JPS638650A - 電子写真感光体 - Google Patents
電子写真感光体Info
- Publication number
- JPS638650A JPS638650A JP15215086A JP15215086A JPS638650A JP S638650 A JPS638650 A JP S638650A JP 15215086 A JP15215086 A JP 15215086A JP 15215086 A JP15215086 A JP 15215086A JP S638650 A JPS638650 A JP S638650A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- carrier
- layer
- gas
- film
- transport layer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims abstract description 19
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims abstract description 14
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 12
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims abstract description 11
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 claims abstract description 9
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 claims abstract description 9
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 6
- 238000000862 absorption spectrum Methods 0.000 claims abstract description 5
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims abstract description 5
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 4
- LEVVHYCKPQWKOP-UHFFFAOYSA-N [Si].[Ge] Chemical compound [Si].[Ge] LEVVHYCKPQWKOP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 3
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract 2
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract 2
- 108091008695 photoreceptors Proteins 0.000 claims description 44
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 abstract description 16
- 229910000577 Silicon-germanium Inorganic materials 0.000 abstract description 3
- 238000010030 laminating Methods 0.000 abstract 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 68
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 39
- 239000010408 film Substances 0.000 description 37
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 12
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 12
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 12
- 206010034972 Photosensitivity reaction Diseases 0.000 description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 description 10
- 230000036211 photosensitivity Effects 0.000 description 10
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 9
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 9
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 8
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 7
- 239000000463 material Substances 0.000 description 6
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 6
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 5
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 5
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 5
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 4
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 4
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 3
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 3
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 3
