CN1309392A - 误差信号检测装置和再现信号检测装置 - Google Patents

Abstract

一种用于光记录/再现***的误差信号检测装置,包括:接收从记录介质反射和衍射的光的光检测器、和检测误差信号的电路单元。光检测器包括排列成2×4矩阵的八块光接收部分,包括四块内光接收部分和四块外光接收部分。电路单元比较排列在相同行的内和/或外光接收部分的检测信号的相位,从相位比较信号中输出倾斜误差信号和/或跟踪误差信号。即使对于具有窄轨道的高密度记录介质,该装置也可以更精确地控制跟踪和/或倾斜。

Description

误差信号检测装置和再现信号检测装置

本发明涉及用于光记录/再现***的误差信号检测装置，它能够以提高的准确度和精确度根据从记录介质反射和衍射的光的相位特性检测倾斜误差信号和/或跟踪误差信号，并且涉及用于光记录/再现***的再现信号检测装置。

当光拾取器在径向上扫描记录介质时，对例如固定在转台和旋转体上的光盘的记录介质记录信息信号或从其再现信息信号。但是，如果旋转光盘由于光盘自身的弯曲或在装入盘中的差错相对于光轴倾斜，则可以引起记录/再现信号的退化。

当光拾取器为了增加记录密度的目的，采用发出较短的波长的光，和具有高数值孔径(NA)的物镜的光源时，光盘倾斜产生的彗差增加，这样记录/再现信号进一步退化。这是因为光学象差与λ/NA³成比例。

在需要对介质高密度记录和再现的光记录/再现***中，这样的介质如下一代数字多用途盘(DVD)，即所谓高清晰度(HD)-DVD，作为将来的高密度记录介质被关注，需要一种倾斜误差检测装置，适于通过检测光盘的倾斜角度并根据检测的结果纠正光盘的倾斜来防止记录/再现信号退化。

作为传统的倾斜误差信号检测装置，已提出了图2所示的倾斜误差信号检测装置，它使用图1所示的普通光拾取器的光检测器9检测的信号，检测光盘10相对于物镜7的倾斜。

图1说明了普通光拾取器的光学结构的例子。参考图1，从光源1发出的用于记录和再现信息信号的激光束，通过分光器5入射到物镜7。物镜7将光源1的入射光聚焦，在光盘10的记录表面上形成光斑。从光盘10的记录表面反射的光穿过物镜7，被分光器5反射，并射向光检测器9。标号8指示光检测镜，用于将分光器5通过物镜7反射的光聚焦，来允许光检测器9检测光。

光检测器9包括四个分开盘A、B、C和D，如图2和3所示，用于分别接收光并将入射光执行光电转换。光检测器9将四个分开盘A、B、C和D检测的信号相加和/或相减，来检测信息信号和误差信号。

如图2所示，传统的倾斜误差信号检测装置包括：光检测器9，用于记录和再现信息信号，它由排列成2×2矩阵的四个分开盘A、B、C和D组成，用于接收光盘(未示出)反射的光并对入射光分别执行光电转换；第一和第二加法器11和13，用于分别将分开盘A和D接收的信号，及分开盘B和C接收的信号相加；和差分单元15，用于相减第一和第二加法器11和13的信号，并输出径向推挽信号。

差分单元15输出的径向推挽信号对应于倾斜误差信号。这一径向推挽信号可以被用作跟踪误差信号。

传统倾斜误差信号检测装置输出的倾斜误差信号，被提供给用于调整物镜7与光盘10之间相对倾斜的装置，并被装置用于纠正倾斜误差。

传统倾斜误差检测装置具有结构简单的优点。但是，倾斜误差信号通过两组分开盘的检测信号相减被检测到，分开盘在沿切向对齐的中心轴的每侧彼此相对。由于这个原因，当物镜被移动或当物镜到光盘的距离超过聚焦位置时，倾斜误差信号以高灵敏度改变，这样难以准确地检测倾斜角误差。

另一方面，当使用图1所示光拾取器对光盘记录信息或再现信息时，需要光拾取器准确地跟踪光盘轨道。为此，光拾取器通常使用一个单元，通过接收从光源发出后从光盘反射的光，检测光盘的跟踪误差信号。

如图3所示，传统的差分推挽检测(DPD)型跟踪误差信号检测装置包括：光检测器9，用于检测信息信号；矩阵电路21；两个高通滤波器HPF1和HPF2；两个脉冲整形电路23和25；和相位比较器27。

矩阵电路21接收四个分开盘A、B、C和D分别检测的信号a、b、c和d，并将对角线相对的分开盘A和C，和对角线相对的分开盘B和D的检测信号分别相加。如果光斑超过轨道的中心形成，则在信号的和(a+c)与(b+d)之间发生时间延迟或相位差。这样，跟踪误差的量可以通过检测这些信号间的时间延迟来识别。

高通滤波器HPF1和HPF2滤掉矩阵电路21输出的信号的和(a+c)和(b+d)的低频部分，并只通过高频部分。

分别穿过高通滤波器HPF1和HPF2的信号(a+c)与(b+d)，通过脉冲整形电路23和25转换成脉冲信号。相位比较器27比较脉冲信号的相位，并输出跟踪误差信号TES′。

使用四块光检测器9的DPD型跟踪误差信号检测装置，被用于检测在只读存储器(ROM)型的光盘驱动器中光盘的跟踪误差的量。

同时，如图4A所示，从光盘反射用于再现的光在聚焦在光盘上后，被在光盘10的轨道上形成的凹坑(P)或标记(未示出)衍射成第0级衍射光束和第±1级衍射光束。这样，光检测器9接收第0级衍射光束和第±1级衍射光束，它们在径向上彼此重叠。图4A说明了从具有窄轨道的高密度光盘在径向上反射和衍射的光。这示出了当根据凹坑宽度彼此分开时，第±1级衍射光束与第0级衍射光束重叠的情况。从两个重叠部分，即第0级衍射光束与第+1级衍射光束之间，和第0级衍射光束与第-1级衍射光束之间产生的信号，具有与第0级衍射光束产生的信号不同的相位特征。

如果光盘具有相对大的宽度的凹坑或标记，从光盘衍射并反射的三个光束，即第0级衍射光束与第±1级衍射光束，可以彼此部分重叠。在这种情况下，三束的重叠部分，和第0级衍射光束与第+1级衍射光束之间、和第0级衍射光束与第-1级衍射光束之间的重叠部分，显示了不同的相位特性。

在采用了图4A所示具有窄轨道用于高密度记录的光盘10的情况下，例如随着轨道间距的减小，与一般的普通密度光盘(未示出)相比，凹坑(P)的最小长度和多个凹坑(P)间的最小间隔变短。

当光盘10旋转时，光被连续地照射到凹坑(P)和凹坑10之间的基底表面10a上。当跟踪光盘10轨道的光斑到达凹坑(P)和基底表面10a时，凹坑(P)反射的光和基底表面10a反射的光之间，由于光路不同而发生干涉和衍射。结果如图4B所示，产生第0级衍射光束和第±1级衍射光束，使它们重叠。

这样，通过光检测器9接收的光包括第0级衍射光束和第±1级衍射光束的光，它们在轨道方向，即切向重叠。重叠部分，即第0级衍射光束和第+1级衍射光束之间，和第0级衍射光束和第-1级衍射光束之间的相位信号，示出了与纯第0级衍射光束的相位信号不同的特点。如图4A和4B所示，衍射光束复杂地彼此重叠，并且光检测器9接收这样复杂重叠的衍射光束。

对于图2所示的传统倾斜误差信号检测装置，入射光被4个分开盘A、B、C和D接收，并且倾斜误差信号，即径向推挽信号可以从检测信号中被检测到。但是检测信号的相位特性是模糊的，这样检测倾斜误差信号的准确程度是低的。

对于图3所示的传统跟踪误差信号检测装置，在对角线方向的两个分开盘A与C，和B与D的检测信号被相加，使切向检测信号之间的相位特性是模糊的。这样在用于高密度记录和再现的图3所示的传统跟踪误差信号检测装置检测跟踪误差信号的情况下，重叠部分的相位信号可能作为噪声。

而且，因为高密度光盘具有窄的最小凹坑或标记间隔，如果干涉由于相邻凹坑或标记而发生，那么跟踪误差信号的噪声电平可能进一步增加。

这样，当图3的传统跟踪误差信号检测装置，被用于从具有窄轨道用于记录和再现操作的高密度光盘中检测跟踪误差信号时，由于减小的增益和增加的噪声，准确地检测跟踪误差信号是困难的。

为了解决上述问题，本发明的一个目的是提供一种用于光记录/再现***的误差信号检测装置，其中，考虑到从记录介质反射和衍射的光的相位特性，倾斜误差信号和/或跟踪误差信号甚至可以从具有窄轨道的高密度光盘中，以高的准确度和精确度被检测到；并提供一种再现信号检测装置。

为了实现本发明的目的，提供了一种用于光记录/再现***的误差信号检测装置，包括：光检测器，通过接收记录介质反射和衍射的光，检测信息信号；和电路单元，通过处理光检测器接收的检测信号，检测误差信号，其中，当记录在记录介质上的信息流的方向被定义为切向，而垂直于信息流的方向被定义为径向时，光检测器包括排列成2×4矩阵的八块光接收部分，分别对记录介质反射和衍射的光执行光电转换，其中矩阵的行平行于相应于记录介质的径向的方向，而矩阵的列平行于相应于切向的方向，并且八块光接收部分包括：四块内光接收部分，排列在光检测器的中心区域；和四块外光接收部分，围绕相应内光接收部分排列，并且电路单元比较排列在相同行的内和/或外光接收部分的检测信号的相位，并从相位比较信号中输出倾斜误差信号和/或跟踪误差信号。

在另一个实施例中，电路单元以预定的增益因数放大排列在第一对角线方向的内和/或外光接收部分接收的检测信号，将放大信号的相位与排列在第二对角线方向的和/或外光接收部分接收的检测信号的相位相比较，并且从相位比较信号中输出倾斜误差信号和/或跟踪误差信号。

本发明提供一种用于光记录/再现***的误差信号检测装置，包括：光检测器，用于接收从记录介质反射和衍射的光；和电路单元，通过处理光检测器接收的检测信号，检测误差信号，其中，当记录在记录介质上的信息流的方向被定义为切向，而垂直于信息流的方向被定义为径向时，光检测器包括逆时针顺序排列成2×2矩阵的第一到第四光接收部分，分别对记录介质反射和衍射的光执行光电转换，第一到第四光接收部分，其中矩阵的行平行于相应于记录介质的径向的方向，而矩阵的列平行于相应于切向的方向，并且电路单元比较排列在相同行或列的光接收部分接收的检测信号的相位，并从相位比较信号中检测倾斜误差信号和/或跟踪误差信号。

在另一个实施例中，电路单元包括：第一和第二延迟器，用于将排列在矩阵的一行的第一和第二光接收部分接收的检测信号的相位分别延迟；和相位比较器，用于将第一光接收部分的延迟检测信号和对角线相对的第三光接收部分接收的检测信号的和的相位，与第二光接收部分的延迟检测信号和对角线相对的第四光接收部分接收的检测信号的和的相位相比较。

本发明提供一种用于光记录/再现***的误差信号检测装置，包括：光检测器，用于接收从记录介质反射和衍射的光；和电路单元，通过处理光检测器接收的检测信号，检测误差信号，其中，当记录在记录介质上的信息流的方向被定义为切向，并且垂直于信息流的方向被定义为径向时，光检测器包括排列成4×2矩阵的八块光接收部分，分别对记录介质反射和衍射的光执行光电转换，其中矩阵的行平行于相应于径向的方向，而矩阵的列平行于相应于切向的方向，并且八块光接收部分包括：四块内光接收部分，排列在光检测器的中心区域；和四块外光接收部分，围绕相应内光接收部分排列，并且电路单元比较排列在相同行的内和/或外光接收部分的检测信号的相位，并从相位比较信号中输出倾斜误差信号和/或跟踪误差信号。

