JPH04218712A - 糸の品質を査定する方法及びこの方法を実施するための装置 - Google Patents
糸の品質を査定する方法及びこの方法を実施するための装置Info
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- JPH04218712A JPH04218712A JP3082081A JP8208191A JPH04218712A JP H04218712 A JPH04218712 A JP H04218712A JP 3082081 A JP3082081 A JP 3082081A JP 8208191 A JP8208191 A JP 8208191A JP H04218712 A JPH04218712 A JP H04218712A
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 claims description 3
- 239000012535 impurity Substances 0.000 claims description 2
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- 230000000630 rising effect Effects 0.000 claims 1
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
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- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
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- G01N33/365—Filiform textiles, e.g. yarns
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は，糸クリアリングシステ
ムのクリアリングリミツトを確立する目的をもつて，糸
の欠陥を求め，欠陥を分類し，計数することによつて糸
の品質を査定する方法に関する。
ムのクリアリングリミツトを確立する目的をもつて，糸
の欠陥を求め，欠陥を分類し，計数することによつて糸
の品質を査定する方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】この形の方法として，公知のウスターク
ラシマツト（ＵＳＴＥＲＣＬＡＳＳＩＭＡＴ）（ＵＳＴ
ＥＲは出願人ツエルヴエーゲル・ウステル社の登録商標
）糸欠陥分類システムにおいては，糸の欠陥はその長さ
と断面太さによつて，短い太い欠陥，ダブルスレツド，
長い太い欠陥及び長い細い欠陥に対して計２３のクラス
に分類される。ウスターコレレータと呼ばれる一種の定
規を用いて，クリアリングのパラメータ（参照長さと感
度）が，ユーザの要求を考慮してＣＬＡＳＳＩＭＡＴの
結果から求められる。対応する欠陥断面太さに対する値
（＝感度）と，参照長さ，即ちこの長さにわたつて欠陥
の断面太さの平均が求められる参照長さとが，ヤーンク
リアラに設定される。この方法は一般に普及し，実際上
価値あるものと判つているが，この定規の取扱は，今日
の観点からすれば扱いにくいものとなつている。
ラシマツト（ＵＳＴＥＲＣＬＡＳＳＩＭＡＴ）（ＵＳＴ
ＥＲは出願人ツエルヴエーゲル・ウステル社の登録商標
）糸欠陥分類システムにおいては，糸の欠陥はその長さ
と断面太さによつて，短い太い欠陥，ダブルスレツド，
長い太い欠陥及び長い細い欠陥に対して計２３のクラス
に分類される。ウスターコレレータと呼ばれる一種の定
規を用いて，クリアリングのパラメータ（参照長さと感
度）が，ユーザの要求を考慮してＣＬＡＳＳＩＭＡＴの
結果から求められる。対応する欠陥断面太さに対する値
（＝感度）と，参照長さ，即ちこの長さにわたつて欠陥
の断面太さの平均が求められる参照長さとが，ヤーンク
リアラに設定される。この方法は一般に普及し，実際上
