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Die
vorliegende Erfindung betrifft eine Halbleiterschaltungsvorrichtung,
die synchron mit einem Taktsignal arbeitet, und ein Verfahren der
Verwendung einer Halbleiterschaltungsvorrichtung, die synchron mit
einem Taktsignal arbeitet.
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Genauer
betrifft sie eine synchrone Halbleiterspeichervorrichtung, die synchron
mit einem externen Taktsignal arbeitet.
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Ein
synchroner, dynamischer Direktzugriffsspeicher (im folgenden als
SDRAM bezeichnet) ist ein Beispiel von Halbleiterschaltungsvorrichtungen,
die synchron mit einem externen Taktsignal arbeiten. Ein herkömmlicher
SDRAM ist mit einer CMOS-Ausgabepufferschaltung, wie in 11 gezeigt ist, vorgesehen.
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Wie
in 11 gezeigt ist, enthält die Ausgabepufferschaltung
einen P-Kanal-MOS-Transistor 1 und
einen N-Kanal-MOS-Transistor 2. Der P-Kanal-MOS-Transistor 1 ist
zwischen einen Knoten 3 der externen Stromversorgung, der
eine externe Stromversorgungsspannung EVCC empfängt, und einen Knoten 4 geschaltet
und sein Gate ist mit einem Eingabeknoten 5 verbunden.
Der N-Kanal-MOS-Transistor 2 ist
zwischen einen Masseknoten 6, der eine Massespannung GND
empfängt,
und den Ausgabeknoten 4 verbunden und sein Gate ist mit
dem Eingabeknoten 5 verbunden.
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Wenn
ein Ausgabesignal VOUT mit L-Pegel (logisch niedrig), das aus einem
Speicherzellenfeld ausgelesen wurde, an dem Eingabeknoten 5 empfangen
wird, werden der P-Kanal-MOS-Transistor 1 und der N-Kanal-MOS-Transistor 2 ein- bzw. ausgeschaltet
und somit wird ein Datenwertsignal DQn mit H-Pegel (logisch hoch)
von dem Ausgabeknoten 4 ausgegeben.
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Wenn
andererseits ein Ausgabesignal VOUT mit H-Pegel in den Eingabeknoten 5 eingegeben
wird, werden der P-Kanal-MOS-Transistor 1 und der N-Kanal-MOS-Transistor 2 aus-
bzw. eingeschaltet und somit wird ein Datenwertsignal DQn mit L-Pegel
von dem Ausgabeknoten 4 ausgegeben.
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Da
ein SDRAM normalerweise als Speichervorrichtung für ein Computersystem
verwendet wird, werden externe Taktsignale mit verschiedenen Frequenzen
dem SDRAM entsprechend der Betriebsfrequenz einer CPU (zentrale
Bearbeitungseinheit) eingegeben. Daher werden die Größen der
Transistoren 1 und 2 normalerweise so entworfen,
daß die
Ausgabepufferschaltung ausreichend Strom liefern kann, wenn ein
externes Taktsignal mit einer maximalen Frequenz eingegeben wird.
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Wenn
jedoch die Frequenz des externen Taktsignals niedrig ist, wird die
Stromlieferungsfähigkeit
der Ausgabepufferschaltung zu hoch. Daher wird ein Schwingungs-
bzw. Überschwingungsphänomen verursacht, bevor
sich das Datenwertsignal DQn dem H- oder L-Pegel annähert.
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Obwohl
die japanische Patentanmeldung JP2-092019A die Technik des Einstellens
eines Modusregisters entsprechend der Last einer mit einem Anschluß zum Ausgeben
eines Datensignales verbundenen externen Schaltungsanordnung und
des Änderns
der Treiberfähigkeit
einer Ausgabepufferschaltung entsprechend dem eingestellten Modusregister
beschreibt, kann die obige Schwierigkeit nicht gelöst werden,
da das, was in dem Modusregister gesetzt ist, ein Signal ist, das
der Last der externen Schaltungsanordnung entspricht.
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In
der
US 4,855,623 ist
eine Halbleiterschaltungs-Vorrichtung
beschrieben, bei der die Stromlieferfähigkeit einer Ausgabepufferschaltung
in Abhängigkeit
von Umgebungsbedingungen programmierbar gesteuert wird.
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Es
ist Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Halbleiterschaltungsvorrichtung,
die ein Überschwingphänomen verhindert,
sogar wenn die Frequenz eines externen Taktsignales niedrig ist,
und ein Verfahren der Verwendung der Halbleiterschaltungsvorrichtung
vorzusehen.
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Die
Aufgabe wird durch die Halbleiterschaltungsvorrichtung des Anspruches
1 oder durch das Verfahren der Verwendung einer Halbleiterschaltungsvorrichtung
des Anspruches 7 gelöst.
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Weiterbildungen
der Erfindung sind in den Unteransprüchen angegeben.
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Entsprechend
einem Aspekt der vorliegenden Erfindung enthält eine Halbleiterschaltungsvorrichtung, die
synchron mit einem Taktsignal arbeitet, eine Ausgabepufferschaltung
und eine Steuerschaltung. Die Ausgabepufferschaltung enthält ein Transistorelement,
das einen Datensignalwert ausgibt. Die Steuerschaltung steuert die
Ausgabepufferschaltung entsprechend der Frequenz des Taktsignales
derart, daß die
Stromlieferfähigkeit
des Transistorelementes verändert
wird.
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Bevorzugt
enthält
die Steuerschaltung ein Register und eine Veränderungsschaltung. Ein gewünschtes
Signal kann in dem Register eingestellt werden. Die Veränderungsschaltung
verändert
die Stromlieferfähigkeit
des Transistorelementes als Reaktion auf das Signal, das in dem
Register eingestellt ist.
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Noch
bevorzugter enthält
das Transistorelement eine Mehrzahl von Transistoren des ersten
Leitungstyps, die zwischen einen ersten Stromversorgungsknoten und
dem Ausgabeknoten der Ausgabepufferschaltung parallel geschaltet
sind. Die Veränderungsschaltung
enthält
eine Aktivierungsschaltung, die die Mehrzahl der Transistoren des
ersten Leitungstyps als Reaktion auf das Signal, das in dem Register
eingestellt ist, selektiv aktiviert. Die Ausgabepufferschaltung
enthält
weiterhin einen Transistor des zweiten Leitungstpys, der zwischen
einen zweiten Stromversorgungsknoten und den Ausgabeknoten geschaltet
ist.
