JPH0755720A

JPH0755720A - 透明および不透明フィルムの欠点検査装置

Info

Publication number: JPH0755720A
Application number: JP20740993A
Authority: JP
Inventors: Kazumasa Akimoto; 和昌穐本
Original assignee: Toyobo Co Ltd
Current assignee: Toyobo Co Ltd
Priority date: 1993-08-23
Filing date: 1993-08-23
Publication date: 1995-03-03

Abstract

(57)【要約】【目的】透明フィルムおよび不透明フィルムの両者の
欠点の検査を実施できる装置を提供する。【構成】欠点検査装置は、被検体フィルム５を順次移
送する手段６ａ，６ｂと、フィルム５に光を照射する透
過用光源１および反射用光源２ａ，２ｂと、フィルム５
の透過光または反射光を受光し映像信号に変換する固体
撮像デバイス３と、固体撮像デバイス３で得られた映像
信号を処理して欠点有無を判定する信号処理装置４とに
より構成される。透過用光源１と反射用光源２ａ，２ｂ
は互いにフィルム５を介して両側に配置され、かつ両光
源１，２ａ，２ｂは、被検体フィルム５が透明であるか
不透明であるかに応じて、切替えて光照射できるように
なされており、固体撮像デバイス３が反射用光源２ａ，
２ｂと同じ側に配置されている。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、透明および不透明フィ
ルムまたはシートに存在する欠点を検出する方法に関す
る。なお、本明細書において、透明フィルムは半透明フ
ィルムをも含んで意味するものとする。

【０００２】

【従来の技術】現在、ポリエステル、ポリプロピレン等
のフィルムやシートは、例えば包装用資材、工業用資材
等として広範囲にわたって使用されている。これらフィ
ルムの製造過程において、フィルムに各種の欠点（欠
陥）が発生する場合がある。例えば、樹脂の炭化物ま
たは異物混入による黒点、異物、機械油、フィルム添
加物に含まれる油分の付着による油汚れ、ロールに付
着した油の転写による白汚れ、樹脂漏れ等による樹脂
付着、加熱不足によるフィルムの厚み不良、凸凹とい
った未延伸、フィルム組成内の厚み不良によるフィッ
シュアイ、フィルムの穴、等の欠点である。フィルム
用途によってはこれらの欠点が品質上の問題となるた
め、フィルムの欠点の有無の検査が行われている。

【０００３】従来、透明または半透明フィルムの欠点の
有無を検査する装置は、被検体フィルムに光を照射する
光源がフィルム下方に配置され、フィルム上方にはフィ
ルムの透過光を受光し映像信号に変換する固体撮像デバ
イスが配置されているものである。そして、固体撮像デ
バイスで得られた映像信号を処理してフィルムの欠点の
有無を判定する信号処理装置を備えている。この装置構
成において、フィルムに欠点が存在する場合は、フィル
ム透過光の変化が生じるので、その変化を固体撮像デバ
イスで検出することによって、欠点の存在を確認する。

【０００４】また、不透明フィルムの欠点の有無を検査
する装置では、フィルム透過光による検査をできないの
で、光源と固体撮像デバイスが、フィルム面の同じ側に
配置され、固体撮像デバイスでフィルム面の反射光を受
光するようになされている。フィルムに欠点が存在する
場合は、フィルム反射光の変化が生じるので、その変化
を固体撮像デバイスで検出することによって、欠点の存
在を確認する。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】このように、透明フィ
ルムと不透明フイルムとでは、同一の検査方式をとれな
いために、従来、検査装置は、透明フィルム用と、不透
明フイルム用の２台が必要である。

【０００６】しかしながら、検査装置を各々のフイルム
用に設置することは可能ではあるが、装置の設置に大き
なスペースと資金が必要になり、また、装置の保守管理
の面でも時間とコストを要するという問題がある。

【０００７】本発明の目的は、上記従来技術の問題を解
決し、透明フィルムおよび不透明フィルムの両者の欠点
の検査を実施できる装置を提供することにある。

【０００８】

【課題を解決するための手段】本発明の透明および不透
明フィルムの欠点検査装置は、被検体フィルムを順次移
送する手段と、被検体フィルムに光を照射する透過用光
源および反射用光源と、フィルムの透過光または反射光
を受光し映像信号に変換する固体撮像デバイスと、固体
撮像デバイスで得られた映像信号を処理してフィルムの
欠点の有無を判定する信号処理装置とにより構成され、
透過用光源と反射用光源は互いにフィルムを介して両側
に配置され、かつ両光源は、被検体フィルムが透明であ
るか不透明であるかに応じて、切替えて光照射できるよ
うになされており、固体撮像デバイスが反射用光源と同
じ側に配置されていることを特徴とするものである。

