JPS63132252A - 電子写真感光体 - Google Patents
電子写真感光体Info
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- JPS63132252A JPS63132252A JP28045486A JP28045486A JPS63132252A JP S63132252 A JPS63132252 A JP S63132252A JP 28045486 A JP28045486 A JP 28045486A JP 28045486 A JP28045486 A JP 28045486A JP S63132252 A JPS63132252 A JP S63132252A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03G—ELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
- G03G5/00—Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
- G03G5/02—Charge-receiving layers
- G03G5/04—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
- G03G5/08—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
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- G03G5/08214—Silicon-based
- G03G5/08235—Silicon-based comprising three or four silicon-based layers
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は残留電位を小さくして画像にカブリが生じない
ようにした電子写真感光体に関するものである。
ようにした電子写真感光体に関するものである。
近年、電子写真感光体の進歩は目覚ましく、超高速複写
機やレーザービームプリンタなどの開発が活発に進めら
れており、これらの機器に用いられる感光体は長期間高
速で使用されるため、動作の安定性及び耐久性が要求さ
れる。この要求に対して水素化アモルファスシリコンが
耐熱性、耐Y耗性、無公害性並びに光怒度特性等に優れ
ているという理由から注目されている。
機やレーザービームプリンタなどの開発が活発に進めら
れており、これらの機器に用いられる感光体は長期間高
速で使用されるため、動作の安定性及び耐久性が要求さ
れる。この要求に対して水素化アモルファスシリコンが
耐熱性、耐Y耗性、無公害性並びに光怒度特性等に優れ
ているという理由から注目されている。
かかるアモルファスシリコン(以下、a−5iと略す)
から成る電子写真感光体には第2図に示す通りの積層型
感光体が提案されている。
から成る電子写真感光体には第2図に示す通りの積層型
感光体が提案されている。
即ち、第2図によれば、アルミニウムなどの導電性基板
り1)上にa−3iキヤリア注入阻止N(2)、a−3
tキャリア発生層(3)及び表面保護層(4)を順次積
層しており、このキャリア注入阻止層(2)は基板(1
)からのキャリアの注入を阻止して表面電位を高めるた
めに形成されており、そして、表面保護層(4)には高
硬度な材料を用いて感光体の耐久性を高めている。
り1)上にa−3iキヤリア注入阻止N(2)、a−3
tキャリア発生層(3)及び表面保護層(4)を順次積
層しており、このキャリア注入阻止層(2)は基板(1
)からのキャリアの注入を阻止して表面電位を高めるた
めに形成されており、そして、表面保護層(4)には高
硬度な材料を用いて感光体の耐久性を高めている。
ところが、このa−Si感光体によれば、a−Siキャ
リア発生層(3)自体が有する暗抵抗率がIQ目Ω・c
m以下であり、これにより、この感光体の暗減衰率が大
きくなると共にそれ自体の帯電能を高めることが難しく
なり、その結果、この感光体を高速複写用に用いた場合
には光メモリ効果により先の画像が完全に除去されずに
残存し、次の画像形成に伴って先の画像が再び現れる(
ゴースト現象)という問題がある。
