TW200834980A - Optical semiconductor device and manufacturing method thereof - Google Patents
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200834980 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於一種具備發光元件之光半導體裝置及該光 半導體裝置之製造方法。 【先前技術】 光半導體裝置作為照明或顯示裝置等各種裝置之光源, 應用於廣泛之領域。作為該光半導體裝置,係提出一種將 藉由發光元件所放射之光,與藉由該光所激發之螢光體所 _ 放射之光合併,而得到白色光等者(例如參照專利文獻1)。 該光半導體裝置具備:發光二極體(LED)等發光元件, 及具有收容該發光元件之杯狀凹部之基體。在該凹部設置 有密封發光元件之透光性構件。並且,基體藉由鑄模樹脂 鑄模成型。又,透光性構件係藉由混合有粒子狀螢光體之 透光性樹脂材料所形成。 在該光半導體裝置中,從發光元件所放射之光之一部分 籲 通過透光性構件放出,另一部分藉由凹部之側面(侧壁)反 射後放出。此時,入射於凹部之側面之光藉由基體被反射 或吸收。並且,光之反射率依存於入射光之波長,一般而 V 言波長較短者較低。 . 此處,為了提高反射率,將Ti02等反射填充劑混入基體 之鑄模樹脂。此時之紫外線區域之反射率為1〇%以下。因 此,為了亦提咼紫外線區域之反射率,提出一種對基體之 樹脂實施部分鍍銀、亦即僅對凹部之側面實施鍍銀之光半 導體裝置。又,為了防止基體之光劣化,使用幾乎不產生 124756.doc 200834980 光劣化之陶瓷基板作為基體。此時,考慮發光元件之散 熱,使用氮化銘基板作為陶兗基板。 [專利文獻1]曰本特開2005-311136號公報 【發明内容】 [發明所欲解決之問題] 然而,對基體之樹脂實施部分鍍銀,需要掩模等複雜之 製造步驟’會使成本上升。再者,使用i化料陶究基
板’由於陶瓷基板價格高,使得成本上升。 又,今後,發光元件之光能量隨著發光元件之發光效率 之提高或驅動電流之增加等而增加時,會加速基體之光劣 化。由於伴隨該基體之光劣化,其光反料越發下降,可 取出之光的量減少,亮度下降。 本發明係料前述情況所完成者,其目的在於提供—種 既可抑制成本’又可防止因基體之光劣化所造成之亮度下 降之光半導體裝置及該光半導體裝置之製造方法。 [解決問題之技術手段] 置本Γ月之實施形態之第1特徵在於提供—種光半導體裝 置㈣Γ:基體,其係具有凹部者;發u件,其係設 苗二 放射光者;抑制構件,其係設置於基體,覆 :::侧面,抑制藉由發光元件所放射之光入射 ::者;及透光性構件’其係設置於凹部内,密封發光 施!態之第2特徵在於提供-種光半導 置之製造方法’其具有:形成抑制構件之步 籐衣 該抑制構 124756.doc 200834980 件係抑制光入射至具有凹部之基體之凹部側面;使所形成 之抑制構件以覆蓋凹部側面之方式定位,而形成基體之步 驟;在形成之基體之凹部内設置放射光之發光元件之步 驟,及將設置有發光元件之凹部内藉由透光性構件密封之 步驟。 [發明之效果] 依照本發明,既可抑制成本,又可防止因基體之光劣化 所造成之亮度下降。 【實施方式】 (第1實施形態) 參恥圖1至圖7對本發明之第1實施形態進行說明。 如圖1及圖2所示,本發明之第〗實施形態之光半導體裝 置1A具備:基體2,其係具有凹部2a者;發光元件3,其係 没置於凹部2a内,放射光者;抑制構件4,其係設置於基 體2,覆盍凹部2a之側面(侧壁),抑制藉由發光元件3所放 射之光入射至凹部2a之側面者;透光性構件5,其係設置 於凹部2a内,密封發光元件3者;及一對導線部6、7,其 係分別連接於發光元件3,從凹部以之底面延伸至外^ 者。 /基體2具有設置於大致中央之凹部2 a。該凹部2 &係例如 形成為杯狀、亦即倒圓錐台形狀,且在其内部收容發光元 件3之收容部。該凹部。之側面係從凹部以之底面朝外部 擴大地傾斜。該基體2例如係藉由白色之鑄模樹脂所形 成作為鑄楔樹脂,例如使用聚醯胺類樹脂等熱可塑性樹 124756.doc 200834980 發光元件3位於凹部2a底面之大致中央, ^ 搭载於導線部6 上。該發光元件3之底面電極(圖2中之 ^ ^ 、 T又下面),例如藉由銀 夕專之接合構件(未圖示)接合於導線部6而電性連接。又, 發光元件3之表面電極(圖2中之上面),例如藉由金線等連 接構件8而電性連接於導線部7。並且,例如使用發光二極 體(LED)等作為發光元件3。