用于光记录/再现***的另一种误差信号检测装置包括：光检测器，用于接收从记录介质反射和衍射的光；和电路单元，通过处理光检测器接收的检测信号，检测误差信号，其中，当记录在记录介质上的信息流的方向被定义为切向，而垂直于信息流的方向被定义为径向时，光检测器包括排列成4×2矩阵的八块光接收部分，分别对记录介质反射和衍射的光执行光电转换，其中矩阵的行平行于相应于记录介质的径向的方向，而矩阵的列平行于相应于切向的方向，并且八块光接收部分包括：四块内光接收部分，排列在光检测器的中心区域；和四块外光接收部分，围绕相应内光接收部分排列，并且电路单元以预定增益因数放大排列在第一对角线方向的内和/或外光接收部分接收的检测信号的和，将放大信号的相位与排列在第二对角线方向的内和/或外光接收部分接收的检测信号的和的相位相比较，并且输出倾斜和/或跟踪误差信号。

用于光记录/再现***的另一种误差信号检测装置包括：光检测器，用于接收从记录介质反射和衍射的光；和电路单元，通过处理光检测器接收的检测信号，检测误差信号，其中，当记录在记录介质上的信息流的方向被定义为切向，并且垂直于信息流的方向被定义为径向时，光检测器包括逆时针顺序排列成2×2矩阵的第一到第四光接收部分，在径向和/或切向分开，分别对记录介质反射和衍射的光执行光电转换，第一到第四光接收部分，其中矩阵的行平行于相应于记录介质的径向的方向，而矩阵的列平行于相应于切向的方向，电路单元包括：放大器，用于以预定增益因数放大排列在第一对角线方向的第一和第三光接收部分接收的检测信号的和；相位比较器，用于将放大器的输出信号的相位，与排列在第二对角线方向的第二和第四光接收部分接收的检测信号的和的相位相比较，检测倾斜和/或跟踪信号。

根据本发明的另一方面，提供了一种用于检测再现信号的装置，使用具有排列成2×4矩阵的八块光接收部分的光检测器，四块内光接收部分排列在光检测器的中心区域，而四块外光接收部分围绕相应内光接收部分排列，其中，当记录在记录介质上的信息流的方向被定义为切向，并且垂直于信息流的方向被定义为径向时，矩阵的行平行于相应于记录介质的径向的方向，而矩阵的列平行于相应于切向的方向，该装置包括：第一到第四延迟器，分别将排列在一行的内和外光接收部分接收的检测信号延迟一段预定时间；第一加法器，用于将排列在第一对角线方向的内光接收部分之一的延迟检测信号，与排列在第一对角线方向的另一个内光接收部分接收的检测信号相加，并输出第一和信号；第二加法器，用于将排列在第一对角线方向的外光接收部分之一的延迟检测信号，与排列在第一对角线方向的另一个外光接收部分接收的检测信号相加，并输出第二和信号；第三加法器，用于将排列在第二对角线方向的内光接收部分之一的延迟检测信号，与排列在第二对角线方向的另一个内光接收部分接收的检测信号相加，并输出第三和信号；第四加法器，用于将排列在第二对角线方向的外光接收部分之一的延迟检测信号，与排列在第二对角线方向的另一个外光接收部分接收的检测信号相加，并输出第四和信号；第五加法器，用于相加第一到第四和信号，并输出再现信号。

本发明的上述目标的优点通过参考附图具体描述优选实施例而变得更清楚，其中：

图1是普通光拾取器的例子的示意图；

图2说明传统倾斜误差检测装置的结构；

图3说明传统跟踪误差检测装置的结构；

图4A说明光从普通高密度记录介质在径向反射和衍射；

图4B说明光从普通高密度记录介质在切向反射和衍射；

图5是根据本发明的用于光记录/再现***的误差信号检测装置的优选实施例的示意图；

图6是示出了当跟踪伺服机构没有运行时，图5的电路单元的输出信号的图；

图7是示出了当跟踪伺服机构运行时，图5的电路单元的输出信号的图；

图8到21说明了根据本发明的用于光记录/再现***的误差信号检测装置的替换实施例；

图22是根据本发明的再现信号检测装置的优选实施例的示意图；

图23说明了根据本发明的误差信号检测装置的另一个实施例的结构，它检测跟踪误差信号；

图24到26说明了图23的电路单元的替换实施例；

图27说明了根据本发明的误差信号检测装置的另一个实施例的结构；

图28和29分别示出了从图27和3的电路单元输出的跟踪误差信号的图；

图30到32说明了图27的电路单元的替换实施例；

图33说明了根据本发明的误差信号检测装置的另一个实施例的结构；

图34到36示出了图33的电路单元的替换实施例；并且

图37到42说明了图33所示的光检测器的替换示例。

如图5所示，根据本发明的用于光记录/再现***的误差信号检测装置的优选实施例包括：光检测器30，用于接收从记录介质如图4A和4B的光盘10反射和衍射的光；和电路单元50，用于处理光检测器30转换的信号，来检测误差信号。光检测器30接收从记录介质反射的光，并且接收信号用于检测由物镜7(见图1)相对于记录介质倾斜产生的倾斜误差信号、跟踪误差检测信号、记录介质的再现信号等。这就是说，光检测器30用于检测光拾取器中的信息信号。

假设记录在记录介质中的信息流的方向是切向，并且与信息流垂直的方向是径向，那么光检测器30在相应于记录介质切向的方向(其后只被称为切向)上被分成两块，并且在相应于记录介质径向的方向(其后只被称为径向)上被分成两块，提供了8块结构。换句话说，光检测器30包括：四块内光接收部分A2、B2、C2和D2，逆时针顺序排列；和四块外光接收部分A1、B1、C1和D1，逆时针顺序排列。这里，八块光接收部分排列成2×4矩阵，其中行平行于相应于径向的方向，而列平行于相应于切向的方向，并分别对入射光执行光电转换。内光接收部分A2、B2、C2和D2在切向上长而在径向上窄。

内光接收部分A2、B2、C2和D2在径向上的总宽度，是考虑到轨道间距和记录介质的长度、物镜7的数值孔径(NA)(见图1)、和从光源发出的光的波长，在第0级衍射光束直径的10到80％的范围内适当地决定。

例如，如果采用这样的记录介质，它的凹坑和标记这样决定，从记录介质在径向反射和衍射的第0级和第±1级衍射光束，只在每一个第±1级衍射光束与第0级衍射光束之间重叠，而不在第+1级衍射光束和第-1级衍射光束之间重叠，那么光检测器最好这样设计，内光接收部分A2、B2、C2和D2只接收每一个第±1级衍射光束和第0级衍射光束之间重叠的部分，或一点也不接收重叠部分。

内光接收部分A2、B2、C2和D2在径向上的总宽度最好足够大，使其不接收每一个第±1级衍射光束和第0级衍射光束之间重叠的部分。

由内光接收部分A2、B2、C2和D2接收的信号a2、b2、c2和d2不包括第0级衍射光束的特点，而由外光接收部分A1、B1、C1和D1接收的信号a1、b1、c1和d1包括每一个第±1级衍射光束和第0级衍射光束之间重叠的部分的特点。

例如，假设光斑被聚焦在记录介质的轨道中心，外光接收部分A1、B1、C1和D1的检测信号a1、b1、c1和d1，和内光接收部分A2、B2、C2和D2的检测信号a2、b2、c2和d2显示了后面根据径向倾斜误差的相位关系。对于外光接收部分A1、B1、C1和D1接收的检测信号a1、b1、c1和d1，如果径向倾斜误差是正的，检测信号a1的相位相对于检测信号b1的相位延迟，并且检测信号c1的相位相对于检测信号d1的相位延迟。相反，如果径向倾斜误差是负的，那么相反的结果产生。

对于内光接收部分A2、B2、C2和D2接收的检测信号a2、b2、c2和d2，如果径向倾斜误差是正的，检测信号a2的相位相对于检测信号b2的相位延迟，并且检测信号c2的相位相对于检测信号d2的相位延迟。相反，如果径向倾斜误差是负的，那么相反的结果产生。

外光接收部分A1、B1、C1和D1的检测信号a1、b1、c1和d1，与内光接收部分A2、B2、C2和D2接收的检测信号a2、b2、c2和d2之间根据跟踪误差的相位关系，显示了与上述相似的趋势。

根据本发明具有上述分开结构的光检测器30也具有电路单元50，它能够根据光检测器的每块光接收部分的光的相位特性，检测倾斜误差信号和/或跟踪误差信号。

如果采用这样的记录介质，它具有这样的预定凹坑或标记宽度，三束即记录介质的第0级衍射光束和第±1级衍射光束彼此在一部分重叠，那么内光接收部分A2、B2、C2和D2在径向上的总宽度被确定为足够大来接收三束的重叠部分。在这种情况下，检测信号a2、b2、c2和d2之间的相位关系显示了与上述相似的趋势。

虽然后面的实施例参考这样的记录介质说明，即记录介质的凹坑或标记的宽度不允许第±1级衍射光束在反射后彼此重叠，如在本实施例中，但是应知道的是，根据本发明的误差检测装置可被应用于具有使三束彼此在一部分重叠这样宽度的凹坑或标记的记录介质。

根据本发明的优选实施例，电路单元50比较将排列在相同行的内光接收部分A2的B2的检测信号a2和b2的相位，和内光接收部分C2的D2的检测信号c2和d2的相位，并使用得到的相位比较信号输出倾斜误差信号。

具体地讲，如图5所示，电路50包括：第一和第二相位比较器51和53，每一个用于比较内光接收部分A2和B2的检测信号a2和b2的相位，和内光接收部分C2和D2的检测信号c2和d2的相位，并输出相位比较信号；和加法器59，用于相加从第一和第二相位比较器51和53输出的相位比较信号。

第一相位比较器51接收位于光检测器30的第一行的两块内光接收部分A2和B2的检测信号a2和b2，并比较接收的检测信号a2和b2的相位。第二相位比较器53接收位于光检测器30的第二行的两块内光接收部分C2和D2的检测信号c2和d2，并比较接收的检测信号c2和d2的相位。

从加法器59输出的误差信号是将排列在相同行的两块内光接收部分的检测信号相比较得到相位比较信号的和，也就是内光接收部分A2和B2的检测信号a2和b2的相位比较信号，和内光接收部分C2和D2的检测信号c2和d2的相位比较信号。

图6说明了当光记录/再现***的跟踪伺服机构没有运行时，加法器59的输出信号。在这种情况下，如果记录介质相对于物镜的倾斜误差没有发生，那么只有包括跟踪误差分量的信号从加法器59输出，如图6的(A)所示。

与此同时，如果记录介质相对于物镜的倾斜误差存在，那么包括倾斜误差分量和跟踪误差分量的信号从加法器59输出，如图6的(B)所示。(B)中的高频分量是跟踪误差信号，而(B)中的低频分量是倾斜误差信号。

当跟踪误差和/或倾斜误差如前述发生时，跟踪误差信号分量和/或倾斜误差信号分量包括于从加法器59输出的信号中。这样，当跟踪伺服机构运行时，加法器59的输出信号只是倾斜误差信号。而且，如果光盘的倾斜被控制，或者如果光盘的倾斜对光记录/再现***不是问题，那么加法器59的输出信号只是跟踪误差信号。

图7说明了当通过跟踪伺服机构的操作，光斑沿记录介质的轨道上位置跟踪时，加法器59的输出信号。参考图7，如果记录介质相对于物镜的倾斜误差没有发生，因为跟踪伺服机构在操作，所以几乎既不包括倾斜误差也不包括跟踪误差分量的信号从加法器59输出，如图7的(A)所示。

与此同时，如果记录介质相对于物镜的倾斜误差存在，由于跟踪伺服机构的操作，包括倾斜误差信号而几乎没有跟踪误差分量的信号从加法器59输出，如图7的(B)所示。

对于一般的光记录/再现***，在记录/再现模式中跟踪伺服机构连续运行。

如参考图6和7所描述，当图5所示的误差信号检测装置被用于光记录/再现***中时，倾斜误差信号从电路单元50的加法器59输出，并可以被用于控制物镜与记录介质的相对倾斜。明显地，图5的误差信号检测装置如需要可以被用于检测跟踪信号。

如5所示，为了使用误差信号检测装置检测倾斜误差信号，而不使跟踪伺服机构操作，用于检测从电路单元50输出的信号的包络或信号中间值的变化的检测器70，可以进一步包括在加法器59的输出端，如图8所示。

