JPH1123636A - アレー型コンデンサの絶縁抵抗測定方法および装置 - Google Patents
アレー型コンデンサの絶縁抵抗測定方法および装置Info
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- JPH1123636A JPH1123636A JP9199372A JP19937297A JPH1123636A JP H1123636 A JPH1123636 A JP H1123636A JP 9199372 A JP9199372 A JP 9199372A JP 19937297 A JP19937297 A JP 19937297A JP H1123636 A JPH1123636 A JP H1123636A
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- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】３モードの絶縁抵抗の測定を効率よく行なえる
アレー型コンデンサの絶縁抵抗測定方法および装置を提
供する。 【解決手段】複数のコンデンサ素子Ｃ１〜Ｃ４を並列に
配置したアレー型コンデンサ１の絶縁抵抗を測定する絶
縁抵抗測定方法であって、各コンデンサ素子Ｃ１〜Ｃ４
に同極性の直流電圧を印加し、その漏れ電流，を検
出する。次に、スイッチ４７ａ〜４７ｄを切り替えて各
コンデンサ素子Ｃ１〜Ｃ４に、隣接するコンデンサ素子
ごとに逆極性の直流電圧を印加し、その漏れ電流，
’を検出する。これら漏れ電流から、各コンデンサ
素子の絶縁抵抗、隣接するコンデンサ素子の内部電極間
の絶縁不良、および隣接するコンデンサ素子の外部電極
間の絶縁不良を検出する。
アレー型コンデンサの絶縁抵抗測定方法および装置を提
供する。 【解決手段】複数のコンデンサ素子Ｃ１〜Ｃ４を並列に
配置したアレー型コンデンサ１の絶縁抵抗を測定する絶
縁抵抗測定方法であって、各コンデンサ素子Ｃ１〜Ｃ４
に同極性の直流電圧を印加し、その漏れ電流，を検
出する。次に、スイッチ４７ａ〜４７ｄを切り替えて各
コンデンサ素子Ｃ１〜Ｃ４に、隣接するコンデンサ素子
ごとに逆極性の直流電圧を印加し、その漏れ電流，
’を検出する。これら漏れ電流から、各コンデンサ
素子の絶縁抵抗、隣接するコンデンサ素子の内部電極間
の絶縁不良、および隣接するコンデンサ素子の外部電極
間の絶縁不良を検出する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はアレー型コンデンサ
の絶縁抵抗測定方法および装置に関するものである。
の絶縁抵抗測定方法および装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】一般に、コンデンサの良否を判定するた
め絶縁抵抗値が測定される。この絶縁抵抗値を測定する
場合、コンデンサが充電されていない状態では、コンデ
ンサの持つ容量のために正しく絶縁抵抗を測定できな
い。そこで、まずコンデンサに直流電圧を印加して予備
充電し、その後で漏れ電流（充電電流）を測定すること
により、コンデンサの絶縁抵抗を測定する方法が一般に
用いられている。当然ながら、良品は漏れ電流が少な
い。
め絶縁抵抗値が測定される。この絶縁抵抗値を測定する
場合、コンデンサが充電されていない状態では、コンデ
ンサの持つ容量のために正しく絶縁抵抗を測定できな
い。そこで、まずコンデンサに直流電圧を印加して予備
充電し、その後で漏れ電流（充電電流）を測定すること
により、コンデンサの絶縁抵抗を測定する方法が一般に
用いられている。当然ながら、良品は漏れ電流が少な
い。
【０００３】ところで、図１，図２のように複数のコン
デンサ素子Ｃ１〜Ｃ４を並列に配置したアレー型コンデ
ンサ１が知られている。アレー型コンデンサ１は、複数
の誘電体層２〜４の間に対向する内部電極５ａ〜５ｈを
設け、全ての層２〜４を積層一体化させた後、内部電極
５ａ〜５ｈと導通するように外部電極６ａ〜６ｈを設け
たものである。なお、図１では説明を簡単にするため、
誘電体層を３層としたが、４層以上としてもよい。ま
た、コンデンサ素子の数も４個に限らず、２個または３
個、あるいは５個以上であってもよいことは勿論であ
る。
デンサ素子Ｃ１〜Ｃ４を並列に配置したアレー型コンデ
ンサ１が知られている。アレー型コンデンサ１は、複数
の誘電体層２〜４の間に対向する内部電極５ａ〜５ｈを
設け、全ての層２〜４を積層一体化させた後、内部電極
５ａ〜５ｈと導通するように外部電極６ａ〜６ｈを設け
たものである。なお、図１では説明を簡単にするため、
誘電体層を３層としたが、４層以上としてもよい。ま
た、コンデンサ素子の数も４個に限らず、２個または３
個、あるいは５個以上であってもよいことは勿論であ
る。
【０００４】このようなアレー型コンデンサの絶縁抵抗
の不良モードには次の３つのモードがある。 モード１：コンデンサ素子Ｃ１〜Ｃ４自体の絶縁不良 モード２：隣接するコンデンサ素子の内部電極５ａ〜５
ｈ間の絶縁不良 モード３：隣接するコンデンサ素子の外部電極６ａ〜６
ｈ間の絶縁不良
の不良モードには次の３つのモードがある。 モード１：コンデンサ素子Ｃ１〜Ｃ４自体の絶縁不良 モード２：隣接するコンデンサ素子の内部電極５ａ〜５
ｈ間の絶縁不良 モード３：隣接するコンデンサ素子の外部電極６ａ〜６
ｈ間の絶縁不良
【０００５】上記３つのモードの絶縁不良を検出するた
め、従来では図３に示すように絶縁抵抗測定回路の配線
を組み替えていた。すなわち、図３の（Ａ）はモード１
の測定回路であり、対向する外部電極に測定端子１０，
１１を接触させ、方向の電流を測定することによっ
て、コンデンサ素子Ｃ１〜Ｃ４自体の絶縁抵抗を検出す
る。図において、１２は直流電源、１３は接触検出用の
