KR100886177B1 - 기판들의 열처리방법 및 장치 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (23)
- 반도체웨이퍼들과 같은, 평평한 일련의 기판들의 연속한 열처리방법에 있어서,기판에 면하는 평평한 경계면을 갖는 열체는 인접하고 실질적으로 평행하게 위치되고,상기 열체에서의 온도는, 경계면과 가까운 위치에서 측정되어, 기판이 소정의 위치에 위치된 후에 기판에 의한 열체의 열방출은 상기 위치에서 측정되고,상기 각 기판들은, 상기 위치에서 측정된 온도가 소망의 온도에 도달한 후에만 상기 열체의 부근에, 열체에 인접하게 배치되고; 및다량의 열이 상기 열체에 공급되어 일련의 기판들의 연속한 열처리 중에 상기 위치에서 측정된 온도는 실질적으로 일정한 평균값을 가지며,상기 각 기판들은 상기 위치에서 측정된 온도가 다시 소망의 온도에 도달하기 전에 상기 열체로부터 제거되는 연속열처리방법.
- 제1항에 있어서, 상기 소망의 온도는, 초기처리온도(Ttrig)가 정해짐으로써 일정한 값을 갖는 연속열처리방법.
- 제1항에 있어서, 상기 소망의 온도는, 상기 열체의 부근에 또는 열체에 인접 하게 상기 기판을 위치시키는 데 필요한 시간(tload)동안 상기 위치에서 측정된 온도, 상기 기판이 상기 열체의 부근 또는 열체에 인접하게 남아있는 중에 열처리가 수행되는 시간(tprocess)동안 상기 위치에서 측정된 온도, 또는 상기 두 시간을 합한 시간동안 상기 위치에서 측정된 온도로 외삽하여 결정되는 연속열처리방법.
- 제3항에 있어서, 상기 측정된 온도는, 상기 시간(tload)으로 외삽 후 소망의 일정한 값을 갖는 연속열처리방법.
- 제3항에 있어서, 상기 측정된 온도는, 수행될 열처리의 상기 시간(tprocess)으로 외삽 및 평균낸 후 소망의 일정한 값을 갖는 연속열처리방법.
- 제3항에 있어서, 상기 측정된 온도는, 상기 시간(tload+tprocess)으로 외삽 및 시간(tload, tload+tprocess)으로 평균낸 후 소망의 일정한 값을 갖는 연속열처리방법.
- 제3항 내지 제6항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 외삽은 선형외삽인 연속열처리방법.
- 제1항 내지 제6항 중 어느 한 항에 있어서, 외삽의 시작점으로서 취해진 시간은 외삽이 완성된 시간과 같은 크기인 연속열처리방법.
- 제1항 내지 제6항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 열체의 온도가 측정되는 특정 위치는 상기 평평한 표면으로부터 5㎜ 이하의 거리 떨어진 곳인 연속열처리방법.
- 제1항 내지 제6항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 열체의 온도가 측정되는 특정 위치는 상기 평평한 표면으로부터 2㎜ 이하의 거리 떨어진 곳인 연속열처리방법.
- 제1항 내지 제6항 중 어느 한 항에 있어서, 일정 양의 열이 상기 열체에 공급되고, 기판들의 처리 중에 공급된 열은 정지 중 보다 높은 값으로 설정되는 연속열처리방법.
- 제1항 내지 제6항 중 어느 한 항에 있어서, 기판들의 처리 중에 열체에 공급되는 열은 열체의 온도의 일정값(T1)에 따라 제어되는 연속열처리방법.
- 제12항에 있어서, 초기처리온도(Ttrig)는 기판처리 중에 상기 열체의 온도값(T1)과 같은 연속열처리방법.
- 제12항에 있어서, 기판처리 시작 전에 초기처리온도(Ttrig)는 열체의 온도값(T0)보다는 높으나, 기판처리 중에는 열체의 소망의 온도(T1)보다 낮은 연속열처리방법.
- 제1항 내지 제6항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 열체의 온도는 상기 평평한 표면으로부터 소정의 거리 떨어진 두 위치들에서 측정되고, 열은 종속원칙에 따른 제어를 사용하여 공급되고,상기 위치들 중 하나에서의 온도측정은 초기처리온도의 측정과 동시에 일어나는 연속열처리방법.
- 제1항 내지 제6항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 기판이 열체의 부근으로부터 제거된 후에, 기판은 냉각체 부근에 위치되는 연속열처리방법.