リア発生層(3)自体が有する暗抵抗率がIQ目Ω・c
m以下であり、これにより、この感光体の暗減衰率が大
きくなると共にそれ自体の帯電能を高めることが難しく
なり、その結果、この感光体を高速複写用に用いた場合
には光メモリ効果により先の画像が完全に除去されずに
残存し、次の画像形成に伴って先の画像が再び現れる(
ゴースト現象)という問題がある。
この問題を解決するために第3図に示すような機能分離
型感光体が提案されている。
型感光体が提案されている。
即ち、第3図によれば、前述したキャリア注入阻止N(
2a)とキャリア発生1i(3a)の間にキャリア輸送
層(5)を形成しており、そして、このキャリア輸送層
(5)には暗抵抗率及びキャリア移動度のそれぞれが大
きい材料で形成されており、これにより、表面電位及び
光感度に優れ且つ残留電位が小さい高性能な感光体が得
られ、その結果、ゴースト現象が生じなくなる。
2a)とキャリア発生1i(3a)の間にキャリア輸送
層(5)を形成しており、そして、このキャリア輸送層
(5)には暗抵抗率及びキャリア移動度のそれぞれが大
きい材料で形成されており、これにより、表面電位及び
光感度に優れ且つ残留電位が小さい高性能な感光体が得
られ、その結果、ゴースト現象が生じなくなる。
このキャリア輸送層(5)については高抵抗且つ広いバ
ンドギャップ並びに半導体特性を具備したアモルファス
シリコンカーバイドを用いることが特開昭58−192
046号公報などに提案されている。
ンドギャップ並びに半導体特性を具備したアモルファス
シリコンカーバイドを用いることが特開昭58−192
046号公報などに提案されている。
しかしながら、この公報に示されたアモルファスシリコ
ンカーバイド(以下、a−3iCと略す)から成るキャ
リア輸送層を形成するに当たってシリコン元素(Si)
とカーボン元素(C)の原子組成比を1:9乃至9:1
の範囲内に設定した場合、キャリア移動度が低下傾向に
あり、これにより、キャリアがa−3iCキャリア輸送
層でトラップされ易くなって高光感度特性且つ残留電位
の一層の低減化が難しくなり、その結果、画像にカブリ
が生じ易くなる。
ンカーバイド(以下、a−3iCと略す)から成るキャ
リア輸送層を形成するに当たってシリコン元素(Si)
とカーボン元素(C)の原子組成比を1:9乃至9:1
の範囲内に設定した場合、キャリア移動度が低下傾向に
あり、これにより、キャリアがa−3iCキャリア輸送
層でトラップされ易くなって高光感度特性且つ残留電位
の一層の低減化が難しくなり、その結果、画像にカブリ
が生じ易くなる。
従って本発明は上記事情に鑑みて完成されたものであり
、その目的はa−SiCキャリア輸送層のキャリア移動
度を一段と向上させ、これにより、残留電位を小さくし
て画像にカブリが生じないようにした電子写真感光体を
提供することにある。
、その目的はa−SiCキャリア輸送層のキャリア移動
度を一段と向上させ、これにより、残留電位を小さくし
て画像にカブリが生じないようにした電子写真感光体を
提供することにある。
本発明によれば、基板上に少なくともキャリア注入阻止
層、キャリア輸送層及びキャリア発生層を形成した電子
写真感光体において、前記キャリア注入阻止層がa−S
iCから成ると共にCとSiの原子組成比を1:9乃至
9;1の範囲内に且つ前記キャリア輸送層がa−SiC
から成ると共にCとSiの原子組成比を1:100乃至
1:9の範囲内に設定したことを特徴とする電子写真感
光体が提供される。
層、キャリア輸送層及びキャリア発生層を形成した電子
写真感光体において、前記キャリア注入阻止層がa−S
iCから成ると共にCとSiの原子組成比を1:9乃至
9;1の範囲内に且つ前記キャリア輸送層がa−SiC
から成ると共にCとSiの原子組成比を1:100乃至
1:9の範囲内に設定したことを特徴とする電子写真感
光体が提供される。
以下、本発明の詳細な説明する。
第1図は本発明の電子写真感光体の典型的な層構成を示
しており、この図によれば、導電性基板(1)上にキャ
リア注入阻止Ji(6)、キャリア輸送r3(7)、キ
ャリア発生層(8)及び表面保護1’!(9)が順次形
成された積層型感光体を示しており、そして、この感光
体に対してキャリア輸送層(7)とキャリア発生層(8
)の積層順序を変えた積層型感光体であってもよい。
しており、この図によれば、導電性基板(1)上にキャ
リア注入阻止Ji(6)、キャリア輸送r3(7)、キ