交流電源、１４は切替スイッチ、１５は電流制限抵抗、
１６は電流計である。図３では１素子分の測定回路だけ
が記載されているが、素子の数に応じて測定回路を並列
に設け、全ての素子Ｃ１〜Ｃ４の絶縁抵抗を同時に測定
してもよい。図３の（Ｂ）はモード２の測定回路であ
り、隣合うコンデンサ素子Ｃ１〜Ｃ４に対角方向に流れ
る電流を測定することによって、内部電極５ａ〜５ｈ
間の絶縁不良を検出している。図３の（Ｃ）はモード３
の測定回路であり、隣合うコンデンサ素子Ｃ１〜Ｃ４間
に流れる電流を測定することによって、外部電極６ａ
〜６ｈ間の絶縁不良を検出している。
め、従来では図３に示すように絶縁抵抗測定回路の配線
を組み替えていた。すなわち、図３の（Ａ）はモード１
の測定回路であり、対向する外部電極に測定端子１０，
１１を接触させ、方向の電流を測定することによっ
て、コンデンサ素子Ｃ１〜Ｃ４自体の絶縁抵抗を検出す
る。図において、１２は直流電源、１３は接触検出用の
交流電源、１４は切替スイッチ、１５は電流制限抵抗、
１６は電流計である。図３では１素子分の測定回路だけ
が記載されているが、素子の数に応じて測定回路を並列
に設け、全ての素子Ｃ１〜Ｃ４の絶縁抵抗を同時に測定
してもよい。図３の（Ｂ）はモード２の測定回路であ
り、隣合うコンデンサ素子Ｃ１〜Ｃ４に対角方向に流れ
る電流を測定することによって、内部電極５ａ〜５ｈ
間の絶縁不良を検出している。図３の（Ｃ）はモード３
の測定回路であり、隣合うコンデンサ素子Ｃ１〜Ｃ４間
に流れる電流を測定することによって、外部電極６ａ
〜６ｈ間の絶縁不良を検出している。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上記のよう
な測定回路で絶縁抵抗を測定しようとすると、不良モー
ド１〜３ごとに測定回路の配線を組み替える必要があ
り、測定効率が非常に悪い。また、絶縁抵抗の測定前に
測定端子１０，１１の接触検出を行なう必要があり、そ
のためにスイッチ１４を交流電源１３側へ切り換えて回
路に流れる電流を検出することになるが、このような接
触検出を各モードの測定前に行なう必要があるので、測
定作業が一層面倒になる。しかも、モード２，３では隣
接する内外の電極の絶縁不良測定であるため、浮遊容量
程度の僅かな容量（例えば数ｐＦ以下）しか存在しない
ため、接触検出が有効にできないという問題があった。
な測定回路で絶縁抵抗を測定しようとすると、不良モー
ド１〜３ごとに測定回路の配線を組み替える必要があ
り、測定効率が非常に悪い。また、絶縁抵抗の測定前に
測定端子１０，１１の接触検出を行なう必要があり、そ
のためにスイッチ１４を交流電源１３側へ切り換えて回
路に流れる電流を検出することになるが、このような接
触検出を各モードの測定前に行なう必要があるので、測
定作業が一層面倒になる。しかも、モード２，３では隣
接する内外の電極の絶縁不良測定であるため、浮遊容量
程度の僅かな容量（例えば数ｐＦ以下）しか存在しない
ため、接触検出が有効にできないという問題があった。
【０００７】そこで、本発明の目的は、３モードの絶縁
抵抗の測定を効率よく行なえるアレー型コンデンサの絶
縁抵抗測定方法および装置を提供することにある。
抵抗の測定を効率よく行なえるアレー型コンデンサの絶
縁抵抗測定方法および装置を提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項１に記載の発明は、複数のコンデンサ素子を
並列に配置したアレー型コンデンサに直流電圧を印加
し、その漏れ電流から絶縁抵抗を測定する絶縁抵抗測定
方法において、各コンデンサ素子に同極性の直流電圧を
印加し、その漏れ電流を検出する第１の工程と、各コン
デンサ素子に、隣接するコンデンサ素子ごとに逆極性の
直流電圧を印加し、その漏れ電流を検出する第２の工程
と、上記第１および第２の工程より得られる漏れ電流か
ら、各コンデンサ素子の絶縁抵抗、隣接するコンデンサ
素子の内部電極間の絶縁不良、および隣接するコンデン
サ素子の外部電極間の絶縁不良を検出する工程と、を含
むことを特徴とする。
め、請求項１に記載の発明は、複数のコンデンサ素子を
並列に配置したアレー型コンデンサに直流電圧を印加
し、その漏れ電流から絶縁抵抗を測定する絶縁抵抗測定
方法において、各コンデンサ素子に同極性の直流電圧を
印加し、その漏れ電流を検出する第１の工程と、各コン
デンサ素子に、隣接するコンデンサ素子ごとに逆極性の
直流電圧を印加し、その漏れ電流を検出する第２の工程
と、上記第１および第２の工程より得られる漏れ電流か
ら、各コンデンサ素子の絶縁抵抗、隣接するコンデンサ
素子の内部電極間の絶縁不良、および隣接するコンデン
サ素子の外部電極間の絶縁不良を検出する工程と、を含
むことを特徴とする。
【０００９】まず、各コンデンサ素子に同極性の直流電
圧を印加し、その漏れ電流を検出する。この漏れ電流に
は、モード１の電流とモード２の電流とが含まれ
る。次に、各コンデンサ素子に、隣接するコンデンサ素
子ごとに逆極性の直流電圧を印加し、その漏れ電流を検
出する。この漏れ電流には、モード１の電流とモード
３の電流とが含まれる。上記のように求めた２種類の
電流のうち、いずれかの電流値が非常に大きな場合に
は、モード１〜３のいずれかに絶縁不良があることを意
味するので、このアレー型コンデンサが不良品であるこ
とが判る。一方、２種類の電流が所定の時間カーブを描
いて低下する場合には、モード１ないしモード３の絶縁
不良がなく、アレー型コンデンサが良品であることを意
味するので、第１の工程または第２の工程から得られる
漏れ電流からコンデンサ素子の絶縁抵抗を求める。な
お、第１の工程と第２の工程は、いずれを先に行なって
もよいことは勿論である。
圧を印加し、その漏れ電流を検出する。この漏れ電流に
は、モード１の電流とモード２の電流とが含まれ
る。次に、各コンデンサ素子に、隣接するコンデンサ素
