JPS595237A - 像検出装置 - Google Patents
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- JPS595237A JPS595237A JP57113751A JP11375182A JPS595237A JP S595237 A JPS595237 A JP S595237A JP 57113751 A JP57113751 A JP 57113751A JP 11375182 A JP11375182 A JP 11375182A JP S595237 A JPS595237 A JP S595237A
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
- G01N23/043—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using fluoroscopic examination, with visual observation or video transmission of fluoroscopic images
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- G—PHYSICS
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- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
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- G01T1/2012—Measuring radiation intensity with scintillation detectors using stimulable phosphors, e.g. stimulable phosphor sheets
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- Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
- Combination Of More Than One Step In Electrophotography (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は像検出装置に関し、とヤわけ照射源からの像Ｉ
！元によシ一旦被検体像を形成し、線像を結像手段によ
シ検出プレート上に結像し、該検出プレー トをビーム
走査して時系列的に像検出する装置に関する。ここで像
露光は以ドに詳述するＸ線の他、可視光、赤外光、紫外
光、電子ビームその他一般電磁波によるものを含む。
！元によシ一旦被検体像を形成し、線像を結像手段によ
シ検出プレート上に結像し、該検出プレー トをビーム
走査して時系列的に像検出する装置に関する。ここで像
露光は以ドに詳述するＸ線の他、可視光、赤外光、紫外
光、電子ビームその他一般電磁波によるものを含む。
一般に照射源からのＷ、光により被写体像を形成せんと
するとき、被写体からの反射光又は透過光を像面に伝送
するものであるが、被零体への照射■が少ない方が種々
の点で常客が少ない。
するとき、被写体からの反射光又は透過光を像面に伝送
するものであるが、被零体への照射■が少ない方が種々
の点で常客が少ない。
特に医療用Ｘ線撮影においては、人体にＸ線を照射しこ
れを透過したＸ線を噴出するものであり、被曝線量が多
いと白血病や悪性腫瘍等が生ずる。
れを透過したＸ線を噴出するものであり、被曝線量が多
いと白血病や悪性腫瘍等が生ずる。
それ故、被検者の被Ｂ暖線量を減らすためＸ線照射によ
シ光導電体を有する検出プレートに静電潜・儂を形成し
、走査ビームを介して電気信号として取シ出す方法が考
えられている。ここで電気信号として取り出すことは、
各種画像処理を施して診断能を向上するのに有効である
。
シ光導電体を有する検出プレートに静電潜・儂を形成し
、走査ビームを介して電気信号として取シ出す方法が考
えられている。ここで電気信号として取り出すことは、
