JP2008077932A - 電気接続箱 - Google Patents

電気接続箱 Download PDF

Info

Publication number
JP2008077932A
JP2008077932A JP2006254536A JP2006254536A JP2008077932A JP 2008077932 A JP2008077932 A JP 2008077932A JP 2006254536 A JP2006254536 A JP 2006254536A JP 2006254536 A JP2006254536 A JP 2006254536A JP 2008077932 A JP2008077932 A JP 2008077932A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
continuity
terminal
detection pin
detection
conduction
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Abandoned
Application number
JP2006254536A
Other languages
English (en)
Inventor
Akihiro Oda
昭博 小田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Wiring Systems Ltd
Original Assignee
Sumitomo Wiring Systems Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Wiring Systems Ltd filed Critical Sumitomo Wiring Systems Ltd
Priority to JP2006254536A priority Critical patent/JP2008077932A/ja
Priority to US11/902,294 priority patent/US7671608B2/en
Publication of JP2008077932A publication Critical patent/JP2008077932A/ja
Abandoned legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/66Testing of connections, e.g. of plugs or non-disconnectable joints
    • G01R31/68Testing of releasable connections, e.g. of terminals mounted on a printed circuit board
    • G01R31/69Testing of releasable connections, e.g. of terminals mounted on a printed circuit board of terminals at the end of a cable or a wire harness; of plugs; of sockets, e.g. wall sockets or power sockets in appliances

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Connection Or Junction Boxes (AREA)
  • Details Of Connecting Devices For Male And Female Coupling (AREA)

Abstract

【課題】導通検知ピンや半嵌合検知ピンを折損させることなく、導通検知と半嵌合検知を確実に行えるようにする。
【解決手段】導通検査装置にセットされ、該導通検査装置から突出する導通検知ピンと半嵌合検知ピンとからなる検知ピンが、ヒューズ、リレーあるいは/およびコネクタの各収容部内に挿入され、該収容部内の端子の導通検査と嵌合検査とがなされる電気接続箱において、前記収容部が設けられたケースの表面壁に、少なくとも2個のガイド穴が間隔をあけて設けられ、前記導通検査装置の検知ピンが各収容部に挿入される前に、前記検知ピンより更に突出した導通検査装置のガイドピンが前記ガイド穴に挿入され、導通検査装置に対して位置決めされてセットされる構成としている。
【選択図】図1

