KR960009123Y1 - 액정표시소자의 투명전극 단락검출장치 - Google Patents
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Abstract
내용 없음.
Description
제1도는 본고안의 액정표시소자의 투명전극 단락검출장치의 블록도
제2도는 제1도 제어부스와 스위칭부의 상세회로도
제3도는 제1도 지그의 구성예시도
제4도는 제3도 지그의 측면도
제5도는 액정표시소자의 평면도
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
1 : 중앙처리장치 2 : 롬(ROM)
3 : 모니터 4 : 제어부
5 : 스위칭부 6 : 전원부
7 : 지그 8 : 액장표시소자
9, 10 : 전극단자 41 : 멀티플렉서
42 : 데이터 버퍼 511∼51n : 구동전압 스위칭부
521∼52n : 구동검출 스위칭부 IN1, IN2 : 인버터
T1∼T6: 전제효과 트랜지스터 VR3, VR6: 가변저항
R1, R2, R4, R5: 저항
본 고안은 액정표시소자에 관한 것으로, 특히 투명전극 단락검출에 적당하도록 한 액정표시소자의 투명전극 단락검출장치에 관한 것이다.
일반적으로 널리 사용되고 있는 액정표시소자는 화소를 구동시켜 주기 위해 한 쌍의 투명기판 사이의 공간에 액정이 채워지고 투명기판에 투명전극을 형성시킨다. 이 투명전극 형성과정에서 전극과 전극사이에 도전성 불순물이 남게되면, 전극과 전극사이가 도통상태로 되어 불량하게 된다.
그러므로, 이러한 불량을 검출하기 위하여 전극단자에 수작업으로 핀을 연결한 후 핀에 전압을 가하여 표시되는 상태를 확인함으로서 투명전극의 단락을 검출하였다.
이와 같이 종래에는 수작업을 행하고 눈으로 확인하여 투명전극의 단락을 검사하기 때문에 그 검사가 부정확하고, 많은 시간이 소요될뿐 아니라 검사자에게 불편함을 주는 결점이 있었다.
본 고안은 상기와 같은 종래의 결점을 감안하여, 투명전극의 단락을 정확히 검사할 수 있음과 아울러 그 검사시간을 감소시킬 수 있는 액정표시소자의 투명전극 단락검출장치를 안출한 것으로, 이를 첨부한 도면에 의하여 상세히 설명하면 다음과 같다.
제1도는 본 고안의 액정표시소자의 투명전극 단락검출장치를 보인 블록도로서, 이에 도시한 바와 같이 전체동작을 제어하는 중앙처리장치(1)와, 제어프로그램을 내장한 롬(2)과, 상기 중앙처리장치(1)의 제어를 받아 기능 및 메시지를 표시하는 모니터(3)와, 상기 중앙처리장치(1)의 제어를 받아 액정표시소자(8)를 구동시키기 위한 스위칭 제어신호를 출력함과 아울러 상기 액정표시소자(8)의 구동검출 신호를 입력받아 상기 중앙처리장치(1)에 인가하는 제어부(4)와, 상기 제어부(4)의 스위칭 제어신호에 따라 지그(7)를 통해 액정표시소자(8)에 구동저압을 공급하고, 그 액정표시소자(8)의 구동상태를 지그(7)를 통해 입력받아 상기 제어부(4)에 구동검출 신호로 인가하는 스위칭부(5)로 구성한 것으로, 도면의 설명 중 미설명 부호 6은 상기 스위칭부(5)에 구동전압을 공급하는 전원부이다.