各種画像処理を施して診断能を向上するのに有効である
。
図参照）またＸ線撮影の応用例（後述する第２図参照）
が知られる。
が知られる。
第１図において１は透明電極、２はブロッキングコンタ
クト、３は光導電体層、４は界面、５は透明絶縁体層、
６は透明電極、７は１乃至６で構成される検出プレート
、８はレーザ光源、９はレーザ光、１０はＸ−Ｙ軸スキ
ャナ、１１は一次帯電時に用いる光源、１２は原画像、
１３は原画像照明用の光源、１４は結像レンズ、１５は
出力端子、Ｓｌは直流電源Ｖｄを開閉するスイッチ、Ｓ
２は透明電極１と透明電極６間を短絡するだめのスイッ
チ、Ｒ１は出力抵抗、Ｉｓは出力電流、Ｖｓは出力電圧
、ｓ３は光源電源ｖｂを開閉するスイッチ、ａ、ｂ、ｃ
は電荷、Ｓ４は光源電源Ｖｃを開閉するスイッチである
。
クト、３は光導電体層、４は界面、５は透明絶縁体層、
６は透明電極、７は１乃至６で構成される検出プレート
、８はレーザ光源、９はレーザ光、１０はＸ−Ｙ軸スキ
ャナ、１１は一次帯電時に用いる光源、１２は原画像、
１３は原画像照明用の光源、１４は結像レンズ、１５は
出力端子、Ｓｌは直流電源Ｖｄを開閉するスイッチ、Ｓ
２は透明電極１と透明電極６間を短絡するだめのスイッ
チ、Ｒ１は出力抵抗、Ｉｓは出力電流、Ｖｓは出力電圧
、ｓ３は光源電源ｖｂを開閉するスイッチ、ａ、ｂ、ｃ
は電荷、Ｓ４は光源電源Ｖｃを開閉するスイッチである
。
第１図において原画像１２からの反射光にょｐＷｋ出プ
レート７に静電＃像が形成されるように図示されている
が、反射光でなく透過光を用いるものであっても良い。
レート７に静電＃像が形成されるように図示されている
が、反射光でなく透過光を用いるものであっても良い。
また、第２図に示されるように可視光に限らずＸ線であ
っても静電潜像が形成される。勿論この場合、光導電体
層３はＸ線に対して感度をもつことが必要である。なお
読み出し糸としてレーザ光を用いるため光導電体層は更
にレーザ“光に対しても感度をもつことが必要である。
っても静電潜像が形成される。勿論この場合、光導電体
層３はＸ線に対して感度をもつことが必要である。なお
読み出し糸としてレーザ光を用いるため光導電体層は更
にレーザ“光に対しても感度をもつことが必要である。
第２図に於いて、被検体１６はＸ線源１７からのＸ線１
８で照射され、被検体１６を透過するＸ線により検出プ
レート７に静電潜像が形成される。なお検出グレート７
を構成するもののうち５ａ、６ａは各々絶縁体層、電極
であシ、第１図におけるものと異なり可視光に対して透
明である必要はない。Ｘ線が充分透過できるからである
。
８で照射され、被検体１６を透過するＸ線により検出プ
レート７に静電潜像が形成される。なお検出グレート７
を構成するもののうち５ａ、６ａは各々絶縁体層、電極
であシ、第１図におけるものと異なり可視光に対して透
明である必要はない。Ｘ線が充分透過できるからである
。
さて第１図、第２図におけるような装鎗において静１！
潜像が形成されるプロセスを＠３図に説明する。ここで
は、第２図のようなＸ線露光について説明する。
潜像が形成されるプロセスを＠３図に説明する。ここで
は、第２図のようなＸ線露光について説明する。
まず第２図において、スイッチＳ２をオフ、Ｓｌをオン
とし透明電極１と電極６ａとの間に直流電圧を図示のよ
うに印加し、同時に光源ｖｂ用スイッチＳ３をオンとし
透明電１ｋｌの全面を照射する。この状態を第３図第１
ステツグに示す。照射によって光導電体層３の抵抗が低
下して、電荷の注入を生じ、光導電体層の界面４に電荷
すが、電極６ａに電荷Ｃが蓄積される。なお光導電体の
材質としては、非晶質セレン、 Ｃｄ８等があるが、こ
こでは説明の都合上Ｐ型半導体である非晶質セレンの性
質を用いて説明する。
とし透明電極１と電極６ａとの間に直流電圧を図示のよ
うに印加し、同時に光源ｖｂ用スイッチＳ３をオンとし
透明電１ｋｌの全面を照射する。この状態を第３図第１
ステツグに示す。照射によって光導電体層３の抵抗が低
下して、電荷の注入を生じ、光導電体層の界面４に電荷
すが、電極６ａに電荷Ｃが蓄積される。なお光導電体の
材質としては、非晶質セレン、 Ｃｄ８等があるが、こ
こでは説明の都合上Ｐ型半導体である非晶質セレンの性
