KR102143807B1 - 최소 영역 모노리식 cmos 이미지 센서를 가진 카메라 시스템 - Google Patents
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Abstract
발명은 내시경의 루멘 내와 같은 영역이 제한된 이미지 센서들로 디지털 방식으로 이미징하기 위한 방법, 시스템, 및 컴퓨터 프로그램 제품에 확장한다.
Description
관련 출원에 대한 상호참조
이 출원은 다음 언급되는 출원의 임의의 부분이 이 출원과 일관되지 않는 경우에 이 출원은 다음 언급되는 출원을 대신하는 이러한 예외를 갖고 참조로 포함되는 것으로, 특정하게 이하 나타나는 부분 -이것으로 제한되는 것은 아니다- 을 포함하여, 전체를 참조로 본원에 포함시키는 2012년 7월 26일에 출원된 미국 가 특허 출원번호 61/676,289, 및 2013년 3월 15일에 출원된 미국 가 특허 출원번호 61/790,590의 우선권을 주장한다.
기술에서 진보는 의료 용도를 위한 이미징 능력에서 진보를 제공하였다. 가장 이익이 되는 진보 중 일부를 향유하였던 한 영역은 내시경을 구성하는 성분들에서의 진보 때문에 내시경 수술 절차의 영역이다. 예를 들면, 아스로스코피 및 라파로스코피에서 사용되는 통상의 내시경은 이미지 센서가 핸드-피스 유닛 내에 장치의 근단 단부에 배치되게 설계된다. 이러한 구성에서, 내시경 유닛은 이의 길이를 따라 입사광을 최소 손실 및 왜곡을 갖고 복잡한 한 세트의 정밀하게 결합된 광학 성분들을 통해 센서 쪽으로 전송해야 한다. 내시경 유닛의 비용은 성분들이 고가이고 제조 프로세스가 노동 집약적이기 때문에, 광학(optics)에 의해 좌우될 수 있다. 또한, 이 유형의 스코프는 기계적으로 정교하며 비교적 사소한 충격은 쉽게 성분들에 손상을 주고, 상대적 정렬을 틀어지게 할 수 있다. 이것은 이미지 질을 유지하기 위해서 빈번한, 고가의 정비 사이클을 필요로 한다.
필요로 할 수 있는 것은 감소된 광 환경에서 고 품질 비디오 스트림을 유지할 수있는 내시경 의료 용도를 위한 감소된 영역 이미지 센서를 제공하기 위한 방법 및 시스템이다. 센서의 영역을 감소시키는 것은 센서를 내기경의 원단 단부에 위치될 수 있게 하며 따라서 비용을 크게 감소시킨다. 이것은 단일-사용 내시경의 가능성을 가져와 수선 또는 살균 사이클을 요구하지 않는다. 대안적으로 이들은 나중에 분리되어 이들의 성분들 중 일부가 리사이클되게 할 수 있다.
알 수 있는 바와 같이, 발명은 이것을 본원에 개시되고 명세서 및 동반된 도면에 논의에 의해 더욱 가능해질 효율적이고 명쾌한 방식으로 행할 수 있는 방법 및 시스템을 제공한다.
발명의 비제한적 및 비고갈적 구현예는 달리 특정되지 않는 한 여러 도면 전체에 걸쳐 동일 구성요소에 동일 참조부호를 사용한 다음 도면을 참조하여 기술된다. 발명의 잇점은 다음 설명 및 동반된 도면에 관련하여 더 잘 이해될 것이다.
도 1a는 종래 기술에서 공통인 화소 어레이의 구현예를 도시한 것이다.
도 1b는 광학 흑색 컬럼에 형성된 광학 흑색 화소를 가진 발명의 원리 및 교시되는 바에 따라 만들어진 화소 어레이의 구현예를 도시한 것이다.
도 1c는 발명의 원리 및 교시되는 바에 따라 시스템 회로 및 상호보완적 시스템 하드웨어의 개요도이다.
도 2는 발명의 원리 및 교시되는 바에 따라 활성 기록 화소 컬럼과 광학 흑색 화소 컬럼 간에 관계를 보이는 예시적 화소 어레이를 도시한 것이다.
도 3은 발명의 원리 및 교시되는 바에 따라 활성 기록 화소 컬럼과 감소된 수의 광학 흑색 화소 컬럼 간에 관계를 보이는 예시적 화소 어레이를 도시한 것이다.
도 4는 발명의 원리 및 교시되는 바에 따른 일 구현예에 따른 예시적 방법의 하드웨어 흐름도를 도시한 것이다.
도 5는 발명의 원리 및 교시되는 바에 따른 일 구현예에 따른 예시적 방법의 하드웨어 흐름도를 도시한 것이다.
도 6은 발명의 원리 및 교시되는 바에 따른 일 구현예에 따른 파티션된 광 시스템에 사용하기 위한 예시적 방법의 흐름도 및 하드웨어 개요를 도시한 것이다.
도 7은 발명의 원리 및 교시되는 바에 따른 일 구현예에 따른 예시적 방법의 흐름도를 도시한 것이다.
도 8a는 발명의 원리 및 교시되는 바에 따른 일 구현예에 따른 예시적 방법의 흐름도를 도시한 것이다.
도 8b는 발명의 원리 및 교시되는 바에 따른 일 구현예에 따른 예시적 방법의 흐름도를 도시한 것이다.
도 9는 일 구현예에 따른 예시적 방법의 흐름도를 도시한 것이다.
도 10은 발명의 원리 및 교시되는 바에 따른 일 구현예에 따른 예시적 방법의 하드웨어 흐름도를 도시한 것이다.
도 11a 및 도 11b는 발명의 교시된 바 및 원리에 따라;3차원 이미지 를 생성하기 위한 복수의 화소 어레이를 갖는 구현예를 도시한 것이다.
도 12a 및 도 12b는 복수의 기판 상에 형성된 이미징 센서의 구현의 사시도 및 측면도를 각각 도시한 것으로, 화소 어레이를 형성하는 복수의 화소 컬럼은 제 1 기판 상에 위치되고, 복수의 회로 컬럼은 제 2 기판 상에 위치되며, 연관된 또는 대응하는 컬럼의 회로에 한 컬럼의 화소들 간에 전기적 연결 및 통신을 도시한다.
도 13a 및 도 13b는 3차원 이미지를 생성하기 위한 복수의 화소 어레이를 갖는 이미징 센서의 구현예의 사시도 및 측면도를 각각 도시한 것으로, 복수의 화소 어레이 및 이미지 센서는 복수의 기판 상에 형성된다.
도 1a는 종래 기술에서 공통인 화소 어레이의 구현예를 도시한 것이다.
도 1b는 광학 흑색 컬럼에 형성된 광학 흑색 화소를 가진 발명의 원리 및 교시되는 바에 따라 만들어진 화소 어레이의 구현예를 도시한 것이다.
도 1c는 발명의 원리 및 교시되는 바에 따라 시스템 회로 및 상호보완적 시스템 하드웨어의 개요도이다.
도 2는 발명의 원리 및 교시되는 바에 따라 활성 기록 화소 컬럼과 광학 흑색 화소 컬럼 간에 관계를 보이는 예시적 화소 어레이를 도시한 것이다.
도 3은 발명의 원리 및 교시되는 바에 따라 활성 기록 화소 컬럼과 감소된 수의 광학 흑색 화소 컬럼 간에 관계를 보이는 예시적 화소 어레이를 도시한 것이다.
도 4는 발명의 원리 및 교시되는 바에 따른 일 구현예에 따른 예시적 방법의 하드웨어 흐름도를 도시한 것이다.
도 5는 발명의 원리 및 교시되는 바에 따른 일 구현예에 따른 예시적 방법의 하드웨어 흐름도를 도시한 것이다.
도 6은 발명의 원리 및 교시되는 바에 따른 일 구현예에 따른 파티션된 광 시스템에 사용하기 위한 예시적 방법의 흐름도 및 하드웨어 개요를 도시한 것이다.
도 7은 발명의 원리 및 교시되는 바에 따른 일 구현예에 따른 예시적 방법의 흐름도를 도시한 것이다.
도 8a는 발명의 원리 및 교시되는 바에 따른 일 구현예에 따른 예시적 방법의 흐름도를 도시한 것이다.
도 8b는 발명의 원리 및 교시되는 바에 따른 일 구현예에 따른 예시적 방법의 흐름도를 도시한 것이다.
도 9는 일 구현예에 따른 예시적 방법의 흐름도를 도시한 것이다.
도 10은 발명의 원리 및 교시되는 바에 따른 일 구현예에 따른 예시적 방법의 하드웨어 흐름도를 도시한 것이다.
도 11a 및 도 11b는 발명의 교시된 바 및 원리에 따라;3차원 이미지 를 생성하기 위한 복수의 화소 어레이를 갖는 구현예를 도시한 것이다.
도 12a 및 도 12b는 복수의 기판 상에 형성된 이미징 센서의 구현의 사시도 및 측면도를 각각 도시한 것으로, 화소 어레이를 형성하는 복수의 화소 컬럼은 제 1 기판 상에 위치되고, 복수의 회로 컬럼은 제 2 기판 상에 위치되며, 연관된 또는 대응하는 컬럼의 회로에 한 컬럼의 화소들 간에 전기적 연결 및 통신을 도시한다.
도 13a 및 도 13b는 3차원 이미지를 생성하기 위한 복수의 화소 어레이를 갖는 이미징 센서의 구현예의 사시도 및 측면도를 각각 도시한 것으로, 복수의 화소 어레이 및 이미지 센서는 복수의 기판 상에 형성된다.
발명은 진보된 내시경 및 의료 절차 동안 이의 사용을 제공하기 위한 방법, 시스템, 및 컴퓨터 기반 제품에 확장한다. 발명의 다음 설명에서, 이의 부분을 형성하고 예시로서 발명이 실시될 수 있는 구체적 구현예를 도시한 동반된 도면을 참조한다. 다른 구현이 이용될 수 있으며 발명의 범위 내에서 구조적 변경이 행해질 수 있음이 이해된다.
