JPH01170860A - プリント配線板の試験装置 - Google Patents
プリント配線板の試験装置Info
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- JPH01170860A JPH01170860A JP62328384A JP32838487A JPH01170860A JP H01170860 A JPH01170860 A JP H01170860A JP 62328384 A JP62328384 A JP 62328384A JP 32838487 A JP32838487 A JP 32838487A JP H01170860 A JPH01170860 A JP H01170860A
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- Japan
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- printed wiring
- resistor
- insulation resistance
- wiring board
- voltage
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 46
- 238000009413 insulation Methods 0.000 claims abstract description 61
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 15
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
短い測定時間で、精度よく絶縁抵抗を測定するプリント
配線板の試験装置(布線試験機)に関し、250■の印
加電圧をもって、比較的大きな静電容量を有する半導体
装置の絶縁抵抗を測定する場合にも、測定時間が増大せ
ず、しかも、精度よく測定することが可能なプリント配
線板の試験装置(布線、試験機)を提供することを目的
とし、“−圧印加手段と、この電圧印加手段の一方の端
子に直列に接続され、回路を並列に二分する回路切り替
え手段と、この回路切り替え手段の一方の出力端子に接
続され、100Ω程度の小さな抵抗値を有する高速充電
用抵抗器と、前記回路切り替え手段の他方の出力端子に
接続され、100にΩ〜IMΩ程度の大きな抵抗値を有
する、絶縁抵抗測定用抵抗器と、この絶縁抵抗測定用抵
抗器と前記高速充電用抵抗器と、の並列回路に接続され
、プリント配線板の−゛方の端子に接続される、プリン
ト配線板試験用端子と、前記電圧印加手段の他方の端子
に接続される端子に接続され、プリント配線板の他方の
端子に接続される、プリント配線板試験用端子と、前記
試験用端子と試験用端子との間に発生する電圧が飽和値
に達したことを検出し、前記回路切り替え手段の前記高
速充電用抵抗器側から前記絶縁抵抗測定用抵抗器側に切
り替える切り替え信号を送出する印加電圧検出手段と、
前記絶縁抵抗測定用抵抗器に発生する電圧を測定して、
前記プリント配線板の絶縁抵抗を算出する絶縁紙□
抗算出手段とをもって構成される。
配線板の試験装置(布線試験機)に関し、250■の印
加電圧をもって、比較的大きな静電容量を有する半導体
装置の絶縁抵抗を測定する場合にも、測定時間が増大せ
ず、しかも、精度よく測定することが可能なプリント配
線板の試験装置(布線、試験機)を提供することを目的
とし、“−圧印加手段と、この電圧印加手段の一方の端
子に直列に接続され、回路を並列に二分する回路切り替
え手段と、この回路切り替え手段の一方の出力端子に接
続され、100Ω程度の小さな抵抗値を有する高速充電
用抵抗器と、前記回路切り替え手段の他方の出力端子に
接続され、100にΩ〜IMΩ程度の大きな抵抗値を有
する、絶縁抵抗測定用抵抗器と、この絶縁抵抗測定用抵
抗器と前記高速充電用抵抗器と、の並列回路に接続され
、プリント配線板の−゛方の端子に接続される、プリン
ト配線板試験用端子と、前記電圧印加手段の他方の端子