ャリア発生層(8)及び表面保護1’!(9)が順次形
成された積層型感光体を示しており、そして、この感光
体に対してキャリア輸送層(7)とキャリア発生層(8
)の積層順序を変えた積層型感光体であってもよい。
本発明によれば、上記キャリア輸送層(7)をa−5i
Cにより形成するに当たってC元素とSi元素の原子組
成比を1 : 100乃至1:9の範囲内に、好適には
1 :50乃至1 :9の範囲内に設定し、これにより
、このキャリア輸送層(7)のキャリア移動度を向上さ
せ、更にキャリア注入阻止層(6)をa−3iCにより
形成すると共にその原子組成比を所定の範囲内に設定し
、これによって感光体の表面電位を大きくし且つ暗減衰
を減少させると共に残留電位も小さくすることを特徴と
する。
Cにより形成するに当たってC元素とSi元素の原子組
成比を1 : 100乃至1:9の範囲内に、好適には
1 :50乃至1 :9の範囲内に設定し、これにより
、このキャリア輸送層(7)のキャリア移動度を向上さ
せ、更にキャリア注入阻止層(6)をa−3iCにより
形成すると共にその原子組成比を所定の範囲内に設定し
、これによって感光体の表面電位を大きくし且つ暗減衰
を減少させると共に残留電位も小さくすることを特徴と
する。
先ず、キャリア輸送N(7)を上記の通りの原子組成比
に決めた理由は、C元素とSi元素の原子組成比が1:
100から外れた場合、キャリア輸送層の暗抵抗率を大
きくして表面電位を高くするという効果が顕著でなくな
り、この原子組成比が1:9から外れた場合、キャリア
輸送層の暗抵抗率が大きくなって表面電位が高くなるが
、その反面、キャリア移動度が低下傾向にあり、これに
よって残留電位が増加して画像にカブリが生じ易くなる
ためである。
に決めた理由は、C元素とSi元素の原子組成比が1:
100から外れた場合、キャリア輸送層の暗抵抗率を大
きくして表面電位を高くするという効果が顕著でなくな
り、この原子組成比が1:9から外れた場合、キャリア
輸送層の暗抵抗率が大きくなって表面電位が高くなるが
、その反面、キャリア移動度が低下傾向にあり、これに
よって残留電位が増加して画像にカブリが生じ易くなる
ためである。
上記キャリア輸送rr!!(7)の厚みは1乃至50μ
m、好適には5乃至30μmの範囲内に設定するのがよ
く、1μm未満であれば電荷保持能力に劣ってゴ−スト
現象が顕著になり、50μmを超えると画像の分解能が
劣化すると共に残留電位が大きくなる。
m、好適には5乃至30μmの範囲内に設定するのがよ
く、1μm未満であれば電荷保持能力に劣ってゴ−スト
現象が顕著になり、50μmを超えると画像の分解能が
劣化すると共に残留電位が大きくなる。
このキャリア輸送層(7)には周期律表第Va族元素(
以下、Va族元素と略す)又は周期律表第1IIa族元
素(以下、IIIa族元素と略す)を所要の範囲内で含
有させてもよい。
以下、Va族元素と略す)又は周期律表第1IIa族元
素(以下、IIIa族元素と略す)を所要の範囲内で含
有させてもよい。
即ち、Va族元素を含有させる場合、その含有量を0乃
至10.OOOppm 、好適には0.1乃至1100
0ppの範囲内で含有させると負帯電に有利な感光体と
なり、このVa族元素としてはP、N、As、Sb等が
あり、就中、Pが望ましい。
至10.OOOppm 、好適には0.1乃至1100
0ppの範囲内で含有させると負帯電に有利な感光体と
なり、このVa族元素としてはP、N、As、Sb等が
あり、就中、Pが望ましい。
また、I[Ia族元素を含有させる場合にはその含有量
を0.1乃至10,000ppm 、好適には0.5乃
至11000ppの範囲内で含有させると正帯電に有利
な感光体となり、このma族元素としてはB、AI、G
a。
を0.1乃至10,000ppm 、好適には0.5乃
至11000ppの範囲内で含有させると正帯電に有利
な感光体となり、このma族元素としてはB、AI、G
a。
In等があり、就中、Bが望ましい。
上述したような不純物元素をドーピングして所要の通り
に帯電させるという場合、それに加えて暗抵抗率を更に
一層大きくして表面電位を高めるという目的のためには
nla族元素を添加すると有利である。
に帯電させるという場合、それに加えて暗抵抗率を更に
一層大きくして表面電位を高めるという目的のためには
nla族元素を添加すると有利である。
前述のキャリア注入阻止層(6)はキャリア輸送Fl(