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Bevorzugt
enthält
die Steuerschaltung eine Erkennungsschaltung und eine Veränderungsschaltung. Die
Erkennungsschaltung erkennt die Frequenz des Taktsignales und gibt
ein Steuersignal entsprechend der erkannten Frequenz aus. Die Veränderungsschaltung
verändert
die Stromlieferfähigkeit
des Transistorelementes als Reaktion auf das Steuersignal, das von
der Erkennungsschaltung ausgegeben wird.
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Noch
bevorzugter enthält
das Transistorelement eine Mehrzahl von Transistoren des ersten
Leitungstyps, die parallel zwischen einen ersten Stromversorgungsknoten
und den Ausgabeknoten der Ausgabepufferschaltung verbunden sind.
Die Veränderungsschaltung
enthält
eine Aktivierungsschaltung, die die Mehrzahl der Transistoren des
ersten Leitungstpys als Reaktion auf das Steuersignal, das von der
Erkennungsschaltung ausgegeben wird, selektiv aktiviert. Die Ausgabepufferschaltung
enthält
weiterhin einen Transistor des zweiten Leitungstpys, der zwischen
einen zweiten Stromversorgungsknoten und den Ausgabeknoten verbunden
ist.
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Bevorzugt
enthält
die Halbleiterschaltungsvorrichtung weiterhin eine Abwärtskonverterschaltung,
die eine externen Stromversorgungsspannung derart abwärts konvertiert,
daß eine
interne Stromversorgungsspannung erzeugt wird. Das Transistorelement
enthält
einen ersten P-Kanal-MOS-Transistor und einen zweiten P-Kanal-MOS-Transistor.
Der erste P-Kanal-MOS-Transistor ist zwischen einen externen Stromversorgungsknoten,
der die externe Stromversorgungsspannung empfängt, und den Ausgabeknoten
des Ausgabepuffers verbunden. Der zweite P-Kanal-MOS-Transistor
ist zwischen einen internen Stromversorgungsknoten, der die interne
Stromversorgungsspannung empfängt,
und den Ausgabeknoten verbunden. Die Steuerschaltung aktiviert den
ersten oder zweiten P-Kanal-MOS-Transistor entsprechend der Frequenz
des Taktsignals. Die Ausgabepufferschaltung enthält weiterhin einen N-Kanal-MOS-Transistor, der
zwischen einen Masseknoten und den Ausgabeknoten verbunden ist.
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Entsprechend
einem anderen Aspekt der vorliegenden Erfindung enthält ein Verfahren
der Verwendung einer Halbleiterschaltungsvorrichtung, die synchron
mit einem Taktsignal arbeitet, wobei die Halbleiterschaltungsvorrichtung
eine Ausgabepufferschaltung mit einem Transistorelement, das ein
Datenwertsignal ausgibt, ein Register, bei dem ein gewünschtes
Signal eingestellt werden kann, und eine Veränderungsschaltung, die die
Stromlieferfähigkeit
des Transistorelementes als Reaktion auf ein Signal, das in dem
Register eingestellt ist, verändert,
enthält,
die Schritte des Einstellens des Registers bzw. der Halbleiterschaltungsvorrichtung
in einen Modus, in dem ein gewünschtes
Signal in dem Register eingestellt werden kann, und des Einstellens
eines Signales, das der Frequenz des Taktsignales entspricht, in
dem Register.
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In
der Halbleiterschaltungsvorrichtung ändert sich die Stromlieferfähigkeit
des Transistorelementes in der Ausgabepufferschaltung entsprechend
der Frequenz des Taktsignales. Daher ist, wenn die Frequenz des Taktsignales
niedrig ist, die Stromlieferfähigkeit
des Transistorelementes ebenfalls verringert und somit wird ein Überschwingphänomen unwahrscheinlicher.
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Wenn
ein gewünschtes
Signal in dem Register eingestellt ist, ändert sich die Stromlieferfähigkeit
des Transistorelementes als Reaktion auf das eingestellte Signal.
Daher wird, wenn die Frequenz des Taktsignales niedrig ist, das Überschwingphänomen durch
Einstellen eines Signales in dem Register, das der niedrigen Frequenz
entspricht, weniger wahrscheinlich.
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Weiterhin
werden eine Mehrzahl von Transistoren, die parallel zwischen den
Stomversorgungsknoten und den Ausgabeknoten verbunden sind, selektiv
als Reaktion auf das Signal, das in dem Register eingestellt ist,
aktiviert. Wenn die Frequenz des Taktsignales niedrig ist, sind
daher einige der Mehrzahl von Transistoren durch Einstellen eines
Signales, das der niedrigen Frequenz entspricht, in dem Register,
aktiviert, und somit ist die Stromlieferfähigkeit des Transistorelementes,
das aus der Mehrzahl von Transistoren gebildet ist, verringert.
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Weiterhin
wird die Frequenz des Taktsignales erkannt, und die Stromlieferfähigkeit
des Transistorelementes ändert
sich entsprechend der erkannten Frequenz. Wenn die Frequenz des
Taktsignales niedrig ist, wird daher die Stromlieferfähigkeit
des Transistorelementes automatisch entsprechend der erkannten,
niedrigen Frequenz verringert.
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Weiterhin
wird der erste oder zweite P-Kanal-MOS-Transistor entsprechend der
Frequenz des Taktsignales aktiviert. Wenn die Frequenz des Taktsignales
niedrig ist, wird daher der erste P-Kanal-MOS-Transistor deaktiviert
und der zweite P-Kanal-MOS-Transistor aktiviert. Da der zweite P-Kanal-MOS-Transistor
mit dem internen Stromversorgungsknoten verbunden ist, wird seine
Stromlieferfähigkeit
niedriger als die des ersten P-Kanal-MOS-Transistors, der mit dem
externen Stromversorgungsknoten verbunden ist.
