JPS62207437A - Ｘ線ｃｔ装置の温度特性補正装置 - Google Patents
Ｘ線ｃｔ装置の温度特性補正装置Info
- Publication number
- JPS62207437A JPS62207437A JP61048667A JP4866786A JPS62207437A JP S62207437 A JPS62207437 A JP S62207437A JP 61048667 A JP61048667 A JP 61048667A JP 4866786 A JP4866786 A JP 4866786A JP S62207437 A JPS62207437 A JP S62207437A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- temperature
- ray
- correction data
- circuit
- detector
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000012937 correction Methods 0.000 title claims description 102
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 20
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 8
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 16
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 13
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 3
- 238000005485 electric heating Methods 0.000 description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 241000270730 Alligator mississippiensis Species 0.000 description 1
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000013213 extrapolation Methods 0.000 description 1
- 238000007500 overflow downdraw method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本預明はｘｍｃｒ装置の温度特性補正装置に係シ、特に
Ｘ線検出器の検出出力の温度補正を行なうに好適な温度
補正回路を有するＸ線ＣＴ装置の温度特性補正装置に関
する。
Ｘ線検出器の検出出力の温度補正を行なうに好適な温度
補正回路を有するＸ線ＣＴ装置の温度特性補正装置に関
する。
従来のＸＭＣＴ装置ではＸ線検出器の温度特性を補償す
るためにＸ線検出器の周囲に電熱回路や冷却回路などの
付加装置を配置して定温度にしていた。しかしこのよう
な従来装置の電熱回路や冷却回路では定温度にするため
の制御回路が必要であシ、かつ制御の時間遅れ等のため
に制御回路が複雑となるなどの問題点があった。
るためにＸ線検出器の周囲に電熱回路や冷却回路などの
付加装置を配置して定温度にしていた。しかしこのよう
な従来装置の電熱回路や冷却回路では定温度にするため
の制御回路が必要であシ、かつ制御の時間遅れ等のため
に制御回路が複雑となるなどの問題点があった。
本発明の目的は従、来の電熱回路や冷却回路などの付加
装置を必要とせずに、Ｘ線検出器の周囲温度を検出して
Ｘ線検出器の検出出力の良好な温度補正を行なえる温度
補正回路を備えたＸ線ＣＴ装置の温度特性補正装置を提
供するにある。
装置を必要とせずに、Ｘ線検出器の周囲温度を検出して
Ｘ線検出器の検出出力の良好な温度補正を行なえる温度
補正回路を備えたＸ線ＣＴ装置の温度特性補正装置を提
供するにある。
本発明は、Ｘ線検出器の近傍に配置した温度検出器の検
出出力を見出しとして各温度でのＸ線検出器の検出出力
の温度特性を補正する補正データを収集して記憶してお
き、実使用時のＸ線検出器の周囲温度に対応した補正デ
ータを用いて温度補正を行なうと共に、さらに実使用状
態でのＸ＆Ｉ検出器の検出出力の補正データを必要に応
