JPH0772099A - 不透明フィルムの欠点検査方法 - Google Patents
不透明フィルムの欠点検査方法Info
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- JPH0772099A JPH0772099A JP21944193A JP21944193A JPH0772099A JP H0772099 A JPH0772099 A JP H0772099A JP 21944193 A JP21944193 A JP 21944193A JP 21944193 A JP21944193 A JP 21944193A JP H0772099 A JPH0772099 A JP H0772099A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 不透明フィルムのベース色と欠点の色が同系
色の場合や、油分付着の場合でも、欠点を精度良く検出
することが可能な、不透明フィルムの欠点検査方法を提
供する。 【構成】 本発明の欠点検査方法は、光源1,2から被
検体不透明フィルム5面に光を照射して、フィルム5面
で反射した光を固体撮像デバイス3で受光し映像信号に
変換して、得られた映像信号を信号処理装置4で処理し
てフィルム5の欠点の有無を判定する。光源2から、3
50〜450nmに極大波長を有する光を照射する。
色の場合や、油分付着の場合でも、欠点を精度良く検出
することが可能な、不透明フィルムの欠点検査方法を提
供する。 【構成】 本発明の欠点検査方法は、光源1,2から被
検体不透明フィルム5面に光を照射して、フィルム5面
で反射した光を固体撮像デバイス3で受光し映像信号に
変換して、得られた映像信号を信号処理装置4で処理し
てフィルム5の欠点の有無を判定する。光源2から、3
50〜450nmに極大波長を有する光を照射する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、不透明フィルムまたは
シートの製造時に生じるシート面の欠点(欠陥)を検出
する方法に関する。
シートの製造時に生じるシート面の欠点(欠陥)を検出
する方法に関する。
【0002】
【従来の技術】現在、ポリエステル、ポリプロピレン等
のフィルムやシート(以下、フィルムという)は、例え
ば包装用資材、工業用資材等として広範囲にわたって使
用されている。これらフィルムの製造過程において、フ
ィルム面に各種の欠点(欠陥)が発生する場合がある。
例えば、樹脂の炭化物または異物混入による黒点、異
物、機械油、フィルム添加物に含まれる油分の付着に
よる油汚れ、ロールに付着した油の転写による白汚
れ、樹脂漏れ等による樹脂付着、加熱不足によるフ
ィルムの厚み不良、凸凹といった未延伸、フィルム組
成内の厚み不良によるフィッシュアイ、フィルムの
穴、等の欠点である。フィルム用途によってはこれらの
欠点が品質上の問題となるため、フィルム面の欠点の有
無の検査が行われている。
のフィルムやシート(以下、フィルムという)は、例え
ば包装用資材、工業用資材等として広範囲にわたって使
用されている。これらフィルムの製造過程において、フ
ィルム面に各種の欠点(欠陥)が発生する場合がある。
例えば、樹脂の炭化物または異物混入による黒点、異
物、機械油、フィルム添加物に含まれる油分の付着に
よる油汚れ、ロールに付着した油の転写による白汚
れ、樹脂漏れ等による樹脂付着、加熱不足によるフ
ィルムの厚み不良、凸凹といった未延伸、フィルム組
成内の厚み不良によるフィッシュアイ、フィルムの
穴、等の欠点である。フィルム用途によってはこれらの
欠点が品質上の問題となるため、フィルム面の欠点の有
無の検査が行われている。
【0003】このようなフィルム検査方式には、主とし
て、固体撮像素子カメラ方式とレーザー方式の2種類が
ある。いずれの方式においても、フィルム面の欠点を浮
き立たす光源と光学系が重要な要素である。
て、固体撮像素子カメラ方式とレーザー方式の2種類が
ある。いずれの方式においても、フィルム面の欠点を浮
