JPH04166137A - Ｘ線ｃｔ装置 - Google Patents
Ｘ線ｃｔ装置Info
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- JPH04166137A JPH04166137A JP2296326A JP29632690A JPH04166137A JP H04166137 A JPH04166137 A JP H04166137A JP 2296326 A JP2296326 A JP 2296326A JP 29632690 A JP29632690 A JP 29632690A JP H04166137 A JPH04166137 A JP H04166137A
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- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
この発明は、Ｘ！ＩｔＣＴ装置、特にＸ線管の熱特性の
変化から生じるＸ線強度の変動によるＸ線検出器の各チ
ャンネル毎の出力変動を補正できるようにしたＸ線ＣＴ
装置に関する。
変化から生じるＸ線強度の変動によるＸ線検出器の各チ
ャンネル毎の出力変動を補正できるようにしたＸ線ＣＴ
装置に関する。
［従来の技術１
ＸＩＣＴ装置としてＸ線管と検出器が同時に回転する。
いわゆる第３世代Ｘ練ＣＴ装置が現在では多く用いられ
ている。この第３世代Ｘ線ＣＴ装置では、被検体が置か
れる空間を隔ててＸ線管とそれと対向配置された円弧方
向に多数のチャンネルを有する円弧上の検出器と、これ
らＸ線管と多チャンネルＸ線検出器とを上記被検体が置
かれる空間を中心に一体に回転させる回転機構とから構
成されている。このタイプのＸ練ＣＴ装置は、検出器の
出力変動に敏感で。
ている。この第３世代Ｘ線ＣＴ装置では、被検体が置か
れる空間を隔ててＸ線管とそれと対向配置された円弧方
向に多数のチャンネルを有する円弧上の検出器と、これ
らＸ線管と多チャンネルＸ線検出器とを上記被検体が置
かれる空間を中心に一体に回転させる回転機構とから構
成されている。このタイプのＸ練ＣＴ装置は、検出器の
出力変動に敏感で。
各チャンネルごとの出力変動にばらつきがあると、再構
成画像にリング状のアーチファクトを生じる。この各チ
ャンネルごとの出力変動および、そのばらつきは、様々
な要因により生じるものであるが、Ｘ線管の熱特性の変
化に伴うＸ線強度の変動、及びＸ線強度の変動に伴う検
出器の各チャンネルごとの出力特性の相違が主なＲ因の
−っとされている。
成画像にリング状のアーチファクトを生じる。この各チ
ャンネルごとの出力変動および、そのばらつきは、様々
な要因により生じるものであるが、Ｘ線管の熱特性の変
化に伴うＸ線強度の変動、及びＸ線強度の変動に伴う検
出器の各チャンネルごとの出力特性の相違が主なＲ因の
−っとされている。
そのため、従来よりＸ線強度の変動に伴う検出器の出力
変動を補正する対策として、Ｘ線が被検体を透過しない
位置１例えば検出器の両端に補正用のチャンネルくリフ
ァレンスチャンネル）を設け、この補正用チャンネルで
あらかじめ測定した基準データと撮影時に得られたデー
タとの差によって、各チャンネルごとの出力変動を補正
する。いわゆるリファレンス補正が行われていた。
変動を補正する対策として、Ｘ線が被検体を透過しない
位置１例えば検出器の両端に補正用のチャンネルくリフ
ァレンスチャンネル）を設け、この補正用チャンネルで
あらかじめ測定した基準データと撮影時に得られたデー
タとの差によって、各チャンネルごとの出力変動を補正
する。いわゆるリファレンス補正が行われていた。
「発明が解決しようとする課！Ｊ
しかしながら、このようなリファレンス補正は、検出器
のすべてのチャンネルの出力がＸ線強度の変動に伴い補
正用チャンネルの出力と同様に変動することを、前提と
するため、検出器の各チャンネルごとの出力変動のばら
つきを完全に、補正し得なかった。
のすべてのチャンネルの出力がＸ線強度の変動に伴い補
正用チャンネルの出力と同様に変動することを、前提と
するため、検出器の各チャンネルごとの出力変動のばら
つきを完全に、補正し得なかった。
この発明は、ｘｍ強度による各チャンネル出力特性を考
慮することにより、Ｘ線管の熱特性の変化に起因するＸ
線強度の変動に伴う検出器の各チャンネルごとの出力変