に接続される端子に接続され、プリント配線板の他方の
端子に接続される、プリント配線板試験用端子と、前記
試験用端子と試験用端子との間に発生する電圧が飽和値
に達したことを検出し、前記回路切り替え手段の前記高
速充電用抵抗器側から前記絶縁抵抗測定用抵抗器側に切
り替える切り替え信号を送出する印加電圧検出手段と、
前記絶縁抵抗測定用抵抗器に発生する電圧を測定して、
前記プリント配線板の絶縁抵抗を算出する絶縁紙□
抗算出手段とをもって構成される。
、 〔産業上の利用分野〕
短い測定時間で、精度よく絶縁抵抗を測定する□ プ
リント配線板の試験装置(布線試験機)に関する。
リント配線板の試験装置(布線試験機)に関する。
従来技術に係るプリント配線板の試験装置(布線試験機
)は、第2図に示すように、電圧印加手段Eが発生する
電圧V、を、100KΩ〜1MΩの抵抗を有する絶縁抵
抗測定用抵抗器R8を介して、プリント配線板Pに印加
し、絶縁抵抗測定用抵抗器Rs (抵抗値rs)中に
発生する電圧降下V2を測定し、I−V、の関係からプ
リント配線板PS ■1 に流れる電流Iを算出し、R−一−r、の関係からプリ
ント配線板Pの絶縁抵抗Rを算出するものである。
)は、第2図に示すように、電圧印加手段Eが発生する
電圧V、を、100KΩ〜1MΩの抵抗を有する絶縁抵
抗測定用抵抗器R8を介して、プリント配線板Pに印加
し、絶縁抵抗測定用抵抗器Rs (抵抗値rs)中に
発生する電圧降下V2を測定し、I−V、の関係からプ
リント配線板PS ■1 に流れる電流Iを算出し、R−一−r、の関係からプリ
ント配線板Pの絶縁抵抗Rを算出するものである。
(発明が解決しようとする問題点〕
ところで、かつては、電圧印加手段Eの印加電圧V、と
してIOVが使用されており、プリント配線板Pの絶縁
抵抗はIMΩ以上あれば良いとされてきた。ところが、
IOVの印加電圧に対しては、十分な絶縁が保たれてい
るが、印加電圧を更に上げると、絶縁が破壊されるよう
な微小な欠陥が、しばしば検出されるようになったので
、プリント配線板の信頼性を高めるため、印加電圧vI
を250Vに高め、100MΩという高絶縁抵抗まで測
定することが必要になった。
してIOVが使用されており、プリント配線板Pの絶縁
抵抗はIMΩ以上あれば良いとされてきた。ところが、
IOVの印加電圧に対しては、十分な絶縁が保たれてい
るが、印加電圧を更に上げると、絶縁が破壊されるよう
な微小な欠陥が、しばしば検出されるようになったので
、プリント配線板の信頼性を高めるため、印加電圧vI
を250Vに高め、100MΩという高絶縁抵抗まで測
定することが必要になった。
プリント配線板Pに250■を印加して、プリント配線
板Pの絶縁抵抗100MΩを測定する場合、絶縁抵抗測
定用抵抗器R8の抵抗値r、を0と仮定しても、プリン
ト配線板Pに流れる電流は、2.5X10−6Aと極め
て小さな値となる。この小電流を精度よく測定するには
、絶縁抵抗測定用抵抗器R5の抵抗値r3を大きくする
必要があるが、例えば絶縁抵抗測定用抵抗器R5の抵抗
値r、をIMΩとずれば絶縁抵抗測定用抵抗器R8に発
生する電圧は2.5Vとなり、精度よく測定することが
できる。前記のように、この電圧からプリント配線板P
に流れる電流■を算出し、プリント配線板Pの絶縁抵抗
Rを算出することができる。
板Pの絶縁抵抗100MΩを測定する場合、絶縁抵抗測
定用抵抗器R8の抵抗値r、を0と仮定しても、プリン
ト配線板Pに流れる電流は、2.5X10−6Aと極め
て小さな値となる。この小電流を精度よく測定するには
、絶縁抵抗測定用抵抗器R5の抵抗値r3を大きくする
必要があるが、例えば絶縁抵抗測定用抵抗器R5の抵抗
値r、をIMΩとずれば絶縁抵抗測定用抵抗器R8に発
生する電圧は2.5Vとなり、精度よく測定することが
できる。前記のように、この電圧からプリント配線板P
に流れる電流■を算出し、プリント配線板Pの絶縁抵抗
Rを算出することができる。
一方、集積回路の集積度が著しく向上してきたため、プ
リント配線板内の配線相互間のキャパシタンスが増大し
てきた。
リント配線板内の配線相互間のキャパシタンスが増大し