제2도는 제1도 제어부(4) 및 스위칭부(5)의 상세회로도로서, 이에 도시한 바와 같이 중앙처리장치(1)의 어드레스신호에 따라 선택되어, 그 중앙처리장치(1)의 데이터신호를 조합하여 스위칭 제어신호(C1∼Cn)로 출력하는 멀티플레서(41)와, 상기 멀티플레서(41)의 스위칭 제어신호(C1∼Cn)에 따라 지그(7)의 핀(P1∼Pn)에 구동전압(VS)을 공급하는 구동전압 스위칭부(511∼51n)와, 상기 멀티플레서(41)의 스위칭 제어신호(C1∼Cn)에 따라 상기 지그(70)의 핀(P1∼Pn) 상태신호를 검출하여 구동검출데이타(D1∼Dn)로 출력하는 구동 검출 스위칭부(521∼52n)와, 상기 중앙처리장치(1)의 어드레스신호에 따라 상기 구동검출데이타(D1∼Dn)를 선택하여 그 중앙처리장치(1)에 인가하는 데이터 버퍼(42)로 구성한 것으로, 상기에서 멀티플렉서(41) 및 데이터버퍼(42)가 제어부(4)에 해당하고, 구동전압 스위칭부(511∼51n) 및 구동검축 스위칭부(521∼52n)가 스위칭부(5)에 해당한다.
제3도는 제1도 지그(7)의 구성예시도이고, 제4도는 제3도 지그(7)의 측면도로서, 그 지그(7)의 양측변부에 핀(P1∼Pn)이 설치되어, 그 핀(P1∼Pn)에 액정표시소자(8)를 걀합할수 있게 되어 있다.
제5도는 액정표시소자(8)의 평면도로서, 양측 전극단자(9, 10)를 보인 것이다.
이와 같이 구성된 본 고안의 적용효과를 상세히 설명하면 다음과 같다.
중앙처리장치(1)의 어드레스신호에 의해 제어부(4)의 멀티플렉서(41)가 선택되고, 그 중앙처리장치(1)의 데이터신호가 그 멀티플렉서(41)에서 조합되어 스위칭 제어신호(C1∼Cn)로 출력된다. 이 때 스위칭 제어신호(C1)가 고전위이면, 그 고전위신호에 의해 구동전압 스위칭부(511)의 전계효과 트랜지스터(T1)가 턴온되므로 구동전압(VS)이 그 전계효과 트랜지스터(T1)를 통해 지그(7)의 핀(P1)에 공급되고, 또한 그 고전위신호는 인버터(IN1)에서 저전위신호로 반전되므로 구동검출 스위칭부(521)의 전계효과 트랜지스터(T2), (T3)가 턴오프되고, 이에 따라 지그(7)의 핀(P1) 상태신호가 그 구동검출 스위칭부(521)에 입력되지 않게 된다.
한편, 상기 스위칭 제어신호(C2∼Cn)가 저전위이면, 일예로 스위칭 제어신호(Cn)가 저전위이면, 그 저전위 신호에 의해 구동전압 스위칭부(51n)의 전계효과 트랜지스터(T4)가 턴오프되므로 구동전압(VS)이 지그(7)의 핀(Pn)에 공급되지 않게되며, 또한 그 저전위신호는 인버터(IN2)에서 고전위신호로 반전되므로 구동검출 스위칭부(52n)의 전계효과 트랜지스터(T5), (T6)가 턴온된다.
따라서, 이 때 그 핀(Pn)의 상태신호가 그 구동검출 스위칭부(52n)를 통해 데이터 버퍼(42)에 구동검출데이타(Dn)로 입력되고, 이 때 중앙처리장치(1)의 어드레스신호에 따라 데이터 버퍼(42)에서 구동검출데이타(D1∼Dn)가 선택되어 그 중앙처리장치(1)에 인가된다.
한편, 상기와 같이 지그(7)의 핀(P1)에 공급된 그동전압(VS)은 제5도의 예와 같이 액정표시소자(8)의 전극단자(9)에 인가되는데, 이 대 상기 전극단자(9)와 전국단자(10)사이의 투명전극이 단락되어 있다면, 상기와 같이 적극단자(9)에 인가된 구동전압(VS)은 그 전극단자(10)를 통해 지그(7)의 핀(Pn)에 인가되고, 이에 따라 그 핀(Pn)에 인가된 구동전압(VS)은 상기와 같이 도통된 전계효과 트랜지스터(T5) 및 저항(R4)을 통해 연산증폭기(OPn)에서 증폭된 후 전계효과 트랜지스터(T6)를 다시 통해 구동검출데이타(Dn)로 데이터버퍼(42)에 인가된다.