- CMSGUKVDXXTJDQ-UHFFFAOYSA-N 4-(2-naphthalen-1-ylethylamino)-4-oxobutanoic acid Chemical compound C1=CC=C2C(CCNC(=O)CCC(=O)O)=CC=CC2=C1 CMSGUKVDXXTJDQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 2
- 238000011161 development Methods 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 2
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 2
- 239000009719 polyimide resin Substances 0.000 description 2
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 2
- 238000013441 quality evaluation Methods 0.000 description 2
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N Silane Chemical compound [SiH4] BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052787 antimony Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052785 arsenic Inorganic materials 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012159 carrier gas Substances 0.000 description 1
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 1
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 230000014759 maintenance of location Effects 0.000 description 1
- 230000003446 memory effect Effects 0.000 description 1
- 238000013508 migration Methods 0.000 description 1
- 230000005012 migration Effects 0.000 description 1
- 229910021421 monocrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005546 reactive sputtering Methods 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000013020 steam cleaning Methods 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 238000004506 ultrasonic cleaning Methods 0.000 description 1
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03G—ELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
- G03G5/00—Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
- G03G5/02—Charge-receiving layers
- G03G5/04—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
- G03G5/08—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
- G03G5/082—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
- G03G5/08214—Silicon-based
- G03G5/08221—Silicon-based comprising one or two silicon based layers
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は半導体レーザーを用いたレーザービームプリン
ターに適すると共に帯電能を向上させることによって高
速複写を可能とした電子写真感光体に関するものである
。
ターに適すると共に帯電能を向上させることによって高
速複写を可能とした電子写真感光体に関するものである
。
近年、電子写真感光体の進歩は目覚ましく、超高速複写
機やレーザービームプリンターなどの開発が活発に進め
られており、これらの機器に用いられる感光体は長期間
高速で使用されるため、動作の安定性及び耐久性が要求
されている。この要求に対して水素化アモルファスシリ
コンが耐熱性、耐摩耗性、無公害性並びに光感度特性等
に優れているという理由から注目されている。
機やレーザービームプリンターなどの開発が活発に進め
られており、これらの機器に用いられる感光体は長期間
高速で使用されるため、動作の安定性及び耐久性が要求
されている。この要求に対して水素化アモルファスシリ
コンが耐熱性、耐摩耗性、無公害性並びに光感度特性等
に優れているという理由から注目されている。
また、高速印字ができるレーザービームプリンターの開
発輪伴ってそのレーザー光源に小型且つ高信頼性の半導
体レーザーが用いられるようになってきたが、このプリ
ンターにアモルファスシリコン(以下、a−Siと略す
)感光体を搭載した場合、このレーザー光の発振波長が
近赤外付近にあるためその受光側にあるa−5i悪感光
の光感度特性が劣るという問題がある。この問題を解決
するために感光体のa−Stキャリア発生層にGeを適
当量ドーピングしてこの層の光感度領域を長波長側へ移
行させることが提案されているが、これに伴って表面電
位が小さくなるという問題がおきていた。
発輪伴ってそのレーザー光源に小型且つ高信頼性の半導
体レーザーが用いられるようになってきたが、このプリ
ンターにアモルファスシリコン(以下、a−Siと略す
)感光体を搭載した場合、このレーザー光の発振波長が
近赤外付近にあるためその受光側にあるa−5i悪感光
の光感度特性が劣るという問題がある。この問題を解決
するために感光体のa−Stキャリア発生層にGeを適
当量ドーピングしてこの層の光感度領域を長波長側へ移
