光学を備えた照明系、その照明系を備えた投影露光装置、微細構造素子を製造する方法、その方法によって得られる微細構造素子 |
JP2010519726A (ja) * | 2007-02-20 | 2010-06-03 | カール・ツァイス・エスエムティー・アーゲー | 複数の1次光源を有する光学要素 |
US8934085B2 (en) | 2007-09-21 | 2015-01-13 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Bundle-guiding optical collector for collecting the emission of a radiation source |
JP2010539716A (ja) * | 2007-09-21 | 2010-12-16 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | 放射線源の放射光を集めるための光束誘導光学集光器 |
US9996012B2 (en) | 2008-02-15 | 2018-06-12 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Facet mirror for use in a projection exposure apparatus for microlithography |
JP2016075962A (ja) * | 2008-02-15 | 2016-05-12 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | マイクロリソグラフィのための投影露光装置に使用するファセットミラー |
US9304406B2 (en) | 2008-09-30 | 2016-04-05 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Field facet mirror for an illumination optics of a projection exposure apparatus for EUV microlithography |
JP2014197706A (ja) * | 2008-09-30 | 2014-10-16 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | Euvマイクロリソグラフィ用の投影露光装置の照明光学系に使用するための視野ファセットミラー |
US9013676B2 (en) | 2009-01-09 | 2015-04-21 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Individual mirror for constructing a faceted mirror, in particular for use in a projection exposure system for microlithography |
JP2012514863A (ja) * | 2009-01-09 | 2012-06-28 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | 特にマイクロリソグラフィ用の投影露光システムで用いるファセットミラーを構成する個別ミラー |
JP2015163994A (ja) * | 2009-12-11 | 2015-09-10 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | Euvマイクロリソグラフィのための照明光学ユニット |
JP2014153485A (ja) * | 2013-02-06 | 2014-08-25 | Nikon Corp | 光分配装置、照明システム及びこれを備える露光装置 |
KR20160054579A (ko) * | 2013-09-11 | 2016-05-16 | 칼 짜이스 에스엠티 게엠베하 | 조명 광학 유닛 및 euv 투영 리소그래피용 조명 시스템 |
JP2016535313A (ja) * | 2013-09-11 | 2016-11-10 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | Euv投影リソグラフィのための照明光学系及び照明系 |
KR102343801B1 (ko) | 2013-09-11 | 2021-12-28 | 칼 짜이스 에스엠티 게엠베하 | 조명 광학 유닛 및 euv 투영 리소그래피용 조명 시스템 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2004092844A2 (de) | 2004-10-28 |
DE502004010448D1 (de) | 2010-01-14 |
US20060132747A1 (en) | 2006-06-22 |
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DE10317667A1 (de) | 2004-11-18 |
CN1774675B (zh) | 2010-10-20 |
EP1614008B1 (de) | 2009-12-02 |
EP1614008A2 (de) | 2006-01-11 |
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