Description

本発明は、電気接続箱に関するものであり、詳しくは、電気接続箱のヒューズ等の収容部内に底壁から突出させている端子の導通検査および、該端子を位置決め保持するランスとの嵌合検査を導通検査装置から突出する検知ピンを前記収容部内に挿入することによって行う際、前記検知ピンを折損させることなく、導通検知と半嵌合検知を確実に行えるようにするものである。
電気接続箱の製造工程において、内部結線に短絡、断線、配線違い等の不具合がないかを確認するため導通検査を実施している。前記導通検査方法としては、例えば、図7、図8に示すように、検知ピン1aを保持板1bに所要ピッチをあけて複数取り付けた導通検知装置1に前記電気接続箱をセットし、前記検知ピン1aを電気接続箱のヒューズ収容部2内に上方より一括挿入して、前記検知ピン1aを前記ヒューズ収容部2の下側から挿入固定された相手方端子3に接触させることにより導通検査を行っている(特開2005−326271号公報参照)。
また、電気接続箱のヒューズ収容部内にワイヤハーネスの電線端末の端子を挿入し、該ヒューズ収容部に装着されるヒューズの端子と接続させる場合には、図9に示すように、ヒューズ収容部2に一体的に設けられた樹脂ランス2aの係止凹部2a−1に、挿入された電線端末の端子3の金属ランス3a側部の係止凸部3a−1を係止させ、前記端子3と樹脂ランス2aとを嵌合させることによって、前記端子3を収容部2内の正規位置に固定している。
リレーやコネクタ収容部に挿入する電線端末の端子も同様に樹脂ランスで位置決め保持している。
したがって、電気接続箱のヒューズ等の収容部内に端子を樹脂ランスによって位置決め保持している場合には、従来より、前記導通検査と共に、前記樹脂ランスと端子との嵌合不良(半嵌合)を検知するための嵌合検査を行っており、図10に示すような導通検知ピン1a−1と半嵌合検知ピン1a−2からなる検知ピン1aを複数取り付けた導電検査装置1を用いている。
図11に示すように、端子3と樹脂ランス2aとが半嵌合状態で、樹脂ランス2aが内側に倒れ込んでいる場合には、ヒューズ収容部2に上方から挿入された半嵌合検知ピン1a−2が内側に倒れ込んだ樹脂ランス2aに当接することによって、半嵌合が検知される。また、半嵌合検知ピン1a−2が2本の樹脂ランス2a間の隙間に入っていくことができないため、導通検知ピン1a−1は金属ランス3a上面3a−2まで到達することができず、導通検知は不可能となる。
一方、図12に示すように、端子3の金属ランス3aの係止凸部3a−1が樹脂ランス2aの係止凹部2a−1に係止し、端子3と樹脂ランス2aとが嵌合状態にある場合には、樹脂ランス2aは内側へ倒れることなくまっすぐな姿勢が保たれているため、上方から挿入された半嵌合検知ピン1a−2は2本の樹脂ランス2a間の隙間に入っていき、その結果、導通検知ピン1a−1が端子3の金属ランス3a上面3a−2に当接して導通検知が可能となる。
即ち、導通検知ピン1a−1によって導通が検知されれば、端子3と樹脂ランス2aとが嵌合状態にあると判断される。
一方、検知ピン1aを構成する2本のピン(導通検知ピン1a−1と半嵌合検知ピン1a−2)を複数組突出させた導通検査装置に電気接続箱をセットする際には、図13に示すように、導通検査装置1の内壁面1bに電気接続箱4の外壁面4aを沿わせながら、作業者の手作業によって電気接続箱4を矢印A方向に挿入していき、電気接続箱4が導通検査装置1の奥まで完全に挿入されたときに導通検査装置1の両側に設けられた扉1cが内側に閉まるようになっている。
しかしながら、前記したように、導通検査装置1への電気接続箱4のセットは手作業によって行うため、セット時に電気接続箱が斜め方向に挿入される場合がある。このような場合、導通検査装置1より突出させた導通検知ピン1a−1や半嵌合検知ピン1a−2がヒューズ等の収容部2に斜め方向に挿入されて折損するおそれがある。特に、導通検査装置1より突出させる導通検知ピン1a−1や半嵌合検知ピン1a−2の本数が多くなるほど前記検知ピンが折損しやすくなるため、変形した場合には、結果的に正確な嵌合検査や導通検査ができなくなるという問題がある。
特開2005−326271号公報
本発明は前記問題に鑑みてなされたものであり、検知ピンと半嵌合検知ピンとからなる検知ピンを突出させた導通検知装置に電気接続箱をセットし、前記導通検知ピンおよび半嵌合検知ピンを電気接続箱のヒューズ等の収容部に上方より挿入させて、前記収容部に挿入固定される端子の導通検査および嵌合検査を行う際に、前記導通検知ピンや半嵌合検知ピンを折損させることなく、半嵌合検知および導通検知を確実に行える電気接続箱を提供することを課題としている。
前記課題を解決するため、本発明は、導通検査装置にセットされ、該導通検査装置から突出する導通検知ピンと半嵌合検知ピンとからなる検知ピンが、ヒューズ、リレーあるいは/およびコネクタの各収容部内に挿入され、該収容部内の端子の導通検査と嵌合検査とがなされる電気接続箱において、
前記収容部が設けられたケースの表面壁に、少なくとも2個のガイド穴が間隔をあけて設けられ、
前記導通検査装置の検知ピンが各収容部に挿入される前に、前記検知ピンより更に突出した導通検査装置のガイドピンが前記ガイド穴に挿入され、導通検査装置に対して位置決めされてセットされる構成としていることを特徴とする電気接続箱を提供している。
