JP2001257023A - コネクタ - Google Patents

コネクタ

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JP2001257023A
JP2001257023A JP2000071251A JP2000071251A JP2001257023A JP 2001257023 A JP2001257023 A JP 2001257023A JP 2000071251 A JP2000071251 A JP 2000071251A JP 2000071251 A JP2000071251 A JP 2000071251A JP 2001257023 A JP2001257023 A JP 2001257023A
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terminal
connector
contact pin
pin insertion
accommodating chamber
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JP2000071251A
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Yoshihisa Kashiyama
誠久 樫山
Haruki Yoshida
春樹 吉田
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Yazaki Corp
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Yazaki Corp
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R13/00Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
    • H01R13/40Securing contact members in or to a base or case; Insulating of contact members
    • H01R13/42Securing in a demountable manner
    • H01R13/422Securing in resilient one-piece base or case, e.g. by friction; One-piece base or case formed with resilient locking means
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R2201/00Connectors or connections adapted for particular applications
    • H01R2201/20Connectors or connections adapted for particular applications for testing or measuring purposes
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S439/00Electrical connectors
    • Y10S439/912Electrical connectors with testing means

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  • Connector Housings Or Holding Contact Members (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 端子の弾性接触片の変形、破損を防止し、且
つ確実に導通検査が行えるコネクタを提供する。 【解決手段】 端子23と端子収容室を有するコネクタ
ハウジング22とを備え、コネクタハウジング22は、
相手側端子が挿通される接続口33と、コネクタ導通検
査具のランス変位検出ピンが挿通される検出ピン挿入口
34と、コネクタ導通検査具の導通接触ピン24が挿通
される接触ピン挿入口35とを有するコネクタ21であ
り、接触ピン挿入口35を接続口33の縁部を切り欠く
ようにして配置形成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、コネクタ導通検査
具の導通接触ピンに対する接触ピン挿入口を有するコネ
クタに関する。
【0002】
【従来の技術】図6において、コネクタ1は、導電性を
有する金属板から成る複数(一つのみ図示、以下同様)
の端子2と、合成樹脂製のコネクタハウジング3とを備
えて構成されている。図6における端子2は、雌形の端
子であって、バネ片状の弾性接触片4を有する箱形の電
気接触部5と、その電気接触部5に連成される電線接続
部6とを備えている。電気接触部5には、端子係止用の
係合孔7が形成されている。