行させることが提案されているが、これに伴って表面電
位が小さくなるという問題がおきていた。
このような問題を解決するために第1図に示すような機
能分離型感光体が特開昭58−192044号公報に提
案されている。
能分離型感光体が特開昭58−192044号公報に提
案されている。
即ち、第1図によれば、導電性基板(1)の上に水素化
アモルファスシリコンカーバイドから成るキャリア輸送
層(2)、アモルファスシリコンゲルマニウム(以下、
a−5iGeと略す)から成るキャリア発生層(3)及
び表面保護N(4)が順次形成された積層体が提案さて
おり、そして、このキャリア輸送層(2)には暗抵抗率
及びキャリア移動度の大きい材料と成り得る水素化アモ
ルファスシリコンカーバイド(以下、a−3iC:Hと
略す)により形成しており、これによって表面電位及び
光感度に優れ且つ残留電位が小さくなることをねらって
いる。
アモルファスシリコンカーバイドから成るキャリア輸送
層(2)、アモルファスシリコンゲルマニウム(以下、
a−5iGeと略す)から成るキャリア発生層(3)及
び表面保護N(4)が順次形成された積層体が提案さて
おり、そして、このキャリア輸送層(2)には暗抵抗率
及びキャリア移動度の大きい材料と成り得る水素化アモ
ルファスシリコンカーバイド(以下、a−3iC:Hと
略す)により形成しており、これによって表面電位及び
光感度に優れ且つ残留電位が小さくなることをねらって
いる。
しかしながら、この公報に示されたa−SiC:Hキャ
リア輸送層を形成するに当たっては、例えばグロー放電
分解法を用いる場合、反応圧力、高周波電力などの様々
な放電条件、原料ガスの種類、ガス流量等々に起因して
安定した特性をもつ高品質なa−3iC:)I膜を形成
するのが難しく、且つ、この膜自体水素化アモルファス
シリコン(以下、a−5i:Itと略す)膜に比べてダ
ングリングボンドが生成し易い傾向にあり、これにより
、目安として10”Ω・cm以上の高暗抵抗率を有する
と共に高いキャリア移動度をもつa−5iC:H膜を得
るのが難かしくなっており、その結果、この感光体を高
速複写用に用いた場合には光メモリ効果により先の画像
が完全に除去されずに残留し、次の画像形成に伴って先
の画像が再び現れている(これはゴースト現象と呼ばれ
ている)。
リア輸送層を形成するに当たっては、例えばグロー放電
分解法を用いる場合、反応圧力、高周波電力などの様々
な放電条件、原料ガスの種類、ガス流量等々に起因して
安定した特性をもつ高品質なa−3iC:)I膜を形成
するのが難しく、且つ、この膜自体水素化アモルファス
シリコン(以下、a−5i:Itと略す)膜に比べてダ
ングリングボンドが生成し易い傾向にあり、これにより
、目安として10”Ω・cm以上の高暗抵抗率を有する
と共に高いキャリア移動度をもつa−5iC:H膜を得
るのが難かしくなっており、その結果、この感光体を高
速複写用に用いた場合には光メモリ効果により先の画像
が完全に除去されずに残留し、次の画像形成に伴って先
の画像が再び現れている(これはゴースト現象と呼ばれ
ている)。
更にこのa−5iC:H膜を再現性よく安定した条件に
よって形成するために、暗抵抗率及びキャリア移動度の
両者の特性に共通してその特性評価ができる検知手段が
望まれている。
よって形成するために、暗抵抗率及びキャリア移動度の
両者の特性に共通してその特性評価ができる検知手段が
望まれている。
従って本発明は上記事情に鑑みて完成されたものであり
、その目的はa−SiC:Hキャリア輸送層の暗抵抗率
及びキャリア移動度を向上させ、これにより、大きな帯
電能をもつ電子写真感光体を提供することにある。
、その目的はa−SiC:Hキャリア輸送層の暗抵抗率
及びキャリア移動度を向上させ、これにより、大きな帯
電能をもつ電子写真感光体を提供することにある。
本発明の他の目的は高速複写及び高速印字ができる半導
体レーザービームプリンター用の電子写真感光体を提供
することにある。
体レーザービームプリンター用の電子写真感光体を提供
することにある。
本発明の更に他の目的はa−SiC:Hキャリア輸送層
を製作するに当たってその製造条件の設定が容易である
と共に再現性及び安定性に優れた電子写真感光体を提供
することにある。
を製作するに当たってその製造条件の設定が容易である
と共に再現性及び安定性に優れた電子写真感光体を提供
することにある。
本発明によれば、基板上に少なくともキャリア輸送層及
びキャリア発生層を形成して成る積層体であって、前記
キャリア発生層がa−SiGeから成ると共にSiとG
eの原子組成比が1:1乃至19:1の範囲にあり、前
記キャリア輸送層がa−SiC:Hから成ると共にCと
Siの原子組成比がl:9乃至9:lの範囲内にあり且
つ赤外線吸収スペクトルにおける2860cm−’の吸
収係数が1000以下であると共に2090cm−’の
吸収係数が1000以上であることを特徴とする電子写
真感光体が提供される。
びキャリア発生層を形成して成る積層体であって、前記
キャリア発生層がa−SiGeから成ると共にSiとG
eの原子組成比が1:1乃至19:1の範囲にあり、前
記キャリア輸送層がa−SiC:Hから成ると共にCと
Siの原子組成比がl:9乃至9:lの範囲内にあり且
つ赤外線吸収スペクトルにおける2860cm−’の吸
収係数が1000以下であると共に2090cm−’の
吸収係数が1000以上であることを特徴とする電子写
真感光体が提供される。
以下、本発明の詳細な説明する。
本発明の典型的な電子写真感光体には第2図に示す通り
基板(1)上にキャリア注入阻止層(5)、キャリア輸
送層(2)、キャリア発生層(3)及び表面保護層(4
)を順次積層した積層体、或いは第1図に示す通り、第
2図に示した積層体よりキャリア注入阻止N(5)を除
いた積層体があり、また、これらの積層体に対してキャ
リア輸送層(2)とキャリア発生層(3)の積層順序を
変えた積層体がある。
基板(1)上にキャリア注入阻止層(5)、キャリア輸
送層(2)、キャリア発生層(3)及び表面保護層(4
)を順次積層した積層体、或いは第1図に示す通り、第
2図に示した積層体よりキャリア注入阻止N(5)を除
いた積層体があり、また、これらの積層体に対してキャ
リア輸送層(2)とキャリア発生層(3)の積層順序を
変えた積層体がある。
本発明によれば、機能分離型感光体に用いられるキャリ
ア輸送層(2)にa−SiC:H膜を用いると共にキャ
リア発生層(3)にa−5iGe膜を用いてこれらの層
に種々の条件を設定することにより本発明の目的が達成
できることを見い出したものである。
ア輸送層(2)にa−SiC:H膜を用いると共にキャ
リア発生層(3)にa−5iGe膜を用いてこれらの層
に種々の条件を設定することにより本発明の目的が達成
できることを見い出したものである。
本発明に係るキャリア輸送層に用いられるa−3iC:
H膜は、例えば後述するグロー放電分解法によって生成
され、その放電条件等によって暗抵抗率とキャリア移動
度が鋭敏に作用を受けており、これに対して、本発明者
等はこの原因を解明すべく種々の実験を繰り返し行った
結果、CとHの結合状態並びにSiとHの結合状態が前
記特性に顕著に影響することを知見した。
H膜は、例えば後述するグロー放電分解法によって生成
され、その放電条件等によって暗抵抗率とキャリア移動
度が鋭敏に作用を受けており、これに対して、本発明者
等はこの原因を解明すべく種々の実験を繰り返し行った
結果、CとHの結合状態並びにSiとHの結合状態が前
記特性に顕著に影響することを知見した。
即ち、a−3iC:H膜の赤外線吸収スペクトルを測定
するとCI+□結合及びCH,結合の伸縮モードを示す
吸収ピークが2860cm” ’の波数に表われ、Si
H結合及びSiH2結合の伸縮モードを示す吸収ピーク
が2090cm−’の波数に表われることを確認し、そ
してこの2860cm−’の吸収係数が1000以下で
あると共に2090cm−’の吸収係数が1000以上
、好適には2860C1l”の吸収係数が500以下で
あると共に2090cm−’の吸収係数が1000以上
であればダングリングボンドが少なくなって大きなキャ
リア移動度となることが判った。
するとCI+□結合及びCH,結合の伸縮モードを示す
吸収ピークが2860cm” ’の波数に表われ、Si
H結合及びSiH2結合の伸縮モードを示す吸収ピーク
が2090cm−’の波数に表われることを確認し、そ
してこの2860cm−’の吸収係数が1000以下で
あると共に2090cm−’の吸収係数が1000以上
、好適には2860C1l”の吸収係数が500以下で
あると共に2090cm−’の吸収係数が1000以上
であればダングリングボンドが少なくなって大きなキャ
リア移動度となることが判った。
本発明によれば、このa−5iC:H膜中のSiとCの
原子組成比が重要であり、この比が1:9乃至9:1、
好適には2:8乃至8:2の範囲内に設定されると暗抵
抗率が1011Ω・cm以上となることを見い出した。
原子組成比が重要であり、この比が1:9乃至9:1、
好適には2:8乃至8:2の範囲内に設定されると暗抵
抗率が1011Ω・cm以上となることを見い出した。
また膜中の水素含有量は5i−C原子組成比と関連する
が、膜中5乃至40原子%、好適には10乃至30原子
%の範囲内になるようにすればよい。
が、膜中5乃至40原子%、好適には10乃至30原子
%の範囲内になるようにすればよい。
本発明に係るキャリア輸送層の厚みはl乃至50μm、
好適には5乃至30μmの範囲内に設定するのがよく、
1μm未満であれば電荷保持能力に劣ってゴースト現象
が顕著になり、50μmを越えると画像の分解能が劣化
すると共に残留電位が大きくなる。
好適には5乃至30μmの範囲内に設定するのがよく、
1μm未満であれば電荷保持能力に劣ってゴースト現象
が顕著になり、50μmを越えると画像の分解能が劣化
すると共に残留電位が大きくなる。
このキャリア輸送層はSi、 C及びHの三種類の原子
を必須とするものであるが、他の原子を必要に応じてド
ーピングすることは何ら差支えない。
を必須とするものであるが、他の原子を必要に応じてド
ーピングすることは何ら差支えない。
例えばBなどの周期律表第ma族をドーピングすれば暗
抵抗率を向上させたり、キャリア移動度を大きくするこ
とができ、更にキャリア発生層とキャリア輸送層との界
面におけるフェルミレベルをシフトさせることもできる
のでキャリア発生層で生じた光キャリアをキャリア輸送
層へスムーズに注入することができ、これにより、光感
度を高めて残留電位を小さくすることができる。
抵抗率を向上させたり、キャリア移動度を大きくするこ
とができ、更にキャリア発生層とキャリア輸送層との界
面におけるフェルミレベルをシフトさせることもできる
のでキャリア発生層で生じた光キャリアをキャリア輸送
層へスムーズに注入することができ、これにより、光感
度を高めて残留電位を小さくすることができる。
更に、3−5iC:H膜を形成するに当たってはグロー
放電分解法、イオンブレーティング法、反応性スパッタ
リング法 真空蒸着法、CVD法などの薄膜形成技術を
用いることができ、また、これに用いられる原料には固
体、液体、気体のいずれでもよい。例えばグロー放電分
解法に用いられる気体原料としてSiH4,5iJb+
Si:+HaなどのSi系ガス、CH4,CJ4.CJ
z、CJi、CJwなどのC系ガスを用いればよく、更
にHz + He + N e + A rなとをキャ
リアーガスとして用いてもよい。
放電分解法、イオンブレーティング法、反応性スパッタ
リング法 真空蒸着法、CVD法などの薄膜形成技術を
用いることができ、また、これに用いられる原料には固
体、液体、気体のいずれでもよい。例えばグロー放電分
解法に用いられる気体原料としてSiH4,5iJb+
Si:+HaなどのSi系ガス、CH4,CJ4.CJ
z、CJi、CJwなどのC系ガスを用いればよく、更
にHz + He + N e + A rなとをキャ
リアーガスとして用いてもよい。
本発明に用いられるキャリア発生層(3)はa−5iG
e層から成るのでa−Si層に比べて分光感度特性が長
波長側ヘシフトする。この層(3)はSiとGeの原子
組成比が1=1乃至19:1、好適には2:l乃至10
:1の範囲内に設定することが重要であり、これによっ
て約780nmの発振波長をもつ半導体レーザー光に対
する光感度特性がa−3iキャリア発生層を用いた感光
体に比べて顕著に向上する。そして本発明者等が行った
実験によれば、a−5iC:Hキャリア輸送層を形成し
て成る機能分離型感光体に対してはSiとGeの原子組
成比を2:1乃至5:1の範囲内に設定するのが望まし
く、この範囲内であれば残留電位が小さくなって一段と
高い帯電能を有する感光体が得られる。
e層から成るのでa−Si層に比べて分光感度特性が長
波長側ヘシフトする。この層(3)はSiとGeの原子
組成比が1=1乃至19:1、好適には2:l乃至10
:1の範囲内に設定することが重要であり、これによっ
て約780nmの発振波長をもつ半導体レーザー光に対
する光感度特性がa−3iキャリア発生層を用いた感光
体に比べて顕著に向上する。そして本発明者等が行った
実験によれば、a−5iC:Hキャリア輸送層を形成し
て成る機能分離型感光体に対してはSiとGeの原子組
成比を2:1乃至5:1の範囲内に設定するのが望まし
く、この範囲内であれば残留電位が小さくなって一段と
高い帯電能を有する感光体が得られる。
このキャリア発生層はHやハロゲン元素(F、CI。
Brなど)を含有しており、この含有量は5乃至40原
子%、好適には10乃至30原子%がよく、また、周期
律表第ma族元素(B+ AI、Ga、 Inなど)や
第■a族元素(P 、 As、Sbなど)を0.05乃