例如，当包络检测器被用作检测器70时，包络检测器检测从加法器59输出的信号的包络，它看起来像图7的(B)的信号，也就是，相对低频的倾斜误差信号。这样，检测器70依赖于倾斜信号是否出现，输出如图7的(A)和(B)所示的信号。

当信号中心值检测器被用作检测器70时，信号中心值检测器检测并输出跟踪误差信号分量的中心值。跟踪误差信号分量的中心值的变化对应于倾斜误差信号分量，并且与包络信号大致相同。

参考图9，电路单元150可以只包括一个相位比较器159，用于将对角线相对的内光接收部分A2和C2的检测信号a2和c2的和(a2+c2)的相位，与对角线相对的内光接收部分B2和D2的检测信号b2和d2的和(b2+d2)的相位相比较。

如前所述，检测信号a2和c2的相位或者超前或者落后于检测信号b2和d2的相位。换句话说，相比于检测信号b2，检测信号a2的相位特性与检测信号c2更相似。

这样，与图5所示的电路单元50相似，误差信号可以通过将具有相似相位特性的对角线相对的内光接收部分的检测信号相加，并比较得到的结果。

在本实施例中，电路单元150最好进一步包括增益控制器155，用于以预定的增益因数k放大和(a2+c2)或(b2+d2)之一，并将结果输出到相位比较器159，它允许误差信号的偏移量的纠正。这里，增益因数k是非0常数。

与普通差分推挽检测(PDP)相似，参考图9描述的误差信号检测装置将对角线相对的光接收部分的检测信号相加，并比较两个结果的相位。但是，只使用了光检测器30接收的相应于第0级衍射光束的检测信号，这样倾斜检测信号和/或跟踪检测信号可以以高的精确度和准确度被检测到。

如图10所示，电路单元150可以进一步包括：延迟器151，在对角线相对的内光接收部分A2和C2的输出端之间；和增益控制器155。

在这种情况下，内光接收部分A2和C2的检测信号a2和c2的和被延迟器151延迟，并输入到增益控制器155。输入到增益控制器155的信号被放大，并且信号的相位被与其他对角线相对的内光接收部分B2和D2的检测信号b2和d2的和的相位相比较。

如图10所示，通过延迟对角线相对的内光接收部分中的一对的检测信号的和，可以防止由信号失真引起的相位的退化，它可能由于相加对角线相对的内光接收部分的检测信号，在信号的比较中发生。

具体地讲，可能当物镜(未示出)被移动时发生的误差信号的偏移量，通过对角线相对的检测信号的和之间的相位比较偏移量来纠正，它由于记录介质上凹坑的深度的偏离产生，这样误差信号可以被更准确地检测。

对于根据本发明的图10的电路单元150，尽管对角线相对的光接收部分的检测信号被相加，如前所述，误差信号通过延迟和放大处理检测。结果，尽管记录介质上的凹坑的深度变化，由于基于凹坑深度变化的信号失真的相位退化被改进。这样，即使当物镜被移动时，误差信号可以以减小的偏移量检测。

如图11所示，电路单元150可以包括延迟器151a和151b，用于分别延迟在相同行的内光接收部分C2和D2的检测信号c2和d2。对于这种情况，由记录介质上凹坑的深度变化产生的问题可以在检测误差信号时被改进。

如前参考图5所述，根据本发明的图9和11所示的误差信号检测装置，在跟踪伺服机构的操作期间输出倾斜误差检测信号。如果倾斜误差没有出现，那么误差信号检测装置可以用于检测跟踪误差信号。如前参考图8所述，当包络或信号中心值检测器70被进一步包括时，倾斜误差信号可以被输出，而不管跟踪伺服机构的操作如何。

在参考图5和8到11描述的根据本发明的误差信号检测装置中，误差信号通过使用内光接收部分A2、B2、C2和D2接收的检测信号检测(它们接收第0级衍射光束)，这样倾斜误差信号可以以提高的准确度检测。这是因为第0级衍射光束与从记录介质反射和衍射的其它第±1级衍射光束相比较，对记录介质相对于物镜的倾斜更敏感。

在参考图5和9描述的根据本发明的误差信号检测装置中，得到相对于排列在径向的内光接收部分的检测信号的相位比较信号，并相加来检测误差信号。结果，即使物镜被移动，或物镜和光盘之间的距离超过聚焦位置，倾斜误差信号也改变一点，并且这样倾斜误差可以被准确地检测。

图12是用于根据本发明的光记录/再现***的误差信号检测装置的另一个例子的示意图。图14的误差信号检测装置与图5的误差信号检测装置大致相同，除了外光接收部分A1、B1、C1和D1的检测信号a1、b1、c1和d1被提供给电路单元250之外。

具体地讲，第一相位比较器51接收排列在第一行的外光接收部分A1和B1的检测信号a1和b1，并比较检测信号a1和b1的相位。第二相位比较器53接收排列在第二行的外光接收部分C1和D1的检测信号c1和d1，并比较检测信号c1和c1的相位。

如参考图5所述，电路单元250还在跟踪伺服机构的操作时输出倾斜误差信号。当电路单元250进一步包括参考图8描述的包络或信号中心值检测器70时，倾斜检测信号可以被检测而不管跟踪伺服机构的操作如何。如果没有倾斜误差，电路单元250的输出信号可以被用于检测跟踪误差信号。

图13到15说明根据本发明的误差信号检测装置的其他实施例，它使用外光接收部分接收的检测信号。图13到15所示的误差信号检测装置的结构，与图9到11所示的误差信号检测装置大致相同，除了外光接收部分A1、B1、C1和D1的检测信号a1、b1、c1和d1被输入到电路单元350。

当跟踪伺服机构运行时，图13到15的误差信号检测装置可以检测倾斜信号。当电路单元350如图8所示进一步包括包络或信号中心值检测器70时，倾斜误差信号可以由电路单元350检测而不管跟踪伺服机构的操作如何。

根据跟踪伺服机构是否运行，并且物镜与记录介质之间是否有相对倾斜误差，参考图5和图9到15描述的用于根据本发明的光记录/再现***的误差信号检测装置，输出包括跟踪误差和/或倾斜误差分量的误差信号。

如果每一个用于倾斜误差检测和跟踪误差检测的一对电路单元，使用前述电路单元的至少一个构造，那么倾斜误差信号和跟踪误差信号可以被同时检测。

当图8的包络或信号中心值检测器70被设置在图5和图9到15所示电路单元的输出端时，不必要的信号分量可以被去除，这样倾斜误差信号可以被更准确地检测。

根据本发明的误差信号检测装置的其他实施例在图16和17中所示。图16和17的每一个误差信号检测装置包括电路单元450，它使用外和内光接收部分A1、B1、C1、D1、A2、B2、C2和D2的所有检测信号a1、b1、c1、d1、a2、b2、c2和d2检测误差信号，其中误差信号从四个相位比较信号中检测，四个相位比较信号通过分别比较排列在相同行的外和内光接收部分接收的信号的相位得到。

参考图16，电路单元450检测跟踪误差信号使用的结构包括：第一电路部分250，通过使用外光接收部分A1、B1、C1和D1的检测信号a1、b1、c1和d1输出误差信号S1；第二电路部分50，通过使用内光接收部分A2、B2、C2和D2的检测信号a2、b2、c2和d2输出误差信号S2；和加法器455，用于相加误差信号S1和S2。电路单元450可以包括可以检测倾斜误差信号的差分单元(未示出)代替加法器455。

如图17所示，电路单元450还可以包括差分单元453，用于将误差信号S1和S2相减。对于这种情况，可以检测倾斜误差信号和跟踪误差信号。

误差信号S1与图12的误差信号检测装置的输出信号一样。与图12的电路单元相似，第一电路部分250具有这样的结构，其中排列在径向的外光接收部分接收的检测信号的相位被比较，来得到相位比较信号，并且相位比较信号被相加。误差信号S2与图5的误差信号检测装置的输出信号相同。与图5的电路单元相似，第二电路部分50具有这样的结构，其中排列在径向的内光接收部分接收的检测信号的相位被比较，来得到相位比较信号，并且相位比较信号被相加。如前所述，第一和第二电路部分250和50分别具有与图12和5相同的结构。由于这个原因，用于图12和5中的相同的标号被用于指示图16的第一和第二电路部分50和250，并且不提供其具体描述。

使用外光接收部分A1、B1、C1和D1的检测信号a1、b1、c1和d1得到的误差信号S1，和使用内光接收部分A2、B2、C2和D2的检测信号a2、b2、c2和d2得到的误差信号S2具有几乎相反的相位。这样，包络的相位，即倾斜误差信号分量的相位，具有180°的相位差。可理解的是，误差信号S1和S2的跟踪信号误差分量具有相同的相位。

这样，当误差信号S1和S2被加法器455相加时，具有相反相位的误差信号S1和S2的倾斜误差信号分量被去除，并且只有跟踪误差信号分量的和被输出。当误差信号S1和S2被输入到差分单元453时，如图21所示，跟踪误差信号分量通过减法被去除，并且包括在具有相反相位的误差信号S1和S2中的倾斜误差信号分量的幅度被简单相加。

结果，具有大幅度的跟踪误差信号从加法器455中输出，并且具有大幅度的倾斜误差信号从差分单元453中输出。这样，通过使用图21所示的误差检测装置，跟踪误差信号和/或倾斜误差信号可以以提高的准确度被检测到。

在图21所示的本实施例中，误差信号检测装置还可以包括增益控制器451，用于控制误差信号S1和S2之一的增益，使根据光检测器30的外和内接收部分的分割比的误差信号的幅度的差异可以被纠正。

例如，增益控制器451可以被连接到输出误差信号S2的加法器59的输出端，并且以预定的增益因数k1放大误差信号S2。对于这种情况，误差信号S2的幅度可以被增益控制器451控制，使之与不通过增益控制器451的误差信号S1的幅度相等。结果，倾斜误差信号分量被从中完全去除的跟踪误差信号从加法器455中输出，并且跟踪误差信号分量被从中完全去除的倾斜误差信号从差分单元453中输出。通过将增益控制器451组合进根据本发明的误差信号检测装置中，增加了检测跟踪误差信号和/或倾斜误差信号的准确度。

如图18所示，只有两个比较器457和459，而不是四个相位比较器，每一个用于比较排列在相同行的四块光接收部分的检测信号的相位。具体地讲，相位比较器457比较排列在第一行的临近的内和外接收部分的检测信号的和的相位。相位比较器459比较排列在第二行的临近的内和外接收部分的检测信号的和的相位。最好可以提供以预定的增益因数k放大内光接收部分A2、B2、C2和D2的检测信号a2、b2、c2和d2的增益控制器453，来纠正由内和外光接收部分接收的光量的差异。然后，增益放大的内光接收部分A2、B2、C2和D2的检测信号a2、b2、c2和d2，与外光接收部分A1、B1、C1和D1的检测信号a1、b1、c1和d1相加，并输入到相位比较器457和459。图18的电路单元450的结构是相应于图16的电路单元的结构的修改。可理解的是，图18的电路单元450可以相应于图7的电路单元修改。

参考图19到21，根据本发明的误差信号检测装置的另一个实施例包括电路单元550或600，用于从对角线相对的光接收部分的检测信号的和中检测误差信号。这里，外光接收部分A1、B1、C1和D1，和内光接收部分A2、B2、C2和D2的所有检测信号被用于检测误差信号。

例如参考图19，电路单元550包括：第一电路部分350，通过使用外光接收部分A1、B1、C1和D1的检测信号a1、b1、c1和d1输出误差信号S1′；第二电路部分150，通过使用内光接收部分A2、B2、C2和D2的检测信号a2、b2、c2和d2输出误差信号S2′；和第三电路部分，用于从误差信号S1′和S2′中检测倾斜误差信号和/或跟踪误差信号。

误差信号S1′与图14的误差信号检测装置的输出信号相同。像图14的电路单元一样，第一电路部分350具有这样的结构，其中对角线相对的外光接收部分A1和C1的检测信号a1和c1的和以预定的增益因数k放大，并且将放大信号的相位与其他对角线相对的外光接收部分B1和D1的检测信号b1和d1的和的相位相比较。