き立たす光源と光学系が重要な要素である。
【0004】検査すべきフィルムが透明または半透明で
ある場合には、フィルムの下方に配置された光源から光
を照射し、フィルム上方に配置されたCCDカメラ等の
固体撮像デバイスによって、フィルムを透過した光を検
出する方法が一般的に行われている。フィルムに欠点が
存在する場合は、フィルム透過光の変化が生じるので、
その変化を固体撮像デバイスで検出することによって、
欠点の存在を確認する。
ある場合には、フィルムの下方に配置された光源から光
を照射し、フィルム上方に配置されたCCDカメラ等の
固体撮像デバイスによって、フィルムを透過した光を検
出する方法が一般的に行われている。フィルムに欠点が
存在する場合は、フィルム透過光の変化が生じるので、
その変化を固体撮像デバイスで検出することによって、
欠点の存在を確認する。
【0005】また、検査すべきフィルムが、各種添加剤
等による着色のために不透明である場合には、光はフィ
ルムを透過しないので、上記のような検出を行うことは
できない。そこで、この場合には一般的に、フィルムの
上方に配置された光源から光を照射し、フィルムの上方
に配置された固体撮像デバイスによって、フィルム面で
反射した光を検出する方法が行われている。
等による着色のために不透明である場合には、光はフィ
ルムを透過しないので、上記のような検出を行うことは
できない。そこで、この場合には一般的に、フィルムの
上方に配置された光源から光を照射し、フィルムの上方
に配置された固体撮像デバイスによって、フィルム面で
反射した光を検出する方法が行われている。
【0006】そして、光源としては、一般に白色蛍光灯
や白熱ランプが用いられている。白色蛍光灯が用いられ
るのは、白色蛍光灯の分光エネルギー分布がCCD素子
の光電変換特性と非常に近く、信号変換効率が高いため
である。
や白熱ランプが用いられている。白色蛍光灯が用いられ
るのは、白色蛍光灯の分光エネルギー分布がCCD素子
の光電変換特性と非常に近く、信号変換効率が高いため
である。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、不透明
フィルムの欠点検査を実施する場合において、光源とし
て白色蛍光灯を使用すると、不透明フィルムのベース色
(バックカラー)と欠点の色が同系色(例えば、茶色フ
ィルムに対して欠点が茶色)の場合では、欠点の検出能
力が低下し、欠点の有無の判別が困難になるという問題
がある。また、油分は一般に検出しにくい欠点である。
フィルムの欠点検査を実施する場合において、光源とし
て白色蛍光灯を使用すると、不透明フィルムのベース色
(バックカラー)と欠点の色が同系色(例えば、茶色フ
ィルムに対して欠点が茶色)の場合では、欠点の検出能
力が低下し、欠点の有無の判別が困難になるという問題
がある。また、油分は一般に検出しにくい欠点である。
【0008】本発明の目的は、上記従来技術の問題を解
決し、不透明フィルムのベース色と欠点の色が同系色の
場合や、油分付着の場合でも、欠点を精度良く検出する
ことが可能な、不透明フィルムの欠点検査方法を提供す
ることにある。
決し、不透明フィルムのベース色と欠点の色が同系色の
場合や、油分付着の場合でも、欠点を精度良く検出する
ことが可能な、不透明フィルムの欠点検査方法を提供す
ることにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明の不透明フィルム
面の欠点検査方法は、少なくとも1つの光源から被検体
不透明フィルム面に光を照射して、フィルム面で反射し
た光を固体撮像デバイスで受光し映像信号に変換して、
得られた映像信号を信号処理装置で処理してフィルムの
欠点の有無を判定する、不透明フィルムの欠点を検査す
る方法において、少なくとも1つの光源から、280〜
450nmに極大波長を有する光を照射することを特徴
とするものである。本発明において、極大波長の好まし
い範囲は、350〜450nmである。
面の欠点検査方法は、少なくとも1つの光源から被検体
