JPS634240A - 電子写真感光体 - Google Patents

電子写真感光体

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Publication number
JPS634240A
JPS634240A JP14924686A JP14924686A JPS634240A JP S634240 A JPS634240 A JP S634240A JP 14924686 A JP14924686 A JP 14924686A JP 14924686 A JP14924686 A JP 14924686A JP S634240 A JPS634240 A JP S634240A
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JP
Japan
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carrier
layer
gas
film
sic
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Application number
JP14924686A
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English (en)
Inventor
Takao Kawamura
河村 孝夫
Naooki Miyamoto
宮本 直興
Kokichi Ishiki
石櫃 ▲こう▼吉
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Kyocera Corp
Original Assignee
Kyocera Corp
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Publication date
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Publication of JPS634240A publication Critical patent/JPS634240A/ja
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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03GELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
    • G03G5/00Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
    • G03G5/02Charge-receiving layers
    • G03G5/04Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
    • G03G5/08Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
    • G03G5/082Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
    • G03G5/08214Silicon-based
    • G03G5/08235Silicon-based comprising three or four silicon-based layers

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Photoreceptors In Electrophotography (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は帯電能を向上させることに伴って高速複写を可
能とした電子写真感光体に関するものである。
〔従来技術及びその問題点〕
近年、電子写真感光体の進歩は目覚ましく、超高速複写
機やレーザービームプリンタなどの開発が活発に進めら
れており、これらの機器に用いられる感光体は長期間高
速で使用されるため、動作の安定性及び耐久性が要求さ
れている。この要求に対して水素化アモルファスシリコ
ンが耐熱性、耐摩耗性、無公害性並びに光感度特性等に
優れているという理由から注目されている。
かかるアモルファスシリコン(以下、a−Siと略す)
から成る電子写真感光体には第2図に示す通りの積層型
感光体が提案されている。
即ち、第2図によれば、アルミニウムなどの導電性基板
