JPH1010579A - 液晶表示装置 - Google Patents

液晶表示装置

Info

Publication number
JPH1010579A
JPH1010579A JP18563896A JP18563896A JPH1010579A JP H1010579 A JPH1010579 A JP H1010579A JP 18563896 A JP18563896 A JP 18563896A JP 18563896 A JP18563896 A JP 18563896A JP H1010579 A JPH1010579 A JP H1010579A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
bus line
pixel electrode
pixel
liquid crystal
display device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP18563896A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3126661B2 (ja
Inventor
Kouyuu Chiyou
宏勇 張
Naoaki Yamaguchi
直明 山口
Yasuhiko Takemura
保彦 竹村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd
Original Assignee
Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority to JP18563896A priority Critical patent/JP3126661B2/ja
Application filed by Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd filed Critical Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd
Priority to US08/881,182 priority patent/US5982460A/en
Publication of JPH1010579A publication Critical patent/JPH1010579A/ja
Priority to US09/360,841 priority patent/US6246453B1/en
Priority to JP2000031978A priority patent/JP3901902B2/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3126661B2 publication Critical patent/JP3126661B2/ja
Priority to US09/850,886 priority patent/US6475837B2/en
Priority to US10/267,526 priority patent/US6914260B2/en
Priority to US11/073,752 priority patent/US7206053B2/en
Priority to US11/735,656 priority patent/US7542103B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362Active matrix addressed cells
    • G02F1/136286Wiring, e.g. gate line, drain line
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362Active matrix addressed cells
    • G02F1/136209Light shielding layers, e.g. black matrix, incorporated in the active matrix substrate, e.g. structurally associated with the switching element
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362Active matrix addressed cells
    • G02F1/136213Storage capacitors associated with the pixel electrode
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362Active matrix addressed cells
    • G02F1/136227Through-hole connection of the pixel electrode to the active element through an insulation layer
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F2201/00Constructional arrangements not provided for in groups G02F1/00 - G02F7/00
    • G02F2201/12Constructional arrangements not provided for in groups G02F1/00 - G02F7/00 electrode
    • G02F2201/121Constructional arrangements not provided for in groups G02F1/00 - G02F7/00 electrode common or background
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F2201/00Constructional arrangements not provided for in groups G02F1/00 - G02F7/00
    • G02F2201/40Arrangements for improving the aperture ratio