抑制構件4包含:反射構件I S係覆蓋凹部2a之侧 面,反射藉由發光元件3所射出之光者;及絕緣構件扣, 其係固定於該反射構件牦上,具有絕緣性者。 反射構件4a如圖3所示,例如形成為漏斗形狀。該反射 構件4a具有:圓錐台形狀且形成為圓筒狀之圓筒部扪, 從該圓筒部B1延伸之緣部B2,及從該緣部B2向外部分別 水平延伸之—對延伸_。此處,藉由在反射構件4a形成 -對延伸部B3,在將抑制構件4設置於基體2上時,因為可 以使對延伸。卩B3埋人於基體2内地設置抑制構件4,故可 以提高抑制構件4與基體2之結合力。 該反射構件4a,例如係藉由銅等金屬材料所形成。再 者’反射構件4a’例如係藉由沖裁加工板金構件來形成。 在該反射構件4a之表面例如實施有鑛銀。並且,對於波長 350 nm之光之銀的反射率,遠高於白色之鑄模樹月旨,約為X 80% 〇 絶緣構件4b,其係在抑制構件4設置於基體2之狀態 下,,防止抑制構件4之反射構件牦與一對導線部6、7相 124756.doc 200834980 接觸地設置於反射構件4ajL(參照圖2)。藉此,因為可 止抑制構件4之反射構件4a與一對導線部6、7之接觸,故 ^以防止對發光元件3施加電壓時,在反射構件流通電 該絕緣構件4b,例如係藉由白色之鑄模樹脂所形成。例 如可使用熱可塑性樹脂等作為鑄模樹脂。並且,絕緣構件 仆與基體2既可藉由相同材料形成,亦可藉由不同材料形 成0
透光性構件5係設置於凹部2a内’密封發光元件3之構 件。該透光性構件5具有用於放出從發光元件3所放射之光 之放出面叫參照圖2)。該放出面5a係接觸外部環境之露出 面,發揮作為放出從發光元件3所放射之光的光取出面之 功能。 該透光性構件5,例如係藉由混合有粒子狀螢光體之螢 光體混合樹脂等透光性樹脂材料所形成。例如可使用石夕樹 脂等作為透光性樹脂材料。此處,螢光體係轉換從發光元 件3所放射之光之波長的物質’例如放出具有較發光元件3 之光之波長長之波長之光。例如作為該螢光體,在使用放 射藍色光之發光元件3時,使用放出黃色光之螢光體,或 者使用放出黃色光之榮光體及放出紅色光之螢光體兩者。 一對V線部6、7係用於從外部向發光元件3供給電力之 導線架。如圖4所示’導線部6具有:平面部&,其係載置 發光元件3者;及弯曲部讣,其係連接於該平面部以,彎 曲為山形者。又,導線部7具有:平面部7a,其係接合從 124756.doc 200834980 發光元件3延伸之連接構件8者;及彎曲部7b,其係連接於 該平面部7a,彎曲為山形者。 如此之一對導線部6、7從凹部2a之底面分別引出至外 部。該等導線部6、7例如係藉由銅等金屬材料所形成。再 者,在一對導線部6、7之表面例如實施有鍍銀。 此處,在使用模具鑄模成型基體2時,用於形成基體2之 鑄模樹脂流入載置各導線部6、7之模具平面與各導線部 6、7之彎曲部6b、7b之空間。藉此,因為各彎曲部讣、几 藉由基體2所包圍,故可以提高各導線部6、7與基體2之結 合力。 繼之,對該光半導體裝置1Ai發光動作進行說明。 對一對導線部6、7施加電壓,向發光元件3供給電力 日守,發光元件3放射光。該光之一部分通過透光性構件5後 直接從放出面5a放出,另一部分則藉由抑制構件4之反射 構件4a反射後從放出面5&放出。又,光之一部分入射至透 光性構件5所含有之螢光體。藉此,螢光體被激發,放射 光。該光之一部分亦通過透光性構件5後從放出面“放 出,另一部分亦藉由抑制構件4之反射構件4a反射後從放 出面5a放出。如此,藉由發光元件3所放射之光、與藉由 該光所激發之螢光體所放射之光相混合,從透光性構件5 之放出面5a放出。 在該發光動作中,藉由發光元件3及螢光體所放射之光 之一部分,藉由抑制構件4之反射構件4a向透光性構件5之 放出面5a反射。藉此,因為可以抑制光入射至基體2,故 124756.doc 200834980 可以防止基體2之光劣化。作為其結果,可以防止因基體2 之光劣化而使亮度下降。。 下面’對光半導體裝置1A之製造步驟進行說明。 在光半導體裝41A之製造步驟中,如圖5所示,形成抑 制構件4 ;如圖6所示,使所形成之抑制構件々以覆蓋凹部 2a之側面之方式定位,而形成基體2 ;如圖7所示,在形成 之基體2之凹部2&内設置發光元件3;如圖8所示,將設置 有發光元件3之凹部2a内藉由透光性構件5密封。 