误差信号S2′与图10的误差信号检测装置的输出信号相同。像图10的电路单元一样，第二电路部分150具有这样的结构，其中对角线相对的内光接收部分A2和C2的检测信号a2和c2的和以预定的增益因数k放大，并且将放大信号的相位与另一对角线相对的内光接收部分B2和D2的检测信号b2和d2的和的相位相比较。如前所述，第一和第二电路部分350和150分别具有与图10和14的电路单元相同的结构。由于这个原因，用于图10和14中的相同的标号也被用于这里，并且这里不提供各部件的具体描述。还有，图9和13所示的电路单元的结构可以被用于第一和第二电路部分350和150中。

使用外光接收部分A1、B1、C1和D1的检测信号a1、b1、c1和d1检测的误差信号S1′，和使用内光接收部分A2、B2、C2和D2的检测信号a2、b2、c2和d2检测的误差信号S2′，分别具有与参考图16和17描述的误差信号S1和S2相似的相位特性。

使用误差信号S1′和S2′检测倾斜误差信号和/或跟踪误差信号的第三电路部分的结构，和以提高的精确度和准确度检测倾斜误差信号和/或跟踪误差信号的原理，与那些参考图16和17描述的结构和原理相似，因此，在这里不提供其描述。

作为另一个修改，电路单元550可以由以下组成：一对相位比较器159，用于分别比较对角线相对的外光接收部分接收的检测信号的和的相位，和对角线相对的内光接收部分接收的检测信号的和的相位；和加法器455，用于相加相位比较器150的输出。在这种情况下，相位比较信号通过使用具有不同相位特性的内和外光接收部分的检测信号分别得到，这样跟踪误差信号可以以改进的精确度检测到。如果加法器455被图19的差分单元代替，则可以检测到倾斜误差信号。另外，如果图19所示的加法器455和差分单元453被进一步用于图20的这一结构中，则跟踪和倾斜误差信号都可以被检测到。

另一个误差信号检测装置如图21所示。电路单元600包括延迟器601、增益控制器605和相位比较器609。延迟器601分别延迟排列在光检测器的第二行的内和外光接收部分C2、D2、C1和D1的检测信号c2、d2、c1和d1，并输出延迟信号c22、d22、c11和d11。增益控制器605以预定的增益因数k1放大两个和信号的和，两个和信号包括延迟信号c11和对角线相对的外光接收部分A1的检测信号a1的第一和信号，及延迟信号c22和对角线相对的内光接收部分A2的检测信号a2的第二和信号。相位比较器609将增益控制器605输出的信号的相位，与另两个和信号的和信号的相位相比较，另两个和信号包括延迟信号d11和对角线相对的外光接收部分B1的检测信号b1的第三和信号，及延迟信号d22和对角线相对的内光接收部分B2的检测信号b2的第四和信号。

电路单元600可以进一步包括增益控制器603，用于以预定的增益因数k2放大第二和信号(a2+c22)，来纠正由外和内光接收部分接收的光量的差异。电路单元600可以进一步包括增益控制器(未示出)，用于以预定的量放大第四和信号(b2+d22)。

此外，前述各种电路元件可以被设置在相位比较器609的输出端，并且倾斜误差信号和/或跟踪误差信号可以用误差信号检测装置检测。

图22说明了根据本发明的再现信号检测装置的优选实施例。如图26所示，再现信号检测装置包括：8块的光检测器30，具有外光接收部分A1、B1、C1和D1及内光接收部分A2、B2、C2和D2；和电路单元620，使用外和内光接收部分A1、B1、C1、D1、A2、B2、C2和D2的所有检测信号a1、b1、c1、d1、a2、b2、c2和d2检测再现信号。

电路单元620包括：延迟器621，用于延迟排列在光检测器320第二行的内和外光接收部分C2、D2、C1和D1的检测信号c2、d2、c1和d1，并输出延迟信号c22、d22、c11和d11；第一和第二增益控制器623和625，用于分别以预定的增益因数k1放大延迟信号c11和对角线相对的外光接收部分A1的检测信号a1的和，和以预定的增益因数k2放大延迟信号d11和对角线相对的外光接收部分B1的检测信号b1的和；和加法器627，用于相加从第一和第二增益控制器623和625输出的放大信号和其它和信号。增益因数k1和k2的和最好是常数。

在根据本发明的再现信号检测装置中，由对角线相对的光接收部分接收的检测信号之间的相位的差异通过使用延迟器纠正。还有，由内和外光接收部分接收的光的量之间的差异可以通过使用增益控制器被纠正。结果，可以再现高质量的再现信号。

图23到27和图30到32说明了根据本发明的误差信号检测装置的其它实施例，它考虑到沿信息流方向从记录介质衍射并反射的光的特点，检测跟踪误差信号和/或倾斜误差信号，如图4B所示。以图23到27和图30到32所示的误差信号检测装置检测倾斜和/或跟踪误差信号的原理，与前面的实施例相同，并且在这里不提供其原理描述。

参考图23，根据本发明的误差信号检测装置包括：光检测器1000，用于接收从记录介质如图4B的光盘10反射和衍射的光；和电路单元1050，通过处理光检测器1000接收的检测信号检测误差信号。光接收器1000接收从记录介质反射的光，并且其检测信号被用于检测记录介质的再现信号，和跟踪和/或倾斜误差信号。

光接收器100在切向被分成四块，并在径向被分成两块，以8块结构形成4×2矩阵。也就是说，光接收部分1000包括八块光接收部分：四块内光接收部分A2′、B2′、C2′和D2′，和四块外光接收部分A1′、B1′、C1′和D1′，以逆时针顺序排列。八块光接收部分对入射光分别执行光电转换。在本实施例中，内光接收部分A2′、B2′、C2′和D2′在径向上是宽的、在切向上是窄的。

当从记录介质反射和衍射的光沿切向，即凹坑方向衍射成第0级和第±1级衍射光束时，如图4B所示，内光接收部分A2′、B2′、C2′和D2′在切向上的宽度，最好被确定来接收第0级衍射光束的大部分。如果每一个第±1级衍射光束部分与第0级衍射光束重叠，则内光接收部分A2′、B2′、C2′和D2′在切向上的宽度可以被确定来接收三束的重叠部分。

与图5的光接收器30相似，内光接收部分A2′、B2′、C2′和D2′的检测信号a2′、b2′、c2′和d2′的相位，与外光接收部分A1′、B1′、C1′和D1′的检测信号a1′、b1′、c1′和d1′的相位不同。

与图5的电路单元50相似，电路单元1050分别处理内和外光接收部分的检测信号。也就是说，电路单元1050比较排列在相同行的光接收部分接收的检测信号的相位，并使用相位比较信号检测误差信号。为此，如图23所示，电路单元1050包括：一对相位比较器1051和1053，用于比较检测信号的相位；和加法器，用于相加从相位比较器1051和1053输出的相位比较信号。

相位比较器1051接收排列在第一行的外光接收部分A1′和B1′的检测信号a1′和b1′，并比较其相位。相位比较器1053接收排列在第四行的外光接收部分C1′和D1′的检测信号c1′和d1′，并比较其相位。

从加法器1059输出的误差信号是从相位比较器1051输出的相对于在切向排列在相同行的外光接收部分A1′和B1′的检测信号a1′和b1′的相位比较信号，与从相位比较器1053输出的相对于在切向排列在相同行的外光接收部分C1′和D1′的检测信号c1′和d1′的相位比较信号的和。

当通过使用比较排列在相同行的光接收部分的检测信号得到相位比较信号来检测误差信号时，如在本实施例中，相比于参考图2和3所述的比较对角线相对的光接收部分的检测信号的和的相位的传统误差检测技术，由于信号失真的相位的退化可以被防止。尽管存在记录介质的凹坑的深度的变化，使用对角线相对的光接收部分的检测信号的和的传统方法中可能发生的信号退化可以被防止。

根据本发明，光接收部分的检测信号沿切向的相位特性是不模糊的，这样可以得到高增益的误差信号。

在图24所示的另一实施例中，电路单元1050可以这样构成，使得能够使用内光接收部分A2′、B2′、C2′和D2′的检测信号a2′、b2′、c2′和d2′检测跟踪误差信号，而不是使用外光接收部分A1′、B1′、C1′和D1′的检测信号a1′、b1′、c1′和d1′检测跟踪误差信号。具体地讲，相位比较器1151接收排列在第二行的内光接收部分A2′和B2′的检测信号a2′和b2′，并且输出相位比较信号。相位比较器1153接收排列在第三行的内光接收部分C2′和D2′的检测信号c2′和d2′，并且输出相位比较信号。加法器1159通过相加相位比较信号输出误差信号。

在图25所示的另一个实施例中，电路单元1050可以这样构成，使得能够使用所有外和内光接收部分A1′、B1′、C1′、D1′、A2′、B2′、C2′和D2′的检测信号a1′、b1′、c1′、d1′、a2′、b2′、c2′和d2′检测误差信号，它是图23和24的电路单元1050的组合。具体地讲，误差信号S1′通过处理外光接收部分A1′、B1′、C1′和D1′的检测信号a1′、b1′、c1′和d1′得到，它与图23相同，并且误差信号S2′通过处理内光接收部分A2′、B2′、C2′和D2′的检测信号a2′、b2′、c2′和d2′得到，它与图24相同。然后，两个误差信号S1′和S2′被运算单元1060相加或相减，从而得到最终误差信号。

最好，运算单元1060只以预定的增益因数k放大加法器1159的误差信号S2′，将放大的误差信号(k^*S2′)与加法器1059的误差信号S1′相加或相减，并输出最终误差信号。另外，误差信号S1′和S2′都可以以预定的量放大，并相加得到最终误差信号。

运算单元1060可以由如图16所示的增益控制器451和加法器455构成。在这种情况下，跟踪误差信号从运算单元1060输出。另外，如果运算单元1060由如图17所示的增益控制器451、加法器455和差分单元463组成，跟踪信号和倾斜误差信号可以被运算单元1060检测。

如图26所示，在电路单元1050的另一个实施例中，内光接收部分A2′、B2′、C2′和D2′的检测信号a2′、b2′、c2′和d2′以预定的增益被放大，并且与相应外光接收部分A1′、B1′、C1′和D1′的检测信号a1′、b1′、c1′和d1′相加。由排列在径向的光接收部分接收的检测信号的和的相位被比较，并且误差信号通过相加相位比较信号得到。

具体地讲，外和内光接收部分A1′和B1′的检测信号a1′和b1′被输入到第一运算器1161。第一运算器1161以预定的增益因数k放大内光接收部分A2′的检测信号a2′，并将放大的检测信号和外光接收部分A1′的检测信号a1′相加。结果，第一运算器1161输出信号(a1′+k^*a2′)。

以相似的方式，第二运算器1162接收外和内光接收部分B1′和B2′的检测信号b1′和b2′，并输出信号(b1′+k^*b2′)。第三运算器1163接收外和内光接收部分C1′和C2′的检测信号c1′和c2′，并输出信号(c1′+k^*c2′)。第四运算器1164接收外和内光接收部分D1′和D2′的检测信号d1′和d2′，并输出信号(d1′+k^*d2′)。

第一相位比较器1165将第一运算器1161的输出信号的相位与第二运算器1162的输出信号的相位相比较，第一运算器1161的输出信号从排列在切向的外和内光接收部分A1′和A2′的检测信号a1′和a2′中得到，而第二运算器1162的输出信号从排列在切向的外和内光接收部分B1′和B2′的检测信号b1′和b2′中得到。第二相位比较器1167将第三运算器1163的输出信号的相位与第四运算器1164的输出信号的相位相比较，第三运算器1163的输出信号从排列在切向的外和内光接收部分C1′和C2′的检测信号c1′和d2′中得到，而第四运算器1164的输出信号从排列在切向的外和内光接收部分D1′和D2′的检测信号d1′和d2′中得到。

加法器1169相加从第一和第二相位比较器1165和1167输出的相位比较信号，并输出误差信号。

如前所述，具有上述构造的电路单元1050以预定的增益放大内光接收部分的检测信号，并将乘积与相应外光接收部分的检测信号相加。然后，相对于排列在径向的光接收部分接收的检测信号执行相位比较。结果，发生在外和内光接收部分接收的检测信号之间的失真可以被防止。