じて常時に収集し、各温度に対応した見出しの補正デー
タを増すと共に同一温度での最新の補正データに更新し
て常に温度特性の変化に対応できるようにしたＸ線ＣＴ
装置の温度特性補正装置である。
出出力を見出しとして各温度でのＸ線検出器の検出出力
の温度特性を補正する補正データを収集して記憶してお
き、実使用時のＸ線検出器の周囲温度に対応した補正デ
ータを用いて温度補正を行なうと共に、さらに実使用状
態でのＸ＆Ｉ検出器の検出出力の補正データを必要に応
じて常時に収集し、各温度に対応した見出しの補正デー
タを増すと共に同一温度での最新の補正データに更新し
て常に温度特性の変化に対応できるようにしたＸ線ＣＴ
装置の温度特性補正装置である。
以下に本発明の一実施例を第１図（ａ）、（ｂ）ないし
第６図によシ説明する。
第６図によシ説明する。
第１図ｆａ）は本発明によるＸ線ＣＴ装置の温度特性補
正装置の一実施例を示す温度補正データを収集するとき
の構成ブロック図である。第１図において、１はＸ線管
、２は多チャネルＸ線検出器。
正装置の一実施例を示す温度補正データを収集するとき
の構成ブロック図である。第１図において、１はＸ線管
、２は多チャネルＸ線検出器。
３はＸ線管１とＸ線検出器２を対向する位置に固定する
フレーム、４はＸ線検出回路、５はＸ線検出器２の近傍
に配置した温度検出器、６はコンピュータ、７は温度検
出器５の検出出力からコンピュータ６で計算された温度
補正データの見出しを求める見出し発生回路、８は見出
し発生回路７で求めた見出しの対応位置にコンピュータ
６の温度補正データ出力を記憶させる制御回路、９は温
度補正データを記憶する記憶回路である。
フレーム、４はＸ線検出回路、５はＸ線検出器２の近傍
に配置した温度検出器、６はコンピュータ、７は温度検
出器５の検出出力からコンピュータ６で計算された温度
補正データの見出しを求める見出し発生回路、８は見出
し発生回路７で求めた見出しの対応位置にコンピュータ
６の温度補正データ出力を記憶させる制御回路、９は温
度補正データを記憶する記憶回路である。
第２図は第１図（ａ）の多チャネルＸＳ検出器の特性側
図である。第２図において、検出器チャネルの検出器出
力特性は一般に定温度では実線で示すようにＸ線管１か
ら放射されるＸ線量の分布に比例したほぼ平坦な特性を
示すが、温度が定温度から変化すると検出器チャネルの
温度特性によって破線で例示するように変化を生じる。
図である。第２図において、検出器チャネルの検出器出
力特性は一般に定温度では実線で示すようにＸ線管１か
ら放射されるＸ線量の分布に比例したほぼ平坦な特性を
示すが、温度が定温度から変化すると検出器チャネルの
温度特性によって破線で例示するように変化を生じる。
第３図は第１図（ａ）の多チャネルＸ線検出器の検出器
出力の温度特性説明図である。第３図において、Ｘ線検
出器２のｉチャネル（実線）、ｊチャネル（破線）およ
び基準チャネル（一点鎖線）の温度に対する検出器出力
を例示しておシ、温度Ｔではｉチャネル、ｊチャネル、
基準チャネルのそれぞれの検出器出力の値はＳｉ、 Ｓ
Ｔ、 ８ｊである。
出力の温度特性説明図である。第３図において、Ｘ線検
出器２のｉチャネル（実線）、ｊチャネル（破線）およ
び基準チャネル（一点鎖線）の温度に対する検出器出力
を例示しておシ、温度Ｔではｉチャネル、ｊチャネル、
基準チャネルのそれぞれの検出器出力の値はＳｉ、 Ｓ
Ｔ、 ８ｊである。
まず第１図（ａ）の温度補正データの収集時の補正デー
タの作成および見出し発生などの動作を第２図および第
３図により説明する。
タの作成および見出し発生などの動作を第２図および第
３図により説明する。
第１図（ａ）のＸ線管１はフレーム３の回転に同期しな
がらＸ線を発生し、多チャネルＸ線検出器２は入射する
Ｘ線を検出してＸ線強度に比例した大きさの電気信号に
変換する。Ｘ線検出器２は一般に３００チャネル以上の
多チャネルＸ線検出器で、これよ多発生した電気信号は
Ｘ線検出回路４に入力され、時系列的に並べ換えて多チ
ャネルデータとしてコンピュータ６に送られる。コンピ
ュータ６はＸ線検出回路４から送られるフレーム３０回
転に同期しながら収集された複数組の多チャネルデータ
を加算平均する。この加算平均を行なったのち、温度検
出器５で検出された温度Ｔ”Ｃでの基準チャネルに対す
る各チャネルの温度補正データηを算出する。たとえば
第３図の温度Ｔ’Ｃでのｉチャネルの補正データηｉは
、 ηｉ ＝ （５ｉ−８Ｔ）／Ｓｉ ＝ １− ＳＴ／Ｓｉ で求められる。同様Ｋｊチャネルの補正データηｉは、 η・＝ １− ＳＴ／８ｊ で求められる。一般にｎチャネル目の補正データη。は