若詳述,如圖5所示,最初由板金構件用沖裁加工形成 反射構件4a。然後,在用於成形絕緣構件仆之模具上安裝 反射構件4a,例如使用射出成型法,一面藉由白色之鑄模 樹脂形成絕緣構件4b,一面使其固定於反射構件乜。藉 此,完成抑制構件4。 之如圖6所示,在用於在一對導線部7、8上之特定 位置定位抑制構件4地成形基體2之模具上安裝一對導線部 7、8及抑制構件4,例如使用射出成型法,藉由白色之鑄 模樹脂成形具有凹部2a之基體2。藉此,完成基體2。此 時,白色之鑄模樹脂流入載置各導線部6、7之模具平面, 與各導線部6、7之彎曲部6七、7b之空間。藉此,各彎曲部 6b、几藉由基體2所包圍。 後如圖7所示,在位於凹部2a底面之導線部6之平面 表面,例如塗佈銀膠等接合構件,在其上載置發光 凡件3,接合發光元件3與導線部6。繼之,例如藉由金線 等連接構件8,將發光元件3之上面電極與導線部7之平面 124756.doc -11 - 200834980 部7a電性連接。藉此’發光元件3被設置於基體2之凹部2a 内。 最後’在基體2之凹部2a内填充矽樹脂,密封發光元件 3。藉此’石夕樹脂製透光性構件5被設置於基體2之凹部2a 内’如圖2所示,完成光半導體裝置1A。 此處’例如使用表面鍍銀2 μπι厚度之厚度2〇〇 μηι之導線 部作為一對導線部6、7。又,例如使用大小為9〇〇χ9〇〇χ 200 μπι3之藍色發光二極體作為發光元件3。再者,例如使 用將藍色光轉換為黃色光之黃色螢光體作為螢光體。又, 抑制構件4之反射構件4a之彎曲角度為45度,該發光元件3 側之開口部之直徑為〇.3 mm。 如上所述,依照本發明之第丨實施形態,藉由將抑制構 件4设置於基體2,該抑制構件4係覆蓋凹部2a之侧面,抑 制從發光元件3所放射之光入射至凹部2&之側面者,可以 不用對基體2之凹部2a實施部分鍍銀、或者使用氮化鋁等 之陶£基板,而可抑制從發光元件3所放射之光入射至基 體2,可以防止基體2之光劣化。藉此,既可抑制成本,又 可防止因基體2之光劣化而亮度下降。作為其結果,可以 低成本且長時間維持高亮度。 再者’由於抑制構件4反射由發光元件3所放射之光,提 南從透光性構件5之放出面5 a之光取出效率,故可以提高 發光元件3之亮度。 又’由於抑制構件4之一部分埋入於基體2中,抑制構件 4與基體2之結合力提高,且可防止抑制構件4從基體2脫 124756.doc -12- 200834980 ’故可以提高光半導體裝置!八之元件可靠性。 (第2實施形態) 參照圖8對本發明之第2實施形態進行說明。在本發明之 第2實施形態中’對與第1實施形態不同之部分進行:明。 並且,在第2實施形,態中,對與在第!實施形態中所說明之 部分相同部分賦予相同符號,省略其說明。 如圖8所示,在本發明之第2實施形態之光半導體裝置ΐβ 中,抑制構件4係藉由反射構件乜所構成。再者,在一對 導線部6、7上設置有具有絕緣性之絕緣層9。又,在緣部 B2設置有階差部B4。 絕緣層9設置於與反射構件4a相對之位置。亦即,絕緣 層9與反射構件4a之發光元件3側之前端部相對,圓環狀地 設置於一對導線部6、7上。藉此,因為在反射構件化設置 於基體2之狀態下,可以防止反射構件4a與一對導線部6、 7之接觸,故可以防止對發光元件3施加電壓時,在反射構 件4 a中流通電流。 階差部B4係藉由使緣部B2向凹部2a之底面方向彎曲而 开> 成為圓環狀者。藉此,將反射構件4a設置於基體2時, 因為可以使階差部B4埋入於基體2地設置反射構件私,故 可以提高反射構件與基體2之結合力。 如上所述,依照本發明之第2實施形態,可以得到與第j 實施形態相同之效果。再者,藉由僅以反射構件4a構成抑 制構件4·,可以簡化抑制構件4之製造。又,由於階差部B4 埋入於基體2中’可以進一步提高抑制構件4與基體2之結 124756.doc •13- 200834980 合力。 (其他實施形態) 並且,本發明並非限定於前述之實施形態,在不脫離其 宗旨之範圍内可以進行各種變更。 例如,在前述之實施形態中雖舉出各種數值,但此等之 數值係例示而非限定。 【圖式簡單說明】