てきた。
この結果、大きなキャパシタンスを有するプリント配線
板に、大きな抵抗値を有する絶縁抵抗測定用抵抗器Rs
を介して250■の電圧を印加すると、キャパシタンス
に充電電流が流れるため、プリント配線板試験用端子T
1とT2の間に発生する電圧は、ゆっくり上昇して飽和
値に達する。換言すれば、第3図のタイムチャートに示
すように、電圧が印加されてから、電流はゆっくり上昇
し、しばらくして、図にXをもって示す時点において、
はじめて、プリント配線板の絶縁抵抗の測定が可能にな
ることから、測定に時間を要し、支障をきたすようにな
った。
板に、大きな抵抗値を有する絶縁抵抗測定用抵抗器Rs
を介して250■の電圧を印加すると、キャパシタンス
に充電電流が流れるため、プリント配線板試験用端子T
1とT2の間に発生する電圧は、ゆっくり上昇して飽和
値に達する。換言すれば、第3図のタイムチャートに示
すように、電圧が印加されてから、電流はゆっくり上昇
し、しばらくして、図にXをもって示す時点において、
はじめて、プリント配線板の絶縁抵抗の測定が可能にな
ることから、測定に時間を要し、支障をきたすようにな
った。
本発明の目的は、この欠点を解消することにあリ、25
0■の印加電圧をもって絶縁抵抗を測定する場合にも、
測定時間が増大せず、しかも、精度よく測定可能なプリ
ント配線板の試験装置(布線試験機)を提供することに
ある。
0■の印加電圧をもって絶縁抵抗を測定する場合にも、
測定時間が増大せず、しかも、精度よく測定可能なプリ
ント配線板の試験装置(布線試験機)を提供することに
ある。
上記の目的は、電圧印加手段(E)と、この電圧印加手
段(E)の一方の端子に直列に接続され、回路を並列に
二分する回路切り替え手段(S)と、この回路切り替え
手段(S)の一方の出力端子に接続され、100Ω程度
の小さな抵抗値を有する高速充電用抵抗器(R1りと、
前記回路切り替え手段(S)の他方の出力端子に接続さ
れ、100にΩ〜IMΩ程度の大きな抵抗値を有する、
絶縁抵抗測定用抵抗器(Rs)と、この絶縁抵抗測定用
抵抗器(Rs)と前記高速充電用抵抗器(Re−)と、
の並列回路に接続され、プリント配線板(P)の一方の
端子に接続される、プリント配線板試験用端子(T1)
と、前記電圧印加手段(E)の他方の端子に接続される
端子に接続され、プリント配線板(P)の他方の端子に
接続される、プリント配線板試験用端子(T2)と、前
記試験用端子(T、)と試験用端子(T2)との間に発
生する電圧が飽和値に達したことを検出し、前記回路切
り替え手段(S)の前記高速充電用抵抗器(Re)側か
ら前記絶縁抵抗測定用抵抗器(Rs)側に切り替える切
り替え信号を送出する印加電圧検出手段(VD)と、前
記絶縁抵抗測定用抵抗器(Rs)に発生する電圧を測定
して、前記プリント配線板(P)の絶縁抵抗を算出する
絶縁抵抗算出手段(V)とを設けたプリント配線板の試
験装置(布線試験機)とによって達成される。
段(E)の一方の端子に直列に接続され、回路を並列に
二分する回路切り替え手段(S)と、この回路切り替え
手段(S)の一方の出力端子に接続され、100Ω程度
の小さな抵抗値を有する高速充電用抵抗器(R1りと、
前記回路切り替え手段(S)の他方の出力端子に接続さ
れ、100にΩ〜IMΩ程度の大きな抵抗値を有する、
絶縁抵抗測定用抵抗器(Rs)と、この絶縁抵抗測定用
抵抗器(Rs)と前記高速充電用抵抗器(Re−)と、
の並列回路に接続され、プリント配線板(P)の一方の
端子に接続される、プリント配線板試験用端子(T1)
と、前記電圧印加手段(E)の他方の端子に接続される
端子に接続され、プリント配線板(P)の他方の端子に
接続される、プリント配線板試験用端子(T2)と、前
記試験用端子(T、)と試験用端子(T2)との間に発
生する電圧が飽和値に達したことを検出し、前記回路切
り替え手段(S)の前記高速充電用抵抗器(Re)側か
ら前記絶縁抵抗測定用抵抗器(Rs)側に切り替える切
り替え信号を送出する印加電圧検出手段(VD)と、前
記絶縁抵抗測定用抵抗器(Rs)に発生する電圧を測定
して、前記プリント配線板(P)の絶縁抵抗を算出する