7)へのキャリア注入を阻止するためにa−3iCによ
って形成されており、このC元素とSt元素の原子組成
比を1:9乃至9:1、好適には2:8乃至8:2の範
囲内に設定するのがよい。
7)へのキャリア注入を阻止するためにa−3iCによ
って形成されており、このC元素とSt元素の原子組成
比を1:9乃至9:1、好適には2:8乃至8:2の範
囲内に設定するのがよい。
この原子組成比がl:9から外れた場合、基板側からキ
ャリア注入阻止効果が十分でなく、これによって表面電
位が低下し且つ暗減衰が増大し、9:1から外れた場合
には励起キャリアの基板側への注入の阻害作用が著しく
なって残留電位が増大する。
ャリア注入阻止効果が十分でなく、これによって表面電
位が低下し且つ暗減衰が増大し、9:1から外れた場合
には励起キャリアの基板側への注入の阻害作用が著しく
なって残留電位が増大する。
このキャリア注入阻止層(6)を形成するに当たって、
感光体を工種性に帯電させる場合にはその伝導型をP型
に制御し、負極性に帯電させる場合にはN型に制御する
のがよく、これによってキャリアの注入阻止作用が一段
と向上する。例えば、このP型半導体材料にはB等のm
a族元素を、N型半導体材料にはP等のVa族元素をそ
れぞれ50乃至10. OOOppmの範囲内で含有さ
せる。
感光体を工種性に帯電させる場合にはその伝導型をP型
に制御し、負極性に帯電させる場合にはN型に制御する
のがよく、これによってキャリアの注入阻止作用が一段
と向上する。例えば、このP型半導体材料にはB等のm
a族元素を、N型半導体材料にはP等のVa族元素をそ
れぞれ50乃至10. OOOppmの範囲内で含有さ
せる。
また、キャリア注入阻止層(6)の厚みは0.2乃至5
.0μm、好適には0.5乃至3.0μmの範囲内に設
定するのがよく、この範囲内の厚みであれば、基板から
のキャリアの阻止能が十分となって残留電位が小さくな
るという点で望ましい。
.0μm、好適には0.5乃至3.0μmの範囲内に設
定するのがよく、この範囲内の厚みであれば、基板から
のキャリアの阻止能が十分となって残留電位が小さくな
るという点で望ましい。
上述したキャリア輸送層(7)及びキャリア注入阻止層
(6)はa−StCから実質上構成されるが、そのアモ
ルファス状態のダングリングボンドを終端させるために
水素元素(H)やハロゲン元素が含をさせる必要があり
、これらの元素の含有量は5乃至50原子%、好適には
5乃至40原子%、最適には10乃至30原子%がよく
、通常、H元素が用いられる。このH元素が用いられる
とその元素が上記終端部に取り込まれ易いのでハンドギ
ヤツブ中の局在準位密度を低減化させ、これにより、優
れた半導体特性が得られる。
(6)はa−StCから実質上構成されるが、そのアモ
ルファス状態のダングリングボンドを終端させるために
水素元素(H)やハロゲン元素が含をさせる必要があり
、これらの元素の含有量は5乃至50原子%、好適には
5乃至40原子%、最適には10乃至30原子%がよく
、通常、H元素が用いられる。このH元素が用いられる
とその元素が上記終端部に取り込まれ易いのでハンドギ
ヤツブ中の局在準位密度を低減化させ、これにより、優
れた半導体特性が得られる。
また、このH元素の一部をハロゲン元素に置換してもよ
く、これにより、この層の局在準位密度を下げて光導電
性及び耐熱性(温度特性)を高めることができ、その置
換比率はダングリングボンド終端用全元素中0.01乃
至50原子%、好適には1乃至30原子%がよい。この
ハロゲン元素にはF、C1、Br、1.At等があるが
、就中、Fを用いるとその大きな電気陰性度によって原
子間の結合が大きくなり、これによって熱的安定性に(
Iれるという点で望ましい。
く、これにより、この層の局在準位密度を下げて光導電
性及び耐熱性(温度特性)を高めることができ、その置
換比率はダングリングボンド終端用全元素中0.01乃
至50原子%、好適には1乃至30原子%がよい。この
ハロゲン元素にはF、C1、Br、1.At等があるが
、就中、Fを用いるとその大きな電気陰性度によって原
子間の結合が大きくなり、これによって熱的安定性に(
Iれるという点で望ましい。
本発明によれば、前記キャリア発生!’i (8)には
それ自体周知の光電変換材料を用いることができ、例え
ばPVKなどの有機半導体、Se、 5e−Te、 5