動のばらつきまでも補正できるようにしたＸ！ＩＣＴ装
置を捉供することを目的とする。
慮することにより、Ｘ線管の熱特性の変化に起因するＸ
線強度の変動に伴う検出器の各チャンネルごとの出力変
動のばらつきまでも補正できるようにしたＸ！ＩＣＴ装
置を捉供することを目的とする。
［′Ｎ！を解決するための手段］
この発明によるＸｍＣＴ装置は、Ｘ線管の熱特性に応じ
てあらかじめ測定された多チャンネルＸ線検出器の各チ
ャンネルごとの補正データを記憶回路に記憶させておき
、この記憶されたデータで撮影特に得られる多チャンネ
ルＸ線検出器の各チャンネルごとの出力を補正するよう
にしたものである。
てあらかじめ測定された多チャンネルＸ線検出器の各チ
ャンネルごとの補正データを記憶回路に記憶させておき
、この記憶されたデータで撮影特に得られる多チャンネ
ルＸ線検出器の各チャンネルごとの出力を補正するよう
にしたものである。
「作 用１
あらかじめＸｔｓ管の各熱特性ごとに（ｆｌｌえばＸ線
管のヒートユニットの値ごとに）Ｘ線検出器の各チャン
ネルの出力と当該各チャンネルの基準値の出力（例えば
Ｘ線管のヒートユニットの値がＯの時の各チャンネルの
出力値〉との差が補正値として補正用データメモリに記
憶される。撮影時の各チャンネルの出力から当該撮影時
のＸ線管のヒートユニットの値に対応する各チャンネル
の補正値を引けば、Ｘ線強度の変動に伴う検出器の各チ
ャンネルごとの出力変動のばらつきを補正することがで
きる。この補正されたデータを用いて画像再構成すれば
リング状のアーチファクトを解消でき、優れた画質の再
構成画像が得られる。
管のヒートユニットの値ごとに）Ｘ線検出器の各チャン
ネルの出力と当該各チャンネルの基準値の出力（例えば
Ｘ線管のヒートユニットの値がＯの時の各チャンネルの
出力値〉との差が補正値として補正用データメモリに記
憶される。撮影時の各チャンネルの出力から当該撮影時
のＸ線管のヒートユニットの値に対応する各チャンネル
の補正値を引けば、Ｘ線強度の変動に伴う検出器の各チ
ャンネルごとの出力変動のばらつきを補正することがで
きる。この補正されたデータを用いて画像再構成すれば
リング状のアーチファクトを解消でき、優れた画質の再
構成画像が得られる。
【実 施 ９４１
以下、この発明の実施りＩを図面に基づいて説明する。
第１図は、この発明の一実施例の構成を示した概略ブロ
ック図である。
ック図である。
第１図において、Ｘ線管１と多チャンネルＸ線検出器２
とが対向配置されており、それらの間の空間に、被検体
３が挿入される。これらＸ線管１と多チャンネルＸ線検
出器２とは１図示しない回転機構により、被検体３の周
囲を一体になって回転するように構成されている。この
回転中、電圧発生装置４から供給される所望の電圧によ
ってＸ線管ｌから発生されたＸ線が被検体３を透過して
、多チャンネルＸ線検出器２の各チャンネルに入射し、
各チャンネルの出力が、データ収集装置５に送られる。
とが対向配置されており、それらの間の空間に、被検体
３が挿入される。これらＸ線管１と多チャンネルＸ線検
出器２とは１図示しない回転機構により、被検体３の周
囲を一体になって回転するように構成されている。この
回転中、電圧発生装置４から供給される所望の電圧によ
ってＸ線管ｌから発生されたＸ線が被検体３を透過して
、多チャンネルＸ線検出器２の各チャンネルに入射し、
各チャンネルの出力が、データ収集装置５に送られる。
データ収集装置５により得られた各チャンネルのデータ
は。
は。
メモリ６に格納され１画像再構成演算装置７によりコン
ポルージョンやバックプロジェクションなどの処理を受
け、その結果得られた画像が。
ポルージョンやバックプロジェクションなどの処理を受
け、その結果得られた画像が。
表示装置８により表示される。補正用データメモリ９は
、ＸＳ管の熱特性に応じてあらかじめ収集された。？ｌ
正用データを記憶するためのものであり、補正回路１０
は撮影時に得られた各チャンネルのデータを、？！ｌ正
用データメモリ９に記憶された補正用データを用いて後
述のように補正する。ＨＯ８Ｔコンピュータ１１は、こ
れらの各処理を＃Ｊｌａするものである。
、ＸＳ管の熱特性に応じてあらかじめ収集された。？ｌ
正用データを記憶するためのものであり、補正回路１０
は撮影時に得られた各チャンネルのデータを、？！ｌ正
用データメモリ９に記憶された補正用データを用いて後
述のように補正する。ＨＯ８Ｔコンピュータ１１は、こ