前記のように、電気接続箱の前記各収容部が設けられたケースの表面壁に、少なくとも2個のガイド穴を設けて、導通検知ピンと半嵌合検知ピンとからなる検知ピンより更に突出させた導通検査装置のガイドピンが前記ガイド穴に挿入されることで、導通検査装置に対して電気接続箱が位置決めされてセットされる構成としている。即ち、前記ガイドピンが前記ガイド穴を貫通したときにすべての検知ピンが前記各収容部の正規挿入位置に挿入されるように、前記ガイド穴をケースの表面壁に少なくとも2つ穿設しておくことにより、前記ガイドピンをガイド穴に挿入、貫通させるだけで、すべての検知ピンは斜め挿入されることなく、前記各収容部の正規挿入位置に挿入されることとなる。このように、電気接続箱が導通検査装置に対して位置決めされてセットされるため、検知ピンの折損を効果的に防止して、半嵌合検知および導通検知を確実に行なうことができる。
前記ガイド穴に貫通される導通検査装置のガイドピンの突出量としては、前記導通検知ピンと半嵌合検知ピンとからなる検知ピンが前記各収容部に挿入される際に、既にガイド穴を貫通している程度の長さとしている。
ケースの表面壁に穿設される前記ガイド穴の大きさは、ガイドピンのスムーズな貫通を可能としながら、貫通によってガタが生じず検知ピンの挿入位置がおのずと決定される程度のクリアランスを有していることが好ましい。
また、前記ガイド穴はケース表面壁の離れた位置で、電気接続箱側の配線に影響がない空きスペースに少なくとも2つ設け、これらガイド穴にガイドピンを挿入すると、導通検査装置と電気接続箱とが互いに正規位置にセットできるようにしている。
なお、ガイド穴の個数は2個とすることが好ましい。
また、前記各収容部の周壁には、前記端子の先端面と接触させる前記導通検知ピンをガイドする円弧状の切欠きが設けられ、前記端子が前記収容部内の正規位置に固定されている場合には前記切欠きによってガイドされる前記導通検知ピンが前記端子の先端面まで到達して導通を検知でき、前記端子が前記収容部内の正規位置に固定されていない場合には前記切欠きによってガイドされる前記導通検知ピンが前記端子の先端面まで到達せず、導通を検知できない構成としていることが好ましい。
前記したように、従来においては、導通検知ピン1a−1は端子3の金属ランス3aに当接することで導通を検知できるようにしていたので、図14に示すように、端子3と樹脂ランス2aとが正規位置で嵌合せず、樹脂ランス2aの係止凹部2a−1の下部に端子3の金属ランス3aが引っ掛かった状態であっても、樹脂ランス2aが内側に大きく倒れない程度の端子の傾きであると、半嵌合検知ピン1a−2は2本の樹脂ランス2a間の隙間に入り込み、導通検知ピン1a−1は、本来導通をチェックすべき金属ランス3aではなく、端子3の若干の傾きによって端子3そのものの側面3bに接触して導通が検知されてしまう場合があった。即ち、端子3と樹脂ランス2aとが半嵌合状態であるにもかかわらず、嵌合、導通検査で合格と判断されてしまうおそれがあった。
そこで、前記のように、各収容部の周壁に、導通検知ピンをガイドする円弧状の切欠きを設け、該切欠きによってガイドされる導通検知ピンが端子の先端面で導通検知できるようにすることにより、端子の金属ランスが樹脂ランスの係止凹部の下部に位置する半嵌合状態の端子では、その先端面に導通検知ピンが到達することはなく、また、導通検知ピンが端子側面に接触することもないので、導通が検知されることはない。したがって、半嵌合であるにもかかわらず、誤って合格と判断されることを防止することができる。即ち、前記構成により、端子が正規位置に固定されている場合のみ、前記切欠きによってガイドされた前記導通検知ピンが前記端子の先端面まで到達して導通検知が可能となる。
前述したように、本発明によれば、電気接続箱の前記各収容部が設けられたケースの表面壁に、少なくとも2個のガイド穴を設けて、導通検知ピンと半嵌合検知ピンとからなる検知ピンより更に突出させた導通検査装置のガイドピンが前記ガイド穴に挿入されるようにすることにより、前記ガイドピンをガイド穴に挿入、貫通させるだけで、すべての検知ピンは斜め挿入されることなく、前記各収容部の正規位置に挿入されることとなり、検知ピンの折損を効果的に防止して、導通検知、半嵌合検知を確実に行なうことができる。
また、前記のように、各収容部の周壁に、導通検知ピンをガイドする円弧状の切欠きを設け、該切欠きによってガイドされる導通検知ピンが端子の先端面で導通検知できるようにすることにより、端子の金属ランスが樹脂ランスの係止凹部の下部に位置する半嵌合状態の端子では、その先端面に導通検知ピンが到達することはなく、また、導通検知ピンが端子側面に接触することもないので、導通が検知されることはない。したがって、半嵌合であるにもかかわらず、誤って合格と判断されることを防止することができる。即ち、前記構成により、端子が収容部内の正規位置に固定されている場合にのみ、前記切欠きによってガイドされた前記導通検知ピンが前記端子の先端面まで到達して導通検知が可能となる。
以下、本発明の実施形態を図面を参照して説明する。
図1乃至図6は、本発明の実施形態を示している。図1に示すように、電気接続箱10のケース11上面壁11aに、ヒューズ収容部12、リレー収容部13、コネクタ収容部14を設け、これらの収容部12、13、14にヒューズ、リレー、コネクタ(図示せず)を装着する。これらの収容部12、13、14のうち、ヒューズ収容部12内に、ケース11内部に収容されたワイヤハーネスの電線端末の端子15を下側から挿入固定し、装着されるヒューズの端子と接続する。端子15は、図2に示すように、ヒューズ収容部12に一体的に設けられた樹脂ランス12aの係止凹部12a−1に端子15の金属ランス15aの係止凸部15a−1を係止させることにより、樹脂ランス12aと嵌合している。
