JP2939281B2 - Ｘ線ｃｔ装置 - Google Patents
Ｘ線ｃｔ装置Info
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- JP2939281B2 JP2939281B2 JP2004584A JP458490A JP2939281B2 JP 2939281 B2 JP2939281 B2 JP 2939281B2 JP 2004584 A JP2004584 A JP 2004584A JP 458490 A JP458490 A JP 458490A JP 2939281 B2 JP2939281 B2 JP 2939281B2
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 14
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 claims description 8
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- 101100112083 Arabidopsis thaliana CRT1 gene Proteins 0.000 description 1
- 101100238301 Arabidopsis thaliana MORC1 gene Proteins 0.000 description 1
- 101100519629 Saccharomyces cerevisiae (strain ATCC 204508 / S288c) PEX2 gene Proteins 0.000 description 1
- 101100468521 Saccharomyces cerevisiae (strain ATCC 204508 / S288c) RFX1 gene Proteins 0.000 description 1
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Landscapes
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、有効視野に応じた感度補正値で補正するＸ
線CT装置に関する。
線CT装置に関する。
従来、Ｘ線CT装置は、計測空間上の散乱Ｘ線の存在や
測定系の検出精度のばらつき等のため、感度補正値で実
測値を補正させていた。感度補正値を選択するに際し、
有効視野の大きさによつて選択する例が多い。
測定系の検出精度のばらつき等のため、感度補正値で実
測値を補正させていた。感度補正値を選択するに際し、
有効視野の大きさによつて選択する例が多い。
有効視野とは、頭部とか腹部とかの撮影視野のことで
あり、フアンビームの広がりの大きさで規定できる。有
効視野が大になると、大きい減弱量に対応する感度補正
値を選択し、有効視野が小になると小さい減弱量に対応
する感度補正値を選択する。
あり、フアンビームの広がりの大きさで規定できる。有
効視野が大になると、大きい減弱量に対応する感度補正
値を選択し、有効視野が小になると小さい減弱量に対応
する感度補正値を選択する。
上記従来技術では、有効視野と実際の被検体の減弱量
とが対応しない場合に問題が生ずる。例えば、大きい有
効視野を選んだにもかかわらず、実際の被検体の減弱量
が小さいと、選択した感度補正値が大きすぎることにな
る。この結果、線質の変化，散乱線を影響が生じ感度補
正が不正確なものとなる。これにより、リング状のパタ
ーン（アーチフアクト）が発生する。また、小さい有効
視野で最適な感度補正を行つた画像とCT値が異なつたり
する問題があつた。
とが対応しない場合に問題が生ずる。例えば、大きい有
効視野を選んだにもかかわらず、実際の被検体の減弱量
が小さいと、選択した感度補正値が大きすぎることにな
る。この結果、線質の変化，散乱線を影響が生じ感度補
正が不正確なものとなる。これにより、リング状のパタ
ーン（アーチフアクト）が発生する。また、小さい有効
視野で最適な感度補正を行つた画像とCT値が異なつたり
する問題があつた。
一方、小さな有効視野で大きい減弱の被検体を計測し
た場合にも、同様の問題がある。
た場合にも、同様の問題がある。
本発明の目的は、有効視野の大きさで感度補正値を選
択するのではなく、実際の被検体の減弱量から感度補正
値を選択可能とするＸ線CT装置を提供するものである。
択するのではなく、実際の被検体の減弱量から感度補正
値を選択可能とするＸ線CT装置を提供するものである。
本発明は、Ｘ線源と、該Ｘ線源と対向して回転すると
共に、被検体を透過した透過Ｘ線を検出する多チャンネ
ルＸ線検出器と、ファントームの計測データを用いて前
記被検体の計測データを補正する補正値を格納する補正
値メモリと、該補正値メモリに記憶してある補正値で前
記被検体よりのＸ線検出器で得られる実測値を補正する
手段とを有し、該補正後の実測値で画像再構成を行うＸ
線CT装置において、前記補正値メモリに格納する補正値
は、有効視野の大きさに応じた複数のファントームのＸ
線減弱量総和に依存した値であって、前記実測値を補正
する手段は、前記多チャンネルＸ線検出器で検出した値
から前記被検体のＸ線減弱量の総和を求め、該被検体の
Ｘ線減弱量総和に対応した前記補正値メモリに格納して
ある補正値を選択し、この選択した補正値を用いて実測
値を補正する手段である、ことを特徴とする。
共に、被検体を透過した透過Ｘ線を検出する多チャンネ
ルＸ線検出器と、ファントームの計測データを用いて前
記被検体の計測データを補正する補正値を格納する補正
値メモリと、該補正値メモリに記憶してある補正値で前