質を用いて説明する。
ブロッキングコンタクト２の役割は、一般の乾式複写機
のセレン感光体ドラムにおいて果たしている役割と同様
で、電極１と光導電体層３の間でダイオードとして働き
、光導電体層３に正電荷を保持する。ブロッキングコン
タクト２を特別に設ける必要のない性質の光導電体層３
もある。
のセレン感光体ドラムにおいて果たしている役割と同様
で、電極１と光導電体層３の間でダイオードとして働き
、光導電体層３に正電荷を保持する。ブロッキングコン
タクト２を特別に設ける必要のない性質の光導電体層３
もある。
第３図第１ステツプに示した電荷分布状態が得られたの
ち、スイッチ８１．８３をオフとし、スイッチＳ２をオ
ンとすれば、第３図第２ステツプのように、透明電極１
に電荷ａが現われる。
ち、スイッチ８１．８３をオフとし、スイッチＳ２をオ
ンとすれば、第３図第２ステツプのように、透明電極１
に電荷ａが現われる。
第３図第２ステツプを経たのち、スイッチ８１オフ、８
２オン、８３オフの状態で被検体１６にＸ線１８を照射
すれば、被検体を透過し光導電体層３に到達したＸ線の
量に応じて、光導電体層の抵抗が低ドする。このため界
面４における電荷すと、透明電極ｌの電荷ａと、電極６
ａの電荷Ｃとが減少する。従って、被検体１６を透過し
光導電体層３に到達しｆＣＸＩｍの少ない部分に多くの
電荷が保持される。この状態を第３図第３ステツプに示
す。
２オン、８３オフの状態で被検体１６にＸ線１８を照射
すれば、被検体を透過し光導電体層３に到達したＸ線の
量に応じて、光導電体層の抵抗が低ドする。このため界
面４における電荷すと、透明電極ｌの電荷ａと、電極６
ａの電荷Ｃとが減少する。従って、被検体１６を透過し
光導電体層３に到達しｆＣＸＩｍの少ない部分に多くの
電荷が保持される。この状態を第３図第３ステツプに示
す。
スイッチＳｔ 、８２．８３は第３図第３ステツプと同
じ状態で、レーザ光源８からのレーザ光９をＸ−Ｙ軸ス
キャナ１０を経て透明電極】に照射する。走査し〜ザ光
９が当たった部分の光導電体＃３の抵抗が低下し、界面
４の電荷すが出力抵抗Ｒ１に向けて放出され、電流Ｉｓ
が流れ、出力端子】５に出力電圧Ｖｓを生ずる。
じ状態で、レーザ光源８からのレーザ光９をＸ−Ｙ軸ス
キャナ１０を経て透明電極】に照射する。走査し〜ザ光
９が当たった部分の光導電体＃３の抵抗が低下し、界面
４の電荷すが出力抵抗Ｒ１に向けて放出され、電流Ｉｓ
が流れ、出力端子】５に出力電圧Ｖｓを生ずる。
この状態を第３図第４ステツプに示す。出力電圧Ｖｓを
信号処理することによって、Ｘ線診断画像をＣ）ＬＴ上
で観察すること、フィルム等にハードコピーすること、
磁気メモリ等に７アイルしておくこと、画像電送するこ
と等が出来る。
信号処理することによって、Ｘ線診断画像をＣ）ＬＴ上
で観察すること、フィルム等にハードコピーすること、
磁気メモリ等に７アイルしておくこと、画像電送するこ
と等が出来る。
なお、第２図におけるＸ線１８及び被検体１６を透明電
極１側に配置しても同様のプロセスで同様の出力電圧Ｖ
ｓが得られる。
極１側に配置しても同様のプロセスで同様の出力電圧Ｖ
ｓが得られる。
以上のような従来装置においては被検体を透過シたＸ線
を直接、検出プレートに照射して静電潜像を形成するた
め、検出プレートの大きさＬ必然的に被検体の被検部と
同じ大きさとなり検出プレートの大きさを変える仁と又
は被検体の僧の大きさを変えること更には時系列的な像
検出の全走査時間を変えることができなかった。
を直接、検出プレートに照射して静電潜像を形成するた
め、検出プレートの大きさＬ必然的に被検体の被検部と
同じ大きさとなり検出プレートの大きさを変える仁と又
は被検体の僧の大きさを変えること更には時系列的な像
検出の全走査時間を変えることができなかった。
本発明はこの点に鑑み、一旦被検体偉を形成し、該偉を
結像手段を介して噴出プレート上に結像し、該検出プレ
ートをビーム走査して時系列的に像検出をする像検出装
置を提供する仁とを目的とする。
結像手段を介して噴出プレート上に結像し、該検出プレ
ートをビーム走査して時系列的に像検出をする像検出装
置を提供する仁とを目的とする。
一般に大きな噴出プレートと９わけ全面に渡って均一な