아스로스코피 및 라파로스코피에서 사용되는 통상의 내시경은 이미지 센서가 핸드-피스 유닛 내에 장치의 근단 단부에 배치되게 설계된다. 이러한 구성에서, 내시경 유닛은 이의 길이를 따라 입사광을 최소 손실 및 왜곡을 갖고 복잡한 한 세트의 정밀하게 결합된 광학 성분들을 통해 센서 쪽으로 전송해야 한다. 내시경 유닛의 비용은 성분들이 고가이고 제조 프로세스가 노동 집약적이기 때문에, 광학(optics)에 연관된 비용에 의해 좌우될 수 있다.
위에 단점에 대한 해결책은 이미지 센서를 루멘 내에 원단 단부에 내시경 자체 내에 배치하고, 그럼으로써 예를 들면, 셀 전화 카메라와 같은 관계된 장치 내에서 일반적으로 실현될 수 있는 더 큰 광학 단순성, 강건성 및 경제성을 잠재적으로 제공하는 것이다. 그러나, 이 접근법에 대한 수락가능한 해결책은 이의 자신의 한 세트의 엔지지어링 과제들, -이중 가장 중요한 것은 매우 제약된 영역 내에 센서가 맞아야 한다는 사실일 수 있다다- 을 유발하기 때문에, 결코 사소하지 않다.
센서 영역에 공세적 제약을 두는 것은 더 적은 및/또는 더 작은 화소들을 초래할 수 있다. 따라서, 화소 카운트를 낮추 것은 공간적 해상도에 직접 영향을 미친다. 또한, 화소 영역을 감소시키는 것은 가용한 신호 용량 및 감도를 감소시킬 수 있다. 신호 용량을 낮추는 것은 동적범위, 즉, 큰 범위의 광휘를 가진 장면들로부터 모든 유용한 정보를 동시에 캡처하는 카메라의 능력을 감소시킨다. 화소 자신의 것을 넘어 이미징 시스템의 동적범위를 확장하는 다양한 방법이 존재한다. 그러나, 이들 모두는 어떤 종류의 페널티를 가지며(예를 들면, 해상도 또는 프레임 레이트에서), 이들은 극단적인 경우에 문제가 되는, 바람직하지 못한 아티팩트를 유발 또는 강조할 수 있다. 대안적으로, 감도를 감소시키는 것은 장면의 어두운 지역을 수락가능한 신호 레벨까지 가져가기 위해서 더 큰 광 파워가 요구되는 결과를 갖는다. F-수를 낮추는 것은 감도에 손실을 또한 보상할 수 있지만 공간상에 왜곡 및 감소된 초점 심도를 희생할 수 있다.
이미징 센서 기술에서, CMOS 이미지 센서는 이들이 통합 및 동작이 더 쉽고, 우수한 혹은 필적할만한 이미지 질, 큰 다기능성 및 낮은 비용 때문에, 엔도스코피와 같은 최근의 카메라 응용에서 통상의 CCD 이미지 센서를 대부분 대체하였다. 그러나 CMOS 센서는 최적 결과를 달성하기 위해서 감안되어야 하는 어떤 바람직하지 못한 특색을 가져온다.
이미지 센서는 이미지 정보를 디지털 데이터로 변환하고 센서 칩 자체 상에 다양한 레벨의 디지털 처리가 탑재되게 하는데 필요한 회로를 포함할 수 있다. 디지털 프로세스는 범위가 예를 들면, 증폭기 행동에 변동에서 비롯될 수 있는 CMOS 센서의 비-이상성을 정정할 목적의 기본 알고리즘 내지는, 표준 sRGB 컬러 공간(카메라-온-칩)에서 비디오 데이터를 제공하는, 풀 이미지 신호 처리(ISP) 체인에 이를 수 있다.
주어진 카메라 시스템에 대한 요망되는 정도의 센서 복잡성은 몇가지 요인들에 의해 구동될 수 있는데, 이들 중 하나는 이미지 센서를 위한 가용한 물리적 공간일 수 있다. 가장 극단적인 기능적으로 최소의 CMOS 센서는 기본적인 화소 어레이와 이에 더하여 칩 외부에 아날로그 데이터를 드라이브하기 위한 어느 정도의 직렬화 및 버퍼 회로만을 가질 것이다. 화소를 동작시키고 판독하기 위해 요구되는 모든 타이밍 신호는 외부에서 제공될 수 있다. 외부에서 제어 신호를 공급할 필요성은 광을 수집하는데 더 낫게 사용될 수도 있을 현저한 면적을 수비하는 많은 패드들을 추가할 수 있다. 그러므로 전기적 통신 연결들의 필요성 때문에 반드시 화소 어레이 근방에 최소 기능이 최소 영역 사용과 동일하다는 것은 아니다.
지원 회로가 원격에 배치되고 제 2 스테이지가 센서로부터 상당한 거리에 있다면, 디지털 영역에서 데이터를 송신하는 것이, 간섭 노이즈 및 신호 열화에 거의 영향을 받지 않게 될 수 있기 때문에, 훨씬 더 바람직할 수 있다. 카메라 제조의 복잡성 및 비용을 증가시키는 것 외에도, 센서 상에 패드의 수(공간을 소비하는)를 감소시키기 때문에, 도체의 수를 최소화할 강한 요망이 있을 수 있다. 센서에 아날로그-디지털 변환의 추가가 필요할 수 있을지라도, 추가의 영역은 아날로그 신호를 버퍼하고 전송하는 것에 연관된 신호 열화를 보상할 필요가 없는 정도까지 오프셋될 수 있다. 영역 소비 면에서 CIS 기술에서 가용한 전형적인 특징 크기가 주어졌을 때, 도 9에서 볼 수 있는 바와 같이 한 세트의 제어 레지스터 및 레지스터를 제어하는 단순한 코맨드 인터페이스를 통해 칩 상에 발생되는 모든 내부 로직 신호들을 갖는 것이 바람직할 수 있다.
매우 제어된 조명 환경에서 감소된 화소 카운트들로 고 선명 이미징은 고 프레임 캡처 레이트 및 특별하게 설계된 단색의 센서와 함께 광원에 프레임씩 펄싱된 컬러 스위칭에 의해 달성될 수 있다. 디지털 이미징 시스템은 광 방출기로부터 내시경의 선단에 광 섬유를 통해 전송되는 전자기 방사의 펄스들을 방출하기 위한 광 방출기를 포함할 수 있다. 암 프레임 캡쳐는 광 방출기가 펄싱하지 않음으로써 용이해질 수 있다. 디지털 이미징 시스템은 광 방출기에서 내시경으로 전자기 방사를 전송하기 위한 광 섬유 및 제어 유닛에서 이미징 센서로 전자 통신을 제공하기 위한 도전성 와이어들을 포함할 수 있다. 디지털 이미징 시스템은 제어 유닛 내에 배치되고 광 방출기 및 이미징 센서와 전기적으로 통신하는 제어기를 포함할 수 있다. 이미징 센서는 핸드 피스 내에 배치되고 광 방출기 및 이미징 센서와 전기적으로 통신할 수 있다. 이미징 센서는 광 방출기에 결합될 수 있다. 감소된 영역 이미지 센서의 화소는 컬러와는 무관하기(agnostic) 때문에, 실질적인 공간적 해상도는 통상의 단일-센서 카메라에서 이들의 컬러(전형적으로 바이에르-패턴 필터링된) 상대에 있어서보다 현저히 더 높을 수 있다. 이들은 또한 개개의 훨씬 더 적은 입사 광자가 낭비되기 때문에 더 큰 양자 효율을 가질 수 있다. 또한, 바이에르 기반의 공간 컬러 변조는 바이에르 패턴에 연관된 컬러 아티팩트를 없애기 위해서, 동반된 광학(optics)의 MTF가 단색 경우에 비해 낮을 것을 요구한다. 이것은 컬러 센서들로 실현될 수 있는 실제 공간적 해상도에 불리한 영향을 미친다.
이 특별한 발명은 이미지 센서가 내시경의 원단 단부에 놓여질 수 있는 엔도스코피 응용을 위한 시스템 해결책에 관계된다. 최소 영역 센서 기반의 시스템을 얻기 위해 노력함에 있어, 화소 카운트에 명백한 감소를 넘어서, 본원에 기술된 바와 같이, 개발될 수 있는 다른 설계적 측면들이 존재한다. 특히, 칩에의 연결들(패드)의 수도 마찬가지로, 칩의 디지털 부분의 영역이 최소화될 것이다. 이 발명은 이러한 시스템의 실현을 위해 이들 목적을 달성하는 신규한 방법들을 기술한다. 이것은 몇몇 신규한 특징을 가진 풀-커스텀 CMOS 이미지 센서의 설계를 수반한다.
본 발명의 구현들은 예를 들면, 이하 더 상세히 논의되는 바와 같이, 하나 이상의 프로세서 및 시스템 메모리와 같은, 컴퓨터 하드웨어를 포함하여, 전용 또는 범용 컴퓨터를 포함하거나 이용할 수 있다. 또한, 본 발명의 범위 내에서 구현들은 컴퓨터-실행가능 명령 및/또는 데이터 구조를 탑재 또는 저장하기 위한 물리적 및 그외 다른 컴퓨터-판독가능 매체를 포함할 수 있다. 이러한 컴퓨터-판독가능 매체는 범용 혹은 전용 컴퓨터 시스템에 의해 액세스될 수 있는 임의의 가용한 매체일 수 있다. 컴퓨터-실행가능 명령을 저장하는 컴퓨터-판독가능 매체는 컴퓨터 저장 매체(장치)이다. 컴퓨터-실행가능 명령을 탑재하는 컴퓨터-판독가능 매체는 전송 매체이다. 이에 따라, 제한이 아니라, 예로서, 발명의 구현들은 적어도 2개의 서로 구별되는 상이한 종류의 컴퓨터-판독가능 매체로서 컴퓨터 저장 매체(장치) 및 전송 매체를 포함할 수 있다.
컴퓨터 저장 매체(장치)는 컴퓨터-실행가능 명령 또는 데이터 구조 형태로 요망되는 프로그램 코드 수단을 저장하기 위해 사용될 수 있고 범용 또는 전용 컴퓨터에 의해 액세스될 수 있는, RAM, ROM, EEPROM, CD-ROM, 고체상태 드라이브("SSD")(예를 들면, RAM 기반), 플래시 메모리, 상-변화 메모리("PCM"), 이외 다른 유형의 메모리, 이외 다른 광학 디스크 저장장치, 자기 디스크 저장장치 혹은 이외 다른 자기 저장 장치, 혹은 이외 어떤 다른 매체를 포함한다.