記被検体よりのＸ線検出器で得られる実測値を補正する
手段とを有し、該補正後の実測値で画像再構成を行うＸ
線CT装置において、前記補正値メモリに格納する補正値
は、有効視野の大きさに応じた複数のファントームのＸ
線減弱量総和に依存した値であって、前記実測値を補正
する手段は、前記多チャンネルＸ線検出器で検出した値
から前記被検体のＸ線減弱量の総和を求め、該被検体の
Ｘ線減弱量総和に対応した前記補正値メモリに格納して
ある補正値を選択し、この選択した補正値を用いて実測
値を補正する手段である、ことを特徴とする。
本発明によれば、被検体のＸ線減弱量総和を得て、こ
の総和から対応するファントームのＸ線減弱量総和に依
存した値の補正値を選択する。これにより、被検体のＸ
線減弱量に合った補正値を選びうる。
の総和から対応するファントームのＸ線減弱量総和に依
存した値の補正値を選択する。これにより、被検体のＸ
線減弱量に合った補正値を選びうる。
第２図は１つのチヤンネルから減弱量を求める例を示
す図、第３図は全チヤンネル減弱量を求める例を示す図
である。第２図で、被検体１と２とは同一被検体例があ
り、（ａ）図は横長の状態でのあるチヤンネルでの減弱
量３を示す図、（ｂ）図は縦長の状態での同一チヤンネ
ルでの減弱量４を示す図である。この第２図（ａ），
（ｂ）からわかるように、１つのチヤンネルでの減弱量
を求めて、これを、被検体の減弱量とする考え方は、被
検体が状態１と状態とで減弱量３と４とに異なるため、
減弱量としての信頼度はない。
す図、第３図は全チヤンネル減弱量を求める例を示す図
である。第２図で、被検体１と２とは同一被検体例があ
り、（ａ）図は横長の状態でのあるチヤンネルでの減弱
量３を示す図、（ｂ）図は縦長の状態での同一チヤンネ
ルでの減弱量４を示す図である。この第２図（ａ），
（ｂ）からわかるように、１つのチヤンネルでの減弱量
を求めて、これを、被検体の減弱量とする考え方は、被
検体が状態１と状態とで減弱量３と４とに異なるため、
減弱量としての信頼度はない。
本実施例では第３図の考え方を採用する。第３図
（ａ）は、状態１での全チヤンネルを通しての減弱量の
総和を斜線で示した図である。一方、第３図（ｂ）は状
態２での全チヤンネルを通しての減弱量の総和を斜線で
示した図である。
（ａ）は、状態１での全チヤンネルを通しての減弱量の
総和を斜線で示した図である。一方、第３図（ｂ）は状
態２での全チヤンネルを通しての減弱量の総和を斜線で
示した図である。
この第３図（ａ），（ｂ）から明らかなように、状態
1,2の如くＸ線源とＸ線検出器との対向位置が変つて
も、被検体を通しての全チヤンネルを通しての減弱量の
総和5,6は変化しない。然も、この減弱量総和は、被検
体の減弱量の全体値である。
1,2の如くＸ線源とＸ線検出器との対向位置が変つて
も、被検体を通しての全チヤンネルを通しての減弱量の
総和5,6は変化しない。然も、この減弱量総和は、被検
体の減弱量の全体値である。
本実施例では、第３図（ａ）又は（ｂ）のいずれにし
ろ、任意の対向位置での全チヤンネルを通して減弱量総
和を求め、この総和から対応する感度補正値を選択する
こととした。
ろ、任意の対向位置での全チヤンネルを通して減弱量総
和を求め、この総和から対応する感度補正値を選択する
こととした。
第４図は、フアントム（擬似被検体）による検出器チ
ヤンネルと減弱量との関係を示す。これは、実際の被検
体の代りに、フアントムを挿入して、このフアントムか
らの計測を減弱量総和として得ようとするための図であ
る。総和値7,8,9は、図に示すように、大，中，小の関
係にあるフアントムの総和値である。かかるフアントム
によれば、実際の被検体による計測をしなくても減弱量
総和を得ることができる。但し、フアントムである故
に、事前にフアントム毎に減弱量総和を求めておき、こ
れをフアントム対応にメモリに格納しておけば、実際の
計測手段は不要である。
ヤンネルと減弱量との関係を示す。これは、実際の被検
体の代りに、フアントムを挿入して、このフアントムか
らの計測を減弱量総和として得ようとするための図であ
る。総和値7,8,9は、図に示すように、大，中，小の関
係にあるフアントムの総和値である。かかるフアントム
によれば、実際の被検体による計測をしなくても減弱量
総和を得ることができる。但し、フアントムである故
に、事前にフアントム毎に減弱量総和を求めておき、こ
れをフアントム対応にメモリに格納しておけば、実際の
計測手段は不要である。
第１図は、本実施例の処理フローである。この実施例
は、被検体を用いて減弱量総和を計測して補正をする実
施例である。先ず、補助メモリ（図示せず）中の感度補
正値を補正値メモリ（主メモリを兼用させてもよい）に
読出し一時格納する（F2）。次に、被検体に対して、任
意のＸ線源とＸ線検出器との対向位置のもとで、フアン
ビームＸ線を被検体に照射する。この透過Ｘ線をＸ線検
出器で検出する。Ｘ線検出器は多チヤンネル検出器であ
り、計算機はこの多チヤンネルＸ線検出器の全チヤンネ
ルの計測値の総加算を行う。尚、実際には、透過Ｘ線量
ではなく対数変換して減弱量を求め、これを計測値と
し、減弱量総和を求める（F3）。
は、被検体を用いて減弱量総和を計測して補正をする実
施例である。先ず、補助メモリ（図示せず）中の感度補
正値を補正値メモリ（主メモリを兼用させてもよい）に
読出し一時格納する（F2）。次に、被検体に対して、任
意のＸ線源とＸ線検出器との対向位置のもとで、フアン
ビームＸ線を被検体に照射する。この透過Ｘ線をＸ線検
出器で検出する。Ｘ線検出器は多チヤンネル検出器であ
り、計算機はこの多チヤンネルＸ線検出器の全チヤンネ
ルの計測値の総加算を行う。尚、実際には、透過Ｘ線量