絶縁抵抗算出手段(V)とを設けたプリント配線板の試
験装置(布線試験機)とによって達成される。
′絶縁抵抗測定開始にあたっては、まず、回路切り替え
手段Sを高速充電用抵抗器Re側に接続して、電圧印加
手段Eの電圧を100Ω程度の低抵抗を有する高速充電
用抵抗器Reを介して、抵抗とキャパシタンスとからな
るプリン士配線板Pに電圧印加手段Eが発生する電圧2
50■を印加するので、第4図のタイムチャートに示す
ように、短時間にプリント配線板Pの充電が完了する(
第4図にYをもって示す)。充電が完了したことを印加
電圧検出手段VDによって検出し、回路切り替え手段S
を高速充電用抵抗器Reから100K〜IMΩの高抵抗
を有する絶縁抵抗測定用抵抗器R8側に切り替え、電圧
印加手段Eの電圧を絶縁抵抗測定用抵抗器R5側に印加
して、プリント配線板Pの絶縁抵抗を測定するので、短
時間に、しかも、高精度の絶縁抵抗測定が可能である。
手段Sを高速充電用抵抗器Re側に接続して、電圧印加
手段Eの電圧を100Ω程度の低抵抗を有する高速充電
用抵抗器Reを介して、抵抗とキャパシタンスとからな
るプリン士配線板Pに電圧印加手段Eが発生する電圧2
50■を印加するので、第4図のタイムチャートに示す
ように、短時間にプリント配線板Pの充電が完了する(
第4図にYをもって示す)。充電が完了したことを印加
電圧検出手段VDによって検出し、回路切り替え手段S
を高速充電用抵抗器Reから100K〜IMΩの高抵抗
を有する絶縁抵抗測定用抵抗器R8側に切り替え、電圧
印加手段Eの電圧を絶縁抵抗測定用抵抗器R5側に印加
して、プリント配線板Pの絶縁抵抗を測定するので、短
時間に、しかも、高精度の絶縁抵抗測定が可能である。
換言すれば、図にZをもって示す時点において、絶縁抵
抗測定が可能となる。
抗測定が可能となる。
以下、図面を参照しつ一1本発明の一実施例に係るプリ
ント配線板の試験装置について説明する。
ント配線板の試験装置について説明する。
第1図参照
Eは電圧印加手段であり、250vの直流電源と開閉器
とよりなる。
とよりなる。
Roは高速充電用抵抗器であり、100Ω程度の低い抵
抗値を有する。
抗値を有する。
R3は絶縁抵抗測定用抵抗器であり、100にΩ〜IM
Ωの高い抵抗値を有する。
Ωの高い抵抗値を有する。
Sは回路切り替え手段である。
VDは印加電圧検出手段であり、図にT1 ・T2をも
って示すプリント配線板試験用端子間の電圧V を検出し、時間に対する電圧の変化率dtが0になった
ことを検出し、回路切り替え手段Sに切り替え信号を出
力する。
って示すプリント配線板試験用端子間の電圧V を検出し、時間に対する電圧の変化率dtが0になった
ことを検出し、回路切り替え手段Sに切り替え信号を出
力する。
Pは被測定体であるプリント配線板である。
プリント配線板Pの絶縁抵抗を測定するにあたり、第4
図のタイムチャートに示すように、まず、プリント配線
板Pの被測定回路の両端を、それぞれ試験用端子T1と
T2とに接続し、回路切り替え手段Sを高速充電用抵抗
器Re側に接続し、電圧印加手段Eが発生する電圧Vl
(250V)をプリント配線板Pに印加する。プリン
ト配線板Pはキャパシタンスと抵抗とよりなっているた
め、充電に時間を要するが、高速充電用抵抗器Rcの抵
抗値が上記のとおり100Ω程度と小さいので、充置時
間が短く、プリント配線板試験用端子T、とT2との間
の電圧は第4図に示すように比較的早く上昇する。
図のタイムチャートに示すように、まず、プリント配線
板Pの被測定回路の両端を、それぞれ試験用端子T1と
T2とに接続し、回路切り替え手段Sを高速充電用抵抗
器Re側に接続し、電圧印加手段Eが発生する電圧Vl
(250V)をプリント配線板Pに印加する。プリン
ト配線板Pはキャパシタンスと抵抗とよりなっているた
め、充電に時間を要するが、高速充電用抵抗器Rcの抵
抗値が上記のとおり100Ω程度と小さいので、充置時
間が短く、プリント配線板試験用端子T、とT2との間
の電圧は第4図に示すように比較的早く上昇する。
印加電圧検出手段VDによって、前記プリント配線板試