"네트워크"는 컴퓨터 시스템 및/또는 모듈 및/또는 이외 다른 전자 장치들 간에 전자 데이터를 수송할 수 있게 하는 하나 이상의 데이터 링크로서 정의된다. 정보가 네트워크 또는 또 다른 통신 연결(하드와이어, 무선, 혹은 하드와이어되거나 무선의 조합)을 통해 컴퓨터에 전송 또는 제공될 때, 컴퓨터는 연결을 전송 매체로서 적합히 인지한다. 전송 매체는 네트워크 및/또는 데이터 링크를 포함할 수 있고, 이들은 요망되는 프로그램 코드 수단을 컴퓨터-실행가능 명령 또는 데이터 구조 형태로 탑재하기 위해 사용될 수 있고, 범용 또는 전용 컴퓨터에 의해 액세스될 수 있다. 위에 조합들은 또한 컴퓨터-판독가능 매체의 범위 내에 포함될 것이다.
또한, 다양한 컴퓨터 시스템 성분들에 도달하였을 때, 전송 매체에서 컴퓨터 저장 매체(장치)로(혹은 그 반대로) 자동으로 전송될 수 있는 컴퓨터-실행가능 명령 또는 데이터 구조 형태의 프로그램 코드 수단. 예를 들면, 네트워크 또는 데이터 링크를 통해 수신된 컴퓨터-실행가능 명령 또는 데이터 구조는 네트워크 인터페이스 모듈(예를 들면, "NIC") 내에 RAM 내에 버퍼되고, 이어서 종국에 컴퓨터 시스템 RAM에 및/또는 컴퓨터 시스템에 비휘발성 컴퓨터 저장 매체(장치)에 전송될 수 있다. 또한, RAM은 고체상태 드라이브(SSD 또는 PCIx 기반의 실시간 메모리 결속된 저장장치, 이를테면 퓨전IO)을 포함할 수 있다. 이에 따라, 컴퓨터 저장 매체(장치)는 전송 매체를 이용하는(또는 심지어는 주로) 컴퓨터 시스템 성분 내 포함될 수 있다.
컴퓨터-실행가능 명령은 예를 들면, 프로세서에서 실행되었을 때, 범용 컴퓨터, 전용 컴퓨터, 또는 전용 처리 장치가 어떤 기능 또는 일 그룹의 기능들을 수행하게 하는 명령 및 데이터를 포함한다. 컴퓨터 실행가능 명령들은 예를 들면, 어셈블리 언어, 혹은 심지어 소스 코드와 같은 바이너리, 중간 포맷 명령일 수 있다. 요지가 구조적 특징들 및/또는 방법 단계들에 특정한 언어로 기술되었을지라도, 첨부된 청구항에 정의된 요지는 위에 기술된 특징 혹은 단계로 반드시 제한되는 것은 아님이 이해될 것이다. 그보다는, 기술된 특징 및 단계는 청구항을 구현하는 예시적 형태로서 개시된다.
당업자는 발명이 개인용 컴퓨터, 데스크탑 컴퓨터, 랩탑 컴퓨터, 메시지 프로세서, 휴대 장치, 핸드 피스, 카메라 제어 유닛, 다중-프로세서 시스템, 마이크로프로세서-기반 또는 프로그램가능 소비자 전자장치, 네트워크 PC, 미니컴퓨터, 메인프레임 컴퓨터, 모바일 전화, PDA, 태블릿, 페이저, 라우터, 스위치, 각종 저장 장치, 등을 포함하여, 많은 유형의 컴퓨터 시스템 구성을 가진 네트워크 계산 환경에서 실시될 수 있음을 알 것이다. 위에 언급된 계산 장치 중 어느 것이든 브릭 및 모타르 위치 옆에 혹은 이 내에 제공될 수 있음에 유의한다. 또한, 발명은 네트워크를 통해 링크되는(하드와이어된 데이터 링크, 무선 데이터 링크에 의해, 혹은 하드와이어된 및 무선 데이터 링크들의 조합에 의해)되는 로컬 및 원격 컴퓨터 시스템들 둘 다 작업을 수행하는 분산 시스템 환경에서 실시될 수도 있다. 분산 시스템 환경에서, 프로그램 모듈은 로컬 및 원격 메모리 저장 장치들 둘 다에 위치될 수 있다.
또한, 적합한 경우, 본원에 기술된 기능은 하드웨어, 소프트웨어, 펌웨어, 디지털 성분들, 또는 아날로그 성분들 중 하나 이상에서 수행될 수 있다. 예를 들면, 하나 이상의 응용특정의 집적회로(ASIC) 또는 필드 프로그램가능 게이트 어레이(FPGA)는 본원에 기술된 시스템 및 절차 중 하나 이상을 수행하게 프로그램될 수 있다. 어떤 용어들은 특정 시스템 성분들을 언급하기 위해 다음 설명 및 청구항 전체에 걸쳐 사용된다. 당업자가 알게 되는 바와 같이, 성분들은 상이한 명칭들에 의해 언급될 수도 있다. 이 문서는 명칭은 상이하나 기능은 상이하지 않은 성분들 간을 구별하지는 않는다.
이미지 센서는 오프셋 교정 목적으로, 전용의 광학적 블라인드 혹은 광학 흑색(OB) 행(어레이의 상부 및/또는 하부에) 및 컬럼(어레이의 우측 및/또는 좌측으로)을 포함할 수 있다. 상부 및 하부 OB 행(109), 및 좌측 및 우측 OB 컬럼(107)과 함께 기록 영역 내에 화소(105)를 갖는 이미지 센서(101)의 예시적 레이아웃이 도 1a에 도시될 수 있다. OB 행(109)은 일반적으로 OB 클램프 알고리즘을 위해 아날로그 화소 흑색 레벨을 모니터하기 위해 사용된다. 또한, OB 행(109)은 전형적으로, 컬럼 고정된 패턴 노이즈 또는 FPN(CFPN)을 상쇄시킬 목적으로 디지털 알고리즘에 의해 사용된다. 실시예에서, 가드 링(111)은 이미지 센서(101)의 둘레를 둘러쌀 수 있다. 한편 OB 컬럼(107)은 일반적으로 임의의 라인-노이즈를 상쇄시키는 수단으로서 라인 오프셋을 평가할 목적을 갖는다. 라인-노이즈는 일시적일 수 있기 때문에, 오프셋는 매 프레임에서 각 라인에 대해 새로이 계산되어야 한다.
화소 어레이의 크기에 전체적 감소는 OB 행(109)을 제거하고 OB 클램프 알고리즘(이나 논의를 참조)을 위해 OB 행(109) 대신 OB 컬럼(107)을 사용함으로써 달성될 수 있다. 구현예에서, CFPN을 포함하여, 모든 FPN 유형들은 암(dark) 데이터의 프레임들을 획득하고, 그럼으로써 전용 CFPN 정정 및 이의 연관된 OB 행(109)에 대한 필요성을 없앰으로써 상쇄될 수 있다. 도 1b는 OB 행이 없고 대신 OB 컬럼(107)을 포함하는 이러한 이미지 센서(101) 및 화소 어레이(105)의 예를 도시한 것이다.
도 1c는 예시적 계산 장치(100)를 도시한 블록도일 수 있다. 계산 장치(100)는 본원에서 논의되는 것들과 같은, 다양한 절차를 수행하기 위해 사용될 수 있다. 계산 장치(100)는 서버, 클라이언트, 혹은 이외 어떤 다른 계산 실체로서 기능할 수 있다. 계산 장치는 본원에서 논의되는 다양한 모니터링 기능을 수행할 수 있고, 본원에 기술된 응용 프로그램과 같은 하나 이상의 응용 프로그램을 실행할 수 있다. 계산 장치(100)는 데스크탑 컴퓨터, 노트북 컴퓨터, 서버 컴퓨터, 휴대 컴퓨터, 카메라 제어 유닛, 태블릿 컴퓨터, 등과 같은 매우 다양한 계산 장치 중 어느 것일 수 있다.
계산 장치(100)는 하나 이상의 프로세서(들)(102), 하나 이상의 메모리 장치(들)(104), 하나 이상의 인터페이스(들)(106), 하나 이상의 대량 저장 장치(들)(108), 하나 이상의 입력/출력(I/O) 장치(들)(110), 및 디스플레이 장치(130) -이들 모두는 버스(112)에 결합된다- 를 포함한다. 프로세서(들)(102)는 메모리 장치(들)(104) 및/또는 대량 저장 장치(들)(108)에 저장되는 명령들을 실행하는 하나 이상의 프로세서 또는 제어기를 포함한다. 프로세서(들)(102)은 또한 캐시 메모리와 같은 다양한 유형의 컴퓨터-판독가능 매체를 포함할 수 있다.
메모리 장치(들)(104)는 휘발성 메모리(예를 들면, 랜덤 액세스 메모리(RAM)(114)) 및/또는 비휘발성 메모리(예를 들면, 판독전용 메모리(ROM)(116))와 같은 다양한 컴퓨터-판독가능 매체를 포함한다. 메모리 장치(들)(104)는 또한 플래시 메모리와 같은 재기입가능 ROM을 포함할 수 있다.
대량 저장 장치(들)(108)은 자기 테이프, 자기 디스크, 광학 디스크, 고체상태 메모리(예를 들면, 플래시 메모리), 등과 같은 다양한 컴퓨터 판독가능 매체를 포함한다. 도 1c에 도시된 바와 같이, 특정 대량 저장 장치는 하드 디스크 드라이브(124)일 수 있다. 여러 드라이브들 또한 여러 컴퓨터 판독가능 매체로부터 판독 및/또는 이에 기입할 수 있게 대량 저장 장치(들)(108) 내에 포함될 수 있다. 대량 저장 장치(들)(108)는 착탈가능 매체(126) 및/또는 비착탈가능 매체를 포함한다.