圖1係顯示本發明之第1實施形態之光半導體裝置之概略 構成立體圖。 圖2係圖1之s 1 — s 1線剖面圖。 圖3係顯示圖丨及圖2所示之光半導體裝置所具備之抑制 構件之概略構成立體圖。 圖4係顯示圖丨及圖2所示之光半導體裝置所具備之一對 導線部之概略構成立體圖。 圖5係說明圖丨及圖2所示之光半導體裝置之製造方法之 第1步驟剖面圖。 圖6係第2步驟剖面圖。 圖7係第3步驟剖面圖。 圖8係顯示本發明之第2實施形態之光半導體裝置之概略 構成剖面圖。 【主要元件符號說明】 ΙΑ ' 1B 光半導體裝置 2 基體 2a 凹部 124756.doc •14- 200834980 3 發光元件 4 抑制構件 5 透光性構件 124756.doc •15-
Claims (1)
- 200834980 十、申請專利範圍: 1· 一種光半導體裝置,其特徵在於具備: 基體’其係具有凹部者; 發光元件,其係設置於前述凹部内,放射光者; 抑制構件,其係設置於前述基體,覆蓋前述凹部之侧 面,抑制藉由前述發光元件所放射之前述光 凹部之側面者,·及 主則过 透光性構件,其係設心 元件者。 在封則述發光 2. 如請求項!之料導㈣置,其中前 由前述發光元件所放射之前述光。 #件反*** 之 3, 項1或2之光半導體裝置,其中前述抑制構件 邛分埋入於前述基體。 4. 一種=導體裝置之製造方法,其特徵在於具有: ^構件之” ’該抑制構件抑制光人射至呈有 凹丨丞體之則述凹部之側面; 使所形成之前述抑制 式定位,形成前述基雜之^覆蓋前述凹部之側面之方 二成:前及述基雜之前述凹部内™之發光 密=前述發光元件之前述凹部内藉由透光性構件 124756.doc
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI425655B (zh) * | 2008-09-09 | 2014-02-01 | Showa Denko Kk | A light emitting device, a light emitting module, and a display device |
Families Citing this family (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102008038748B4 (de) * | 2008-08-12 | 2022-08-04 | OSRAM Opto Semiconductors Gesellschaft mit beschränkter Haftung | Oberflächenmontierbares, optoelektronisches Halbleiterbauteil |
WO2011062148A1 (ja) * | 2009-11-19 | 2011-05-26 | 株式会社 明王化成 | 半導体用パッケージ及び放熱形リードフレーム |
DE102009055786A1 (de) * | 2009-11-25 | 2011-05-26 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Gehäuse, optoelektronisches Bauteil und Verfahren zur Herstellung eines Gehäuses |
DE102009058421A1 (de) * | 2009-12-16 | 2011-06-22 | OSRAM Opto Semiconductors GmbH, 93055 | Verfahren zur Herstellung eines Gehäuses für ein optoelektronisches Halbleiterbauteil, Gehäuse und optoelektronisches Halbleiterbauteil |
JP5528900B2 (ja) * | 2010-04-30 | 2014-06-25 | ローム株式会社 | 発光素子モジュール |
KR20120108437A (ko) | 2011-03-24 | 2012-10-05 | 삼성전자주식회사 | 발광소자 패키지 |
JP2014011029A (ja) * | 2012-06-29 | 2014-01-20 | Toshiba Lighting & Technology Corp | 照明装置 |
CN102403418A (zh) * | 2011-11-09 | 2012-04-04 | 东莞勤上光电股份有限公司 | 一种大功率led的散热结构的制作方法 |