価値あるものと判つているが，この定規の取扱は，今日
の観点からすれば扱いにくいものとなつている。
【０００３】もちろんクリアリングされた糸でも欠陥が
含まれている。詳しくはクリアラの設定からは許容され
るものとして分類されるものである。従つてこれらはク
リアリングされず，糸中に残されている欠陥に関して見
れば，既にクリアリングされたパツケージ間に品質上の
差があることになる。しかしその様な品質の差は他のパ
ラメータ，例えばスプライスやノツトの数，あるいは糸
むらの変動計数（ＣＶ％）と言つたものに関しても存在
する。更にＵＳＴＥＲ ＣＬＡＳＳＩＭＡＴに用いら
れている糸欠陥クラスに関しても差がある。
含まれている。詳しくはクリアラの設定からは許容され
るものとして分類されるものである。従つてこれらはク
リアリングされず，糸中に残されている欠陥に関して見
れば，既にクリアリングされたパツケージ間に品質上の
差があることになる。しかしその様な品質の差は他のパ
ラメータ，例えばスプライスやノツトの数，あるいは糸
むらの変動計数（ＣＶ％）と言つたものに関しても存在
する。更にＵＳＴＥＲ ＣＬＡＳＳＩＭＡＴに用いら
れている糸欠陥クラスに関しても差がある。
【０００４】電子的にクリアリングされた糸の品質的分
類の方法についてはスイス特許出願第００２５９／９０
−４号明細書に記述されており，そこではクリアリング
リミツトに対応し，これよりも狭い分類リミツトを追加
し，これと比較するいわゆる仮想ヤーンクリアリングが
行われる。
類の方法についてはスイス特許出願第００２５９／９０
−４号明細書に記述されており，そこではクリアリング
リミツトに対応し，これよりも狭い分類リミツトを追加
し，これと比較するいわゆる仮想ヤーンクリアリングが
行われる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は，一方
では上述の仮想クリアリングを効果的に支持し，他方で
はＵＳＴＥＲ ＣＬＡＳＳＩＭＡＴシステムに較べて
，より効率よくかつ柔軟で扱い易い糸の品質査定の方法
を規定することにある。
では上述の仮想クリアリングを効果的に支持し，他方で
はＵＳＴＥＲ ＣＬＡＳＳＩＭＡＴシステムに較べて
，より効率よくかつ柔軟で扱い易い糸の品質査定の方法
を規定することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明によれば，この目
的は次のようにして達成される。即ち設定するパラメー
タ，参照長さと感度は，これに対応するクリアラ作動回
数との関係で設定され，これにより上記設定パラメータ
の理論的に可能な全ての組合せの集合に対して，クリア
ラの作動回数との機能的相関を表すクリアリングプロフ
イールが作られ，これは希望するいかなる設定パラメー
タの組合せに対しても，期待されるクリアラの作動回数
を示す。
的は次のようにして達成される。即ち設定するパラメー
タ，参照長さと感度は，これに対応するクリアラ作動回
数との関係で設定され，これにより上記設定パラメータ
の理論的に可能な全ての組合せの集合に対して，クリア
ラの作動回数との機能的相関を表すクリアリングプロフ
イールが作られ，これは希望するいかなる設定パラメー
タの組合せに対しても，期待されるクリアラの作動回数
を示す。
【０００７】もし例えば参照長さをｘ軸上に，感度をｙ
軸上に，そしてクリアラの作動回数をｚ軸上にとり，三
次元直角座標系で示すと，上記クリアリングプロフイー
ルは正の半直線座標系で囲まれた１つの曲面で形成され
，これは座標系の原点に向かつて湾曲している。
軸上に，そしてクリアラの作動回数をｚ軸上にとり，三
次元直角座標系で示すと，上記クリアリングプロフイー
ルは正の半直線座標系で囲まれた１つの曲面で形成され
，これは座標系の原点に向かつて湾曲している。
【０００８】与えられた糸と与えられたヤーンクリアラ
のタイプとの組合せに対して，この様なクリアリングプ
ロフイールを求めることによつて，そのタイプのクリア
ラについて存在する設定パラメータの組合せの中の，い
かなる組合せに対しても，そのパラメータの組合せに対