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Thin Film Transistor (AREA)
  • Optical Elements Other Than Lenses (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 アクティブマトリクス型の液晶表示装置の画
素における補助容量を開口率の低下なしに実現する。 【構成】 透明導電性被膜により構成された画素電極2
4bの下の層に、絶縁膜23を介して、透明導電性被膜
22を構成する。さらに、該透明導電性被膜22は固定
された電位に保持され、かつ、ゲイトバスライン14お
よびソースバスライン18を覆うように形成し、各バス
ラインの信号が画素電極24bに及ばない構成とする。
また、画素電極はその端の全てがゲイトバスラインおよ
びソースバスラインと重なるように配置する。この結
果、各バスラインがブラックマトリクスとして機能す
る。また、画素電極24bは透明導電性被膜22と重な
り、保持容量が形成される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本明細書で開示する発明は、アク
ティブマトリクス型の液晶表示装置の画素領域の構成に
関シ、特に、画素電極と並列に接続される補助容量の構
成、および、隣接する画素との境界部における光の漏れ
を防止するためのブラックマトリクスの構成に関する。
【0002】
【従来の技術】アクティブマトリクス回路を有する液晶
表示装置が知られている。これは、画像データを伝達す
るための複数のソースバスラインと、それに交差するよ
うに配置され、スイッチング信号を伝達するための複数
のゲイトバスラインと、それらの交差部に設けられた複
数の画素を有する構造のもので、スイッチング素子とし
ては通常、トランジスタ(特に薄膜トランジスタ)が用
いられる。
【0003】画素は、スイッチングのためのトランジス
タのみならず、画素電極をも有し、トランジスタのゲイ
ト電極をゲイトバスラインに、ソースをソースバスライ
ンにドレインを画素電極に接続した構造となる。なお、
トランジスタの動作上はソース、ドレインの区別は定常
のものではなく、通常の電気回路的な定義からすると信
号によって変動するものであるが、以下の記述では、ト
ランジスタに設けられた不純物領域のうち、単にソース
バスラインに接続する方をソース、画素電極に接続する
方をドレインと称する。
【0004】各画素にはトランジスタを一つ以上有す
る。特に2つ以上のトランジスタを直列に接続したもの
ではトランジスタが非選択状態でもリーク電流が低減で
きるので有効である。このような場合でも上記の定義を
適用し、ソースバスライン、画素電極のいずれにも接続
しない不純物領域は特に定義しないものとする。
【0005】画素電極は液晶を挟んで対向する電極との
間で容量(キャパシタ)を形成している。上記のトラン
ジスタは、この容量に電荷を出し入れするスイッチング
素子として機能する。しかし、実際の動作においては、
この画素電極部分のみでは、容量が値が小さすぎ、十分
な時間、必要な電荷を保持できない。そのため、別に補
助の容量を設ける必要がある。
【0006】従来は、この補助容量(保持容量ともい
う)を金属等の不透明な導電材料を別に設け、これと、
画素電極もしくは半導体層との間とで容量を形成してい
た。通常は、次行のゲイトバスラインが対向電極として
用いられた。しかし、画素面積が大きい場合にはゲイト
バスラインを用いて形成された容量でも十分であった
が、画素面積が小さくなると、本来のゲイトバスライン
のみでは容量が不十分となり、補助容量の電極の面積を
確保するためにゲイトバスラインを必要以上に拡げるこ
とが要求された。このような構造では、画素内に光を遮
蔽する部分が存在することとなるので、開口率が低下し
てしまう。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】本明細書で開示する発
明は、画素の開口率を下げずに、補助容量を大きくする
構成を提供することを課題とする。加えて、隣接する画
素との境界部で発生する光の漏れを解決するためのブラ
ックマトリクスの構成をも提供することを課題とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】本明細書で開示する発明
は、画素は、第1の透明導電性被膜よりなる画素電極を
有し、前記画素電極は前記ゲイトバスラインおよびソー
スバスラインと重なり、前記ゲイトバスラインおよびソ
ースバスラインと、前記画素電極の間には、前記ゲイト
バスラインおよびソースバスラインを覆って、第2の透
明導電性被膜によりなるコモン電極の層が設けられ、該
コモン電極は一定の電位に保持されることを特徴とす
る。
【0009】すなわち、コモン電極はバスラインを覆う
ように配置し、かつ、画素電極はバスラインと重なるよ
うに配置される。したがって、コモン電極と画素電極は
重なることとなり、この重なりによって補助容量が得ら
れる。しかも、従来の補助容量では、少なくともその一
方の電極を不透明な材料で構成していたのに対し、本発
明ではいずれの電極も透明な材料で構成されるので、表
示を妨げる要因とならず、開口率は維持される。
【0010】上記の構成においては、画素電極をソース
バスラインおよびゲイトバスラインと重ね、かつ、画素
電極の境界をソースバスラインおよびゲイトバスライン
上に設けることにより、ソースバスラインおよびゲイト
バスラインをブラックマトリクスとすることができる。
一般に液晶表示装置においては画素電極の境界部では隣
接する電極の電界の影響を受けるため、当該画素の表示
せんとする映像とは異なる映像が生じたり、あるいは電
界の空白のため光の漏れが生じたりする。
【0011】したがって、このような画素電極の境界部
は表示に用いることは適当でなく、通常はこの部分をブ
ラックマトリクスによって遮光する構造とする。従来は
ブラックマトリクスを別の層によって構成することが要
求された。例えば、特開平6−216421等でもバス
ラインをブラックマトリクスとして使用することが提唱
されている。しかし、実際にはバスラインの信号が画素
電極に影響することにより表示が不安定となる。
【0012】本発明においてはこの問題は解決される。
すなわち、バスラインと画素電極の間には、コモン電極
が存在するため、バスラインの信号はコモン電極によっ
て遮蔽され、画素電極に影響しないからである。なお、
スイッチングトランジスタとして、トップゲイト型(ゲ
イト電極が半導体層の上にある構造のトランジスタ)を
用いる場合には、主たる光の入射を基板上方、すなわ
ち、画素電極側からおこなうと、ゲイト電極下の半導体
層に光が入射することを防止でき、トランジスタの動作
を安定にする上で有効である。半導体層とゲイトバスラ
インの交差する部分において、ゲイトバスラインの上層
に、ソースバスラインと同一の層の材料よりなる被膜を
設けると、より遮光の効果が高まり、さらに動作を安定
にすることができる。
【0013】コモン電極と画素電極の間の絶縁材料とし
ては、無機材料(たとえば、酸化珪素、窒化珪素)以外
に、有機樹脂を用いてもよい。特に、スピンコーティン
グ法等によって平坦な絶縁層を形成すると、表面の凹凸
を低減し、液晶分子に印加される電界を均一にする上で
効果的である。本明細書に開示する発明における透明導
電性被膜としては、ITO(インディウム錫酸化物)の
他にSnO2 、さらにはそれらの材料を主成分とする材
料を用いることができる。
【0014】
【実施例】
〔実施例1〕 図1及び図2に本明細書で開示する発明
を利用したアクティブマトリクス型の液晶表示装置の画
素の構成を示す。図1に本実施例の作製工程断面図の概
略を、また、図2に本実施例の各バスライン、コモン電
極、画素電極、半導体層等の配置を示す。図2の番号は
図1のものと対応する。なお、図1は概念的なものであ
り、図2の配置とは厳密には同一ではない。
【0015】また、図1及び図2に示されているのは、