験用端子T1とT2との間に発生する電V 圧の変化率1〒がOになった時点、すなわち、第4図に
Yをもって示す時点を検出し、その出力信号に応答して
、回路切り替え手段Sを、高速充電用抵抗器R6側から
絶縁抵抗測定用抵抗器Rs側に切り替える。
験用端子T1とT2との間に発生する電V 圧の変化率1〒がOになった時点、すなわち、第4図に
Yをもって示す時点を検出し、その出力信号に応答して
、回路切り替え手段Sを、高速充電用抵抗器R6側から
絶縁抵抗測定用抵抗器Rs側に切り替える。
前記回路切り替え手段Sの切り替え時に、プリント配線
板Pの゛試験用端子T1とT2との間の電圧は、第4図
に示すように、瞬時低下するが、切り替え後直ちに第4
図にZをもって示す時点で飽和状態に復帰する。Zの時
点以降において、絶縁抵抗測定用抵抗器Rsの両端の電
圧■2を電圧側プリント配線板Pに流れる電流■を算出
し、R=Vl 、3の関係からプリント配線板Pの
絶縁紙抗Rを算出する。
板Pの゛試験用端子T1とT2との間の電圧は、第4図
に示すように、瞬時低下するが、切り替え後直ちに第4
図にZをもって示す時点で飽和状態に復帰する。Zの時
点以降において、絶縁抵抗測定用抵抗器Rsの両端の電
圧■2を電圧側プリント配線板Pに流れる電流■を算出
し、R=Vl 、3の関係からプリント配線板Pの
絶縁紙抗Rを算出する。
絶縁抵抗測定用抵抗器Rsの抵抗値r、は十分大きいの
で、絶縁抵抗測定用抵抗器R5の両端に発生する電圧■
2も十分大きくなり電圧■2を精度よく測定することが
でき、したがって、プリント配線板Pを流れる電流■を
精度よく測定することができ、その結果、プリント配線
板Pの絶縁抵抗Rを精度よく、しかも、短時間に、測定
することができる。
で、絶縁抵抗測定用抵抗器R5の両端に発生する電圧■
2も十分大きくなり電圧■2を精度よく測定することが
でき、したがって、プリント配線板Pを流れる電流■を
精度よく測定することができ、その結果、プリント配線
板Pの絶縁抵抗Rを精度よく、しかも、短時間に、測定
することができる。
〔発明1の効果〕
以上説明せるとおり、本発明に係るプリント配線板の試
験装置(布線試験機)においては、低抵抗の高速充電用
抵抗器を介してプリント配線板を短時間に充電し、その
後、高抵抗の絶縁抵抗測定用抵抗器に切り替えて、プリ
ント配線板の絶縁抵抗を測定すること\されているため
、250■の印加電圧をもって100MΩ程度の高絶縁
抵抗を測定する場合にも、短時間に、しかも、精度よく
絶縁抵抗を測定することができる。
験装置(布線試験機)においては、低抵抗の高速充電用
抵抗器を介してプリント配線板を短時間に充電し、その
後、高抵抗の絶縁抵抗測定用抵抗器に切り替えて、プリ
ント配線板の絶縁抵抗を測定すること\されているため
、250■の印加電圧をもって100MΩ程度の高絶縁
抵抗を測定する場合にも、短時間に、しかも、精度よく
絶縁抵抗を測定することができる。
第1図は、本発明の一実施例に係るプリント配線板の試
験装置の回路図である。 第2図は、従来技術に係るプリント配線板の試験装置(
布線試験機)の回路図である。 第3図は、従来技術に係るプリント配線板の試験装置(
布線試験機)を使用して絶縁抵抗を測定する時に、プリ
ント配線板試験用端子T、とT2との間に発生する電圧
の時間経過を示す曲線である。 第4図は、本発明の一実施例に係るプリント配線板の試
験装置(布線試験機)を使用して絶縁抵抗を測定する時
に、プリント配線板試験用端子T1とT2との間に発生
する電圧の時間経過を示す曲線である。 E・・・電圧印加手段、 S・・・回路切り替え手段、 R9・・・高速充電用抵抗器(抵抗値rc)、R3・・
・絶縁抵抗測定用抵抗器(抵抗値rs)、■・・・電圧
測定手段、 VD・・・印加電圧検出手段、 P・・・プリント配線板、 ■1 ・・・印加電圧、 ■2 ・・・絶縁抵抗測定用抵抗器R8に発生する電圧
、 ■・・・プリント配線板に流れる電流、T、・・・プリ
ント配線板試験用端子、T2 ・・・プリント配線板試
験用端子。
験装置の回路図である。 第2図は、従来技術に係るプリント配線板の試験装置(
布線試験機)の回路図である。 第3図は、従来技術に係るプリント配線板の試験装置(