れらの各処理を＃Ｊｌａするものである。
実際の撮影に先だって、あらかじめＸｓ管の熱特性に対
応する。各チャンネルの出力データを測定し、かかるデ
ータより補正用データを求め、補正用データメモリ９に
記憶しておく。
応する。各チャンネルの出力データを測定し、かかるデ
ータより補正用データを求め、補正用データメモリ９に
記憶しておく。
本実施例では、Ｘ線管の熱特性として、Ｘ線管のヒート
ユニット（熱容量ＨＵ）を用いる。
ユニット（熱容量ＨＵ）を用いる。
Ｘ線管のヒートユニットの値は、Ｘ線管の蓄積発熱量と
放熱量の差により求めることができる。
放熱量の差により求めることができる。
ここでＸ線管の発熱量は、管電圧、管電流、電圧の印荷
時間により定まる。例えば、管電圧１２０ｋＶ、管電流
８ＱｍＡ、２秒５ｃａｎでは、−回の撮影で Ｑ ＝１２００００ｘ０．０８Ｘ２＝１９．２ｋＪの発
熱量が蓄積されることになる。又９時間変化に伴う放熱
量Ｅ （ｔ）は、Ｘ線管の種類によって興なり１例えば
、Ｅｉｌａｃ製Ｓ−７８５では。
時間により定まる。例えば、管電圧１２０ｋＶ、管電流
８ＱｍＡ、２秒５ｃａｎでは、−回の撮影で Ｑ ＝１２００００ｘ０．０８Ｘ２＝１９．２ｋＪの発
熱量が蓄積されることになる。又９時間変化に伴う放熱
量Ｅ （ｔ）は、Ｘ線管の種類によって興なり１例えば
、Ｅｉｌａｃ製Ｓ−７８５では。
Ｅ（ｔ） −７３１，８９７／
（１＋０．６１４８ ｔ ）−２１７，８９３として、
具体的に求めることができる。
具体的に求めることができる。
補正用データの収集は、被検体３を挿入しない状態で行
い、まずＸ線管のヒートユニットがＯの状態で、Ｘ線を
曝射し各チャンネルのデータく第２図）を基準値として
、補正回路１０内のメモリに記憶させる。次にこのＸＩ
ＩＩＣＴ装置が使用し得るであろうＸ線管のヒートユニ
ットを下限から、上限まですこしづつ変え、（例えば０
から７５０ ｋＶまテ１０ ｋＶ毎ｔニア５点）＋れぞ
れのヒートユニット毎に、Ｘ線を曝射し各チャンネルで
１４られたデータ（第３図、４１口。
い、まずＸ線管のヒートユニットがＯの状態で、Ｘ線を
曝射し各チャンネルのデータく第２図）を基準値として
、補正回路１０内のメモリに記憶させる。次にこのＸＩ
ＩＩＣＴ装置が使用し得るであろうＸ線管のヒートユニ
ットを下限から、上限まですこしづつ変え、（例えば０
から７５０ ｋＶまテ１０ ｋＶ毎ｔニア５点）＋れぞ
れのヒートユニット毎に、Ｘ線を曝射し各チャンネルで
１４られたデータ（第３図、４１口。
ハ）から、上述の基準値を補正回路１０によって、各チ
ャンネルごとに差し引き、その差分値（第４図、イ２２
ロ、ハを各ヒートユニット毎の補正データとして１Ｍ正
用データメモリ９に１己憶させること（こより行う。
ャンネルごとに差し引き、その差分値（第４図、イ２２
ロ、ハを各ヒートユニット毎の補正データとして１Ｍ正
用データメモリ９に１己憶させること（こより行う。
次に、実際に被検体３を挿入した状態で、Ｘ線管１と多
チャンネルＸ線検出ｆ１２とを上記被検体が置かれる空
間を中心に一体に回転させ。
チャンネルＸ線検出ｆ１２とを上記被検体が置かれる空
間を中心に一体に回転させ。
被検体３のＸ線透過データを収集して断層像を再構成す
る場合、まずＨＯＳ Ｔコンピュータは。
る場合、まずＨＯＳ Ｔコンピュータは。
撮影に際してＸ線曝射直前の、Ｘ線管球のヒートユニッ
トの値を補正回路１０に与え、補正回路１０は当該ヒー
トユニットの値に対応する補正用データ〈第５図）を補
正用データメモリ９から読み出し、自己の回路内のメモ
リに記憶する。撮影時のＸｌｓ管のヒートユニットの値
に対応する補正用データがない場合には、補正回路１０
は、？！Ｉ正用データメモリ９からその前後のデータか
ら補完（例えば線形補完）により各チャンネルごとに求
め自己の回路内のメモリに記憶する。実際の撮影で、被
検体３を透過したデータは、メモリ６から読み出された
後、補正回路１０で各チャンネルごとに補正用データが
差し引かれ２画情再構成演算装置７で、コンポルージョ
ンやバックプロジャクジョンなどの処理を受け、その結
果得られた画像が２表示装置８によって表示される。
トの値を補正回路１０に与え、補正回路１０は当該ヒー
トユニットの値に対応する補正用データ〈第５図）を補
正用データメモリ９から読み出し、自己の回路内のメモ
リに記憶する。撮影時のＸｌｓ管のヒートユニットの値