薄膜トランジスタが配置された基板側の構成のみであ
り、実際には、対向する基板(対向基板)も存在し、対
向基板と図1に示す基板との間に液晶が数μmの間隔を
有して保持される。以下、図1にしたがって、作製工程
を説明する。図1(A)に示すように、下地の酸化珪素
膜(図示せず)の設けられたガラス基板11上にはトラ
ンジスタの半導体層(活性層)12が設けられる。
【0016】活性層12は、非晶質珪素膜を加熱または
レーザー光の照射によって、結晶化させた結晶性珪素膜
で構成される。活性層12を覆って、ゲイト絶縁膜13
が形成される。ゲイト絶縁膜13の材料としては、酸化
珪素もしくは窒化珪素が好ましく、例えば、プラズマC
VD法によって形成された酸化珪素膜を用いればよい。
ゲイト絶縁膜上には、公知のスパッタ法によりアルミニ
ウム−チタン合金によってゲイトバスライン(ゲイト電
極)14が形成される。(図1(A)) この状態での回路の配置を図2(A)に示す。(図2
(A))
【0017】次にゲイトバスラインをマスクとして公知
のイオンドーピング法によって活性層にN型もしくはP
型の不純物を導入し、ソース15、ドレイン16を形成
する。不純物導入後、必要によっては、熱アニールもし
くはレーザーアニール等によって不純物の活性化(半導
体膜の再結晶化)をおこなってもよい。以上の工程の
後,窒化珪素膜(もしくは酸化珪素膜)17をプラズマ
CVD法で堆積する。これは第1の層間絶縁物として機
能する。(図1(B))
【0018】次に、第1の層間絶縁物17にソース15
およびドレイン16に達するコンタクトホールを形成す
る。そして、公知のスパッタ法によりチタンとアルミニ
ウムの多層膜を形成し、これをエッチングして、ソース
バスライン18およびドレイン電極19を形成する。以
上の工程の後,窒化珪素膜(もしくは酸化珪素膜)20
をプラズマCVD法で堆積する。これは第2の層間絶縁
物として機能する。(図1(C)) この状態での回路の配置を図2(B)に示す。(図2
(B))
【0019】次にスピンコーティング法により第1の有
機樹脂層21を形成する。有機樹脂層の上面は平坦に形
成される。そして、公知のスパッタ法により、ITO膜
を形成し、これをエッチングして、コモン電極22を形
成する。(図1(D)) この状態での回路の配置を図2(C)に示す。なお、図
においてはコモン電極の位置を分かりやすくするため、
網掛けで示す。図からわかるように、コモン電極はソー
スバスラインとゲイトバスラインを覆うように形成され
る。(図2(C))
【0020】さらに、スピンコーティング法により第2
の有機樹脂層23を形成する。そして、公知のスパッタ
法により、ITO膜を形成し、これをエッチングして、
画素電極24aおよび24bを形成する。画素電極24
bは当該トランジスタの画素電極であり、画素電極24
aは隣接する画素電極である。画素電極24aおよび2
4bがコモン電極22と重なる部分には、容量25aお
よび25bが、それぞれ形成される。(図1(E))
【0021】この状態での回路の配置を図2(D)に示
す。なお、図においては画素電極および画素電極とコモ
ン電極の重なりの部分(すなわち、容量の存在する部
分)の位置を分かりやすくするため、網掛けで示す。図
からわかるように、画素電極はソースバスラインとゲイ
トバスラインに重なるように形成される。この結果、画
素電極の境界部は全てバスライン上に存在し、バスライ
ンがブラックマトリクスとして機能する。(図2
(D))
【0022】〔実施例2〕 図3及び図4に本明細書で
開示する発明を利用したアクティブマトリクス型の液晶
表示装置の画素の構成を示す。図3に本実施例の作製工
程断面図の概略を、また、図4に本実施例の各バスライ
ン、コモン電極、画素電極、半導体層等の配置を示す。
図4の番号は図3のものと対応する。なお、図3は概念
的なものであり、図4の配置とは厳密には同一ではな
い。
【0023】図1(A)に示すように、下地の酸化珪素
膜(図示せず)の設けられたガラス基板31上にトラン
ジスタの半導体層(活性層)32が設けられる。活性層
32を覆って、ゲイト絶縁膜33が形成される。ゲイト
絶縁膜上には、アルミニウム−チタン合金によってゲイ
トバスライン(ゲイト電極)34が形成される。(図3
(A))
【0024】この状態での回路の配置を図4(A)に示
す。実施例1の場合とは異なって、本実施例ではトラン
ジスタのゲイト電極部分のゲイトバスラインの幅の狭い
形状とする。(図4(A)) 次にN型もしくはP型の不純物を導入し、ソース35、
ドレイン36を形成する。以上の工程の後,窒化珪素膜
(もしくは酸化珪素膜)の第1の層間絶縁物37を堆積
する。(図3(B))
【0025】次に、第1の層間絶縁物37にソース35
およびドレイン36に達するコンタクトホールを形成す
る。そして、ソースバスライン38およびドレイン電極
39、さらに、保護膜40を形成する。以上の工程の
後,窒化珪素膜(もしくは酸化珪素膜)の第2の層間絶
縁物41を堆積する。(図3(C)) この状態での回路の配置を図4(B)に示す。保護膜4
0はソースバスライン38およびドレイン電極39、そ
の他の配線・電極と絶縁された浮遊電位とする。このよ
うな保護膜40は上方よりトランジスタに入射する光を
遮る上で効果がある。(図4(B))
【0026】次にITO膜によりコモン電極42を形成
する。さらに、有機樹脂層43を形成する。(図3
(D)) この状態での回路の配置を図4(C)に示す。なお、図
においてはコモン電極の位置を分かりやすくするため、
網掛けで示す。図からわかるように、コモン電極はソー
スバスラインとゲイトバスラインを覆うように形成され
る。なお、厳密には保護膜40はコモン電極により覆わ
れる必要はない。なぜならば、保護膜は浮遊電位である
ので、保護膜が画素電極に何らかの影響を及ぼす可能性
は小さいからである。しかしながら、本実施例では図に
示すように、保護膜40もコモン電極42で覆う。(図
4(C))
【0027】そして、ITO膜により画素電極44aお
よび44bを形成する。画素電極44bは当該トランジ
スタの画素電極であり、画素電極44aは隣接する画素
電極である。画素電極44aおよび44bがコモン電極
42と重なる部分には、容量45aおよび45bが、そ
れぞれ形成される。(図3(E)) この状態での回路の配置を図4(D)に示す。なお、図
においては画素電極および画素電極とコモン電極の重な
りの部分(すなわち、容量の存在する部分)の位置を分
かりやすくするため、網掛けで示す。図からわかるよう
に、画素電極はソースバスラインとゲイトバスラインに
重なるように形成される。この結果、画素電極の境界部
は全てバスライン上に存在し、バスラインがブラックマ
トリクスとして機能する。(図4(D))
【0028】
【発明の効果】補助容量を構成する画素電極に対向する
電極を透明導電膜で構成することにより、開溝率の低下
を招かずに補助容量を大きなものとすることができる。
加えて、ソースバスラインおよびゲイトバスラインをブ
ラックマトリクスとしても機能させることができる。特
に本発明は、画素が小さい場合で、なかでも、デザイン
ルールを維持した状態で開口率を向上させる上で効果的
である。このように本発明は工業上、有益である。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の1実施例の作製工程断面図を示す。
(実施例1)
【図2】 実施例1の配線等の配置を示す。
【図3】 本発明の1実施例の作製工程断面図を示す。
(実施例2)
【図4】 実施例2の配線等の配置を示す。
【符号の説明】
11、31 ガラス基板 12、32 活性層 13、33 ゲイト絶縁膜 14、34 ゲイトバスライン(ゲイト電極) 15、35 ソース 16、36 ドレイン 17、37 第1の層間絶縁物 18、38 ソースバスライン 19、39 ドレイン電極 20、41 第2の層間絶縁物 21、43 (第1の)有機樹脂層 22、42 コモン電極 23 第2の有機樹脂層 24、44 画素電極 25、45 補助容量 40 保護膜