【0003】コネクタハウジング3には、端子2を収容
するための端子収容室8が複数形成されている。また、
コネクタハウジング3には、端子収容室8に連通する接
続口9及び検出ピン挿入口10が形成されている。
【0004】端子収容室8には、収容された端子2を係
止するランス11が形成されている。また、ランス11
に対する撓み空間12も形成されている。ランス11
は、撓み空間12において撓み可能となるように形成さ
れている。ランス11の先端側には、爪状の係止部13
が形成されている。その係止部13は、端子2の係合孔
7に係合するようになっている。
【0005】接続口9には、接続相手となる雄形の端子
(不図示)が挿通されるようになっている。また、検出
ピン挿入口10には、既知構成のコネクタ導通検査具1
4のランス変位検出ピン15が挿通されるようになって
いる。
【0006】複数の端子2をコネクタハウジング3に収
容してコネクタ1が組み立てられると、そのコネクタ1
はコネクタ導通検査具14にセットされ、コネクタ1内
の端子2に対する導通検査と不完全挿入検知とが同時に
行われる。
【0007】端子2が確実に収容されている場合には、
ランス変位検出ピン15が撓み空間12の奥まで挿入さ
れるようになる。そして、この時、コネクタ導通検査具
14の導通接触ピン16が接続口9を介して挿入され、
端子2の弾性接触片4に接触するようになる。導通接触
ピン16が弾性接触片4に接触すると導通の有無が確認
される。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】ところで上記導通検査
の際、コネクタ導通検査具14の導通接触ピン16が接
続口9を介して挿入され、端子2の弾性接触片4に接触
することから、その接触に係る作用によって、端子2の
弾性接触片4が変形、破損してしまう恐れがあった。
【0009】弾性接触片4の変形、破損は、接続相手と
なる雄形の端子(不図示)との接続に影響を来してしま
うことから、改善が必要であった。また、導通検査を確
実に行うためにも改善が必要であった。
【0010】本発明は、上述した事情に鑑みてなされる
もので、端子の弾性接触片の変形、破損を防止し、且つ
確実に導通検査が行えるコネクタを提供することを課題
とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
なされた請求項1記載の本発明のコネクタは、導電性を
有する金属板から成る端子と、該端子を収容するための
端子収容室を有するコネクタハウジングとを備え、該コ
ネクタハウジングは、前記端子収容室に連通し相手側端
子が挿通される接続口と、同じく前記端子収容室に連通
しコネクタ導通検査具のランス変位検出ピンが挿通され
る検出ピン挿入口とを有し、前記接続口の一縁部には、
前記検出ピン挿入口が連成されるコネクタであって、前
記コネクタ導通検査具の導通接触ピンを挿通させるため
の接触ピン挿入口を、前記接続口の前記一縁部に対向す
る対向縁部を切り欠くように配置形成したことを特徴と
している。
【0012】請求項2記載の本発明のコネクタは、請求
項1に記載のコネクタにおいて、前記接触ピン挿入口
に、前記導通接触ピンを前記端子収容室内に案内するテ
ーパを形成したことを特徴としている。
【0013】請求項3記載の本発明のコネクタは、請求
項1又は請求項2に記載のコネクタにおいて、少なくと
も前記対向縁部に、前記相手側端子を前記端子収容室内
に案内する傾斜面を形成したことを特徴としている。
【0014】請求項4記載の本発明のコネクタは、請求
項1ないし請求項3いずれか記載のコネクタにおいて、
前記接触ピン挿入口の前記対向縁部に対する深さを、前
記導通接触ピンの厚みよりも深く形成したことを特徴と
している。
【0015】請求項1に記載された本発明によれば、コ
ネクタ導通検査具による導通検査の際、導通接触ピンは
コネクタの接続口ではなく接触ピン挿入口に挿入され
る。これにより、導通接触ピンの端子に対する接触位置
が相手側端子との接続に係る部分からずれるようにな
る。
【0016】請求項2に記載された本発明によれば、接
触ピン挿入口にテーパを形成していることから、コネク
タ導通検査具による導通検査の際に、導通接触ピンが端
子収容室内にスムーズに案内される。
【0017】請求項3に記載された本発明によれば、少
なくとも接触ピン挿入口が配置形成される側の接続口の
縁部に傾斜面を形成していることから、接触ピン挿入口
があっても相手側端子が端子収容室内にスムーズに案内
される。
【0018】請求項4に記載された本発明によれば、接
触ピン挿入口の深さを導通接触ピンの厚みよりも深く形
成していることから、導通接触ピンの端子に対する接触
位置が相手側端子との接続に係る部分から、より一層ず
れるようになる。
【0019】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の一
実施の形態を説明する。図1は本発明のコネクタの一実
施の形態を示す外観斜視図(円内は要部を拡大したも
の)である。また、図2は図1のコネクタの縦断面図を