、温度Ｔ″Ｃでの検出出力をＳｎとすると、ηユニ １
− ＳＴ／Ｓｎ で求められる。以下同様に全てのチャネルに対する補正
データηを求めて、その計算結果を記憶回路９に記憶す
るまで保存する。ついで制御回路８によシ計算結果が記
憶回路９に記憶される。
がらＸ線を発生し、多チャネルＸ線検出器２は入射する
Ｘ線を検出してＸ線強度に比例した大きさの電気信号に
変換する。Ｘ線検出器２は一般に３００チャネル以上の
多チャネルＸ線検出器で、これよ多発生した電気信号は
Ｘ線検出回路４に入力され、時系列的に並べ換えて多チ
ャネルデータとしてコンピュータ６に送られる。コンピ
ュータ６はＸ線検出回路４から送られるフレーム３０回
転に同期しながら収集された複数組の多チャネルデータ
を加算平均する。この加算平均を行なったのち、温度検
出器５で検出された温度Ｔ”Ｃでの基準チャネルに対す
る各チャネルの温度補正データηを算出する。たとえば
第３図の温度Ｔ’Ｃでのｉチャネルの補正データηｉは
、 ηｉ ＝ （５ｉ−８Ｔ）／Ｓｉ ＝ １− ＳＴ／Ｓｉ で求められる。同様Ｋｊチャネルの補正データηｉは、 η・＝ １− ＳＴ／８ｊ で求められる。一般にｎチャネル目の補正データη。は
、温度Ｔ″Ｃでの検出出力をＳｎとすると、ηユニ １
− ＳＴ／Ｓｎ で求められる。以下同様に全てのチャネルに対する補正
データηを求めて、その計算結果を記憶回路９に記憶す
るまで保存する。ついで制御回路８によシ計算結果が記
憶回路９に記憶される。
第４図は第１図（ａ）の記憶回路９の構造と記憶内容を
例示する説明図である。第４図において、たとえば見出
し回路７の発生する見出し番号Ｆは温度Ｔ″Ｃの１５°
Ｃから４０．５°Ｃまで０．１°Ｃごとに２５６の見出
し番号Ｆ。−Ｆ２５．を有していて、見出し回路７は温
度検出器５の温度検出出力を温度Ｔに最も近い温度の見
出し番号Ｆに変換する。記憶回路９は見出し番号Ｆ。−
Ｆ２５５に相当する先頭番地Ａ０〜Ａ２５５を有し、制
御回路８は見出し番号Ｆに相当する先頭番地Ａを算出し
、この先頭番地Ａからコンピュータ６の計算結果のチャ
ネル番号Ｑ−Ｈの各チャネルの補正データη。〜η０を
全チャネル分だけ記憶回路９に記憶させる。
例示する説明図である。第４図において、たとえば見出
し回路７の発生する見出し番号Ｆは温度Ｔ″Ｃの１５°
Ｃから４０．５°Ｃまで０．１°Ｃごとに２５６の見出
し番号Ｆ。−Ｆ２５．を有していて、見出し回路７は温
度検出器５の温度検出出力を温度Ｔに最も近い温度の見
出し番号Ｆに変換する。記憶回路９は見出し番号Ｆ。−
Ｆ２５５に相当する先頭番地Ａ０〜Ａ２５５を有し、制
御回路８は見出し番号Ｆに相当する先頭番地Ａを算出し
、この先頭番地Ａからコンピュータ６の計算結果のチャ
ネル番号Ｑ−Ｈの各チャネルの補正データη。〜η０を
全チャネル分だけ記憶回路９に記憶させる。
上記のように温度補正データはＸ線検出器２および温度
検出器５の検出出力にもとづいてコンピュータ６によシ
計算されて記憶回路９に記憶されるが、前もって全ての
温度Ｔ″Ｃについて全チャネルの補正データを記憶させ
ておく必要はなく、Ｘ線ＣＴ装置の実使用中の任意の時
点で被写体のない補正データの収集と計算および記憶を
行ない、新しい見出しの補正データを順次に増加させれ
ばよく、あるいは同一見出しの新しいデータに更新して
もよい。
検出器５の検出出力にもとづいてコンピュータ６によシ
計算されて記憶回路９に記憶されるが、前もって全ての
温度Ｔ″Ｃについて全チャネルの補正データを記憶させ
ておく必要はなく、Ｘ線ＣＴ装置の実使用中の任意の時
点で被写体のない補正データの収集と計算および記憶を
行ない、新しい見出しの補正データを順次に増加させれ
ばよく、あるいは同一見出しの新しいデータに更新して
もよい。
第１図（ｂ）は本発明によるＸ＃ＩＣＴ装置の温度特性
補正装置の一実施例を示す温度補正を実施してＣＴ像を
うるときの構成ブロックである。第１図（ｂ）において
、第１図（ａ）と同一符号は同一部分を示すほか、ｌＯ
はＸ線回路４から送られる多チャネルの投影データをそ
の時点の温度の見出しによシ記憶回路９から求められる
補正データにもとづいて補正する温度補正回路、１１は
温度補正された投影データをコンピュータ６によシ解析
処理して再構成されたＣＴ像を表示する表示回路である
。１２はＸ線管１とＸ線検出器２０間に置かれたＣＴ＠
をうるための被写体である。
補正装置の一実施例を示す温度補正を実施してＣＴ像を