検出性能をもつ検出プレートの製作は困難であシ、この
困難性は縮小像を形成して検出プレートを小さくすれば
緩和される。また検出プレートが小さくなれば全走査時
間が短縮され動画像噴出も可能となる。更には装置全体
のコンパクト化が可能となる。また一定の検出プレート
サイズに対して被写範囲を大きくとれる〇一方、＠出プ
レートを大きくすることにより、すなわち、被検体の拡
大像を形成することによって被検体の微小部位を拡大し
て検出することが可能となる。
検出性能をもつ検出プレートの製作は困難であシ、この
困難性は縮小像を形成して検出プレートを小さくすれば
緩和される。また検出プレートが小さくなれば全走査時
間が短縮され動画像噴出も可能となる。更には装置全体
のコンパクト化が可能となる。また一定の検出プレート
サイズに対して被写範囲を大きくとれる〇一方、＠出プ
レートを大きくすることにより、すなわち、被検体の拡
大像を形成することによって被検体の微小部位を拡大し
て検出することが可能となる。
以下、本発明の詳細な説明する。
第４図は本発明の実施例である。倫露光によシ被検体１
６を透過したＸ線１８は、有害光を遮幣する前面板１９
の背後に設けられた螢光板２２に入射し、螢光を発する
どとにより被検体１６のＸＩｍ透過部位に応じた光学像
を形成し、これが結像レンズ２３によって可視光に感度
を有する検出プレート７１１上に結像される。ここで結
像手段は任意に選択できレンズ光学系の他例えばεラー
光学系でも良く、更には複眼系であっても良い。検出グ
レー）７ａへの投影倍率を１より小さくすることにより
、検出プレート７ａを小さくでき、平面性等の均一性を
要求される検出プレートの製造が容易となる。更に、検
出プレート面積が小さくなシ全走査時間が短縮される。
６を透過したＸ線１８は、有害光を遮幣する前面板１９
の背後に設けられた螢光板２２に入射し、螢光を発する
どとにより被検体１６のＸＩｍ透過部位に応じた光学像
を形成し、これが結像レンズ２３によって可視光に感度
を有する検出プレート７１１上に結像される。ここで結
像手段は任意に選択できレンズ光学系の他例えばεラー
光学系でも良く、更には複眼系であっても良い。検出グ
レー）７ａへの投影倍率を１より小さくすることにより
、検出プレート７ａを小さくでき、平面性等の均一性を
要求される検出プレートの製造が容易となる。更に、検
出プレート面積が小さくなシ全走査時間が短縮される。
またレーザ光源８ａからのレーザビーム９ａを走査する
Ｘ−Ｙ軸スキャナ１０ａも検出プレート７ａが小さくな
ることによってすなわち走査域が小さくなることによっ
て小型化でき、結果的に装置全体がコンパクトになると
ともに走査歪のない走査光学系とできる利点がある。
Ｘ−Ｙ軸スキャナ１０ａも検出プレート７ａが小さくな
ることによってすなわち走査域が小さくなることによっ
て小型化でき、結果的に装置全体がコンパクトになると
ともに走査歪のない走査光学系とできる利点がある。
ところで逆に検出プレート７ａへの投影倍率を】より大
きくすることにより、小さな被写体又は、被写体の一部
分を拡大した静電潜像が検出プレー）７ａに形成され、
この静電潜像から読み出された電気信号によれば高解像
力を有する電気信号が出力される。
きくすることにより、小さな被写体又は、被写体の一部
分を拡大した静電潜像が検出プレー）７ａに形成され、
この静電潜像から読み出された電気信号によれば高解像
力を有する電気信号が出力される。
更に、結像レンズ２３をズームレンズで構成する等して
、該螢光像の検出プレート７ａへの結滞倍率を変えられ
るようにすれば、目的に応じて、広い被写範囲に対する
電気信号出力とか、高解像力を有する電気信号出力とか
を選択できることになる。
、該螢光像の検出プレート７ａへの結滞倍率を変えられ
るようにすれば、目的に応じて、広い被写範囲に対する
電気信号出力とか、高解像力を有する電気信号出力とか
を選択できることになる。
上述の実施例においては、ＸＩＩＪ！傷を可視光像に変
換する場合についてのみ述べたが、本発明に適用される
入射像はＸ ＃ 儂に限られる本のでなく、γ線による
像等への適用をも可能である。
換する場合についてのみ述べたが、本発明に適用される
入射像はＸ ＃ 儂に限られる本のでなく、γ線による