示している。
【0020】図1又は図2において、例えば自動車用ワ
イヤハーネス等の接続に用いられるコネクタ21は、合
成樹脂製のコネクタハウジング22と、導電性を有する
金属板から成る複数(本形態においては六つ。この数に
限られないものとする)の端子23とを備えて構成され
ている。本形態のコネクタ21は、後に詳細に説明する
が、コネクタ導通検査具(不図示)の導通接触ピン24
に対しての改良がなされている点が特徴になっている。
【0021】先ず上記構成について説明し、次いで上記
コネクタ導通検査具(不図示)による導通検査の際の作
用を説明することにする。
【0022】コネクタハウジング22は、矩形箱状に形
成されており、その上壁25には既知の係止手段26
(例えばロッキングアーム)が一体に形成されている。
また、コネクタハウジング22の両側壁27、27の後
部には、階段状の摘み部28、28(一方のみ図示)が
突出するように形成されている。引用符号29はコネク
タ導通検査具(不図示)に対するセット用のリブを示し
ている。
【0023】コネクタハウジング22の内部には、複数
(本形態においては六つ。この数に限られないものとす
る)の端子収容室30が形成されている。また、各端子
収容室30に連通するように、コネクタハウジング22
の前壁31には、接続相手となる雄形の端子32(図3
参照)に対する接続口33と、コネクタ導通検査具(不
図示)のランス変位検出ピン(不図示、図6参照)に対
する検出ピン挿入口34と、導通接触ピン24に対する
接触ピン挿入口35とが形成されている。前壁31は、
収容される端子23に対するストッパの役割を果たして
いる。コネクタハウジング22の後壁36には、各端子
収容室30に連通する端子挿入口37が形成されてい
る。
【0024】各端子収容室30は、上下二段、三つずつ
に配置形成されている。また、各端子収容室30は、隔
壁の四つの面に区画され直方体状の空間を有するように
形成されている。各端子収容室30には、端子係止用の
可撓性を有するランス38と、ランス38に対する撓み
空間39とが形成されている。
【0025】ランス38は、端子収容室30を区画する
上面の中間に略アーム状に突出形成されている。また、
端子23の収容前においては、先端が斜め下に向くよう
に形成されている。ランス38の上記先端は前壁31側
に向いており、突起状の係止部40が形成されている。
係止部40は、端子収容室30を区画する下面側に形成
されている。端子収容室30に端子23が収容される
と、ランス38と前壁31とにより端子23の挿脱方向
の移動が規制されるようになる。
【0026】撓み空間39は、ランス38の基端部から
検出ピン挿入口34までの間に形成されている。撓み空
間39を形成することでランス38が端子23によって
撓むことができるようになる。
【0027】接続口33は、雄形の端子32(図3参
照)の形状に合わせて横長の長孔状に形成されている。
また、接続口33は、その一縁部41、及び一縁部41
に対向する対向縁部42の外側に、雄形の端子32(図
3参照)に対する傾斜面43及び傾斜面44を有してい
る。傾斜面43、44を形成することで、雄形の端子3
2(図3参照)が端子収容室30内にスムーズに案内さ
れるようになる。
【0028】検出ピン挿入口34は、接続口33よりも
端子収容室30の上記上面側に配置形成されている。ま
た、検出ピン挿入口34は、接続口33よりも幅狭であ
って、且つ接続口33の一縁部41に対して連続するよ
うに形成されている。検出ピン挿入口34は、本来、ラ
ンス38を形成するために形成されている。
【0029】接触ピン挿入口35は、接続口33よりも
端子収容室30の上記下面側に配置形成されている。ま
た、接続口33を挟んで検出ピン挿入口34の反対側に
形成されている。即ち、接触ピン挿入口35は、接続口
33の対向縁部42に連成されている。接触ピン挿入口
35は、対向縁部42の中央より略U字状に切り欠き形
成されている。その深さは(対向縁部42からの深
さ)、導通接触ピン24の直径(又は厚み)よりも深く
なるように形成されており、テーパ45が一体に形成さ
れている。テーパ45は、導通接触ピン24を端子収容
室30内にスムーズに案内するために形成されている。
接触ピン挿入口35は、端子収容室30の上記下面に凹
設された浅溝46に連続するように形成されている。
【0030】尚、接触ピン挿入口35の外部側の開口径
(幅)と内部側の開口径(幅)とでは、外部側の開口径
(幅)の方が広くなるように形成されている(導通接触
ピン24をより一層拾い易くするため)。接触ピン挿入
口35は、雄形の端子32(図3参照)に引っかからな
いように幅等を適宜設定してあるものとする。即ち、接
触ピン挿入口35が傾斜面44(図3参照)にあっても
雄形の端子32(図3参照)が端子収容室30内にスム
ーズに案内されるようにすることが好ましい。
【0031】端子23は、図2又は図3に示される如
く、雌形であって、導電性を有する金属薄板を複数回に
わたりプレス加工することにより製造されている。端子
