JPH10298836A - 糸をクリアリングするための方法及び装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【構成】 本発明は糸の特性を収集し、除去すべき糸欠
陥は調節できるクリアリングリミツトによつて定義され
る如くした糸をクリアリングするための方法及び装置に
関する。ヤーンクリアラ（３２，３３）に対するクリア
リングリミツトの調節を可能にする方法及び装置を提供
する。 【効果】 最適調整ができるだけ頻繁に達成され、クリ
アリングリミツトは収集した特性に基づいてコントロー
ルループ内で自動的に調整される如く改善される。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、糸の特性を収集し、調
節できるクリアリングリミツトによつて除去すべき糸の
欠陥を定義する如くした、糸をクリアリングするための
方法及び装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】かかる方法は、例えばスイス特許第６８
３３５０号明細書によつて公知である。この場合には、
糸の欠陥は、糸の太さの設定値からの偏りと該糸欠陥の
長さとに基づいて二次元的に表示、分類される。発生し
測定された糸欠陥の数は、二次元の分類フイールド、例
えばセルに記録されストアされる。クリアリングリミツ
トは、高い糸欠陥数を持つセルの近傍の外側で、低い糸
欠陥数を持つセルの近傍の内側にあるように位置せしめ
られる。このようにして、糸中に作られるノツトやスプ
ライスを減少させることができる。

【０００３】上記方法でクリアリングリミツトは希望す
る方法で配置し、希望する形にすることができる。しか
し上記方法は、糸のコストのかかる実験を伴い、糸の生
産を先行するか、あるいは糸の巻き返しを行わねばなら
ない。

【０００４】スイス特許第６８１４６２号明細書から、
電子的ヤーンクリアラの作動限界を調節する１つの方法
が公知である。この場合には、クリアリングの過程中で
番手の測定値は連続的に記録され、その分布が求められ
る。上記分布と予め選択した許容できるアラーム頻度と
を基に、動作限界が統計的規則に従つて自動的に固定さ
れる。

【０００５】上記方法は、糸監視装置において動作限界
を調節することに関係し、該糸監視装置は、糸の番手即
ち糸の太さの平均太さからの偏りを求め、アラームをト
リガーし又は生産を中止する。従つて上記作動限界は短
いけれども糸直径の極端な偏りに対しては何もできな
い。即ち該作動限界は如何なる長さにも独立である。

【０００６】従つて高い経費を必要としないクリアリン
グリミツトの最適管理に到達する方法は未だ与えられて
いない。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】従つて本発明は、特定
の条件を満足させながら、同時にできる限り頻繁に最適
調整が行えるような方法で、ヤーンクリアラの改善され
たクリアリングリミツトを求め調節することを可能とす
る方法及び装置を提供する目的を達成することができ
る。

【０００８】

【課題を解決するための手段】この課題を解決するため
本発明によれば、クリアリングリミツトは収集した特性
に基づいて自動的に影響を受け、そのクリアリングリミ
ツトは自動計算で求められて設定される如くすれば、上
記の目的は達成される。一度設定された該クリアリング
リミツトは、発生する糸欠陥の性質と頻度に適合するよ
うに、ヤーンクリアラの所で定期的又は連続的に自動調
整される。これは標準のベース、あるいは最初の調整、
あるいは同じ品種について以前の生産から収集されたデ
ータのベースに影響されるであろう。この場合、クリア
リングリミツトの決定は、糸の特性の測定値と、クリア
リングリミツトの特性に対する各種の重要な基準と、ま
た上記の好ましい過程を考慮してフアジー論理の法則に
従つて行つた閉ループ制御の結果である。該基準は測定
するのが困難か又はクリアリングリミツトと明確な数学
的関係を持たせるのは不可能かも知れない。この決定に
は糸欠陥の値は、例えば糸の所のヤーンクリアラで収集
され、測定されたパラメータに従つて分類フイールド中
にフアイルされて分類され、糸の欠陥についての選択さ
れた仮定に従つてモデリングされる。モデル化された糸
欠陥から、分類フイールド中の糸欠陥の密度が求めら
れ、これからクリアリングリミツトの位置に関する基準
が導出される。

【０００９】上記装置は実質的にはフアジーループコン
トローラを持つコントロールループ、糸から収集した特
性の値に対する入力、クリアリングリミツトを決めるか
あるいはこれに影響を与えるための基準を入力するため
のユニツトとより構成される。コントロールループは複
数の糸の値に対する複数の入力から構成され、共通のク
リアリングリミツトを出力するための複数のヤーンクリ
アラと接続される。

【００１０】本発明で達成できる利点は、クリアリング
リミツトを形成するための広範囲の基準を考慮できるこ
とである。該基準は糸、即ち糸欠陥の密度又は糸パツケ
ージの形状などに関連づけられるし、あるいは糸が生産
されたか、巻き返される機械、即ちセンサ（光学式又は
静電容量式）に関連づけることもできる。更なる基準と
して、例えば糸欠陥が大きいほど小さいものよりはより
重大であるという事実、あるいはある１つの領域の特定
の欠陥はあるユーザにとつて極めて重大であると言つた
事実のような、一般的な品質への考慮を払うこともでき
る。まなクリアリングリミツトを糸欠陥を測定するのに
用いられる方法に適合させることも可能である。例えば
糸の静電容量式サンプリングでは極めて短い糸欠陥は完
全には検出できないが、光学的サンプリングでは極めて
短い糸欠陥もほとんど検出できると言つたことも考慮に
入れることが可能である。従つて光学的サンプリングを
用いてクリアリングされた糸は、静電容量的にサンプリ
ングされた糸よりもずつとスプライスやノツトが多くな
るのを防ぐこともできる。このシステムは、何等特殊な
入力をしないでも、又は最初標準の入力を基にしてで
も、あるいは適当な入力の結果として記述可能なすべて
の基準に従つて最適な方法ででも、何れの方法であつて
も自律的に作動させることができる。求められた糸欠陥
の値を基にした糸欠陥のモデリングの提案によつて、糸
欠陥の密度を代表するレリーフを作り、これによりクリ
アリングリミツトを決めるためのサンプル、即ち糸欠陥
の値の数量を減らすことができる。

【００１１】

【実施例】以下に添付の図と例を用いて本発明を詳細に
説明する。

【００１２】図１において、水平軸１はこれに沿つて糸
欠陥の最初の寸法、即ち最初のパラメータである長さが
記録されている。糸欠陥の第２の寸法、即ちパラメータ
として、糸の直径（又は質量）の平均直径（又は平均質
量）からの偏りは、平均直径（又は平均質量）に対する
パーセンテージで縦軸２にプロツトされている。上記２
つの軸１と２で定義された平面中にフイールド３、特に
フイールド３ａ，３ｂ，３ｃなどが示されている。これ
らは糸欠陥のクラスを定義するもので、これはスイス特
許第４７７５７３号明細書に記載されているようなタイ
プで、ＵＳＴＥＲ ＣＬＡＳＳＩＭＡＴと言う名前で一
般的に知られている。糸欠陥の測定の結果はこの平面
に、即ちフイールド３に十字＋の記号で示される。例え
ば４で示した＋は、欠陥の長さが約８ｃｍで、その太さ
あるいは質量は平均直径又は平均質量を４００％越えて
いることを示している。１つのクリアリングリミツトが
５で示されている。これはどの糸欠陥を糸から除去又は
カツトすべきか、どの糸欠陥は残すかを定義するもので
ある。こうして軸１とクリアリングリミツトの間にある
十字で示された糸欠陥はカツトされず、従つて糸のスプ
ライスやノツトにつながらない。第一近似的に、クリア
リングリミツト５は十字即ち糸欠陥の集積即ち雲状の部
分の周辺を通つていると言える。従つて糸欠陥の集積は
軸１とクリアリングリミツト５の間にあるようになつて
いる。

【００１３】図２は、本発明による方法又は糸をクリア
リングする装置のブロツク図を示す。装置は、好ましく
はフアジーループコントローラの形のループコントロー
ラ７と、個々のステツプ用の複数の処理ユニツト８，
９，１０、コントロールループ６、とから構成されてい
て、該処理ユニツトはループコントローラ７の一部と解
釈されてもよい。ここでは個々の機能即ち方法のステツ
プを極めて明確に示すためにユニツトは個々に記載し
た。処理ユニツト８は実際には複数のメモリー位置を持
つ記憶装置で、選択可能な糸長さ（例えば１００ｋｍ）
にわたつての糸欠陥のパラメータ（長さと直径又は質量
の偏り）をストアする。メモリーを持つ処理ユニツト８
は、測定した値に対する少なくとも１つの入力１１ａ，
１１ｂを持ち、この入力はそれぞれヤーンクリアラ３
２，３３につながれている。装置が多数のヤーンクリア
ラに対して働いているときは、対応して多数の入力１１
が設けられる。処理ユニツト９は、後に示すような方法
で個々の測定値を整えるのに用いられ、本質的にはプロ
セツサ又はコンピユータあるいはその一部から成る。処
理ユニツト１０は、同様にフイールド３ａ，３ｂ，３ｃ
など（図１）に対応する複数のメモリー位置を持つ記憶
装置から成る。ループコントローラ７はプロセツサ又は
コンピユータより成り、１つのクリアリングリミツト値
に対する出力１２を持ち、このループコントローラがフ
アジーループコントローラの形を取るときは、更に生産
性基準を入力するための入力１３、一般的な品質基準を
入力するための入力１４、糸に特定された基準を入れる
ための入力１５、装置に特定された基準を入れるための
入力１６、その他の特別な品質基準を入れるための入力
１７などを持つている。出力１２は処理ユニツト８につ
ながれ、フイールド３０で示されるクリアリングリミツ
トの値をユニツト８にストアし、他の目的のために表示
又は出力できるようにする。ループコントローラ７はま
た、出力１２でヤーンクリアラ３２，３３にも接続され
る。

【００１４】図３は、部分表面１９にプロツトされたモ
デル化した糸欠陥１８を示す。モデル化した糸欠陥は、
個々の測定値から糸欠陥を一部簡略化して再構成したも
のである。例えばガウスのベルとしてモデル化をする。
その最大点は通常の適当な十字、例えば図１の十字４が
分類フイールドに入るような点に設けられる。ベルの下
の容積は１と定義される。部分表面１９はここでは半径
又は直径の偏りがプロツトされる軸２０と、欠陥の長さ
がプロツトされる軸２１とで限界を定められている。糸
欠陥の高さ又は量は軸２２に沿つてプロツトされる。

【００１５】このような表現をする目的は、分類フイー
ルドにおける糸欠陥の重要性を正しく示し、これから導
かれる糸欠陥の密度の表現のような値をまちがつた結論
に導かぬようにするためである。危険なことは、後に使
用し処理するために糸欠陥を領域中の単なる点としてし
か解釈せず、その分類フイールドにおける環境への効果
を無視することである。特に次の２つの事実は考慮され
ねばならない。

【００１６】第１に、糸欠陥の値の収集は、例えば糸の
速度が一様ではないと言うような当該収集システムによ
つてもたらされる特別なトレランスで影響されることで
ある。同じ糸欠陥を二度目に測ると異なつた値を得るこ
とは良くあることであり、分類フイールドの異なつたク
ラスに分類されることすらある。一方、極めて多数の欠
陥を測ると、かかるトレランスの重要性は消滅する。従
つて糸欠陥のモデリングによつて糸欠陥を代表するレリ
ーフを得るのに必要な糸欠陥の測定数を減らすことがで
き、または単にクリアリングリミツトを決めるのに充分
な糸欠陥密度を得ることができる。該モデリングのおか
げで、比較的少ない糸欠陥の測定数で糸欠陥密度を代表
するレリーフが初期の段階で得られ、該レリーフから良
好なクリアリングリミツトが得られ、期待されるカツト
頻度についての信頼できる予測が引き出せる。従つて品
質及び／又は生産性に関して改善されたあるいは最適化
された生産の経過を実生産に入る前に確認することが可
能である。

【００１７】図４は、図１の平面３に従つて平面上にモ
デル化した糸欠陥をまとめたものを面２９として示した
ものである。該モデル化した糸欠陥は図３で既に述べた
ものと同じ軸上にプロツトされている。しかしここで図
３と異なるのは、モデル化した糸欠陥をトータルした複
数の部分表面１９が互いに隣接して記録されていて、個
々の部分表面１９のモデル化した測定値も互いに影響し
合つて、部分表面の境界の領域の間で流動的な移行が起
こつていることである。特に高い欠陥頻度を示す領域２
３、低い欠陥頻度の領域２４、そしてこれらに隣接する
重要でない頻度をもつ領域がよくわかる。

【００１８】図５は既に示した軸２０，２１，２２と同
じ軸上にプロツトした糸欠陥の重大性の程度を示す面２
５を示す。これから明らかなように、例えば長さが長く
質量又は直径偏りの大きい糸欠陥は重大な欠陥を意味
し、例えばある数値でその量を示すことができる。例え
ば領域２６ａ，２６ｂ，２６ｃなどは糸欠陥の重要さが
増す方向で定義される。該領域で表され数学的関数は、
例えば原点は軸２０と２１の交点にありｘの値は軸２０
に沿つてプロツトされ、ｙの値は軸２１に沿つてプロツ
トされるとすれば（又はその逆）ｚ＝ｘｙである。面２
５は従つて円錐表面の一部である。しかしこれに限ら
ず、ユーザの環境における重要さの程度を表す如何なる
希望する平面も定義することができる。

【００１９】本発明の作動の様式は次の通りである。ヤ
ーンクリアラ３２，３３においてヤーンセンサは糸欠陥
を検出するか、あるいはその測定値は例えば糸の直径か
質量に対応する。糸欠陥の予め選んだパラメータに従つ
て分類するため、（今の場合では太さの偏りと糸欠陥の
長さをパラメータとして選ぶ）、糸欠陥は公知の方法で
直径の平均値又は単位長さ当たりの糸の質量の平均値と
関連させられ、該基準で平均直径又は平均質量からの偏
りが計算される。ヤーンクリアラにおいては該測定値は
同様に公知の方法でかかる閾値から超過する（質量又は
直径の）偏りの長さを求めるのに用いられる。このよう
な相対偏りと長さの測定値は入方１１を介してコントロ
ールループ６に導入される。ここで該測定値は先ず処理
ユニツト８中に入りここにストアされる。このようにし
て予め選んだ糸長に対しての糸欠陥値は処理ユニツト８
にストアされ、十字４で示される糸欠陥が図１中に示さ
れるようなやり方で全分類フイールド中を占めるように
なる。このような操作は、糸で測定された値の分類はず
つと以前から行われた方式なので既に公知である。分述
べた操作は複数のヤーンクリアラからの複数の糸の測定
値に対しても有効である。これらの値はすべて入力１１
を介して処理ユニツト８に入力される。処理ユニツト８
からメモリーの内容、あるいは単に糸欠陥が処理ユニツ
ト９に読み込まれ、ここで糸欠陥は図３に示されたよう
にモデル化される。ここで図１のフイールド３ａ，３
ｂ，３ｃなどと言つた全ての分類フイールドは前もつて
ラスタによつて細かく分割されている。このラスタフイ
ールドは１つ又はそれ以上の部分表面１９より構成され
ていて、モデル化した糸欠陥は１つ又は多くのラスタフ
イールドに延びていることがある。ラスタは例えば５％
の増し分で軸２に沿つて分解し、軸１に沿つては１ｍｍ
の増し分で分解することもできる。ガウスのベルの広が
りも変化でき、複数のラスタフイールドにわたつて広が
つていることが有利である。ベルの容積が一定のため、
ベルの広がりが大きいほどその高さは低くなる。モデル
化する糸欠陥の、軸１と２の交点からの距離が大きいほ
どこれを表わすガウスベルは広がらねばならない。後に
ラスタフイールド中の密度を計算するためには、そのラ
スタフイールドの上に位置するガウスベルの部分の全て
の容積を加え合わせる。そして全分類フイールドについ
ての密度が同様にして計算され、図４に示されるような
面２９として表わされる。上記の操作の目的は、部分的
な糸欠陥密度を求めるとき、分離した個別的な値を取る
代わりに、ある領域を形成して、これより分類フイール
ドの各場所で糸欠陥の密度に関する１つの確実な指示を
得ることができるようにするためである。これは特に僅
かな糸欠陥しか予想されない場所にも適用される。

【００２０】上記と平行し、あるいはこれに先行して、
図５に示されているタイプの２５のような平面（これは
糸欠陥の重大さの程度を表している）が処理ユニツト１
０にロードされている。ループコントローラ７において
は、糸欠陥密度の新しく提供された値と予め選択された
基準との間の比較が行われる。処理ユニツト９，１０及
びコンピユータ７中の上記の操作は全て純粋に計算機レ
ベルで行われる。即ち図３から図５に示した表現は、よ
り明確にする目的のためだけと理解されるべきである。
面２５で示されるような許容できる重大さの程度との比
較と、面２９（図４）で表わされるようなモデル化した
糸欠陥あるいは糸欠陥密度との比較とによつて、図４に
示された糸欠陥の中のどれが受入れられないものなの
か、また受入れられるものなのかを決めることができ
る。かかる比較は、ループコントローラ７即ちフアジー
ループコントローラで行われ、従つてここでは公知の第
１法則が考慮される。それはおおよそ次のようなもので
ある。糸欠陥の質量と長さの積が大きいほど、その糸欠
陥の重大性はより大きくなる。この法則は図５による表
現で詳細に表わされている。最も簡単な場合では、最初
のクリアリングリミツトは、図４でモデル化した糸欠陥
の和で表わされた面を持つ、図５の面２５でカツトする
ことで得られる。けれども糸を連続的に測定していると
きは、上記の和は同様に連続的に変化する平面を形成す
るが、面２５はずつと一定のままであるので、カツトラ
イン、即ちクリアリングリミツトを変化した条件に自動
的に適合させ、ループコントローラ７は出力１２を介し
て適合するクリアリングリミツトの値を出力する。これ
は定期的にも、連続的にも、あるいは外部から起こさせ
る方法の何れででも行える。他の適用などに見られる普
通のループコントローラ７でもこの目的には充分であ
る。クリアリングリミツトの特性は図４において３１で
示されている。

【００２１】しかしこの場合、クリアリングリミツトは
全ての場合に対して最適であるとは言えない。そのため
更なる基準を考慮に入れることが可能である。その基準
とは、例えば生産性の基準では、これは入力１３を介し
てループコントローラ７に入力される。このような基準
には、例えば糸のｋｍ当たりに許容されるカツト数があ
る。この基準によつてクリアリングリミツトは全体に、
あるいは個々の領域においてシフトされる。処理ユニツ
ト８から実際のクリアリングリミツト５で予め選んだ糸
の長さに対して行われたカツト（図１のクリアリングリ
ミツト５の外側にある十字の数）がわかり、この数はク
リアリングリミツトの位置を変えることで変化する。一
般的な品質基準は入力１４を介して入力される。例えば
クリアリングリミツトは分類フイールド中の比較的高い
糸欠陥密度を持つ領域の周りを通るようにするのが一般
的な法則と解釈できるだろう。そのような領域は、処理
ユニツト１０から糸欠陥密度の指示を得て、この密度を
入力された設定点と比較すればフアジーループコントロ
ーラで識別することができる。糸に特定の基準、例えば
糸の特性にクリアリングを合わせると言つた基準は入力
１５を介して入力できる。１つの基準として、例えば糸
パツケージの周りに、この中では欠陥は無視できるよう
なゾーンを定義し、糸のパツケージからの距離を入力す
ることもできる。装置に特定される基準も入力１６から
入れることができる。ここでは各種のクリアラシステム
（光学式、静電容量式）からの測定値の比較性も導入で
きる。例えば一般的に静電容量的に求めた測定値は短い
糸欠陥に対してはより大きく重みづけし、一方光学的に
求めた測定値は長い糸欠陥ではより大きな重みづけをす
ると規定することもできる。あるいは工程に特定される
系統立つた糸欠陥は特別に除去したり、あるいは全然除
去しないようにも規定することができる。更に特別な品
質基準を入力１７から入れることもできる。例えば特殊
な出来事を示すような糸欠陥の特別な分布なども入力で
きる。測定値にそのような分布が発生したらフアジール
ープコントローラ７中で比較され、自動的にこれを補償
したり、あるいはアラームをトリガーしたりすることが
できる。上記のこれらのデータによつてクリアリングリ
ミツト５の特性は変化し、最適化される。即ちここでは
これらの基準は、糸欠陥密度に関連する設定点の入力に
変換され、上記設定点入力は糸欠陥密度の実際の部分部
分の値と比較される。最適化されたクリアリングリミツ
トは自動的に決められ、自動的に調整され、自動的にヤ
ーンヤーンにロードされることによつて修正される。

【００２２】以上においては、本発明の糸の特性とし
て、例えば太さ又は質量の偏りと該偏りの長さを用いて
説明したが、これに限られるものではなく、同様に糸の
他の、例えば色、構造（毛羽、撚）、周期的な直径変動
と言つた特性についても実現することができる。したが
つて異繊維、異物、毛羽などの糸欠陥に対するクリアリ
ングリミツトも設定し調節することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】分類フイールドにおけるクリアリングリミツト
を示す図。

【図２】本発明による装置のブロツクダイアグラムを示
す図。

【図３】モデル化した糸欠陥の図式表示を示す図。

【図４】糸欠陥密度のレリーフを示す図。

【図５】糸欠陥を評価するための基準の図式表現を示す
図。

【符号の説明】

１ 水平軸 ２ 縦軸 ３ フイールド ３ａ フイールド ３ｂ フイールド ３ｃ フイールド ４ 十字 ５ クリアリングリミツト

Claims (10)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 糸の特性を求め除去すべき糸欠陥を調節
   できるクリアリングリミツト（５）で定義するものにお
   いて、クリアリングリミツトは収集した特性を基に自動
   的に決められることを特徴とする、糸をクリアリングす
   るための方法。
2. 【請求項２】 クリアリングリミツトは自動的に調節さ
   れ修正されることを特徴とする、請求項１に記載の方
   法。
3. 【請求項３】 クリアリングリミツトはフアジー論理で
   決められることを特徴とする、請求項１に記載の方法。
4. 【請求項４】 測定することが困難であり、クリアリン
   グリミツトとは明確な数学的関係を持たせることができ
   ないような基準を同時に考慮してクリアリングリミツト
   を決める如くしたことを特徴とする、請求項１に記載の
   方法。
5. 【請求項５】 糸欠陥の測定値を糸から求め、選んだパ
   ラメータに従つて分類し、糸欠陥について予め選んだ仮
   定に従つてモデル化し、モデル化した糸欠陥（１８）か
   ら分類フイールドにわたつての糸欠陥密度を表す１つの
   面（２９）を求める如くしたことを特徴とする、請求項
   １に記載の方法。
6. 【請求項６】 密度の分布から導出された基準と、許容
   できる欠陥に関する入力設定点とでクリアリングリミツ
   トを求める如くしたことを特徴とする、請求項５に記載
   の方法。
7. 【請求項７】 ループコントローラ（７）を持ち、糸か
   ら求められた特性の値に対する入力（１１）を持つコン
   トロールループ（６）を特徴とする、請求項１に記載の
   方法を実施するための装置。
8. 【請求項８】 コントロールループは複数の糸の値に対
   する複数の入力（１１）より成ることを特徴とする、請
   求項７に記載の装置。
9. 【請求項９】 装置は複数のヤーンクリアラ（３２，３
   ３）に対する入力（１１）で共通クリアリングリミツト
   を出力するためにつながれたことを特徴とする、請求項
   ７に記載の装置。
10. 【請求項１０】 ループコントローラはフアジーループ
    コントローラの形をとり，後者はクリアリングリミツト
    を決めるための基準を入力するためのユニツト（１３，
    １４，１５，１６，１７）を設けられたことを特徴とす
    る、請求項７に記載の装置。