I/O 장치(들)(110)은 데이터 및/또는 다른 정보가 계산 장치(100)에 입력되거나 이로부터 인출될 수 있게 하는 다양한 장치를 포함한다. 예시적 I/O 장치(들)(110)는 커서 제어 장치, 키보드, 키패드, 마이크로폰, 모니터 또는 이외 다른 디스플레이 장치, 스피커, 프린터, 네트워크 인터페이스 카드, 모뎀, 렌즈, CCD 또는 다른 이미지 캡처 장치, 등을 포함한다.
디스플레이 장치(130)는 계산 장치(100)의 하나 이상의 사용자에게 정보를 디스플레이할 수 있는 임의의 유형의 장치를 포함한다. 디스플레이 장치(130)의 예는 모니터, 디스플레이 단말, 비디오 프로젝션 장치, 등을 포함한다.
화소 어레이(135)가 또한 포함되어 시스템 내에 다른 회로에 관하여 원격에서 동작할 수 있다.
인터페이스(들)(106)은 계산 장치(100)가 다른 시스템, 장치, 또는 계산 환경과 상호작용할 수 있게 하는 여러 인터페이스를 포함한다. 예시적 인터페이스(들)(106)은 이를테면 로컬 영역 네트워크(LAN), 광역 네트워크(WAN), 무선 네트워크, 및 인터넷에 대한 인터페이스와 같은, 임의의 수의 서로 다른 네트워크 인터페이스(120)를 포함할 수 있다. 이외 다른 인터페이스(들)은 사용자 인터페이스(118) 및 주변 장치 인터페이스(122)를 포함한다. 인터페이스(들)(106)는 또한 하나 이상의 사용자 인터페이스 요소(118)를 포함할 수 있다. 또한, 인터페이스(들)(106)는 프린터, 포인팅 장치(마우스, 트랙 패드, 등), 키보드, 등을 위한 인터페이스와 같은 하나 이상의 주변 인터페이스를 포함할 수 있다.
버스(112)는 프로세서(들)(102), 메모리 장치(들)(104), 인터페이스(들)(106), 대량 저장 장치(들)(108), 및 I/O 장치(들)(110)이 버스(112)에 결합된 다른 장치 또는 성분 뿐만 아니라, 서로 통신할 수 있게 한다. 버스(112)는 시스템 버스, PCI 버스, IEEE 1394 버스, USB 버스, 등과 같은 몇몇 유형들의 버스 구조 중 하나 이상을 나타낸다.
예시 목적을 위해, 프로그램 및 이외 다른 실행가능한 프로그램 성분은 이러한 프로그램 및 성분이 여러 시간들에서 계산 장치(100)의 서로 다른 저장 성분들 내 놓여지고 프로세서(들)(102)에 의해 실행되는 것으로 이해될지라도, 본원에 별개의 블록들로서 도시되었다. 대안적으로, 본원에 기술되는 시스템 및 절차는 하드웨어로, 혹은 하드웨어, 소프트웨어, 및/또는 펌웨어의 조합으로 구현될 수 있다. 예를 들면, 하나 이상의 응용특정의 집적회로(ASIC)는 시스템의 초기화 전에 상황에 따라 본원에 기술된 시스템 및 절차 중 하나 이상을 수행하게 프로그램될 수 있다.
OB 컬럼의 수는, 공간 제약 등에 따라 전형적으로 100 이상일 수도 있을 것이다. 가용한 OB가 많을수록 라인-오프셋 정밀도는 더 커진다. 더 큰 정밀도는 낮은 라인 노이즈, 사후-정정을 의미한다. 정상적으로, 모든 가용한 물리적 OB들은 도 2에 도시된 바와 같이 각 라인에 대해 판독될 것이다. 더 어레이 크기 감소 정도는, 필요한 수의 물리적 OB 화소들을 갖는 대신에, (어떤 정밀도 목표가 주어졌을 때), 더 적은 수의 물리 화소들이 구현되고 이들이 수평 판독 프로세스 동안 다수회 재샘플링된다면 달성될 수 있다. 이 접근법은 도 3에 도시되었다.
디지타이저의 출력에 있는 생 CMOS 이미지 센서 데이터는 이상적인 것에서 멀 수 있다. 수평 행의 화소들을 판독할 최적의 순서가 어레이 내 실제 물리적 순서와 같지 않는 경우가 종종 있을 수 있다. 또한, 생 데이터는 일반적으로 낮은 광 및 대응하여 고 이득의 상황에서 매우 분명해지는, 판독 아키텍처의 특성도 반영하는 바람직하지 못한 아티팩트를 드러낸다. 이들 판독 아티팩트는 전형적으로 수평 판독 프로세스에 연관된 회로 리셋으로부터 기인할 수 있는 일시적 라인-노이즈 및 컬럼마다의 오프셋에 변동에서 비롯되는, 컬럼 FPN을 포함할 수있다.
CMOS 센서의 또 다른 특성은 어떤 정도의 암(dark) 신호가 화소 내에 광다이오드에 의해 발생될 수 있다는 것이다. 이 전류로부터 비롯되는 통합된 신호의 량은 노출 시간 및 온도 둘 다에 따른다. 이 암 신호가 광-신호로부터 구별불가할 수 있기 때문에, 이 내에 변화는 아날로그 영역에서 신호 페디스탈(pedestal)에 변화로 전환된다. ADC의 가용한 동적범위가 완전히 활용되기 위해서, 암 신호가 샘플링되고 조절되는 것이 중요할 수 있다. 도 4는 이것이 일반적으로 CMOS 센서에서 어떻게 행해질 수 있는가를 도시한 것이다. OB 화소로부터 데이터는 온-칩 로직 내에서 평균되고 표적 디지털 흑색 레벨과 비교될 수 있다. 흑색 레벨을 가능한 한 표적에 가깝게 되게 하기 위해서 입력 오프셋 전압에 대해 계속적인 조절이 행해진다. 이것를 흑색 클램프 또는 OB 클램프 프로세스라 칭할 수 있다.
대다수의 시판되는 센서는 흑색-클램프 및 디지털 노이즈 정정을 수행하기 위해 로직 온-칩을 탑재한다. 그러나 이 로직은 센서 상에 있을 필요가 없고, 최소 영역 센서를 가진 카메라 시스템을 개발하려는 노력으로, 이들 정정을 이미지 신호 처리 체인(ISP)으로 이동하는 것이 올바르다. 이것은 정정이 자원이 많은 가용한 로직 게이트 및 RAM을 가진 FPGA 또는 ASIC 내에 있다면 정정이 덜 자원 제한되기 때문에, 실제로는 전체 시스템 수행에 관련하여 순 잇점을 갖는다.
도 5는 OB 클램프 로직이 센서에서 어떻게 옮겨질 수 있는가를 도시한다(센서 정정 알고리즘과 더불어). 이 경우에, OB 클램프 로직으로부터 아날로그 조절에 관한 정보는 명령에 의해, 이의 코맨드 인터페이스를 통해 센서에 전송될 수 있다.
도 6은 최소 영역 센서를 탑재한 시스템 맥락에서 개발되어진 ISP의 프론트-엔드의 구현예를 도시한 것이다. 이 예에서는 각각 짝수 및 홀수 컬럼을 변환하고 두 차동 포트 상에 직렬 데이터를 전송하는, 센서 상에 2개의 디지타이저가 있다.
역직렬화 다음에, 제 1 프로세스는 각 포트에 대한 라인을 적합한 순서로 재구축하는 것에 관계될 수 있다. 흑색 클램프 및 라인 노이즈 정정을 처리하는, 다음 두 정정 블록은 둘 다 데이터-경로에 특정한데, 즉 두 체인은 개별적으로 취급될 것이다.
흑색 클램프 - 도 7에 흐름도는 OB 클램프 로직이 전형적으로 칩 상에 통상의 CMOS 이미징 시스템 내에서 어떻게 동작할 수도 있을 것인가의 예일 수 있다. 전형적으로, OB-행 화소들이 디지털 판독 경로 내에 있을 동안, 다수의 OB 행으로부터, 다수의 샘플 및 프레임마다 행해지는 아날로그 조절이 있을 수도 있을 것이다. 앞서 논의된 바와 같이, 최소 영역 센서에 있어서, OB 화소들의 수는 필요한 최소로 감소될 것이며 이것은 OB 행을 제거하고 라인-노이즈 뿐만 아니라 흑색 클램프를 교정하기 위해 OB 컬럼을 사용함으로써 달성될 수 있다. 도 8a 및 도 8b 에 흐름도는 이것을 달성하는 방법을 개괄한다. 기본 생각은 전체 프레임에 대해 한 세트의 측정된, 비정정된 라인 오프셋들을 축적하고 최종 추정을 사용하여 흑색 클램프 조절을 행하는 것일 수 있다. 한편 각 개개의 라인 오프셋 추정은 개개의 라인에 대해 디지털 조절을 행하기 위해서 나중 프로세스에 제공될 수 있다.
흑색 클램프 레벨의 조절은 센서 상에 DAC 또는 충전 펌프를 사용하여 DC 전압(Vblackclamp)을 제어함으로써 행해질 수 있다. ADC에 입력되는 화소 전압 오프셋들은 예를 들면, 광다이오드 내 암 전류에 기인하여 변동하며, 그러므로 DAC는 디지털 영역에서 흑색 오프셋을 평가함으로써 정규로 조절될 필요가 있다.
정상적으로 행동하지 않는 개개의 OB 화소는 흑색 오프셋 측정의 질을 심하게 저하시킬 수 있고, 그러므로 이들을 처리하는 것은 매우 중요할 수 있다. 적합한 접근법은 각 OB 화소에 대해, 당해 화소와 이의 4개의 최근접한 이웃들을 포함한 5개의 그룹의 중앙값을 취하는 것일 수 있다. 이어 모든 중앙값의 민(mean)으로서 최종 라인 오프셋 추정이 취해질 것이다. OB들의 전체 샘플을 버퍼하고 5의 샘플을 랩 어라운드하는 것과 같은, 시작 및 끝에서 통계들을 잃지 않기 위해 어떤 제공이 행해질 것이다. 이것은 데이터를 파이프라인할 것을 필요로 하여, 행당, ADC 채널당 OB들의 적어도 전체 수와 동일한 지연을 초래한다.