USRE47444E1 (en) | 2011-11-17 | 2019-06-18 | Lumens Co., Ltd. | Light emitting device package and backlight unit comprising the same |
US8575645B2 (en) * | 2011-11-22 | 2013-11-05 | GEM Weltronics TWN Corporation | Thin multi-layer LED array engine |
CN103208488A (zh) * | 2012-01-12 | 2013-07-17 | 盈胜科技股份有限公司 | 薄型多层式阵列型发光二极管光引擎 |
JP6102187B2 (ja) | 2012-10-31 | 2017-03-29 | 日亜化学工業株式会社 | 発光装置用パッケージ及びそれを用いた発光装置 |
JP6107136B2 (ja) | 2012-12-29 | 2017-04-05 | 日亜化学工業株式会社 | 発光装置用パッケージ及びそれを備える発光装置、並びにその発光装置を備える照明装置 |
JP6484396B2 (ja) | 2013-06-28 | 2019-03-13 | 日亜化学工業株式会社 | 発光装置用パッケージ及びそれを用いた発光装置 |
JP6671117B2 (ja) | 2014-07-08 | 2020-03-25 | エルジー イノテック カンパニー リミテッド | 発光素子パッケージ |
KR102252156B1 (ko) * | 2014-07-08 | 2021-05-17 | 엘지이노텍 주식회사 | 발광 소자 패키지 |
JP6573356B2 (ja) * | 2015-01-22 | 2019-09-11 | 大口マテリアル株式会社 | リードフレーム |
KR102019252B1 (ko) * | 2016-09-15 | 2019-11-14 | 일룩스 아이엔씨. | 광 관리 시스템을 구비하는 발광 디스플레이 |
JP7140956B2 (ja) * | 2017-10-25 | 2022-09-22 | 日亜化学工業株式会社 | 発光装置、パッケージ及びそれらの製造方法 |
JPWO2020045604A1 (ja) * | 2018-08-31 | 2021-08-12 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 半導体素子搭載用パッケージ及び半導体装置 |
Family Cites Families (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3720427B2 (ja) * | 1995-09-29 | 2005-11-30 | ローム株式会社 | Led表示器 |
US6274890B1 (en) * | 1997-01-15 | 2001-08-14 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor light emitting device and its manufacturing method |
JP4125848B2 (ja) * | 1999-12-17 | 2008-07-30 | ローム株式会社 | ケース付チップ型発光装置 |
US6578989B2 (en) * | 2000-09-29 | 2003-06-17 | Omron Corporation | Optical device for an optical element and apparatus employing the device |
US6874910B2 (en) * | 2001-04-12 | 2005-04-05 | Matsushita Electric Works, Ltd. | Light source device using LED, and method of producing same |