如图27和图30到32所示，电路单元1250可以通过放大排列在一个对角线方向的内光接收部分接收的检测信号的和、和/或排列在一个对角线方向的外光接收部分接收的检测信号的和，并将放大信号的相位与排列在另一对角线方向的内光接收部分接收的检测信号的和/或外光接收部分接收的检测信号的和相比较，检测误差信号。

如图27所示，电路单元1250包括：放大器1260，用于以预定的增益将排列在第二对角线方向的外光接收部分B1′和D1′的检测信号的b1′和d1′的和放大；和相位比较器1251，用于将排列在第一对角线方向的外光接收部分A1′和C1′的检测信号a1′和c1′的和的相位，与放大器1260的输出信号的相位相比较来检测误差信号。这里增益因数k是常数。

与图2和3所示的传统误差信号检测装置相似，误差信号的检测从对角线相对的光接收部分的检测信号的求和开始。

图28和29分别示出了根据本发明的相位比较器1251输出的跟踪误差信号TES，和由图3的传统方法检测的跟踪误差信号TES′。如图39和40所示，第0级衍射光束，和第0级衍射光束与第±1级衍射光束的重叠部分分别被本发明的光检测器的光接收部分接收。这样，与跟踪误差信号TES′相比，由本发明的误差信号检测装置检测的跟踪误差信号TES的幅度增加，并且噪声电平被减小。

图27的电路单元1250可以这样构造，使它使用内光接收部分A2′、B2′、C2′和D2′的检测信号来检测误差信号。

除了使用或者内或者外光接收部分的检测信号检测跟踪误差信号，如图30所示，电路单元1250可以使用内和外光接收部分A2′、B2′、C2′、D2′、A1′、B1′、C1′和D1′的所有检测信号a2′、b2′、c2′、d2′、a1′、b1′、c1′和d1′检测误差信号。

具体地讲，电路单元1250包括：第一放大器1260，用于以预定的增益因数k放大排列在第二对角线方向的外光接收部分的B1′和D1′的检测信号b1′和d1′的和；第二放大器1265，用于放大相应内光接收部分的B2′和D2′的检测信号b2′和d2′的和；第一相位比较器1251，用于将排列在第一对角线方向的外光接收部分A1′和C1′的检测信号a1′和c1′的和的相位，与第一放大器1260的输出信号的相位相比较，并且输出外光接收部分A1′、B1′、C1′和D1′的相位比较信号；第二相位比较器1255，用于将排列在第一对角线方向的内光接收部分A2′和C2′的检测信号a2′和c2′的和的相位，与第二放大器1265的输出信号的相位相比较，并且输出内光接收部分A2′、B2′、C2′和D2′的相位比较信号；和加法器1270，通过相加第一和第二相位比较器1250和1255的相位比较信号，输出误差信号。

图27的电路单元1250还可包括延迟器1240，在光检测器1000的排列在第四行的外光接收部分C1′和D1′的输出端，如图31所示。在这种情况下，延迟器1240分别延迟外光接收部分C1′和D1′的检测信号c1′和d1′，并分别输出延迟信号c11′和d11′。延迟信号c11′和d11′与排列在光检测器1000的第一行的外光接收部分A1′和B1′的检测信号a1′和b1′分别相加，然后分别输入到相位比较器1251和放大器1260，如图27所示。

在当排列在相同行的外光接收部分C1′和D1′的检测信号c1′和d1′被延迟来检测误差信号时，如图31所说明，由于相位差偏移量，当物镜被(未示出)移动时可能发生的误差信号的偏移量可以被纠正，这样误差信号可以被更精确地和准确地检测。实际上，由于记录介质上凹坑的深度的差异，相位差偏移发生在对角线相对的光接收部分接收的检测信号的和之间。

换句话说，当记录介质上的凹坑的偏离发生时，传统误差信号检测装置通过只相加对角线相对的光接收部分的检测信号，并将结果相减来检测误差信号，使信号的退化严重。与此同时，本发明的电路单元1250通过例如延迟和放大，处理对角线相对的光接收部分的检测信号，然后检测信号之间的相位差。结果，因信号失真引起的相位退化(由这样的凹坑的深度变化产生)，可以被减少或去除。这样，即使当物镜被移动时，误差信号也可以以急剧减小的偏移被检测。

电路单元1250的结构可以如图32所示被改变。在图32中，电路单元1250延迟排列在相同行，即第四行的外光接收部分C1′和D1′的检测信号c1′和d1′，和相应内光接收部分C2′和D2′的检测信号c2′和d2′，以相应的对角线相对的外和内光接收部分A1′、B1′、C2′和D2′的检测信号a1′、b1′、c2′和d2′，适当地处理延迟信号c11′、d11′、c22′和d22′，并比较所得信号的相位，从而检测误差信号。

具体地讲，延迟器1240延迟排列在切向的外和内光接收部分C1′、C2′、D1′和D2′的检测信号c1′、c2′、d1′和d2′，并输出延迟信号c11′、c22′、d11′和d22′。

外和内光接收部分C1′和C2′的延迟信号c11′和c22′，和相应的对角线相对的外和内光接收部分A1′和A2′的检测信号a1′和a2′被输入第一运算器1280。第一运算器1280以预定的增益因数k1放大内光接收部分A2′和C2′的检测信号的和(a2′+c22′)，并将放大信号与外光接收部分A1′和C1′的检测信号的和(a1′+c11′)相加。

延迟器1240输出的其他外和内光接收部分D1′和D2′的延迟信号d11′和d22′，及相应的对角线相对的外和内光接收部分B1′和B2′的检测信号b1′和b2′被输入第二运算器1285。第二运算器1285以预定的增益因数k2放大内光接收部分B2′和D2′的检测信号的和(b2′+d22′)，并将放大信号与内光接收部分B1′和D1′的检测信号的和(b1′+d11′)相加。

第二运算器1285的输出信号被放大器1289以预定的增益因数k放大。第一运算器1280的输出信号和放大器1289的输出信号被输入到相位比较器1251。相位比较器1251比较接收信号的相位，并输出误差信号。

在本实施例中，增益因数k是非0常数。当增益因数k1和k2在图32的电路单元1250中是0时，电路单元与图31所示相同。

与图31的电路单元1250相似，在具有图32所示结构的电路单元1250中，即使当记录介质的凹坑深度发生变化时，也可通过延迟和放大防止信号衰减。这样，误差信号可以以急剧减小的偏移量被检测，而不管物镜的移动如何。

上面描述了以分成8块光接收部分A1′、A2′、B1′、B2′、C1′、C2′、D1′和D2′的检测器1000检测误差信号的跟踪误差信号检测装置的各种实施例。

根据本发明的采用包括四块光接收部分的光检测器的跟踪误差信号检测装置的另一实施例如图33所示。跟踪误差信号检测装置包括：光检测器1300，包括四块光接收部分A、B、C和D，逆时针顺序排列，形成2×2矩阵，其中行平行于相应于记录介质的径向的方向，而列平行于相应于记录介质的切向的方向；和电路单元1350，用于使用光检测器1300接收的检测信号检测误差信号。

光接收部分A、B、C和D在径向上以预定的距离L1彼此分开，并在切向上以预定的距离L2彼此分开，使从记录介质反射的部分入射光不被接收到。

如图23所示，距离L1最好与内光接收部分A2′、B2′、C2′和D2′在切向的总宽度相同。

第一到第四光接收部分A、B、C和D的检测信号a、b、c和d之间的相位关系与图5和23所示的外光接收部分的检测信号之间的相位关系相似。

在本实施例中，第一到第四光接收部分A、B、C和D以预定的距离彼此分开排列。结果，通过接收从记录介质反射和衍射的入射光检测的误差信号的失真被减小。这样，误差信号可以以提高的准确度被检测。

当误差信号检测装置专用于检测倾斜误差信号时，光检测器1300最好这样排列，它能够只接收被光拾取器的物镜聚焦在记录介质上后，从记录介质反射的部分光。例如，在具有图1所示的光拾取器的光学***中，另一个分光装置可以位于被用作光路改变装置的分光器5和光检测镜8之间的光路上。然后，用于检测倾斜误差信号的光检测器1300这样排列，使其可以接收由分光装置分光的从记录介质反射和衍射的部分光。对于这种情况，用于检测信息信号的附加的光检测器9和用于倾斜误差信号检测的光检测器1300，为光记录/再现***所需。

具有第一到第四光接收部分A、B、C和D的光学检测器1300，可以通过接收从记录介质反射和衍射的部分光，被用于信息和误差信号两者的检测。

如图33所示，电路部分1350分别比较排列在第一行的光接收部分A和B的检测信号a和b，和排列在第二行的光接收部分C和D的检测信号c和d，并将相位比较信号相加，从而检测误差信号。在这种情况下，电路部分1350的结构和误差信号的检测与图23的电路结构和检测方法相似。这样，在图23和33中相似的标号被用于指示相似元件，并且不再提供其结构和操作的描述。

本实施例的特点在于，排列在相同列的检测信号的相位被比较，然后误差信号通过使用得到的相位比较信号检测。

例如，电路单元1350包括：相位比较器1051，用于比较排列在第二列的第一和第四光接收部分A和D的检测信号a和d的相位；相位比较器1053，用于比较排列在第一列的第三和第二光接收部分C和B的检测信号c和b的相位；和加法器1059，用于将从相位比较器1051和1053接收的相位比较信号相减。

如前所述，当误差信号通过相加将排列在相同列的光接收部分的检测信号的相位相比较得到的相位比较信号被检测时，尽管采用具有窄轨道的高密度光盘，临近轨道间的串扰产生的噪声可以在检测误差信号中减小。

当跟踪伺服机构操作使光斑沿轨道上位置跟踪时，电路单元1350输出倾斜误差信号。对于没有倾斜误差信号发生的光记录/再现***，误差信号检测装置可以被用于检测跟踪误差信号。本实施例中说明的电路单元1350可以以与前述实施例中描述的各种电路单元相似的方式被修改。

误差检测装置的另一个实施例如图35所示。在图35的电路单元1350中，排列在一个对角线方向的光接收部分B和D的检测信号b和d的和，被以预定的增益因数k放大。放大信号的相位被与排列在另一对角线方向的光接收部分A和C的检测信号a和c的和的相位相比较，从而检测误差信号。在这种情况下，电路部分1350的结构和误差信号的检测与图27的电路结构和检测方法相似。这样，在图27和35中相似的标号被用于指示相似的元件，并且不再提供其结构和操作的描述。

如图36所示，图35的电路单元还可包括延迟器1240，用于延迟排列在相同行，例如光检测器300的第二行的光接收部分C和D接收的检测信号c和d，并输出延迟信号c′和d′。在这种情况下，具有延迟器1240的电路单元1350的结构和误差信号的检测，也与图31的电路结构和检测方法相似。这样，在图31和35中相似的标号被用于指示相似的元件，并且不再提供其结构和操作的描述。

图33到36的光检测器1300可以如图37到39所示被改变。

例如，如图37所示，第一到第四光接收部分A′、B′、C′和D′可以只在切向以预定的距离L1分开，使它们接收从记录介质反射和衍射的第0级衍射光束的部分。另外，如图38所示，光检测器1300可以包括第一到第四光接收部分A″、B″、C″和D″，他们只在径向上以预定的距离L2分开。

这里，图37的第一和第二光接收部分A′和B′对应于图33到36所示的光检测器1300的第一和第二光接收部分A和B之间的间隔；并且图37的第三和第四光接收部分C′和D′对应于图33到36所示的光检测器1300的第三和第四光接收部分C和D之间的间隔。

以相似的方式，图38的第一和第四光接收部分A″和D″对应于图33到36的第一和第四光接收部分A和D之间的间隔；并且图38的第二和第三光接收部分B″和C″对应于图33到36的光检测器1300的第二和第三光接收部分B和C之间的间隔。

图37的第一到第四光接收部分A′、B′、C′和D′的排列可以通过在切向上以预定的距离分开图5的内光接收部分A2、B2、C2和D2，并去掉外光接收部分A1、B1、C1和D1得到。第一到第四光接收部分A′、B′、C′和D′的检测信号a′、b′、c′和d′之间的相位关系，与图5的内光接收部分A2、B2、C2和D2的检测信号a2、b2、c2和d2之间的相位关系相似。

