KR960703232A - 회로기판에 접속된 ic용 테스트 시스템 및 방법(process and device for testing an integrated circuit soldered on a board) - Google Patents

회로기판에 접속된 ic용 테스트 시스템 및 방법(process and device for testing an integrated circuit soldered on a board) Download PDF

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KR960703232A
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부크스 만프래트
호사이니 카림
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만프레드 부크스
이테아 인제니외르뷔로 퓌어 테스트아우프가벤 게엠베하
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    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/66—Testing of connections, e.g. of plugs or non-disconnectable joints
    • G01R31/67—Testing the correctness of wire connections in electric apparatus or circuits

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Abstract

회로기판의 회로트랙에 접속된 IC핀의 적절한 접속을 위해 테스트하는 시스템 및 방법이 COMS-IC에서 추가적으로 다이오드-접속된 병렬 트래지스터에 관하여 검출된 콜렉터 전류의 보정에 따라 기생 트랜지스터상에서 측정함으로 이루어진다.

Description

회로기판에 접속된 IC용 테스트 시스템 및 방법(PROCESS AND DEVICE FOR TESTING AN INTEGRATED CIRCUIT SOLDERED ON A BOARD)
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 CMOS IC의 다이오드 등가회로이다,
제2도는 접속된 테스터를 가진 트랜지스터의 표면으로 제1도의 등가회로이다,
제3도는 2배 핀수를 가진 IC의 제1도에 따른 등가 회로도이다.

Claims (13)