e−As+CdS、ZnO,a−3i+ a−3iC+
a−5iGe+ a−3iGeCなどの無機半導体があ
る。
それ自体周知の光電変換材料を用いることができ、例え
ばPVKなどの有機半導体、Se、 5e−Te、 5
e−As+CdS、ZnO,a−3i+ a−3iC+
a−5iGe+ a−3iGeCなどの無機半導体があ
る。
前記表面保ii[(9)にはそれ自体高絶縁性、高耐食
性及び高硬度特性を有するものであれば種々の材料を用
いることができる。例えば、ポリイミド樹脂などの有機
材料、SiO□+ S i O+ A I z O:l
l S iC、S x :IN a + a −S
I l a −S i Cなどの無機材料を用いて形成
され、これにより、感光体の耐久性及び耐環境性を高め
ることができる。
性及び高硬度特性を有するものであれば種々の材料を用
いることができる。例えば、ポリイミド樹脂などの有機
材料、SiO□+ S i O+ A I z O:l
l S iC、S x :IN a + a −S
I l a −S i Cなどの無機材料を用いて形成
され、これにより、感光体の耐久性及び耐環境性を高め
ることができる。
次に本発明の電子写真感光体の製法を述べる。
a−3iCキャリア輸送層(7)及びa−3iCキャリ
ア注入阻止層(6)はグロー放電分解法、イオンブレー
ティング法、反応性スパッタリング法、真空蒸着法、熱
CVD法等の薄膜形成手段によって形成することができ
る。また、これに用いられる原料には固体、液体、気体
のいずれでもよい。
ア注入阻止層(6)はグロー放電分解法、イオンブレー
ティング法、反応性スパッタリング法、真空蒸着法、熱
CVD法等の薄膜形成手段によって形成することができ
る。また、これに用いられる原料には固体、液体、気体
のいずれでもよい。
例えばグロー放電分解法に用いられる気体原料としては
Si、)14+5iJ6+5iJsなどのSi系ガス、
C1(、。
Si、)14+5iJ6+5iJsなどのSi系ガス、
C1(、。
Czln、CJz、CzHi、C*IlsなどのC系ガ
スを用いればよく、更にH2,He、 Ne、 Arな
どがキャリアーガスとして用いられる。
スを用いればよく、更にH2,He、 Ne、 Arな
どがキャリアーガスとして用いられる。
また、これらのJ!(6) (7)以外の層を形成する
に当たって、その層をa−5i又はa−SiCにより形
成するのであれば、同様な薄膜形成手段を用いることが
できるという点で望ましく、更に同一の成膜装置を用い
た場合、共通した薄膜形成手段によって連続的に積層す
ることができるという利点がある。
に当たって、その層をa−5i又はa−SiCにより形
成するのであれば、同様な薄膜形成手段を用いることが
できるという点で望ましく、更に同一の成膜装置を用い
た場合、共通した薄膜形成手段によって連続的に積層す
ることができるという利点がある。
次に本発明の実施例に用いられる電子写真感光体をグロ
ー放電分解法を用いてa−Si又はa−SiCにより形
成する場合、その製作法を第4図の容量結合型グロー放
電分解装置により説明する。
ー放電分解法を用いてa−Si又はa−SiCにより形
成する場合、その製作法を第4図の容量結合型グロー放
電分解装置により説明する。
回申、タンク(10) (11) (12) (13)
(14)にはそれぞれSiH4,CJz+BJi+
(Hzガス希釈で0.2 X含有) 、 )I ffi
、Noガスが密封されており、H2はキャリアガスとし
ても用いられる。これらのガスは対応する調整弁(15
) (16) (17) (18) (19)を開放す
ることによって放出され、その流量がマスフローコント
ローラ(20) (21) (22) (23) (2
4)により制御され、タンク(10) (11) (1
2) (13)からのガスは主管(25)へ、タンク(
14)からのNoガスは主管(26)へ送られる。尚、
(27) (28)は止め弁である。主管(25) (
26)を通じて流れるガスは反応管(29)へと送り込
まれるが、この反応管(29)の内部には容量結合型放
電用電極(30)が設置されており、それに印加される
高周波電力は50糎乃至3に誓が、また周波数はIMI
(z乃至10M1lzが適当である。反応管(29)の
内部にはアルミニウムから成る筒状の成膜用基板(31
)が試料保持台(32)の上にi[fされており、この
保持台(32)はモーター(33)により回転駆動され