に対応する補正用データがない場合には、補正回路１０
は、？！Ｉ正用データメモリ９からその前後のデータか
ら補完（例えば線形補完）により各チャンネルごとに求
め自己の回路内のメモリに記憶する。実際の撮影で、被
検体３を透過したデータは、メモリ６から読み出された
後、補正回路１０で各チャンネルごとに補正用データが
差し引かれ２画情再構成演算装置７で、コンポルージョ
ンやバックプロジャクジョンなどの処理を受け、その結
果得られた画像が２表示装置８によって表示される。
この様に、補正されたデータを用いて画像再構成を行え
ば、Ｘ線管のし一トユニットの変動によるＸ線強度の変
動に伴う検出器の各チャンネルごとの出力変動のばらつ
きを補正することができ、再構成画像におけるリング状
のアーチファクトを解消できる。
ば、Ｘ線管のし一トユニットの変動によるＸ線強度の変
動に伴う検出器の各チャンネルごとの出力変動のばらつ
きを補正することができ、再構成画像におけるリング状
のアーチファクトを解消できる。
尚２本実施例では、Ｘ線管の熱特性として。
ヒートユニットを用いたが、Ｘ線管の温度を用いてもよ
い。かかる場合、Ｘ線管の温度は、温度センサーなどで
測定する。又、補正用データの収集は被検体３を挿入し
ない状態で行ったが。
い。かかる場合、Ｘ線管の温度は、温度センサーなどで
測定する。又、補正用データの収集は被検体３を挿入し
ない状態で行ったが。
実際の被検体と類似の形状、Ｘ線吸収係数を有するファ
ントムを用いれば、尚正篠なＸ線管のヒートユニットの
変動によるＸ線強度の変動に伴う検出器の各チャンネル
ごとの出力変動のばらつきの補正が可能となる。
ントムを用いれば、尚正篠なＸ線管のヒートユニットの
変動によるＸ線強度の変動に伴う検出器の各チャンネル
ごとの出力変動のばらつきの補正が可能となる。
［発明の効果１
この発明のＸ線ＣＴ装置によれば、Ｘｗ管の熱特性（ヒ
ートユニット）の変動によるＸ線強度の変動に伴う検出
器の各チャンネルごとの出力変動のばらつきを各チャン
ネルごとの特性を考慮して、補正をすることができ、再
構成画像におけるリング状のアーチファクトを解消した
優れた画質の画像を得ることができる。
ートユニット）の変動によるＸ線強度の変動に伴う検出
器の各チャンネルごとの出力変動のばらつきを各チャン
ネルごとの特性を考慮して、補正をすることができ、再
構成画像におけるリング状のアーチファクトを解消した
優れた画質の画像を得ることができる。
第１図はこの発明の一実施例のブロック図。
第２図はＸ線管のヒートユニットがＯのときの検出器の
出力特性を示す図、第３図イ１口、ハは、各検出器のＸ
ｖａ管のヒートユニットに対する出力特性を示す図、第
４図イ１口、ハは、補圧用データメモリに記憶される各
ヒートユニットに対する補正用データを示す図、第５図
は。 実際の撮影時に補正用データメモリから読みだされた所
定のヒートユニットに対する＊２用データを示す図であ
る。 １・・・Ｘ線管球、２・・・多チャンネルＸ線検出器。 ３・・・被検体、４・・・高圧発生装置、５・・・デー
タ収集装置、６・・・メモリ、７・・１１再構成演算装
置。 ８・・・表示装置、９・・・補正用データメモリ。 ＩＯ・・・補正回路、１１・・・ＨＯ８Ｔコンピュータ
第１図 第２図 １２３ チャンネル
實第３図 チャンネル寥 第５図 第４図 チャンネル寥
出力特性を示す図、第３図イ１口、ハは、各検出器のＸ
ｖａ管のヒートユニットに対する出力特性を示す図、第
４図イ１口、ハは、補圧用データメモリに記憶される各
ヒートユニットに対する補正用データを示す図、第５図
は。 実際の撮影時に補正用データメモリから読みだされた所
定のヒートユニットに対する＊２用データを示す図であ
る。 １・・・Ｘ線管球、２・・・多チャンネルＸ線検出器。 ３・・・被検体、４・・・高圧発生装置、５・・・デー
タ収集装置、６・・・メモリ、７・・１１再構成演算装
置。 ８・・・表示装置、９・・・補正用データメモリ。 ＩＯ・・・補正回路、１１・・・ＨＯ８Ｔコンピュータ
第１図 第２図 １２３ チャンネル
實第３図 チャンネル寥 第５図 第４図 チャンネル寥
Claims (1)
- 被検体が置かれる空間を隔てて対向配置されたＸ線管と
多数のチャンネルを有する多チャンネルＸ線検出器とを
上記被検体が置かれる空間を中心に一体に回転させるよ
うにしたＸ線ＣＴ装置において、上記Ｘ線管の熱特性に
応じてあらかじめ測定されてた多チャンネルＸ線検出器