布線試験機)を使用して絶縁抵抗を測定する時に、プリ
ント配線板試験用端子T、とT2との間に発生する電圧
の時間経過を示す曲線である。 第4図は、本発明の一実施例に係るプリント配線板の試
験装置(布線試験機)を使用して絶縁抵抗を測定する時
に、プリント配線板試験用端子T1とT2との間に発生
する電圧の時間経過を示す曲線である。 E・・・電圧印加手段、 S・・・回路切り替え手段、 R9・・・高速充電用抵抗器(抵抗値rc)、R3・・
・絶縁抵抗測定用抵抗器(抵抗値rs)、■・・・電圧
測定手段、 VD・・・印加電圧検出手段、 P・・・プリント配線板、 ■1 ・・・印加電圧、 ■2 ・・・絶縁抵抗測定用抵抗器R8に発生する電圧
、 ■・・・プリント配線板に流れる電流、T、・・・プリ
ント配線板試験用端子、T2 ・・・プリント配線板試
験用端子。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 電圧印加手段(E)と、 該電圧印加手段(E)の一方の端子に直列に接続され、
回路を並列に二分する回路切り替え手段(S)と、 該回路切り替え手段(S)の一方の出力端子に接続され
、小さな抵抗値を有する高速充電用抵抗器(R_c)と
、 前記回路切り替え手段(S)の他方の出力端子に接続さ
れ、大きな抵抗値を有する、絶縁抵抗測定用抵抗器(R
_s)と、 該絶縁抵抗測定用抵抗器(R_s)と前記高速充電用抵
抗器(R_c)と、の並列回路に接続され、プリント配
線板(P)の一方の端子に接続される、プリント配線板
試験用端子(T_1)と、 前記電圧印加手段(E)の他方の端子に接続される端子
に接続され、プリント配線板(P)の他方の端子に接続
される、プリント配線板試験用端子(T_2)と、 前記試験用端子(T_1)と試験用端子(T_2)との
間に発生する電圧が飽和値に達したことを検出し、前記
回路切り替え手段(S)の前記高速充電用抵抗器(R_
c)側から前記絶縁抵抗測定用抵抗器(R_s)側に切
り替える切り替え信号を送出する印加電圧検出手段(V
D)と、 前記絶縁抵抗測定用抵抗器(R_s)に発生する電圧を
測定して、前記プリント配線板(P)の絶縁抵抗を算出
する絶縁抵抗算出手段(V)とを具備してなることを特
徴とするプリント配線板の試験装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62328384A JPH0827307B2 (ja) | 1987-12-26 | 1987-12-26 | プリント配線板の試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62328384A JPH0827307B2 (ja) | 1987-12-26 | 1987-12-26 | プリント配線板の試験装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01170860A true JPH01170860A (ja) | 1989-07-05 |
JPH0827307B2 JPH0827307B2 (ja) | 1996-03-21 |
Family
ID=18209645
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62328384A Expired - Fee Related JPH0827307B2 (ja) | 1987-12-26 | 1987-12-26 | プリント配線板の試験装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0827307B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010066050A (ja) * | 2008-09-09 | 2010-03-25 | Hioki Ee Corp | 絶縁検査装置および絶縁検査方法 |
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