るようになっており、そして、基板(31)は適当な加
熱手段により、約200乃至400度、好ましくは約2
00乃至350℃の温度に均一に加熱される。更に反応
管(29)の内部にはa−SiC膜形成時に高度の真空
状態(放電時のガス圧0.1乃至2.QTorr )を
必要とすることにより回転ポンプ(34)と拡散ポンプ
(35)に連結されている。
(14)にはそれぞれSiH4,CJz+BJi+
(Hzガス希釈で0.2 X含有) 、 )I ffi
、Noガスが密封されており、H2はキャリアガスとし
ても用いられる。これらのガスは対応する調整弁(15
) (16) (17) (18) (19)を開放す
ることによって放出され、その流量がマスフローコント
ローラ(20) (21) (22) (23) (2
4)により制御され、タンク(10) (11) (1
2) (13)からのガスは主管(25)へ、タンク(
14)からのNoガスは主管(26)へ送られる。尚、
(27) (28)は止め弁である。主管(25) (
26)を通じて流れるガスは反応管(29)へと送り込
まれるが、この反応管(29)の内部には容量結合型放
電用電極(30)が設置されており、それに印加される
高周波電力は50糎乃至3に誓が、また周波数はIMI
(z乃至10M1lzが適当である。反応管(29)の
内部にはアルミニウムから成る筒状の成膜用基板(31
)が試料保持台(32)の上にi[fされており、この
保持台(32)はモーター(33)により回転駆動され
るようになっており、そして、基板(31)は適当な加
熱手段により、約200乃至400度、好ましくは約2
00乃至350℃の温度に均一に加熱される。更に反応
管(29)の内部にはa−SiC膜形成時に高度の真空
状態(放電時のガス圧0.1乃至2.QTorr )を
必要とすることにより回転ポンプ(34)と拡散ポンプ
(35)に連結されている。
以上のように構成されたグロー放電分解装置において、
例えばa−3iC膜を基板(32)に形成する場合には
、調整弁(15) (16) (1B)を開いてそれぞ
れ5iHa、 CzHz+ H2ガスを放出する。放出
量はマスフローコントローラ(20) (21) (2
3)により制御され、これらの混合ガスは主管(25)
を介して反応管(29)へと流し込まれる。そして、反
応管(29)の内部が0.1乃至2.QTorr程度の
真空状態、基板温度が200乃至400℃、容量結合型
放電用電極(30)の高周波電力が50IA乃至3に一
2周波数が1乃至50MHzに設定されていることに相
俟ってグロー放電が起こり、ガスが分解してa−3iC
膜が基板上に高速に形成される。
例えばa−3iC膜を基板(32)に形成する場合には
、調整弁(15) (16) (1B)を開いてそれぞ
れ5iHa、 CzHz+ H2ガスを放出する。放出
量はマスフローコントローラ(20) (21) (2
3)により制御され、これらの混合ガスは主管(25)
を介して反応管(29)へと流し込まれる。そして、反
応管(29)の内部が0.1乃至2.QTorr程度の
真空状態、基板温度が200乃至400℃、容量結合型
放電用電極(30)の高周波電力が50IA乃至3に一
2周波数が1乃至50MHzに設定されていることに相
俟ってグロー放電が起こり、ガスが分解してa−3iC
膜が基板上に高速に形成される。
次に本発明の実施例を述べる。
(例1)
第4図に示したグロー放電分解装置を用いて第1表に示
した製作条件によって基FL(31)上にキャリア注入
阻止層(6)、キャリア輸送層(7)、キャリア発生F
i(8)、表面保護Ji(9)を順次形成し、電子写真
感光体ドラムを製作した。尚、キャリア注入阻止層(6
)の形成にNoガスを用いて酸素と窒素をドープし7、
基板に対する密着性を高めている。
した製作条件によって基FL(31)上にキャリア注入
阻止層(6)、キャリア輸送層(7)、キャリア発生F
i(8)、表面保護Ji(9)を順次形成し、電子写真
感光体ドラムを製作した。尚、キャリア注入阻止層(6
)の形成にNoガスを用いて酸素と窒素をドープし7、
基板に対する密着性を高めている。
このようにして得られた感光体に対して+5.6KVの
コロナ帯電を行ったところ、表面電位が約900Vにな
り、また、この感光体に波長650nmの単色光(l@
光量0.3μW/cm” )を照射した結果、光感度が
0.50cm2erg−’になり、残留電位は約20V
