JP2013032960A - コンデンサの絶縁抵抗測定装置およびコンデンサの絶縁抵抗測定方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】m個のコンデンサ11に試験電圧Vを同時に印加する電圧出力部2と、各コンデンサ11に流れる電流Iを検出して検出信号SIを出力する電流検出部3と、各検出信号SIの1つを選択して特定検出信号SIsとして出力する信号切替部4と、特定検出信号SIsの波形データDwを出力する1つのA/D変換部6と、波形データDwで示される電流値と試験電圧Vとから各コンデンサ11の絶縁抵抗IRを算出する処理部6とを備え、処理部6は、信号切替部4を切替制御して、(Tc×m/n)以上であるTcの最小の倍数を時間kとしたときに、n個のポイントの時間間隔が(Tc/n+k)となり、各検出信号SIの1個目のポイントがすべて異なる時間で、かつ期間(Tc/n+k)内に含まれるように信号切替部4を制御する。
【選択図】図1
Description
2 電圧出力部
3 電流検出部
4 信号切替部
5 A/D変換部
6,6A 処理部
11 コンデンサ
Dw 波形データ
SI 検出信号
SIs 特定検出信号
V 試験電圧
Claims (4)
- m(mは2以上の整数)個のコンデンサに対して試験電圧を同時に印加する電圧出力部と、
前記コンデンサ毎に配設されて、対応する当該コンデンサに流れる電流の電流値に応じた電圧値の検出信号を出力するm個の電流検出部と、
当該m個の電流検出部からそれぞれ出力される前記検出信号を入力すると共に当該各検出信号のうちの任意の1つの検出信号を選択して特定検出信号として出力する信号切替部と、
前記特定検出信号をサンプリングして、当該特定検出信号の波形データを出力する1つのA/D変換部と、
前記信号切替部に対する切替制御を実行して、m個の前記電流検出部からそれぞれ出力される前記検出信号を前記特定検出信号として前記A/D変換部に順次出力させつつ、前記各検出信号のそれぞれについてn(nは2以上の整数)個のポイントにおける前記波形データを取得するデータ取得処理、取得した前記各検出信号のそれぞれについてのn個の前記波形データに基づいて前記各コンデンサのそれぞれに流れる前記電流の前記電流値を算出する電流算出処理、および算出した前記各コンデンサに流れるそれぞれの前記電流値と前記試験電圧の電圧値とに基づいて当該各コンデンサのそれぞれの絶縁抵抗を算出する抵抗算出処理を実行する処理部とを備え、
前記処理部は、前記データ取得処理において、前記信号切替部に対する切替制御を実行して、商用電源の1周期をTcとし、かつ(Tc×m/n)の時間長以上であるTcの最小の倍数を時間kとしたときに、前記各検出信号についてのn個の前記ポイントの時間間隔が(Tc/n+k)となると共に、前記各検出信号についての1個目の前記ポイントが時間軸上においてすべて異なる時間で、かつ(Tc/n+k)の期間内に含まれるようにm個の前記検出信号を前記特定検出信号として前記A/D変換部に順次出力させるコンデンサの絶縁抵抗測定装置。 - m(mは2以上の整数)個のコンデンサに対して試験電圧を同時に印加する電圧出力部と、
前記コンデンサ毎に配設されて、対応する当該コンデンサに流れる電流の電流値に応じた電圧値の検出信号を出力するm個の電流検出部と、
当該m個の電流検出部からそれぞれ出力される前記検出信号を入力すると共に当該各検出信号のうちの任意の1つの検出信号を選択して特定検出信号として出力する信号切替部と、
前記特定検出信号をサンプリングして、当該特定検出信号の波形データを出力する1つのA/D変換部と、