応する点をｘ−ｙ平面上に求め，これより垂線を立てる
ことによつて，クリアラカツトの頻度の予測を立てるこ
とが可能である。この垂線のクリアリングプロフイール
を切る点ｚ軸の値が，与えられた設定に対して予想され
るカツト頻度に対応する。
のタイプとの組合せに対して，この様なクリアリングプ
ロフイールを求めることによつて，そのタイプのクリア
ラについて存在する設定パラメータの組合せの中の，い
かなる組合せに対しても，そのパラメータの組合せに対
応する点をｘ−ｙ平面上に求め，これより垂線を立てる
ことによつて，クリアラカツトの頻度の予測を立てるこ
とが可能である。この垂線のクリアリングプロフイール
を切る点ｚ軸の値が，与えられた設定に対して予想され
るカツト頻度に対応する。
【０００９】本発明はまた，前記方法を実施するための
装置にも関し，該装置は査定すべき糸の断面太さを走査
するための測定ヘツドと，測定ヘツドがつながれる評価
ユニツト及びコントロール装置とを有する。
装置にも関し，該装置は査定すべき糸の断面太さを走査
するための測定ヘツドと，測定ヘツドがつながれる評価
ユニツト及びコントロール装置とを有する。
【００１０】本発明による装置はコントロール装置には
マイクロプロセツサを含み，測定ヘツドから供給される
糸信号と評価ユニツトで処理された信号が集められ，デ
イジタル化してストアエリア中にストアされる。ストア
エリア中にストアされた糸信号は更に処理され，この処
理中，設定パラメータの複数の組合せに対して仮想クリ
アリングが行われ，仮想クリアリングにおいては糸信号
は複数の分類リミツトと比較され，該分類リミツトを越
えた場合は，仮想クリアラ動作の記録をトリガすること
を特徴とする。
マイクロプロセツサを含み，測定ヘツドから供給される
糸信号と評価ユニツトで処理された信号が集められ，デ
イジタル化してストアエリア中にストアされる。ストア
エリア中にストアされた糸信号は更に処理され，この処
理中，設定パラメータの複数の組合せに対して仮想クリ
アリングが行われ，仮想クリアリングにおいては糸信号
は複数の分類リミツトと比較され，該分類リミツトを越
えた場合は，仮想クリアラ動作の記録をトリガすること
を特徴とする。
【００１１】
【実施例】以下に本発明を添付の図を用いて詳述する。
図１は三次元直角座標系で特定のヤーンクリアリングシ
ステムに対して，そのｘ軸には，いわゆる参照長さ（そ
の長さにわたつて，欠陥太さの平均値が形成される）が
，ｙ軸には感度（欠陥の断面太さ）が，またｚ軸にはカ
ツト頻度（これは対数目盛りとするのが好ましい）がそ
れぞれプロツトされる。これら３つの座標軸で囲まれる
領域の，正の座標を持つ全ての点の集合は，設定パラメ
ータの理諭的に可能な全ての組合せと，全ての可能なク
リアリングシステムのクリアラカツトの集合を示す。
ステムに対して，そのｘ軸には，いわゆる参照長さ（そ
の長さにわたつて，欠陥太さの平均値が形成される）が
，ｙ軸には感度（欠陥の断面太さ）が，またｚ軸にはカ
ツト頻度（これは対数目盛りとするのが好ましい）がそ
れぞれプロツトされる。これら３つの座標軸で囲まれる
領域の，正の座標を持つ全ての点の集合は，設定パラメ
ータの理諭的に可能な全ての組合せと，全ての可能なク
リアリングシステムのクリアラカツトの集合を示す。
【００１２】与えられた糸の与えられた長さについて，
与えられたクリアリングシステムの設定パラメータ（参
照長さと感度）の理論的に可能な全ての組合せの集合で
そのクリアリングシステムのそれら可能な組合せのそれ
ぞれに対し，期待されるクリアラカツトの集合が定義さ
れる。経験に依れば，このクリアラカツトの集合は一定
で，設定パラメータの可能な組合せの集合の微分可能な
関数である。そしてそこから，設定パラメータのそれぞ
れ可能な組合せにおけるクリアラカツトの数は例示した
座標システムにおける一定の曲面で表すことができると
結論できる。
与えられたクリアリングシステムの設定パラメータ（参
照長さと感度）の理論的に可能な全ての組合せの集合で
そのクリアリングシステムのそれら可能な組合せのそれ
ぞれに対し，期待されるクリアラカツトの集合が定義さ