子ごとに逆極性の直流電圧を印加し、その漏れ電流を検
出する。この漏れ電流には、モード１の電流とモード
３の電流とが含まれる。上記のように求めた２種類の
電流のうち、いずれかの電流値が非常に大きな場合に
は、モード１〜３のいずれかに絶縁不良があることを意
味するので、このアレー型コンデンサが不良品であるこ
とが判る。一方、２種類の電流が所定の時間カーブを描
いて低下する場合には、モード１ないしモード３の絶縁
不良がなく、アレー型コンデンサが良品であることを意
味するので、第１の工程または第２の工程から得られる
漏れ電流からコンデンサ素子の絶縁抵抗を求める。な
お、第１の工程と第２の工程は、いずれを先に行なって
もよいことは勿論である。
【００１０】第１の工程および第２の工程において、測
定端子とアレー型コンデンサの外部電極とを接触させる
ことになるが、この接触が不十分であれば、測定された
電流値も不正確なものとなる。そのため、第１の工程ま
たは第２の工程の前に、各コンデンサ素子に交流電圧を
印加し、流れる電流から接触検出を行なうのが望まし
い。接触が不十分である場合には、流れる電流が小さい
ので、接触不良を容易に判別できる。また、モード２ま
たはモード３単体の測定では、浮遊容量程度の僅かな容
量しか存在しないため、接触検出が難しかったが、本発
明ではモード２とモード１とを同時に、あるいはモード
３とモード１とを同時に検出しているので、容量値が大
きく、接触検出を確実に行なうことができる。第１の工
程および第２の工程を、別々の測定回路で実施する場合
には、第１の工程と第２の工程のそれぞれの前に接触検
出を行なう必要がある。一方、第１の工程および第２の
工程を、切替スイッチを有する共通の回路で実施する場
合には、第１の工程と第２の工程を連続的に実施できる
ので、接触検出を第１の工程の前に行なうだけでよい。
定端子とアレー型コンデンサの外部電極とを接触させる
ことになるが、この接触が不十分であれば、測定された
電流値も不正確なものとなる。そのため、第１の工程ま
たは第２の工程の前に、各コンデンサ素子に交流電圧を
印加し、流れる電流から接触検出を行なうのが望まし
い。接触が不十分である場合には、流れる電流が小さい
ので、接触不良を容易に判別できる。また、モード２ま
たはモード３単体の測定では、浮遊容量程度の僅かな容
量しか存在しないため、接触検出が難しかったが、本発
明ではモード２とモード１とを同時に、あるいはモード
３とモード１とを同時に検出しているので、容量値が大
きく、接触検出を確実に行なうことができる。第１の工
程および第２の工程を、別々の測定回路で実施する場合
には、第１の工程と第２の工程のそれぞれの前に接触検
出を行なう必要がある。一方、第１の工程および第２の
工程を、切替スイッチを有する共通の回路で実施する場
合には、第１の工程と第２の工程を連続的に実施できる
ので、接触検出を第１の工程の前に行なうだけでよい。
【００１１】上記の測定方法では、モード１とモード２
とを同時に検出し、モード１とモード３とを同時に検出
しているため、コンデンサ素子単体の絶縁抵抗のみを正
確に測定することが難しい。つまり、測定された電流値
には２つのモードの結合された値が測定されることにな
る。そこで、コンデンサ素子単体の絶縁抵抗を測定する
ため、各コンデンサ素子に、隣接するコンデンサ素子ご
とに異なるタイミングで直流電圧を印加するのが望まし
い。このタイミングとしては、例えば並列に配列された
コンデンサ素子に対し、直流電圧をスキャニングしなが
ら印加したり、あるいは１個おきに直流電圧を印加して
もよい。この場合には、隣接するコンデンサ素子の影響
を受けない値、つまりコンデンサ素子単体の絶縁抵抗を
正確に測定することができる。
とを同時に検出し、モード１とモード３とを同時に検出
しているため、コンデンサ素子単体の絶縁抵抗のみを正
確に測定することが難しい。つまり、測定された電流値
には２つのモードの結合された値が測定されることにな
る。そこで、コンデンサ素子単体の絶縁抵抗を測定する
ため、各コンデンサ素子に、隣接するコンデンサ素子ご
とに異なるタイミングで直流電圧を印加するのが望まし
い。このタイミングとしては、例えば並列に配列された
コンデンサ素子に対し、直流電圧をスキャニングしなが
ら印加したり、あるいは１個おきに直流電圧を印加して
もよい。この場合には、隣接するコンデンサ素子の影響
を受けない値、つまりコンデンサ素子単体の絶縁抵抗を
正確に測定することができる。
【００１２】
【発明の実施の形態】図４および図５は本発明にかかる
絶縁抵抗測定装置の第１実施例を示す。この実施例は、
モード１，２の測定と、モード１，３の測定とを別個の
回路で行なう例である。なお、被測定物であるアレー型
コンデンサ１は、図１，図２と同様に４個のコンデンサ
素子Ｃ１〜Ｃ４を含むものを用いた。図４はモード１お
よびモード２の測定を行なう第１の測定回路２０を示
し、アレー型コンデンサ１の外部電極６ａ〜６ｈにそれ
ぞれ接触する８個の測定端子２１ａ〜２１ｈ、直流電源
２２、接触検出用の交流電源２３、電源切替スイッチ２
４、４個の電流制限抵抗２５ａ〜２５ｄ、４台の電流計
２６ａ〜２６ｄ、４個のスイッチ２７ａ〜２７ｄを備え
ている。上記電流制限抵抗２５ａ〜２５ｄ、電流計２６
ａ〜２６ｄおよびスイッチ２７ａ〜２７ｄは互いに並列
に接続されている。また、図５はモード１およびモード
３の測定を行なう第２の測定回路３０を示し、アレー型
コンデンサ１の外部電極６ａ〜６ｈにそれぞれ接触する
８個の測定端子３１ａ〜３１ｈ、直流電源３２、接触検
出用の交流電源３３、電源切替スイッチ３４、４個の電
流制限抵抗３５ａ〜３５ｄ、４台の電流計３６ａ〜３６
ｄ、４個のスイッチ３７ａ〜３７ｄを備えている。
絶縁抵抗測定装置の第１実施例を示す。この実施例は、
モード１，２の測定と、モード１，３の測定とを別個の