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Weitere
Merkmale und Zweckmäßigkeiten
der Erfindung ergeben sich aus der folgenden Beschreibung von Ausführungsbeispielen
anhand der Figuren, wobei gleiche oder entsprechende Teile der Figuren
die gleichen Bezugszeichen aufweisen und ihre Beschreibung nicht
wiederholt wird. Von den Figuren zeigen:
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1 ein
Blockschaltbild, das eine Gesamtstruktur eines DRAM entsprechend
einem ersten Ausführungsbeispiel
zeigt;
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2 ein
Schaltbild, das Strukturen eines Hauptteils der Steuerschaltung
und der peripheren Schaltungsanordnung, wie z.B. das Modusregister,
das in 1 gezeigt ist, zeigt;
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3 ein
Schaltbild, das Strukturen einer Ausgabepufferschaltung und ihrer
Steuerschaltungsanordnung, die in dem in 1 gezeigten
Datenwerteingabe-/-ausgabepuffer enthalten sind, zeigt;
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4 ein
Timingdiagramm, das den Betrieb des in 1 bis 3 gezeigten
SDRAM zeigt;
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5 ein
Blockschaltbild, das die Struktur eines Hauptteiles eines SDRAM
entsprechend einem zweiten Ausführungsbeispiel
zeigt;
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6 ein
Schaltbild, das Strukturen einer Ausgabepufferschaltung und ihrer
Steuerschaltungsanordnung in dem in 5 gezeigten
SDRAM zeigt;
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7 ein
Schaltbild, das eine spezielle Struktur des in 5 gezeigten
Taktfrequenzdetektors zeigt;
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8 ein
Timingdiagramm, das den Betrieb des in 7 gezeigten
Taktfrequenzdetektors darstellt;
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9 ein
Schaltbild, das Strukturen einer Ausgabepufferschaltung und ihrer
Steuerschaltungsanordnung in einem SDRAM entsprechend einem dritten
Ausführungsbeispiel
zeigt;
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10 ein
Schaltbild, das eine Struktur einer internen Stromversorgungsabwärtskonverterschaltung in
dem in 9 gezeigten SDRAM zeigt, und
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11 ein
Schaltbild, das eine Struktur einer Ausgabepufferschaltung in einem
der Anmelderin bekannten SDRAM zeigt.
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Erstes Ausführungsbeispiel
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1 ist
ein Blockschaltbild, das eine Gesamtstruktur eines SDRAM entsprechend
einem ersten Ausführungsbeispiel
zeigt. Wie in 1 gezeigt ist, enthält der SDRAM
ein aus vier Bänken
#A, #B, #C, #D gebildetes Speicherzellenfeld 10, einen
Datenwerteingabe-/-ausgabepuffer 11, der ein aus dem Speicherzellenfeld 10 ausgelesenes
Ausgabesignal VOUT als Datenwertsignale DQ0-DQ15 ausgibt und Datenwertsignale DQ0-DQ15,
die eingegeben werden, als ein Eingabesignal VIN in das Speicherzellenfeld 10 eingibt,
einen Taktpuffer 12, der als Reaktion auf ein Taktfreigabesignal
CKE aktiviert ist und der ein externes Taktsignal ECLK als ein internes
Taktsignal ICLK ausgibt, und eine Steuerschaltung 13, die
das Speicherzellenfeld 10 und den Datenwerteingabe-/-ausgabepuffer 11 als
Reaktion auf das interne Taktsignal ICLK steuert.
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Der
SDRAM enthält
weiterhin einen Adressenpuffer 14, der externe Adressensignale
EA0-EA12 als interne Adressensignale IA0-IA12 ausgibt und Bankauswahlsignale
BA0 und BA1 empfängt,
ein Modusregister 15, das verschiedene Betriebsmodi einstellen
kann, und einen Steuersignalpuffer 16, der als Reaktion
auf verschiedene externe Steuersignale (ein Chipauswahlsignal/CS,
ein Zeilenadressenauslösesignal/RAS,
ein Spaltenadressenauslösesignal/CAS,
ein Schreibfreigabesignal/WE, ein Eingabe-/Ausgabedatenwertmaskensignal DQM)
verschiedene interne Steuersignale erzeugt.
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Wenn
ein externes Steuersignal mit einem vorbestimmten Timing, das eine
Anweisung zum Einstellen des Modusregisters 15 darstellt,
eingegeben wird, ge langt der SDRAM in einen Registereinstellmodus
und die Steuerschaltung 13 stellt die von dem Adressenpuffer 14 gelieferten
internen Adressensignale IA0-IA12
dem Modusregister 15 zur Verfügung. Daher kann ein gewünschtes
Signal in dem Modusregister 15 eingestellt werden.
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Wie
in 2 gezeigt ist, enthält die Steuerschaltung 13 einen
Anweisungsdekoder 131, einen Inverter 132, dreizehn
getaktete Inverter 133 und dreizehn Halteschaltungen 134.
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Der
Anweisungsdekoder 131 dekodiert die Anweisungen (die durch
das Timing zum Eingeben der Steuersignale/CS, /RAS, /CAS, /WE, DQM
dargestellt sind), die extern über
den Steuersignalpuffer 16 empfangen werden, und gibt verschiedene
Steuersignale aus. Wenn ein Steuersignal mit einem vorbestimmten
Timing, das eine Anweisung zum Setzen des Modusregisters 15 darstellt,
eingegeben wird, aktiviert der Anweisungsdekoder 131 ein
Modusetzsignal /MSET, das eines der Ausgabesteuersignale ist, auf
den L-Pegel. Das Modussetzsignal/MSET wird den dreizehn getakteten
Invertern 133 gemeinsam geliefert, und ein Modussetzsignal
MSET (ein Signal, das bezüglich
dem Modussetzsignal/MSET invertiert ist), das von dem Inverter 132 ausgegeben
wird, wird ebenfalls den dreizehn getakteten Invertern 133 gemeinsam
geliefert.
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Jeder
getaktete Inverter 133 wird aktiviert, wenn die Modussetzsignale/MSET
und MSET auf dem L-Pegel bzw. dem H-Pegel sind, und die getakteten
Inverter invertieren ein entsprechendes 1-Bit-Signal der internen
Adressensignale IA0-IA12, das von dem Adressenpuffer 14 geliefert
wird, und überträgt es zu
einer entsprechenden Halteschaltungen 134.
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Jede
Halteschaltung 134 ist aus zwei Invertern 134a, 134b gebildet.
Jede Halteschaltung 134 hält ein invertiertes 1-Bit-Signal
der internen Adresse von einem entsprechenden getakteten Inverter 133 und
liefert das gehaltene Signal zu einem entsprechenden Bit in dem
Modusregister 15. Daher sind die internen Adressignale
IA0-IA12 mit 13-Bit in dem Modusregister 15 als Modusadressensignale
MA0-MA12 mit 13-Bit eingestellt.
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Verschiedene
Betriebsmodi können
in dem Modusregister 15 eingestellt werden. Im allgemeinen
werden Modusadressignale MA0-MA2 zum Bestimmen einer Bündel- bzw.