れる。経験に依れば，このクリアラカツトの集合は一定
で，設定パラメータの可能な組合せの集合の微分可能な
関数である。そしてそこから，設定パラメータのそれぞ
れ可能な組合せにおけるクリアラカツトの数は例示した
座標システムにおける一定の曲面で表すことができると
結論できる。
【００１３】図１においてＲＰで示した，以後クリアリ
ングプロフイールと呼ぶこの表面は，与えられた糸クリ
アリング装置で，与えられた糸を与えられた長さについ
てクリアリングするときの全てのクリアラカツト数を，
そのクリアリングシステムの設定パラメータの全ての希
望する組合せの関数として示した幾何学上の位置である
。経験によると，予想されるクリアラカツトの数は，一
般に現実に存在する糸に対しては，ヤーンクリアラの参
照長さが減少し，感度を小さくすると増大するので，図
１に示したクリアリングプロフイールは内部に湾曲した
，即ち座標軸の原点に向かつてくぼむ形となる。
ングプロフイールと呼ぶこの表面は，与えられた糸クリ
アリング装置で，与えられた糸を与えられた長さについ
てクリアリングするときの全てのクリアラカツト数を，
そのクリアリングシステムの設定パラメータの全ての希
望する組合せの関数として示した幾何学上の位置である
。経験によると，予想されるクリアラカツトの数は，一
般に現実に存在する糸に対しては，ヤーンクリアラの参
照長さが減少し，感度を小さくすると増大するので，図
１に示したクリアリングプロフイールは内部に湾曲した
，即ち座標軸の原点に向かつてくぼむ形となる。
【００１４】与えられた長さの糸について，特定のタイ
プのクリアリングを行うときのクリアリングプロフイー
ルの決定は，個々の代表点の値（サポート値）を測定で
求め，これにより表示に必要な中間値はアルゴリズムに
より内挿法と平滑化によつて，統計的不確かさを考慮に
いれて計算すると言うことで行われる。測定によりクリ
アリングプロフイールのサポート値を求めることは次の
ようにして行われる。即ち，ヤーンクリアラはこれら全
てのサポート値に対して，スイス特許出願第００２５９
／９０−４号明細書に述べられたタイプの仮想クリアリ
ングを実行する。このことは，該クリアラが全てのチヤ
ンネルに対し，また全ての可能な分類リミツトに対して
，対応する閾値を越える毎にこれを記録し計数すること
を意味する。
プのクリアリングを行うときのクリアリングプロフイー
ルの決定は，個々の代表点の値（サポート値）を測定で
求め，これにより表示に必要な中間値はアルゴリズムに
より内挿法と平滑化によつて，統計的不確かさを考慮に
いれて計算すると言うことで行われる。測定によりクリ
アリングプロフイールのサポート値を求めることは次の
ようにして行われる。即ち，ヤーンクリアラはこれら全
てのサポート値に対して，スイス特許出願第００２５９
／９０−４号明細書に述べられたタイプの仮想クリアリ
ングを実行する。このことは，該クリアラが全てのチヤ
ンネルに対し，また全ての可能な分類リミツトに対して
，対応する閾値を越える毎にこれを記録し計数すること
を意味する。
【００１５】かかるクリアリングプロフイールが求めら
れたら，そのタイプのクリアラの利用しうる設定パラメ
ータの全ての組合せの中の，希望する組合せに対して期
待されるカツト頻度を予想することができる。これには
クリアリングパラメータのある設定に対してｘ−ｙ平面
上に点を求め，これより垂線を立てる。該垂線がクリア
リングプロフイール面を切る交点ｚ座標がこの設定にお
ける期待されるカツト頻度に対応する。
れたら，そのタイプのクリアラの利用しうる設定パラメ
ータの全ての組合せの中の，希望する組合せに対して期
待されるカツト頻度を予想することができる。これには
クリアリングパラメータのある設定に対してｘ−ｙ平面
上に点を求め，これより垂線を立てる。該垂線がクリア
リングプロフイール面を切る交点ｚ座標がこの設定にお
ける期待されるカツト頻度に対応する。
【００１６】図２は，本発明の方法に基づき動作する糸
欠陥分類システムの全体図である。図に示すように，該
システムは電子的ヤーンクリアリングに用いられるタイ