回路で行なう例である。なお、被測定物であるアレー型
コンデンサ１は、図１，図２と同様に４個のコンデンサ
素子Ｃ１〜Ｃ４を含むものを用いた。図４はモード１お
よびモード２の測定を行なう第１の測定回路２０を示
し、アレー型コンデンサ１の外部電極６ａ〜６ｈにそれ
ぞれ接触する８個の測定端子２１ａ〜２１ｈ、直流電源
２２、接触検出用の交流電源２３、電源切替スイッチ２
４、４個の電流制限抵抗２５ａ〜２５ｄ、４台の電流計
２６ａ〜２６ｄ、４個のスイッチ２７ａ〜２７ｄを備え
ている。上記電流制限抵抗２５ａ〜２５ｄ、電流計２６
ａ〜２６ｄおよびスイッチ２７ａ〜２７ｄは互いに並列
に接続されている。また、図５はモード１およびモード
３の測定を行なう第２の測定回路３０を示し、アレー型
コンデンサ１の外部電極６ａ〜６ｈにそれぞれ接触する
８個の測定端子３１ａ〜３１ｈ、直流電源３２、接触検
出用の交流電源３３、電源切替スイッチ３４、４個の電
流制限抵抗３５ａ〜３５ｄ、４台の電流計３６ａ〜３６
ｄ、４個のスイッチ３７ａ〜３７ｄを備えている。
【００１３】まず、第１の測定回路２０を用いたモード
１およびモード２の測定方法について説明する。測定端
子２１ａ〜２１ｈを外部電極６ａ〜６ｈに接触させた
後、まずスイッチ２４を交流電源２３側へ切り替え、全
てのスイッチ２７ａ〜２７ｄをＯＮして交流信号をコン
デンサ素子Ｃ１〜Ｃ４に印加する。そして、電流計２６
ａ〜２６ｄの検出値から接触検出を行なう。接触が良好
であると判定された場合には、全てのスイッチ２７ａ〜
２７ｄをＯＦＦするとともに、スイッチ２４を直流電源
２２側へ切り替える。その後、スイッチ２７ａ〜２７ｄ
をＯＮして直流電圧をコンデンサ素子Ｃ１〜Ｃ４に印加
し、その漏れ電流を電流計２６ａ〜２６ｄで測定する。
この時、各コンデンサ素子Ｃ１〜Ｃ４には同一方向に電
流が流れるので、電流計２６ａ〜２６ｄは、コンデンサ
素子に流れる電流と、隣合うコンデンサ素子Ｃ１〜Ｃ
４の内部電極間に流れる電流との和を測定することに
なる。モード１または２の何れかに絶縁不良があると、
この電流値は非常に大きなものとなるので、絶縁不良を
容易に検出できる。一方、この電流が所定の時間カーブ
を描いて低下する場合には、所定時間後の漏れ電流値か
らコンデンサ素子の絶縁抵抗を知ることができる。な
お、この漏れ電流値には隣合うコンデンサ素子Ｃ１〜Ｃ
４の内部電極間に流れる電流も含まれるが、内部電極
間の絶縁性が不良でなければこの電流は非常に僅かであ
るから、ほとんど無視できる。
１およびモード２の測定方法について説明する。測定端
子２１ａ〜２１ｈを外部電極６ａ〜６ｈに接触させた
後、まずスイッチ２４を交流電源２３側へ切り替え、全
てのスイッチ２７ａ〜２７ｄをＯＮして交流信号をコン
デンサ素子Ｃ１〜Ｃ４に印加する。そして、電流計２６
ａ〜２６ｄの検出値から接触検出を行なう。接触が良好
であると判定された場合には、全てのスイッチ２７ａ〜
２７ｄをＯＦＦするとともに、スイッチ２４を直流電源
２２側へ切り替える。その後、スイッチ２７ａ〜２７ｄ
をＯＮして直流電圧をコンデンサ素子Ｃ１〜Ｃ４に印加
し、その漏れ電流を電流計２６ａ〜２６ｄで測定する。
この時、各コンデンサ素子Ｃ１〜Ｃ４には同一方向に電
流が流れるので、電流計２６ａ〜２６ｄは、コンデンサ
素子に流れる電流と、隣合うコンデンサ素子Ｃ１〜Ｃ
４の内部電極間に流れる電流との和を測定することに
なる。モード１または２の何れかに絶縁不良があると、
この電流値は非常に大きなものとなるので、絶縁不良を
容易に検出できる。一方、この電流が所定の時間カーブ
を描いて低下する場合には、所定時間後の漏れ電流値か
らコンデンサ素子の絶縁抵抗を知ることができる。な
お、この漏れ電流値には隣合うコンデンサ素子Ｃ１〜Ｃ
４の内部電極間に流れる電流も含まれるが、内部電極
間の絶縁性が不良でなければこの電流は非常に僅かであ
るから、ほとんど無視できる。
【００１４】上記の場合には、との電流値の和を電
流計２６ａ〜２６ｄで測定し、この測定値からコンデン
サ素子Ｃ１〜Ｃ４の絶縁抵抗を類推するようにしたが、
次のような手法を用いての電流値のみを測定し、各コ
ンデンサ素子Ｃ１〜Ｃ４の絶縁抵抗を正確に知ることも
可能である。すなわち、接触検出が終了し、スイッチ２
４を直流電源２２側へ切り替えた後、スイッチ２７ａ〜
２７ｄを同時にＯＮするのではなく、隣接するコンデン
サ素子ごとに異なるタイミングで直流電圧を印加するよ
う、スイッチ２７ａ〜２７ｄで切り替える手法を用い
る。具体的には、例えばスイッチ２７ａからスイッチ２
７ｄにかけて順番に切り替え、コンデンサ素子Ｃ１〜Ｃ
４に順に直流電圧を印加する方法や、コンデンサ素子の
１個おきに直流電圧を印加するよう切り替える方法（例
えばスイッチ２７ａ，２７ｃをＯＮした時、スイッチ２
７ｂ，２７ｄをＯＦＦさせる）などがある。
流計２６ａ〜２６ｄで測定し、この測定値からコンデン
サ素子Ｃ１〜Ｃ４の絶縁抵抗を類推するようにしたが、
次のような手法を用いての電流値のみを測定し、各コ
ンデンサ素子Ｃ１〜Ｃ４の絶縁抵抗を正確に知ることも
可能である。すなわち、接触検出が終了し、スイッチ２
４を直流電源２２側へ切り替えた後、スイッチ２７ａ〜
２７ｄを同時にＯＮするのではなく、隣接するコンデン
サ素子ごとに異なるタイミングで直流電圧を印加するよ
う、スイッチ２７ａ〜２７ｄで切り替える手法を用い
る。具体的には、例えばスイッチ２７ａからスイッチ２
７ｄにかけて順番に切り替え、コンデンサ素子Ｃ１〜Ｃ
４に順に直流電圧を印加する方法や、コンデンサ素子の
１個おきに直流電圧を印加するよう切り替える方法（例
えばスイッチ２７ａ，２７ｃをＯＮした時、スイッチ２
７ｂ，２７ｄをＯＦＦさせる）などがある。
【００１５】次に、第２の測定回路３０を用いたモード
１およびモード３の測定方法について説明する。測定端