にまで著しく低減化した。そして、この感光体ドラムを
超高速複写機(複写速度70枚/分)に装着して画像を
出したところ、カブリがな(て高濃度且つ高鮮明な画像
が得られた。
コロナ帯電を行ったところ、表面電位が約900Vにな
り、また、この感光体に波長650nmの単色光(l@
光量0.3μW/cm” )を照射した結果、光感度が
0.50cm2erg−’になり、残留電位は約20V
にまで著しく低減化した。そして、この感光体ドラムを
超高速複写機(複写速度70枚/分)に装着して画像を
出したところ、カブリがな(て高濃度且つ高鮮明な画像
が得られた。
尚、上記成膜用基板(3j)の一部を切り欠いて、その
切り欠き部に3X3cmの矩形のアルミニウム製平板を
装着し、この平板上に上記キャリア輸送層を第1表に示
した条件で成膜し、その膜のCとStの含有比率をオー
ジェ電子分光法により分析したところ、1:30であっ
た。
切り欠き部に3X3cmの矩形のアルミニウム製平板を
装着し、この平板上に上記キャリア輸送層を第1表に示
した条件で成膜し、その膜のCとStの含有比率をオー
ジェ電子分光法により分析したところ、1:30であっ
た。
(例2)
本例においては、(例1)中のキャリア注入阻止層(6
)及びキャリア輸送N(7)の形成に当たってSiH4
ガス及びCUtガスの流量及びこれらのガス比率を変え
ることによってそれぞれ種々の組成の膜を形成し、そし
て、キャリア発生層(8)及び表面保1iiJli(9
)は(例1)と同じ条件で形成し、これにより、9種類
の感光体を製作した。
)及びキャリア輸送N(7)の形成に当たってSiH4
ガス及びCUtガスの流量及びこれらのガス比率を変え
ることによってそれぞれ種々の組成の膜を形成し、そし
て、キャリア発生層(8)及び表面保1iiJli(9
)は(例1)と同じ条件で形成し、これにより、9種類
の感光体を製作した。
これらの感光体を、最もカブリが生じ易くなる苛酷な条
件を備えた超高速複写機(複写速度70枚7分)に装着
して画像を出し、これらの画像の濃度、或いはカブリが
生じた場合のそのカブリ濃度を画像濃度計によって測定
したところ、第2表に示す通りの結果が得られた。
件を備えた超高速複写機(複写速度70枚7分)に装着
して画像を出し、これらの画像の濃度、或いはカブリが
生じた場合のそのカブリ濃度を画像濃度計によって測定
したところ、第2表に示す通りの結果が得られた。
また、表中の画質評価は◎印、O印、及びΔ印の三通り
に区分し、◎印は画像濃度が高くてカブリが全く生じな
かった場合を表わし、O印は画像濃度が高く、カブリが
ほとんど見られなく、実質上何ら支障がない程度の場合
を表わし、そして、Δ印は画像濃度が若干低いか或いは
カブリが幾らか見られた場合を表わす。
に区分し、◎印は画像濃度が高くてカブリが全く生じな
かった場合を表わし、O印は画像濃度が高く、カブリが
ほとんど見られなく、実質上何ら支障がない程度の場合
を表わし、そして、Δ印は画像濃度が若干低いか或いは
カブリが幾らか見られた場合を表わす。
第2表より明らかな通り、本発明の範囲内である感光体
C,D、E及びFは優れた画質が得られており、特に感
光体り、Eはカブリが全く生じなかった。然るに感光体
A、B、GSH及びIはキャリア輸送層及び/又はキャ
リア注入阻止層のC/Si比率が本発明の範囲外である
ために画像濃度が若干低くなり、カブリが幾らか見られ
た。
C,D、E及びFは優れた画質が得られており、特に感
光体り、Eはカブリが全く生じなかった。然るに感光体
A、B、GSH及びIはキャリア輸送層及び/又はキャ
リア注入阻止層のC/Si比率が本発明の範囲外である
ために画像濃度が若干低くなり、カブリが幾らか見られ
た。
〔発明の効果〕
以上の通り、本発明の電子写真感光体によれば、a−S
iCキャリア輸送層から成る機能分離型感光体を製作す
るに際してCとSiの原子組成比を所定の範囲内に設定
することによって残留電位を小さくして画像にカブリが
生じなくなった。そして、この感光体によれば、カブリ
が最も生じ易い高速複写機に装着された場合、その効果
が顕著であり、これによって本発明の電子写真感光体は
高速複写機に好適な感光体として提供できる。
iCキャリア輸送層から成る機能分離型感光体を製作す
るに際してCとSiの原子組成比を所定の範囲内に設定
することによって残留電位を小さくして画像にカブリが