プの多数の測定ヘツド１を持ち，該測定ヘツドはワイン
ダ上に配置されている。測定ヘツド１は評価ユニツト２
に接続されており，評価ユニツト２はコントロール装置
３につながれている。コントロール装置は技術的には，
いわゆるＱ−パツケージを有するＵＳＴＥＲ ＰＯＬ
ＹＭＡＴＩＣヤーンクリアリングシステムのものに対応
する。Ｑ−パツケージは特別なプロセツサユニツト４で
次の機能を行う。 １．測定ヘツド１から発生する糸信号の収集と一時記憶
： −測定ヘツド１から発生するアナログ信号を拾い上げる
。 −デイジタル化した糸信号をバツフアストアエリアにス
トアする。 詳しくは，測定ヘツドからの信号は何れの場合も，接続
されたストアエリアにストアされ，そのストアエリアは
″ドラムストア″として組織され，管理されている。 ２．上記ストアエリアにストアされている糸信号の処理
： −ストアエリアを１つずつ順に高速読み出しの形で処理
する。 −各ストアエリアの処理は参照長さと感度の複数の組合
せに対して仮想クリアリングを行う。 −仮想クリアリングを決める設定値の組の選択は，参照
長さ／感度で定義される直角座標系の適用に興昧ある領
域の内側にあり，これらの設定値の組の密度が座標系の
原点に近いほど高く，原点から遠がかるほど設定値の組
の密度が低くなる様に行われる。 −座標系は１つもしくは２つの軸が直線，対数あるいは
近時的対数目盛りで較正される如く選択される。 −仮想クリアリングの結果のバツフアへのストアは，同
じ測定ヘツドからの糸信号はこれに接続されたストアエ
リアについて行われ，これらストアエリアは″ドラムス
トア″として組織され管理される。
欠陥分類システムの全体図である。図に示すように，該
システムは電子的ヤーンクリアリングに用いられるタイ
プの多数の測定ヘツド１を持ち，該測定ヘツドはワイン
ダ上に配置されている。測定ヘツド１は評価ユニツト２
に接続されており，評価ユニツト２はコントロール装置
３につながれている。コントロール装置は技術的には，
いわゆるＱ−パツケージを有するＵＳＴＥＲ ＰＯＬ
ＹＭＡＴＩＣヤーンクリアリングシステムのものに対応
する。Ｑ−パツケージは特別なプロセツサユニツト４で
次の機能を行う。 １．測定ヘツド１から発生する糸信号の収集と一時記憶
： −測定ヘツド１から発生するアナログ信号を拾い上げる
。 −デイジタル化した糸信号をバツフアストアエリアにス
トアする。 詳しくは，測定ヘツドからの信号は何れの場合も，接続
されたストアエリアにストアされ，そのストアエリアは
″ドラムストア″として組織され，管理されている。 ２．上記ストアエリアにストアされている糸信号の処理
： −ストアエリアを１つずつ順に高速読み出しの形で処理
する。 −各ストアエリアの処理は参照長さと感度の複数の組合
せに対して仮想クリアリングを行う。 −仮想クリアリングを決める設定値の組の選択は，参照
長さ／感度で定義される直角座標系の適用に興昧ある領
域の内側にあり，これらの設定値の組の密度が座標系の
原点に近いほど高く，原点から遠がかるほど設定値の組
の密度が低くなる様に行われる。 −座標系は１つもしくは２つの軸が直線，対数あるいは
近時的対数目盛りで較正される如く選択される。 −仮想クリアリングの結果のバツフアへのストアは，同
じ測定ヘツドからの糸信号はこれに接続されたストアエ
リアについて行われ，これらストアエリアは″ドラムス
トア″として組織され管理される。
【００１７】図２から明らかなように，コントロール装
置３はパーソナルコンピユータ５に接続され，パーソナ
ルコンピユータにはプリンタ６がつながれている。パー
ソナルコンピユータの使用は，なかんずくそのスクリー
ンを利用し結果を表示するのに有利である。この表示に
対しては次のような可能性がある。 −クリアリングプロフイールの三次元表現。これは必要
ならスクリーン上で″ズーム″と″回転″の機能で補助
することができる。 −コード付けされた標準投影としてクリアリングプロフ
イールの二次元表示。詳しくはＵＳＴＥＲ ＣＬＡＳ
ＳＩＭＡＴにおける表示と同様なサポート値が個々の矩
形枠中にプロツトされた表形式か，あるいは等カツト頻