  1. 그라운드 단자(E)와 IC 신호 핀(O)중 하나에 접속가능하고, 트래지스터를 턴온하는데 적절한 기본 전압을 전달하는 베이스 단자(B)와 IC의 그라운드 핀(GND)에 접속가능하고, 콜렉터 단자(C)와 IC의 다른 신호 핀(I)에 접속가능하며, 적절한 콜렉전류를 발생하고 해당 콜렉터 전류를 측정하는데 적합한 콜렉터 전압을 공급할 수 있는 회로기판의 회로트랙에 접촉가능한 테스터(T)를 구비하는 회로기판의 회로트랙에 접속된 IC핀의 적절한 접속을 확인하는 테스트 시스템에 있어서, 상기 테스터(T)는 IC전원 전압 핀(Vcc)중 하나에 접속가능한 추가단자와 두 동작모드 사이에서 절환가능한 추가단자(Z)와, 양측모드에서 베이스단자(B)에 의해 인가되는 동일 전압과, 제1모드에서 콜렉터 전압을 인가하고 최종 콜렉터 전류를 측정하는 콜렉터 단자(C)와, 전류가 이동하지 않고 IC전원 전압핀(Vcc)에서 초래하는 추가 전압을 측정하는데 이용되는 상기 추가단자(Z)와 함께, 제2동작모드에서 개방회로가 되는 콜렉터 단자(C)와 제1동작모드에서 측정되는 추가 전압을 전원 전압핀(Vcc)에 인가하고, 이로부터 초래하는 추가전류를 측정하는 상기 추가단자를 구비하는 것을 특징으로 하는 IC핀의 적절한 접속을 확인하는 테스트 시스템.
  2. 그라운드 단자(E)와 IC 신호 핀(O)중 하나에 접속가능하고, 트래지스터를 턴온하는데 적절한 기본 전압을 전달하는 베이스 단자(B)와 IC의 그라운드 핀(GND)에 접속가능하고, 콜렉터 단자(C)와 IC의 다른 신호 핀(I)에 접속가능하며, 적절한 콜렉전류를 발생하고 해당 콜렉터 전류를 측정하는데 적합한 콜렉터 전압을 공급할 수 있는 회로기판의 회로트랙에 접촉가능한 테스터(T)를 구비하는 회로기판의 회로트랙에 접속된 IC핀의 적절한 접속을 확인하는 테스트 시스템에 있어서, 상기 테스터(T)는 IC전원 전압 핀(Vcc)중 하나에 접속가능하고 두 동작 모드 사이에서 절환가능한 추가단자(Z)와, 동일전압을 인가하고 양쪽 모드에서 최종 콜렉터 전류를 측정하는 콜렉터 단자(C)와, 제1모드에서 베이스 전압을 인기하는 베이스 단자(B)와, 접속되는 테스터 그라운드 단자(E)와, 전류가 이동하지 않고 전원전압핀(Vcc)에서 추가전압을 측정하는 상기 추가단자(Z) 및, 제2모드에서 베이스 접속과 테스터 그라운드 접속이 모두 개방회로이며 제1동작모드에서 측정된 추가전압을 인가하는 상기 추가단자를 구비하는 것을 특징으로 하는 IC핀의 적절한 접속을 확인하는 테스트 시스템.
  3. 그라운드 단자(E)와 IC 신호 핀(O)중 하나에 접속가능하고, 트래지스터를 턴온하는데 적절한 기본 전압을 전달하는 베이스 단자(B)와 IC의 그라운드 핀(GND)에 접속가능하고, 콜렉터 단자(C)와 IC의 다른 신호 핀(I)에 접속가능하며, 적절한 콜렉전류를 발생하고 해당 콜렉터 전류를 측정하는데 적합한 콜렉터 전압을 공급할 수 있는 회로기판의 회로트랙에 접촉가능한 테스터(T)를 구비하는 회로기판의 회로트랙에 접속된 IC핀의 적절한 접속을 확인하는 테스트 시스템에 있어서, 상기 테스터(T)는 이의 다른 단자로부터 분리되고 전원 전압핀 (Vcc)에 접속가능한 추가단자(Z)를 구비하며, 또한 상기 테스터(T)는 상기 베이스단자(8)와 상기 콜렉터 단자(C)가 콜렉터 전압을 인가하고 해당 콜렉터 전류를 측정하도록 설계되고, 상기 추가단자(Z)는 콜렉터 전압과 동일크기인 추가전압을 인가하는 것을 특징으로 하는 IC핀의 적절한 접속을 확인하는 테스트 시스템.
  4. 제1항에 있어서, 상기 테스터(T)는 양쪽 동작모드에서 연속적으로 측정을 수행하고 상기 콜렉터 전류와 상기 추가전류간의 차이로부터 초래하는 보정된 콜렉터 전류를 계산하도록 구성되는 것을 특징으로 하는 IC핀의 적절한 접속을 확인하는 테스트 시스템.
  5. 제2항에 있어서, 상기 테스터(T)는 양쪽 동작모드에서 연속적으로 측정을 수행하고 양쪽 측정된 콜렉터 전류사이의 최종 차이로부터 보정된 콜렉터 전류를 계산하도록 설계되는 것을 특징으로 하는 IC핀의 적절한 접속을 확인하는 테스트 시스템.