짝수 채널(홀수-짝수 산재를 가진 2개의 ADC를 가정한다), 행# r에 대한 라인 오프셋 추정:
NOB가 행당 OB 화소들의 총 수이고 μi가 OB 화소 i에 대한 중앙값일 수 있는 라인 오프셋, 이에 따라 다음이 계산된다:
마찬가지로, 홀수 채널(홀수-짝수 산재를 가진 2개의 ADC를 가정한다), 행# r에 대한 라인 오프셋 추정:
여기에서,
전체 프레임 흑색 레벨을 얻기 위해서, 적합한 실제적 접근법은 단순 지수함수적 스무딩(SES)을 사용하여 전체 흑색 레벨을 계산하기 위해 모든 라인 오프셋들을 누적함으로써 제공될 수 있다. SES를 사용하는 이익은 프레임의 끝 쪽으로 행들은 부-프레임 시간 스케일에서 일어나는 혹색 오프셋에 변화들을 해결하는데 바람직할 수 있는 최종 흑색 추정에 큰 영향을 미칠 수 있다는 것일 수 있다.
SES에서, 실행되는 추정은 샘플이 가용해지게 되었을 때마다 증가적으로 조절될 수 있다. 편리를 위해 샘플은 이전 추정에 더해지기 전에 2진수(2q)로 나누어질 수 있다. 이전 추정은 결과를 정규화하기 위해 매번 먼저 (2q-l)/2q로 곱해질 수 있다. q의 높은 값들은 안정된 시나리오에서 시간에 걸쳐 더 큰 통계적 정밀도를 갖게 한다. q의 낮은 값들은 정정을 신속한 변화들에 더 반응적이게 할 수 있다. q는 조율가능한 파라미터로서 활용되게 해야 한다.
여기에서 kr은 행 r 후에 흑색 레벨 추정일 수 있고, Lr은 행 r에 대한 라인 오프셋 추정일 수 있다. 흑색 클램프 DAC들을 어떻게 할지에 관한 판단은 어레이 내 최종 행이 추가되어진 후에 행해질 수 있다.
흑색 클램프 알고리즘은 조절가능한 파라미터에 의해 제공될 수도 있을 표적 흑색 레벨을 요구할 것이다. 당해 채널에 대한 센서 상에 흑색 클램프 DAC는 관찰된 흑색 추정이 표적 이상 혹은 미만일 수 있는지 여부에 따라, 상승되거나 하강될 것이다. 상승의 크기는 예를 들면 흑색 오프셋이 표적에 가깝다면, 예를 들어 가장 작은 유닛, 즉 한 DAC 카운트가 될 수도 있을 것이다. 흑색 레벨이 표적에서 멀리 있는 경우에, 더 큰 비례 상승이 행해질 수도 있을 것이며, 도 8a를 참조한다. 알고리즘은 흑색 클램프 DAC 카운트와 센서 ADC 카운트 간에 상응의 개략적 교정 및 출력 흑색 레벨에 관하여 DAC 조절의 방향성을 알 필요가 있을 것이다.
라인-노이즈 정정 - '라인-노이즈'라는 것은 한 수평 행의 화소들의 오프셋에 있어 확률론적인 일시적 변동을 일컫는다. 다수의 원인이 있을 수 있는데, 그러나 이것은 한 행의 화소들이 판독될 때마다 리셋되는 아날로그 요소들로부터 비롯되는 리셋-노이즈로서 간주될 수 있다. 이것은 일시적일 수 있고 매 프레임당 각 새로운 라인에 대해 새로운 정정이 계산되어야 한다. ADC 입력에서 증폭 스테이지는 최종 아날로그 요소일 수 있기 때문에, 라인-노이즈가 ADC 채널마다 현상학적으로 독립적으로 나타날 수도 있다고 추측하는 좋은 이유가 될 수 있다. 그러므로 최적의 접근법은 각 ADC(채널)을 개별적으로 정정하는 것일 수 있다.
라인-노이즈를 완전히 제거하는 것은, 라인 오프셋 추정을 위해 사용되는 한 샘플의 OB 화소들이 정정이 적용되고 있을 수 있는(그리고 샘플 통계가 유한한) 샘플과는 별개일 수 있기 때문에, 불가능할 수 있다. 모든 노이즈가 가우시안일 수 있다고 가정하면, 사후-정정 라인-노이즈는 OB 화소들 내 존재하는 화소 일시적 노이즈로부터 비롯되는 라인 오프셋 추정에 있어 불확실성과 근사적으로 같을 수 있다:
여기에서 σL,post는 사후 정정 일시적 라인-노이즈일 수 있고, σL는 OB 화소 일시적 노이즈일 수 있고, NOB는 OB 화소 수일 수 있다. 라인-노이즈 정정은 또한 대부분이 OB 화소 내에 존재하는 화소 FPN의 결과로서, 공간적 라인-노이즈 성분을 유발한다:
이 아티팩트는 체인에서 나중에, FPN 정정에 의해 제거될 것이다. 시뮬레이션은 일시적 라인-노이즈가 보이지 않게 하기 위해서, 크기는 화소 일시적 노이즈의 대략 1/10 미만이 되어야 함을 나타내었다. 이 기준은 적어도 100 OB 화소가 라인당 요구될 것임을 나타낸다.
광학적으로 관측되는 (클리어) 화소들에 라인-노이즈 정정 적용:
x'i = xi - L + B
L이 현재 라인에 대한 라인 오프셋 추정일 수 있을 때, 흑색 클램프 표적 레벨은 '흑색 클램프' 모듈 및 B로부터 포트될 수 있다.
풀 라인 재조합 - 이것은 간단히 두 데이터 채널을 풀 라인에 조합하는 것을 수반할 것이다. 이들은 최종 클리어 화소 순서가 어레이 내 정확한 순서를 반영하도록 인터리브될 필요가 있다.
FPN 정정 - CMOS 이미지 센서는 다수의 노이즈 원인을 가지며, 이들의 크기 및 출현은 한 범위의 물리적 조건에 달려있다. 코히런트 성분들(예를 들면 광자 숏 노이즈 또는 소스 폴로워 1/f 판독 노이즈)이 없는 순 프아송 또는 가우시안 일시적 노이즈는 노이즈가 보일 수 있는 만큼 자연스럽게 보인다. 이외 모든 다른 인지되는 노이즈 유형들은 동일 진폭에 대해 훨씬 더 큰 정도로 이미지 질을 저하시킬 수 있다. 공간 노이즈(FPN)는 특히 심할 수 있는데 CMOS 센서는 본질적으로 적어도 2개의 원인으로서 화소 FPN 및 컬럼 FPN을 갖는다. 화소 FPN은 대부분이 화소마다 광다이오드 누설 전류(암 신호)에서 변동(DSNU)에서 기인할 수 있다. 이 원인은 정션 온도(Tj)에 지수함수적으로 의존하고 노출 시간에 선형으로 의존할 수 있다. 컬럼 FPN은 동일 컬럼으로부터 화소들이 공통 아날로그 판독 요소들을 통해 채널링되는, 판독 아키텍처의 결과일 수 있다.
전형적으로 온-칩 디지털 FPN 정정은 컬럼 FPN 성분만을 처리하는 것을 수반하여, 컬럼당 한 오프셋 정정 레지스터를 요구할 것이다. 이러한 정정의 정확도는 전형적으로 20비트 또는 컬럼당 이와 같을 수도 있을 것이며, 이것은 1920X1080 어레이에 대해 대략 5kB의 RAM으로 이어진다. 디지털 센서 정정을 ISP로 옮기는 이익들 중 하나는 RAM를 바로 이용할 수 있다는 것이다. 이것은 임의의 행, 컬럼 또는 화소에 관련한 성분을 상쇄하는 포괄적 FPN 정정의 가능성을 연다. 이것은 물리적 화소마다 실행되는 오프셋 추정을 조절하기 위해 각 새로운 프레임 샘플이 사용될 수 있는 단순한 지수함수적 스무딩(SES)에 의해 달성될 수 있다.
프로그램가능 디지털 이득 - 도 6에서 최종 블록은 프로그램가능 디지털 증폭기에 대응한다. CMOS iSoCs는 일반적으로 매우 미세한 증분을 가진 디지털 프로그램가능 이득 스테이지들을 구비한다. 이것은 전형적으로 이득 및 노출 시간을 변조하는 자동-노출 프로세스를 용이하게 할 수 있다.
디지털 증폭기는 한 범위의 센서 ADC를 한 범위의 ISP(예를 들면 11 비트 ADC 대 12-비트 ISP에 대해 x2)에 정렬시키기 위해 사용될 수 있다. 소량의 디지털 이득은 또한 전체 범위의 ADC에서 명백하게 되는 디지털 라인-노이즈 및 FPN 정정의 임프린트를 트림 오프하기 위해 사용될 수 있다.
구성 레지스터 어드레스 ROM의 최소화 - 통상의 CMOS 이미지 센서는 센서가 어떻게 동작하는가를 제어할 목적으로 많은 기입가능 레지스터를 탑재한다. 이들은 전형적으로, 예를 들면, 화소 획득 및 판독 사이클, 증폭기 오프셋 및 이득, 등을 위한 바이어스 전압 및 전류 타이밍 파라미터를 조절하기 위해 DAC 설정을 포함할 것이다. 일반적 관례는 전형적으로 8 또는 16 비트의 데이터를 내포하는 각 레지스터에 특정한 8-비트 또는 16-비트 어드레스를 할당하는 것일 수 있다.