따라서, 이 때 중앙처리장치(1)의 어드레스신호에 따라 구동검출데이타(D1∼Dn) 중 하나가 데이터 버퍼(42)에서 선택되어 중앙처리장치(1)에 입력되고, 이와같이 중앙처리장치(1)에 입력되는 데이터를 그 중앙처리장치(1)에서 판단하여, 그 결과를 모니터(3)에 표시하게 된다.
이상에서 상세히 설명한 바와 같이 본 고안은 중앙처리장치의 제어에 의해 애정표시소자의 투명전극 탄락 여부를 자동으로 검사하게 되므로 검사시간이 대폭 감소됨과 아울러 그 검사가 정확히 이루어지는 효과가 있다.
Claims (3)
- (정정)전체 동작을 제어하는 중앙처리장치(1)와, 상기 중앙처리장치(1)의 제어를 받아 액정표시소자(8)를 구동시키기 위한 스위칭제어신호를 출력함과 아울러 상기 액정표시소자(8)의 구동검출신호를 입력받아 상기 중앙처리장치(1)에 인가하는 제어부(4)와, 상기 제어부(4)의 스위칭 제어신호에 따라 지그(7)를 통해 상기 액정표시소자(8)에 구동전압을 공급함과 아울러 상기 액정표시소자(8)의 구동상태신호를 상기 지그(7)를 통해 입력받아 상기 제어부(4)에 구동검출데이타로 인가하는 스위칭부(5)로 구성하여 된 것을 특징으로 하는 액정표시소자의 투명전극 단락검출장치.
- (신설)제1항에 있어서, 제어부(4) 및 스위칭부(5)는 중앙처리장치(1)의 어드레스신호에 따라 선택되고, 그 중앙처리장치(1)의 데이터신호를 조합하여 스위칭 제어신호(C1∼Cn)를 출력하는 멀티플레서(41)와, 상기 멀티플렉서(41)의 스위칭 제어신호(C1∼Cn)에 따라 지그(7)의 핀(P1∼Pn)에 구동전압(VS)을 공급하는 구동전압 스위칭부(511∼51n)와, 상기 멀티플렉서(41)의 스위칭 제어신호(C1∼Cn)에 따라 상기 지그(7)의 핀(P1∼Pn) 상태신호를 검출하여 구동검출데이타(D1∼Dn)로 출력하는 구동검출 스위칭부(521∼52n)와, 상기 중앙처리장치(1)의 어드레스신호에 따라 상기 구동검출데이타(D1∼Dn)를 선택하여 그 중앙처리장치(1)에 인가하는 데이터 버퍼(42)로 구성하여 된 것을 특징으로 하는 액정표시소자의 투명전극 단락검츨장치.
- (신설)제2항에 있어서, 구동검출 스위칭부(521)는 스위칭 제어신호(C1)를 반전하는 인버터(IN1)와, 이인버터(IN)의 출력신호 제어를 받아 지그(7)의 핀(P1) 상태신호를 통과시키는 전계효과 트랜지스터(T2)와, 이 전계효과 트랜지스터(T2)의 출력신호를 완충 증폭하는 연산증폭기(OP1)와 상기 인버터(IN1)의 출력신호 제어를 받아 상기 연산증폭기(OP1)의 출력신호를 통과시켜 구동검출데이타(D1)로 출력하는 전계효과 트랜지스터(T3)로 구성하여 된 것을 특징으로 하는 액정표시소자의 투명전극 단락검출장치.
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JPH087349B2 (ja) * | 1989-08-05 | 1996-01-29 | 松下電器産業株式会社 | 液晶表示パネルの検査装置およびその検査方法 |
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