JPH0140062Y2 - - Google Patents
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- JPH0140062Y2 JPH0140062Y2 JP7748782U JP7748782U JPH0140062Y2 JP H0140062 Y2 JPH0140062 Y2 JP H0140062Y2 JP 7748782 U JP7748782 U JP 7748782U JP 7748782 U JP7748782 U JP 7748782U JP H0140062 Y2 JPH0140062 Y2 JP H0140062Y2
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 20
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 24
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 12
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 244000145845 chattering Species 0.000 description 3
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000004397 blinking Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000009795 derivation Methods 0.000 description 1
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 description 1
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 description 1
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- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Keying Circuit Devices (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
この考案は接点を有する開閉器の接点検査装置
に関する。
に関する。
従来より有接点開閉器の導通検査を行なうの
に、ランプ負荷による点滅検査方法や接触抵抗を
測定し検査する方法が採用されている。これらの
方法により接点の完全な接触不良の開閉器をチエ
ツクすることができる。
に、ランプ負荷による点滅検査方法や接触抵抗を
測定し検査する方法が採用されている。これらの
方法により接点の完全な接触不良の開閉器をチエ
ツクすることができる。
しかしながら開閉器の動作時には、バウンシン
グ現象〔開閉器を動作させた時に安定時間(チヤ
タリング時間後)後に起きる接点のはなれ現象、
あるいは可動接点が反転し固定接点に衝突する現
象〕を生じる場合がある。また接点相互の摺動作
用すなわちワイピングによる異物噛込等による不
導通現象を生じる場合がある。これらバウンシン
グ、ワイピング等の接点現象を測定することは
個々の開閉器の性能を検査する上で重要であるが
上記したランプ負荷点滅検査方法や接触抵抗測定
検査方法では十分にこれらの現象をキヤツチし検
査することができない。これらバウンシング現象
等の有無を検査するのに、ブラウン管上にその波
形を描き目視する方法があるが、この方法は多量
の開閉器を生産する生産ラインでは能率面からい
つて採用することができない。
グ現象〔開閉器を動作させた時に安定時間(チヤ
タリング時間後)後に起きる接点のはなれ現象、
あるいは可動接点が反転し固定接点に衝突する現
象〕を生じる場合がある。また接点相互の摺動作
用すなわちワイピングによる異物噛込等による不
導通現象を生じる場合がある。これらバウンシン
グ、ワイピング等の接点現象を測定することは
個々の開閉器の性能を検査する上で重要であるが
上記したランプ負荷点滅検査方法や接触抵抗測定
検査方法では十分にこれらの現象をキヤツチし検
査することができない。これらバウンシング現象
等の有無を検査するのに、ブラウン管上にその波
形を描き目視する方法があるが、この方法は多量
の開閉器を生産する生産ラインでは能率面からい
つて採用することができない。
それゆえにこの考案の目的は、上記した従来の
接点検査の欠点を解消し、バウンシングやワイピ