더 많은 공간 보전적 접근법은 대량의 제어 RAM를 단일의 긴 레지스터에 조합하는 것을 수반한다. 극단적인 경우에, 모든 파라미터는 단일 레지스터에 넣어질 수도 있어 어드레스 ROM을 요구하지 않을 수도 있을 것이다. 그러나 이 해결책은 제어 레지스터를 기입하는 것은 시간이 걸리고 전형적인 비디오 응용은 프레임마다 소량의 동작 파라미터(이를테면 노출 시간)을 변경하는 것을 수반하기 때문에 매우 현실성이 없을 수 있다. 가장 현실성 있는 해결책은 기능적으로 관계된 파라미터 세트들을 소량의 긴 레지스터에 연쇄시킴으로써 제공될 수 있다. 예를 들어 하나에 대해 10개의 레지스터(4 어드레스 비트를 요구한다)을 갖게 함으로써 수반되는 공간에서 차이는 무시할 수 있다. 특히, 고 레이트(예를 들면 매 프레임)로 주기적으로 기입되는 모든 파라미터는 이를 기입하는데 요구되는 시간을 최소로 유지하기 위해 전용 레지스터(프레임 레지스터) 내에 함께 점유하는 것이 올바르다. 이러한 파라미터는 노출 시간, 이득, 증분적 오프셋 조절 및 연속한 고 품질 비디오를 유지하기 위해 필요한 임의의 다른 것들을 포함한다. 디지털 데이터-경로 로직이 앞서 기술된 바와 같이 칩 외부로 옮겨졌다면, 이러한 레지스터가 매 프레임 수정될 것이기 때문에 흑색 클램프 전압 조절 데이터 또한 이 레지스터에 점유된다. 구현예에서, 이 구성 국면 동안, 레지스터가 기입될 수 있고, 그러므로 프레임 레지스터의 타이밍은 전체 프레임 타이밍 에 관하여 카메라에 의해 주의깊게 제어되어야 한다.
파라미터 레지스터 그룹화의 다른 예는 아날로그 전류, 아날로그 전압, 화소 타이밍, 수직 타이밍, 센서 코맨드(리셋, 등), 등을 포함할 수도 있을 것이다. 도 9에서 특정한 최소-영역 센서 설계에 대해 레지스터의 배열이 도시되었다. "코맨드" 레지스터는 칩 리셋 및 그 밑에 도시된 다른 레지스터에 대한 로드와 같은 상위 레벨 이벤트-지향적 1-비트 코맨드를 위해 사용될 수 있다. 2-와이어 프로토콜 어드레스 디코더는 인입 2-와이어 프로토콜 데이터를 어느 시프트 레지스터에 보낼 것인지를 판단한다. 예를 들면, "포맷" 레지스터에 로드하기 위해서, 외부 제어기는 포맷 레지스터에 연관된 어드레스와 함께 코맨드를 보낸다. 이것은 데이터 스트림을 포맷-레지스터 시프트 레지스터에 넣는다. 이어, 데이터를 래치하기 위해서, 후속 코맨드는 특정 "로드 포맷" 비트를 셋하여 코맨드 레지스터에 보내질 수있다. 복수의 제어 레지스터가 사용될 수 있음을 알 것이다. 제어 레지스터는 시프트 레지스터를 통해 로드될 수 있는 디지털 래치일 수있다. 시프트 레지스터는 길이가 임의일 수 있다. 실시예에서, 대부분의 복수의 제어 레지스터는 수 십 비트를 포함하는 시프트 레지스터를 사용하여 로드될 수 있다. 실시예에서, 대부분의 복수의 제어 레지스터는 수 백 비트를 포함하는 시프트 레지스터를 사용하여 로드될 수 있다. 실시예에서, 대부분의 복수의 제어 레지스터는 수 천 비트를 포함하는 시프트 레지스터를 사용하여 로드될 수 있다. 실시예에서, 시프트 레지스터는 직렬, 2-와이어 프로토콜을 사용하여 로드될 수 있다. 실시예에서, 시프트 레지스터 중 하나는 예를 들면, 통합 시간 및 흑색 클램프 오프셋 조절과 같은 프레임간 파라미터 변경에 전용될 수 있다.
도 10은 센서가 내시경 유닛의 원단 단부에 포함될 수 있는 내시경 응용을 위한 최소-영역 센서의 실시예를 위한 전체 블록도 를 도시한 것이다.
도 11a 및 도 11b는 이미지 발명의 교시된 바 및 원리에 따라 3차원 이미지를 생성하기 위한 복수의 화소 어레이를 갖는 모노리식 센서(2900)의 구현의 사시도 및 측면도를 각각 도시한 것이다. 이러한 구현예는 3차원 이미지 캡처를 위해 바람직할 수 있는 것으로 두 화소 어레이(2902, 2904)는 사용 동안 오프셋될 수 있다. 또 다른 구현예에서, 제 1 화소 어레이(2902) 및 제 2 화소 어레이(2904)는 전자기 방사의 소정의 범위의 파장을 수신하는 것에 전용될 수 있고, 제 1 화소 어레이는 제 2 화소 어레이와는 상이한 범위의 파장에 전용된다.
도 12a 및 도 12b는 복수의 기판 상에 형성된 이미징 센서(3000)의 구현의 사시도 및 측면도를 각각 도시한 것이다. 도시된 바와 같이, 화소 어레이를 형성하는 복수의 화소 컬럼(3004)은 제 1 기판(3002) 상에 위치되고, 복수의 회로 컬럼(3008)은 제 2 기판(3006) 상에 위치된다. 또한 도면에는 이의 연관된 또는 대응하는 컬럼의 회로에 한 컬럼의 화소들 간에 전기적 연결 및 통신이 도시되었다. 일 구현예에서, 단일 모노리식 기판/칩 상에 자신의 화소 어레이 및 지원회로와 함께 제조되었을 이미지 센서는 모든 또는 대부분의 지원회로로부터 분리된 화소 어레이를 가질 수 있다. 발명은 3차원 적층 기술을 사용하여 함께 적층될 적어도 2개의 기판/칩을 사용할 수 있다. 두 기판/칩의 제 1(3002)은 이미지 CMOS 프로세스를 사용하여 처리될 수 있다. 제 1 기판/칩(3002)은 화소 어레이로만 혹은 제한된 회로에 의해 둘러싸인 화소 어레이로 구성될 수 있다. 제 2 또는 후속 기판/칩(3006)은 임의의 프로세스를 사용하여 처리될 수 있고, 이미지 CMOS 프로세스로부터 될 필요는 없다. 제 2 기판/칩(3006)은 기판/칩 상에 매우 제한된 공간 또는 영역 내에 다양한 다수의 기능을 통합하기 위해서 고밀도 디지털 프로세스, 혹은 예를 들면 정밀한 아날로그 기능을 통합하기 위해서 혼합-모드 또는 아날로그 프로세스, 혹은 무선 능력을 구현하기 위해서 RF 프로세스, 혹은 MEMS 장치를 통합하기 위해서 MEMS(마이크로-전기-기계 시스템)일 수 있는데, 그러나 이들로 제한되지 않는다. 이미지 CMOS 기판/칩(3002)은 임의의 3차원 기술을 사용하여 제 2 또는 후속 기판/칩(3006)과 적층될 수 있다. 제 2 기판/칩(3006)은 주변 회로로서 제 1 이미지 CMOS 칩(3002)(모노리식 기판/칩 상에 구현된다면) 내 구현되고 따라서 화소 어레이 크기를 일정하게 유지하고 가능한 최대 범위에 최적화되면서 전체 시스템 영역을 증가시켰을 수도 있었을 대부분, 혹은 대다수의 회로를 지원할 수 있다. 두 기판/칩 간에 전기적 연결은 와이어본딩, 범프 및/또는 TSV(Through Silcon Via)일 수 있는 상호연결(3003, 3005)을 통해 행해질 수 있다.
도 13a 및 도 13b는 3차원 이미지를 생성하기 위한 복수의 화소 어레이를 갖는 이미징 센서(3100)의 구현예의 사시도 및 측면도를 각각 도시한 것이다. 3차원 이미지 센서는 복수의 기판 상에 형성될 수 있고 복수의 화소 어레이 및 다른 연관된 회로를 포함할 수 있고, 제 1 화소 어레이를 형성하는 복수의 화소 컬럼(3104a) 및 제 2 화소 어레이를 형성하는 복수의 화소 컬럼(3104b)는 각각 각각의 기판(3102a, 3102b) 상에 위치되며 복수의 회로 컬럼(3108a, 3108b)는 별도의 기판(3106) 상에 위치된다. 또한, 회로의 연관된 혹은 대응하는 컬럼에 화소의 컬럼들 간에 전기적 연결 및 통신이 도시되었다.
발명의 교시된 바 및 원리는 발명의 범위 내에서 재사용가능 장치 플랫폼, 제한된 사용 장치 플랫폼, 재-포즈가능 사용 장치 플랫폼, 또는 단일-사용/처분가능 장치 플랫폼에서 사용될 수 있음을 알 것이다. 재사용가능 장치 플랫폼에서 최종-사용자는 장치의 세정 및 살균에 책임이 있음을 알 것이다. 제한된 사용 장치 플랫폼에서 장치는 동작불가해지기 전에 어떤 특정된 시간량 동안 사용될 수 있다. 전형적인 새로운 장치는 추가의 사용전에 추가의 사용이 최종-사용자가 세정 및 살균할 것을 요구함과 아울러 살균하여 전달된다. 재-포즈가능 사용 장치 플랫폼에서, 제 3자는 새로운 유닛보다 낮은 비용으로 추가의 사용을 위해 단일-사용 장치로 장치를 재처리(예를 들면, 세정, 패키징 및 살균)할 수 있다. 단일-사용/처분가능 장치 플랫폼에서, 장치는 작업실에서 살균하여 제공되고 처분되기 전에 1회만 사용된다.
폐쇄된 광 환경에서 사용하기 위한 내시경 장치는 손 유지 구조, 몸체의 제 1 단부에 루멘 기부에 의해 부착된 루멘, 몸체의 루멘 기부에 대향한 루멘의 선단 부분을 포함하는, 내시경 몸체; 선단 부분의 최 원단 부분에 배치된 렌즈; 루멘의 선단 부분 근방에 배치된 이미징 센서를 포함하고, 이미징 센서는 전자기 방사를 감지하기 위한 화소들의 어레이로서, 화소 어레이는 화소 어레이로부터 출력을 교정하기 위한 활성 화소 및 광학 흑색 화소를 가질 수 있고, 광학 흑색 화소는 화소 어레이 내 활성 화소에 인접하여 컬럼으로 구성될 수 있는 것인, 화소 어레이; 화소 어레이에 의해 발생된 데이터를 전송하기 위한 전송 포트; 아날로그 화소 샘플을 디지털 수로 변환하기 위한 디지타이저; 화소 어레이에 의해 발생된 데이터에 대해 오프셋 제어를 제공하기 위한 흑색 클램프 회로; 흑색 클램프 회로를 제어하기 위한 메모리 내 저장될 수 있는 프로세스; 이미징 센서와 내시경 몸체 내 이미징 센서에 원격에 배치될 수 있는 이미지 신호 처리 회로와 제어 유닛 간에 전기적 통신을 제공할 수 잇는 전기적 연결들을 포함할 수 있다.