- 제1항 내지 제6항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 기판은, 서로 마주보고 위치되며, 각각이 개별가열수단이 마련된 제1 및 제2열체의 평평한 표면들 사이에 배열되고,상기 제2열체의 온도는, 기판에 의한 열체로부터의 열방출이 검출되도록 상기 제2열체의 상기 평평한 표면으로부터 이격된 위치에서 측정되고,상기 제2열체의 부근에 각 기판을 위치시키는 것은 제1열체의 부근에 각 기판을 위치시키는 때와 동일한 때에 일어나고,이 때에 이런 방식으로 측정된 제2열체의 온도는 일정한 범위내이고, 소망의 초기처리온도(Ttrig)와 동일한 연속열처리방법.
- 일련의 기판들의 열처리용 장치에 있어서,평평한 표면을 갖고 상기 표면에 인접한 상기 기판을 수납하는 열체,상기 열체를 가열하는 제어성 가열수단,제어수단,기판에 의해 열체로부터의 열방출이 검출되도록 상기 열체내의 상기 평평한 표면 가까이에 배열되는 적어도 하나의 온도감지기, 및상기 열체에 인접한 부근에 상기 평평한 표면에 가까이 기판들을 위치시키고, 이 위치로부터 기판들을 제거하는 운반수단을 포함하고,상기 가열수단들은 상기 제어수단에 연결되고, 상기 온도감지기는 제어수단에 연결되고, 상기 운반수단은 상기 제어수단에 연결되고,제어수단들은, 상기 온도감지기에 의해 측정된 온도를 시간간격으로 외삽하는 외삽소프트웨어가 마련된 디지털제어수단을 포함하고,상기 제어수단은, 상기 열체의 부근에 상기 각 기판들을 위치시키는 것이, 상기 시간간격으로 외삽된 온도가 소망의 온도값에 도달하기만 하면 발생할 수 있 는 기판들의 열처리장치.
- 제18항에 있어서, 상기 적어도 하나의 온도감지기는 상기 평평한 표면으로부터 5㎜ 이하의 거리 떨어진 열체내에 배치되는 기판들의 열처리장치.
- 제19항에 있어서, 상기 적어도 하나의 온도감지기는 상기 평평한 표면으로부터 2㎜ 이하의 거리 떨어진 열체내에 배치되는 기판들의 열처리장치.
- 제18항 내지 제20항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 제어수단들은, 상기 운반수단을 제어하는 로우레벨제어수단 및 하이레벨제어수단을 포함하고,상기 하이레벨 및 상기 로우레벨제어수단은 하이레벨제어수단에 의한 상기 로우레벨제어수단으로 시작신호의 발생 후에, 상기 로우레벨제어수단은 운송사단을 소정의 패턴에 따른 복수의 동작들을 수행하게 하도록 배열되고,상기 하이레벨제어수단은 상기 복수의 동작들 중 하나의 수행 중에 입력신호들에 기초하여 불안한 상황들을 모니터링 하도록 배열되고, 불안한 상황들이 발생하면 인터럽트신호를 상기 로우레벨제어수단에 보내도록 배열되는 기판들의 열처리장치.
- 제18항 내지 제20항 중 어느 한 항에 있어서, 표면에 가까이 기판을 수납하기 위한 제2평평한 표면을 갖는 제2열체를 포함하고,상기 열체 및 상기 제2열체는, 상기 평평한 표면과 상기 제2평평한 표면이 서로 평행하도록 서로에 대하여 상대적으로 움직일 수 있게, 그리고 상기 열체 및 상기 제2열체 사이에 상기 기판의 받아들이고 떼어놓기 위하여 서로로부터 서로를 향하여 상대적으로 움직일 수 있게 배열되고,상기 제2열체는, 상기 제2열체를 가열하기 위한 제어성 제2가열수단 및,기판에 의해 열체로부터의 열방출이 검출되도록 상기 열체내의 상기 평평한 표면 가까이에 배열되는 적어도 하나의 온도감지기가 마련되고,상기 제2가열수단은 상기 제어수단에 연결되고,상기 제어수단은, 상기 열체 및 제2열체의 부근에 상기 각 기판들을 위치시키는 것이, 상기 온도감지기에 의해 측정되고 상기 시간간격으로 외삽된 온도가 소망의 온도값에 도달하기만 하면 발생할 수 있는 기판들의 열처리장치.
- 제18항 내지 제20항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 기판을 수납하는 냉각챔버를 갖는 냉각체가 마련되고,상기 냉각체는, 열체의 부근에 기판을 위치시키는 운반수단의 운반방향에 연장되게 배열되는 기판들의 열처리장치.
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