うるときの構成ブロックである。第１図（ｂ）において
、第１図（ａ）と同一符号は同一部分を示すほか、ｌＯ
はＸ線回路４から送られる多チャネルの投影データをそ
の時点の温度の見出しによシ記憶回路９から求められる
補正データにもとづいて補正する温度補正回路、１１は
温度補正された投影データをコンピュータ６によシ解析
処理して再構成されたＣＴ像を表示する表示回路である
。１２はＸ線管１とＸ線検出器２０間に置かれたＣＴ＠
をうるための被写体である。
つぎに第１図（ｂ）の記憶された補正データを求めて投
影データの温度補正を行ないＣＴ像をうるときの主に温
度補正の動作について説明する。
影データの温度補正を行ないＣＴ像をうるときの主に温
度補正の動作について説明する。
第１図（ｂ）のＸ線管１は７レーム３の回転に同期しな
がらＸ線を発生し、多チャネルＸ線検出器２は被写体１
２によシ減弱を受けた透過Ｘ線量を検出して透過Ｘ線強
度に比例した大きさの電気信号に変換する。Ｘ線検出回
路４は多チャネルＸ線検出器２の検出出力を時系列的に
並べ換えて多チャネルの投影データとして温度補正回路
１０に送る。一方で温度検出器５は透過Ｘ線を検出して
いる期間のＸ線検出器２の周囲温度Ｔ’Ｃを検出し、見
出し回路７は温度検出器５の検出出力にもとづき記憶回
路９内の温度Ｔ’Ｃの補正データが格納されるべき先頭
番地ＡＴの見出し番号ＦＴを発生する。制御回路８はこ
の見出し回路７から与えられた見出し番号ＦＴに相当す
る記憶回路９上の補正データの先頭番地ＡＴを算出して
温度補正回路１０に与える。これによ多温度補正回路１
０は多チャネルの投影データの温度補正を行なう。
がらＸ線を発生し、多チャネルＸ線検出器２は被写体１
２によシ減弱を受けた透過Ｘ線量を検出して透過Ｘ線強
度に比例した大きさの電気信号に変換する。Ｘ線検出回
路４は多チャネルＸ線検出器２の検出出力を時系列的に
並べ換えて多チャネルの投影データとして温度補正回路
１０に送る。一方で温度検出器５は透過Ｘ線を検出して
いる期間のＸ線検出器２の周囲温度Ｔ’Ｃを検出し、見
出し回路７は温度検出器５の検出出力にもとづき記憶回
路９内の温度Ｔ’Ｃの補正データが格納されるべき先頭
番地ＡＴの見出し番号ＦＴを発生する。制御回路８はこ
の見出し回路７から与えられた見出し番号ＦＴに相当す
る記憶回路９上の補正データの先頭番地ＡＴを算出して
温度補正回路１０に与える。これによ多温度補正回路１
０は多チャネルの投影データの温度補正を行なう。
第５図は第１図（ｂ）の温度補正回路１０の構成例ブロ
ック図である。第５図において、１ｏ１は制御回路８か
ら与えられた先頭番地ＡＴにもとづき記憶回路９の内容
を読み出す温度補正回路ｌＯ内の制御回路である。１０
２は読み出された記憶回路９の内容を判断して温度Ｔ’
Ｃの補正データを算出する計算回路、１０３は計算回路
１０２で算出された補正データを用いてＸ線検出回路４
から送られた多チャネルの投影データに温度補正を加え
る補正回路である。
ック図である。第５図において、１ｏ１は制御回路８か
ら与えられた先頭番地ＡＴにもとづき記憶回路９の内容
を読み出す温度補正回路ｌＯ内の制御回路である。１０
２は読み出された記憶回路９の内容を判断して温度Ｔ’
Ｃの補正データを算出する計算回路、１０３は計算回路
１０２で算出された補正データを用いてＸ線検出回路４
から送られた多チャネルの投影データに温度補正を加え
る補正回路である。
いま制御回路８からの先頭番地ＡＴの信号が温度補正回
路１０内の制御回路１０１に加えられると、制御回路１
０１は記憶回路９の先頭番地〜からの内容を読み出して
計算回路１０２に転送する。計算回路１０２では送られ
た記憶回路９の内容が収集済みの補正データか否かを判
定し、収集済みの補正データの場合にはそのｔま補正回
路１０３に補正ゲータを与える。また収集済みの補正デ
ータでない場合には、記憶回路９に記憶されている他の
温度の補正データを受けて、この補正データを用いて該
当温度Ｔ’Ｃでの補正データを次の算出方法によシ算出
して補正回路１０３ Ｋ与える。
路１０内の制御回路１０１に加えられると、制御回路１
０１は記憶回路９の先頭番地〜からの内容を読み出して
計算回路１０２に転送する。計算回路１０２では送られ
た記憶回路９の内容が収集済みの補正データか否かを判
定し、収集済みの補正データの場合にはそのｔま補正回
路１０３に補正ゲータを与える。また収集済みの補正デ
ータでない場合には、記憶回路９に記憶されている他の
温度の補正データを受けて、この補正データを用いて該