주변 광 부족 환경에서 디지털 이미징을 위한 시스템의 실시예는 기 화소 어레이로부터 출력을 교정하기 위한 활성 화소 및 광학 흑색 화소를 가지며 광학 흑색 화소는 화소 어레이 내 활성 화소에 인접하여 컬럼으로 구성될 수 있는, 화소 어레이; 화소 어레이에 의해 발생된 데이터를 전송하기 위한 전송 포트; 아날로그 화소 샘플들을 디지털 수들로 변환하기 위한 디지타이저; 화소 어레이에 의해 발생된 데이터에 대한 오프셋 제어를 제공하기 위한 흑색 클램프 회로를 더 포함하는, 이미징 센서; 흑색 클램프 회로를 제어하기 위한 시스템의 메모리 내 저장될 수 있는 프로세스; 주변 광 부족 환경에 액세스하기 위한 내시경; 내시경에 부착된 핸드 피스로서, 내시경은 핸드 피스의 조작에 의해 조정되는, 핸드 피스; 프로세서를 포함하며, 이미징 센서와 전기적으로 통신하는 제어 유닛; 핸드 피스 및 제어 유닛을 전기적으로 연결하는 연결 케이블을 포함할 수 있다.
또한, 발명의 교시된 바 및 원리는 적외선(IR), 자외선(UV), 및 X-선과 같은 가시 및 비가시 스펙트럼을 포함한, 전자기 에너지의 임의의 및 모든 파장을 포함할 수 있다.
전술한 설명은 예시 및 설명의 목적으로 제시되었다. 발명을 철저히 하게 하거나 개시된 정밀한 형태로 발명을 제한하려는 것은 아닐 수 있다. 많은 수정 및 변형이 위에 교시된 바에 비추어 가능하다. 위에 언급된 대안적 구현예들 중 어느 것 또는 전부는 발명의 추가의 혼합된 구현들을 형성하기 위해 요망되는 임의의 조합으로 사용될 수 있음에 유의한다.
또한, 발명의 구체적 구현예가 기술되고 예시되었지만, 발명은 이와 같이 기술되고 부분들의 예시된 특정한 형태 또는 배열로 제한되는 것은 아닐 수 있다. 발명의 범위는 본원에 첨부된 청구항, 본원에서 그리고 다른 출원들에서 제출되는 임의의 미래에 청구항 및 이등의 등가물들에 의해 정의될 수 있다.
Claims (73)
- 폐쇄된 광 환경에서 사용하기 위한 내시경 장치에 있어서,
내시경 몸체로서, 손 유지 구조; 상기 몸체의 제 1 단부에 루멘 기부에 의해 부착된 루멘; 상기 몸체의 상기 루멘 기부에 대향한 상기 루멘의 선단 부분을 포함하는, 내시경 몸체;
상기 선단 부분의 최 원단 부분에 배치된 렌즈;
상기 루멘의 상기 선단 부분 근방에 배치된 이미징 센서를 포함하고, 상기 이미징 센서는
전자기 방사를 감지하기 위한 화소 어레이;
상기 화소 어레이에 의해 발생된 데이터를 전송하기 위한 전송 포트;
아날로그 화소 데이터를 디지털 데이터로 변환하기위한 디지타이저;
상기 화소 어레이에 의해 발생된 상기 데이터에 대해 오프셋 제어를 제공하기 위한 흑색 클램프 회로;
상기 이미징 센서와 상기 이미징 센서로부터 원격에 배치된 이미지 신호 처리 회로 간에 전기적 통신을 제공하는 전기적 연결들을 포함하고,
상기 화소 어레이는 활성 화소들 및 광학 흑색 화소들을 포함하고, 상기 광학 흑색 화소들은 복수의 컬럼들로 구성되며, 상기 화소 어레이 내에 상기 활성 화소들에 인접하여 어떠한 광학 흑색 행들도 포함하지 않는, 내시경 장치. - 제 1 항에 있어서, 긴 레지스터를 더 포함하고, 상기 긴 레지스터는 상기 화소 어레이의 노출 시간들 및 상기 화소 어레이의 이득을 제어하기 위한 파라미터들을 포함하는, 내시경 장치.
- 제 1 항에 있어서, 상기 화소 어레이의 증분적 오프셋 조절 또는 상기 화소 어레이의 노출 시간들을 제어하기 위한 파라미터들을 포함하는 긴 레지스터를 더 포함하는, 내시경 장치.
- 제 1 항에 있어서, 상기 화소 어레이의 증분적 오프셋 조절 또는 상기 화소 어레이의 이득을 제어하기 위한 파라미터들을 포함하는 긴 레지스터를 더 포함하는, 내시경 장치.
- 제 1 항에 있어서, 상기 화소 어레이의 노출 시간들 또는 상기 화소 어레이의 이득들 및 증분적 오프셋 조절들을 제어하기 위한 파라미터들을 포함하는 긴 레지스터를 더 포함하는, 내시경 장치.
- 제 1 항에 있어서, 상기 화소 어레이의 증분적 오프셋 조절 및 상기 화소 어레이의 노출 시간들을 제어하기 위한 파라미터들을 포함하는 긴 레지스터를 더 포함하는, 내시경 장치.
- 제 1 항에 있어서, 아날로그 전류, 아날로그 전압, 화소 타이밍, 수직 타이밍, 센서 리셋 및 센서 초기화 중 어느 것을 조절함으로써 화소 어레이의 동작을 제어하기 위한 복수의 파라미터들을 포함하는 긴 레지스터를 더 포함하는, 내시경 장치.
- 제 1 항에 있어서, 상기 활성 화소들 및 상기 광학 흑색 화소들은 상기 화소 어레이로부터의 출력을 교정하는, 내시경 장치.
- 제 1 항에 있어서, 상기 광학 흑색 화소들은 상기 화소 어레이 내에 상기 활성 화소들에 인접하여 컬럼들로 구성되는, 내시경 장치.
- 제 1 항에 있어서, 상기 이미징 센서는 단일의 디지타이저를 포함하는, 내시경 장치.
- 제 1 항에 있어서, 상기 이미징 센서는 복수의 디지타이저들을 포함하는, 내시경 장치.
- 제 1 항에 있어서, 상기 이미징 센서는 단일의 출력 포트를 포함하는, 내시경 장치.
- 제 1 항에 있어서, 상기 이미징 센서는 복수의 출력 포트들을 포함하는, 내시경 장치.
- 제 9 항에 있어서, 광학 흑색 화소들의 상기 컬럼들은 광학 흑색 컬럼들의 수를 감소시키기 위해 복수회 샘플링되는, 내시경 장치.
- 제 1 항에 있어서, 상기 광학 흑색 화소들은 상기 화소 어레이 내에 상기 활성 화소들에 인접하여 컬럼들로 구성되고, 광학 흑색 화소들의 상기 컬럼들은 상기 이미징 센서의 우측 및 좌측 상에 구성되는, 내시경 장치.
- 제 15 항에 있어서, 상기 이미징 센서의 상기 우측 상에 상기 광학 흑색 컬럼들 중 하나는 복수회 샘플링되는, 내시경 장치.
- 제 15 항에 있어서, 상기 이미징 센서의 상기 좌측 상에 상기 광학 흑색 컬럼들 중 하나는 복수회 샘플링되는, 내시경 장치.
- 제 15 항에 있어서, 상기 이미징 센서의 상기 우측 상에 상기 광학 흑색 컬럼들 중 하나는 복수회 샘플링되고, 상기 이미징 센서의 상기 좌측 상에 상기 광학 흑색 컬럼들 중 하나는 복수회 샘플링되는, 내시경 장치.
- 제 15 항에 있어서, 상기 이미징 센서의 상기 우측 상에 복수의 상기 광학 흑색 컬럼들은 복수회 샘플링되는, 내시경 장치.
- 제 15 항에 있어서, 상기 이미징 센서의 상기 좌측 상에 복수의 상기 광학 흑색 컬럼들은 복수회 샘플링되는, 내시경 장치.
- 제 15 항에 있어서, 상기 이미징 센서의 상기 우측 상에 복수의 상기 광학 흑색 컬럼들은 복수회 샘플링되고, 상기 이미징 센서의 상기 좌측 상에 복수의 상기 광학 흑색 컬럼들은 복수회 샘플링되는, 내시경 장치.
- 제 1 항에 있어서, 상기 흑색 클램프 회로는 상기 이미징 센서에 관하여 원격에 위치된, 내시경 장치.
- 제 22 항에 있어서, 상기 장치는 상기 흑색 클램프 회로를 제어하기 위해 코맨드 인터페이스를 더 포함하는, 내시경 장치.
- 제 1 항에 있어서, 상기 흑색 클램프 회로는 디지털-아날로그 변환기에 의해 발생되는 전압을 감지하는, 내시경 장치.
- 제 1 항에 있어서, 상기 흑색 클램프 회로는 충전 펌프에 의해 발생되는 전압을 감지하는, 내시경 장치.
- 제 1 항에 있어서, 상기 이미징 센서 정정들의 부분은 상기 이미징 센서에 관하여 원격에 위치된, 내시경 장치.
- 제 1 항에 있어서, 모든 상기 이미징 센서 정정들은 상기 이미징 센서에 관하여 원격에 위치된, 내시경 장치.
- 제 1 항에 있어서, 복수의 제어 레지스터들을 더 포함하고, 상기 제어 레지스터들은 시프트 레지스터들을 통해 로드되는 디지털 래치들인, 내시경 장치.
- 제 28 항에 있어서, 상기 시프트 레지스터들은 길이가 임의인, 내시경 장치.
- 제 28 항에 있어서, 대부분의 상기 복수의 제어 레지스터들은 수 십 비트를 포함하는 시프트 레지스터들을 사용하여 로드되는, 내시경 장치.
- 제 28 항에 있어서, 대부분의 상기 복수의 제어 레지스터들은 수 백 비트를 포함하는 시프트 레지스터들을 사용하여 로드되는, 내시경 장치.