子３１ａ〜３１ｈを外部電極６ａ〜６ｈに接触させた
後、まずスイッチ３４を交流電源３３側へ切り替え、全
てのスイッチ３７ａ〜３７ｄをＯＮして交流信号をコン
デンサ素子Ｃ１〜Ｃ４に印加する。そして、電流計３６
ａ〜３６ｄの検出値から接触検出を行なう。接触が良好
であると判定された場合には、全てのスイッチ３７ａ〜
３７ｄをＯＦＦするとともに、スイッチ３４を直流電源
３２側へ切り替える。その後、スイッチ３７ａ〜３７ｄ
をＯＮして直流電圧をコンデンサ素子Ｃ１〜Ｃ４に印加
し、その漏れ電流を電流計３６ａ〜３６ｄで測定する。
この時、各コンデンサ素子Ｃ１〜Ｃ４には隣接する素子
ごとに逆方向の電流が流れるので、電流計３６ａ，３６
ｃは、コンデンサ素子に流れる電流と、隣合うコンデ
ンサ素子Ｃ１〜Ｃ４の外部電極間に流れる電流との和
を測定し、電流計３６ｂ，３６ｄは、コンデンサ素子に
流れる電流’と、隣合うコンデンサ素子Ｃ１〜Ｃ４の
外部電極間に流れる電流との和を測定することにな
る。第１の測定回路２０の場合と同様に、モード１また
は３の何れかに絶縁不良があると、その電流値は非常に
大きなものとなるので、絶縁不良を容易に検出できる。
一方、この電流が所定の時間カーブを描いて低下する場
合には、モード１および３の絶縁不良がないことを意味
するので、所定時間後の漏れ電流値からコンデンサ素子
Ｃ１〜Ｃ４の絶縁抵抗を知ることができる。なお、コン
デンサ素子Ｃ１〜Ｃ４の絶縁抵抗は、上記測定回路２０
（図４参照）で既に測定済みであるから、改めて測定す
る必要はなく、モード３の絶縁不良がないことを確認す
るだけでもよい。
１およびモード３の測定方法について説明する。測定端
子３１ａ〜３１ｈを外部電極６ａ〜６ｈに接触させた
後、まずスイッチ３４を交流電源３３側へ切り替え、全
てのスイッチ３７ａ〜３７ｄをＯＮして交流信号をコン
デンサ素子Ｃ１〜Ｃ４に印加する。そして、電流計３６
ａ〜３６ｄの検出値から接触検出を行なう。接触が良好
であると判定された場合には、全てのスイッチ３７ａ〜
３７ｄをＯＦＦするとともに、スイッチ３４を直流電源
３２側へ切り替える。その後、スイッチ３７ａ〜３７ｄ
をＯＮして直流電圧をコンデンサ素子Ｃ１〜Ｃ４に印加
し、その漏れ電流を電流計３６ａ〜３６ｄで測定する。
この時、各コンデンサ素子Ｃ１〜Ｃ４には隣接する素子
ごとに逆方向の電流が流れるので、電流計３６ａ，３６
ｃは、コンデンサ素子に流れる電流と、隣合うコンデ
ンサ素子Ｃ１〜Ｃ４の外部電極間に流れる電流との和
を測定し、電流計３６ｂ，３６ｄは、コンデンサ素子に
流れる電流’と、隣合うコンデンサ素子Ｃ１〜Ｃ４の
外部電極間に流れる電流との和を測定することにな
る。第１の測定回路２０の場合と同様に、モード１また
は３の何れかに絶縁不良があると、その電流値は非常に
大きなものとなるので、絶縁不良を容易に検出できる。
一方、この電流が所定の時間カーブを描いて低下する場
合には、モード１および３の絶縁不良がないことを意味
するので、所定時間後の漏れ電流値からコンデンサ素子
Ｃ１〜Ｃ４の絶縁抵抗を知ることができる。なお、コン
デンサ素子Ｃ１〜Ｃ４の絶縁抵抗は、上記測定回路２０
（図４参照）で既に測定済みであるから、改めて測定す
る必要はなく、モード３の絶縁不良がないことを確認す
るだけでもよい。
【００１６】なお、測定回路３０においても、個々のコ
ンデンサ素子Ｃ１〜Ｃ４の絶縁抵抗を測定する場合に
は、測定回路２０の説明で述べたように、スイッチ３７
ａ〜３７ｄを同時にＯＮせずに、隣接するコンデンサ素
子ごとに異なるタイミングで直流電圧を印加するよう、
スイッチ３７ａ〜３７ｄで切り替えてもよい。
ンデンサ素子Ｃ１〜Ｃ４の絶縁抵抗を測定する場合に
は、測定回路２０の説明で述べたように、スイッチ３７
ａ〜３７ｄを同時にＯＮせずに、隣接するコンデンサ素
子ごとに異なるタイミングで直流電圧を印加するよう、
スイッチ３７ａ〜３７ｄで切り替えてもよい。
【００１７】図６は本発明にかかる絶縁抵抗測定装置の
第２実施例を示す。この実施例は、モード１〜３の測定
を単一の回路で行なう例である。なお、被測定物である
アレー型コンデンサ１は、図１，図２と同様に４個のコ
ンデンサ素子Ｃ１〜Ｃ４を含むものを用いた。この測定
回路４０は、アレー型コンデンサ１の外部電極６ａ〜６
ｈにそれぞれ接触する８個の測定端子４１ａ〜４１ｈ、
直流電源４２、接触検出用の交流電源４３、電源切替ス
イッチ４４、６個の電流制限抵抗４５ａ〜４５ｆ、６台
の電流計４６ａ〜４６ｆ、４個のスイッチ４７ａ〜４７
ｄを備えている。
第２実施例を示す。この実施例は、モード１〜３の測定
を単一の回路で行なう例である。なお、被測定物である
アレー型コンデンサ１は、図１，図２と同様に４個のコ
ンデンサ素子Ｃ１〜Ｃ４を含むものを用いた。この測定
回路４０は、アレー型コンデンサ１の外部電極６ａ〜６
ｈにそれぞれ接触する８個の測定端子４１ａ〜４１ｈ、
直流電源４２、接触検出用の交流電源４３、電源切替ス
イッチ４４、６個の電流制限抵抗４５ａ〜４５ｆ、６台
の電流計４６ａ〜４６ｆ、４個のスイッチ４７ａ〜４７
ｄを備えている。
【００１８】次に、上記測定回路４０を用いたモード１
〜３の測定方法について、図７のフローチャートに従っ
て説明する。まず測定端子４１ａ〜４１ｈを外部電極６
ａ〜６ｈに接触させ（ステップＳ１）、スイッチ４４を
交流電源４３側へ切り替えるとともに（ステップＳ
２）、全てのスイッチ４７ａ〜４７ｄを実線位置とし
（ステップＳ３）、交流信号をコンデンサ素子Ｃ１〜Ｃ
４に印加する。そして、電流計４６ａ〜４６ｄの検出値
から接触検出を行なう（ステップＳ４）。接触が良好で
あると判定された場合には、スイッチ４７ａ〜４７ｄを
実線位置としたまま、スイッチ４４を直流電源４２側へ
切り替える（ステップＳ５）。これにより、直流電圧が
コンデンサ素子Ｃ１〜Ｃ４に印加され、その漏れ電流を