前記のようにして、ヒューズ収容部12内に挿入され該収容部12内に嵌合固定される端子15の嵌合検査および導通検査は、図3に示すように、導通検査装置20に電気接続箱10をセットして行う。導通検査装置20には、嵌合・導通検査をする必要のあるヒューズ収容部12内の端子の数と同数の検知ピン21を突出させている。
前記検知ピン21は、図4に示すように、導通検知ピン21aと半嵌合検知ピン21bとから構成される。さらに、導通検査装置20には前記検知ピン21より更に突出した2本のガイドピン22、23を設けている。
電気接続箱10のケース11の上面壁11aには、図1に示すように、離れた位置の空きスペースに前記ガイドピン22、23を挿入させる2個のガイド穴16、17を設けている。ガイド穴16、17は、ガイドピン22、23をガイド穴16、17にそれぞれ挿入させたときに各検知ピン21が各ヒューズ収容部12の正規位置に挿入されるように穿設しており、検知ピン21がヒューズ収容部12内に挿入されるときにはガイドピン22、23がガイド穴16、17を貫通した状態となっている。また、本実施形態においては、ガイド穴16、17のガイドピン22、23外周面とのクリアランスを0.2mmとしている。
さらに、図5および図6に示すように、各ヒューズ収容部12の周壁の内面には、円弧状の切欠き18を先端側より設け、前記端子15の先端面15bと接触させる導通検知ピン21aの外周面と摺接させてガイドするようにしている。
なお、ヒューズ収容部12内の入力側と出力側の端子を同時に導通および半嵌合検査する場合には、前記切欠き18は周壁の対称位置に2個設けている。
以下、ヒューズ収容部12内に固定された端子15の嵌合検査および導通検査について説明する。
まず、図3に示すように電気接続箱10を矢印A方向に移動させて、導電検査装置20にセットするために、ガイドピン22をガイド穴16に、ガイドピン23をガイド穴17にそれぞれ挿入、貫通させる。これにより、各検知ピン21が各ヒューズ収容部12の正規挿入位置に挿入され、電気接続箱10が導通検査装置20に位置決めセットされる。
このとき、導通検知ピン21aは切欠き18に接触しながらヒューズ収容部12内に挿入される。
このようにして、端子15の金属ランス15aの係止凸部15a−1が樹脂ランス12aの係止凹部12a−1に係止して、端子15と樹脂ランス12aとが正規位置で嵌合している場合にのみ、半嵌合検知ピン21bが2本の樹脂ランス12a間の隙間に入り込むと共に、導通検知ピン21aが端子15の先端面15bに到達し、導通検知が可能となる。
前記のように、電気接続箱10のヒューズ収容部12が設けられたケース11の表面壁に、少なくとも2個のガイド穴16、17を設けて、導通検知ピン21aと半嵌合検知ピン21bとからなる検知ピン21より更に突出させた導通検査装置20のガイドピン22、23が前記ガイド穴16、17に挿入されるようにすることにより、ガイドピン22、23をガイド穴16、17に挿入、貫通させるだけで、すべての検知ピン21(21a、21b)は斜め挿入されることなく、各ヒューズ収容部12の正規挿入位置に挿入されることとなり、検知ピン21(21a、21b)の折損を効果的に防止して、半嵌合検知、導通検知を確実に行なうことができる。
また、前記のように、各ヒューズ収容部12の周壁に、導通検知ピン21aをガイドする円弧状の切欠き18を設け、該切欠き18によってガイドされる導通検知ピン21aが端子15の先端面15bで導通検知できるようにすることにより、端子15の金属ランス15aが樹脂ランス12aの係止凹部12a−1の下部に位置する半嵌合状態の端子15では、その先端面15bに導通検知ピン21aが到達することはなく、また、導通検知ピン21aが端子15側面に接触することもないので、導通が検知されることがない。したがって、半嵌合であるにもかかわらず、誤って合格と判断されることを防止することができる。即ち、前記構成により、端子15が収容部12内の正規位置に固定されている場合にのみ、前記切欠き18によってガイドされた導通検知ピン21aが端子15の先端面15bまで到達して導通検知が可能となる。
本実施形態における電気接続箱を示す概略平面図である。 ヒューズ収容部内の端子とランスの嵌合状態を示す図である。 導通検査装置に電気接続箱をセットする過程を示す概略図である。 検知ピンの拡大図である。 ヒューズ収容部内に検知ピンが挿入している状態を示す図である。 ヒューズ収容部の平面図である。 従来例を示す図である。 従来例を示す図である。 従来例を示す図である。 従来例を示す図である。 従来例を示す図である。 従来例を示す図である。 従来例を示す図である。 従来例を示す図である。
符号の説明
10 電気接続箱
11 ケース
12 ヒューズ収容部
12a 樹脂ランス
12a−1 係止凹部
13 リレー収容部
14 コネクタ収容部
15 端子
15a 金属ランス
15a−1 係止凸部
15b 先端面
16、17 ガイド穴
18 切欠き
20 導通検査装置
21 検知ピン
21a 導通検知ピン
21b 半嵌合検知ピン
22、23 ガイドピン