度の高さ曲線の形での表示。 −この様なタイプの表示において，スクリーンにカーソ
ルが重畳されると有利であり，該カーソルは適当な入力
メデイアによつてｘ−ｙ平面上を動くことができる。カ
ーソルの座標（設定値）に対応するカツト頻度の値は，
三次元表示クリアリングプロフイールにおいては，設定
点の垂線がプロフイールと交わる点として，又／あるい
は数値としてのキヤラクタバーとして表される。
置３はパーソナルコンピユータ５に接続され，パーソナ
ルコンピユータにはプリンタ６がつながれている。パー
ソナルコンピユータの使用は，なかんずくそのスクリー
ンを利用し結果を表示するのに有利である。この表示に
対しては次のような可能性がある。 −クリアリングプロフイールの三次元表現。これは必要
ならスクリーン上で″ズーム″と″回転″の機能で補助
することができる。 −コード付けされた標準投影としてクリアリングプロフ
イールの二次元表示。詳しくはＵＳＴＥＲ ＣＬＡＳ
ＳＩＭＡＴにおける表示と同様なサポート値が個々の矩
形枠中にプロツトされた表形式か，あるいは等カツト頻
度の高さ曲線の形での表示。 −この様なタイプの表示において，スクリーンにカーソ
ルが重畳されると有利であり，該カーソルは適当な入力
メデイアによつてｘ−ｙ平面上を動くことができる。カ
ーソルの座標（設定値）に対応するカツト頻度の値は，
三次元表示クリアリングプロフイールにおいては，設定
点の垂線がプロフイールと交わる点として，又／あるい
は数値としてのキヤラクタバーとして表される。
【００１８】カツト頻度のこの予想値は，直接対応する
クリアラ設定で期待されるクリアラカツトの数を表し，
従つて今までの定規などによる取扱いを不必要とする。
クリアラ設定で期待されるクリアラカツトの数を表し，
従つて今までの定規などによる取扱いを不必要とする。
【００１９】図１には，直角平行座標系が示されている
が，この表現に限られるものではなく，他の座標系もも
ちろん使用できる。
が，この表現に限られるものではなく，他の座標系もも
ちろん使用できる。
【００２０】また繰り返して参照長さと感度という述語
を用いてきたが，クリアリングプロフイールを作るため
には他のパラメータは使えないと言う意味に解さるべき
ではない。例えば参照長さの代わりに欠陥長さ，感度の
代わりに断面太さの変化等も用いることができる。
を用いてきたが，クリアリングプロフイールを作るため
には他のパラメータは使えないと言う意味に解さるべき
ではない。例えば参照長さの代わりに欠陥長さ，感度の
代わりに断面太さの変化等も用いることができる。
【００２１】更に上記の糸欠陥を求める方法に加え，あ
るいはその代わりの方法として，糸の品質の査定はいわ
ゆるインパーフエクシヨンを求めることででも行い得る
。ここにインパーフエクシヨンとは，いわゆる″高い頻
度″で現れる欠陥を言い，シツクプレース，シンプレー
ス及びネツプと呼ばれる種類のもので，ＣＬＡＳＳＩＭ
ＡＴシステムでは欠陥としては分類されておらず，また
一般にクリアリングもされない種類のものである。イン
パーフエクシヨンについてはウスターニユースブレチン
（ＵＳＴＥＲ Ｎｅｗｓ Ｂｕｌｌｅｔｉｎ）２６
号，１９７８年１１月の″シンプレース，シツクプレー
ス，ネツプの信頼限界″（ＴｈｅＣｏｎｆｉｄｅｎｃｅ
ｌｉｍｉｔｓ ｏｆ ｔｈｉｎ ｐｌａｃｅ
ｓ，ｔｈｉｃｋ ｐｌａｃｅｓ ａｎｄ ｎｅｐ
ｓ）の章が参照される。
るいはその代わりの方法として，糸の品質の査定はいわ
ゆるインパーフエクシヨンを求めることででも行い得る
。ここにインパーフエクシヨンとは，いわゆる″高い頻
度″で現れる欠陥を言い，シツクプレース，シンプレー
ス及びネツプと呼ばれる種類のもので，ＣＬＡＳＳＩＭ
ＡＴシステムでは欠陥としては分類されておらず，また
一般にクリアリングもされない種類のものである。イン
パーフエクシヨンについてはウスターニユースブレチン
（ＵＳＴＥＲ Ｎｅｗｓ Ｂｕｌｌｅｔｉｎ）２６
号，１９７８年１１月の″シンプレース，シツクプレー
ス，ネツプの信頼限界″（ＴｈｅＣｏｎｆｉｄｅｎｃｅ
ｌｉｍｉｔｓ ｏｆ ｔｈｉｎ ｐｌａｃｅ