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 アクティブマトリクス回路を有する液晶
    表示装置において、 前記アクティブマトリクス回路は、複数のゲイトバスラ
    インと複数のソースバスラインと複数の画素とを有し、 前記画素は、第1の透明導電性被膜よりなる画素電極を
    有し、 前記画素電極は前記ゲイトバスラインおよびソースバス
    ラインと重なり、 前記ゲイトバスラインおよびソースバスラインと、前記
    画素電極の間には、前記ゲイトバスラインおよびソース
    バスラインを覆って、第2の透明導電性被膜によりなる
    コモン電極の層が設けられ、該コモン電極は一定の電位
    に保持されることを特徴とする液晶表示装置。
  2. 【請求項2】 請求項1の液晶表示装置において、主た
    る光は画素電極側より入射することを特徴とする液晶表
    示装置。
  3. 【請求項3】 請求項1の液晶表示装置において、画素
    に設けられたスイッチングトランジスタにおいて、半導
    体層とゲイトバスラインの交差する部分には、ソースバ
    スラインと同一の層の材料よりなる被膜が設けられたこ
    とを特徴とする液晶表示装置。
  4. 【請求項4】 請求項1の液晶表示装置において、前記
    コモン電極と画素電極の間には有機樹脂よりなる層が設
    けられたことを特徴とする液晶表示装置。
JP18563896A 1996-06-25 1996-06-25 液晶表示装置 Expired - Fee Related JP3126661B2 (ja)

