JPH0140062Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 この考案は接点を有する開閉器の接点検査装置
に関する。

従来より有接点開閉器の導通検査を行なうの
に、ランプ負荷による点滅検査方法や接触抵抗を
測定し検査する方法が採用されている。これらの
方法により接点の完全な接触不良の開閉器をチエ
ツクすることができる。

しかしながら開閉器の動作時には、バウンシン
グ現象〔開閉器を動作させた時に安定時間（チヤ
タリング時間後）後に起きる接点のはなれ現象、
あるいは可動接点が反転し固定接点に衝突する現
象〕を生じる場合がある。また接点相互の摺動作
用すなわちワイピングによる異物噛込等による不
導通現象を生じる場合がある。これらバウンシン
グ、ワイピング等の接点現象を測定することは
個々の開閉器の性能を検査する上で重要であるが
上記したランプ負荷点滅検査方法や接触抵抗測定
検査方法では十分にこれらの現象をキヤツチし検
査することができない。これらバウンシング現象
等の有無を検査するのに、ブラウン管上にその波
形を描き目視する方法があるが、この方法は多量
の開閉器を生産する生産ラインでは能率面からい
つて採用することができない。

それゆえにこの考案の目的は、上記した従来の
接点検査の欠点を解消し、バウンシングやワイピ
ング等の接点接触時の動特性の良否検査も含めた
検査を容易になせる開閉器の接点検査装置を提供
するにある。

この出願の考案者等は開閉器としてマイクロス
イツチを用い、導通波形の観測を行なつたところ
第１図に示すものが得られ、立上り当初に生じる
チヤタリングａに対しその後生じるバウンシング
ｂにつき、この現象の良否代表判定値は、スイツ
チの動作後すなわち接点の反転後T₁の無視時間
を設定し、T₁以後に生じるバウンシング等によ
る不導通時間として所定時間T₂を設定し、この
設定値を越える不導通時間があるかないかを判定
することにより、バウンシング検査をなし得るこ
とを確認した。また可動接点がワイピング作用す
る時、接点間に異物を噛込むと、バウンシング波
形と同様の不導通状態を示すことも明らかにな
り、上記バウンシング検査と同様にしてワイピン
グ検査をなし得ることが判明した。

これらの点に着目し、上記目的を達成するため
にこの考案の開閉器の接点に接続される電源回路
と、前記開閉器の接点の両端電圧と基準電圧を入
力を受けて比較し接点の導通状態、不導通状態に
応じ異なるレベル信号を出力する比較器と、この
比較器の出力に応答してON／OFF動作するスイ
ツチング回路と、無視時間を設定する無視時間設
定部と、前記スイツチング回路より開閉器導通を
示す信号を受け前記設定された無視時間が経過す
るまでは前記スイツチング回路よりの入力信号を
無視する無視時間部と、前記スイツチング回路よ
りの信号を受けて前記開閉器の不導通状態継続時
間を計時する計時手段と、基準となる不導通時間
を設定する不導通時間設定部と、前記計時時間と
設定された不導通時間とを比較し、この比較結果
により前記開閉器の接点の良否を判定する判定回
路とを備えている。

以下、図面に示す実施例によりこの考案をさら
に詳細に説明する。

第２図はこの考案の一実施例を示す開閉器の接
点検査装置のブロツク図である。同図において１
は被検査品であるマイクロスイツチである。マイ
クロスイツチ１の接点Ａ・Ｃには抵抗Ｒ／
（50Ω）、電池Ｅ（5V）の直列回路が接続され接点
Ａ・Ｃが接触するとＩ（0.1A）なる電流が流れる
ようになつている。また２は比較器であつてその
入力の一端に抵抗Ｒ２を介してマイクロスイツチ
１の接点電圧ｅ１が加えられるようになつてお
り、入力の他端には電源電圧＋Ｖ（＋12V）が抵
抗R₃，R₄，R₅で分圧され、抵抗R₆を介して基準
電圧ｅ２（1V）が加えられている。

マイクロスイツチ１の接点Ａ・Ｃが非接触・不
導通の場合には接点電圧ｅ１は1V以上であり、
ｅ１＞ｅ２となつておりこの場合比較器２はＬ
（ロー）信号を出力する。このＬ信号は接点Ａ・
Ｃが不導通であることを示す信号である。接点
Ａ・Ｃが接触・導通状態の場合には接点Ａ・Ｃに
電流が流れるため接点電圧ｅ１は1V以下に低下
する。そのためｅ１＜ｅ２となり、この場合比較
器２はＨ（ハイ）信号を出力する。このＨ信号は
接点Ａ・Ｃが導通状態であることを示す信号であ
る。