图38所示的第一到第四光接收部分A″、B″、C″和D″的检测信号a″、b″、c″和d″之间的相位关系，与图24的内光接收部分A1′、B1′、C1′和D1′的检测信号a1′、b1′、c1′和d1′之间的相位关系相似。

如果图37和38的光检测器1300可以被修改成进一步包括由双点划线示出的四块L形部分的8块结构，则误差信号检测装置可以被用于检测再现信号和误差信号。

图37的第一到第四光接收部分A′、B′、C′和D′和图38的第一到第四光接收部分A″、B″、C″和D″的排列可以通过沿图33的光接收部分A、B、C和D的内边，在径向和切向上分别分开图33的相应L形内光接收部分得到。

如图39所示，根据本发明的误差信号检测装置的光检测器1300可以具有16块结构，包括图33到38所示的所有光接收部分。对于这种情况，图33到38的第一到第四光接收部分执行的误差检测，可以通过有选择地使用图39的光检测器1300的相应光接收部分实现。具有16块结构的光检测器1300可以被用于检测再现信号和误差信号。

在图33到39的光检测器1300中，第一到第四光接收部分分别在径向和/或切向之间的距离L1和/和L2，被确定为从记录介质反射和衍射的第0级衍射光束的直径的大约10-80％。距离L1和/和L2最好考虑轨道间距、记录介质上凹坑的宽度和长度、物镜的数值孔径(NA)、从光源发出的光的波长、切向的倾斜等来优化。参考图33和39描述的用于光记录/再现***的误差信号检测装置，可以检测径向倾斜误差信号和/和跟踪误差信号。

与图39的光检测器1300不同，图40所示的光检测器1400可以包括第一到第四光接收部分A、B、C和D，它们彼此靠近排列，接收从记录介质反射和衍射的第0级衍射光束的中心部分。对于这种情况，第一到第四光接收部分A、B、C和D的检测信号a、b、c和d之间的相位关系，与图5或23所示的内光接收部分的检测信号a、b、c和d之间的相位关系相同。

另外，如图41所示，光检测器1500可以包括在径向上分开的第一到第四光接收部分A、B、C和D。对于这种情况，第一到第四光接收部分A、B、C和D与图5或22所示的外光接收部分A1、B1、C1和D1大致相同。

如图42所示，光检测器1600可以包括只在切向以预定距离分开排列的光接收部分A、B、C和D。光接收部分A、B、C和D的这一排列，与图23所示的光检测器1000的外光接收部分A1′、B1′、C1′和D1′的排列相似。

在前面实施例描述的误差检测装置中，假设相对于轨道上位置参考电平在径向倾斜+1°和-1°检测的倾斜误差信号分别是v1和v2，那么|(v1-v2)/(v1+v2)|的最大值最好是0.2或更小。

假设相对于轨道外位置参考电平的在径向倾斜+1°和-1°检测的倾斜误差信号分别是v3和v4，v1或v2的绝对值的最小值最好是v3和v4的值的大约30％。

对于跟踪误差信号，假设光记录/再现***的频道时钟周期是T，平均相位差时间是Δt，如果光斑中心从记录介质上记录的凹坑或标记的中心偏离0.1μm，那么Δt/T的最小值是大约0.5。

假设跟踪误差信号的正最大值是T1，并且它的负最大值是T2，那么|(T1-T2)/(T1+T2)|的最大值最好是大约0.2。

在根据本发明的误差信号检测装置中，相位比较器根据频段选择地阻挡或放大输入信号，将所得信号数字化，比较数字化信号的相位，并将相位比较信号积分，从而输出跟踪误差信号。

在前述实施例中，加法器可以被用在电路单元的两个或更多信号的节点。

对于电路单元采用多个相位比较器的误差信号检测装置，如图5、图8、图12、图16到20、图23到26、图30和图33到34中所示，对角线相对的光接收部分接收的检测信号，被输入到相位比较器的每一个正输入端，并且从比较器输出的相位比较信号被相加，从而检测误差信号。但是电路单元的结构不限于这种结构。如果排列在不同对角线方向的光接收部分接收的检测信号被输入到相位比较器的每一个负输入端，电路单元可以使用差分单元而不是加法器输出误差信号。

在前面实施例中描述的电路单元中，加法器可以是用于相加两个或更多输入信号的简单加法器，或相加放大器。同样，差分单元可以是用于从其它输入信号中减去一个输入信号的简单减法器，或差分放大器。

在根据本发明的用于光记录/再现***的误差信号检测装置中，考虑到从记录介质反射和衍射的入射光的相位特性，光检测器以分开的光接收部分接收光，来检测误差信号。这样，尽管采用具有窄轨道的高密度光盘，倾斜误差信号和/或跟踪误差信号可以以改进的准确度和精确度被检测。

而且，通过使用排列成4×2矩阵的8块的光检测器，其中矩阵的行方向平行于记录介质的径向而矩阵的列方向平行于记录介质的切向，保证了以减小的由于在切向上的信号干涉的噪声来检测高增益误差信号。

而且，采用了能够延迟并放大一些光接收部分的检测信号的电路单元，从而减小了由于凹坑深度的变化引起的信号失真导致的相位的退化。这样，即使当物镜被移动时，跟踪误差信号和/或倾斜误差信号，特别是几乎与偏移量无关的径向倾斜误差信号，也可以被检测。

因此，当根据本发明的误差信号检测装置被用于光记录/再现***中时，即使对于具有窄轨道的高密度记录介质，跟踪和/或倾斜也可以被更精确地控制。具体地讲，根据本发明的误差信号检测装置，对用于ROM型介质，特别是HD-DVD ROM型介质的光记录/再现***特别有用。

虽然本发明参考其优选实施例被具体地显示并描述，但是本领域的技术人员应理解，在不脱离由所附权利要求书限定的本发明的思想和范围的情况下，可以在形式和细节上对其作出各种改变。

Claims (67)

1．一种用于光记录/再现***的误差信号检测装置，包括：光检测器，通过接收从记录介质反射和衍射的光检测信息信号；和电路单元，通过处理光检测器接收的检测信号，检测误差信号；该装置的特征在于，当记录在记录介质上的信息流的方向被定义为切向，而垂直于信息流的方向被定义为径向时，光检测器包括排列成2×4矩阵的八块光接收部分，分别对从记录介质反射和衍射的光执行光电转换，其中，矩阵的行平行于相应于记录介质的径向的方向，而矩阵的列平行于相应于切向的方向，并且八块光接收部分包括排列在光检测器中心区域的四块内光接收部分，和围绕相应内光接收部分排列的四块外光接收部分；并且电路单元比较排列在相同行的内和/或外光接收部分的检测信号的相位，并从相位比较信号中输出倾斜误差信号和/或跟踪误差信号。

2．如权利要求1所述的误差信号检测装置，其中，该电路单元包括：

第一相位比较器，用于比较排列在矩阵的第一行的两个内或外光接收部分的检测信号的相位，并输出相位比较信号；

第二相位比较器，用于比较排列在矩阵的第二行的其余两个内或外光接收部分的检测信号的相位，并输出相位比较信号；和

运算器，用于相加或相减第一和第二相位比较器的相位比较信号。

3．如权利要求2所述的误差信号检测装置，其中，电路单元还包括延迟器，用于延迟排列在矩阵的第一或第二行的两个内或外光接收部分的检测信号，并将延迟信号输出到第一或第二相位比较器；

其中，由于记录介质上凹坑的深度的改变引起的误差信号的相位的退化可以被防止。

4．如权利要求1所述的误差信号检测装置，其中，电路单元包括：

第一相位比较器，用于将排列在矩阵的第一行的一个内光接收部分的接收的检测信号和相应外光接收部分接收的检测信号的第一和信号的相位，与另一个内光接收部分的检测信号和相应外光接收部分接收的检测信号的第二和信号的相位相比较；和

第二相位比较器，用于将排列在矩阵的第二行的一个内光接收部分的接收的检测信号和相应外光接收部分接收的检测信号的第三和信号的相位，与另一个内光接收部分的检测信号和相应外光接收部分接收的检测信号的第四和信号的相位相比较；和

运算器，用于相加或相减第一和第二相位比较器的输出信号。

5．如权利要求4所述的误差信号检测装置，其中，电路单元还包括增益控制器，用于以预定增益因数放大内或外光接收部分接收的检测信号，以便纠正使用内和外光接收部分接收的检测信号检测的误差信号的幅度的差异。

6．如权利要求1到5中的任意一项所述的误差信号检测装置，还包括检测器，用于根据物镜与记录介质之间的相对倾斜，检测从电路单元输出的最终信号的包络或中心值的变化，以便允许即使当跟踪伺服机构没有运行时检测倾斜误差信号。

7．如权利要求1所述的误差信号检测装置，其中，电路单元包括：

第一和第二相位比较器，用于分别比较排列在矩阵的第一行的两个外和内光接收部分接收的检测信号的相位，并输出相位比较信号；

第三和第四相位比较器，用于分别比较排列在矩阵的第二行的两个外和内光接收部分接收的检测信号的相位，并输出相位比较信号；

第一运算器，用于相加或相减从第一和第三相位比较器输出的相对于由外光接收部分接收的检测信号的相位比较信号，并输出第一相位信号；

第二运算器，用于相加或相减从第二和第四相位比较器输出的相对于由内光接收部分接收的检测信号的相位比较信号，并输出第二相位信号；和

第三运算器，用于相减或相加来自第一和第二运算器的第一和第二相位信号，并输出误差信号。

8．如权利要求7所述的误差信号检测装置，其中，第三运算器输出倾斜误差信号，并且电路单元还包括第四运算器，用于通过相加或相减从第一和第二相位比较器输出的第一和第二相位信号，输出跟踪误差信号，

9．如权利要求7或8所述的误差信号检测装置，其中，电路单元还包括在第一或第二运算器的输出端的增益控制器，用于以预定的增益因数放大第一或第二相位信号，来纠正从第一和第二运算器输出的第一和第二相位信号的幅度的差异。

10．如权利要求1到5和权利要求7和8中的任意一项所述的误差信号检测装置，其中，假设相对于轨道上位置的参考电乎在径向倾斜+1°和-1°检测的倾斜误差信号分别是v1和v2，并且相对于轨道外位置的参考电平在径向倾斜+1°和-1°检测的倾斜误差信号分别是v3和v4，那么|(v1-v2)/(v1+v2)|的最大值是0.2或更小，v1或v2的绝对值的最小值是v3或v4的值的大约30％。

11．如权利要求1到5和权利要求7和8中的任意一项所述的误差信号检测装置，其中，当跟踪误差信号被检测并且光斑的中心偏离记录在记录介质中的信息流的中心0.1μm时，假设光记录/再现***的频道时钟的周期是T，并且平均相位差时间是Δt，那么Δt/T的最小值是大约0.5。

12．如权利要求1到5和权利要求7和8中的任意一项所述的误差信号检测装置，其中，假设跟踪误差信号的正最大值是T1，而其负最大值是T2，那么|(T1-T2)/(T1+T2)|的最大值是大约0.2。

13．如权利要求1到5和权利要求7和8中的任意一项所述的误差信号检测装置，其中光检测器的内光接收部分在径向上是窄的，而在切向上是宽的，并且光检测器的内光接收部分在径向上的总宽度被这样确定，使内光接收部分接收从记录介质反射和衍射的第0级衍射光束的10％到80％。

14．如权利要求13所述的误差信号检测装置，其中，内光接收部分在径向上的总宽度被这样确定，使内光接收部分接收从记录介质反射和衍射的第0级衍射光束的一部分，不包括与从记录介质反射和衍射的第±1级衍射光束的重叠部分，或接收第0级衍射光束与第±1级衍射光束都重叠的部分。