Priority Applications (8)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP18563896A JP3126661B2 (ja) 1996-06-25 1996-06-25 液晶表示装置
US08/881,182 US5982460A (en) 1996-06-25 1997-06-24 Electro-optical display
US09/360,841 US6246453B1 (en) 1996-06-25 1999-07-22 Electro-optical device
JP2000031978A JP3901902B2 (ja) 1996-06-25 2000-02-09 液晶表示装置
US09/850,886 US6475837B2 (en) 1996-06-25 2001-05-07 Electro-optical device
US10/267,526 US6914260B2 (en) 1996-06-25 2002-10-08 Electro-optical device
US11/073,752 US7206053B2 (en) 1996-06-25 2005-03-08 Electro-optical device
US11/735,656 US7542103B2 (en) 1996-06-25 2007-04-16 Electro-optical device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP18563896A JP3126661B2 (ja) 1996-06-25 1996-06-25 液晶表示装置

Related Child Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000031978A Division JP3901902B2 (ja) 1996-06-25 2000-02-09 液晶表示装置
JP2000289628A Division JP3901925B2 (ja) 2000-09-22 2000-09-22 アクティブマトリクス型の液晶表示装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH1010579A true JPH1010579A (ja) 1998-01-16
JP3126661B2 JP3126661B2 (ja) 2001-01-22

Family

ID=16174280

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP18563896A Expired - Fee Related JP3126661B2 (ja) 1996-06-25 1996-06-25 液晶表示装置
JP2000031978A Expired - Lifetime JP3901902B2 (ja) 1996-06-25 2000-02-09 液晶表示装置

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000031978A Expired - Lifetime JP3901902B2 (ja) 1996-06-25 2000-02-09 液晶表示装置

Country Status (2)

Country Link
US (6) US5982460A (ja)
JP (2) JP3126661B2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012220957A (ja) * 2011-04-08 2012-11-12 Boe Technology Group Co Ltd 半透過半反射型アレイ基板及び半透過半反射型液晶ディスプレー
US9231109B2 (en) 2009-01-05 2016-01-05 Seiko Epson Corporation Electro-optical device and electronic apparatus
USRE50102E1 (en) 2009-01-05 2024-08-27 138 East Lcd Advancements Limited Electro-optical device and electronic apparatus