ｓ，ｔｈｉｃｋ ｐｌａｃｅｓ ａｎｄ ｎｅｐ
ｓ）の章が参照される。
【図１】本発明によるクリアリングプロフイールと共に
，機能を説明する図である。
，機能を説明する図である。
【図２】本発明による方法を実施するための装置の全体
図である。
図である。
ＲＰ クリアリングプロフイール
ｘ 参照長さ
ｙ 感度
ｚ クリアラ作動回数
Claims (16)
- 【請求項１】 設定パラメータである参照長さ（ｘ）
と感度（ｙ）が，対応するクリアラ作動の回数（ｚ）と
関連してセツトされ，これによりクリアリングプロフイ
ール（ＲＰ）が設定され，該プロフイールが前記設定パ
ラメータの理論的に可能な全ての組合せの集合と，クリ
アラ作動との間の関数的相関関係を示し，上記設定パラ
メータのいかなる希望の組合せに対しても予期されるク
リアラ作動回数を示す如くしたことを特徴とする，糸ク
リアリングシステムのクリアリングリミツトを設定する
ために，糸欠陥を求め，それを分類し計数することによ
つて糸の品質を査定する方法。 - 【請求項２】 参照長さ（ｘ），感度（ｙ）及びクリ
アラ作動回数（ｚ）が，三次元の，好ましくは平行座標
系のそれぞれ１軸上にプロツトされ，正の半直線座標系
で囲まれる１つの曲面でクリアリングプロフイール（Ｒ
Ｐ）が形成される如くしたことを特徴とする，請求項１
に記載の方法。 - 【請求項３】 クリアリングプロフイール（ＲＰ）を
求めるため，個々のサポート値が測定によつて求められ
，これより表示に必要な中間値が補間法によつて計算さ
れることを特徴とする，請求項２に記載の方法。 - 【請求項４】 クリアリングプロフイール（ＲＰ）の
サポート値の測定による決定が，与えられた設定パラメ
ータの組の全てのサポート値の同時仮想クリアリングに
よつて行われ，糸信号が複数の分類リミツトと比較され
，分類リミツトを越える度に，仮想クリアラ作動の記録
をトリガし、各分類リミツトがサポート値に対応する如
くしたことを特徴とする，請求項３に記載の方法。 - 【請求項５】 クリアリングプロフイール（ＲＰ）の
表示が，三次元グラフの形で行われることを特徴とする
，請求項４に記載の方法。 - 【請求項６】 クリアリングプロフイール（ＲＰ）の
表示が，コード付き標準投影として二次元で行われるこ
とを特徴とする，請求項４に記載の方法。 - 【請求項７】 クリアリングプロフイール（ＲＰ）の
表示が，複数の矩形フイールドを含み，個々の矩形中に
はサポート値をプロツトした表として行われることを特
徴とする，請求項６に記載の方法。 - 【請求項８】 クリアリングプロフイール（ＲＰ）の
表示が，何れの場合も，等カツト頻度を表す曲線として
行われることを特徴とする，請求項６に記載の方法。 - 【請求項９】 クリアリングプロフイール（ＲＰ）の
作成のためのパラメータとして，欠陥長さ及び／又は断
面太さの変化を用いることを特徴とする，請求項１ない
し８のうち１つに記載の方法。 - 【請求項１０】 頻度の高い欠陥であり，一般にはク
リアリングされない，いわゆるインパーフエクシヨンを
糸の品質査定に用いることを特徴とする，請求項１に記
載の方法。 - 【請求項１１】 査定すべき糸の断面太さを走査する
ための測定ヘツドと，コントロール装置と，上記測定ヘ
ツドが接続される評価ユニツトとを有し，コントロール
装置（３）がプロセツサユニツト（４）を含み，測定ヘ
ツド（１）より供給される評価ユニツト（２）で処理さ
れた糸信号が収集され，デイジタル化されてストアエリ
アにストアされ，ストアエリアにストアされた糸信号が
処理され，該処理の間に設定パラメータの値の複数の組
合せに対して仮想クリアリングが行われ，上記仮想クリ
アリングにおいては糸信号が複数の異なつた分類リミツ
トと比較され，分類リミツトを越える度に仮想クリアラ
の作動の記録をトリガする如くしたことを特徴とする，
請求項１に記載の方法を実施するための装置。 - 【請求項１２】 分類リミツトがクリアリングプロフ
イール（ＲＰ）のサポート値を形成し，その表示が三次
元グラフの形でコントロール装置（３）に接続されたス
クリーン（５）上に行われることを特徴とする，請求項