ではなく対数変換して減弱量を求め、これを計測値と
し、減弱量総和を求める（F3）。
減弱量総和から補正値メモリをアクセスして対応感度
補正値を読出す（F4,F5）。次に補正演算を行う（例え
ば差分や除算）（F6）。そして、補正結果から再構成演
算を行い（F7）、CRTにその再構成像をビデオ信号によ
り表示する（F8）。表示後、終了する（F9）。
補正値を読出す（F4,F5）。次に補正演算を行う（例え
ば差分や除算）（F6）。そして、補正結果から再構成演
算を行い（F7）、CRTにその再構成像をビデオ信号によ
り表示する（F8）。表示後、終了する（F9）。
第５図は処理システム図である。検出器10とは、多チ
ヤンネル検出器及び積分器、AD変換器を含む入力装置で
ある。CPU11と主メモリ12とは計算機であり、第１図の
処理全体を行う。補助メモリ15は補助値を格納するメモ
リであり、その他に各種の画像データを格納する。CRT1
4は、再構成画像の表示を行う。13は共通バスである。
ヤンネル検出器及び積分器、AD変換器を含む入力装置で
ある。CPU11と主メモリ12とは計算機であり、第１図の
処理全体を行う。補助メモリ15は補助値を格納するメモ
リであり、その他に各種の画像データを格納する。CRT1
4は、再構成画像の表示を行う。13は共通バスである。
このシステム構成により、第１図の処理を実現でき
る。
る。
本発明によれば、被検体の実際の減弱量に応じて感度
補正値を選択でき、適正な感度補正を達成することがで
きる。
補正値を選択でき、適正な感度補正を達成することがで
きる。
第１図は本発明の処理の実施例図、第２図はチヤンネル
対応の減弱量を示す図、第３図は被検体の減弱量総和を
求めるための図、第４図はフアントムの例図、第５図は
本発明の処理システム図である。 10……検出系、11……CPU、12……主メモリ、13……共
通バス、14……CRT、15……補助メモリ。
対応の減弱量を示す図、第３図は被検体の減弱量総和を
求めるための図、第４図はフアントムの例図、第５図は
本発明の処理システム図である。 10……検出系、11……CPU、12……主メモリ、13……共
通バス、14……CRT、15……補助メモリ。
Claims (1)
- 【請求項１】Ｘ線源と、該Ｘ線源と対向して回転すると
共に、被検体を透過した透過Ｘ線を検出する多チャンネ
ルＸ線検出器と、ファントームの計測データを用いて前
記被検体の計測データを補正する補正値を格納する補正
値メモリと、該補正値メモリに記憶してある補正値で前
記被検体よりのＸ線検出器で得られる実測値を補正する
手段とを有し、該補正後の実測値で画像再構成を行うＸ
線CT装置において、前記補正値メモリに格納する補正値
は、有効視野の大きさに応じた複数のファントームのＸ
線減弱量総和に依存した値であって、前記実測値を補正
する手段は、前記多チャンネルＸ線検出器で検出した値
から前記被検体のＸ線減弱量の総和を求め、該被検体の
Ｘ線減弱量総和に対応した前記補正値メモリに格納して
ある補正値を選択し、この選択した補正値を用いて実測
値を補正する手段である、ことを特徴とするＸ線CT装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2004584A JP2939281B2 (ja) | 1990-01-16 | 1990-01-16 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2004584A JP2939281B2 (ja) | 1990-01-16 | 1990-01-16 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03210243A JPH03210243A (ja) | 1991-09-13 |
| JP2939281B2 true JP2939281B2 (ja) | 1999-08-25 |
Family
ID=11588090
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2004584A Expired - Lifetime JP2939281B2 (ja) | 1990-01-16 | 1990-01-16 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2939281B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4497644B2 (ja) * | 2000-04-07 | 2010-07-07 | キヤノン株式会社 | 放射線撮影装置、放射線画像補正方法及び記憶媒体 |
| WO2005011502A1 (ja) * | 2003-07-30 | 2005-02-10 | Hitachi Medical Corporation | 放射線断層撮影装置 |
| JP5677751B2 (ja) * | 2010-02-24 | 2015-02-25 | 株式会社東芝 | Ｘ線ｃｔ装置及び画像処理プログラム |
-
1990
- 1990-01-16 JP JP2004584A patent/JP2939281B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH03210243A (ja) | 1991-09-13 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
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