３は比較器２のＬ信号あるいはＨ信号、すなわ
ち不導通・導通状態を示す信号をT₁無視時間部
４及び測定コントロール部７に伝送するためのホ
トカプラである。T₁無視時間部４は、フオトカ
プラ３よりの導通信号を受けて設定時間T₁だけ
セツトされるワンシヨツトマルチ回路を含んでい
る。このT₁時間無視部４は導通信号を受けてか
らT₁時間後に信号Ｓを出力する。また、設定時
間T₁は、デイツプスイツチ等で構成される検査
無視時間設定器５によつて設定される。ここで
は、無視時間設定器５は0.01mS〜99.99mSまで
の任意のT₁を設定することができる。

６は100KHzの基本パルスを発生する基本パル
ス発生器であつて、T₁無視時間部４より出力さ
れる信号Ｓを受けてパルス発生を開始するように
なつている。

測定コントロール回路７は、カムスイツチ（図
示外）より加えられるスタート信号で動作を開始
し、その後ホトカプラー３より送られて来る接点
Ａ・Ｃの不導通信号を受けて、その不導通信号が
連続する間基本パルス発生器６よりのパルスを計
数して不導通信号の持続時間を経時するようにな
つている。

８はT₂不導通時間設定器であつて0.01mS〜
99.99mSの任意のT₂が設定できるようになつてい
る。

９は測定判定回路であつてT₂不導通時間設定
器８で設定されるT₂と測定コントロール回路７
で計時される不導通信号の持続時間を比較する。
比較の結果１回でも不導通信号の持続時間がT₂
を越える場合には、被検査品は不良品であるとみ
なし、測定コントロール回路７を介してワークエ
ラー信号WEを出力する。また測定した不導通信
号の持続時間は測定値表示器１０で表示される。

なお第２図においてマイクロスイツチ１の接点
部分は概略的に図示しているが、これをさらに具
体的に図示すると第４図の通りである。すなわち
検査装置には４本のピンコンタクトP₁，P₂，P₃，
P₄が備えられておりピンコンタクトP₁は抵抗R₁
に、ピンコンタクトP₂は抵抗R₂に、ピンコンタ
クトP₃はアース接続され、ピンコンタクトP₄は
電池Ｅの負極側にそれぞれ接続されており、検査
時にピンコンタクトP₁，P₂がマイクロスイツチ
１のコモン端子Ｃに、ピンコンタクトP₃，P₄は
マイクロスイツチ１の常開端子Ａにそれぞれ接続
される。

第２図の検査装置の回路において上記いずれの
ピンコンタクトの１つでも接触不良の場合には、
たとえ、マイクロスイツチ１を導通させても比較
器２の出力には導通信号が得られないのでこの場
合は、測定コントロール回路７よりピンエラー信
号PEが出力されるようになつている。

ワークエラー信号WE、ピンエラー信号PEは
発光ダイオード（図示外）に加えられ、エラー表
示がなされるようになつている。

次に上記実施例検査装置を用いて、マイクロス
イツチの接点検査を行なう場合の動作を第３図に
示すタイムチヤートを参照して説明する。

先ず、マイクロスイツチ１のコモン端子Ｃと常
開端子Ａに、ピンコンタクトP₁・P₂とピンコン
タクトP₃，P₄をそれぞれ接触接続する（第３図
ニ参照）。次にカムスイツチによりスタート信号
（第３図イ参照）が測定コントロール回路７に加
えられる。このスタート信号が加えられることに
より測定コントロール回路７、測定判定回路９は
動作を開始する。しかしスタート信号が印加され
た直後ではまだマイクロスイツチ１の接点切換が
なされておらず、接点電圧ｅ１は1Vよりも高い
電位にあり比較器２はＬ信号を出力しており、し
たがつて測定コントロール回路７からは、ワーク
エラー信号WE、ピンエラー信号PEは出力され
ない。