Burstlänge
in dem nullten bis zweiten Bit eingestellt. Weiterhin wird ein Modusadressensignal
(nicht gezeigt) zum Bestimmen eines Bündel bzw. Bursttyps, wie z.B.
eines sequentiellen Verfahrens oder eines Verschachtelungsverfahrens
(bzw. Interleave-Verfahrens), in einem dritten Bit eingestellt.
Zusätzlich
werden Modusadressensignale (nicht gezeigt) zum Bestimmen der Latenz-
bzw. Wartezeit des Spaltenadressenauslösesignals/CAS in dem vierten
bis sechsten Bit eingestellt.
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Obwohl
das siebte und achte Bit eines typischen Modusregisters nicht verwendet
werden, sind Modusadressensignale MA7 und MA8 zum Bestimmen eines
Taktmodus in dem siebten bis achten Bit des Modusregisters 15 entsprechend
der vorliegenden Erfindung gesetzt.
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Die
folgende Wahrheitstabelle zeigt eine Beziehung zwischen den Modusadressensignalen
MA7, MA8 und der Frequenz des externen Taktsignales ECLK.
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Wie
in der Tabelle gezeigt ist, wird „0" als Modusadressensignal MA7 gesetzt
und wird „0" als Modusadressensignal
MA8 gesetzt, wenn die Frequenz des externen Taktsignales ECLK kleiner
als 83MHz ist. Wenn die Frequenz des externen Taktsignales ECLK
83MHz oder mehr beträgt,
aber weniger als 90MHz beträgt,
ist „1" als Modusadressensignal
MA7 eingestellt und ist „0" als Modusadressensignal
MA8 eingestellt. Wenn die Frequenz des externen Taktsignales ECLK
90MHz oder mehr aber weniger als 125MHz beträgt, ist „0" als Modusadressensignal MA7 gesetzt
und ist „1" als Modusadressensignal
MA8 gesetzt. Weiterhin ist „1" als Modusadressensignal
MA7 gesetzt und ist „1" als Modusadressensignal
MA8 gesetzt, wenn die Frequenz des externen Taktsignales ECLK 125MHz
oder mehr beträgt.
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Der
Datenwerteingabe-/-ausgabepuffer 11 enthält sechzehn
CMOS-Inverter, wie in 3 gezeigt ist, und gibt 16-Bit-Datenwertsignale
DQ0-DQ15 durch Invertieren des 16-Bit-Ausgabesignals VOUT aus. Diese Inverter
enthalten jeweils ein Transistorelement 110, das aus drei
P-Kanal-MOS-Transistoren 1, 111, 112 gebildet
ist, einen N-Kanal-MOS-Transistor 2 und einen Inverter 113,
der ein 1-Bit-Ausgabesignal VOUT derart invertiert, daß ein 1-Bit-Ausgabesignal/VOUT
ausgegeben wird.
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Die
P-Kanal-MOS-Transistoren 1, 111 und 112 sind
parallel zwischen einen externen Stromversorgungsknoten 3,
der eine externe Stromversorgungsspannung EVCC empfängt, und
einen Ausgabeknoten 4 verbunden. Der N-Kanal-MOS-Transistor ist
zwischen einen Masseknoten 6, der eine Massespannung GND empfängt, und
einen Ausgabeknoten 4 verbunden. Das Ausgabesignal VOUT
wird dem Gate des P-Kanal-MOS-Transistors 1 und des N-Kanal-MOS-Transistors 2 geliefert.
Hier ist die Größe (genauer
die Gatebreite) des P-Kanal-MOS-Transistors 111 derart
entworfen, daß sie
größer ist
als die Größe des P-Kanal-MOS-Transistors 112.
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Der
SDRAM enthält
weiterhin zwei NAND-Schaltungen 17 und 18 zum Ändern der
Stromversorgungsfähigkeit
des Transistorelementes 110 als Reaktion auf die Adressensignale
MA7, MA8, die in dem Modusregister gesetzt sind. Die NAND-Schaltung 17 empfängt das
Ausgabesignal/VOUT von dem Inverter 113 und das Modusadressensignal
MA8 von dem Modusregister 15, und das Ausgabesignal der
NAND-Schaltung 17 wird dem Gate des P-Kanal-MOS-Transistors 111 geliefert.
Die NAND-Schaltung 18 empfängt das Ausgabesignal /VOUT
von dem Inverter 113 und das Modusadressensignal MA7 von
dem Modusregister 15, und das Ausgabesignal der NAND-Schaltung 18 wird
dem Gate des P-Kanal-MOS-Transistors 112 geliefert.
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Wenn
die Modusadressensignale MA8 und MA7 beide auf dem L-Pegel sind
(wenn die Frequenz des internen Taktsignales ECLK kleiner als 83MHz
beträgt),
werden daher beide P-Kanal-MOS-Transistoren 111 und 112 ausgeschaltet
und deaktiviert und der P-Kanal-MOS-Transistor 1 wird aktiviert.
Wenn das Modusadressensignal MA8 auf dem L-Pegel ist und das Modusadressensignal
MA7 auf dem H-Pegel ist (wenn die Frequenz des externen Taktsignales
83-90MHz beträgt),
wird der P-Kanal-MOS-Transistor 111 ausgeschaltet und deaktiviert
und die P-Kanal-MOS-Transistoren 110 und 112 werden
aktiviert. Wenn das Modusadressensignal MA8 und das Modusadressensignal
MA7 auf dem H-Pegel bzw. dem L-Pegel sind (wenn die Frequenz des
externen Taktsignales ECLK 90-125MHz beträgt), wird der P-Kanal-MOS-Transistor 112 ausgeschaltet und
deaktiviert und werden die P-Kanal-MOS-Transistoren 110 und 111 aktiviert.
Wenn weiterhin das Modusadressensignal MA8 und das Modusadressensignal
MA7 beide auf dem H-Pegel sind (wenn die Frequenz des externen Taktsignales
ECLK 125MHz oder mehr beträgt),
werden alle P-Kanal-MOS-Transistoren 1, 111 und 112 aktiviert.
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Da
der P-Kanal-MOS-Transistor 111 in der Größe größer ist
als der P-Kanal-MOS-Transistor 112,
wird die Stromversorgungsfähigkeit
des Transistorelementes 110 angehoben, wenn die Frequenz
des externen Taktsignales ECLK größer wird. In anderen Worten ändern in
dem ersten Ausführungsbeispiel
das Modusregister 15 und die NAND-Schaltungen 17 und 18 die
Stromversorgungsfähigkeit
des Transistorelementes 110 durch Ändern der effektiven Größe (genauer
der effektiven Gatebreite) des Transistorelementes 110 entsprechend
der Frequenz des externen Taktsignales ECLK.