23は、略箆状の基板部51と、基板部51の前方側に
形成される一対の弾性カール部52、52及び一対の電
気接触片53、53と、基板部51の後方側に形成され
る一対の導体圧着部54、54(一方のみ図示、以下同
様)及び一対の被覆圧着部55、55(一方のみ図示、
以下同様)とを備えて構成されている。引用符号56は
圧着接続される電線を示している。
【0032】基板部51の前方側には、打ち出しによっ
て弾性カール部52、52側に膨出する電気接触凸部5
7が形成されている。電気接触凸部57は、電気接触片
53、53とで雄形の端子32を挟持するようになって
いる。また、電気接触凸部57には、テーパ58が全周
にわたって周設されている。
【0033】弾性カール部52、52は、基板部51の
前方側の両側にそれぞれ連成されており、基板部51の
延在方向に沿う幅が幅広な片状に形成されている(弾性
接触片である)。また、その片の断面視が略山形状にな
るように内側に曲げられて形成されている。弾性カール
部52、52の外側の斜面(断面視が略山形状であるた
め)59、59は、基板部51に対して直交方向に近い
急な傾斜面に形成されている。これに対して、内側の斜
面60、60は、外側の斜面59、59よりも十分に緩
やかな傾斜面に形成されている。引用符号61は弾性カ
ール部52の頂部を示している。
【0034】電気接触片53、53は、基板部51の延
在方向に沿う帯片状であって、弾性カール部52、52
の先端をやや斜め上向きに僅かな角度で折り曲げて形成
されている。電気接触片53、53の前端62、62
は、上記図示しない雄形の相手側端子を所定位置に案内
させるように上向きに湾曲形成されている。また、電気
接触片53、53の前端62、62は、弾性カール部5
2、52の前端63、63よりも内側に位置するように
形成されている。
【0035】導体圧着部54、54は、電線56の端末
部分における被覆64を皮剥して露出させた芯線部65
を圧着するための短冊片状の部分であって、基板部51
の後方側前寄りの両側にそれぞれに連成されている。導
体圧着部54、54が加締められると芯線部65が圧着
されるようになる。尚、引用符号66は枠部を示してい
る。
【0036】被覆圧着部55、55は、電線56の被覆
64を圧着するための部分であって、導体圧着部54、
54よりも長い短冊片状に形成されるとともに、基板部
51の後方側後ろ寄りの両側にそれぞれ連成されてい
る。被覆圧着部55、55が加締められると被覆64が
圧着されるようになる。また、被覆64を介してその内
側にある芯線部65が圧縮されるようになる。
【0037】一方、コネクタ導通検査具(不図示)は、
上記導通接触ピン24と上記ランス変位検出ピン(不図
示)とがワンセットになって、各端子23毎に導通検査
と不完全挿入検知とを行えるように構成されている(既
知構成であるので説明を省略する。特開平7−2544
49号公報等が参考になる)。
【0038】上記構成において、各端子収容室30に、
対応する端子23を挿入することでコネクタ21が組み
立てられる。即ち、図2において、端子挿入口37を介
して端子23を端子収容室30内に挿入すると、端子収
容室30のランス38が端子23からの作用によって弾
性変形する。この状態から端子23を更に押し込み端子
23を前壁31に当接させるまで収容すると、端子23
からの作用が解除され、ランス38は復元力によって元
の位置に復帰する。これにより、端子23は端子収容室
30に完全に収容される。端子23はランス38が係合
することによって端子収容室30からの抜けが防止され
る。
【0039】全ての端子23が対応する端子収容室30
に収容されたら、コネクタ21に係る組み立てが完了す
る。完成したコネクタ21は、コネクタ導通検査具(不
図示)により端子23の途中挿入状態の有無と導通の有
無とが検査される。図4又は図5において、導通接触ピ
ン24は、接触ピン挿入口35に挿通、挿入される。接
触ピン挿入口35は、テーパ45に拾われスムーズに端
子収容室30に向けて挿通、挿入される。
【0040】導通接触ピン24は、接続口33の対向縁
部42よりも上記下面側に挿入されることから、端子2
3の基板部51の先端縁に導通接触する。端子収容室3
0の上記下面に浅溝46を形成していることから、導通
接触ピン24の中心が基板部51の先端縁に導通接触す
る。導通接触ピン24の接触により、基板部51が変
形、破損してしまうことはない。また、導通接触ピン2
4は、弾性カール部52、52(一方のみ図示)に接触
するものではないことから、雄形の端子32(図3参
照)との接続に影響を来すことはない。
【0041】尚、導通接触ピン24が基板部51の先端
縁のような変形、破損し難い部分に接触することができ
るように接触ピン挿入口35を形成すればよい。
【0042】その他、本発明は本発明の主旨を変えない
範囲で種々変更実施可能なことは勿論である。
【0043】
【発明の効果】以上説明したように、請求項1に記載さ
れた本発明によれば、接続口を切り欠くようにして接触