当温度Ｔ’Ｃでの補正データを次の算出方法によシ算出
して補正回路１０３ Ｋ与える。
第６図は第５図の温度補正回路１０の計算回路１０２の
温度補正データの算出方法を例示する説明図である。第
６図において、記憶回路９の複数の先頭番地に集収済み
の複数の温度の補正データが記憶されている。
温度補正データの算出方法を例示する説明図である。第
６図において、記憶回路９の複数の先頭番地に集収済み
の複数の温度の補正データが記憶されている。
まず該当温度Ｔ″Ｃの見出し番号ＦＴに相当する記憶回
路９上の先頭番地ＡＴが第６図に示すように収集済みの
補正デー、夕の隣接する先頭番地Ａｉ。
路９上の先頭番地ＡＴが第６図に示すように収集済みの
補正デー、夕の隣接する先頭番地Ａｉ。
Ａ、の間にある場合には、制御回路１０１によシ読み出
される記憶回路９の先頭番地Ａを該当先頭番地ＡＴよシ
順次に小さくして行き、記憶回路９の内容が収集済みの
補正データとなる先頭番地Ａ、の補正データを記憶回路
９から読み出して計算回路１０２に一時記憶する。つい
で制御回路１０１によシ読み出される記憶回路９の先頭
番地Ａを該描先頭番地ＡＴよシ順次に大きくして行き、
記憶回路９の内容が収集済みの補正データとなる先頭番
地Ａ。
される記憶回路９の先頭番地Ａを該当先頭番地ＡＴよシ
順次に小さくして行き、記憶回路９の内容が収集済みの
補正データとなる先頭番地Ａ、の補正データを記憶回路
９から読み出して計算回路１０２に一時記憶する。つい
で制御回路１０１によシ読み出される記憶回路９の先頭
番地Ａを該描先頭番地ＡＴよシ順次に大きくして行き、
記憶回路９の内容が収集済みの補正データとなる先頭番
地Ａ。
の補正データを記憶回路９から読み出して計算回路１０
２に一時記憶する。ここで先頭番地Ａ、 、 Ａ、での
チャネル番号にのチャネルの各補正データηｊｋ＋ηｊ
ｋとし、先頭番地Ａ４．Ａｊに相当する各温度ＴｉＩＴ
、とじて、計算回路１０２は一時記憶した先頭番地Ａ、
、Ａ、での全チャネルの補正データに対してＪ 次式によシチャネル番号にのチャネルの該当温度Ｔ′Ｃ
での補正データηＴｋを算出する。
２に一時記憶する。ここで先頭番地Ａ、 、 Ａ、での
チャネル番号にのチャネルの各補正データηｊｋ＋ηｊ
ｋとし、先頭番地Ａ４．Ａｊに相当する各温度ＴｉＩＴ
、とじて、計算回路１０２は一時記憶した先頭番地Ａ、
、Ａ、での全チャネルの補正データに対してＪ 次式によシチャネル番号にのチャネルの該当温度Ｔ′Ｃ
での補正データηＴｋを算出する。
η ＝η、＋（ηｊ、−ηｉｋ）・（Ｔ−Ｔρ／（Ｔｊ
−Ｔｉ）・・・（１）Ｔｋ ｘｋ また該当温度Ｔ’Ｃに相当する先頭番地ＡＴが記憶回路
９に記憶されている有効な集収済みの補正データの最も
小さい先頭番地Ａｍよシ小さい場合には、先頭番地ＡＴ
に最も近い２つの温度Ｔｍ、ＴＩ（第６図）でのチャネ
ル番号にのチャネルの各補正データη１ｎ２．η１．を
用いて次式によシ同様にして該当温度Ｔ″Ｃでの補正デ
ータηＴｋを算出する。
−Ｔｉ）・・・（１）Ｔｋ ｘｋ また該当温度Ｔ’Ｃに相当する先頭番地ＡＴが記憶回路
９に記憶されている有効な集収済みの補正データの最も
小さい先頭番地Ａｍよシ小さい場合には、先頭番地ＡＴ
に最も近い２つの温度Ｔｍ、ＴＩ（第６図）でのチャネ
ル番号にのチャネルの各補正データη１ｎ２．η１．を
用いて次式によシ同様にして該当温度Ｔ″Ｃでの補正デ
ータηＴｋを算出する。
、７Ｔｋ＝輻、＋（η１．−η１ｎｋ）・（Ｔ−Ｔｍ）
／（Ｔ、−ＴＩｍ）・＜２）逆に該当温度Ｔ’Ｃに相当
する先頭番地ＡＴが記憶回路９に記憶されている有効な
集収済みの補正データの最も大きい先頭番地ＡＱよシ大
きい場合には、先頭番地ＡＴＫ最も近い２つの温度Ｔユ
、Ｔｎに相当する先頭番地Ａ、、Ａｎ（第６図）でのチ
ャネル番号にのチャネルの各補正データ４話、ηｎｋを
用いて次式によシ同様にして該当温度Ｔ′Ｃでの補正デ
ータη１．を算出する。
／（Ｔ、−ＴＩｍ）・＜２）逆に該当温度Ｔ’Ｃに相当
する先頭番地ＡＴが記憶回路９に記憶されている有効な
集収済みの補正データの最も大きい先頭番地ＡＱよシ大
きい場合には、先頭番地ＡＴＫ最も近い２つの温度Ｔユ
、Ｔｎに相当する先頭番地Ａ、、Ａｎ（第６図）でのチ
ャネル番号にのチャネルの各補正データ４話、ηｎｋを
用いて次式によシ同様にして該当温度Ｔ′Ｃでの補正デ
ータη１．を算出する。
ηＴ１．＝ｌｎｋ＋（η。、−η。、）・（Ｔ−Ｔｎ）
／（Ｔ、−Ｔ、） ・・・・−・（３）第５図の補正回
路１０３は計算回路１０２で算出された補正データη□