電流計４６ａ〜４６ｄで測定する。この時、各コンデン
サ素子Ｃ１〜Ｃ４には同一方向に電流が流れるので、電
流計４６ａ〜４６ｄは、コンデンサ素子に流れる電流
と、隣合うコンデンサ素子Ｃ１〜Ｃ４の内部電極間に流
れる電流との和を測定することになる。つまり、モー
ド１と２の測定を行なうことができる（ステップＳ
６）。モード１，２の測定が終了した後、スイッチ４４
を直流電源４２側としたまま、スイッチ４７ａ〜４７ｄ
を破線位置へ切り替える（ステップＳ７）。これによ
り、直流電流がコンデンサ素子Ｃ１とＣ３には方向、
コンデンサ素子Ｃ２，Ｃ４には’方向に流れることに
なり、隣接する素子ごとに逆方向の電流が流れる。同時
に、隣合うコンデンサ素子Ｃ１〜Ｃ４の外部電極間にも
方向の電流が流れる。したがって、電流計４６ａ，４
６ｃ，４６ｅ，４６ｆはコンデンサ素子Ｃ１〜Ｃ４に流
れる電流，’と、隣合うコンデンサ素子Ｃ１〜Ｃ４
の外部電極間に流れる電流との和を測定することにな
る。つまり、モード１と３の測定を行なうことができる
（ステップＳ８）。以上の測定結果から、コンデンサ素
子Ｃ１〜Ｃ４の絶縁抵抗、内部電極間の絶縁不良、外部
電極間の絶縁不良を検出できる。具体的方法は、第１実
施例で述べた通りであるので、重複説明を省略する。ま
た、上記説明ではスイッチ４７ａ〜４７ｄを同時に切り
替える場合を説明したが、第１実施例で述べたように、
各スイッチ４７ａ〜４７ｄをスキャニングしながら切り
替えたり、１個おきに切り替えることで、隣接するコン
デンサ素子ごとに異なるタイミングで直流電圧を印加す
るようにしてもよい。これによって、，’の電流値
のみを測定でき、コンデンサ素子単体の絶縁抵抗を正確
に知ることができる。
〜３の測定方法について、図７のフローチャートに従っ
て説明する。まず測定端子４１ａ〜４１ｈを外部電極６
ａ〜６ｈに接触させ（ステップＳ１）、スイッチ４４を
交流電源４３側へ切り替えるとともに（ステップＳ
２）、全てのスイッチ４７ａ〜４７ｄを実線位置とし
（ステップＳ３）、交流信号をコンデンサ素子Ｃ１〜Ｃ
４に印加する。そして、電流計４６ａ〜４６ｄの検出値
から接触検出を行なう（ステップＳ４）。接触が良好で
あると判定された場合には、スイッチ４７ａ〜４７ｄを
実線位置としたまま、スイッチ４４を直流電源４２側へ
切り替える（ステップＳ５）。これにより、直流電圧が
コンデンサ素子Ｃ１〜Ｃ４に印加され、その漏れ電流を
電流計４６ａ〜４６ｄで測定する。この時、各コンデン
サ素子Ｃ１〜Ｃ４には同一方向に電流が流れるので、電
流計４６ａ〜４６ｄは、コンデンサ素子に流れる電流
と、隣合うコンデンサ素子Ｃ１〜Ｃ４の内部電極間に流
れる電流との和を測定することになる。つまり、モー
ド１と２の測定を行なうことができる（ステップＳ
６）。モード１，２の測定が終了した後、スイッチ４４
を直流電源４２側としたまま、スイッチ４７ａ〜４７ｄ
を破線位置へ切り替える（ステップＳ７）。これによ
り、直流電流がコンデンサ素子Ｃ１とＣ３には方向、
コンデンサ素子Ｃ２，Ｃ４には’方向に流れることに
なり、隣接する素子ごとに逆方向の電流が流れる。同時
に、隣合うコンデンサ素子Ｃ１〜Ｃ４の外部電極間にも
方向の電流が流れる。したがって、電流計４６ａ，４
６ｃ，４６ｅ，４６ｆはコンデンサ素子Ｃ１〜Ｃ４に流
れる電流，’と、隣合うコンデンサ素子Ｃ１〜Ｃ４
の外部電極間に流れる電流との和を測定することにな
る。つまり、モード１と３の測定を行なうことができる
（ステップＳ８）。以上の測定結果から、コンデンサ素
子Ｃ１〜Ｃ４の絶縁抵抗、内部電極間の絶縁不良、外部
電極間の絶縁不良を検出できる。具体的方法は、第１実
施例で述べた通りであるので、重複説明を省略する。ま
た、上記説明ではスイッチ４７ａ〜４７ｄを同時に切り
替える場合を説明したが、第１実施例で述べたように、
各スイッチ４７ａ〜４７ｄをスキャニングしながら切り
替えたり、１個おきに切り替えることで、隣接するコン
デンサ素子ごとに異なるタイミングで直流電圧を印加す
るようにしてもよい。これによって、，’の電流値
のみを測定でき、コンデンサ素子単体の絶縁抵抗を正確
に知ることができる。
【００１９】図８は本発明にかかる絶縁抵抗測定装置の
第３実施例を示す。この実施例は第２実施例の変形例で
あり、第２実施例に比べて電流計の数を４個に減少させ
たものである。なお、図６と同一部品には同一符号を付
して重複説明を省略する。この測定回路５０の場合、ス
イッチ４７ａの実線側の接点とスイッチ４７ｂの破線側
の接点とを配線５１で接続するとともに、スイッチ４７
ｃの実線側の接点とスイッチ４７ｄの破線側の接点とを
配線５２で接続してある。そのため、コンデンサ素子Ｃ
２，Ｃ４を流れる正逆２方向の電流，’を電流計４
６ｂ，４６ｄで共に測定でき、図６における電流計４６
ｅ，４６ｆを省略できた。
第３実施例を示す。この実施例は第２実施例の変形例で
あり、第２実施例に比べて電流計の数を４個に減少させ
たものである。なお、図６と同一部品には同一符号を付
して重複説明を省略する。この測定回路５０の場合、ス
イッチ４７ａの実線側の接点とスイッチ４７ｂの破線側
の接点とを配線５１で接続するとともに、スイッチ４７
ｃの実線側の接点とスイッチ４７ｄの破線側の接点とを
配線５２で接続してある。そのため、コンデンサ素子Ｃ
２，Ｃ４を流れる正逆２方向の電流，’を電流計４
６ｂ，４６ｄで共に測定でき、図６における電流計４６
ｅ，４６ｆを省略できた。
【００２０】なお、本発明で使用される電流計はアナロ
グ式計測器に限らず、ＯＰアンプなどで増幅した後、Ａ
／Ｄ変換し、デジタル信号で電流値を計測するものでも
よい。また、コンデンサ素子の絶縁抵抗を測定する方法
としては、一般にＪＩＳ規格にしたがって所定の予備充
電後（例えば６０秒後）の漏れ電流値からコンデンサ素
子の絶縁抵抗を測定する方法が用いられるが、この方法