(1)上にa−Siキャリア注入阻止層(2) 、a−
Siキャリア発生層(3)及び表面保護層(4)を順次
積層しており、このキャリア注入阻止層(2)は基+f
i(1)からのキャリアの注入を阻止すると共に残留電
位を低下させるために形成されており、そして、表面保
護層(4)には高硬度な材料を用いて感光体の耐久性を
高めている。
ところが、このa−34光体によれば、a−Siキャリ
ア発生層(3)自体が有する暗抵抗率が10”Ω・cm
以下であり、これにより、この感光体の暗減衰率が大き
くなると共にそれ自体の帯電能を高めることが難しくな
り、その結果、この感光体を高速複写用に用いた場合に
は光メモリ効果により先の画像が完全に除去されずに残
存し、次の画像形成に伴って先の画像が再び現れる(ゴ
ースト現象)という問題がある。
この問題を解決するために第1図に示すような機能分離
型感光体が提案されている。
即ち、第1図によれば、前述したキャリア注入阻止層(
2a)とキャリア発生層(3a)の間にキャリア輸送層
(5)を形成しており、そして、このキャリア輸送層(
5)には暗抵抗及びキャリア移動度のそれぞれが大きい
材料で形成されており、これにより、表面電位及び光怒
度に優れ且つ残留電位が小さい高性能な感光体が得られ
る。
このキャリア輸送層(5)については高抵抗且つ広いバ
ンドギャップ並びに半導体特性を具備した水素化アモル
ファスシリコンカーバイドラ用いることが特開昭58−
192046号公報などに提案されている。
しかしながら、この公報に示された水素化アモルファス
シリコンカーバイド(以下、a−SiC:Hと略す)か
ら成るキャリア輸送層を形成するに当たっては、例えば
グロー放電分解法を用いる場合、反応圧力、高周波電力
などの様々な放電条件、原料ガスの種類、ガス流量等々
に起因して安定した特性をもつ高品質なa−3iC:H
膜を形成するのが難しく、そして、この膜自体水素化ア
モルファスシリコン(以下、a−Si:)lと略す)膜
に比べてダングリングボンドが生成し易い傾向にあり、
これにより、10”Ω・cm以上の暗抵抗率を有すると
共に高いキャリア移動度をもつa−SiC:H膜を得る
のが難かしい。
更にこのa−SiC:H膜を再現性よく安定した条件に
よって形成するために、暗抵抗率及びキャリア移動度の
両者の特性に共通してその特性評価ができる検知手段が
望まれている。
〔発明の目的〕
従って本発明は上記事情に鑑みて完成されたものであり
、その目的はa−SiC:)!キャリア輸送層の暗抵抗
率及びキャリア移動度を向上させ、これにより、大きな
帯電能をもつ電子写真感光体を提供することにあ・る。
本発明の他の目的は高速複写に適した電子写真感光体を
提供することにある。
本発明の更に他の目的はa−3iC:Hキャリア輸送層
を製作するに当たってその製造条件の設定が容易である
と共に再現性及び安定性に優れた電子写真感光体を提供
することにある。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明によれば、基板上に少なくともキャリア注入阻止
層、キャリア輸送層及びキャリア発生層を形成して成る
積層体であって、前記キャリア注入阻止層がa−3iC
から成ると共にCとSiの原子組成比が1:9乃至9:
1の範囲内にあり、前記キャリア輸送層がa−3iC:
Hから成ると共にCとSiの原子組成比が1:9乃至9
:1の範囲内にあり且つ赤外線吸収又スペクトルにおけ
る2860cm−’の吸収係数が1000以下であると
共に2090cm−’の吸収係数が1000以上である
ことを特徴とする電子写真感光体が提供される。 以下
、本発明の詳細な説明する。
本発明の典型的な電子写真感光体には第1図に示す通り
基板(1)上にキャリア注入阻止層(2a)、キャリア
輸送層(5)、キャリア発生層(3a)及び表面保護層
(4)を順次積層した積層体があり、また、この積層体
に対してキャリア輸送層(5)とキャリア発生層(3a
)の積層順序を変えた積層体がある。
本発明によれば、機能分離型感光体に用いられるキャリ
ア輸送層(5)及びキャリア注入阻止層(2a)のいず
れにもa−SiCを用いると共に両層に種々の条件を設
定することにより本発明の目的が達成できることを見い
出したものである。
本発明に係るキャリア輸送層に用いられるa−3iC:
)l膜は、例えば後述するグロー放電分解法によって生
成され、その放電条件等によって暗抵抗率とキャリア移
動度が鋭敏に作用を受けており、これに対して、本発明
者等はこの原因を解明すぺ(種々の実験を繰り返し行っ
た結果、CとHの結合状態並びにSiとHの結合状態が
前記特性に顕著に影響することを知見した。