Families Citing this family (56)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09146108A (ja) * 1995-11-17 1997-06-06 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 液晶表示装置およびその駆動方法
JP3126661B2 (ja) * 1996-06-25 2001-01-22 株式会社半導体エネルギー研究所 液晶表示装置
JP3634089B2 (ja) * 1996-09-04 2005-03-30 株式会社半導体エネルギー研究所 表示装置
US6262438B1 (en) * 1996-11-04 2001-07-17 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Active matrix type display circuit and method of manufacturing the same
US6088070A (en) * 1997-01-17 2000-07-11 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Active matrix liquid crystal with capacitor between light blocking film and pixel connecting electrode
JP3784491B2 (ja) * 1997-03-28 2006-06-14 株式会社半導体エネルギー研究所 アクティブマトリクス型の表示装置
KR100251512B1 (ko) 1997-07-12 2000-04-15 구본준 횡전계방식 액정표시장치
CN100409088C (zh) * 1997-11-03 2008-08-06 三星电子株式会社 具有改变的电极排列的液晶显示器
JP3973787B2 (ja) * 1997-12-31 2007-09-12 三星電子株式会社 液晶表示装置及びその製造方法
KR100293436B1 (ko) * 1998-01-23 2001-08-07 구본준, 론 위라하디락사 횡전계방식액정표시장치
JP3980156B2 (ja) 1998-02-26 2007-09-26 株式会社半導体エネルギー研究所 アクティブマトリクス型表示装置
JP3230664B2 (ja) * 1998-04-23 2001-11-19 日本電気株式会社 液晶表示装置とその製造方法
JP3017712B2 (ja) * 1998-05-15 2000-03-13 松下電送システム株式会社 インターネット・ファクシミリ
US6965422B2 (en) * 1998-07-24 2005-11-15 Sharp Kabushiki Kaisha Liquid crystal display device
US6313481B1 (en) 1998-08-06 2001-11-06 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and a method of manufacturing the same
JP3125872B2 (ja) * 1998-09-14 2001-01-22 日本電気株式会社 アクティブマトリクス型液晶表示装置
US6278502B1 (en) * 1998-09-28 2001-08-21 International Business Machines Corporation Pixel capacitor formed from multiple layers
US6576924B1 (en) * 1999-02-12 2003-06-10 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device having at least a pixel unit and a driver circuit unit over a same substrate
US6576926B1 (en) 1999-02-23 2003-06-10 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and fabrication method thereof
US6563482B1 (en) 1999-07-21 2003-05-13 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device
JP3796070B2 (ja) * 1999-07-21 2006-07-12 シャープ株式会社 液晶表示装置
TW478014B (en) * 1999-08-31 2002-03-01 Semiconductor Energy Lab Semiconductor device and method of manufacturing thereof
US6646287B1 (en) * 1999-11-19 2003-11-11 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device with tapered gate and insulating film
KR100583979B1 (ko) 2000-02-11 2006-05-26 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액정 표시장치 제조방법 및 그 제조방법에 따른액정표시장치
TWI290252B (en) * 2000-02-25 2007-11-21 Sharp Kk Liquid crystal display device
JP2002107743A (ja) * 2000-09-25 2002-04-10 Koninkl Philips Electronics Nv 反射型液晶表示装置
TWI221645B (en) * 2001-01-19 2004-10-01 Semiconductor Energy Lab Method of manufacturing a semiconductor device
TW513604B (en) * 2001-02-14 2002-12-11 Au Optronics Corp A thin film transistor liquid crystal display
KR100408346B1 (ko) * 2001-07-18 2003-12-06 엘지.필립스 엘시디 주식회사 반사투과형 액정표시장치용 어레이기판과 그 제조방법
KR100380142B1 (ko) * 2001-07-18 2003-04-11 엘지.필립스 엘시디 주식회사 반사투과형 액정표시장치용 어레이기판
JP4019697B2 (ja) * 2001-11-15 2007-12-12 株式会社日立製作所 液晶表示装置
CN1696804A (zh) * 2001-11-30 2005-11-16 夏普公司 液晶显示装置
JP2003207794A (ja) * 2002-01-11 2003-07-25 Sanyo Electric Co Ltd アクティブマトリクス型表示装置
JP3989761B2 (ja) 2002-04-09 2007-10-10 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体表示装置
US7038239B2 (en) 2002-04-09 2006-05-02 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor element and display device using the same
KR100968496B1 (ko) * 2002-04-15 2010-07-07 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 표시장치 및 그 제조방법
JP3989763B2 (ja) 2002-04-15 2007-10-10 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体表示装置
US7242021B2 (en) * 2002-04-23 2007-07-10 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and display element using semiconductor device
TWI263339B (en) 2002-05-15 2006-10-01 Semiconductor Energy Lab Light emitting device and method for manufacturing the same
US7256421B2 (en) 2002-05-17 2007-08-14 Semiconductor Energy Laboratory, Co., Ltd. Display device having a structure for preventing the deterioration of a light emitting device
JP2005164854A (ja) * 2003-12-01 2005-06-23 Nec Lcd Technologies Ltd 液晶表示装置
TWI226712B (en) * 2003-12-05 2005-01-11 Au Optronics Corp Pixel structure and fabricating method thereof
JP3891995B2 (ja) 2004-04-26 2007-03-14 シャープ株式会社 液晶表示装置
TWI271867B (en) * 2005-06-20 2007-01-21 Au Optronics Corp Pixel structure and fabrication method thereof
TWI292281B (en) * 2005-12-29 2008-01-01 Ind Tech Res Inst Pixel structure of active organic light emitting diode and method of fabricating the same
CN100388070C (zh) * 2006-01-27 2008-05-14 友达光电股份有限公司 液晶显示面板及液晶显示装置
JP4747911B2 (ja) * 2006-03-30 2011-08-17 ソニー株式会社 液晶パネル用アレイ基板および液晶パネルならびにこれらの製造方法
TWI764143B (zh) * 2006-05-16 2022-05-11 日商半導體能源研究所股份有限公司 液晶顯示裝置
US20070296882A1 (en) * 2006-06-23 2007-12-27 Jau-Ching Huang Thin film transistor array
US20090026533A1 (en) * 2007-07-24 2009-01-29 Force-Mos Technology Corporation Trench MOSFET with multiple P-bodies for ruggedness and on-resistance improvements
WO2009055621A1 (en) * 2007-10-26 2009-04-30 Applied Materials, Inc. Methods and apparatus for forming color filter on array flat panel displays
US9230994B2 (en) 2010-09-15 2016-01-05 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Liquid crystal display device
KR101903671B1 (ko) 2011-10-07 2018-10-04 삼성디스플레이 주식회사 박막 트랜지스터 표시판 및 그 제조 방법
US8995218B2 (en) * 2012-03-07 2015-03-31 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device
CN102937764B (zh) * 2012-10-17 2015-01-28 京东方科技集团股份有限公司 阵列基板及其制造方法、显示装置及其驱动方法
CN111028687B (zh) * 2019-12-16 2021-10-15 厦门天马微电子有限公司 一种显示面板及显示装置