Claims (2)

  1. 導通検査装置にセットされ、該導通検査装置から突出する導通検知ピンと半嵌合検知ピンとからなる検知ピンが、ヒューズ、リレーあるいは/およびコネクタの各収容部内に挿入され、該収容部内の端子の導通検査と嵌合検査とがなされる電気接続箱において、
    前記収容部が設けられたケースの表面壁に、少なくとも2個のガイド穴が間隔をあけて設けられ、
    前記導通検査装置の検知ピンが各収容部に挿入される前に、前記検知ピンより更に突出した導通検査装置のガイドピンが前記ガイド穴に挿入され、導通検査装置に対して位置決めされてセットされる構成としていることを特徴とする電気接続箱。
  2. 前記各収容部の周壁には、前記端子の先端面と接触させる前記導通検知ピンをガイドする円弧状の切欠きが設けられ、前記端子が前記収容部内の正規位置に固定されている場合には前記切欠きによってガイドされる前記導通検知ピンが前記端子の先端面まで到達して導通を検知でき、前記端子が前記収容部内の正規位置に固定されていない場合には前記切欠きによってガイドされる前記導通検知ピンが前記端子の先端面まで到達せず、導通を検知できない構成としている請求項1に記載の電気接続箱。
JP2006254536A 2006-09-20 2006-09-20 電気接続箱 Abandoned JP2008077932A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006254536A JP2008077932A (ja) 2006-09-20 2006-09-20 電気接続箱
US11/902,294 US7671608B2 (en) 2006-09-20 2007-09-20 Electrical junction box

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006254536A JP2008077932A (ja) 2006-09-20 2006-09-20 電気接続箱

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2008077932A true JP2008077932A (ja) 2008-04-03

Family

ID=39187914

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006254536A Abandoned JP2008077932A (ja) 2006-09-20 2006-09-20 電気接続箱

Country Status (2)

Country Link
US (1) US7671608B2 (ja)
JP (1) JP2008077932A (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5625316B2 (ja) * 2009-10-22 2014-11-19 株式会社オートネットワーク技術研究所 電気接続箱
JP5875154B2 (ja) * 2012-07-25 2016-03-02 矢崎総業株式会社 電気接続箱
JP6297904B2 (ja) * 2014-04-21 2018-03-20 矢崎総業株式会社 被支持部材と支持体との係止構造