15．一种用于光记录/再现***的误差信号检测装置，包括：光检测器，通过接收从记录介质反射和衍射的光检测信息信号；和电路单元，通过处理光检测器接收的检测信号，检测误差信号；该装置的特征在于，当记录在记录介质上的信息流的方向被定义为切向，而垂直于信息流的方向被定义为径向时，光检测器包括排列成2×4矩阵的八块光接收部分，分别对从记录介质反射和衍射的光执行光电转换，其中，矩阵的行平行于相应于记录介质的径向的方向，而矩阵的列平行于相应于切向的方向，并且八块光接收部分包括排列在光检测器中心区域的四块内光接收部分，和围绕相应内光接收部分排列的四块外光接收部分；并且电路单元以预定增益因数放大排列在第一对角线方向的内和/或外光接收部分接收的检测信号，将放大信号的相位与排列在第二对角线方向的内和/或外光接收部分接收的检测信号的相位相比较，并从相位比较信号中输出倾斜误差信号和/或跟踪误差信号。

16．如权利要求15所述的误差信号检测装置，其中，电路单元包括：

增益控制器，用于将排列在第一对角线方向的内或外光接收部分接收的检测信号的和放大；和

相位比较器，用于将从增益控制器输出的信号的相位，与排列在第二对角线方向的内或外光接收部分的检测信号的和的相位相比较，并输出相位比较信号。

17．如权利要求16所述的误差信号检测装置，其中，电路单元还包括延迟器，用于将检测信号的和之一延迟一段预定的时间，来防止由于记录介质的凹坑深度的差异引起的误差信号的相位的退化。

18．如权利要求15所述的误差信号检测装置，其中，电路单元还包括：

第一延迟器，用于将排列在第一对角线方向的一行的内或外光接收部分之一接收的检测信号延迟一段预定的时间；

第二延迟器，用于将排列在第二对角线方向的一行的内或外光接收部分之一接收的检测信号延迟一段预定的时间；和

相位比较器，用于将第一延迟器的输出信号与排列在第一对角线方向的另一行的内或外光接收部分接收的检测信号的第一和信号的相位，与第二延迟器的输出信号与排列在第二对角线方向的另一行的内或外光接收部分接收的检测信号的第二和信号的相位相比较，并输出相位比较信号。

19．如权利要求18所述的误差信号检测装置，其中，电路单元还包括增益控制器，用于以预定的增益因数放大第一或第二和信号。

20．如权利要求15所述的误差信号检测装置，其中，电路单元还包括：

第一和第二增益控制器，用于以预定的增益因数分别放大排列在第一对角线方向的内光接收部分接收的检测信号的第一和信号，和排列在第一对角线方向的外光接收部分接收的检测信号的第二和信号；

第一和第二相位比较器，用于分别比较排列在第二对角线方向的内光接收部分接收的检测信号的第三和信号的相位与第一增益控制器的输出信号的相位；和排列在第二对角线方向的外光接收部分接收的检测信号的第四和信号的相位与第二增益控制器的输出信号的相位，并输出相位比较信号；和

第一运算器，用于相减或相加第一和第二相位比较器输出相位比较信号，并输出误差信号。

21．如权利要求20所述的误差信号检测装置，还包括第一和第二延迟器，用于将第一和第二和信号，或第三和第四和信号分别延迟一段预定时间。

22．如权利要求20所述的误差信号检测装置，其中，电路单元还包括在第一和/或第二相位比较器的输出端的第三增益控制器，用于以预定的增益因数放大第一和/或第二相位比较器的相位比较信号，根据光检测器的内和外光接收部分的分割比，来纠正从第一和第二相位比较器输出的相位比较信号的幅度的差异。

23．如权利要求20到22中的任意一项所述的误差信号检测装置，其中，第一运算器相减或相加第一和第二相位比较器输出的相位比较信号，并输出倾斜误差信号，并且电路单元还包括第二运算器，用于相加或相减第一和第二相位比较器输出的相位比较信号，并输出跟踪误差信号。

24．如权利要求15所述的误差信号检测装置，其中，电路单元还包括：

第一到第四延迟器，用于将排列在一行的内和外光接收部分接收的检测信号分别延迟一段预定的时间；

第一和第二加法器，用于分别相加排列在第一对角线方向的内和外光接收部分的延迟检测信号，和排列在第一对角线方向的另一行的内和外光接收部分的检测信号，并分别输出第一和第二和信号；

第三和第四加法器，用于分别相加排列在第二对角线方向的内和外光接收部分的延迟检测信号，和排列在第二对角线方向的另一行的内和外光接收部分的检测信号，并分别输出第三和第四和信号；

第一增益控制器，用于以预定的增益因数放大第一和第二和信号的和；和

相位比较器，用于将第一增益控制器的输出信号的相位，与第三和第四和信号的和的相位相比较。

25．如权利要求24所述的误差信号检测装置，其中，电路单元还包括第二增益控制器，用于以预定的增益因数放大第一或第二和信号。

26．如权利要求15所述的误差信号检测装置，其中，电路单元包括：

第一相位比较器，用于将排列在第一对角线方向的外光接收部分接收的检测信号的和的相位，与排列在第二对角线方向的外光接收部分接收的检测信号的和的相位相比较，并输出相位比较信号；

第二相位比较器，用于将排列在第一对角线方向的内光接收部分接收的检测信号的和的相位，与排列在第二对角线方向的内光接收部分接收的检测信号的和的相位相比较，并输出相位比较信号；和

运算器，用于相加或相减第一和第二相位比较器输出的相位比较信号。

27．如权利要求15到22和权利要求24到26中的任意一项所述的误差信号检测装置，其中，光检测器的内光接收部分在径向上是窄的，而在切向上是宽的，并且光检测器的内光接收部分在径向上的总宽度被这样确定，使内光接收部分接收从记录介质反射和衍射的第0级衍射光束的10％到80％。

28．如权利要求27所述的误差信号检测装置，其中，内光接收部分在径向上的总宽度被这样确定，使内光接收部分接收从记录介质反射和衍射的第0级衍射光束的部分，不包括从记录介质反射和衍射的第±1级衍射光束的重叠部分，或接收第0级衍射光束与第±1级衍射光束重叠的部分。

29．如权利要求15到19和权利要求24到26中的任意一项所述的误差信号检测装置，还包括检测器，用于根据物镜与记录介质之间的相对倾斜，检测从电路单元输出的最终信号的包络或中心值的变化，以便即使当跟踪伺服机构没有运行时也允许倾斜误差信号的检测。

30．如权利要求15到22和权利要求24到26中的任意一项所述的误差信号检测装置，其中，假设相对于轨道上位置的参考电平在径向倾斜+1°和-1°检测的倾斜误差信号分别是v1和v2，并且相对于轨道外位置的参考电平在径向倾斜+1°和-1°检测的倾斜误差信号分别是v3和v4，那么|(v1-v2)/(v1+v2)|的最大值是0.2或更小，v1或v2的绝对值的最小值是v3或v4的值的大约30％。

31．如权利要求15到22和权利要求24到26中的任意一项所述的误差信号检测装置，其中，当跟踪误差信号被检测并且光斑的中心偏离记录在记录介质中的信息流的中心0.1μm时，假设光记录/再现***的频道时钟的周期是T，并且平均相位差时间是Δt，那么Δt/T的最小值是大约0.5。

32．如权利要求15到22和权利要求24和26中的任意一项所述的任何误差信号检测装置，其中，假设跟踪误差信号的正最大值是T1，而其负最大值是T2，那么|(T1-T2)/(T1+T2)|的最大值是大约0.2。

33．一种用于光记录/再现***的误差信号检测装置，包括：光检测器，用于接收从记录介质反射和衍射的光；和电路单元，通过处理光检测器接收的检测信号，检测误差信号；该装置的特征在于，当记录在记录介质上的信息流的方向被定义为切向，而垂直于信息流的方向被定义为径向时，光检测器包括逆时针顺序排列成2×2矩阵的第一到第四光接收部分，分别对从记录介质反射和衍射的光执行光电转换，第一到第四光接收部分，其中，矩阵的行平行于相应于记录介质的径向的方向，而矩阵的列平行于相应于切向的方向；并且电路单元比较排列在相同行或列的光接收部分接收的检测信号的相位，并从相位比较信号中检测倾斜误差信号和/或跟踪误差信号。

34．如权利要求33所述的误差信号检测装置，其中，第一到第四光接收部分在相应于径向和/或切向的方向上，分别彼此分开距离L2和/或距离L1。

35．如权利要求34所述的误差信号检测装置，其中，第一到第四光接收部分在相应于径向和/或切向上分开的距离是，从记录介质反射和衍射的第0级衍射光束直径的10％到80％。

36．如权利要求33所述的误差信号检测装置，其中，第一到第四光接收部分彼此靠近排列，使第一到第四光接收部分接收从记录介质反射和衍射的第0级衍射光束的中心区域。

37．如权利要求33到36中的任意一项所述的误差信号检测装置，其中，电路单元包括：

第一相位比较器，用于比较排列在矩阵的一行的第一和第二光接收部分或排列在矩阵的一列的第一和第四光接收部分接收的检测信号的相位，并输出相位比较信号；

第二相位比较器，用于比较排列在矩阵的另一行的第三和第四光接收部分或排列在矩阵的另一列的第二和第三光接收部分接收的检测信号的相位，并输出相位比较信号；和

运算器，用于相加或相减第一和第二相位比较器输出的相位比较信号。

38．如权利要求33到36中的任意一项所述的误差信号检测装置，其中，假设相对于轨道上位置的参考电平在径向倾斜+1°和-1°检测的倾斜误差信号分别是v1和v2，并且相对于轨道外位置的参考电平在径向倾斜+1°和-1°检测的倾斜误差信号分别是v3和v4，那么|(v1-v2)/(v1+v2)|的最大值是0.2或更小，v1或v2的绝对值的最小值是v3或v4的值的大约30％。

39．如权利要求33到36中的任意一项所述的误差信号检测装置，其中，当跟踪误差信号被检测并且光斑的中心偏离记录在记录介质中的信息流的中心0.1μm时，假设光记录/再现***的频道时钟的周期是T，并且平均相差时间是Δt，那么Δt/T的最小值是大约0.5。

40．如权利要求33到36中的任意一项所述的误差信号检测装置，其中，假设跟踪误差信号的正最大值是T1，而其负最大值是T2，那么|(T1-T2)/(T1+T2)|的最大值是大约0.2。

41．如权利要求33到36中的任意一项所述的任何误差信号检测装置，其中，光检测器具有还包括在第一到第四光接收部分之内或之外的至少四块光接收部分的8块结构，并用于从记录介质检测信息信号。

42．一种用于光记录/再现***的误差信号检测装置，包括：光检测器，用于接收从记录介质反射和衍射的光；和电路单元，通过处理光检测器接收的检测信号，检测误差信号；该装置的特征在于，当记录在记录介质上的信息流的方向被定义为切向，而垂直于信息流的方向被定义为径向时，光检测器包括逆时针顺序排列成2×2矩阵的第一到第四光接收部分，并以预定距离在相应于径向的方向上分开，分别对从记录介质反射和衍射的光执行光电转换，其中，矩阵的行平行于相应于记录介质的径向的方向，而矩阵的列平行于相应于切向的方向；并且电路单元包括：

第一和第二延迟器，用于将排列在矩阵的一行的第一和第二光接收部分接收的检测信号的相位分别延迟；和

相位比较器，用于将第一光接收部分的延迟检测信号与对角线相对的第三光接收部分接收的检测信号的和的相位，与第二光接收部分的延迟检测信号与对角线相对的第四光接收部分接收的检测信号的和的相位相比较。

43．一种用于光记录/再现***的误差信号检测装置，包括：光检测器，用于接收从记录介质反射和衍射的光；和电路单元，通过处理光检测器接收的检测信号，检测误差信号；该装置的特征在于，当记录在记录介质上的信息流的方向被定义为切向，而垂直于信息流的方向被定义为径向时，光检测器包括排列成4×2矩阵的八块光接收部分，分别对从记录介质反射和衍射的光执行光电转换，其中，矩阵的行平行于相应于记录介质的径向的方向，而矩阵的列平行于相应于切向的方向，并且八块光接收部分包括排列在光检测器中心区域的四块内光接收部分，和围绕相应内光接收部分排列的四块外光接收部分；并且电路单元比较排列在相同行的内和/或外光接收部分的检测信号的相位，并从相位比较信号中输出倾斜误差信号和/或跟踪误差信号。