JP2003152228A (ja) * | 2001-11-12 | 2003-05-23 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | Led用ケース及びled発光体 |
KR100439402B1 (ko) * | 2001-12-24 | 2004-07-09 | 삼성전기주식회사 | 발광다이오드 패키지 |
JP3910517B2 (ja) * | 2002-10-07 | 2007-04-25 | シャープ株式会社 | Ledデバイス |
JP2004134699A (ja) * | 2002-10-15 | 2004-04-30 | Toyoda Gosei Co Ltd | 発光装置 |
JP4081394B2 (ja) * | 2003-03-18 | 2008-04-23 | 京セラ株式会社 | 発光素子収納用パッケージおよび発光装置 |
JP4383088B2 (ja) * | 2003-04-30 | 2009-12-16 | 株式会社住友金属エレクトロデバイス | 発光素子収納用パッケージ |
JP4341951B2 (ja) * | 2003-05-07 | 2009-10-14 | シチズン電子株式会社 | 発光ダイオード及びそのパッケージ構造 |
JP2005019919A (ja) * | 2003-06-30 | 2005-01-20 | Toyoda Gosei Co Ltd | 発光装置 |
JP2005079167A (ja) * | 2003-08-28 | 2005-03-24 | Kyocera Corp | 発光素子収納用パッケージおよび発光装置 |
JP2005251824A (ja) * | 2004-03-02 | 2005-09-15 | Agilent Technol Inc | 発光ダイオード |
US7053414B2 (en) * | 2004-04-12 | 2006-05-30 | Lite-On Technology Corporation | Optical semiconductor component to prevent electric leakage and provide different driving voltages |
JP2005311136A (ja) | 2004-04-22 | 2005-11-04 | Matsushita Electric Works Ltd | 発光装置 |
US7476913B2 (en) * | 2004-08-10 | 2009-01-13 | Renesas Technology Corp. | Light emitting device having a mirror portion |
KR100587020B1 (ko) | 2004-09-01 | 2006-06-08 | 삼성전기주식회사 | 고출력 발광 다이오드용 패키지 |
JP2006222271A (ja) * | 2005-02-10 | 2006-08-24 | Ngk Spark Plug Co Ltd | 発光素子実装用基板 |
EP2822367B1 (en) * | 2005-04-25 | 2016-05-25 | NGK Spark Plug Co., Ltd. | Wiring board |
KR100665216B1 (ko) * | 2005-07-04 | 2007-01-09 | 삼성전기주식회사 | 개선된 측벽 반사 구조를 갖는 측면형 발광다이오드 |
KR100643471B1 (ko) | 2005-11-24 | 2006-11-10 | 엘지전자 주식회사 | 발광소자 패키지 및 그 제조방법 |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI425655B (zh) * | 2008-09-09 | 2014-02-01 | Showa Denko Kk | A light emitting device, a light emitting module, and a display device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
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