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59184478U (ja) * 1983-05-25 1984-12-07 トヨタ自動車株式会社 コネクタハウジング
JPH0314914U (ja) * 1989-06-22 1991-02-14
JPH08162245A (ja) * 1994-11-30 1996-06-21 Fujikura Ltd コネクタの検査方法およびコネクタ
JP2000131370A (ja) * 1998-10-20 2000-05-12 Sumitomo Wiring Syst Ltd 電気接続箱の検査装置
JP2001257023A (ja) * 2000-03-14 2001-09-21 Yazaki Corp コネクタ
JP2005065421A (ja) * 2003-08-13 2005-03-10 Yazaki Corp 電気接続箱とその組立方法

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5180976A (en) * 1987-04-17 1993-01-19 Everett/Charles Contact Products, Inc. Integrated circuit carrier having built-in circuit verification
JP3006662B2 (ja) * 1994-12-28 2000-02-07 矢崎総業株式会社 電気接続箱
JPH1032914A (ja) 1996-07-15 1998-02-03 Yazaki Corp 電気接続箱
JP3700823B2 (ja) * 1999-06-21 2005-09-28 矢崎総業株式会社 二重係止コネクタ及びそのスペーサ検知方法
US6428341B2 (en) * 2000-03-10 2002-08-06 Yazaki Corporation Inspecting jig for wire harness
JP3934870B2 (ja) * 2000-11-17 2007-06-20 矢崎総業株式会社 電気接続箱
US6859055B2 (en) * 2001-02-13 2005-02-22 Intel Corporation Probe pin array for socket testing
JP2005326271A (ja) 2004-05-14 2005-11-24 Sumitomo Wiring Syst Ltd 導通検査用治具および該導通検査用治具を用いた導通検査方法

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59184478U (ja) * 1983-05-25 1984-12-07 トヨタ自動車株式会社 コネクタハウジング
JPH0314914U (ja) * 1989-06-22 1991-02-14
JPH08162245A (ja) * 1994-11-30 1996-06-21 Fujikura Ltd コネクタの検査方法およびコネクタ
JP2000131370A (ja) * 1998-10-20 2000-05-12 Sumitomo Wiring Syst Ltd 電気接続箱の検査装置
JP2001257023A (ja) * 2000-03-14 2001-09-21 Yazaki Corp コネクタ
JP2005065421A (ja) * 2003-08-13 2005-03-10 Yazaki Corp 電気接続箱とその組立方法

Also Published As

Publication number Publication date
US7671608B2 (en) 2010-03-02
US20080068032A1 (en) 2008-03-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7572154B2 (en) Joint connector
IL262812A (en) A series of plug contacts and a method for testing its perception
JP2002198117A (ja) コネクタ
JP2011204581A (ja) 基板接続用コネクタの嵌合確認構造
JP2008077932A (ja) 電気接続箱
JP3085450B2 (ja) コネクタの端子金具検査器
JP2006216375A (ja) コネクタのロック検知方法とコネクタ
KR100731253B1 (ko) 암커넥터 조립체
JP6534213B2 (ja) 端子検査機構を有した基板接続コネクタ
KR20090022372A (ko) 커넥터 조립체
KR101110426B1 (ko) 암커넥터 조립체
JP2010055940A (ja) ワイヤハーネスのコネクタホルダ並びにワイヤハーネスの製造方法
JP3575375B2 (ja) 導通検査装置
KR101627765B1 (ko) 커넥터 통전 검사용 지그
JP2005093284A (ja) コネクタ
JP6052084B2 (ja) 電気接続箱
KR100809560B1 (ko) 암커넥터의 tpa 설치구조
JP3743310B2 (ja) コネクタ検査装置
KR102511696B1 (ko) 접촉 신뢰성이 향상된 접촉스위치를 갖는 커넥터 장치
JP2004356180A (ja) プレスフィットピン実装基板構造およびプレスフィットピン接続検査方法
JP2010153313A (ja) 電気コネクタの導通検査方法
CA3021384C (en) Plug contact set and method for checking an engagement of the plug contact set
KR200376909Y1 (ko) 커넥터
JP2020024873A (ja) コネクタ構造
JP2004119088A (ja) 電気コネクタ

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20081119

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20101029

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20101116

A762 Written abandonment of application

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A762

Effective date: 20110108