に限らず、充電初期の電流値から充電終期の電流値を予
測する方法やその他の如何なる方法を用いてもよい。ま
た、今回は交流電源（接触検出用）と直流電源（絶縁抵
抗測定用）とを切り替える方式を用いたが、直流電圧に
交流電圧を重畳することで、接触検出と絶縁抵抗測定と
を切り替えなしに行なうことも可能である。
グ式計測器に限らず、ＯＰアンプなどで増幅した後、Ａ
／Ｄ変換し、デジタル信号で電流値を計測するものでも
よい。また、コンデンサ素子の絶縁抵抗を測定する方法
としては、一般にＪＩＳ規格にしたがって所定の予備充
電後（例えば６０秒後）の漏れ電流値からコンデンサ素
子の絶縁抵抗を測定する方法が用いられるが、この方法
に限らず、充電初期の電流値から充電終期の電流値を予
測する方法やその他の如何なる方法を用いてもよい。ま
た、今回は交流電源（接触検出用）と直流電源（絶縁抵
抗測定用）とを切り替える方式を用いたが、直流電圧に
交流電圧を重畳することで、接触検出と絶縁抵抗測定と
を切り替えなしに行なうことも可能である。
【００２１】
【発明の効果】以上の説明で明らかなように、本発明に
よれば、アレー型コンデンサの各コンデンサ素子に同極
性の直流電圧を印加してその漏れ電流を検出するととも
に、隣接するコンデンサ素子ごとに逆極性の直流電圧を
印加してその漏れ電流を検出し、これら２種類の電流か
ら、各コンデンサ素子の絶縁抵抗、隣接するコンデンサ
素子の内部電極間の絶縁不良、および隣接するコンデン
サ素子の外部電極間の絶縁不良を検出するようにしたの
で、不良モードごとに測定回路の配線を組み替える必要
がなく、測定効率が改善される。また、本発明ではモー
ド２とモード１とを同時に、あるいはモード３とモード
１とを同時に検出しているので、それぞれの容量値が大
きく、測定端子とアレー型コンデンサの外部電極との接
触検出を確実に行なうことができる。
よれば、アレー型コンデンサの各コンデンサ素子に同極
性の直流電圧を印加してその漏れ電流を検出するととも
に、隣接するコンデンサ素子ごとに逆極性の直流電圧を
印加してその漏れ電流を検出し、これら２種類の電流か
ら、各コンデンサ素子の絶縁抵抗、隣接するコンデンサ
素子の内部電極間の絶縁不良、および隣接するコンデン
サ素子の外部電極間の絶縁不良を検出するようにしたの
で、不良モードごとに測定回路の配線を組み替える必要
がなく、測定効率が改善される。また、本発明ではモー
ド２とモード１とを同時に、あるいはモード３とモード
１とを同時に検出しているので、それぞれの容量値が大
きく、測定端子とアレー型コンデンサの外部電極との接
触検出を確実に行なうことができる。
【図１】アレー型コンデンサの一例の斜視図である。
【図２】図１に示すアレー型コンデンサの分解斜視図で
ある。
ある。
【図３】従来のアレー型コンデンサの絶縁抵抗測定方法
を示す回路図である。
を示す回路図である。
【図４】本発明にかかる絶縁抵抗測定装置の第１の測定
回路の回路図である。
回路の回路図である。
【図５】本発明にかかる絶縁抵抗測定装置の第２の測定
回路の回路図である。
回路の回路図である。
【図６】本発明にかかる絶縁抵抗測定装置の第２実施例
の回路図である。
の回路図である。
【図７】図６の絶縁抵抗測定装置の動作を説明するフロ
ーチャート図である。
ーチャート図である。
【図８】本発明にかかる絶縁抵抗測定装置の第３実施例
の回路図である。
の回路図である。
１ アレー型コンデンサ Ｃ１〜Ｃ４ コンデンサ素子 ２０，３０，４０，４０ 測定回路 ２１ａ〜２１ｈ 測定端子 ２２ 直流電源 ２３ 交流電源 ２４ 電源切替スイッチ ２５ａ〜２５ｄ 電流制限抵抗 ２６ａ〜２６ｄ 電流計 ２７ａ〜２７ｄ スイッチ
Claims (7)
- 【請求項１】複数のコンデンサ素子を並列に配置したア
レー型コンデンサに直流電圧を印加し、その漏れ電流か
ら絶縁抵抗を測定する絶縁抵抗測定方法において、 各コンデンサ素子に同極性の直流電圧を印加し、その漏
れ電流を検出する第１の工程と、 各コンデンサ素子に、隣接するコンデンサ素子ごとに逆
極性の直流電圧を印加し、その漏れ電流を検出する第２
の工程と、 上記第１および第２の工程より得られる漏れ電流から、
各コンデンサ素子の絶縁抵抗、隣接するコンデンサ素子
の内部電極間の絶縁不良、および隣接するコンデンサ素
子の外部電極間の絶縁不良を検出する工程と、を含むこ
とを特徴とするアレー型コンデンサの絶縁抵抗測定方
法。 - 【請求項２】上記第１の工程または第２の工程の前に、
各コンデンサ素子に交流電圧を印加し、流れる電流から
接触検出を行なう工程を含むことを特徴とする請求項１
に記載のアレー型コンデンサの絶縁抵抗測定方法。 - 【請求項３】各コンデンサ素子に、隣接するコンデンサ
素子ごとに異なるタイミングで直流電圧を印加し、その
漏れ電流から各コンデンサ素子の絶縁抵抗を求めること
を特徴とする請求項１または２に記載のアレー型コンデ
ンサの絶縁抵抗測定方法。 - 【請求項４】複数のコンデンサ素子を並列に配置したア
レー型コンデンサに直流電圧を印加し、その漏れ電流か
ら絶縁抵抗を測定する絶縁抵抗測定装置において、 第１の直流電源を有し、全てのコンデンサ素子に対して
同一方向に直流電圧を印加し、各コンデンサ素子に流れ
る漏れ電流を検出する第１の測定回路と、 第２の直流電源を有し、全てのコンデンサ素子に対して
隣接するコンデンサ素子ごとに逆極性の直流電圧を印加
し、その漏れ電流を検出する第２の測定回路と、を備え
たことを特徴とするアレー型コンデンサの絶縁抵抗測定
装置。 - 【請求項５】複数のコンデンサ素子を並列に配置したア
レー型コンデンサに直流電圧を印加し、その漏れ電流か
ら絶縁抵抗を測定する絶縁抵抗測定装置において、 直流電源と、 上記直流電源に対して接続され、第１のコンデンサ素子
に対して一方向に上記直流電源の直流電圧を印加し、そ