至5000ppm 。
子%、好適には10乃至30原子%がよく、また、周期
律表第ma族元素(B+ AI、Ga、 Inなど)や
第■a族元素(P 、 As、Sbなど)を0.05乃
至5000ppm 。
好適には0.1乃至2000ppm含有すればよく、こ
れにより、膜の伝導型を補償したり、或いは暗抵抗値を
大きくすることができ、その結果、優れた帯電能が得ら
れる。
れにより、膜の伝導型を補償したり、或いは暗抵抗値を
大きくすることができ、その結果、優れた帯電能が得ら
れる。
本発明によれば1.キャリア注入阻止層(5)はキャリ
ア輸送層(2)へのキャリアの注入を阻止するために設
けられており、例えばポリイミド樹脂などの有機材料、
5iOz、SiO,Al□03 、S i C+ S
i 3N + +a−3i、 a−3i:H,a−3i
:F、 a−5iC,a−3iC:II 。
ア輸送層(2)へのキャリアの注入を阻止するために設
けられており、例えばポリイミド樹脂などの有機材料、
5iOz、SiO,Al□03 、S i C+ S
i 3N + +a−3i、 a−3i:H,a−3i
:F、 a−5iC,a−3iC:II 。
a−3iC:Fなどの無機材料を用いて形成される。S
i系はSiC系を用いた場合には周期律第ma族元素や
第Va族元素を50乃至5000ppmの範囲内で添加
してキャリアの注入阻止を一段と高めることができる。
i系はSiC系を用いた場合には周期律第ma族元素や
第Va族元素を50乃至5000ppmの範囲内で添加
してキャリアの注入阻止を一段と高めることができる。
そして、本発明の電子写真感光体についてはa−3iC
:Hキャリア輸送層が十分に大きな暗抵抗を得ることが
できるので、このキャリア注入阻止層を必ず形成しなく
てはならぬというものではなく、本発明者等が繰り返し
行った実験によれば、キャリア輸送層の暗砥抗率が10
13Ω・Cl11以上であればキャリア注入阻止層を形
成しなくても電子写真感光体として十分実用に供するこ
とができることを見い出した。
:Hキャリア輸送層が十分に大きな暗抵抗を得ることが
できるので、このキャリア注入阻止層を必ず形成しなく
てはならぬというものではなく、本発明者等が繰り返し
行った実験によれば、キャリア輸送層の暗砥抗率が10
13Ω・Cl11以上であればキャリア注入阻止層を形
成しなくても電子写真感光体として十分実用に供するこ
とができることを見い出した。
表面保護層(4)にはそれ自体高絶縁性、高耐食性及び
高硬度特性を有するものであれば種々の材料を用いるこ
とができ、例えはポリイミド樹脂などの有機材料、Si
O□、SiO,Al□03.SiC,5iJ4+a−S
i、 a−3i:H,a−5i:F、 a−SiC、a
−3iC:II 。
高硬度特性を有するものであれば種々の材料を用いるこ
とができ、例えはポリイミド樹脂などの有機材料、Si
O□、SiO,Al□03.SiC,5iJ4+a−S
i、 a−3i:H,a−5i:F、 a−SiC、a
−3iC:II 。
a−SiC:Fなどの無機材料を用いることができる。
更に本発明によれば、a−3iC膜又はa−SiC:H
膜をグロー放電分解法により形成するに当たってその原
料に5i)I4ガス及びcan□ガスを用いれば大きい
成膜速度(約5乃至20μm/時)が得られる。
膜をグロー放電分解法により形成するに当たってその原
料に5i)I4ガス及びcan□ガスを用いれば大きい
成膜速度(約5乃至20μm/時)が得られる。
従って、この両者のガスを用いてキャリア注入阻止層(
5)、キャリア輸送N(2)及び表面保護N(4)をa
−3iC膜又はa−3iC:II膜により形成すること
により同じ成膜装置を用いて連続的に形成でき、且つそ
の成膜時間を著しく小さくすることができる。因に5i
l14ガスとCH,ガスを用いてa−3iC膜やa−S
iC:H膜を生成した場合その成膜速度は約0.3乃至
1μm/時である。
5)、キャリア輸送N(2)及び表面保護N(4)をa
−3iC膜又はa−3iC:II膜により形成すること
により同じ成膜装置を用いて連続的に形成でき、且つそ
の成膜時間を著しく小さくすることができる。因に5i
l14ガスとCH,ガスを用いてa−3iC膜やa−S
iC:H膜を生成した場合その成膜速度は約0.3乃至
1μm/時である。
次に本発明の実施例に用いられる容量結合型グロー放電
分解装置を第3図により説明する。
分解装置を第3図により説明する。
図中、第1、第2、第3、第4、第5タンク(6)(7
)(8)(9)(10)には、それぞれ5iHe+ C
Jz+ GeH*、B2O33I2ガスが密封されてお
り、H2はキャリーガスとしても用いられる。これらの
ガスは対応する第1.第2.第3.第4.第5調整弁(
11) (12) (13) (14) (1
5)を開放することにより放出され、その流量がマスフ
ローコントローラ(16) (17) (18)
(19)(20)により制御されてメインパイプ(1
7)へ送られる。尚、(18)は止め弁である。メイン
パイプ(17)を通じて流れるガスは反応管(19)へ
と送り込まれるが、この反応管(19)の内部には容量
結合型放電用電極(20)が設置されており、それに印
加される高周波電力は50W乃至3Kwが、またその周
波数はIMHz乃至10MHzが適当である。反応管(
19)の内部には、アルミニウムから成る筒状の成膜用
基板(21)が試料保持台(22)の上に載置されてお
り、この保持台(22)はモーター(23)により回転
駆動されるようになっており、そして、基板(21)は
適当な加熱手段により、約50乃至400℃好ましくは
約150乃至300℃の温度に均一に加熱される。更に
、反応管(19)の内部はa−5iC膜形成時に高度の
真空状B(放電圧0.1乃至2.0Torr )を必要
とすることにより回転ポンプ(24)と拡散ポンプ(2
5)に連結されている。
)(8)(9)(10)には、それぞれ5iHe+ C
Jz+ GeH*、B2O33I2ガスが密封されてお
り、H2はキャリーガスとしても用いられる。これらの
ガスは対応する第1.第2.第3.第4.第5調整弁(
11) (12) (13) (14) (1
5)を開放することにより放出され、その流量がマスフ
ローコントローラ(16) (17) (18)
(19)(20)により制御されてメインパイプ(1
7)へ送られる。尚、(18)は止め弁である。メイン
パイプ(17)を通じて流れるガスは反応管(19)へ
と送り込まれるが、この反応管(19)の内部には容量
結合型放電用電極(20)が設置されており、それに印
加される高周波電力は50W乃至3Kwが、またその周
波数はIMHz乃至10MHzが適当である。反応管(
19)の内部には、アルミニウムから成る筒状の成膜用
基板(21)が試料保持台(22)の上に載置されてお
り、この保持台(22)はモーター(23)により回転