【０００９】本発明において、固体撮像デバイスとは、
例えば、ＣＣＤ型デバイス、ＭＯＳ型デバイス、ＣＩＤ
型デバイスである。

【００１０】

【作用】本発明の欠点検査装置は、透過用光源および反
射用光源が互いに被検体フィルムを介して両側に配置さ
れ、かつ両光源は、被検体フィルムが透明であるか不透
明であるかに応じて、切替えて光照射できるようになさ
れており、固体撮像デバイスが反射用光源と同じ側に配
置されているので、被検体フィルムが透明である場合に
は、透過用光源からフィルムに光照射を行い、フィルム
の透過光を固体撮像デバイスで受光することにより、一
方、被検体フィルムが不透明である場合には、反射用光
源からフィルムに光照射を行い、フィルムの反射光を固
体撮像デバイスで受光することにより、透明フィルムお
よび不透明フィルムの両者の欠点の検査を実施できる。

【００１１】

【実施例】次に、実施例により本発明を具体的に説明す
る。なお、図面の説明において、図１の上方を上、下方
を下、左方を左、右方を右とそれぞれ称する。

【００１２】図１は、本発明の欠点検査装置の構成の概
略を示す図である。また、図２は、図１の装置における
光学系を示す図である。

【００１３】図１において、被検体フィルム(5) の移送
手段としてベースロール(6a)と巻取ロール(6b)が同じ高
さ位置にそれぞれ水平に設けられている。両ロール(6a)
(6b)間の左右方向の中間点が、フィルム(5) の検査位置
(A) とされている。

【００１４】フィルム検査位置(A) 下方のフィルム(5)
からの距離(L1)２９０mmの位置に透過用光源として蛍光
灯(1) が設けられている。透過用光源(1) は、照射光が
フィルム(5) 面に垂直に入射するように向けられてい
る。フィルム(5) を挟んで透過用光源(1) と対向状に、
ＣＣＤラインセンサー(3) が、フィルム(5) からの距離
(L3)１２５３mmの位置に設けられている。ＣＣＤライン
センサー(3) は、被検体フィルム(5) の幅が広い場合に
は、検査能力向上のため、フィルム幅方向に複数台設置
されることが好ましい。また、反射用光源として２つの
蛍光灯(2a)(2b)が、検査位置(A) からそれぞれ左右に５
０mm離れたフィルム上方のフィルム(5) からの距離(L2)
５０mmの位置に設けられている。反射用光源(2a)(2b)
は、照射光がフィルム(5) 面の検査位置(A) に入射する
ように向けられている。すなわち、反射用光源(2a)(2b)
からの照射光のフィルム(5) 面への入射角（θ）は４５
°に設定されている。両光源(1)(2a)(2b) は、被検体フ
ィルム(5) が透明であるか不透明であるかに応じて、切
替えて光照射できるようになされている。そして、信号
処理装置(4) が、ＣＣＤラインセンサー(3) の出力と接
続されている。なお、ここで示した(L1)(L2)(L3)等の距
離は、一例を示したものであって、被検体フィルム(5)
の幅と、ＣＣＤラインセンサー(3) の設置台数とによっ
て（すなわち、ＣＣＤラインセンサー１台あたりに、ど
れだけのフィルム幅を検査させるかによって）、変化す
る値である。

【００１５】このような装置構成において、透明フィル
ム(5) を検査する場合について説明する。光源は、透過
用光源(1) を使用する。フィルム(5) は、ベースロール
(6a)側から巻取ロール(6b)側に一定速度で移送される。
図１中の破線で示すように、透過用光源(1) からフィル
ム(5) の検査位置(A) に向けて光を照射する。フィルム
(5) の色相や透明度に応じて、照射された光の一定量が
透過してＣＣＤラインセンサー(3) で受光される。フィ
ルム(5) に何らかの欠点が存在すると、透過光に変化を
生じ、その変化がＣＣＤラインセンサー(3) で観測され
る。ＣＣＤラインセンサー(3) では、受光した透過光を
映像信号（電圧信号）に変換して、信号処理装置(4) に
出力する。