生じなくなった。そして、この感光体によれば、カブリ
が最も生じ易い高速複写機に装着された場合、その効果
が顕著であり、これによって本発明の電子写真感光体は
高速複写機に好適な感光体として提供できる。
また、本発明の電子写真感光体によれば、所定の原子組
成比を有するa−SjCキャリア注入阻止層を形成した
ことによって表面電位を更に一段と大きくでき、これに
よって画像濃度を高めると共にカブリ防止にも有効であ
り、その結果、上述のような高速複写機に好適な感光体
として提供できる。
成比を有するa−SjCキャリア注入阻止層を形成した
ことによって表面電位を更に一段と大きくでき、これに
よって画像濃度を高めると共にカブリ防止にも有効であ
り、その結果、上述のような高速複写機に好適な感光体
として提供できる。
第1図は本発明の実施例に示した電子写真感光体の層構
成を表わす断面図、第2図は従来周知のアモルファスシ
リコン感光体の層構成を表わす断面図、第3図は従来の
機能分離型感光体を説明する層構成の断面図、そして、
第4図は容量結合型グロー放電分解装置の概略図である
。 1 ・・・導電性基板 2.2a、6・・・キャリア注入阻止層5.7 ・・
・キャリア輸送層 3.3a、8・・・キャリア発生層 4.9 ・・・表面像i!層 特許出願人 (663)京セラ株式会社代表者安城欽寿 同 同村 孝夫
成を表わす断面図、第2図は従来周知のアモルファスシ
リコン感光体の層構成を表わす断面図、第3図は従来の
機能分離型感光体を説明する層構成の断面図、そして、
第4図は容量結合型グロー放電分解装置の概略図である
。 1 ・・・導電性基板 2.2a、6・・・キャリア注入阻止層5.7 ・・
・キャリア輸送層 3.3a、8・・・キャリア発生層 4.9 ・・・表面像i!層 特許出願人 (663)京セラ株式会社代表者安城欽寿 同 同村 孝夫
Claims (1)
- 基板上に少なくともキャリア注入阻止層、キャリア輸送
層及びキャリア発生層を形成した電子写真感光体におい
て、前記キャリア注入阻止層がアモルファスシリコンカ
ーバイドから成ると共にカーボンとシリコンの原子組成
比を1:9乃至9:1の範囲内に且つ前記キャリア輸送
層がアモルファスシリコンカーバイドから成ると共にカ
ーボンとシリコンの原子組成比を1:100乃至1:9
の範囲内に設定したことを特徴とする電子写真感光体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28045486A JPS63132252A (ja) | 1986-11-25 | 1986-11-25 | 電子写真感光体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28045486A JPS63132252A (ja) | 1986-11-25 | 1986-11-25 | 電子写真感光体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63132252A true JPS63132252A (ja) | 1988-06-04 |
Family
ID=17625283
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP28045486A Pending JPS63132252A (ja) | 1986-11-25 | 1986-11-25 | 電子写真感光体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63132252A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008039208A (ja) * | 2006-08-01 | 2008-02-21 | Mayekawa Mfg Co Ltd | 冷却空気供給設備 |
-
1986
- 1986-11-25 JP JP28045486A patent/JPS63132252A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008039208A (ja) * | 2006-08-01 | 2008-02-21 | Mayekawa Mfg Co Ltd | 冷却空気供給設備 |
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