ング等の接点接触時の動特性の良否検査も含めた
検査を容易になせる開閉器の接点検査装置を提供
するにある。
接点検査の欠点を解消し、バウンシングやワイピ
ング等の接点接触時の動特性の良否検査も含めた
検査を容易になせる開閉器の接点検査装置を提供
するにある。
この出願の考案者等は開閉器としてマイクロス
イツチを用い、導通波形の観測を行なつたところ
第1図に示すものが得られ、立上り当初に生じる
チヤタリングaに対しその後生じるバウンシング
bにつき、この現象の良否代表判定値は、スイツ
チの動作後すなわち接点の反転後T1の無視時間
を設定し、T1以後に生じるバウンシング等によ
る不導通時間として所定時間T2を設定し、この
設定値を越える不導通時間があるかないかを判定
することにより、バウンシング検査をなし得るこ
とを確認した。また可動接点がワイピング作用す
る時、接点間に異物を噛込むと、バウンシング波
形と同様の不導通状態を示すことも明らかにな
り、上記バウンシング検査と同様にしてワイピン
グ検査をなし得ることが判明した。
イツチを用い、導通波形の観測を行なつたところ
第1図に示すものが得られ、立上り当初に生じる
チヤタリングaに対しその後生じるバウンシング
bにつき、この現象の良否代表判定値は、スイツ
チの動作後すなわち接点の反転後T1の無視時間
を設定し、T1以後に生じるバウンシング等によ
る不導通時間として所定時間T2を設定し、この
設定値を越える不導通時間があるかないかを判定
することにより、バウンシング検査をなし得るこ
とを確認した。また可動接点がワイピング作用す
る時、接点間に異物を噛込むと、バウンシング波
形と同様の不導通状態を示すことも明らかにな
り、上記バウンシング検査と同様にしてワイピン
グ検査をなし得ることが判明した。
これらの点に着目し、上記目的を達成するため
にこの考案の開閉器の接点に接続される電源回路
と、前記開閉器の接点の両端電圧と基準電圧を入
力を受けて比較し接点の導通状態、不導通状態に
応じ異なるレベル信号を出力する比較器と、この
比較器の出力に応答してON/OFF動作するスイ
ツチング回路と、無視時間を設定する無視時間設
定部と、前記スイツチング回路より開閉器導通を
示す信号を受け前記設定された無視時間が経過す
るまでは前記スイツチング回路よりの入力信号を
無視する無視時間部と、前記スイツチング回路よ
りの信号を受けて前記開閉器の不導通状態継続時
間を計時する計時手段と、基準となる不導通時間
を設定する不導通時間設定部と、前記計時時間と
設定された不導通時間とを比較し、この比較結果
により前記開閉器の接点の良否を判定する判定回
路とを備えている。
にこの考案の開閉器の接点に接続される電源回路
と、前記開閉器の接点の両端電圧と基準電圧を入
力を受けて比較し接点の導通状態、不導通状態に
応じ異なるレベル信号を出力する比較器と、この
比較器の出力に応答してON/OFF動作するスイ
ツチング回路と、無視時間を設定する無視時間設
定部と、前記スイツチング回路より開閉器導通を
示す信号を受け前記設定された無視時間が経過す
るまでは前記スイツチング回路よりの入力信号を
無視する無視時間部と、前記スイツチング回路よ
りの信号を受けて前記開閉器の不導通状態継続時
間を計時する計時手段と、基準となる不導通時間
を設定する不導通時間設定部と、前記計時時間と
設定された不導通時間とを比較し、この比較結果
により前記開閉器の接点の良否を判定する判定回
路とを備えている。
以下、図面に示す実施例によりこの考案をさら
に詳細に説明する。
に詳細に説明する。
第2図はこの考案の一実施例を示す開閉器の接
点検査装置のブロツク図である。同図において1
は被検査品であるマイクロスイツチである。マイ
クロスイツチ1の接点A・Cには抵抗R/
(50Ω)、電池E(5V)の直列回路が接続され接点
A・Cが接触するとI(0.1A)なる電流が流れる
ようになつている。また2は比較器であつてその
入力の一端に抵抗R2を介してマイクロスイツチ
1の接点電圧e1が加えられるようになつてお
り、入力の他端には電源電圧+V(+12V)が抵
抗R3,R4,R5で分圧され、抵抗R6を介して基準
電圧e2(1V)が加えられている。
点検査装置のブロツク図である。同図において1
は被検査品であるマイクロスイツチである。マイ
クロスイツチ1の接点A・Cには抵抗R/
(50Ω)、電池E(5V)の直列回路が接続され接点
A・Cが接触するとI(0.1A)なる電流が流れる
ようになつている。また2は比較器であつてその
入力の一端に抵抗R2を介してマイクロスイツチ
1の接点電圧e1が加えられるようになつてお
り、入力の他端には電源電圧+V(+12V)が抵
抗R3,R4,R5で分圧され、抵抗R6を介して基準
電圧e2(1V)が加えられている。
マイクロスイツチ1の接点A・Cが非接触・不
導通の場合には接点電圧e1は1V以上であり、
e1>e2となつておりこの場合比較器2はL
(ロー)信号を出力する。このL信号は接点A・
Cが不導通であることを示す信号である。接点
A・Cが接触・導通状態の場合には接点A・Cに
電流が流れるため接点電圧e1は1V以下に低下
する。そのためe1<e2となり、この場合比較
器2はH(ハイ)信号を出力する。このH信号は
接点A・Cが導通状態であることを示す信号であ
る。
導通の場合には接点電圧e1は1V以上であり、
e1>e2となつておりこの場合比較器2はL
(ロー)信号を出力する。このL信号は接点A・
Cが不導通であることを示す信号である。接点
A・Cが接触・導通状態の場合には接点A・Cに
電流が流れるため接点電圧e1は1V以下に低下
する。そのためe1<e2となり、この場合比較
器2はH(ハイ)信号を出力する。このH信号は
接点A・Cが導通状態であることを示す信号であ
る。
3は比較器2のL信号あるいはH信号、すなわ
ち不導通・導通状態を示す信号をT1無視時間部
4及び測定コントロール部7に伝送するためのホ
トカプラである。T1無視時間部4は、フオトカ
プラ3よりの導通信号を受けて設定時間T1だけ
セツトされるワンシヨツトマルチ回路を含んでい
る。このT1時間無視部4は導通信号を受けてか
らT1時間後に信号Sを出力する。また、設定時
間T1は、デイツプスイツチ等で構成される検査
無視時間設定器5によつて設定される。ここで
は、無視時間設定器5は0.01mS〜99.99mSまで
の任意のT1を設定することができる。
ち不導通・導通状態を示す信号をT1無視時間部
4及び測定コントロール部7に伝送するためのホ
トカプラである。T1無視時間部4は、フオトカ
プラ3よりの導通信号を受けて設定時間T1だけ
セツトされるワンシヨツトマルチ回路を含んでい
る。このT1時間無視部4は導通信号を受けてか
らT1時間後に信号Sを出力する。また、設定時
間T1は、デイツプスイツチ等で構成される検査
無視時間設定器5によつて設定される。ここで
は、無視時間設定器5は0.01mS〜99.99mSまで
の任意のT1を設定することができる。
6は100KHzの基本パルスを発生する基本パル
ス発生器であつて、T1無視時間部4より出力さ
れる信号Sを受けてパルス発生を開始するように
なつている。
ス発生器であつて、T1無視時間部4より出力さ
れる信号Sを受けてパルス発生を開始するように
なつている。
測定コントロール回路7は、カムスイツチ(図
示外)より加えられるスタート信号で動作を開始
し、その後ホトカプラー3より送られて来る接点
A・Cの不導通信号を受けて、その不導通信号が
連続する間基本パルス発生器6よりのパルスを計
数して不導通信号の持続時間を経時するようにな
つている。
示外)より加えられるスタート信号で動作を開始
し、その後ホトカプラー3より送られて来る接点
A・Cの不導通信号を受けて、その不導通信号が
連続する間基本パルス発生器6よりのパルスを計
数して不導通信号の持続時間を経時するようにな
つている。
8はT2不導通時間設定器であつて0.01mS〜
99.99mSの任意のT2が設定できるようになつてい
る。
99.99mSの任意のT2が設定できるようになつてい
る。
9は測定判定回路であつてT2不導通時間設定
器8で設定されるT2と測定コントロール回路7
で計時される不導通信号の持続時間を比較する。
比較の結果1回でも不導通信号の持続時間がT2
を越える場合には、被検査品は不良品であるとみ
なし、測定コントロール回路7を介してワークエ
ラー信号WEを出力する。また測定した不導通信
号の持続時間は測定値表示器10で表示される。
器8で設定されるT2と測定コントロール回路7
で計時される不導通信号の持続時間を比較する。
比較の結果1回でも不導通信号の持続時間がT2
を越える場合には、被検査品は不良品であるとみ
なし、測定コントロール回路7を介してワークエ
ラー信号WEを出力する。また測定した不導通信
号の持続時間は測定値表示器10で表示される。
なお第2図においてマイクロスイツチ1の接点
部分は概略的に図示しているが、これをさらに具
体的に図示すると第4図の通りである。すなわち
検査装置には4本のピンコンタクトP1,P2,P3,
P4が備えられておりピンコンタクトP1は抵抗R1
に、ピンコンタクトP2は抵抗R2に、ピンコンタ
クトP3はアース接続され、ピンコンタクトP4は
電池Eの負極側にそれぞれ接続されており、検査
時にピンコンタクトP1,P2がマイクロスイツチ
1のコモン端子Cに、ピンコンタクトP3,P4は
マイクロスイツチ1の常開端子Aにそれぞれ接続
される。
部分は概略的に図示しているが、これをさらに具
体的に図示すると第4図の通りである。すなわち
検査装置には4本のピンコンタクトP1,P2,P3,
P4が備えられておりピンコンタクトP1は抵抗R1
に、ピンコンタクトP2は抵抗R2に、ピンコンタ
クトP3はアース接続され、ピンコンタクトP4は
電池Eの負極側にそれぞれ接続されており、検査
時にピンコンタクトP1,P2がマイクロスイツチ
1のコモン端子Cに、ピンコンタクトP3,P4は
マイクロスイツチ1の常開端子Aにそれぞれ接続
される。
第2図の検査装置の回路において上記いずれの
ピンコンタクトの1つでも接触不良の場合には、
たとえ、マイクロスイツチ1を導通させても比較
器2の出力には導通信号が得られないのでこの場
合は、測定コントロール回路7よりピンエラー信
号PEが出力されるようになつている。
ピンコンタクトの1つでも接触不良の場合には、
たとえ、マイクロスイツチ1を導通させても比較
器2の出力には導通信号が得られないのでこの場
合は、測定コントロール回路7よりピンエラー信
号PEが出力されるようになつている。
ワークエラー信号WE、ピンエラー信号PEは
発光ダイオード(図示外)に加えられ、エラー表
示がなされるようになつている。
発光ダイオード(図示外)に加えられ、エラー表
示がなされるようになつている。
次に上記実施例検査装置を用いて、マイクロス
イツチの接点検査を行なう場合の動作を第3図に
示すタイムチヤートを参照して説明する。
イツチの接点検査を行なう場合の動作を第3図に
示すタイムチヤートを参照して説明する。
先ず、マイクロスイツチ1のコモン端子Cと常
開端子Aに、ピンコンタクトP1・P2とピンコン
タクトP3,P4をそれぞれ接触接続する(第3図
ニ参照)。次にカムスイツチによりスタート信号
(第3図イ参照)が測定コントロール回路7に加
えられる。このスタート信号が加えられることに
より測定コントロール回路7、測定判定回路9は
動作を開始する。しかしスタート信号が印加され
た直後ではまだマイクロスイツチ1の接点切換が
なされておらず、接点電圧e1は1Vよりも高い
電位にあり比較器2はL信号を出力しており、し
たがつて測定コントロール回路7からは、ワーク
エラー信号WE、ピンエラー信号PEは出力され
ない。
開端子Aに、ピンコンタクトP1・P2とピンコン
タクトP3,P4をそれぞれ接触接続する(第3図
ニ参照)。次にカムスイツチによりスタート信号
(第3図イ参照)が測定コントロール回路7に加
えられる。このスタート信号が加えられることに
より測定コントロール回路7、測定判定回路9は
動作を開始する。しかしスタート信号が印加され
た直後ではまだマイクロスイツチ1の接点切換が
なされておらず、接点電圧e1は1Vよりも高い
電位にあり比較器2はL信号を出力しており、し
たがつて測定コントロール回路7からは、ワーク
エラー信号WE、ピンエラー信号PEは出力され
ない。
スタート信号の印加後、マイクロスイツチ1の
接点切換がメカ的に行なわれると(第3図ロ参
照)、マイクロスイツチ1の接点AとCは接触す
るので、接点Cから接点Aに電流Iが流れ電位e
1は1Vより低くなる(第3図ハ参照)。そのため
比較器2の出力にH信号が導出され、この導通を
意味する信号がフオトカプラ3を経てT1無視時
間部4及び測定コントロール回路7に加えられ
る。T1無視時間部4は、フオトカプラ3より導
通信号を受けてもその後T1時間は、チヤタリン
グによる導通/不導通を検査から除外するために
出力信号Sを基本パルス発生器6に加えない。こ
の間、基本パルス発生器6はまだパルスPを出力
しない。T1時間が経過すると、基本パルス発生
器6はパルス発生を開始し、測定コントロール回
路7に加える。測定コントロール回路7は接点切
換後T1時間経過して基本パルスが印加されると、
フオトカプラ3から接点の電気的不導通信号が加
えられ維持される間、その基本パルスを計数し
て、不導通信号の維持時間を計時する。計時中に
接点が導通状態になり、再度不導通状態となる場
合にはそれまでの計時値をクリアして再度0から
計時を行ない、導通・不導通が繰り返される毎に
その不導通時間を計時する。
接点切換がメカ的に行なわれると(第3図ロ参
照)、マイクロスイツチ1の接点AとCは接触す
るので、接点Cから接点Aに電流Iが流れ電位e
1は1Vより低くなる(第3図ハ参照)。そのため
比較器2の出力にH信号が導出され、この導通を
意味する信号がフオトカプラ3を経てT1無視時
間部4及び測定コントロール回路7に加えられ
る。T1無視時間部4は、フオトカプラ3より導
通信号を受けてもその後T1時間は、チヤタリン
グによる導通/不導通を検査から除外するために
出力信号Sを基本パルス発生器6に加えない。こ
の間、基本パルス発生器6はまだパルスPを出力
しない。T1時間が経過すると、基本パルス発生
器6はパルス発生を開始し、測定コントロール回
路7に加える。測定コントロール回路7は接点切
換後T1時間経過して基本パルスが印加されると、
フオトカプラ3から接点の電気的不導通信号が加
えられ維持される間、その基本パルスを計数し
て、不導通信号の維持時間を計時する。計時中に
接点が導通状態になり、再度不導通状態となる場
合にはそれまでの計時値をクリアして再度0から
計時を行ない、導通・不導通が繰り返される毎に
その不導通時間を計時する。
この各不導通時の計時時間は測定判定回路9に
送られ、設定時間T2と比較される。比較の結果
1回でも設定時間T2よりも不導通時間の方が長
いと接点は不良であるとされ、測定コントロール
回路7を経てワークエラー信号WEが出力され、
ワークエラー表示灯が点灯される。
送られ、設定時間T2と比較される。比較の結果
1回でも設定時間T2よりも不導通時間の方が長
いと接点は不良であるとされ、測定コントロール
回路7を経てワークエラー信号WEが出力され、
ワークエラー表示灯が点灯される。
ワークエラーの有無判定後、測定判定回路9に
おいて検査タイミングの後半でピンコンタクトの
接触不良が判定される(第3図ホ参照)。すなわ
ちピンコンタクトP1,P2,P3,P4の1つでもマ
イクロスイツチ1の接点に対して接触不良のもの
があると、不導通状態が連続するので、測定判定
回路9で不導通状態の連続していることが判定さ
れると測定コントロール回路7を経てピンエラー
信号PEが出力され、ピンエラー表示灯が点灯さ
れる。
おいて検査タイミングの後半でピンコンタクトの
接触不良が判定される(第3図ホ参照)。すなわ
ちピンコンタクトP1,P2,P3,P4の1つでもマ
イクロスイツチ1の接点に対して接触不良のもの
があると、不導通状態が連続するので、測定判定
回路9で不導通状態の連続していることが判定さ
れると測定コントロール回路7を経てピンエラー
信号PEが出力され、ピンエラー表示灯が点灯さ
れる。
この実施例の接点検査装置は、接点動作特性の
検査が容易になせるとともにピンコンタクトの接
触不良等の導通検査も同時に行うことができ、開
閉器1個あたりの検査時間を大幅に短縮できる。
それゆえ、この接点検査装置を開閉器の生産ライ
ン上で使用すれば、全数検査を行うことが可能で
あり、生産された開閉器の信頼性を著しく向上で
きる。
検査が容易になせるとともにピンコンタクトの接
触不良等の導通検査も同時に行うことができ、開
閉器1個あたりの検査時間を大幅に短縮できる。
それゆえ、この接点検査装置を開閉器の生産ライ
ン上で使用すれば、全数検査を行うことが可能で
あり、生産された開閉器の信頼性を著しく向上で
きる。
この考案は開閉器の接点が接続され、開閉器の
導通状態、不導通状態により異なるレベルの信号
を導出する手段と、第1の時間を設定する手段
と、第2の時間を設定する手段と、前記導出手段
よりの信号を受け、前記導出手段による導通状態
信号の導出後前記第1の時間は不能動化され、こ
の第1時間の経過後前記不導通状態信号を受ける
とその持続時間を計数する手段と、この計数手段
による計数時間と前記第2時間とを比較し、この
比較結果により接点の良否を判定する手段とを設
けたことを特徴とする。このため、この考案の開
閉器の接点検査装置は、接点の切換導通後の一定
時間は、無視して導通・不導通の判定を行なわ
ず、その一定時間経過後に不導通継続時間が所定
設定時間を越えるか否かにより接点良否を判定す
るものであり、動作中にバウンシング現象やワイ
ピング現象を生じる接点も不良品として除去でき
るのでこの接点検査装置を用いて開閉器を検査す
れば高品質の開閉器のみを手間をとることなく選
別することができる。
導通状態、不導通状態により異なるレベルの信号
を導出する手段と、第1の時間を設定する手段
と、第2の時間を設定する手段と、前記導出手段
よりの信号を受け、前記導出手段による導通状態
信号の導出後前記第1の時間は不能動化され、こ
の第1時間の経過後前記不導通状態信号を受ける
とその持続時間を計数する手段と、この計数手段
による計数時間と前記第2時間とを比較し、この
比較結果により接点の良否を判定する手段とを設
けたことを特徴とする。このため、この考案の開
閉器の接点検査装置は、接点の切換導通後の一定
時間は、無視して導通・不導通の判定を行なわ
ず、その一定時間経過後に不導通継続時間が所定
設定時間を越えるか否かにより接点良否を判定す
るものであり、動作中にバウンシング現象やワイ
ピング現象を生じる接点も不良品として除去でき
るのでこの接点検査装置を用いて開閉器を検査す
れば高品質の開閉器のみを手間をとることなく選
別することができる。
第1図は接点接触時のチヤタリング現象、バウ
ンシング現象を説明するための波形図、第2図は
この考案の一実施例を示す開閉器の接点検査装置
のブロツク図、第3図は第2図に示す実施例装置
の動作を説明するためのタイムチヤート、第4図
は第2図に示す実施例装置のマイクロスイツチの
接続部分をさらに具体的に示した回路接続図であ
る。 1:マイクロスイツチ、2:比較器、3:フオ
トカプラ、4:T1無視時間部、5:検査無視時
間設定部、6:基本パルス発生器、7:測定コン
トロール回路、8:測定判定回路、9:T2不導
通時間設定部、10:測定値表示器。
ンシング現象を説明するための波形図、第2図は
この考案の一実施例を示す開閉器の接点検査装置
のブロツク図、第3図は第2図に示す実施例装置
の動作を説明するためのタイムチヤート、第4図
は第2図に示す実施例装置のマイクロスイツチの
接続部分をさらに具体的に示した回路接続図であ
る。 1:マイクロスイツチ、2:比較器、3:フオ
トカプラ、4:T1無視時間部、5:検査無視時
間設定部、6:基本パルス発生器、7:測定コン
トロール回路、8:測定判定回路、9:T2不導
通時間設定部、10:測定値表示器。
Claims (1)
- 開閉器の接点に接続される電源回路と、前記開
閉器の接点の両端電圧と基準電圧を入力に受けて
比較し接点の導通状態、不導通状態に応じ異なる
レベル信号を出力する比較器と、この比較器の出
力に応答してON/OFF動作するスイツチング回
路と、無視時間を設定する無視時間設定部と、前
記スイツチング回路より開閉器導通を示す信号を
受け前記設定された無視時間が経過するまでは前
記スイツチング回路よりの入力信号を無視する無
視時間部と、前記スイツチング回路よりの信号を
受けて前記開閉器の不導通状態継続時間を計時す
る計時手段と、基準となる不導通時間を設定する
不導通時間設定部と、前記計時時間と設定された
不導通時間とを比較し、この比較結果により前記
開閉器の接点の良否を判定する判定回路とを備え
ることを特徴とする開閉器の接点検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7748782U JPS58178682U (ja) | 1982-05-25 | 1982-05-25 | 開閉器の接点検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7748782U JPS58178682U (ja) | 1982-05-25 | 1982-05-25 | 開閉器の接点検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58178682U JPS58178682U (ja) | 1983-11-29 |
JPH0140062Y2 true JPH0140062Y2 (ja) | 1989-12-01 |
Family
ID=30086742
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7748782U Granted JPS58178682U (ja) | 1982-05-25 | 1982-05-25 | 開閉器の接点検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58178682U (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3625472B1 (ja) * | 2004-04-05 | 2005-03-02 | 富士通テン株式会社 | 接点腐食防止装置 |
JP3625473B1 (ja) * | 2004-04-05 | 2005-03-02 | 富士通テン株式会社 | 接点腐食防止方法および装置 |
JP3625474B1 (ja) * | 2004-04-05 | 2005-03-02 | 富士通テン株式会社 | 接点腐食防止回路 |
-
1982
- 1982-05-25 JP JP7748782U patent/JPS58178682U/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS58178682U (ja) | 1983-11-29 |
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