を用いてＸ線検出回路４から送られる多チャネルの投影
データＤＴｋを次式によシ補正して温度補正された投影
データ善、を計算する。
／（Ｔ、−Ｔ、） ・・・・−・（３）第５図の補正回
路１０３は計算回路１０２で算出された補正データη□
を用いてＸ線検出回路４から送られる多チャネルの投影
データＤＴｋを次式によシ補正して温度補正された投影
データ善、を計算する。
ＤＴｋ ＝ＤＴ１ （１−η、、）
第１図（ａ）のコンピュータ６は補正回路１０３で見ら
れた温度補正済みの投影データＤ′ｒｋを用いて、フー
リエ変換法（ＦＦＴも含む）やコンポルージョン法など
による解析処理を行なったのち、逆投影法によシ被写体
のＣＴ像を構成して表示回路１１に表示する。
れた温度補正済みの投影データＤ′ｒｋを用いて、フー
リエ変換法（ＦＦＴも含む）やコンポルージョン法など
による解析処理を行なったのち、逆投影法によシ被写体
のＣＴ像を構成して表示回路１１に表示する。
なお上記実施例では、補正データηをうる手段として７
レ一ム３０回転に同期しながらＸ線管１から放射される
Ｘ線を直接に多チャネルＸ線検出器２に入射させている
が、このほかＸ線量分布を制御するＸ線フィルタまたは
任意のＸ線吸収係数を有する任意形状の物体あるいは両
者の組合せで補正データηをうろことも可能であり、さ
らにフレーム３を回転させずに補正データをうるように
してもよい。
レ一ム３０回転に同期しながらＸ線管１から放射される
Ｘ線を直接に多チャネルＸ線検出器２に入射させている
が、このほかＸ線量分布を制御するＸ線フィルタまたは
任意のＸ線吸収係数を有する任意形状の物体あるいは両
者の組合せで補正データηをうろことも可能であり、さ
らにフレーム３を回転させずに補正データをうるように
してもよい。
また該当温度Ｔ’Ｃの見出しに相当する記憶回路９の先
頭番地Ａに集収済みの補正データがない場゛合に該当温
度Ｔ″Ｃでの補正データη、、を算出する方法として、
隣接する２つの先頭番地の補正データを用いた直線近似
による内挿または外挿法を示したが、２つ以上の先頭番
地の補正データを用いた高次補間法によシ本実施例の構
成を変更せずに算出することも可能である。
頭番地Ａに集収済みの補正データがない場゛合に該当温
度Ｔ″Ｃでの補正データη、、を算出する方法として、
隣接する２つの先頭番地の補正データを用いた直線近似
による内挿または外挿法を示したが、２つ以上の先頭番
地の補正データを用いた高次補間法によシ本実施例の構
成を変更せずに算出することも可能である。
また温度Ｔ’Ｃによる見出し番号Ｆを１５゛Ｃから４０
．５°Ｃまでの０．１℃ごとの２５６に割り付けたが、
これらの個数や数値も実際にＸ線ＣＴ装置を使用する状
況により自由に設定可能であシ、さらに温度検出器５を
複数個用いて記憶回路９の補正データの見出しを２次元
以上の高次元として管理してもよい。
．５°Ｃまでの０．１℃ごとの２５６に割り付けたが、
これらの個数や数値も実際にＸ線ＣＴ装置を使用する状
況により自由に設定可能であシ、さらに温度検出器５を
複数個用いて記憶回路９の補正データの見出しを２次元
以上の高次元として管理してもよい。
以上のように本発明によれば、Ｘ線ＣＴ装置の実使用状
態においてＸ線検出器の近傍に配置した温度検出器の検
出出力を見出しとして、実使用時の温度での投影データ
、の温度特性を収集済みの補正データを用いて補正でき
るので、ＣＴ像に現われる温度変化に起因するアーチフ
ァクトを低減するに効果的であるうえ、Ｘ線ＣＴ装置を
実際に使用しながらその計算および記憶能力を用いて任
意の温度での補正データの日常的な収集や更新が可能な
ため常時に温度特性の変化に追随できるなどの効果があ
る。
態においてＸ線検出器の近傍に配置した温度検出器の検
出出力を見出しとして、実使用時の温度での投影データ
、の温度特性を収集済みの補正データを用いて補正でき
るので、ＣＴ像に現われる温度変化に起因するアーチフ
ァクトを低減するに効果的であるうえ、Ｘ線ＣＴ装置を
実際に使用しながらその計算および記憶能力を用いて任
意の温度での補正データの日常的な収集や更新が可能な
ため常時に温度特性の変化に追随できるなどの効果があ
る。
第１図（ａ）、（ｂ）は本発明によるＸ線ＣＴ装置の温
度特性補正装置の一実施例を示すそれぞれ温度補正デー
タ収集時、温度補正ＣＴ像表示時の構成ブロック図、第
２図は第１図（ａ）のＸｌｓ検出器の特性例図、第３図
は第１図（ａ）のＸ線検出器の温度特性側説明図、第４
図は第１図（ａ）の記憶回路の構造側説明図、第５図は