の各チャンネル毎の補正データを記憶する記憶回路と、
撮影時に得られる多チャンネルＸ線検出器の各チャンネ
ルごとの出力と、これに対応する撮影時のＸ線管の熱特
性に対応する前記記憶回路に記憶された補正データとを
演算処理する補正回路とを備えたことを特徴とするＸ線
ＣＴ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2296326A JPH0732770B2 (ja) | 1990-10-31 | 1990-10-31 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2296326A JPH0732770B2 (ja) | 1990-10-31 | 1990-10-31 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04166137A true JPH04166137A (ja) | 1992-06-12 |
| JPH0732770B2 JPH0732770B2 (ja) | 1995-04-12 |
Family
ID=17832090
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2296326A Expired - Fee Related JPH0732770B2 (ja) | 1990-10-31 | 1990-10-31 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0732770B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009142578A (ja) * | 2007-12-18 | 2009-07-02 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | Ｘ線ｃｔ装置 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62207437A (ja) * | 1986-03-07 | 1987-09-11 | 株式会社 日立メデイコ | Ｘ線ｃｔ装置の温度特性補正装置 |
| JPS62231628A (ja) * | 1986-03-31 | 1987-10-12 | ジーイー横河メディカルシステム株式会社 | Ｘ線断層撮影装置 |
| JPS6331644A (ja) * | 1986-07-25 | 1988-02-10 | 横河メディカルシステム株式会社 | Ｘ線断層撮影装置 |
| JPH0184609U (ja) * | 1987-11-27 | 1989-06-06 |
-
1990
- 1990-10-31 JP JP2296326A patent/JPH0732770B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62207437A (ja) * | 1986-03-07 | 1987-09-11 | 株式会社 日立メデイコ | Ｘ線ｃｔ装置の温度特性補正装置 |
| JPS62231628A (ja) * | 1986-03-31 | 1987-10-12 | ジーイー横河メディカルシステム株式会社 | Ｘ線断層撮影装置 |
| JPS6331644A (ja) * | 1986-07-25 | 1988-02-10 | 横河メディカルシステム株式会社 | Ｘ線断層撮影装置 |
| JPH0184609U (ja) * | 1987-11-27 | 1989-06-06 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009142578A (ja) * | 2007-12-18 | 2009-07-02 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | Ｘ線ｃｔ装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0732770B2 (ja) | 1995-04-12 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
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