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Dann
wird der Betrieb des SDRAM, der wie oben aufgebaut ist, mit Bezug
zu einem Timingdiagramm, das in 4 gezeigt
ist, beschrieben.
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Wenn
das Chipauswahlsignal/CS, das Zeilenadressenauslösesignal/RAS, das Schreibfreigabesignal/WE
auf dem L-Pegel sind und das Spaltenadressenauslösesignal/CAS auf dem H-Pegel
ist, wenn das externe Taktsignal ECLK von dem L-Pegel auf den H-Pegel
ansteigt, zeigt das Timing eine Moduseinstellbzw. Modussetzanweisung
an. Somit aktiviert der Anweisungsdekoder 131 das Modussetzsignal/MSET
auf den L-Pegel. Da der getaktete Inverter 133 als Reaktion
auf den L-Pegel des Modussetzsignales/MSET aktiviert wird, wird
dann das von dem Adressenpuffer 14 gelieferte interne Adressensignal
IAn (n = 0-12) zu dem Modusregister 15 als Modusadressensignal
MAn (n = 0-12) geliefert.
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Wenn
die Frequenz des externen Taktsignales ECLK kleiner als 83MHz ist,
sind die externen Adressensignale IA8 und IA7 beide auf dem L-Pegel
und somit werden die Modusadressensignale MA8 und MA7 beide auf
dem L-Pegel eingestellt. Wenn die Frequenz des externen Taktsignales
ECLK 83-90MHz beträgt, sind
das interne Adressensignal IA8 und das interne Adressensignal IA7
auf dem L-Pegel bzw. dem H-Pegel und somit werden das Modusadresensignal
MA8 auf den L-Pegel und das Modusadressensignal MA7 auf den H-Pegel eingestellt.
Wenn die Frequenz des externen Taktsignales 90-125MHz beträgt, sind
das interne Adressensignal IA8 und das interne Adressensignal IA7
auf dem H-Pegel bzw. dem L-Pegel und somit werden das Modusadressensignal
MA8 auf den H-Pegel und das Modusadressensignal MA7 auf den L-Pegel eingestellt.
Weiterhin sind, wenn die Frequenz des externen Taktsignales ECLK
125MHz oder mehr beträgt,
die internen Adressensignale IA8 und IA7 beide auf dem H-Pegel und
somit werden die Modusadressensignale MA8 und MA7 beide auf den
H-Pegel gesetzt.
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Wenn
die Modusadressensignale MA8 und MA7 beide auf den L-Pegel gesetzt
sind (wenn die Frequenz des externen Taktsignales ECLK kleiner als
83MHz ist), wird der P-Kanal-MOS-Transistor 1 aktiviert
und werden die P-Kanal-MOS-Transistoren 111 und 112 deaktiviert.
Wenn das Modusadressensignal MA8 auf den L-Pegel gesetzt wird und
das Modusadressensignal MA7 auf den H-Pegel gesetzt wird (wenn die
Frequenz des externen Taktsignales 83-90MHz beträgt), werden die P-Kanal-MOS-Transistoren 1 und 112 aktiviert
und wird der P-Kanal-MOS-Transistor 111 deaktiviert. Wenn
das Modusadressensignal MA8 auf den H-Pegel gesetzt wird und das
Modusadressensignal MA7 auf den L-Pegel gesetzt wird (wenn die Frequenz
des externen Taktsignales ECLK 90-125MHz beträgt), werden die P-Kanal-MOS-Transistoren 1 und 111 aktiviert
und wird der P-Kanal-MOS-Transistor 112 deaktiviert. Weiterhin
werden, wenn die Modusadressensignale MA8 und MA7 beide auf den
H-Pegel gesetzt werden (wenn die Frequenz des externen Taktsignales
ECLK 125MHz oder mehr beträgt),
alle P-Kanal-MOS-Transistoren 1, 111 und 112 aktiviert.
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Da
der P-Kanal-MOS-Transistor 111 in der Größe größer ist
als der P-Kanal-MOS-Transistor 112,
wird die Stromversorgungsfähigkeit
des Transistorelementes 110 erhöht, wenn die Frequenz des externen
Taktsignales ECLK größer wird.
Daher liefert, wenn die Frequenz des externen Taktsignales ECLK
größer als 125MHz
oder mehr ist, das Transistorelement 110 ausreichend Strom
zu dem Ausgabeknoten 4. Somit können die Datenwertsignale DQ0-DQ15,
die von der Ausgabepufferschaltung 11 ausgegeben werden,
dem externen Taktsignal ECLK mit der hohen Frequenz ausreichend
folgen. Andererseits ist, wenn die Frequenz des externen Taktsignales
ECLK kleiner als 83MHz ist, die Stromlieferfähigkeit des Transistorelementes 110 verringert. Somit
wird ein Überschwingphänomen bei
Datenwertsignalen DQ0-DQ15, die von der Ausgabepufferschaltung 11 ausgegeben
werden, unwahrscheinlicher.
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Wie
oben entsprechend dem ersten Ausführungsbeispiel beschrieben
wurde, wird ein Signal, das einem externen Taktsignal entspricht,
in dem Modusregister 15 eingestellt und werden die P-Kanal-MOS-Transistoren 1, 111 und 112 selektiv
entsprechend dem eingestellten Signal aktiviert. Daher ändert sich
die Stromlieferfähigkeit
des Transistorelementes 110 entsprechend der Frequenz des
externen Taktsignales ECLK. Daher ist, sogar wenn die Frequenz des
externen Taktsignales ECLK kleiner als 83MHz ist, das Überschwingphänomen bei
den Datenwertsignalen DQ0-DQ15 unwahrscheinlicher. Somit wird der
Stromverbrauch ebenfalls reduziert.