第１図（ｂ）の温度補正回路の構成例ブロック図、第６
図は第５図の補正データ算出方法例説明図である。 １・・・Ｘ線管、２・・・多チャネルＸａ検出器、３・
・・フレーム、４・・・Ｘ線検出回路、５・・・温度検
出器、６・・・コンピュータ、７・・・見出し発生回路
、８・・・制御回路、９・・・記憶回路、１０・・・温
度補正回路、１１・・・表示回路。 特許出願人 株式会社日立メデイコ 代理人 弁理士 秋 本 正 実第 １
図 とｂノ ２）２ 図 第４図
度特性補正装置の一実施例を示すそれぞれ温度補正デー
タ収集時、温度補正ＣＴ像表示時の構成ブロック図、第
２図は第１図（ａ）のＸｌｓ検出器の特性例図、第３図
は第１図（ａ）のＸ線検出器の温度特性側説明図、第４
図は第１図（ａ）の記憶回路の構造側説明図、第５図は
第１図（ｂ）の温度補正回路の構成例ブロック図、第６
図は第５図の補正データ算出方法例説明図である。 １・・・Ｘ線管、２・・・多チャネルＸａ検出器、３・
・・フレーム、４・・・Ｘ線検出回路、５・・・温度検
出器、６・・・コンピュータ、７・・・見出し発生回路
、８・・・制御回路、９・・・記憶回路、１０・・・温
度補正回路、１１・・・表示回路。 特許出願人 株式会社日立メデイコ 代理人 弁理士 秋 本 正 実第 １
図 とｂノ ２）２ 図 第４図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、フレーム上の対向位置に配置され該フレームの回転
に同期してＸ線を発生するＸ線管および該Ｘ線の被検体
の透過Ｘ線を検出する多チャネルＸ線検出器と、該Ｘ線
検出器のデータを解析処理してＣＴ像を構成するコンピ
ュータを有するＸ線ＣＴ装置において、上記Ｘ線検出器
の近傍に１個以上の温度検出器を設け、該温度検出器の
検出出力を見出しとして各温度でのＸ線検出器の検出出
力の温度特性を補正する補正データを必要に応じて収集
しておき、実使用時の温度検出器の検出出力に対応した
上記補正データを用いてＸ線検出器の温度特性を補正す
る補正回路を備えたＸ線ＣＴ装置の温度特性補正装置。 ２、上記の補正データは必要に応じて実使用状態で常時
に収集して、各温度に対応した見出しの補正データを増
すと共に同一温度での最新の補正データに更新するよう
にした特許請求の範囲第１項記載のＸ線ＣＴ装置の温度
特性補正装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61048667A JPS62207437A (ja) | 1986-03-07 | 1986-03-07 | Ｘ線ｃｔ装置の温度特性補正装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61048667A JPS62207437A (ja) | 1986-03-07 | 1986-03-07 | Ｘ線ｃｔ装置の温度特性補正装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62207437A true JPS62207437A (ja) | 1987-09-11 |
Family
ID=12809678
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61048667A Pending JPS62207437A (ja) | 1986-03-07 | 1986-03-07 | Ｘ線ｃｔ装置の温度特性補正装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62207437A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04166137A (ja) * | 1990-10-31 | 1992-06-12 | Shimadzu Corp | Ｘ線ｃｔ装置 |
| JP2003518624A (ja) * | 1999-12-28 | 2003-06-10 | トリクセル エス．アー．エス． | 画像検出器の感度の温度補償方法 |
| CN103365314A (zh) * | 2012-03-26 | 2013-10-23 | 西门子公司 | X 射线探测器和用于保持x 射线探测器的温度恒定的方法 |
| CN106154305A (zh) * | 2015-04-17 | 2016-11-23 | Ge医疗***环球技术有限公司 | X射线探测器的温度修正***及方法 |
-
1986