駆動されるようになっており、そして、基板(21)は
適当な加熱手段により、約50乃至400℃好ましくは
約150乃至300℃の温度に均一に加熱される。更に
、反応管(19)の内部はa−5iC膜形成時に高度の
真空状B(放電圧0.1乃至2.0Torr )を必要
とすることにより回転ポンプ(24)と拡散ポンプ(2
5)に連結されている。
以上のように構成されたグロー放電分解装置において、
例えば、a−5iC:H膜を基+7i(21)上に形成
する場合には、第1、第2、第5調整弁(11)(12
)(15)を開いてそれぞれよりStH*+CzHz+
Hzガスを放出する。放出量はマスフローコントローラ
(16) (17) )I4.CzHz、Hzの混合
ガスがメインパイプ(17)を介して、反応管(19)
へと流し込まれる。そして、反応管(19)の内部が0
.1乃至2゜0Torr程度の真空状態、基板温度が5
0乃至400℃、放電用電極(2o)の高周波電力が5
0W乃至3 KW、また周波数が1乃至10MIIzに
設定されていることに相俟ってグロー放電がおこり、ガ
スが分解してa−5iC:H膜が基板上に高速で形成さ
れる。
例えば、a−5iC:H膜を基+7i(21)上に形成
する場合には、第1、第2、第5調整弁(11)(12
)(15)を開いてそれぞれよりStH*+CzHz+
Hzガスを放出する。放出量はマスフローコントローラ
(16) (17) )I4.CzHz、Hzの混合
ガスがメインパイプ(17)を介して、反応管(19)
へと流し込まれる。そして、反応管(19)の内部が0
.1乃至2゜0Torr程度の真空状態、基板温度が5
0乃至400℃、放電用電極(2o)の高周波電力が5
0W乃至3 KW、また周波数が1乃至10MIIzに
設定されていることに相俟ってグロー放電がおこり、ガ
スが分解してa−5iC:H膜が基板上に高速で形成さ
れる。
但し、後述する実施例において、a−5iC:Itキャ
リア輸送層の成膜速度、導電率及び赤外線吸収特性を測
定するに当たっては3x3cmの角形の平板を用意し、
そして、前述のアルミニウム製筒状基板の周面を一部切
り欠いてこの切り欠き部に平板を設置し、この平板上に
a−3iC:II膜を生成する。また、成膜速度、導電
率及び赤外線吸収特性の測定に当たっては用いる平板材
料をそれぞれアルミニウム、NESAガラス及び高抵抗
単結晶シリコンにした。
リア輸送層の成膜速度、導電率及び赤外線吸収特性を測
定するに当たっては3x3cmの角形の平板を用意し、
そして、前述のアルミニウム製筒状基板の周面を一部切
り欠いてこの切り欠き部に平板を設置し、この平板上に
a−3iC:II膜を生成する。また、成膜速度、導電
率及び赤外線吸収特性の測定に当たっては用いる平板材
料をそれぞれアルミニウム、NESAガラス及び高抵抗
単結晶シリコンにした。
次に本発明の実施例を詳細に説明する。
本例においてはa−5iC:Hキャリア輸送層をアルミ
ニウム製平板に生成してその成膜速度を測定した。
ニウム製平板に生成してその成膜速度を測定した。
即ち、第3図に示した容量結合型グロー放電分解法置を
用いて第1タンク(6)より5iHaを、第2タンク(
7)よりC2H2ガスをこれらの合計した流量が270
secmになるように放出し、必要に応じて第5タン
ク(10)よりH2ガスを放出し、グロー放電分解法に
基づいてa−SiC:H膜を形成した。
用いて第1タンク(6)より5iHaを、第2タンク(
7)よりC2H2ガスをこれらの合計した流量が270
secmになるように放出し、必要に応じて第5タン
ク(10)よりH2ガスを放出し、グロー放電分解法に
基づいてa−SiC:H膜を形成した。
本例によれば、5i)1.ガス及びC2H□ガスを20
0SCcm + 500 sccmの流量で放出して各
種の測定用試料を製作した。
0SCcm + 500 sccmの流量で放出して各
種の測定用試料を製作した。
その測定結果は第4図に示す通りである。
第4図は膜中のSiとCの原子組成比(C/Si +C
)に対する成膜速度を表しており、○印、△印及び0印
はそれぞれH2ガスが無添加、流量200 sccm。
)に対する成膜速度を表しており、○印、△印及び0印
はそれぞれH2ガスが無添加、流量200 sccm。
流量500 sccmの場合のプロットであり、a、b
、cはそれぞれの特性曲線である。
、cはそれぞれの特性曲線である。
第4図から明らかな通り、H2ガスが無添加の場合、(
C/Si + C)比が大きくなるのに伴って成膜速度
が増加傾向にある。これに対して、■2ガスの流量が2
00 sccm、500 sccmと大きくなるのに伴
って成膜速度が小さくなる傾向にあるが、H2ガス流量
が500 secmの場合であっても6μm/時以上の
高速成膜が得られる。
C/Si + C)比が大きくなるのに伴って成膜速度
が増加傾向にある。これに対して、■2ガスの流量が2
00 sccm、500 sccmと大きくなるのに伴
って成膜速度が小さくなる傾向にあるが、H2ガス流量
が500 secmの場合であっても6μm/時以上の
高速成膜が得られる。
〔例 2 〕
本例においては、〔例1〕と同様の製造操作によってa
−SiC:Hキャリア輸送層をNESAガラス製平板に
生成してその層の導電率を測定したところ、第5図に示
す通りの結果が得られた。
−SiC:Hキャリア輸送層をNESAガラス製平板に
生成してその層の導電率を測定したところ、第5図に示
す通りの結果が得られた。
第5図は膜中のSiとCの原子組成比(C/Si +C
)に対する導電率を表しており、O印、△印及び0印は
それぞれH2ガスが無添加、流量200 secm、流
量500 secmの場合のプロットであり、d、e、
fはそれぞれの特性曲線である。
)に対する導電率を表しており、O印、△印及び0印は
それぞれH2ガスが無添加、流量200 secm、流
量500 secmの場合のプロットであり、d、e、
fはそれぞれの特性曲線である。
第5図から明らかな通り、(C/Si +C)比が0.
1乃至0.9の範囲内であればいずれも導電率がIQ−
11Ω・CII!以下になることが判る。
1乃至0.9の範囲内であればいずれも導電率がIQ−
11Ω・CII!以下になることが判る。
〔例 3 〕
ダイヤモンドバイトを用いた超精密旋盤により鏡面に仕
上げた基板用アルミニウム製ドラムを有機溶剤を用いた
超音波洗浄及び蒸気洗浄、次いで乾燥を行って清浄し、
第3図に示した容量結合型グロー放電分解装置の反応管
(19)内に設置した。そして、第1タンク(6)より
SiH,ガスを、第2タンク(7)よりCzHzガスを
これらの合計した流量が270 secmになるように
放出し、更にH2ガスを第5タンク (10)より必要
に応じて50secm。
上げた基板用アルミニウム製ドラムを有機溶剤を用いた
超音波洗浄及び蒸気洗浄、次いで乾燥を行って清浄し、
第3図に示した容量結合型グロー放電分解装置の反応管