  6. 선행항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 테스터(T)는 산술평균에 의해 측정된 모든 트랜지스터(I1-O1, I1-O2, I3-I1, I2-I1)로부터 보정된 콜렉터 전류를 분할하므로써 정규화된 콜렉터 전류를 리턴하는 것을 특징으로 하는 IC핀의 적절한 접속을 확인하는 테스트 시스템.
  7. 제6항에 있어서, 상기 테스터(T)는 동일 결합의 핀 형태(I-O, O-I, I-I, O-O)의 콜렉터 및 이미터를 갖는 테스트 트랜지스터의 해당그룹의 콜렉터 전류의 평균을 이용하여 정규화를 수행하는 것을 특징으로 하는 IC핀의 적절한 접속을 확인하는 테스트 시스템.
  8. IC신호 핀(O)중 하나에 그라운드를 인가하고, 트랜지스터(D2, D1)를 턴온하는데 적합한 IC의 그라운드 핀(GND)에 베이스 전압(β)을 인가할뿐만 아니라 IC의 다른 신호 핀(I)에 콜렉터 전압을 인가하고 콜렉터 전류를 측정함으로써 회로기판의 회로트랙에 IC의 핀이 적절히 접속되는지를 확인하는 테스트 방법에 있어서, IC의 전원 전압 핀(Vcc)에서 나타나는 추가 전압이 동시에 측정되고, 콜렉터 전압을 소거하고 동일핀(O, GND)에 같은 그라운드 접속 및 베이스 전압을 인가한후에 이미 측정된 추가전압이 공급전압핀(O, GND)에 인가되고, 이곳에 흐르는 추가전류가 측정되며, 보안된 콜렉터 전류는 콜렉터 전류 및 추가전류사이의 차이로부터 결정되는 것을 특징으로 하는 IC핀의 적절한 접속을 확인하는 방법.
  9. IC신호 핀(O)중 하나에 그라운드를 인가하고, 트랜지스터(D2, D1)를 턴온하는데 적합한 IC의 그라운드 핀(GND)에 베이스 전압(β)을 인가할뿐만 아니라 IC의 다른 신호 핀(I)에 콜렉터 전압을 인가하고 콜렉터 전류를 측정함으로써 회로기판의 회로트랙에 IC의 핀이 적절히 접속되는지를 확인하는 테스트 방법에 있어서, IC의 전원 전압 핀(Vcc)에서 나타나는 추가 전압이 동시에 측정되고, 그라운드 및 베이스 전압의 소거후에 이미 측정된 추가전압이 상기 전원 전압(Vcc)에 인가되고, 이미 이용된 콜렉터 전압은 전과같은 핀(I)에 인가되고, 최종 콜렉터 전류가 측정되며, 측정된 두 콜렉터 전류사이의 차이로부터 보정된 콜렉터 전류가 결정되는 것을 특징으로 하는 IC핀의 적절한 접속을 확인하는 방법.
  10. IC신호 핀(O)중 하나에 그라운드를 인가하고, 트랜지스터(D2, D1)를 턴온하는데 적합한 IC의 그라운드 핀(GND)에 베이스 전압(β)을 인가할뿐만 아니라 IC의 다른 신호 핀(I)에 콜렉터 전압을 인가하고 콜렉터 전류를 측정함으로써 회로기판의 회로트랙에 IC의 핀이 적절히 접속되는지를 확인하는 테스트 방법에 있어서, 상기 콜렉터 전압에 해당하는 추가전압은 분리 전압원(Z)을 이용하는 전원 전압핀(Vcc)에 동시에 인가되는 것을 특징으로 하는 IC핀의 적절한 접속을 확인하는 방법.
  11. 제8항 내지 제10항중 어느 한 항에 있어서, IC에서 측정된 모드 테스트 트랜지스터((I1-O1, I1-O2, I3-I1, I2-I1)의 보정된 콜렉터 전류의 산술평균에 의해 나누어지고, 이들 정규화된 콜렉터 전류는 리턴되는 것을 특징으로 하는 IC핀의 적절한 접속을 확인하는 방법.
  12. 제11항에 있어서, 상기콜렉터 전류의 정규화는 테스트 트랜지스터의 콜렉터 전류 각 그룹을 평균하여 이루어지고, 각 그룹은 동일 결합의 핀 형태(I-O, O-I, I-I, O-O)를 갖는 테스트 트랜지스터로 형성되는 것을 특징으로 하는 IC핀의 적절한 접속을 확인하는 방법.
  13. 제11항 또는 제12항에 있어서, 테스트중에 IC에서 측정된 트랜지스터의 정규화된 콜렉터 전류는 이미 측정된 폴트-프리(fault-free) 기판상의 동일 트랜지스터로부터 같은 방법으로 정규화된 콜렉터 전류와 비교되는 것을 특징으로 하는 IC핀의 적절한 접속을 확인하는 방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019950705708A 1993-06-15 1994-06-11 회로기판에 접속된 ic용 테스트 시스템 및 방법(process and device for testing an integrated circuit soldered on a board) KR960703232A (ko)

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