- 1986-03-07 JP JP61048667A patent/JPS62207437A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04166137A (ja) * | 1990-10-31 | 1992-06-12 | Shimadzu Corp | Ｘ線ｃｔ装置 |
| JP2003518624A (ja) * | 1999-12-28 | 2003-06-10 | トリクセル エス．アー．エス． | 画像検出器の感度の温度補償方法 |
| CN103365314A (zh) * | 2012-03-26 | 2013-10-23 | 西门子公司 | X 射线探测器和用于保持x 射线探测器的温度恒定的方法 |
| US9223038B2 (en) | 2012-03-26 | 2015-12-29 | Siemens Aktiengesellschaft | X-ray detector with photon-counting directly converting detector elements and method for temperature stabilization of the X-ray detector |
| CN106154305A (zh) * | 2015-04-17 | 2016-11-23 | Ge医疗***环球技术有限公司 | X射线探测器的温度修正***及方法 |
| CN106154305B (zh) * | 2015-04-17 | 2020-12-11 | Ge医疗***环球技术有限公司 | X射线探测器的温度修正***及方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4231097A (en) | Apparatus for calculating a plurality of interpolation values | |
| EP0386587B1 (en) | Method and system for processing X-ray image in X-ray equipment | |
| US6934590B2 (en) | Quality control system for medical diagnostic apparatus | |
| JPH0661324B2 (ja) | 放射線撮影装置 | |
| NL193675C (nl) | Stelsel voor vensterbewerking van beeldgegevens. | |
| US4030119A (en) | Video window control | |
| JPS62207437A (ja) | Ｘ線ｃｔ装置の温度特性補正装置 | |
| JPS6048731A (ja) | Ｘ線断層装置 | |
| JPH02244881A (ja) | Ｘ線診断装置 | |
| EP0589467B1 (en) | Nuclear medicine imaging apparatus | |
| WO1987002158A1 (en) | Radiation tomography and apparatus thereof | |
| US4412248A (en) | Ultrasonic image storage device and method | |
| JP2000316126A (ja) | 放射線撮影装置 | |
| US7013036B2 (en) | Image sensing apparatus and method of controlling image sensing | |
| JP3400015B2 (ja) | Ｘ線ｃｔ装置 | |
| JP2939281B2 (ja) | Ｘ線ｃｔ装置 | |
| JP2897179B2 (ja) | Ｃｔ装置 | |
| JPS5817613B2 (ja) | Ｘ線断層装置 | |
| JPH0462493A (ja) | シンチレーションカメラ | |
| JP4777456B2 (ja) | Ｘ線診断装置 | |
| JPH0572991B2 (ja) | ||
| JP3205416B2 (ja) | 画像データ補正方法 | |
| JP3443948B2 (ja) | 放射線撮像装置 | |
| JPH11288462A (ja) | 画像処理装置、方法及びコンピュータ読み取り可能な記憶媒体 | |
| JPH04166137A (ja) | Ｘ線ｃｔ装置 |