即ち、a−SiC:H膜の赤外線吸収スペクトルを測定
するとCHz結合及びCH,結合の伸縮モードを示す吸
収ピークが2860cm−’の波数に表われ、SiH結
合及びSiH2結合の伸縮モードを示す吸収ピークが2
090cm−’の波数に表われることを確認し、そして
この2860cm−’の吸収係数が1000以下である
と共に’2090cm−’の吸収係数が1000以上、
好適には2860cm−’の吸収係数が500以下であ
ると共に2090c+*−’の吸収係数が1000以上
であればダングリングボンドが少なくなって大きなキャ
リア移動度となることが判った。
本発明によれば、a−SiC:H膜中のSiとCの原子
組成比が重要であり、この比が1:9乃至9:1、好適
には2:8乃至8:2の範囲内に設定されると暗抵抗率
が1011Ω・0111以上となることを見い出した。
また膜中の水素含有量は5i−C原子組成比と関連して
蔽密に決めることは難しいが、膜中5乃至40原子%、
好適には10乃至30原子%の範囲内になるようにすれ
ばよい。
本発明に係るキャリア輸送層の厚みはl乃至50μm、
好適には5乃至30μmの範囲内に設定するのがよく、
1μm未満であれば電荷保持能力に劣ってゴースト現象
が顕著になり、50μmを越えると画像の分解能が劣化
すると共に残留電位が太き(なる。
このキャリア輸送層はSi、 C及びHの三種類の原子
を必須とするものであるが、他の原子を必要に応じてド
ーピングすることは何ら差支えない。
例えばBなどの周期律表第ma族をドーピングすれば暗
抵抗率を向上させたり、キャリア移動度を大きくするこ
とができ、更にキャリア発生層とキャリア輸送層との界
面におけるフェルミレベルをシフトさせることもできる
のでキャリア発生層で生じた光キャリアをキャリア輸送
層へスムーズに注入することができ、これにより、光怒
度を高めて残留電位を小さくすることができる。
本発明に用いられるa−5iCキャリア注入阻止層(2
a)はキャリア輸送層(5)へのキャリアの注入を阻止
しており、これにより、感光体の表面電位を大きくする
ことができる。この層(2a)はSiとCの含有比率が
1:9乃至9:1、好適には2:8乃至8:2の範囲内
に設定するのがよく、この範囲外であれば暗減衰が増大
したり、残留電位が太き(なる。
また、このキャリア注入阻止層(2a)にはHやハロゲ
ン元素(F% 01% Brなど)を含有してもよいが
、これの含有量は5i−C原子組成比と関連するが、本
発明者等の実験によれば、膜中に0.1乃至20原子%
、好適には1乃至10原子%の範囲内になるようにすれ
ばよいことが判った。
更にこのキャリア注入阻止Pi(2a)には周期律表第
ma族元素(B、A1.Gal Inなど)や第Va族
元素(P+As、sbなど)を微量に導入して膜自体の
伝導型をそれぞれP゛やN゛に制御し、これにより、基
板からのキャリアの注入を一段と阻止することができる
。そのために、これら第ma族及び第Va族元素の含有
量は50乃至5000ppm、好適には200乃至20
00ppmにするとよい。
また、キャリア注入阻止層(2a)に酸素又は窒素の少
なくとも一種をドーピングしてキャリア注入の阻止効果
を更に高めることができ、そのドーピング量については
他の構成元素と関連するが、膜中0.1乃至30原子%
、好適にはl乃至2o原子%含有すればよい。
更にこのキャリア注入阻止層(2a)の厚みは0.2乃
至5.0μ請え好適には0.5乃至3.0μmの範囲内
に設定するのがよく、この範囲内の厚みであれば、基板
からのキャリアの阻止能が十分となって残留電位が小さ
くなる。
本発明によれば、キャリア注入阻止層及びキャリア輸送
層を同一の成膜装置により形成するに当たってSiとC
という共通の構成元素を用いると共にそれぞれの原子組
成比を同一の範囲内に設定できるという点で顕著な特徴
があり、これにより、キャリア注入阻止層及びキャリア
輸送層を連続形成する場合にSi供給ガス及びC供給ガ
スのそれぞれを共通にした同一のガス流量制御システム
となり、その結果、各々のガス流量の制御が容易となる
また本発明によれば、キャリア発生層(3a)にはそれ
自体周知の光電変換材料を用いることができ、例えばP
VKなどの有機半導体、Se、5e−Te。
5e−As+CdS、ZnO+ a−3t:H+ a−
SiC:Hなどの無機半導体がある。
表面保護層(4)にはそれ自体高絶縁性、高耐食性及び
高硬度特性を有するものであれば種々の材料を用いるこ
とができ、例えはポリイミド樹脂などの有機材料、St
Q□、5IQIへ1□0:++SiC,5iJ4゜a−
Si、 a−3i:H,a−Si:F+ a−SiC+
 a−SiC:H+a−3iC:Fなどの無機材料を用