像等への適用をも可能である。
なお図中２０はンーザ走査制御、Ｘ線照射と像読み取り
との同期制御等を行なう電子制御ユニット、 ２１ ｉｊ険出出プレー７ａの読み出し信号を増巾し、
画像信号として外部に出力する電子信号ユニットである
。
との同期制御等を行なう電子制御ユニット、 ２１ ｉｊ険出出プレー７ａの読み出し信号を増巾し、
画像信号として外部に出力する電子信号ユニットである
。
この電子信号ユニツ）２１の信号処理の下に静電潜像が
時系列的な電気信号として出力されるＱ 萌配実施例においては、Ｘ線像を可視光像に変換する系
として螢光板２２を用いたが、第５図に示すごとくイメ
ージインテンシファイヤ２６を用いても良い。第５図は
、イメージインテンシファイヤ２６の出力螢光面２５の
出力螢光ｆｌ１１を結像レンズ系２７．２８を用いて検
出プレート７ａ上に結像させることによって、検出プレ
ー ） ７ ａに静電潜像を形成させるようにしたこ
とを特徴とする静電潜像読み出し装置である。
時系列的な電気信号として出力されるＱ 萌配実施例においては、Ｘ線像を可視光像に変換する系
として螢光板２２を用いたが、第５図に示すごとくイメ
ージインテンシファイヤ２６を用いても良い。第５図は
、イメージインテンシファイヤ２６の出力螢光面２５の
出力螢光ｆｌ１１を結像レンズ系２７．２８を用いて検
出プレート７ａ上に結像させることによって、検出プレ
ー ） ７ ａに静電潜像を形成させるようにしたこ
とを特徴とする静電潜像読み出し装置である。
る。第５図において、２４はイメージインテンシファイ
ヤ２６の入力螢光面、３０はテレビカメラ３２でＸ線像
をモニターするときに、イメージインテンシファイヤ２
６の出力像を偏向させるだめのミラーで、検出プレー）
７ａ上に静電潜像を形成させる場合には結像レンズ系２
７゜２８の光路よす矢印の方へ逃がしておく。なお２９
は走査検出ユニット、３１はテレビカメラ３２に対する
結像レンズである。
ヤ２６の入力螢光面、３０はテレビカメラ３２でＸ線像
をモニターするときに、イメージインテンシファイヤ２
６の出力像を偏向させるだめのミラーで、検出プレー）
７ａ上に静電潜像を形成させる場合には結像レンズ系２
７゜２８の光路よす矢印の方へ逃がしておく。なお２９
は走査検出ユニット、３１はテレビカメラ３２に対する
結像レンズである。
イメージインテンシファイヤ２６は、被検体１６を透過
したＸ線１８によって入力螢光面２４に形成された螢光
儂を電子レンズによって増倍し出力螢光面２５に結像さ
せるという発光増大機能を有する。従って、第４図にお
ける螢光板２２に対したときよシも、検出プレート７ａ
の感度が低くて良いことになシ、検出プレート７ａの光
導電体層の材料選択範囲が広くなる。
したＸ線１８によって入力螢光面２４に形成された螢光
儂を電子レンズによって増倍し出力螢光面２５に結像さ
せるという発光増大機能を有する。従って、第４図にお
ける螢光板２２に対したときよシも、検出プレート７ａ
の感度が低くて良いことになシ、検出プレート７ａの光
導電体層の材料選択範囲が広くなる。
一方、イメージインテンシ７アイヤ２６の出力像は、テ
レビカメラ３２によってリアルタイムモニタ用電気信号
に変換されるわけではあるが、テレビカメラの走査線本
数に限度があるため、高解像力を有するＸ線像の電気信
号出力を得ることができない。しかし本実施例のように
静電ａ像読み出し系を用いると、このテレビカメラの欠
点を補うことができる。
レビカメラ３２によってリアルタイムモニタ用電気信号
に変換されるわけではあるが、テレビカメラの走査線本
数に限度があるため、高解像力を有するＸ線像の電気信
号出力を得ることができない。しかし本実施例のように
静電ａ像読み出し系を用いると、このテレビカメラの欠
点を補うことができる。
次に第６図に更に別の実施例を示す。これは第４図実施
例における螢光板２２の替わ）に、平板型イメージイン
テンシファイヤ３５を用いた例である。
例における螢光板２２の替わ）に、平板型イメージイン
テンシファイヤ３５を用いた例である。
平板型イメージインテンシファイヤ３５においては、入
力螢光面３３と出力螢光面３４が同じ大きさの平板状構
造を有し近接して配薫されているため、像の歪がない状