- 제 28 항에 있어서, 대부분의 상기 복수의 제어 레지스터들은 수 천 비트를 포함하는 시프트 레지스터들을 사용하여 로드되는, 내시경 장치.
- 제 28 항에 있어서, 상기 시프트 레지스터들은 직렬, 2-와이어 프로토콜을 사용하여 로드되는, 내시경 장치.
- 제 28 항에 있어서, 상기 시프트 레지스터들 중 하나는 프레임간 파라미터 변경들에 전용되는, 내시경 장치.
- 제 1 항에 있어서, 상기 이미징 센서는 복수의 화소 어레이들을 포함하고, 상기 복수의 화소 어레이들은 3차원 이미지를 생성하기 위해 사용되는, 내시경 장치.
- 제 1 항에 있어서, 상기 이미징 센서는 상기 화소 어레이를 포함하는 제 1 기판 및 상기 화소 어레이를 위한 지원회로를 포함하는 제 2 기판을 더 포함하고, 상기 지원회로를 포함하는 상기 제 2 기판은 상기 화소 어레이를 포함하는 상기 제 1 기판으로부터 원격에 위치된, 내시경 장치.
- 제 36 항에 있어서, 상기 제 1 기판은 상기 제 2 기판에 관하여 수직으로 정렬된, 내시경 장치.
- 제 1 항에 있어서, 상기 광학 흑색 화소들은 상기 화소 어레이 내에 상기 활성 화소들에 인접하여 컬럼들로 구성되고, 광학 흑색 화소들의 상기 컬럼들은 라인 오프셋들을 계산하기 위해 복수회 샘플링되는, 내시경 장치.
- 제 1 항에 있어서, 상기 광학 흑색 화소들은 상기 화소 어레이 내에 상기 활성 화소들에 인접하여 복수의 컬럼들 및 복수의 행들로 구성되는, 내시경 장치.
- 제 39 항에 있어서, 대부분의 상기 광학 흑색 행들은 소수의 상기 광학 흑색 행들만이 기능하게, 상기 화소 어레이에서 제거된, 내시경 장치.
- 삭제
- 제 1 항에 있어서, 상기 광학 흑색 화소들은 상기 화소 어레이 내에 상기 활성 화소들에 인접하여 복수의 컬럼들로 구성되고, 상기 복수의 컬럼들은 상기 흑색 클램프 회로 를 위한 베이스라인 흑색 레벨 및 이미지 신호 프로세서에 의해 수행되는 흑색 클램프 계산들을 계산하기 위해 사용되는, 내시경 장치.
- 제 42 항에 있어서, 상기 흑색 클램프 계산들은 상기 디지타이저에 앞서 전압 오프셋을 제어하기 위해 사용되고, 단순 지수함수적 스무딩(SES)을 사용하여 데이터의 전체 프레임 내에 전체 오프셋을 판정하기 위해 복수의 라인 오프셋들을 사용하는, 내시경 장치.
- 제 1 항에 있어서, 상기 장치는 상기 이미징 센서에 의해 발생된 고정된 패턴 노이즈를 보상하기 위해 메모리 내 저장된 2차원 프레임 데이터를 더 포함하는, 내시경 장치.
- 제 44 항에 있어서, 상기 2차원 프레임 데이터는 암 프레임 캡처로부터 도출되는, 내시경 장치.
- 제 45 항에 있어서, 상기 암 프레임 캡처는 광 방출기가 펄싱하지 않음으로써 용이해지는, 내시경 장치.
- 제 45 항에 있어서, 상기 오프셋은 상기 암 프레임 캡처를 위해 단순 지수함수적 스무딩 에 의해 계산되는, 내시경 장치.
- 주변 광 부족 환경에서 디지털 이미징을 위한 시스템에 있어서,
전자기 방사를 감지하기 위한 이미징 센서로서, 상기 이미징 센서는
전자기 방사를 감지하기 위한 화소 어레이;
상기 화소 어레이에 의해 발생된 데이터를 전송하기 위한 전송 포트;
아날로그 화소 샘플들을 디지털 수들로 변환하기 위한 디지타이저;
상기 화소 어레이에 의해 발생된 상기 데이터에 대한 오프셋 제어를 제공하기 위한 흑색 클램프 회로를 포함하는, 이미징 센서;
상기 주변 광 부족 환경에 액세스하기 위한 내시경;
상기 내시경에 부착된 핸드 피스로서, 상기 내시경은 상기 핸드 피스의 조작에 의해 조정되는, 상기 핸드 피스;
프로세서를 포함하며, 상기 이미징 센서와 전기적으로 통신하는 제어 유닛;
상기 핸드 피스 및 상기 제어 유닛을 전기적으로 연결하는 연결 케이블을 포함하고,
상기 화소 어레이는 활성 화소들 및 광학 흑색 화소들을 포함하고, 상기 광학 흑색 화소들은 복수의 컬럼들로 구성되며, 상기 화소 어레이 내에 상기 활성 화소들에 인접하여 어떠한 광학 흑색 행들도 포함하지 않는, 디지털 이미징 시스템. - 제 48 항에 있어서, 상기 화소 어레이는 활성 화소들 및 상기 화소 어레이로부터 출력을 교정하기 위한 광학 흑색 화소들을 포함하는, 디지털 이미징 시스템.
- 제 49 항에 있어서, 상기 광학 흑색 화소들은 상기 화소 어레이 내에 활성 화소들에 인접하여 컬럼들로 구성되는, 디지털 이미징 시스템.
- 제 48 항에 있어서, 상기 화소 어레이로부터 원격에 위치될 수 있는 흑색 클램프 제어 프로세스를 더 포함하는, 디지털 이미징 시스템.
- 제 48 항에 있어서, 상기 화소 어레이에 의해 생성될 수 있는 이미지 데이터를 처리하기 위한 프로그램가능 게이트 어레이를 더 포함하는, 디지털 이미징 시스템.
- 제 48 항에 있어서, 광학 흑색 화소 컬럼들이 정밀도를 제공하기 위해 상기 시스템의 동작 내에서 재샘플링될 수 있게 수가 50 미만으로 상기 광학 흑색 화소 컬럼들을 더 포함하는, 디지털 이미징 시스템.
- 제 49 항에 있어서, 상기 활성 화소 컬럼들의 서로 대향하는 양측에 똑같이 배치된 광학 흑색 화소 컬럼들을 더 포함하는, 디지털 이미징 시스템.
- 제 49 항에 있어서, 상기 활성 화소 컬럼들의 서로 대향하는 양측에 불균일하게 배치된 광학 흑색 화소 컬럼들을 더 포함하는, 디지털 이미징 시스템.
- 제 49 항에 있어서, 광학적으로 흑색 화소에 의해 수신된 상기 데이터를 평균하고 상기 평균들을 상기 시스템 내에 메모리 내 저장된 소정의 표적값에 비교하는 흑색 클램프 제어 프로세스를 더 포함하는, 디지털 이미징 시스템.
- 제 48 항에 있어서, 전체 한 프레임에 대해 한 세트의 측정된 비정정된 라인 오프셋들을 축적하기 위한 메모리를 더 포함하는, 디지털 이미징 시스템.
- 제 48 항에 있어서, 암 전류를 보상하기 위해 전압을 제어하기 위한 디지털-아날로그 변환 회로를 더 포함하는, 디지털 이미징 시스템.
- 제 48 항에 있어서, 암 전류를 보상하기 위해 전압을 제어하기 위한 충전 펌프 회로를 더 포함하는, 디지털 이미징 시스템.
- 제 48 항에 있어서, 복수의 레지스터들을 더 포함하는, 디지털 이미징 시스템.
- 제 48 항에 있어서, 상위 레벨 이벤트 1-비트 코맨드들을 위해 사용되는 코맨드 레지스터를 더 포함하는, 디지털 이미징 시스템.
- 제 48 항에 있어서, 상기 이미징 센서는 상기 핸드 피스에 관하여 상기 내시경 내에 이의 원단 부분에 배치된, 디지털 이미징 시스템.
- 제 48 항에 있어서, 상기 이미징 센서는 상기 핸드 피스 내에 배치된, 디지털 이미징 시스템.
- 제 48 항에 있어서, 상기 내시경의 선단에 전자기 방사를 펄싱하기 위한 광 방출기를 더 포함하는, 디지털 이미징 시스템.
- 제 48 항에 있어서, 광 방출기에서 상기 내시경으로 전자기 방사를 전송하기 위한 광 섬유 및 상기 제어 유닛에서 상기 이미징 센서로 전자 통신을 제공하기 위한 전기적 도전성 와이어들을 포함하는, 케이블을 더 포함하는, 디지털 이미징 시스템.
- 제 48 항에 있어서, 상기 제어 유닛 내에 배치되고 광 방출기 및 상기 이미징 센서와 전기적으로 통신하는 제어기를 더 포함하는, 디지털 이미징 시스템.
- 제 48 항에 있어서, 상기 이미징 센서는 상기 핸드 피스 내에 배치되고 광 방출기 및 상기 이미징 센서와 전기적으로 통신하는, 디지털 이미징 시스템.
- 제 48 항에 있어서, 상기 이미징 센서는 광 방출기에 결합되는, 디지털 이미징 시스템.
- 제 48 항에 있어서, 각 라인 내 한 세트의 광학 흑색 화소들을 사용하여 측정된 라인 평균들을 감함으로써 라인-노이즈를 정정하기 위한 원격에서 처리되는 알고리즘을 더 포함하는, 디지털 이미징 시스템.
- 제 48 항에 있어서, 화소 데이터를 전송하기 위한 복수의 전송 포트들을 더 포함하는, 디지털 이미징 시스템.
- 제 48 항에 있어서, 복수의 디지타이저들을 더 포함하는, 디지털 이미징 시스템.
- 제 48 항에 있어서, 상기 화소 어레이에 관하여 원격에 위치된 디지타이저들을 더 포함하는, 디지털 이미징 시스템.
- 제 61 항에 있어서, 상기 상위 레벨 이벤트 1-비트 코맨드들은 칩 리셋들 또는 다른 레지스터들에 대한 로드들인, 디지털 이미징 시스템.
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