１１に記載の装置。 - 【請求項１３】 仮想クリアリングを決定する設定パ
ラメータの値の組合せの選択が，かかる値の組が，参照
長さ（ｘ）と感度（ｙ）の軸で定義される直角座標系の
，適用に興昧ある領域中にあり，サポート値の密度が座
標系の原点の近くで高く，原点からの距離が増大するに
つれて密度が減少する如く行われることを特徴とする，
請求項１２に記載の装置。 - 【請求項１４】 クリアラの作動回数が，座標系の第
３の軸（ｚ）上にプロツトされ，座標系の１つ又はそれ
以上の軸が直線，対数又は近似対数目盛りで較正された
ことを特徴とする，請求項１３に記載の装置。 - 【請求項１５】 スクリーン（５）にカーソルを重畳
させ，該カーソルが座標系のｘ−ｙ平面上を移動するこ
とができ，カーソルの座標に対応し，予期されるクリア
ラの作動の回数の値の表示が，座標の交点から立ち上げ
た垂線がクリアリングプロフイール（ＲＰ）を切る点の
座標の高さで示されることを特徴とする，請求項１４に
記載の装置。 - 【請求項１６】 上記切点の高さの表示が開かれたウ
インドウ中の表，好ましくはキヤラクタバーの形で行わ
れることを特徴とする，請求項１５に記載の装置。
Applications Claiming Priority (4)
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|---|---|---|---|
| CH00259/90-4 | 1990-01-26 | ||
| CH259/90A CH680803A5 (ja) | 1990-01-26 | 1990-01-26 | |
| CH01937/90-5 | 1990-06-08 | ||
| CH193790A CH683538A5 (de) | 1990-06-08 | 1990-06-08 | Verfahren zur Qualitätsbewertung von Garnen und Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens. |
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Family Applications (1)
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| CZ (1) | CZ16391A3 (ja) |
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- 1990-12-15 ES ES90124316T patent/ES2082818T3/es not_active Expired - Lifetime
- 1990-12-15 DE DE59010137T patent/DE59010137D1/de not_active Expired - Fee Related
-
1991
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- 1991-01-25 CZ CS91163A patent/CZ16391A3/cs unknown
- 1991-01-26 CN CN91100550.1A patent/CN1053649A/zh active Pending
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| CZ16391A3 (en) | 1993-10-13 |
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| EP0439767A3 (en) | 1992-03-04 |
| CN1053649A (zh) | 1991-08-07 |
| DE59010137D1 (de) | 1996-03-28 |
| ES2082818T3 (es) | 1996-04-01 |
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