ピン挿入口を配置形成していることから、コネクタ導通
検査具による導通検査の際に、導通接触ピンを接続口以
外に挿入させることができる。言い換えれば、収容され
た端子の相手側端子との接続に係る部分、即ち弾性接触
片に導通接触ピンを接触させないようにすることができ
る。これにより、端子の弾性接触片の変形、破損を防止
することができる。また、確実に導通検査を行うことが
できる。
【0044】請求項2に記載された本発明によれば、接
触ピン挿入口にテーパを形成していることから、コネク
タ導通検査具による導通検査の際に、導通接触ピンを端
子収容室内にスムーズに案内することができる。
【0045】請求項3に記載された本発明によれば、少
なくとも接触ピン挿入口が配置形成される側の接続口の
縁部に傾斜面を形成していることから、接触ピン挿入口
があっても相手側端子を端子収容室内にスムーズに案内
することができる。
【0046】請求項4に記載された本発明によれば、接
触ピン挿入口の深さを導通接触ピンの厚みよりも深く形
成していることから、導通接触ピンの端子に対する接触
位置を相手側端子との接続に係る部分から、より一層ず
らすことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明によるコネクタの一実施の形態を示す外
観斜視図(円内は要部を拡大したもの)である。
【図2】図1のコネクタの縦断面図である。
【図3】接触ピン挿入口近傍のみを示したコネクタの横
断面図である。
【図4】導通接触ピンが挿入された際の状態を示す外観
斜視図(円内は要部を拡大したもの)である。
【図5】図4のコネクタの縦断面図(円内は要部を拡大
したもの)である。
【図6】従来例のコネクタをコネクタ導通検査具にセッ
トして導通検査している際の状態を示す縦断面図であ
る。
【符号の説明】
21 コネクタ 22 コネクタハウジング 23 端子 24 導通接触ピン 30 端子収容室 33 接続口 34 検出ピン挿入口 35 接触ピン挿入口 38 ランス 39 撓み空間 41 一縁部 42 対向縁部 43、44 傾斜面 45 テーパ 46 浅溝 51 基板部 52 弾性カール部 53 電気接触片 54 導体圧着部 55 被覆圧着部 59、60 斜面

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 導電性を有する金属板から成る端子と、
    該端子を収容するための端子収容室を有するコネクタハ
    ウジングとを備え、 該コネクタハウジングは、前記端子収容室に連通し相手
    側端子が挿通される接続口と、同じく前記端子収容室に
    連通しコネクタ導通検査具のランス変位検出ピンが挿通
    される検出ピン挿入口とを有し、 前記接続口の一縁部には、前記検出ピン挿入口が連成さ
    れるコネクタであって、 前記コネクタ導通検査具の導通接触ピンを挿通させる接
    触ピン挿入口を、前記接続口の前記一縁部に対向する対
    向縁部を切り欠くように配置形成したことを特徴とする
    コネクタ。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載のコネクタにおいて、 前記接触ピン挿入口に、前記導通接触ピンを前記端子収
    容室内に案内するテーパを形成したことを特徴とするコ
    ネクタ。
  3. 【請求項3】 請求項1又は請求項2に記載のコネクタ
    において、 少なくとも前記対向縁部に、前記相手側端子を前記端子
    収容室内に案内する傾斜面を形成したことを特徴とする
    コネクタ。
  4. 【請求項4】 請求項1ないし請求項3いずれか記載の
    コネクタにおいて、 前記接触ピン挿入口の前記対向縁部に対する深さを、前
    記導通接触ピンの厚みよりも深く形成したことを特徴と
    するコネクタ。
JP2000071251A 2000-03-14 2000-03-14 コネクタ Abandoned JP2001257023A (ja)

Priority Applications (4)

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JP2000071251A JP2001257023A (ja) 2000-03-14 2000-03-14 コネクタ
US09/804,247 US6589079B2 (en) 2000-03-14 2001-03-13 Connector having at least one contact-pin inserting port for a conduction-test tool
DE60114685T DE60114685T2 (de) 2000-03-14 2001-03-14 Verbinder mit einem Port zum Einführen eines Kontaktstiftes eines Leitungstestwerkzeugs
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