前記信号切替部に対する切替制御を実行して、m個の前記電流検出部からそれぞれ出力される前記検出信号を前記特定検出信号として前記A/D変換部に順次出力させつつ、前記各検出信号のそれぞれについてn(nは2以上の整数)個のポイントにおける前記波形データを取得するデータ取得処理、取得した前記各検出信号のそれぞれについてのn個の前記波形データに基づいて前記各コンデンサのそれぞれに流れる前記電流の前記電流値を算出する電流算出処理、および算出した前記各コンデンサに流れるそれぞれの前記電流値と前記試験電圧の電圧値とに基づいて当該各コンデンサのそれぞれの絶縁抵抗を算出する抵抗算出処理を実行する処理部とを備え、
前記処理部は、前記データ取得処理において、前記信号切替部に対する切替制御を実行して、商用電源の1周期をTcとしたときに、前記各検出信号についてのn個の前記ポイントの時間間隔がTc/nとなると共に、前記各検出信号についての1個目の前記ポイントが時間軸上においてすべて異なる時間で、かつTc/nの期間内に含まれるようにm個の前記検出信号を前記特定検出信号として前記A/D変換部に順次出力させるコンデンサの絶縁抵抗測定装置。 - m(mは2以上の整数)個のコンデンサに対して試験電圧を同時に印加すると共に、前記各コンデンサに流れる電流の電流値に応じた電圧値の検出信号を当該コンデンサ毎に配設した電流検出部によって検出しつつ、
m個の前記電流検出部から出力されるm個の前記検出信号のうちの任意の1つの検出信号を信号切替部に入力すると共に当該信号切替部に対する切替制御を実行して特定検出信号としてA/D変換部に順次出力させつつ、前記各検出信号のそれぞれについてn(nは2以上の整数)個のポイントにおける波形データを取得するデータ取得処理、取得した前記各検出信号のそれぞれについてのn個の前記波形データに基づいて前記各コンデンサのそれぞれに流れる前記電流の前記電流値を算出する電流算出処理、および算出した前記各コンデンサに流れるそれぞれの前記電流値と前記試験電圧の電圧値とに基づいて当該各コンデンサのそれぞれの絶縁抵抗を算出する抵抗算出処理を実行するコンデンサの絶縁抵抗測定方法であって、
前記データ取得処理において、前記信号切替部に対する切替制御を実行して、商用電源の1周期をTcとし、かつ(Tc×m/n)の時間長以上であるTcの最小の倍数を時間kとしたときに、前記各検出信号についてのn個の前記ポイントの時間間隔が(Tc/n+k)となると共に、前記各検出信号についての1個目の前記ポイントが時間軸上においてすべて異なる時間で、かつ(Tc/n+k)の期間内に含まれるようにm個の前記検出信号を前記特定検出信号として前記A/D変換部に順次出力させるコンデンサの絶縁抵抗測定方法。 - m(mは2以上の整数)個のコンデンサに対して試験電圧を同時に印加すると共に、前記各コンデンサに流れる電流の電流値に応じた電圧値の検出信号を当該コンデンサ毎に配設した電流検出部によって検出しつつ、
m個の前記電流検出部から出力されるm個の前記検出信号のうちの任意の1つの検出信号を信号切替部に入力すると共に当該信号切替部に対する切替制御を実行して特定検出信号としてA/D変換部に順次出力させつつ、前記各検出信号のそれぞれについてn(nは2以上の整数)個のポイントにおける波形データを取得するデータ取得処理、取得した前記各検出信号のそれぞれについてのn個の前記波形データに基づいて前記各コンデンサのそれぞれに流れる前記電流の前記電流値を算出する電流算出処理、および算出した前記各コンデンサに流れるそれぞれの前記電流値と前記試験電圧の電圧値とに基づいて当該各コンデンサのそれぞれの絶縁抵抗を算出する抵抗算出処理を実行するコンデンサの絶縁抵抗測定方法であって、
前記データ取得処理において、前記信号切替部に対する切替制御を実行して、商用電源の1周期をTcとしたときに、前記各検出信号についてのn個の前記ポイントの時間間隔がTc/nとなると共に、前記各検出信号についての1個目の前記ポイントが時間軸上においてすべて異なる時間で、かつTc/nの期間内に含まれるようにm個の前記検出信号を前記特定検出信号として前記A/D変換部に順次出力させるコンデンサの絶縁抵抗測定方法。
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