Family Cites Families (92)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2284984A1 (fr) * 1974-09-13 1976-04-09 Commissariat Energie Atomique Procede de realisation de transistors m.o.s. sur isolant pour la detection de rayonnements
US4143266A (en) 1974-09-13 1979-03-06 Commissariat A L'energie Atomique Method and device for detecting radiatons
US4470060A (en) * 1981-01-09 1984-09-04 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Liquid crystal display with vertical non-single crystal semiconductor field effect transistors
US5650637A (en) 1982-04-30 1997-07-22 Seiko Epson Corporation Active matrix assembly
US5365079A (en) 1982-04-30 1994-11-15 Seiko Epson Corporation Thin film transistor and display device including same
JPS5921064A (ja) 1982-04-30 1984-02-02 Seiko Epson Corp 液晶表示装置
US5677547A (en) 1982-04-30 1997-10-14 Seiko Epson Corporation Thin film transistor and display device including same
JPS6045219A (ja) * 1983-08-23 1985-03-11 Toshiba Corp アクテイブマトリクス型表示装置
US4598305A (en) * 1984-06-18 1986-07-01 Xerox Corporation Depletion mode thin film semiconductor photodetectors
JPS6329924A (ja) * 1986-07-23 1988-02-08 Komatsu Ltd 半導体装置の製造方法
JPH0210877A (ja) * 1988-06-29 1990-01-16 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光学的パターン検出装置の製造方法
JPH02181419A (ja) * 1989-01-06 1990-07-16 Hitachi Ltd レーザアニール方法
US5051570A (en) * 1989-01-20 1991-09-24 Nec Corporation Liquid crystal light valve showing an improved display contrast
JPH02245742A (ja) 1989-03-17 1990-10-01 Matsushita Electric Ind Co Ltd 反射型液晶表示デバイス
JPH039562A (ja) * 1989-06-07 1991-01-17 Sharp Corp 半導体装置
JPH0323671A (ja) * 1989-06-21 1991-01-31 Nippon Sheet Glass Co Ltd 集積化機能デバイス及びその製造方法並びにこのデバイスを用いた機能モジュール
JPH03175430A (ja) 1989-12-05 1991-07-30 Nec Corp 反射型液晶表示装置
JP2538086B2 (ja) * 1990-01-11 1996-09-25 松下電器産業株式会社 液晶表示デバイスおよびその製造方法
JP2622183B2 (ja) 1990-04-05 1997-06-18 シャープ株式会社 アクティブマトリクス表示装置
US5162933A (en) * 1990-05-16 1992-11-10 Nippon Telegraph And Telephone Corporation Active matrix structure for liquid crystal display elements wherein each of the gate/data lines includes at least a molybdenum-base alloy layer containing 0.5 to 10 wt. % of chromium
DE69125886T2 (de) * 1990-05-29 1997-11-20 Semiconductor Energy Lab Dünnfilmtransistoren
JP2616160B2 (ja) * 1990-06-25 1997-06-04 日本電気株式会社 薄膜電界効果型トランジスタ素子アレイ
US5245450A (en) * 1990-07-23 1993-09-14 Hosiden Corporation Liquid crystal display device with control capacitors for gray-scale
US5273910A (en) * 1990-08-08 1993-12-28 Minnesota Mining And Manufacturing Company Method of making a solid state electromagnetic radiation detector
US5221365A (en) * 1990-10-22 1993-06-22 Sanyo Electric Co., Ltd. Photovoltaic cell and method of manufacturing polycrystalline semiconductive film
US5849601A (en) * 1990-12-25 1998-12-15 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Electro-optical device and method for manufacturing the same
KR960010723B1 (ko) * 1990-12-20 1996-08-07 가부시끼가이샤 한도오따이 에네루기 겐큐쇼 전기광학장치
JP2935280B2 (ja) 1991-02-08 1999-08-16 富士通株式会社 薄膜トランジスタマトリックス
KR960001611B1 (ko) * 1991-03-06 1996-02-02 가부시끼가이샤 한도다이 에네르기 겐뀨쇼 절연 게이트형 전계 효과 반도체 장치 및 그 제작방법
JP2998255B2 (ja) 1991-04-04 2000-01-11 セイコーエプソン株式会社 薄膜トランジスタ装置及びその製造方法
JPH04318523A (ja) 1991-04-17 1992-11-10 Oki Electric Ind Co Ltd 薄膜トランジスタ型液晶表示装置
JPH04318522A (ja) 1991-04-17 1992-11-10 Oki Electric Ind Co Ltd 薄膜トランジスタ型液晶表示装置
JP3150365B2 (ja) * 1991-07-22 2001-03-26 株式会社東芝 液晶表示装置
US5414547A (en) * 1991-11-29 1995-05-09 Seiko Epson Corporation Liquid crystal display device and manufacturing method therefor
US5317433A (en) * 1991-12-02 1994-05-31 Canon Kabushiki Kaisha Image display device with a transistor on one side of insulating layer and liquid crystal on the other side
US5459595A (en) * 1992-02-07 1995-10-17 Sharp Kabushiki Kaisha Active matrix liquid crystal display
US5254480A (en) * 1992-02-20 1993-10-19 Minnesota Mining And Manufacturing Company Process for producing a large area solid state radiation detector
NL194848C (nl) * 1992-06-01 2003-04-03 Samsung Electronics Co Ltd Vloeibaar-kristalindicatorinrichting.
JP3245959B2 (ja) * 1992-06-05 2002-01-15 松下電器産業株式会社 液晶画像表示装置の製造方法
US5459596A (en) * 1992-09-14 1995-10-17 Kabushiki Kaisha Toshiba Active matrix liquid crystal display with supplemental capacitor line which overlaps signal line
JP2924506B2 (ja) * 1992-10-27 1999-07-26 日本電気株式会社 アクティブマトリックス型液晶表示装置の画素構造
SG46344A1 (en) * 1992-11-16 1998-02-20 Tokyo Electron Ltd Method and apparatus for manufacturing a liquid crystal display substrate and apparatus and method for evaluating semiconductor crystals
EP0603866B1 (en) 1992-12-25 2002-07-24 Sony Corporation Active matrix substrate
JP3529153B2 (ja) * 1993-03-04 2004-05-24 三星電子株式会社 液晶表示装置及びその製造方法
US5574293A (en) * 1993-03-23 1996-11-12 Tdk Corp. Solid state imaging device using disilane
US5483366A (en) * 1994-07-20 1996-01-09 David Sarnoff Research Center Inc LCD with hige capacitance pixel having an ITO active region/poly SI pixel region electrical connection and having poly SI selection line extensions along pixel edges
JP3339190B2 (ja) 1994-07-27 2002-10-28 ソニー株式会社 液晶表示装置
TW289097B (ja) * 1994-08-24 1996-10-21 Hitachi Ltd
JP3240858B2 (ja) * 1994-10-19 2001-12-25 ソニー株式会社 カラー表示装置
JPH08306926A (ja) * 1995-05-07 1996-11-22 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 液晶電気光学装置
JPH0926603A (ja) * 1995-05-08 1997-01-28 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 表示装置
US6372534B1 (en) * 1995-06-06 2002-04-16 Lg. Philips Lcd Co., Ltd Method of making a TFT array with photo-imageable insulating layer over address lines
JP3307181B2 (ja) * 1995-07-31 2002-07-24 ソニー株式会社 透過型表示装置
JP2990046B2 (ja) * 1995-08-16 1999-12-13 日本電気株式会社 反射型液晶表示装置及びその製造方法
JP3209317B2 (ja) * 1995-10-31 2001-09-17 シャープ株式会社 透過型液晶表示装置およびその製造方法
US6800875B1 (en) 1995-11-17 2004-10-05 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Active matrix electro-luminescent display device with an organic leveling layer
TW439003B (en) 1995-11-17 2001-06-07 Semiconductor Energy Lab Display device
KR0158260B1 (ko) * 1995-11-25 1998-12-15 구자홍 엑티브 매트릭스 액정표시장치의 매트릭스 어레이 및 제조방법
US5940732A (en) * 1995-11-27 1999-08-17 Semiconductor Energy Laboratory Co., Method of fabricating semiconductor device
TW309633B (ja) * 1995-12-14 1997-07-01 Handotai Energy Kenkyusho Kk
US6449024B1 (en) * 1996-01-26 2002-09-10 Semiconductor Energy Laboratory Co., Inc. Liquid crystal electro-optical device utilizing a polymer with an anisotropic refractive index
US6055028A (en) * 1996-02-14 2000-04-25 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Liquid crystal electro-optical device
JP3696687B2 (ja) * 1996-02-29 2005-09-21 株式会社半導体エネルギー研究所 液晶表示装置およびその作製方法
US5815226A (en) * 1996-02-29 1998-09-29 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Electro-optical device and method of fabricating same
JP3597305B2 (ja) 1996-03-05 2004-12-08 株式会社半導体エネルギー研究所 液晶表示装置およびその作製方法
US5652637A (en) * 1996-03-11 1997-07-29 Marini; Martin A. Eyeglasses with detachable temples
TW364275B (en) * 1996-03-12 1999-07-11 Idemitsu Kosan Co Organic electroluminescent element and organic electroluminescent display device
DE19712233C2 (de) * 1996-03-26 2003-12-11 Lg Philips Lcd Co Flüssigkristallanzeige und Herstellungsverfahren dafür
TW449670B (en) * 1996-05-15 2001-08-11 Seiko Epson Corp Method for making thin film device with coating film, liquid crystal panel and electronic device
JP3126661B2 (ja) 1996-06-25 2001-01-22 株式会社半導体エネルギー研究所 液晶表示装置
US6005648A (en) * 1996-06-25 1999-12-21 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device
KR100249187B1 (ko) * 1996-07-13 2000-03-15 구본준 박막액정표시장치(tft-lcd)및그제조방법
US6262438B1 (en) * 1996-11-04 2001-07-17 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Active matrix type display circuit and method of manufacturing the same
CN1148600C (zh) * 1996-11-26 2004-05-05 三星电子株式会社 薄膜晶体管基片及其制造方法
JPH10268360A (ja) * 1997-03-26 1998-10-09 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 表示装置
JP3784491B2 (ja) * 1997-03-28 2006-06-14 株式会社半導体エネルギー研究所 アクティブマトリクス型の表示装置
JP3738530B2 (ja) * 1997-06-30 2006-01-25 ソニー株式会社 カラー表示装置
JPH1131590A (ja) * 1997-07-09 1999-02-02 Tdk Corp 有機el素子
JP3919900B2 (ja) * 1997-09-19 2007-05-30 株式会社半導体エネルギー研究所 液晶表示装置およびその作製方法
JP3980156B2 (ja) * 1998-02-26 2007-09-26 株式会社半導体エネルギー研究所 アクティブマトリクス型表示装置
KR100280889B1 (ko) * 1998-06-30 2001-02-01 구본준, 론 위라하디락사 액정 표시 장치의 패드부 제조 방법 및 그 방법에 의한 액정 표시 장치
US6489952B1 (en) * 1998-11-17 2002-12-03 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Active matrix type semiconductor display device
US6531993B1 (en) * 1999-03-05 2003-03-11 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Active matrix type display device
TWI245950B (en) * 1999-03-19 2005-12-21 Sharp Kk Liquid crystal display apparatus
US6515648B1 (en) * 1999-08-31 2003-02-04 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Shift register circuit, driving circuit of display device, and display device using the driving circuit
JP4727029B2 (ja) * 1999-11-29 2011-07-20 株式会社半導体エネルギー研究所 El表示装置、電気器具及びel表示装置用の半導体素子基板
JP4434411B2 (ja) * 2000-02-16 2010-03-17 出光興産株式会社 アクティブ駆動型有機el発光装置およびその製造方法
TW521303B (en) * 2000-02-28 2003-02-21 Semiconductor Energy Lab Electronic device
JP2001257350A (ja) * 2000-03-08 2001-09-21 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置およびその作製方法
US6646284B2 (en) * 2000-12-12 2003-11-11 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device and method of manufacturing the same
SG118117A1 (en) * 2001-02-28 2006-01-27 Semiconductor Energy Lab Semiconductor device and manufacturing method thereof
US6791648B2 (en) * 2001-03-15 2004-09-14 Seiko Epson Corporation Liquid crystal device, projection display device and, manufacturing method for substrate for liquid crystal device