いることができる。
更に本発明によれば、a−SiC膜又はa−5iC:H
膜を形成するに当たってグロー放電分解法、イオンブレ
ーティング法、反応性スパッタリング法、真空蒸着法、
CVD法などの薄膜形成技術を用いることができ、また
、これに用いられる原料には固体、液体、気体のいずれ
でもよい。例えば、グロー放電分解法に用いられる気体
原料としてSiH4゜5izHh+5iJsなどのSi
系ガス、C)I4.CzHb、CzHz。
CzHb、 C5HsなどのC系ガスを用いればよく、
更にHz+l(e+Ne+Arなどをキャリアーガスと
して用いてもよい。
更にまた本発明によれば、a−5iC膜又はa−5iC
:H膜をグロー放電分解法により形成するに当たってそ
の原料に5insガス及びC,H,ガスを用いれば大き
い成膜速度(約5乃至20μ+l/時)が得られる。従
って、この両者のガスを用いてキャリア注入阻止層(2
a)キャリア輸送層(5)、キャリア発生Jii(3a
)及び表面保護層(4)をa−SiC膜又はa−3iC
:)l膜により形成することにより同じ成膜装置を用い
て連続的に形成でき、且つその成膜時間を著しく小さく
することができる。
因にSin+ガスとCH4ガスを用いてa−SiC膜や
a−SiC:)I膜を生成した場合その成膜速度は約0
.3乃至1μllZ時である。 次に本発明の実施例に
用いられる容量結合型グロー放電分解装置を第3図によ
り説明する。
図中、第1、第2、第3、第4、第5タンク(6)(7
)(8)(9)(10)には、それぞれ5l)l*+c
zHz+BzHi+H!+NOガスが密封されており、
H2はキャリアーガスとしても用いられる。これらのガ
スは対応する第1.第2.第3.第4.第5調整弁(1
1)(12)(13)(14)(15)を開放すること
により放出され、その流量がマスフローコントローラ(
16)(17)(1B)(19)(20)により制御さ
れ、第1、第2、第3、第4タンク(6)(7)(8)
(9)からのガスは第1主管(21)へ、また第5タン
ク(10)からのNOガスは第2主管(22)へ送られ
る。尚、(23)(24)は止め弁である。第1、第2
主管(21)(22)を通じて流れるガスは反応管(2
5)へと送り込まれるが、この反応管(25)の内部に
は容量結合型放電用電極(26)が設置されており、そ
れに印加される高周波は50W乃至3Kwが、また周波
数はIMHz乃至10MHz電力が適当である。反応管
(25)の内部には、アルミニウムから成る筒状の成膜
用基板(27)が試料保持台(28)の上に載置されて
おり、この保持台(28)はモーター(29)により回
転駆動されるようになっており、そして、基板(27)
は適当な加熱手段により、約50乃至400℃好ましく
は約150乃至300℃の温度に均一に加熱される。更
に、反応管(25)の内部はa−3i膜又はa−3iC
膜形成時に高度の真空状態(放電圧0.1乃至2.0T
orr )を必要とすることにより回転ポンプ(30)
と拡散ポンプ(31)に連結されている。
以上のように構成されたグロー放電分解装置において、
例えば、a−SiC:H膜(N10、Bを含有する)を
基Fi(27)上に形成する場合には、第1、第2、第
3.第4、第5調整弁(11)(12)(13)(14
)(15)を開いてそれぞれよりSiH4,Czl(z
+BzHb+Hz、NOガスを放出する。
放出it ハマスフローコントロー−7(16)(17
)(18)  (19)  (20)により規制されて
SiH,。
CzHz、BzHh、Hzの混合ガスが第1主管(21
)を介して、また同時に一定の流量のNOガスが第2主
管(22)を介して反応管(25)へと流し込まれる。
そして、反応管(25)の内部が0.1乃至2.0To
rr程度の真空状態、基板温度が50乃至400℃、容
量型放電用電極(26)の高周波電力がIOW乃至3K
W、また周波数が1乃至10MHzに設定されているこ
とに相俟ってグロー放電が起こり、ガスが分解してB、
O,Nの元素を含有したa−SiC:H膜が基板上に高
速で形成される。
但し、後述する実施例において、a−SiC:Hキャリ
ア輸送層の成膜速度、導電率及び赤外線吸収特性を測定
するに当たっては3X3cmの角形の平板を用意し、そ
して、前述のアルミニウム製筒状基板の周面を一部切り
欠いてこの切り欠き部に平板を設置し、この平板上にa
−SiC,:H膜を生成する。
また、成膜速度、導電率及び赤外線吸収特性の測定に当
たっては用いる平板材料をそれぞれアルミニウム、N 
E S Aガラス及び高抵抗単結晶シリコンにした。
〔実施例〕
次に本発明の実施例を詳細に説明する。