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Zweites Ausführungsbeispiel
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5 ist
ein Blockschaltbild, das eine Struktur eines Hauptteils eines SDRAM
entsprechend dem zweiten Ausführungsbeispiel
zeigt. Wie in 5 gezeigt ist, enthält der SDRAM
anstatt des in 1 gezeigten Modusregisters 15 einen
Taktfrequenzdetektor 20, der die Frequenz eines internen
Taktsignales ICLK des Taktpuffers 12 erkennt und ein Steuersignal
CLKH und ein komplementäres
Steuersignal/CLKH entsprechend der erkannten Frequenz ausgibt. Der
Taktfrequenzdetektor 20 vergleicht die Frequenz des internen
Taktsignales ICLK mit der Frequenz eines Referenztaktsignales, das
innerhalb erzeugt ist. Wenn die Frequenz des internen Taktsignales
ICLK größer ist
als die Frequenz des Referenztaktsignales, gibt der Taktfrequenzdetektor 20 das
Steuersignal CLKH mit H-Pegel und das Steuersignal/CLKH mit L-Pegel
aus. Im Gegensatz dazu gibt der Taktfrequenzdetektor 20 das
Steuersignal CLKH mit L-Pegel und das Steuersignal/CLKH mit H-Pegel
aus, wenn die Frequenz des internen Taktsignales ICLK kleiner ist
als die Frequenz des Referenztaktsignales. Hier wird die spezielle
Schaltungsstruktur und der Betrieb des Taktfrequenzdetektors 20 im
folgenden im Detail mit Bezug zu 7 und 8 beschrieben.
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6 ist
ein Schaltbild, das eine Struktur eines jeden CMOS-Inverters zeigt,
der entsprechend dem zweiten Ausführungsbeispiel in dem Datenwerteingabe-/ausgabepuffer
in dem SDRAM enthalten ist. Wie in 6 gezeigt
ist, enthält
im Gegensatz zu dem in 3 gezeigten Transistorelement 110 ein
Transistorelement 114 des Inverters 10 zwei P-Kanal-MOS-Transistoren 1 und 115.
Die zwei P-Kanal-MOS-Transistoren 1 und 115 sind
parallel zwischen den externen Stromversorgungsknoten 3 und
den Ausgabeknoten 4 verbunden.
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Der
SDRAM enthält
ein Übertragungsgatter 21 und
einen P-Kanal-MOS-Transistor 22 zum Ändern der Stromversorgungsfähigkeit
des Transistorelementes 114 als Reaktion auf die Steuersignale
CLKH und /CLKH, die von dem Taktfrequenzdetektor 20 ausgegeben
werden. Wenn das Steuersignal CLKH und das Steuersignal/CLKH auf
dem H-Pegel bzw. dem L-Pegel ist, ist das Übertragungsgatter 21 eingeschaltet
und liefert das Ausgabesignal VOUT, das aus dem Speicherzellenfeld
ausgelesen ist, zu dem Gate des P-Kanal-MOS-Transistors 115.
Der P-Kanal-MOS-Transistor 22 ist zwischen den externen
Stromversor gungsknoten 3 und das Gate des P-Kanal-MOS-Transistors 115 verbunden
und wird als Reaktion auf das Steuersignal CLKH mit L-Pegel eingeschaltet.
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Wenn
das Steuersignal CLKH und das Steuersignal/CLKH auf dem H-Pegel
bzw. dem L-Pegel ist (wenn die Frequenz des internen Taktsignales
ICLK höher
ist), werden daher beide P-Kanal-MOS-Transistoren 1 und 115 aktiviert,
und somit wird die Lieferfähigkeit
des Transistorelementes 114 erhöht. Im Gegensatz ist der P-Kanal-MOS-Transistor 1 aktiviert
und ist der P-Kanal-MOS-Transistor 1l5 deaktiviert,
wenn das Steuersignal CLKH und das Steuersignal /CLKH auf dem L-Pegel
bzw. dem H-Pegel ist (wenn die Frequenz des internen Taktsignales
ICLK niedriger ist). Obwohl das Gate des P-Kanal-MOS-Transistors 115 durch
das Übertragungsgatter 21 zu
dieser Zeit von dem Eingabeknoten 5 getrennt ist, ist der
P-Kanal-MOS-Transistor 22 an, so daß es eher den H-Pegel als einen
schwebenden Zustand erreicht. Als Ergebnis wird die Stromlieferfähigkeit
des Transistorelementes 114 verringert.
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In
dem zweiten Ausführungsbeispiel ändern daher
der Taktfrequenzdetektor 20 und das Übertragungsgatter 21 die
Stromlieferfähigkeit
des Transistorelementes 114 durch Steuern der Ausgabepufferschaltung
entsprechend der Frequenz des externen Taktsignales ECLK.
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Da
die Stromlieferfähigkeit
des Transistorelementes 114 erhöht wird, wenn die Frequenz
des internen Taktsignales ICLK hoch ist, kann daher das Datenwertsignal
DQn, das von der Ausgabepufferschaltung ausgegeben wird, dem internen
Taktsignal ICLK mit der hohen Frequenz ausreichend folgen. Wenn
die Frequenz des internen Taktsignales ICLK niedrig ist, ist jedoch
die Stromlieferfähigkeit
des Transistorelementes 114 verringert, und somit ist das Überschwingphänomen in
dem Datenwertsignal DQn weniger wahrscheinlich. Folglich wird der
Stromverbrauch ebenfalls reduziert.
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Wie
oben beschrieben wurde, wird die Frequenz des internen Taktsignales
ICLK durch den Taktfrequenzdetektor 20 erfaßt, und
die P-Kanal-MOS-Transistoren 1 und 115 werden
entsprechend der erfaßten Frequenz
selektiv akti viert. Somit wird die Stromlieferfähigkeit des Transistorelementes 114 automatisch
entsprechend der Frequenz des externen Taktsignales ECLK geändert. Folglich
gibt es keine Schwierigkeit des Einstellens eines Modus, wie in
dem ersten Ausführungsbeispiel.
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Hier
wird ein Beispiel des Taktfrequenzdetektors 20 mit Bezug
zu 7 beschrieben. Wie in 7 gezeigt
ist, enthält
der Taktfrequenzdetektor 20 ein T-Flip-Flop 31, Verzögerungsschaltungen 32, 33, 34, NOR-Schaltungen 35, 36,
Inverterschaltungen 37-43 und ein Übertragungsgatter 44.
Weiterhin enthält
die Verzögerungsschaltung 32 n
(n ist eine natürliche
Zahl) NAND-Schaltungen NA1-NAn und n-Inverter INV1-INVn.
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In
der Verzögerungsschaltung 32 ist
der Ausgabeknoten der NAND-Schaltung NA1 mit dem Eingabeknoten des
Inverters INV1 verbunden, und der Ausgabeknoten des Inverters INV1
ist mit einem Eingabeknoten der NAND-Schaltung NA2 verbunden. Ähnlich ist
der Ausgabeknoten der NAND-Schaltung NA2 mit dem Eingabeknoten des
Inverters INV2 verbunden, und ist der Ausgabeknoten des Inverters
INV2 mit einem Eingabeknoten der NAND-Schaltung NA3 verbunden. In
einer ähnlichen
Art sind die n-NAND-Schaltungen und die n-Inverter abwechselnd in
Reihe geschaltet. Ein Eingabeknoten na der NAND-Schaltung NA1 ist
mit dem nicht-invertierten Ausgabeknoten Q des T-Flip-Flops 31 verbunden.