態で、入射Ｘ線が増倍された可視光線に変換される。従
って、第４図において螢光板２２を用いた場合よシも、
第６図におけるように平板型イメージインテンシファイ
ヤ３５を用いた場合の方が検出ブレー）７ａの感度が低
くて良いこと釦な妙、検出プレー）７ａの材料選択範囲
が広くなる。
力螢光面３３と出力螢光面３４が同じ大きさの平板状構
造を有し近接して配薫されているため、像の歪がない状
態で、入射Ｘ線が増倍された可視光線に変換される。従
って、第４図において螢光板２２を用いた場合よシも、
第６図におけるように平板型イメージインテンシファイ
ヤ３５を用いた場合の方が検出ブレー）７ａの感度が低
くて良いこと釦な妙、検出プレー）７ａの材料選択範囲
が広くなる。
第５図及び第６図の例においては、Ｘ線像を可視光像に
変換する系そのものが発光増大機能を有している場合に
ついて述べたが、第４図における螢光板２２による螢光
像を発光増大するライトイメージインテンシファイヤを
螢光板２２と検出プレート７ａの間に組込んだような静
電潜像検出装置にすることもできる。この場合にも噴出
プレート７ａの材料選択範囲が広くなる。
変換する系そのものが発光増大機能を有している場合に
ついて述べたが、第４図における螢光板２２による螢光
像を発光増大するライトイメージインテンシファイヤを
螢光板２２と検出プレート７ａの間に組込んだような静
電潜像検出装置にすることもできる。この場合にも噴出
プレート７ａの材料選択範囲が広くなる。
ところで以上の実施例においては像露光によシーＢ被検
体の光学像を形成し、結像光学系で検出プレート上に結
像させることを述べたが、本発明はこれに限らず、非光
学的な例えば電磁的な被検体像、結像手段を用いるもの
であっても良い。また本発明における時系列的な像検出
は光電的なものに限られない。
体の光学像を形成し、結像光学系で検出プレート上に結
像させることを述べたが、本発明はこれに限らず、非光
学的な例えば電磁的な被検体像、結像手段を用いるもの
であっても良い。また本発明における時系列的な像検出
は光電的なものに限られない。
以上５本発明によれば次のような効果が顕著である。す
なわち投影倍率を１よシ小さくすることにより、 ｆｌｌ Ｓ出プレートサイズに比して被写範囲を大き
く蝦れる。
なわち投影倍率を１よシ小さくすることにより、 ｆｌｌ Ｓ出プレートサイズに比して被写範囲を大き
く蝦れる。
（２） 全走奄時間を短縮できる。
（３） 噴出プレートの製作が容易となる。
ｆ４１Ｘ−Ｙ軸スキャナの小型化、歪補正の簡易化が可
能となる。
能となる。
（５） 製電のコンパクト化が可能となる。
また投影培率を１より大きくすることにより＾解像力電
気信号の出力が得られる。更に発光増大機能を具備させ
ることにより （１） 検出プレートは低感度で良い。
気信号の出力が得られる。更に発光増大機能を具備させ
ることにより （１） 検出プレートは低感度で良い。
（２）＠出グレートの光導電体層の材料選択範囲が拡が
る。
る。
（３） 第５図に示ｔ７た如くリアルタイムモニタ機
能を具備させることかり能となる。
能を具備させることかり能となる。
第１図乃至第２図は従来例の説明図、第３図はプロセス
説明図、第４図乃至第６図は本発明の実施例の図。 図中 ７．７３は検出プレート ８．８ａはレーザ光源 ９．９ａはレーザビーム １０．１０ａはＸ−Ｙ軸スキャナ １６は被検体 １８はＸ線 ２２は螢光、板 ２３は結像レンズ ２６はイメージインテンシファイヤ ２７．２８は結像レンズ系 ３２はテレビカメラ ３５は平板型イメージインテンシファイヤである。 よ４．ｊＩＨ八（す゛ 箔５同 第１頁の続き ０発 明 者 太田信− 川崎市中原区今井上町５３番地キ ャノン株式会社小杉事業所内 ０発 明 者 北島信夫 東京都大田区下丸子３丁目加番 ２号キャノン株式会社内
説明図、第４図乃至第６図は本発明の実施例の図。 図中 ７．７３は検出プレート ８．８ａはレーザ光源 ９．９ａはレーザビーム １０．１０ａはＸ−Ｙ軸スキャナ １６は被検体 １８はＸ線 ２２は螢光、板 ２３は結像レンズ ２６はイメージインテンシファイヤ ２７．２８は結像レンズ系 ３２はテレビカメラ ３５は平板型イメージインテンシファイヤである。 よ４．ｊＩＨ八（す゛ 箔５同 第１頁の続き ０発 明 者 太田信− 川崎市中原区今井上町５３番地キ ャノン株式会社小杉事業所内 ０発 明 者 北島信夫 東京都大田区下丸子３丁目加番 ２号キャノン株式会社内