〔例 1 〕 本例においてはa−3iC:Hキャリア輸送層をアル9
′パ  即ち、第3図に示した容量結合型グロー放電分解装置
を用いて第1タンク(6)よりSin、を、第2タンク
(7)よりCJzガスをこれらの合計した流量が270
 secmになるように放出し、必要に応じて第4タン
ク(9)よりH2ガスを放出し、グロー放電分解法に基
づいてa−SiC:H膜を形成した。
本例によれば、Sin+ガス及びC,H,ガスを200
sccm 、 5005cca+の流量で放出して各種
の測定用試料を製作した。
その測定結果は第4図に示す通りである。
第4図は膜中のSiとCの原子組成比(C/Si +C
)に対する成膜速度を表しており、O印、Δ印及び0印
はそれぞれH2ガスが無添加、流量200 sccm。
流量500 sccmの場合のプロットであり、a、b
、cはそれぞれの特性曲線である。
第4図から明らかな通り、H2ガスが無添加の場合、(
C/Si +C)比が大きくなるのに伴って成膜速度が
増加傾向にある。これに対して、H2ガスの流量が20
0 sccm、5005ccs+と大きくなるのに伴っ
て成膜速度が小さくなる傾向にあるが、H2ガス流量が
500 secmの場合であっても6μra/時以上の
高速成膜が得られる。
〔例 2 〕 本例においては、〔例1〕と同様の製造操作によってa
−SiC:Hキャリア輸送層をNESAガラス製平板に
生成してその層の導電率を測定したところ、第5図に示
す通りの結果が得られた。
第5図は膜中のSiとCの原子組成比(C/Si +C
)に対する導電率を表しており、O印、Δ印及び0印は
それぞれH2ガスが無添加、流量200 scc+++
、流量500 scc+mの場合のプロットであり、+
Le、fはそれぞれの特性曲線である。
第5図から明らかな通り、(C/Si +0比が0.1
乃至0.9の範囲内であればいずれも導電率が10” 
’ Ω・cm以下になることが判る。
C例 3 〕 ダイヤモンドバイトを用いた超精密旋盤により鏡面に仕
上げた基板用アルミニウム製ドラムを有機溶剤を用いた
超音波洗浄及び蒸気洗浄、次いで乾燥を行って清浄し、
第3図に示した容量結合型グロー放電分解装置の反応管
(25)内に設置した。そして、第1タンク(6)より
SiH4ガスを、第2タンク(7)よりCzHzガスを
、第3タンク(8)よりBAl、ガス(H2希釈200
0p pm)を、第4タンク(9)よりH2ガスを、第
5タンク(10)よりNOガスをそれぞれの流量が18
0 secm 、 90secm 、 90 sccm
、200 sccm、 85cca+になるように放出
し、ガス圧を0.4T o r rに、RF電力を0.
2W/co+2に設定したグロー放電分解法に基づいて
厚み2μ−のキャリア注入阻止層(2a)を形成した。
次に第3、第4調整弁(13)  (14)を閉じて、
第1タンク(6)よりSin、ガスを、第2タンク(7
)よりCzHzガスをこれらの合計した流量が270 
secmになるように放出し、更にH2ガスを第4タン
ク(9)より必要に応じて50scco+、 200s
ccm。
500scca+の流量で放出し、ガス圧を0.5 T
orrに、RF電力を0.4w/cmzに設定して前述
したグロー放電分解法に基づいて厚み25μ層のキャリ
ア輸送層(5)を形成した。
次いで第2調整弁(17)を閉じて同様の操作によりS
iH4ガス及びH2ガスをそれぞれ2005ccra及
び250 sccmの流量で放出し、ガス圧を0.5 
Torrに、RF電力を0.4W/cm2に設定して厚
み5μ端のキャリア発生層(3a)を形成した。
然る後、第2調整弁(17)を開放すると共に第3、第
4調整弁(18)(19)を閉じてSiH4ガス及びC
,Hzガスをそれぞれ150 scc+++及び100
sccn+の流量で放出し、ガス圧をQ、3Torrに
、RF電力を0.4W/c+uzに設定して厚み0.5
μ屓の表面保護層を形成した。
かくして得られた感光体A乃至Iについて、表面電位、
半減露光量、残留電位及び画質を測定したところ、第1
表に示す通りの結果が得られた。
表中、画質評価の◎印は画質コントラストが高くて高速
複写(50枚/分以上の複写)を行っても全くゴースト
現象が生じなく、O印は高速複写を行うと若干ゴースト
現象が発生するが、実用上何ら支障がない程度であり、
X印は残留電位が高くて白地のガブリが顕著に生じて実
用に適さない場合を示す。
また、本例においては感光体A乃至lのそれぞれに対し
て設定したa−SiC:Hキャリア輸送層の製作条件、
即ち(C/Si+C)比及びHtガス流量を同じにして
、〔例1〕と同様の製造操作によってa−SiC:Hキ
ャリア輸送層だけをシリコン単結晶製平板上に生成して