Weiterhin ist der Ausgabeknoten des n-ten Inverters INVn mit dem
Eingabeknoten nb des Übertragungsgatters 44 verbunden.
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Der
Ausgabeknoten der Verzögerungsschaltung 33 ist
mit dem Eingabeknoten des Inverters 37 verbunden, und der
Ausgabeknoten des Inverters 37 ist mit einem Eingabeknoten
der NOR-Schaltung 35 verbunden. Der Eingabeknoten der Verzögerungsschaltung 33 und
der andere Eingabeknoten der NOR-Schaltung 35 sind mit
dem Eingabeknoten na der NAND-Schaltung NA1 verbunden. Ähnlich ist
der Ausgabeknoten der Verzögerungsschaltung 34 mit
dem Eingabeknoten des Inverters 38 verbunden, und ist der
Ausgabeknoten des Inverters 38 mit einem Eingabeknoten
der NOR-Schaltung 36 verbunden. Der Eingabeknoten der Verzögerungsschaltung 34 und
der andere Eingabeknoten der NOR-Schaltung 36 sind mit
dem Ausgabeknoten nc der NOR-Schaltung 35 verbunden. Weiterhin
ist der Ausgabeknoten der NOR-Schaltung 36 mit dem Eingabeknoten
nd des Inverters 39 verbunden. Der Ausgabeknoten des Inverters 39 ist
mit dem anderen Eingabeknoten jeder NAND-Schaltungen NA1-NAn verbunden.
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Der
Ausgabeknoten nc der NAND-Schaltung 35 ist mit dem Gate
eines N-Kanal-MOS-Transistors,
der Teil des Übertragungsgatters 44 ist,
und mit dem Eingabeknoten des Inverters 40 verbunden, und
der Ausgabeknoten des Inverters 40 ist mit dem Gate eines
P-Kanal-MOS-Transistors, der ein Teil des Übertragungsgatters 44 ist,
verbunden. Die Inverter 41 und 42 sind mit ihren
Eingabe- und Ausgabeknoten derart miteinander verbunden, daß sie eine
Halteschaltung 45 bilden, und der Eingabeknoten der Halteschaltung 45 ist
mit dem Ausgabeknoten des Übertragungsgatters 44 verbunden.
Die Halteschaltung 45 gibt das Steuersignal CLKH und ebenfalls
das Steuersignal/CLKH über
den Inverter 43 aus.
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Die
Verzögerungsschaltung 33,
die NOA-Schaltung 35 und die Inverterschaltung 37 bilden
eine monostabile Kippschaltung 46. Ähnlich bilden die Verzögerungsschaltung 34,
die NOR-Schaltung 36 und der Inverter 38 eine
monostabile Kippschaltung 47. Der Eingabeknoten T des T-Flip-Flops 31 ist
mit dem Taktpuffer 12 derart verbunden, daß er das
interne Taktsignal ICLK empfängt.
Das T-Flip-Flop 31 ist eine Schaltung zum Invertieren des
Pegels eines Ausgabesignals beim Anstieg des internen Taktsignales
ICLK, das empfangen wird.
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8 ist
eine Timingdarstellung, die den Betrieb des in 7 gezeigten
Taktfrequenzdetektors zeigt. Mit Bezug zu 8 wird der
Betrieb des Taktfrequenzdetektors 20 beschrieben.
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Es
wird in 8 angenommen, daß die Verzögerungszeit
durch die Verzögerungsschaltung 32 τ0 und der
Zyklus des internen Taktsignales ICLK τ beträgt. Der Knoten na der NAND-Schaltung
NA1 erreicht den H-Pegel, wenn das interne Taktsignal ICLK ansteigt,
und der Knoten na erreicht den L-Pegel nach der Zeit τ. Da sich
der Knoten na von dem H-Pegel auf den L-Pegel verringert, wird ein
Einzelpulssignal am Knoten nc der NOR-Schaltung 35 erzeugt.
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Wenn τ<τ0, wird der Einzelimpuls mit
H-Pegel an dem Knoten nc erzeugt und das Übertragungsgatter 44 wird
eingeschaltet und leitend und dann ausgeschaltet und nicht-leitend
bevor der H-Pegel des Knotens na zu dem Knoten nb des Übertragungsgatters 44 übertragen
wird. Daher erreicht die Eingabe der Halteschaltung 45,
das Steuersignal CLKH des Taktfrequenzdetektors 20 und
das Steuersignal/CLKH den L-Pegel, den H-Pegel bzw. den L-Pegel.
Wenn jedoch τ≥τ0, wird das
Einzelpulssignal mit H-Pegel an dem Knoten nc erzeugt und das Übertragungsgatter 44 wird
eingeschaltet und leitend und dann ausgeschaltet und nicht-leitend,
nachdem der H-Pegel des Knotens na zu dem Knoten nb übertragen
wird. Daher erreicht die Eingabe der Halteschaltung 45,
das Steuersignal CLKH des Taktfrequenzdetektors 20 und
das Steuersignal/CLKH den H-Pegel, den L-Pegel bzw. den H-Pegel.
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Kurz
gesagt gibt der Taktfrequenzdetektor 20 das Steuersignal
CLKH mit L-Pegel
und das Steuersignal/CLKH mit H-Pegel aus, wenn die Frequenz des
internen Taktsignales ICLK, das von dem Taktpuffer 12 eingegeben
wird, nicht größer ist
als eine vorbestimmte Frequenz, und gibt das Steuersignal CLKH mit
H-Pegel und das Steuersignal/CLKH mit L-Pegel aus, wenn die Frequenz
des internen Taktsignales ICLK die vorbestimmte Frequenz übersteigt.
Hier gibt die monostabile Kippstufe 47 ein Signal zum Zurücksetzten
eines Pulssignales, das in der Verzögerungsschaltung 32 verbleibt,
aus, nachdem das Übertragungsgatter 44 durch
das Einzelpulssignal, das durch die monostabile Kippstufe 46 ausgegeben
ist, geöffnet
und geschlossen ist.