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 ■、照射源からの像露光により一旦被検体像を形成する
手段と、 咳像を噴出プレート上に結像する手段と、該噴出プレー
トに形成される被検体の潜像をビーム走査により時系列
的に検出する手段を有することを特徴とする像検出装置
。 ２、 前記像露光による被検体像が光学像である特許請
求の範囲第１項記載の像検出装置。 ３、前記照射源がＸ線源である特許請求の範囲第１項記
載の像検出装置。 ４ 前記被検体の光学像を形成する手段が螢光板である
特許請求の範囲第２項記載の像検出装置。 ５、前記被検体の光学像を形成する手段が発光増大機能
を有する特許請求の範囲第２項記載の像検出装置。 ６、 前記結像手段の結像倍率が１より小さい特許請求
の範囲第１項記載の像検出装置。 ７、 前記結像手段の結像倍率が１より大きい特許請求
の範囲第１項記載のｇｌ検出装置。 ８、 前記結像手段の結像倍率が可変である特許請求の
範囲第１項記載の像検出装置。 ９、前記結像手段がズームレンズである特許請求の範囲
第２項記載の像検出装置。 １０、前記検出グレートに形成される潜像が静電潜像で
あり、レーザビーム走査によシ時系列的に検出される特
許請求の範囲第１項記載のｇ！！検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57113751A JPS595237A (ja) | 1982-06-30 | 1982-06-30 | 像検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57113751A JPS595237A (ja) | 1982-06-30 | 1982-06-30 | 像検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS595237A true JPS595237A (ja) | 1984-01-12 |
Family
ID=14620195
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57113751A Pending JPS595237A (ja) | 1982-06-30 | 1982-06-30 | 像検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS595237A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60149612A (ja) * | 1984-01-13 | 1985-08-07 | Dai Ichi Kogyo Seiyaku Co Ltd | 水溶性重合体の製法 |
| CN105158789A (zh) * | 2015-09-11 | 2015-12-16 | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 | 一种空间分辨辐射流探测设备 |
-
1982
- 1982-06-30 JP JP57113751A patent/JPS595237A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60149612A (ja) * | 1984-01-13 | 1985-08-07 | Dai Ichi Kogyo Seiyaku Co Ltd | 水溶性重合体の製法 |
| JPH0410881B2 (ja) * | 1984-01-13 | 1992-02-26 | ||
| CN105158789A (zh) * | 2015-09-11 | 2015-12-16 | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 | 一种空间分辨辐射流探测设备 |
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