2090cm−’の波数及び2860c蒙−1の波数の
それぞれの赤外線吸収係数を測定しており、この結果は
第1表に示す通りである。
第1表から明らかな通り、感光体A乃至E、Gは実用に
適した優れた感光体となり、高速複写用感光体として提
供することができ、特に感光体A乃至Cは光感度が高(
て帯電能にも優れているために高速複写を行っても全(
ゴースト現象が生じなかった。然るに感光体F、H,I
はゴースト現象が顕著になって実用に適さなかった。
本例によれば、感光体の優劣を決める評価手段がキャリ
ア輸送層の赤外線吸収係数が所定の波数に対して所定の
範囲内の吸収係数を有しているという点にあり、第1表
より明らかにされる通り、その吸収係数が2090cm
−’の波数に対して1000以上であると共に2860
co+−’の波数に対して1000以下であれば本発明
の感光体が得られることが判る。
また、本例中キャリア輸送層(5)を形成するに当たっ
て第3調整弁(18)を開放してBzHiガスを101
05eで放出してBを含む層(5)を形成し、これによ
り得られた感光体A乃至■に対応する9種類の感光体に
ついてもそれぞれ同じ画質評価が得られた。
〔発明の効果〕
以上の通り、本発明の電子写真感光体によれば、機能分
離型感光体として形成されるa−SiC:Hキャリア輸
送層の暗抵抗率及びキャリア移動度を向上させることが
でき、これにより、感光体の暗減衰率が小さくなると共
に帯電能を高めることができ、その結果、高速複写に適
した電子写真感光体が提供される。
また本発明の電子 写真感光体によれば、キャリア注入
阻止層とキャリア輸送層に用いられるa−SiCのSi
とCの比率に対して同一の所定範囲内に設定できると共
にSi供給ガス及びC供給ガスのそれぞれを両層の形成
に当たって共通に使用することができ、これにより、同
一のガス流量制御システムを用いることができるので、
個々のガス流量の制御が容易となり、その結果、*i弄
器番掛゛−゛      ス    ′  ゛虐菊禰=
製造コントロールが容易となって製造効率を高めること
ができる。更に、5i)I4ガス及びCJzガスを原料
としたグロー放電分解法によってキャリア注入阻止層、
キャリア輸送層及び表面保護層を同一の成膜装置を用い
て連続的且つ高速に形成することができ、これにより、
製造効率を高めて製造コストを著しく低減することがで
きる。
【図面の簡単な説明】
第1図は機能分離型電子写真感光体の層構成を示す断面
図、第2図は本発明の実施例に用いられる感光体の層構
造を示す断面図、第3図は本発明の実施例に用いられる
容量結合型グロー放電分解装置、第4図は本発明に係る
感光体のキャリア輸送層の成膜速度を表わす線図、第5
図は本発明に係る感光体のキャリア輸送層の導電率を表
わす線図である。 1・・・基板 2.2a・・・キャリア注入阻止層 3.3a・・・キャリア発生層 4・・・表面保護層 5・・・キャリア輸送層 忙/Si”C1:ヒ 第5図 (c / 5 r+り比 手続争甫正書(自発) 昭和61年8月8日

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 基板上に少なくともキャリア注入阻止層、キャリア輸送
    層及びキャリア発生層を形成して成る積層体であって、
    前記キャリア注入阻止層がアモルファスシリコンカーバ
    イドから成ると共に炭素とシリコンの原子組成比が1:
    9乃至9:1の範囲内にあり、前記キャリア輸送層が水
    素化アモルファスシリコンカーバイドから成ると共に炭
    素とシリコンの原子組成比が1:9乃至9:1の範囲内
    にあり且つ赤外線吸収スペクトルにおける2860cm
    ^−^1の吸収係数が1000以下にであると共に20
    90cm^−^1の吸収係数が1000以上であること
    を特徴とする電子写真感光体。
JP14924686A 1986-06-24 1986-06-24 電子写真感光体 Pending JPS634240A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01227166A (ja) * 1988-03-08 1989-09-11 Fujitsu Ltd 画像形成装置用感光体

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01227166A (ja) * 1988-03-08 1989-09-11 Fujitsu Ltd 画像形成装置用感光体

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