【００１６】そして、信号処理装置(4) では、図３に示
すように、まず、映像ＡＧＣ回路で映像信号のレベル補
正処理を行い、続いて微分強調処理を行い、判定回路で
欠点の有無の判別を行う。ＡＧＣ回路では、一定周期に
て現状映像信号レベルと前周期の映像信号レベルとを比
較して補正を連続実施する。このようにレベル補正処理
を行うのは、ＣＣＤラインセンサー(3) からの信号には
素子によるバラツキがあり、また、被検体フィルム(5)
によって透過率が異なり信号レベルに差があるからであ
る。微分強調回路では、フィルム(5) の欠点による映像
信号変化は微小であるので、映像信号変化を微分強調し
て、判定回路で欠点の判別を行う。

【００１７】次に、図４および図５を参照して、判定回
路での欠点の判別について詳しく説明する。微分強調回
路で得られた微分信号の電圧と欠点サイズとは一般に正
比例するので、検知すべきサイズ以上の欠点に対してス
レッシュ電圧を予め設定しておく。そしてスレッシュ電
圧と微分信号の電圧とを比較する。スレッシュ電圧以上
の微分信号について欠点と判別する。このスレッシュ電
圧以上の微分信号については、クロックパルスと同期さ
せ２値化を実施して、ビット数によつて欠点の幅判定を
行う（図４）。また、２値化信号の継続時間から欠点の
長さ判定を行う（図５）。このように、判定回路によっ
て、欠点の存在のみならず、欠点の幅判定および長さ判
定をも行うことができる。

【００１８】上記装置において、不透明フィルム(5) を
検査する場合について説明する。光源は、反射用光源(2
a)(2b)を使用する。図１中の破線で示すように、反射用
光源(2a)(2b)からフィルム(5) の検査位置(A) に向けて
光を照射する。フィルム(5)面で反射された光の一定量
がＣＣＤラインセンサー(3) で受光される。フィルム
(5) に何らかの欠点が存在すると、透過光に変化を生
じ、その変化がＣＣＤラインセンサー(3) で観測され、
ＣＣＤラインセンサー(3) から映像信号を信号処理装置
(4) に出力する。以降の信号処理は透明フィルムの場合
と同様であるので、説明を省略する。

【００１９】なお、本装置では、不透明フィルム(5) の
上面のみしか検査できないが、フィルム(5) の下方に
も、１組の反射用光源とＣＣＤラインセンサーを設置す
ることによって、フィルム(5) の上下両面を同時に検査
することができる。

【００２０】

【発明の効果】本発明の欠点検査装置によると、透明フ
ィルムおよび不透明フィルムの両者の欠点の検査を確実
に実施できるので、検査装置の設置の省スペース化と省
コスト化が可能である。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の装置の概略を示す図である。

【図２】本発明における光学系を示す図である。

【図３】本発明における信号処理装置の概略を示す図で
ある。

【図４】本発明における欠点判別方法を示す図である。

【図５】本発明における欠点判別方法を示す図である。

【符号の説明】 (1) …透過用光源 (2a)(2b)…反射用光源 (3) …固体撮像デバイス (4) …信号処理装置 (5) …被検体フィルム (6a)(6b)…移送手段

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】透明フィルムおよび不透明フィルムの欠
点を検査する装置であって、被検体フィルム(5) を順次
移送する手段(6a)(6b)と、フィルム(5) に光を照射する
透過用光源(1) および反射用光源(2a)(2b)と、フィルム
(5) の透過光または反射光を受光し映像信号に変換する
固体撮像デバイス(3) と、固体撮像デバイス(3) で得ら
れた映像信号を処理してフィルム(5) の欠点の有無を判
定する信号処理装置(4) とにより構成され、透過用光源
(1) と反射用光源(2a)(2b)は互いにフィルム(5) を介し
て両側に配置され、かつ両光源(1)(2a)(2b) は、被検体
フィルム(5) が透明であるか不透明であるかに応じて、
切替えて光照射できるようになされており、固体撮像デ
バイス(3) が反射用光源(2a)(2b)と同じ側に配置されて
いることを特徴とする、透明および不透明フィルムの欠
点検査装置。