の漏れ電流を検出する第１の回路部と、 上記直流電源に対して接続され、第１のコンデンサ素子
と隣接する第２のコンデンサ素子に対しスイッチ手段に
より上記直流電源の直流電圧を同極性および逆極性で印
加するよう切替可能で、その漏れ電流を検出する第２の
回路部と、を備えたことを特徴とするアレー型コンデン
サの絶縁抵抗測定装置。 - 【請求項６】上記直流電源と並列に交流電源が設けら
れ、直流電源と交流電源とを選択的に切り換えるスイッ
チ手段が設けられていることを特徴とする請求項４また
は５に記載のアレー型コンデンサの絶縁抵抗測定装置。 - 【請求項７】各コンデンサ素子に、隣接するコンデンサ
素子ごとに異なるタイミングで直流電圧を印加するよう
回路を切り替えるスイッチ手段が設けられていることを
特徴とする請求項４ないし６のいずれかに記載のアレー
型コンデンサの絶縁抵抗測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19937297A JP3362638B2 (ja) | 1997-07-08 | 1997-07-08 | アレー型コンデンサの絶縁抵抗測定方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19937297A JP3362638B2 (ja) | 1997-07-08 | 1997-07-08 | アレー型コンデンサの絶縁抵抗測定方法および装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1123636A true JPH1123636A (ja) | 1999-01-29 |
| JP3362638B2 JP3362638B2 (ja) | 2003-01-07 |
Family
ID=16406670
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19937297A Expired - Lifetime JP3362638B2 (ja) | 1997-07-08 | 1997-07-08 | アレー型コンデンサの絶縁抵抗測定方法および装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3362638B2 (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002014134A (ja) * | 2000-06-30 | 2002-01-18 | Hioki Ee Corp | 回路基板検査装置 |
| JP2007285937A (ja) * | 2006-04-18 | 2007-11-01 | Chugoku Electric Power Co Inc:The | テストプラグの性能判定器 |
| JP2007333438A (ja) * | 2006-06-12 | 2007-12-27 | Murata Mfg Co Ltd | 特性測定装置 |
| JP2008281400A (ja) * | 2007-05-09 | 2008-11-20 | Hitachi Computer Peripherals Co Ltd | 高絶縁抵抗測定装置及び高絶縁抵抗測定方法 |
| JP2010243507A (ja) * | 2010-07-20 | 2010-10-28 | Hioki Ee Corp | 回路基板検査装置 |
| JP2013032960A (ja) * | 2011-08-02 | 2013-02-14 | Hioki Ee Corp | コンデンサの絶縁抵抗測定装置およびコンデンサの絶縁抵抗測定方法 |
| JP2013257195A (ja) * | 2012-06-12 | 2013-12-26 | Nidec-Read Corp | 基板検査治具及び基板検査装置 |
-
1997
- 1997-07-08 JP JP19937297A patent/JP3362638B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002014134A (ja) * | 2000-06-30 | 2002-01-18 | Hioki Ee Corp | 回路基板検査装置 |
| JP2007285937A (ja) * | 2006-04-18 | 2007-11-01 | Chugoku Electric Power Co Inc:The | テストプラグの性能判定器 |
| JP2007333438A (ja) * | 2006-06-12 | 2007-12-27 | Murata Mfg Co Ltd | 特性測定装置 |
| JP2008281400A (ja) * | 2007-05-09 | 2008-11-20 | Hitachi Computer Peripherals Co Ltd | 高絶縁抵抗測定装置及び高絶縁抵抗測定方法 |
| JP2010243507A (ja) * | 2010-07-20 | 2010-10-28 | Hioki Ee Corp | 回路基板検査装置 |
| JP2013032960A (ja) * | 2011-08-02 | 2013-02-14 | Hioki Ee Corp | コンデンサの絶縁抵抗測定装置およびコンデンサの絶縁抵抗測定方法 |
| JP2013257195A (ja) * | 2012-06-12 | 2013-12-26 | Nidec-Read Corp | 基板検査治具及び基板検査装置 |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3362638B2 (ja) | 2003-01-07 |
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