JPS58150948A - 感光性組成物 - Google Patents

感光性組成物

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JPS58150948A
JPS58150948A JP3230082A JP3230082A JPS58150948A JP S58150948 A JPS58150948 A JP S58150948A JP 3230082 A JP3230082 A JP 3230082A JP 3230082 A JP3230082 A JP 3230082A JP S58150948 A JPS58150948 A JP S58150948A
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photosensitive
alkali
photosensitive composition
compound
group
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JP3230082A
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Masanao Ozeki
大関 正直
Shigehiro Tanaka
重弘 田中
Takako Fujimoto
藤本 孝子
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DIC Corp
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Dainippon Ink and Chemicals Co Ltd
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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/022Quinonediazides

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はIC,T、SI等の素子の製造に際1〜使用さ
れる超微細加工用レジストとして、また平版印刷版の製
造に際し使用される感光材料として応用可能な高感度の
ポジ型感光性組成物に関する。
ポジ型感光性物質の代表的なものとして、1,2−キノ
ンジアジド化合物があり、かかる1、2−キノンジアジ
ド化合物に関しては、例えばカ独特、+f第93823
3号公報をはじめとし、J、コーサー著[ライト−セン
シティブ・システムズ−1(JohnWiley & 
5ons、 Inc)第639〜357頁に紹介された
多くの特許公報、技術文献によって、非常に数多くの化
合物が知られている。更に、これら公知の1,2−キノ
ンジアジド化合物の中でも、特に芳香族ポリヒドロキシ
化合物の1,2−ナフトキノン−2〜ジアジドスルホン
酸エステルが好適であることも寸だ知られてぃる。
5hipley社から現在rAZ−1350Jjの商標
の下に販売されているホトレジストは、超微細加工分野
で実用的に広(使用されている最も代表的なものであり
、該レジストに使用されている感光性物質は、既に、1
8Mレポート(I BM  J、Res、 Devel
op、 Vol、 23.41 。
JANNARY  1979 )によって、その化学的
構造か明らかにされている。即ち、この18Mレポート
によって、」−配ホトレジストの感光性物質が式 で表わされる化合物であることが明らかにされている。
本発明者婢は、この感光性物質が、現に実用的に広(使
用されている代表的なものであるという現実からみて、
ポジ型感光性物質の現在の実用的水準を示しているもの
と理解している。一方、超微細加工分野では、現在の加
工生産性を更に向上させるために現在実用的に1ψ用さ
れているホトレジストよりも高感度のホトレジストを切
望している情況にある。
本発明は、かかる情況に鑑みて成されたものであり、そ
の目的とするところは、高感度のポジ型感光性組成物を
提供することにある。
本発明者叫は各種の感光性物質の化学的構造と感度との
関係について検討した結果、ポリヒドロキシベンゾフェ
ノンの1,2−ナフトキノン−2−ジアジド−スルホン
酸エステルの化合物群の中で、少tCくともベンゾフェ
ノン核のカルボニル基に隣接する2位及び2′位が夫々
水酸基で置換された化合物が特異的に高い感度を准する
ことを見出して本発明に到達1〜だ。
即ち、本発明は、一般式 式中、R及びR′は互に同−又は異なってよく、水素原
子、1〜2個の炭素原子を有するアルコキシル基、水酸
基、ニトロ基又は−〇−D基を表わす。Dは1,2−ナ
フトキノン−2−ジアジド−スルホニル基を表わす。m
は0〜乙の整数、m′は0〜4の整数を表わす。
で表わされる化合物及びアルカリ可溶性樹脂から成る感
光性組成物に関する。
式(1)の化合物の中で特に好ましい化合物として次の
化合物を挙げることができる。
5− O 6一 OHklU    へU2 OH)10 7一 式(1)の化合物と混合されるアルカリ可溶性樹脂とし
ては、従来からポジ型感光性組成物の調製に際し使用さ
れている各種のアルカリ1丁溶性樹脂を使用することが
できる。このような樹脂としては例えばフェノールホル
ムアルデヒド樹脂、クレゾールホルムアルデヒド樹脂、
スチレン−無水マレイン酸樹脂、シェラツク等がある。