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9231109B2 (en) 2009-01-05 2016-01-05 Seiko Epson Corporation Electro-optical device and electronic apparatus
US9690153B2 (en) 2009-01-05 2017-06-27 Seiko Epson Corporation Electro-optical device and electronic apparatus
US10276597B2 (en) 2009-01-05 2019-04-30 Seiko Epson Corporation Electro-optical device and electronic apparatus
USRE50102E1 (en) 2009-01-05 2024-08-27 138 East Lcd Advancements Limited Electro-optical device and electronic apparatus
JP2012220957A (ja) * 2011-04-08 2012-11-12 Boe Technology Group Co Ltd 半透過半反射型アレイ基板及び半透過半反射型液晶ディスプレー

Also Published As

Publication number Publication date
JP3126661B2 (ja) 2001-01-22
JP3901902B2 (ja) 2007-04-04
US6914260B2 (en) 2005-07-05
US5982460A (en) 1999-11-09
US20030047783A1 (en) 2003-03-13
US6475837B2 (en) 2002-11-05
US20010029071A1 (en) 2001-10-11
US20070182873A1 (en) 2007-08-09
US20050146667A1 (en) 2005-07-07
US7206053B2 (en) 2007-04-17
US7542103B2 (en) 2009-06-02
US6246453B1 (en) 2001-06-12
JP2000206896A (ja) 2000-07-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3126661B2 (ja) 液晶表示装置
JP3708637B2 (ja) 液晶表示装置
JP3267011B2 (ja) 液晶表示装置
KR100321925B1 (ko) 4장의마스크를이용한액정표시장치용박막트랜지스터기판의제조방법및액정표시장치용박막트랜지스터기판
JPH10319431A (ja) 薄膜トランジスタアレイ基板
JP2760462B2 (ja) アクティブマトリクス基板
JP2006317867A (ja) 薄膜トランジスタ基板及び液晶表示パネル
JP3127619B2 (ja) アクティブマトリクス基板
JPS6129820A (ja) アクテイプマトリクス表示装置用基板
JPH1010581A (ja) 表示装置
JPH1010580A (ja) 表示装置
JP3326832B2 (ja) 液晶表示装置
JP3216053B2 (ja) 液晶表示装置
US20050037528A1 (en) Thin film transistor liquid crystal display and fabrication method thereof
JP3901925B2 (ja) アクティブマトリクス型の液晶表示装置
JPH06301052A (ja) 液晶表示装置及びその製造方法
JP3269480B2 (ja) 透過型液晶表示装置
JPH09274202A (ja) 薄膜トランジスタアレイ基板
KR100397672B1 (ko) 액정 표시 장치용 어레이 기판 및 그의 제조 방법
JP3647543B2 (ja) 半導体装置
KR19990085788A (ko) 액정표시장치 액티브패널의 구조 및 그 제조방법
JP2006018326A (ja) 表示装置
JPH0561065A (ja) アクテイブマトリクス基板の製造方法
JPH07281211A (ja) 電気光学素子
JP2006003925A (ja) 表示装置

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081102

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091102

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091102

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091102

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101102

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101102

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111102

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111102

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121102

Year of fee payment: 12

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121102

Year of fee payment: 12

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131102

Year of fee payment: 13

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees