JPH06173157A

JPH06173157A - トップの清潔度検査装置

Info

Publication number: JPH06173157A
Application number: JP28086892A
Authority: JP
Inventors: Noriyuki Nishi; 規之西
Original assignee: Kanebo Ltd
Current assignee: Kanebo Ltd
Priority date: 1992-09-26
Filing date: 1992-09-26
Publication date: 1994-06-21
Anticipated expiration: 2012-09-10
Also published as: JP2653029B2

Abstract

(57)【要約】【目的】繊維束の清潔度を高精度かつ安定的に自動検
査できる装置を提供する。【構成】トップを拡げスライバ状にして送り出すドラ
フト機構（３ａ）及び上下に並設した一対のガイドロー
ラ（３ｂ）からなるドラフト搬送装置（３）を設ける。
搬送されるスライバを透過照明する照明装置（４）をド
ラフト機構（３ａ），ガイドローラ（３ｂ）間に設け
る。スライバを狭み照明装置（４）に対向する位置にイ
メージセンサ（５）を設ける。スライバに帯電した静電
気を除去する静電気除去装置（６）をガイドローラ（３
ｂ）近傍に設ける。イメージセンサ（５）からの画像信
号を処理する画像処理装置（８）を設ける。玉巻き状の
トップを解舒してドラフト機構（３ａ）に供給する供給
機構（１）をドラフト機構（３ａ）の前部に設ける。供
給されるトップに振動を与える振動付与機構（２）を供
給機構（１），ドラフト機構（３ａ）間に設ける。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、羊毛や綿などの天然繊
維のトップの清潔度をイメ−ジセンサを用いて自動的に
検査する装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】羊毛トップの清潔度はJIS L 1083の5.6
（ネップ数）、5.7 （植物質夾雑物数）等に記載の方法
に基づいて測定され、サンプリングしたトップの一定重
量あたりに含まれる項目別の欠点の個数で表示される。

【０００３】かかる検査にはギルボックスで引き揃えた
り、薄く拡げたりして形成したスライバを検査台上に置
き、下方からこれに透過光を照射して検査員が肉眼でス
ライバに含まれるネップや夾雑物の数を計数する方法、
トップをイメ−ジセンサで撮像して得た画像信号から欠
点を分類、計数する方法（特願昭 62-303563号等に記
載）等がある。

【０００４】このトップをイメージセンサで撮像して得
た画像信号から欠点を分類、計数する装置は、ドラフト
機構によりトップをほぼ均一に拡げスライバ状にして送
り出し、このスライバを透過照明した画像を画像処理装
置に連続的に取り込み、トップ中に混入した欠点を光の
透過量の差、形状および大きさの特徴により検出、あら
かじめ設定した各特徴量のしきい値、またはファジィ推
論を用いて分類し、欠点を種類別に計数するというもの
である。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】ところが、肉眼による
計数検査では検査員間のばらつきが大きい、疲労等によ
り検査精度が変動するといった問題があり、一定基準で
の検査が不可能であった。また、上記のイメ−ジセンサ
で撮像して得た画像信号から欠点を分類、計数する方法
では、スライバを透過する光の量で、スライバと不純物
・欠点の分離、欠点の種類別の分類を行うため、光の透
過が均一でなければ、安定した精度のよい測定はできな
い。この光の透過状態はスライバの厚さに起因するた
め、ドラフト機構によって薄く拡げられるスライバの厚
さを安定化しなければならない。しかるに、スライバの
厚さはドラフト機構に供給されるトップのねじれの状態
により変動する。従って、トップをねじれのない状態で
ドラフト機構に供給しなければならない。しかし、トッ
プには、繊維の開繊を抑えてトップどおしが接触しても
繊維が絡み合わないように、生産工程においてゆるく撚
りがかけられており、また、円筒形に巻き上げられた玉
巻き状のトップは巻き上げ時と逆の動作で解舒しなけれ
ばスライバに撚りが加わるため、前記ドラフト機構から
送出したスライバの厚さが変動し、安定した清潔度の測
定は望めなかった。

【０００６】本発明は以上の実情を鑑みなされたもので
あって、トップの清潔度を高精度かつ安定的に自動検査
できる装置の提供することを目的とする。

【０００７】

【発明を解決するための手段】トップを拡げスライバ状
にして送り出すドラフト機構及び上下に並設した一対の
ガイドロ−ラからなるドラフト搬送装置と、前記ドラフ
ト機構、ガイドロ−ラ間に設けられ、搬送される前記ス
ライバを透過照明する照明装置と、前記スライバを挟み
前記照明装置に対向する位置に配設され、搬送されるス
ライバを撮像するイメ−ジセンサと、前記ガイドロ−ラ
近傍に設けられ、スライバに帯電した静電気を除去する
静電気除去装置と、前記イメ−ジセンサからの画像信号
を処理する画像処理装置とから構成される装置におい
て、玉巻き状のトップを解舒して前記ドラフト機構に供
給する供給機構を前記ドラフト機構の前部に配設すると
ともに、供給されるトップに振動を与える振動付与機構
を前記供給機構、前記ドラフト機構間に配設したことを
要旨とする。

【０００８】

【作用】以下、本発明の作用について説明する。玉巻き
状のトップを解舒し、ドラフト機構に供給されるまでに
強制的に振動を加えてトップの撚りをとり、トップをね
じれのない状態でドラフト機構に供給する。そして、ね
じれのないトップをドラフト機構でドラフトし、均一度
高く、薄く拡げて搬送し、透過照明で欠点を強調した画
像をイメ−ジセンサで撮像する。この画像デ−タを画像
処理装置で連続的に処理し、トップ中に混入する欠点の
検出、項目別の分類、計数を行う。

【０００９】

【実施例】以下、本発明の一実施例を添付図面に基づい
て説明する。図１は本発明の実施例の概略を示す説明図
である。同図に示すように、この装置は、トップ供給機
構（１）と、振動付与機構（２）、ドラフト機構（３
ａ）及びガイドロ−ラ（３ｂ）（３ｂ）からなるドラフ
ト搬送機構（３）と、照明装置（４）と、イメ−ジセン
サ（５）と、静電気除去装置（６）と、画像処理装置
（７）と、操作タ−ミナル（８）とからなる装置であ
る。

【００１０】前記トップ供給機構（１）は、水平に並設
した２個１対のロ−ラ（９ａ）（９ｂ）と、このロ−ラ
（９ａ）（９ｂ）を矢示Ａ方向に回転させる駆動部（図
示せず）からなるものであり、ロ−ラ（９ａ）（９ｂ）
上に玉巻き状のトップ（１０）を載置し、ロ−ラ（９
ａ）（９ｂ）を矢示Ａ方向に回転させることによって玉
巻き状のトップ（１０）を解舒する。また、このトップ
を解舒する速度は後述のドラフト機構（３ａ）に送り込
まれるトップの速度と一致している。

【００１１】尚、前記玉巻き状のトップ（１０）とは、
軸棒にロ−プ状の繊維束を螺旋状に巻き付けて円筒状に
形成したものをいう。

【００１２】かくして、図２に示す如く、トップ（１
０）は外周方向に解舒されるのでトップに撚りが付与さ
れるのを防止することができる。

【００１３】前記振動付与機構（２）は、図３に示すよ
うに、第一軸（１２ａ）、この第一軸の端部に、これに
対し直角に固着した第２軸（１２ｂ）からなるＬ字状の
駆動子（１２）と、この駆動子（１２）を矢示Ｂ方向に
回転させる駆動モ−タ（１３）とから構成されるもので
ある。そして、この振動付与機構（２）を前記トップ供
給機構（１）と前記ドラフト機構（３ａ）との間に配設
している。かくして、図３に示す如く、前記駆動子（１
２）の回転途中で、前記トップ供給機構（１）から前記
ドラフト機構（３ａ）に供給されるトップ（１４）に第
一軸（１２ａ）が接触し、トップ（１４）は矢示Ｃ方向
に振動せしめられる。この振動によって、トップに付与
された撚りが解れる。

【００１４】前記ドラフト搬送装置（３）は図１に示す
ように、ドラフト機構（３ａ）及び上下に並設した二個
一対のガイドロ−ラ（３ｂ）（３ｂ）からなる。そし
て、このドラフト機構（３ａ）は、繊維束状のトップを
薄く均一に拡げスライバ状にして連続的に送り出せるも
のであれば、どのような機構のものでもよいが、一般的
には、ギル機構が好適である。

【００１５】前記照明装置（４）は、前記ドラフト機構
（３ａ）とガイドロ−ラ（３ｂ）（３ｂ）との間の検査
エリアの下側に設置され、搬送されるスライバを透過照
明するものであり、照明面が一定の照度で均一なもので
あればどのようなものでもよい。

【００１６】前記イメ−ジセンサ（５）は、公知のＣＣ
Ｄシャッタカメラであり、前記照明装置（４）の上方に
設置される。

【００１７】前記静電気除去装置（６）は、ガイドロ−
ラ（３ｂ）（３ｂ）に対向するように取り付けられた棒
体であり、この棒体に高電圧を印加して針先端よりコロ
ナ放電を行わせ、周囲の空気をイオン化して帯電体の電
荷を非接触で除去するものである。

【００１８】前記画像処理装置（８）は、イメ−ジセン
サ（５）により撮像されたスライバの画像を取り込み、
所定の特徴量の抽出処理を行い、この抽出デ−タに基づ
きトップに含まれている欠点の検出を行い、その結果を
プリンタ等に出力するものである。図４は画像処理装置
（８）のより詳細な構成を例示している。同図に示す如
く、画像処理装置（８）は、画像入力部（１５）、フレ
−ムメモリ（１６）、デ−タ処理部（１７）、メモリ
（１８）、外部記憶装置（１９）および試験成績表印字
機構（２０）とからなる。

【００１９】図５はイメ−ジセンサ（５）により撮像さ
れる画像を示しており、照明装置（４）からの透過光に
よりスライバ中の不純物および欠点はその種類に応じて
濃淡のある黒い輪郭となってイメ−ジセンサ（５）に補
足される。撮像した濃淡画像は図６に示す画像信号ｓに
変換されて画像処理装置（８）に送られる。図５に示す
画像信号は、同図における濃淡画像のうちＡ線状を撮像
したものである。画像処理装置（８）においては、画像
信号ｓをＡ／Ｄ変換器により１画素に濃度を持った形で
の多値画像信号Ｓａに変換し（図７）、これをフレ−ム
メモリに記憶する。ついで、デ−タ処理部（１７）は、
あらかじめ設定された２値化レベルと多値画像信号Ｓａ
との比較を行い、図８に示すような２値化画像を作成す
る。したがって、スライバの厚さが変動すると、スライ
バの厚い部分は光の透過量が少なくなるため、欠点の存
在しない部分も２値化により欠点らしきものとして検出
されてしまう。

【００２０】ついで、図９（Ａ）に示すような２値化画
像（１，０は図形の持つ値である）に対してスライバの
不純物・欠点の個々の領域の特徴を捕らえるための前処
理、すなわちラベリングを行い、図９（Ｂ）に示すよう
な番号付けを行う。番号付けされた個々の領域について
特徴量の演算処理を行い、その結果をメモリ（１８）に
格納する。この特徴量に基づき清潔度の分類を行うので
ある。

【００２１】図１０は清潔度識別操作を示しており、特
徴量をメモリ（１８）から読み込み、清潔度分類を行
い、清潔度分類処理後、清潔度の格付け処理を行い、そ
の結果を成績表に印字する。一方、清潔度分類処理が終
了していない場合は、再びもとの特徴量の読み込みを行
い、以下同様にして清潔度分類処理を行う。前記清潔度
分類処理は、図１１に示すように、メモリ（１８）に格
納されている特徴量を用いて欠点の項目別分類を行うも
のである。

【００２２】分類の第一段階は、毛玉系欠点（スラブ、
ネップ、ピンポイント、円形トレフォイルバ−）と植物
系欠点（夾雑物、バ−）とを識別するものである。これ
には、特徴量として円形度と細長度を使用する。すなわ
ち、図１２（Ａ）および（Ｂ）に示すように、毛玉系欠
点（２１）は形状が円形に近いという特徴と植物系欠点
（２２）は形状が細長いという特徴に着目し、円形度と
細長度によって毛玉系欠点と植物系欠点を識別するもの
である。

【００２３】円形度および細長度は次式によって求めら
れ、これをあらかじめ設定した基準値と比較して分類す
る。円形度＝４π×（１画素の面積）×（画素総数）／（周
囲長）² 細長度＝（１画素の面積）×（画素総数）／〔（Ｘ軸へ
の射影長さ）²＋（Ｙ軸への射影長さ）²〕

【００２４】毛玉（スラブ、ネップ、ピンポイント）と
円形トレフォイルバ−との識別はこれらの間では光の透
過量が異なることを利用して階調識別および分散識別に
より行う。すなわち、次式により階調、分散が求めら
れ、これをあらかじめ設定した基準値と比較して分類す
る。

【００２５】尚、階調をＸ_m、分散をσ²、画素総数を
ｎ、画素ｉの濃度レベルをＸｉとする。Ｘ_m＝ΣＸｉ／ｎ σ²＝（１／ｎ）ΣＸｉ²− Ｘ_m ²

【００２６】しかし、スライバの厚さが変動すると、ス
ライバの厚い部分に欠点が存在した場合、光の透過量が
欠点自体の透過量より少なくなってしまうため、正確に
分類することができない。本発明では、供給機構（１）
と振動付与機構（２）により、トップがねじれた状態で
ドラフトされることを防止し、スライバの厚さ変動を抑
えている。

【００２７】毛玉系欠点はその大きさに応じてスラブ、
ネップ、ピンポイントに分類される。したがって、面積
によりその分類を行う。面積は次式により求められる。面積＝（１画素の面積）×（画素総数）得られた面積値をあらかじめ設定した基準値と比較して
大きいものから順にスラブ、ネップ、ピンポイントと分
類する。

【００２８】また、植物系欠点はその形状識別にて夾雑
物・バ−とトレフォイルバ−とに分類される。すなわ
ち、形状値は次式によって求められる。形状値＝（周囲長）／〔（Ｘ軸への射影長さ）²＋（Ｙ
軸への射影長さ）²〕^1/2 図１３は夾雑物欠点（２３）を示しており、このものは
周囲長が約57で、かつＸ軸への射影長さｅが20、Ｙ軸へ
の射影長さｆが20とすると、形状値は上記式から57／
（20²＋20²）^1/2により、約２となる。一方、図１４
はトレフォイルバ−欠点（２４）を示しており、このも
のは周囲長が約97で、かつＸ軸への射影長さｅが20、Ｙ
軸への射影長さｆが15とすると、形状値は上記式から97
／（20²＋15²）^1/2により約４となる。したがって、
これらの数値をあらかじめ設定した基準値と比較して夾
雑物とトレフォイルバ−とを識別分類する。

【００２９】夾雑物とバ−とは測長識別によって分類さ
れる。測長値は次式によって求められる。測長値＝〔（Ｘ軸への射影長さ）²＋（Ｙ軸への射影長
さ）²〕^1/2 ちなみに、図１３に示す夾雑物欠点（２３）では、測長
値は上記式から（20²＋20²）^1/2により約28となる。
これを基準値と比較して識別分類する。前記トレフォイ
ルバ−は、最終的にバ−の分類に加えられる。

【００３０】これらの各分類結果から、清潔度の格付け
処理が行われ、トップの品質基準とされる。この品質基
準は後工程である糸加工における加工デ−タ、トップ生
産工程における機台調整デ−タとして活用される。

【００３１】つぎに、上記欠点の分類をファジィ推論に
よって行う方法について説明する。まず、欠点の特徴
量、すなわち円形度、細長度、面積値、形状値、階調
値、分散値等に対して、それぞれ「大きい」、「中ぐら
い」、「小さい」というような言語に対する範囲、およ
び各欠点である可能性が「高い」、「普通」、「低い」
というような言語に対する範囲をメンバ−シップ関数を
定義することにより設定する。この定義は、例えば熟練
者の判断に基づいて設定すればよい。つぎに、上記「大
きい」、「小さい」等の言語に対する範囲を用い、特徴
量の範囲の組み合わせと特定の欠点である可能性との関
係、すなわち「〜が〜ならば」という条件部と「〜の可
能性が〜」という結論部の関係を表すファジィル−ルを
定義する。下表に示す表１はこれらメンバ−シップ関数
とファジィル−ルの定義を表すもので、例えば円形度が
大きく、細長度が大きく、面積値が大きく、階調値が中
以上であれば、当該欠点はスラブである可能性が高く、
ピンポイント（P.P.）およびノイズである可能性は低
い。この欠点がネップ、トレフォイルバ−、バ−である
可能性は高くも低くもなく「普通」である。このよう
に、同表の左欄の条件部に対し右欄の結論部が得られ
る。

【００３２】

【表１】

【００３３】つぎに、上記メンバシップ関数とファジィ
ル−ルを用いてファジィ推論を行う手順について述べれ
ば、まず１つの欠点の各特徴量に対して、入力デ−タを
換算した後、上記「大きい」、「中ぐらい」、「小さ
い」等の言語に対する適合度をメンバシップ関数より求
める。欠点の特徴量のうち「円形度」は対象となる形状
が円に近いほど１に近づくもので、前述のごとく毛玉系
欠点は植物系欠点に比べ形状が円形に近いことから両欠
点の差異を円形度で表すことができる。この円形度の範
囲は０〜１であり、この範囲を０〜 100（％）に換算す
る。「細長度」は対象となる形が細長いほど０に近づく
もので、植物系欠点は毛玉系欠点に比べ形状が細長いこ
とから両者の差異を表すことができる。この細長度の範
囲は０〜0.5 であり、これを０〜 100（％）に換算す
る。「階調値」は対象の濃度の平均値であり、毛玉系欠
点は植物系に比べ光の透過量が多く、濃度レベルの高い
画像となる。階調値の範囲は145 〜170 であり、同様に
０〜 100（％）に換算する。「分散値」は対象の濃度の
ばらつきを表し、植物とスライバの光の透過量が異なる
ため、濃度レベルの分散の大きさからトレフォイルバ−
にスライバがからみついている場合等におけるトレフォ
イルバ−の分類精度を上げることができる。分散値の範
囲は０〜25であり、同様に０〜 100（％）に換算する。
「形状値」は対象形状が複雑になるほど大きな値となる
もので、トレフォイルバ−は夾雑物、バ−に比べ形状が
複雑であるため、これを用いてトレフォイルバ−と夾雑
物、バ−との差異を表すことができる。形状値の範囲は
０〜５であり、同様に０〜 100（％）に換算する。「面
積値」は対象の面積であり、ピンポイント（P.P.）、ネ
ップ、スラブは大きさで分類されるので、面積値でこれ
らの差異を表すことができる。面積値の範囲は０〜 500
であり、同様に０〜 100（％）に換算する。「測長値」
は対象の長さであり、バ−（10mm以上）と夾雑物（ 3mm
以上、10mm未満）を分類することができる。測長値の範
囲は０〜10であり、０〜 100（％）に換算する。

【００３４】図１５乃至図２１はそれぞれ「円形度」、
「細長度」、「面積値」、「形状値」、「階調値」、
「測長値」、「分散値」のメンバ−シップ関数（ＭＦ）
を図示したもので、図中のラベルで「ＰＳ」は「小さ
い」を、「ＰＢ」は「大きい」を、「ＶＳ」は「とても
小」を、「ＶＢ」は「とても大」をそれぞれ表す。「階
調値」における「ＰＭ＜」は「中以上」を表す。

【００３５】また、図２２乃至図２９は欠点である「ス
ラブ」、「ネップ」、「Ｐ．Ｐ．」、「ノイズ（毛玉
系）」、「トレフォイルバ−」、「バ−」、「夾雑
物」、「ノイズ（植物系）」のメンバ−シップ関数を図
示したもので、可能性を表すラベル「ＰＳ」は「低い」
を、「ＰＭ」は「普通」を、「ＰＢ」は「高い」を表
す。

【００３６】画像処理信号から上記「円形度」等の入力
デ−タを得たら、上記入力デ−タの換算値を用いて各入
力値における「大きい」、「中ぐらい」、「小さい」等
の言語に対する適合度を算出する。例えば、ある欠点
（バ−）の入力デ−タ中「測長値」の入力値が9.54、そ
の換算値が95.4の場合は、測長値のメンバ−シップ関数
を表す図３０に示すように折れ線ＰＢ、ＰＭ、ＰＳに対
する95.4の縦線の交点の縦座標から、「大きい」に対す
る適合度が8.11、「中ぐらい」が0.73、「小さい」が０
（ＰＳの交点はない）が求められる。同様にして他の特
徴量の適合度を求めることができる。例えば、測長値が
上記のように9.54、円形度0.24、細長度0.09、面積値32
6.00、形状値2.19、階調値135.10の欠点について各言語
に対する適合度を求めた例を下表、表２に示す。

【００３７】

【表２】

【００３８】つぎに、上記のようにして得られた特徴量
の言語に対する適合度を用いて各ル−ルに対する適合度
を求める。例えば、第１表におけるル−ルNo.11 に対す
る適合度は下表、表３に示す通りである。すなわち、こ
の表に示すように、ル−ルの結論部（第１結論から第７
結論）の適合度を条件部（左欄）における適合度の最小
値とする。この場合6.24である。