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Drittes Ausführungsbeispiel
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9 ist
ein Schaltbild, das eine Struktur eines Hauptteiles in einem SDRAM
entsprechend einem dritten Ausführungsbeispiel
zeigt. Wie in 9 gezeigt ist, enthält die Ausgabepufferschaltung
in dem SDRAM ein Transistorelement 116 anstatt des in 3 gezeigten
Transistorelementes 110. Das Transistorelement 116 enthält zwei
P-Kanal-MOS-Transistoren 117 und 118. Der P-Kanal-MOS-Transistor 117 ist
zwischen den externen Stromversorgungsknoten 3, der die
externe Stromversorgungsspannung EVCC empfängt, und den Ausgabeknoten 4 verbunden.
Der P-Kanal-MOS-Transistor 118 ist zwischen einen internen
Stromversorgungsknoten 23, der eine interne Stromversorgungsspannung
IVCC (die durch eine interne Stromversorgungsabwärtskonverterschaltung, die
in 10 gezeigt und im folgenden beschrieben wird,
erzeugt ist), die niedriger ist als die externe Stromversorgungsspannung
EVCC, empfängt,
und den Ausgabeknoten 4 verbunden.
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Anstatt
der in 3 gezeigten NAND-Schaltungen 17 und 18 enthält der SDRAM
weiter zwei NAND-Schaltungen 24 und 25 und einen
Inverter 26. Die NAND-Schaltung 24 empfängt ein
Modusadressensignal MA8, das in dem in 2 gezeigten
Modusregister 15 eingestellt ist, und ein Ausgabesignal/VOUT
von dem Inverter 113, und das Ausgabesignal der NAND-Schaltung 24 wird
dem Gate des P-Kanal-MOS-Transistors 117 geliefert. Die
NAND-Schaltung 25 empfängt
ein invertiertes Signal/MA8, das bezüglich dem Modusadressensignal
MA8 invertiert ist, und das Ausgabesignal/VOUT des Inverters 113,
und das Ausgabesignal der NAND-Schaltung 25 wird dem Gate
des P-Kanal-MOS-Transistors 118 geliefert. Das invertierte
Signal/MA8 wird durch einen Inverter 26 erzeugt, der das
Modusadressensignal MA8 enthält.
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In
dem dritten Ausführungsbeispiel
ist das Modusadressensignal MA8 mit H-Pegel in dem Modusregister 15 eingestellt,
wenn die Frequenz des externen Taktsignales ECLK hoch ist. In diesem
Fall ist daher der P-Kanal-MOS-Transistor 117 aktiviert
und der P-Kanal-MOS-Transistor 118 deaktiviert. Andererseits
ist das Modusadressensignal MA8 mit L-Pegel in dem Modusregister 15 eingestellt,
wenn die Frequenz des externen Taktsignales ECLK niedrig ist. In
diesem Fall ist daher der P-Kanal-MOS-Transistor 118 aktiviert
und der P-Kanal-MOS-Transistor 117 deaktiviert.
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Der
SDRAM enthält
weiterhin die interne Stromversorgungsabwärtskonverterschaltung, wie
sie in 10 gezeigt ist. Die interne
Stromversorgungsabwärts konverterschaltung
enthält
einen Differenzverstärker 27 und
einen P-Kanal-MOS-Transistor 28.
Der Differenzverstärker 27 empfängt eine
intern erzeugte, konstante Referenzspannung VREF an seinem invertierten
Eingabeanschluß (–) und die
interne Stromversorgungsspannung IVCC an seinem nicht-invertierten
Eingabeanschluß (+).
Der P-Kanal-MOS-Transistor 28 ist zwischen den externen
Stromversorgungsknoten 3 und den internen Stromversorgungsknoten 23 verbunden
und in Reaktion auf das Ausgabesignal des Differenzverstärkers 27 gesteuert.
In anderen Worten steuert der Differenzverstärker 27 den P-Kanal-MOS-Transistor 28 derart,
daß die
interne Stromversorgungsspannung IVCC, die von dem internen Stromversorgungsknoten 23 rückgekoppelt
ist, mit der Referenzspannung VREF ausgeglichen wird. Da die Referenzspannung
VREF derart eingestellt ist, daß sie
niedriger ist als die externe Stromversorgungsspannung EVCC, ist
die durch die externe Stromversorgungsabwärtskonverterschaltung erzeugte
interne Stromversorgungsspannung IVCC ebenfalls niedriger als die
externe Stromversorgungsspannung EVCC.
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Wie
oben beschrieben worden ist, wird, wenn die Frequenz des externen
Taktsignales ECLK hoch ist, der P-Kanal-MOS-Transistor 117,
der die externe Stromversorgungsspannung EVCC empfängt, aktiviert,
und somit wird die Stromversorgungsfähigkeit des Transistorelementes 116 erhöht. Wenn
jedoch die Frequenz des externen Taktsignales ECLK niedrig ist,
wird der P-Kanal-MOS-Transistor 118,
der die interne Stromversorgungsspannung IVCC empfängt, aktiviert
und somit wird die Stromlieferfähigkeit
des Transistorelementes 116 verringert.
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Daher ändern in
dem dritten Ausführungsbeispiel
das Modusregister 15, die NAND-Schaltungen 24 und 25 und
der Inverter 26 die Stromlieferfähigkeit des Transistorelementes 116 entsprechend
der Frequenz des externen Taktsignales ECLK.
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Wie
oben beschrieben wurde, wird entsprechend dem dritten Ausführungsbeispiel,
wenn die Frequenz des externen Taktsignales ECLK niedrig ist, der
P-Kanal-MOS-Transistor 118,
der die interne Stromversorgungsspannung IVCC empfängt, aktiviert,
und somit wird die Stromlieferfähigkeit
des Transistorelementes 116 verringert. Daher wird ein Überschwingphänomen in
dem Datenwertsignal DQn unwahrscheinlicher.
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Obwohl
die vorliegende Erfindung bezüglich
verschiedener Ausführungsbeispiele,
die oben beschrieben wurden, beschrieben wurde, kann die vorliegende
Erfindung auch in anderen Arten verwirklicht werden. Bei dem oben
beschriebenen ersten bis dritten Ausführungsbeispiel wird die Stromlieferfähigkeit
(Größe) der Transistorelemente 110, 114, 116,
durch Steuern der P-Kanal-MOS-Transistoren 111, 112, 115, 117 und 118 verändert. Es
kann anstatt einer Mehrzahl von N-Kanal-MOS-Transistoren parallel
zwischen den Ausgabenknoten 4 und den Masseknoten 6 verbunden
werden und sie können
derart gesteuert werden, daß die
Stromlieferfähigkeit
eines Transistorelementes verändert
wird.