弐fl)の化合物は感光性組成物の全固形分に対し20
−35重量%配合1−ることが好ましい。
本発明に係る感光性組成物は、適当な溶媒に溶解して支
持体上に塗布される。適当な醇媒としては、例えばメチ
ルセロソルブ、エチルセロソルブ、メチルセロソルブア
セテート、エチルセロソルブアセテート、シクロヘキサ
ノン、ジメチルスルオキサイド、ジメチルホルムアミド
、ジオキサン、テトラヒドロフラン等があり、これらは
単独又は混合して使用される。
9− 一8= 本発明に係る感光性組成物を塗布する支持体と17では
、例えば、シリコンウェハー、アルミニウム板、9M板
、プリント配線用銅張積層板等が用途に応じて適宜使用
される。
本発明に係る感光性組成物をスピンナー、コーター等の
適当な塗布手段で支持体上に塗布し、乾燥することによ
って感光層が形成される。感光層は、パターンマスク、
パターンフィルムの如き透明原画を透過した光線が照射
され、次いでアルカリ現像液で現像される。
アルカリ現像液としては、例えば水酸化ナトリウム、水
酸化カリウム、珪酸ナトリウム、珪酸カリウム、第三燐
酸ナトリウム、第三燐酸カリウム、炭酸ナトリウム、炭
酸カリウムの如き無機アルカリ、エタノールアミンの如
キ有機アルカリの水溶液から成り、更に必要に応じて界
面活性剤、ベンジルアルコールの如きアルコールが加え
られた現像剤を使用することができる。
一1〇− 以下、実施例によって本発明を更に詳細に説明する。
実施例 フェノールノボラック樹脂(犬日本インキ化学工業社製
[ブライオーフェン1)6gと第1表及び第2表記載の
各感光性物質(注)3gとをセロソルブアセテート2c
Jmlに俗解させて感光性樹脂浴液を調製し、スピンナ
ーで、この溶液をシリコンウェハーの上に塗布し、90
℃に加熱されたホットプレート上で30分間加熱乾燥さ
せることにより、感光膜を形成l〜だ。各感光膜の膜厚
を12μとした。
(注)第1表中の(a)(g)の化合物は本発明に係る
感光性物質であり、第2表中の(hl −(k+の化合
物は比較のために使用した公知の感光性物質であって、
(hlは本明細書の冒頭に記載した如く現在超微細加工
分野で広く使用されている5hipley社のホトレジ
ストrAZ−1350JJに使71されている感光性物
質であり、(il−(k+は本発明に係る感光性物質と
化学的構造が類似する化合物であって***特許第938
233号公報に記載されたものである。
次いで、次に述べる露光方法に従って、各感光膜に露光
し、これを現像することにより、各感光膜の感度を測定
1−だ。4光に際し、協栄セミコンダクター社製の紫外
線照射装置(K−200」を使用し、感光膜表面での光
1゛を53mW乙肩2に設定した。現像に際し、pH1
25ONaOH水溶液を現像液として使用した。
露光方法は、第1図及び第2図に示す如く、シリコンウ
ェハー(+)JJC形成すれ?l&光膜(2)をel、
12、!3.14、e5及び46の区分線KJニッチ、
So、81、S2、S3、S4、S5及びS6の7つの
区分に区画し、先づ、ハードマスク(3)の図示左端を
16の区分線に位置させて、S6の区分を露出させると
共に仲の区分をハードマスク(3)で遮蔽し、露出した
感光膜に1秒間動用した。次いで、ハードマスク(3)
を図面お方に移動させ、その左端をe5の区分線に位置
させ、PJび1秒間露光した。以下同様に、e4、e5
.12及びglの各区分線に順次ハードマスク(3)の
左端を位置させ、各位置で1秒間露光した。この操作で
(SO)、(Sl)、(S2)、(S3)、(S4)、
(s5)、(s6)の各区分は大々0.1.2.3.4
.5.6秒間露光された。かくして、紫外線被曝量の異
なる区分の形成をれた感光層(2)を現像液中に1分間
浸漬した状態で軽く振盪し、た後、これを水洗し乾燥し
た。この現像によって感光膜(2)が除去された幾つか
の区分のI:l叩)紫外線被曝量の最も少ない区分にお
ける露光秒数を感度とし第3表に掲示した。
この現像柔性1佳未露光部の感光膜が現像液で俗かされ
てその膜厚が減少する現象(所謂膜減り)の起らない条
件に設定されている。現像条件の設定に際し、感光膜に
膜減りの起らないことの確認は、日本光学社製サーアイ
スフィニ16− ツシユマイクロスコープを使用することによって行った
第1表 14− 第2表 表中りは第1表に定義1−たDと同意を表わす。
第   ろ   表 =17−
【図面の簡単な説明】
図面は、感光層の露光方法の説明図で、菓1図は平面図
、第2図は断面図である。 (])・・・・・・・・シリコンウェハー   (2)
・・・・・・・・・感光層(31・・・・・・・ハード
マスク 特許出願人  大日本インキ化学工業株式会社=18=

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 式中、R及びR′は互に同−又は異なってよく、水素原
    子、1〜2個の炭素原子を有するアルコキシル基、水酸
    基、ニトロ基又は−〇−D基を表わす。Dは1,2−ナ
    フトキノン−2−ジアジド−スルホニル基を表わす。m
    は0〜ろの整数、m′はO〜4の整数を表わす。 で表わされる化合物及びアルカリ可溶性樹脂から成る感
    光性組成物。
JP3230082A 1982-03-03 1982-03-03 感光性組成物 Granted JPS58150948A (ja)

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