44．如权利要求43所述的误差信号检测装置，其中，电路单元包括：

第一相位比较器，用于比较排列在第一行的外光接收部分的相位，或排列在第二行的内光接收部分的相位，并输出相位比较信号；

第二相位比较器，用于比较排列在第四行的外光接收部分的相位，或排列在第三行的内光接收部分的相位，并输出相位比较信号；和

运算器，用于相加或相减第一和第二相位比较器输出的相位比较信号，来输出倾斜或跟踪误差信号。

45．如权利要求43所述的误差信号检测装置，其中，电路单元包括：

第一和第二相位比较器，用于分别比较排列在第一行的外光接收部分接收的检测信号的相位，和排列在第四行的外光接收部分接收的检测信号的相位，并输出相位比较信号；

第三和第四相位比较器，用于分别比较排列在第二行的内光接收部分接收的检测信号的相位，和排列在第三行的内光接收部分接收的检测信号的相位，并输出相位比较信号；

第一运算器，用于相加或相减第一和第二相位比较器的相位比较信号，从外光接收部分接收的检测信号中检测第一误差信号；

第二运算器，用于相加或相减第三和第四相位比较器的相位比较信号，从内光接收部分接收的检测信号中检测第二误差信号；和

第三运算器，用于相加从第一和第二运算器输出的第一和第二误差信号，并输出倾斜和/或跟踪误差信号；

46．如权利要求45所述的误差信号检测装置，其中，第三运算器以预定的增益因数至少放大从第一和第二运算器输出的第一和第二误差信号之一，并将放大误差信号与其它误差信号相加，来检测倾斜和/或跟踪误差信号。

47．如权利要求43所述的误差信号检测装置，其中，电路单元包括：

第一运算器，用于以预定的增益因数放大排列在第一列的一个内光接收部分接收的检测信号，并将放大信号与相应外光接收部分接收的检测信号相加；

第二运算器，用于以预定的增益因数放大排列在第一列的另一个内光接收部分接收的检测信号，并将放大信号与相应外光接收部分接收的检测信号相加；

第三运算器，用于以预定的增益因数放大排列在第二列的一个内光接收部分接收的检测信号，并将放大信号与相应外光接收部分接收的检测信号相加；

第四运算器，用于以预定的增益因数放大排列在第二列的另一个内光接收部分接收的检测信号，并将放大信号与相应外光接收部分接收的检测信号相加：

第一相位比较器，用于比较从第一和第三运算器输出的信号的相位，并输出相位比较信号；

第二相位比较器，用于比较从第二和第四运算器输出的信号的相位，并输出相位比较信号；和

第五运算器，用于相加或相减第一和第二相位比较器输出的相位比较信号，来输出倾斜和/或跟踪误差信号。

48．如权利要求43到47中的任意一项所述的误差信号检测装置，其中，当跟踪误差信号被检测并且光斑的中心偏离记录在记录介质中的信息流的中心0.1μm时，假设光记录/再现***的频道时钟的周期是T，并且平均相位差时间是Δt，那么Δt/T的最小值是大约0.5。

49．如权利要求43到47中的任意一项所述的任何误差信号检测装置，其中，假设跟踪误差信号的正最大值是T1，而其负最大值是T2，那么|(T1-T2)/(T1+T2)|的最大值是大约0.2。

50．如权利要求43到47中的任意一项所述的误差信号检测装置，其中，假设相对于轨道上位置的参考电平在径向倾斜+1°和-1°检测的倾斜误差信号分别是v1和v2，并且相对于轨道外位置的参考电平在径向倾斜+1°和-1°检测的倾斜误差信号分别是v3和v4，那么|(v1-v2)/(v1+v2)|的最大值是0.2或更小，v1或v2的绝对值的最小值是v3或v4的值的大约30％。

51．一种用于光记录/再现***的误差信号检测装置，包括：光检测器，用于接收从记录介质反射和衍射的光；和电路单元，通过处理光检测器接收的检测信号，检测误差信号；该装置的特征在于，当记录在记录介质上的信息流的方向被定义为切向，而垂直于信息流的方向被定义为径向时，光检测器包括排列成4×2矩阵的八块光接收部分，分别对从记录介质反射和衍射的光执行光电转换，其中，矩阵的行平行于相应于记录介质的径向的方向，而矩阵的列平行于相应于切向的方向，并且八块光接收部分包括排列在光检测器中心区域的四块内光接收部分，和围绕相应内光接收部分排列的四块外光接收部分；并且电路单元以预定的增益因数放大排列在第一对角线方向的内和/或外光接收部分接收的检测信号的和，将放大信号的相位与排列在第二对角线方向的内和/或外光接收部分接收的检测信号的和的相位相比较，来检测倾斜和/或跟踪误差信号。

52．如权利要求51所述的误差信号检测装置，其中，电路单元包括：

放大器，用于放大排列在第一对角线方向的外或内光接收部分接收的检测信号的和；和

相位比较器，用于将放大信号的相位与排列在第二对角线方向的外或内光接收部分接收的检测信号的和的相位相比较，来检测倾斜和/或跟踪误差信号。

53．如权利要求52所述的误差信号检测装置，其中，电路单元还包括延迟器，用于将排列在一行的外或内光接收部分接收的检测信号延迟一段预定的时间，并且延迟信号与排列在另一行的外或内光接收部分接收的检测信号的和输入给放大器和/或相位比较器。

54．如权利要求51所述的误差信号检测装置，其中，电路单元包括：

第一放大器，用于以预定的增益因数将排列在第一对角线方向的外光接收部分接收的检测信号的和放大；

第二放大器，用于以预定的增益因数将排列在第一对角线方向的内光接收部分接收的检测信号的和放大；

第一相位比较器，用于将第一放大器的输出信号的相位与排列在第二对角线方向的外光接收部分接收的检测信号的和的相位相比较，并输出相位比较信号；

第二相位比较器，用于将第二放大器的输出信号的相位与排列在第二对角线方向的内光接收部分接收的检测信号的和的相位相比较，并输出相位比较信号；和

运算器，用于相加或相减从第一和第二相位比较器输出的相位比较信号，来输出倾斜和/或跟踪误差信号。

55．如权利要求51所述的误差信号检测装置，其中，电路单元包括：

延迟器，用于将排列在一行的外光接收部分和相应内光接收部分接收的检测信号延迟一段预定的时间，并输出延迟信号；

第一运算器，用于接收一个内光接收部分和相应外光接收部分的延迟检测信号、和对角线相对的内和外光接收部分接收的检测信号，以预定的增益因数将内光接收部分接收的检测信号的和放大，并将放大信号与外光接收部分接收的检测信号相加；

第二运算器，用于接收另一个内光接收部分和相应外光接收部分的延迟检测信号、和对角线相对的内和外光接收部分接收的检测信号，以预定的增益因数将内光接收部分接收的检测信号的和放大，并将放大信号与外光接收部分接收的检测信号相加；

放大器，用于以预定的增益因数将从第一和第二运算器之一输出的信号放大；和

相位比较器，用于将第一或第二运算器的另一个输出的输出信号的相位，与放大器的输出信号的相位相比较，来检测倾斜和/或跟踪误差信号。

56．如权利要求51到55中的任意一项所述的误差信号检测装置，其中，当跟踪误差信号被检测并且光斑的中心偏离记录在记录介质中的信息流的中心0.1μm时，假设光记录/再现***的频道时钟的周期是T，并且平均相位差时间是Δt，那么Δt/T的最小值是大约0.5。

57．如权利要求51到55中的任意一项所述的误差信号检测装置，其中，假设跟踪误差信号的正最大值是T1，而其负最大值是T2，那么|(T1-T2)/(T1+T2)|的最大值是大约0.2。

58．如权利要求51到55中的任意一项所述的误差信号检测装置，其中，假设相对于轨道上位置的参考电平在径向倾斜+1°和-1°检测的倾斜误差信号分别是v1和v2，并且相对于轨道外位置的参考电平在径向倾斜+1°和-1°检测的倾斜误差信号分别是v3和v4，那么|(v1-v2)/(v1+v2)|的最大值是0.2或更小，v1或v2的绝对值的最小值是v3或v4的值的大约30％。

59．一种用于光记录/再现***的误差信号检测装置，包括：光检测器，用于接收从记录介质反射和衍射的光；和电路单元，通过处理光检测器接收的检测信号，检测误差信号；该装置的特征在于，当记录在记录介质上的信息流的方向被定义为切向，而垂直于信息流的方向被定义为径向时，光检测器包括逆时针顺序排列成2×2矩阵的第一到第四光接收部分，并在径向和/或切向上分开，分别对从记录介质反射和衍射的光执行光电转换，第一到第四光接收部分，其中，矩阵的行平行于相应于记录介质的径向的方向，而矩阵的列平行于相应于切向的方向；并且电路单元包括：

放大器，用于以预定的增益因数将排列在第一对角线方向的第一和第三接收部分接收的检测信号的和放大；和

相位比较器，用于将放大器的输出信号的相位，与排列在第二对角线方向的第二和第四光接收部分接收的检测信号的和的相位相比较，来检测倾斜和/或跟踪误差信号。

60．如权利要求59所述的误差信号检测装置，其中，电路单元还包括延迟器，用于将排列在第一行的第一和第二光接收部分接收的检测信号延迟一段预定的时间，并且延迟信号与排列在第二行的第三和第四光接收部分接收的检测信号的和输入给放大器和/或相位比较器。

61．如权利要求59所述的误差信号检测装置，其中，第一到第四光接收部分在相应于径向和/或切向的方向上分开的距离是从记录介质反射和衍射的第0级衍射光束直径的10到80％。

62．如权利要求59到61中的任意一项所述的误差信号检测装置，其中，当跟踪误差信号被检测并且光斑的中心偏离记录在记录介质中的信息流的中心0.1μm时，假设光记录/再现***的频道时钟的周期是T，并且平均相位差时间是Δt，那么Δt/T的最小值是大约0.5。

63．如权利要求59到61中的任意一项所述的误差信号检测装置，其中，假设跟踪误差信号的正最大值是T1，而其负最大值是T2，那么|(T1-T2)/(T1+T2)|的最大值是大约0.2。

64．如权利要求59到61中的任意一项所述的误差信号检测装置，其中，假设相对于轨道上位置的参考电乎在径向倾斜+1°和-1°检测的倾斜误差信号分别是v1和v2，并且相对于轨道外位置的参考电平在径向倾斜+1°和-1°检测的倾斜误差信号分别是v3和v4，那么|(v1-v2)/(v1+v2)|的最大值是0.2或更小，v1或v2的绝对值的最小值是v3或v4的值的大约30％。

65．一种用于检测再现信号的装置，具有：光检测器，它具有2×4矩阵的八块光接收部分，四块内光接收部分排列在光检测器的中心区域，并且四块外光接收部分围绕相应内光接收部分排列；其中，当记录在记录介质上的信息流的方向被定义为切向，而垂直于信息流的方向被定义为径向时，矩阵的行平行于相应于记录介质的径向的方向，而矩阵的列平行于相应于切向的方向，该装置的特征在于包括：

第一到第四延迟器，用于将排列在一行的内和外光接收部分接收的检测信号分别延迟一段预定的时间；

第一加法器，用于将排列在第一对角线方向的一个内光接收部分的延迟检测信号，与排列在第一对角线方向的另一个内光接收部分的检测信号相加，并输出第一和信号；

第二加法器，用于将排列在第一对角线方向的一个外光接收部分的延迟检测信号，与排列在第一对角线方向的另一个外光接收部分的检测信号相加，并输出第二和信号；

第三加法器，用于将排列在第二对角线方向的一个内光接收部分的延迟检测信号，与排列在第二对角线方向的另一个内光接收部分的检测信号相加，并输出第三和信号；

第四加法器，用于将排列在第二对角线方向的一个外光接收部分的延迟检测信号，与排列在第二对角线方向的另一个外光接收部分的检测信号相加，并输出第四和信号；和

第五加法器，用于相加第一到第四和信号，并输出再现信号。

66．如权利要求65所述的装置，还包括第一和第二放大器，用于以预定的增益因数分别放大第一和第三和信号，或第二和第四和信号。

67．如权利要求66所述的装置，其中第一和第二放大器的增益因数的和是常数。

Images