(19)内に設置した。そして、第1タンク(6)より
SiH,ガスを、第2タンク(7)よりCzHzガスを
これらの合計した流量が270 secmになるように
放出し、更にH2ガスを第5タンク (10)より必要
に応じて50secm。
200 sccm 、 500 sccmの流量で放
出し、ガス圧を0.5Torrに、RF電力を0.4W
/cm”に設定して前述したグロー放電分解法に基づい
て厚み25μmのキャリア輸送層(2)を形成した。
出し、ガス圧を0.5Torrに、RF電力を0.4W
/cm”に設定して前述したグロー放電分解法に基づい
て厚み25μmのキャリア輸送層(2)を形成した。
次いで同様の艮作によりSiH4ガス、eCe)1.ガ
ス及びH2ガスをそれぞれ2005can、 90sc
cm及び250sccmの流量で放出し、ガス圧を0゜
5 Torrに、RF電力を0.4W/cm2に設定し
て厚み5μmのキャリア発生層(3)を形成した。
ス及びH2ガスをそれぞれ2005can、 90sc
cm及び250sccmの流量で放出し、ガス圧を0゜
5 Torrに、RF電力を0.4W/cm2に設定し
て厚み5μmのキャリア発生層(3)を形成した。
然る後、51g4ガス及びCzHzガスをそれぞれ15
0secm及び100 secmの流量で放出し、ガ
ス圧を0.3Torrに、RF電力を0.4W/cm”
に設定して厚み0.5μmの表面保護層(4)を形成し
た。
0secm及び100 secmの流量で放出し、ガ
ス圧を0.3Torrに、RF電力を0.4W/cm”
に設定して厚み0.5μmの表面保護層(4)を形成し
た。
か(して得られた感光体A乃至Iについて、表面電位、
光感度(投光源として発振波長780nmの半導体レー
ザーを用いた)、残留電位及び画質を測定したところ、
第1表に示す通りの結果が得られた。
光感度(投光源として発振波長780nmの半導体レー
ザーを用いた)、残留電位及び画質を測定したところ、
第1表に示す通りの結果が得られた。
表中、画質評価の◎印は画質コントラストが高くて高速
複写(50枚/分以上の複写)を行っても全くゴースト
現象が生じなく、○印は高速複写を行うと若干ゴースト
現象が発生するが、実用上何ら支障がない程度であり、
X印は残留電位が高くて白地のガブリが顕著に生じて実
用に適さない場合を示す。
複写(50枚/分以上の複写)を行っても全くゴースト
現象が生じなく、○印は高速複写を行うと若干ゴースト
現象が発生するが、実用上何ら支障がない程度であり、
X印は残留電位が高くて白地のガブリが顕著に生じて実
用に適さない場合を示す。
また、本例においては感光体A乃至Iのそれぞれに対し
て設定したa−3iC:lキャリア輸送層の製作条件、
卯ち(C/Si+C)比及びH2ガス流量を同じにして
、〔例1〕と同様の製造操作によってa−5iC:)l
キャリア輸送層だけをシリコン単結晶製平板上に生成し
て2090cm−’の波数及び2860cm−’の波数
のそれぞれの赤外線吸収係数を測定しており、この結果
は第1表に示す通りである。
て設定したa−3iC:lキャリア輸送層の製作条件、
卯ち(C/Si+C)比及びH2ガス流量を同じにして
、〔例1〕と同様の製造操作によってa−5iC:)l
キャリア輸送層だけをシリコン単結晶製平板上に生成し
て2090cm−’の波数及び2860cm−’の波数
のそれぞれの赤外線吸収係数を測定しており、この結果
は第1表に示す通りである。
第1表から明らかな通り、感光体A乃至E、 Gは実用
に適した優れた感光体となり、高速複写用感光体として
提供することができ、特に感光体A乃至Cは光感度が高
くて帯電能にも優れているために高速複写を行っても全
くゴースト現象が生じなかった。然るに感光体F、H,
Iはゴースト現象が顕著になって実用に適さなかった。
に適した優れた感光体となり、高速複写用感光体として
提供することができ、特に感光体A乃至Cは光感度が高
くて帯電能にも優れているために高速複写を行っても全
くゴースト現象が生じなかった。然るに感光体F、H,
Iはゴースト現象が顕著になって実用に適さなかった。
本例によれば、感光体の優劣を決める評価手段がキャリ
ア輸送層の赤外線吸収係数が所定の波数に対して所定の
範囲内の吸収係数を有しているという点にあり、第1表
より明らかにされる通り、その吸収係数が2090cm
−’の波数に対して1000以上であると共に2860
cm−’の波数に対して1000以下であれば本発明の
感光体が得られることが判る。
ア輸送層の赤外線吸収係数が所定の波数に対して所定の
範囲内の吸収係数を有しているという点にあり、第1表
より明らかにされる通り、その吸収係数が2090cm
−’の波数に対して1000以上であると共に2860
cm−’の波数に対して1000以下であれば本発明の
感光体が得られることが判る。
また、本例中キャリア輸送層(2)を形成するに当たっ
て第3調整弁(14)を開放してBz)Ibガスを10
secmで放出してBを含む層(2)を形成し、これ
により得られた感光体A乃至Iに対応する9種類の感光
体についてもそれぞれ同じ画質評価が得られた。
て第3調整弁(14)を開放してBz)Ibガスを10
secmで放出してBを含む層(2)を形成し、これ
により得られた感光体A乃至Iに対応する9種類の感光
体についてもそれぞれ同じ画質評価が得られた。
また本例中、感光体Aに対して分光感度を測定したとこ
ろ、第6図に示す通りの結果が得られた。
ろ、第6図に示す通りの結果が得られた。
即ち、第6図中・印は感光体Aの分光感度を示すプロッ
トであり、これに対してO印は基板上にa−3iC:)
!キャリア注入阻止N(酸素; 4原子%窒素;2原子
% ホウ素;loooppm含有、厚み2 ttm )
、a−5i:)lキャリア発生層(ホウ素;0.2p
pm含有、厚み23 μm ) 、a−SiC表面保護
層(厚み5000人)を順次積層した積層型感光体(比
較例)に対する分光感度を示すプロットであり、gSh
はそれぞれの特性曲線である。
トであり、これに対してO印は基板上にa−3iC:)
!キャリア注入阻止N(酸素; 4原子%窒素;2原子
% ホウ素;loooppm含有、厚み2 ttm )
、a−5i:)lキャリア発生層(ホウ素;0.2p
pm含有、厚み23 μm ) 、a−SiC表面保護
層(厚み5000人)を順次積層した積層型感光体(比
較例)に対する分光感度を示すプロットであり、gSh
はそれぞれの特性曲線である。
第6図から明らかな通り、感光体Aは比較例の感光体に
比べて約780nmの波長に対して光感度が優れている
ことが判る。
比べて約780nmの波長に対して光感度が優れている
ことが判る。
以上の通り、本発明の電子写真感光体によれば、機能分
離型感光体として形成されるa−StC:tlキャリア
輸送層の暗抵抗率及びキャリア移動度を向上させること
ができ、これにより、感光体の暗減衰率が小さくなると