【００３９】

【表３】

【００４０】全ル−ルの適合度を上記のようにして求め
たら、この適合度を用いて該当する結論部のメンバ−シ
ップ関数の「あたま切り演算（min 演算）」を行い、し
かるのち各欠点についてその可能性が「高い」、「普
通」、「低い」等の重ね合わせ演算（max 演算）を行
う。例えば、第５結論の欠点「バ−」についてみると、
上記全ル−ルの結論部の適合度、演算結果から、ＰＢは
ル−ルNo.11 の適合度6.24により、ＰＭはル−ルNo.12
の適合度0.73により、ＰＳはル−ルNo.10 の適合度4.76
によりそれぞれあたま切りされ、これらを合成すると図
３１（ａ）のようになる。同様に欠点「夾雑物」につい
ては同図（ｂ）、欠点「植物系ノイズ」については同図
（ｃ）に示すようになる。

【００４１】このような重ね合わせ（max 演算）を行っ
たら、得られたメンバ−シップ関数を用いて確定値演算
を行って、欠点の可能性の確定値を算出する。この演算
法としては、「重心法」、「中央法」、「高さ法」、
「面積法」等があり、これらのうちの１つ以上を用いて
演算を行う。前記「バ−」、「夾雑物」、「植物系ノイ
ズ」の可能性出力値（確定値）を重心法で求めると、
「バ−」は53.4、「夾雑物」は38.6、「植物系ノイズ」
は30.5となる。したがって、この欠点は「バ−」である
と結論される。確定値演算の結果、２つの欠点について
等しい値が得られた場合は、異なる３つの方法で確定値
を求め、多数決で決定すればよい。以上に述べたファジ
ィ推論を用いる分類法で実際にトップの清潔度検査を行
った結果を下表、表４に示す。同表には従来の方法によ
る検査結果が併記されている。同表からわかるとおり、
欠点検出率では大差ないが、欠点識別率ではファジィ推
論法により正答率が大幅に改善されている。

【００４２】

【表４】

【００４３】

【発明の効果】以上のように、イメ−ジセンサで撮像し
て得た画像信号から欠点を分類、計数する方法を用いた
トップの清潔度検査装置において、玉巻き状のトップを
回転させ解き、ねじれが加わらないようにドラフト機構
に供給する機構とトップがドラフト機構に入る前に強制
的にトップに振動を与え、ねじれをとる振動付与機構を
備えたことにより、トップがねじれた状態でドラフトさ
れることがなくなり、スライバの厚さ変動がなくなり、
高精度で安定した欠点の検出が可能となり、清潔度検査
精度が向上した。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施例の構成を示す説明図である。

【図２】トップ供給についての説明図である。

【図３】振動付与機構の実施例を示す説明図である。

【図４】画像処理装置の構成を示す説明図である。

【図５〜図９】画像処理方法を示す説明図である。

【図１０】画像処理の流れを示すフロ−チャ−トであ
る。

【図１１】清潔度分類の流れを示すフロ−チャ−トであ
る。

【図１２〜図１４】特徴量の測定方法を説明するための
各欠点の説明図である。

【図１５〜図２１】各特徴量のメンバ−シップ関数を表
すグラフである。

【図２２〜図２９】各欠点のメンバ−シップ関数を表す
グラフである。

【図３０】特徴量に対する適合度の求め方の説明図であ
る。

【図３１】重ね合わせ法の説明図である。

【符号の説明】

１トップ供給機構２振動付与機構３ドラフト搬送装置４照明装置５イメ−ジセンサ

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】トップを拡げスライバ状にして送り出す
ドラフト機構及び上下に並設した一対のガイドロ−ラか
らなるドラフト搬送装置と、前記ドラフト機構、ガイド
ロ−ラ間に設けられ、搬送される前記スライバを透過照
明する照明装置と、前記スライバを挟み前記照明装置に
対向する位置に配設され、搬送されるスライバを撮像す
るイメ−ジセンサと、前記ガイドロ−ラ近傍に設けら
れ、スライバに帯電した静電気を除去する静電気除去装
置と、前記イメ−ジセンサからの画像信号を処理する画
像処理装置とから構成される装置において、玉巻き状の
トップを解舒して前記ドラフト機構に供給する供給機構
を前記ドラフト機構の前部に配設するとともに、供給さ
れるトップに振動を与える振動付与機構を前記供給機
構、前記ドラフト機構間に配設したことを特徴とするト
ップの清潔度検査装置。