スタート信号の印加後、マイクロスイツチ１の
接点切換がメカ的に行なわれると（第３図ロ参
照）、マイクロスイツチ１の接点ＡとＣは接触す
るので、接点Ｃから接点Ａに電流Ｉが流れ電位ｅ
１は1Vより低くなる（第３図ハ参照）。そのため
比較器２の出力にＨ信号が導出され、この導通を
意味する信号がフオトカプラ３を経てT₁無視時
間部４及び測定コントロール回路７に加えられ
る。T₁無視時間部４は、フオトカプラ３より導
通信号を受けてもその後T₁時間は、チヤタリン
グによる導通／不導通を検査から除外するために
出力信号Ｓを基本パルス発生器６に加えない。こ
の間、基本パルス発生器６はまだパルスＰを出力
しない。T₁時間が経過すると、基本パルス発生
器６はパルス発生を開始し、測定コントロール回
路７に加える。測定コントロール回路７は接点切
換後T₁時間経過して基本パルスが印加されると、
フオトカプラ３から接点の電気的不導通信号が加
えられ維持される間、その基本パルスを計数し
て、不導通信号の維持時間を計時する。計時中に
接点が導通状態になり、再度不導通状態となる場
合にはそれまでの計時値をクリアして再度０から
計時を行ない、導通・不導通が繰り返される毎に
その不導通時間を計時する。

この各不導通時の計時時間は測定判定回路９に
送られ、設定時間T₂と比較される。比較の結果
１回でも設定時間T₂よりも不導通時間の方が長
いと接点は不良であるとされ、測定コントロール
回路７を経てワークエラー信号WEが出力され、
ワークエラー表示灯が点灯される。

ワークエラーの有無判定後、測定判定回路９に
おいて検査タイミングの後半でピンコンタクトの
接触不良が判定される（第３図ホ参照）。すなわ
ちピンコンタクトP₁，P₂，P₃，P₄の１つでもマ
イクロスイツチ１の接点に対して接触不良のもの
があると、不導通状態が連続するので、測定判定
回路９で不導通状態の連続していることが判定さ
れると測定コントロール回路７を経てピンエラー
信号PEが出力され、ピンエラー表示灯が点灯さ
れる。

この実施例の接点検査装置は、接点動作特性の
検査が容易になせるとともにピンコンタクトの接
触不良等の導通検査も同時に行うことができ、開
閉器１個あたりの検査時間を大幅に短縮できる。
それゆえ、この接点検査装置を開閉器の生産ライ
ン上で使用すれば、全数検査を行うことが可能で
あり、生産された開閉器の信頼性を著しく向上で
きる。

この考案は開閉器の接点が接続され、開閉器の
導通状態、不導通状態により異なるレベルの信号
を導出する手段と、第１の時間を設定する手段
と、第２の時間を設定する手段と、前記導出手段
よりの信号を受け、前記導出手段による導通状態
信号の導出後前記第１の時間は不能動化され、こ
の第１時間の経過後前記不導通状態信号を受ける
とその持続時間を計数する手段と、この計数手段
による計数時間と前記第２時間とを比較し、この
比較結果により接点の良否を判定する手段とを設
けたことを特徴とする。このため、この考案の開
閉器の接点検査装置は、接点の切換導通後の一定
時間は、無視して導通・不導通の判定を行なわ
ず、その一定時間経過後に不導通継続時間が所定
設定時間を越えるか否かにより接点良否を判定す
るものであり、動作中にバウンシング現象やワイ
ピング現象を生じる接点も不良品として除去でき
るのでこの接点検査装置を用いて開閉器を検査す
れば高品質の開閉器のみを手間をとることなく選
別することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は接点接触時のチヤタリング現象、バウ
ンシング現象を説明するための波形図、第２図は
この考案の一実施例を示す開閉器の接点検査装置
のブロツク図、第３図は第２図に示す実施例装置
の動作を説明するためのタイムチヤート、第４図
は第２図に示す実施例装置のマイクロスイツチの
接続部分をさらに具体的に示した回路接続図であ
る。 １：マイクロスイツチ、２：比較器、３：フオ
トカプラ、４：T₁無視時間部、５：検査無視時
間設定部、６：基本パルス発生器、７：測定コン
トロール回路、８：測定判定回路、９：T₂不導
通時間設定部、１０：測定値表示器。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 開閉器の接点に接続される電源回路と、前記開
   閉器の接点の両端電圧と基準電圧を入力に受けて
   比較し接点の導通状態、不導通状態に応じ異なる
   レベル信号を出力する比較器と、この比較器の出
   力に応答してON／OFF動作するスイツチング回
   路と、無視時間を設定する無視時間設定部と、前
   記スイツチング回路より開閉器導通を示す信号を
   受け前記設定された無視時間が経過するまでは前
   記スイツチング回路よりの入力信号を無視する無
   視時間部と、前記スイツチング回路よりの信号を
   受けて前記開閉器の不導通状態継続時間を計時す
   る計時手段と、基準となる不導通時間を設定する
   不導通時間設定部と、前記計時時間と設定された
   不導通時間とを比較し、この比較結果により前記
   開閉器の接点の良否を判定する判定回路とを備え
   ることを特徴とする開閉器の接点検査装置。