共に帯電能を高めることができ、その結果、高速複写に
通した電子写真感光体が提供される。そして、約780
nmの波長に対して優れた光感度をもっているので半導
体レーザープリンター用感光体として特に有用である。
離型感光体として形成されるa−StC:tlキャリア
輸送層の暗抵抗率及びキャリア移動度を向上させること
ができ、これにより、感光体の暗減衰率が小さくなると
共に帯電能を高めることができ、その結果、高速複写に
通した電子写真感光体が提供される。そして、約780
nmの波長に対して優れた光感度をもっているので半導
体レーザープリンター用感光体として特に有用である。
更に本発明によれば、SiH4ガス及びCzHzガスを
原料としたグロー放電分解法によってキャリア輸送層、
キャリア発生層及び表面保護層を同一の成膜装置を用い
て連続的且つ高速に形成することができ、これにより、
製造効率を高めて製造コストを著しく低減することがで
きる。
原料としたグロー放電分解法によってキャリア輸送層、
キャリア発生層及び表面保護層を同一の成膜装置を用い
て連続的且つ高速に形成することができ、これにより、
製造効率を高めて製造コストを著しく低減することがで
きる。
また本発明の電子写真感光体によれば、キャリア注入阻
止層を形成しなくても十分に実用に成り得ており、その
ためにはa−SiC:H膜をキャリア輸送層に用いると
共にこの層の暗抵抗率を101ffΩ・cm以上あれば
よく、これにより、この暗抵抗率の値を目安にしてキャ
リア注入阻止層のない感光体を確実に製作でき、その結
果、製造効率及び製造歩留りが向上する。
止層を形成しなくても十分に実用に成り得ており、その
ためにはa−SiC:H膜をキャリア輸送層に用いると
共にこの層の暗抵抗率を101ffΩ・cm以上あれば
よく、これにより、この暗抵抗率の値を目安にしてキャ
リア注入阻止層のない感光体を確実に製作でき、その結
果、製造効率及び製造歩留りが向上する。
第1図及び第2図は機能分離型電子写真感光体の層構成
を示す断面図、第3図は本発明の実施例に用いられる客
種結合型グロー放電分解装置、第4図は本発明に係る感
光体のキャリア輸送層の成膜速度を表わす線図、第5図
は本発明に係る感光体のキャリア輸送層の導電率を表わ
す線図、第6図は感光体の分光感度を表わす線図である
。 1・・・基板 2、・・・キャリア輸送層 ′ 3、・・・キャリア発生層 4・・・表面保護層 5・・・キャリア注入阻止層
を示す断面図、第3図は本発明の実施例に用いられる客
種結合型グロー放電分解装置、第4図は本発明に係る感
光体のキャリア輸送層の成膜速度を表わす線図、第5図
は本発明に係る感光体のキャリア輸送層の導電率を表わ
す線図、第6図は感光体の分光感度を表わす線図である
。 1・・・基板 2、・・・キャリア輸送層 ′ 3、・・・キャリア発生層 4・・・表面保護層 5・・・キャリア注入阻止層
Claims (1)
- 基板上に少なくともキャリア輸送層及びキャリア発生層
を形成して成る積層体であって、前記キャリア発生層が
アモルファスシリコンゲルマニウムから成ると共にシリ
コンとゲルマニウムの原子組成比が1:1乃至19:1
の範囲内にあり、前記キャリア輸送層が水素化アモルフ
ァスシリコンカーバイドから成ると共に炭素とシリコン
の原子組成比が1:9乃至9:1の範囲内にあり且つ赤
外線吸収スペクトルにおける2860cm^−^1の吸
収係数が1000以下にであると共に2090cm^−
^1の吸収係数が1000以上であることを特徴とする
電子写真感光体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15215086A JPS638650A (ja) | 1986-06-27 | 1986-06-27 | 電子写真感光体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15215086A JPS638650A (ja) | 1986-06-27 | 1986-06-27 | 電子写真感光体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS638650A true JPS638650A (ja) | 1988-01-14 |
Family
ID=15534123
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15215086A Pending JPS638650A (ja) | 1986-06-27 | 1986-06-27 | 電子写真感光体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS638650A (ja) |
-
1986
- 1986-06-27 JP JP15215086A patent/JPS638650A/ja active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4409311A (en) | Photosensitive member | |
JPS6067955A (ja) | 電子写真感光体 | |
JPS638650A (ja) | 電子写真感光体 | |
JPS63135949A (ja) | 電子写真感光体 | |
JPS6332558A (ja) | 電子写真感光体 | |
JPS6329762A (ja) | 電子写真感光体 | |
JPS634242A (ja) | 電子写真感光体 | |
JPS6330855A (ja) | 電子写真感光体 | |
JPS6385752A (ja) | 電子写真感光体の製法 | |
JPS634240A (ja) | 電子写真感光体 | |
JPS635348A (ja) | 電子写真感光体 | |
JPS634241A (ja) | 電子写真感光体 | |
JPH09244284A (ja) | 光受容部材の製造方法 | |
JPS634239A (ja) | 電子写真感光体 | |
JP2761741B2 (ja) | 電子写真感光体 | |
JPH02154274A (ja) | 電子写真感光体及びその製造方法並びにこの感光体を搭載した電子写真記録装置 | |
JP2742583B2 (ja) | 電子写真感光体 | |
JPS63135950A (ja) | 電子写真感光体 | |
JPS63137243A (ja) | 電子写真感光体 | |
JPS63135954A (ja) | 電子写真感光体 | |
JPS6381433A (ja) | 電子写真感光体 | |
JPS63133159A (ja) | 電子写真感光体 | |
JPS63271356A (ja) | 電子写真感光体 | |
JPS6228764A (ja) | 感光体 | |
JPS63132252A (ja) | 電子写真感光体 |