不透明フィルム面に光を照射して、フィルム面で反射し
た光を固体撮像デバイスで受光し映像信号に変換して、
得られた映像信号を信号処理装置で処理してフィルムの
欠点の有無を判定する、不透明フィルムの欠点を検査す
る方法において、少なくとも1つの光源から、280〜
450nmに極大波長を有する光を照射することを特徴
とするものである。本発明において、極大波長の好まし
い範囲は、350〜450nmである。
【0010】本発明において、光源から280〜450
nmに極大波長を有する光を照射するには、例えば光源
として青色蛍光灯を用いてもよいし、あるいは他の光源
を用いて、光源と被検体フィルムとの間にカラーフィル
ターを設けて280〜450nmの波長域の光を選択的
に被検体フィルムに照射するようにしてもよい。
nmに極大波長を有する光を照射するには、例えば光源
として青色蛍光灯を用いてもよいし、あるいは他の光源
を用いて、光源と被検体フィルムとの間にカラーフィル
ターを設けて280〜450nmの波長域の光を選択的
に被検体フィルムに照射するようにしてもよい。
【0011】本発明においては、前記光源として青色蛍
光灯を用いた場合には、青色蛍光灯は光束パワーがなく
光量不足となるので、これを補うために、白色蛍光灯
(550〜570nmに極大波長を有する)を併用する
ことが好ましい。
光灯を用いた場合には、青色蛍光灯は光束パワーがなく
光量不足となるので、これを補うために、白色蛍光灯
(550〜570nmに極大波長を有する)を併用する
ことが好ましい。
【0012】本発明において、固体撮像デバイスとは、
例えば、CCD型デバイス、MOS型デバイス、CID
型デバイスである。
例えば、CCD型デバイス、MOS型デバイス、CID
型デバイスである。
【0013】
【作用】本発明の不透明フィルムの欠点検査方法による
と、少なくとも1つの光源から、280〜450nmに
極大波長を有する光を照射するので次の作用がある。
と、少なくとも1つの光源から、280〜450nmに
極大波長を有する光を照射するので次の作用がある。
【0014】欠点が油の付着の場合には、280〜45
0nmの光の照射によって、油が蛍光を発生する。その
結果、フィルムの正常部と欠点部の映像信号に差が顕著
に生じる。
0nmの光の照射によって、油が蛍光を発生する。その
結果、フィルムの正常部と欠点部の映像信号に差が顕著
に生じる。
【0015】また、フィルムのベース色と欠点の色が同
系色の場合、例えば茶色フィルムに対して欠点が油のよ
うに茶色でも、フィルムのベース色と欠点の色との間に
色相差が生じ、コントラスト差が得られる。その結果、
フィルムの正常部と欠点部の映像信号に差が顕著に生じ
る。
系色の場合、例えば茶色フィルムに対して欠点が油のよ
うに茶色でも、フィルムのベース色と欠点の色との間に
色相差が生じ、コントラスト差が得られる。その結果、
フィルムの正常部と欠点部の映像信号に差が顕著に生じ
る。
【0016】
【実施例】次に、実施例により本発明を具体的に説明す
る。なお、図面の説明において、図1の上方を上、下方
を下、左方を左、右方を右とそれぞれ称する。
る。なお、図面の説明において、図1の上方を上、下方
を下、左方を左、右方を右とそれぞれ称する。
【0017】図1は、本発明の欠点検査方法に用いる検
査装置の構成の概略を示す図である。まず、装置の概略
について説明する。
査装置の構成の概略を示す図である。まず、装置の概略
について説明する。
【0018】図1において、被検体フィルム(5) は、ベ
ース色が茶色の不透明フィルムである。被検体フィルム
(5) の移送手段としてベースロール(6a)と巻取ロール(6
b)が同じ高さ位置にそれぞれ水平に設けられている。両
ロール(6a)(6b)間の左右方向の中間点が、フィルム(5)
の検査位置(A) とされている。
ース色が茶色の不透明フィルムである。被検体フィルム
(5) の移送手段としてベースロール(6a)と巻取ロール(6
b)が同じ高さ位置にそれぞれ水平に設けられている。両
ロール(6a)(6b)間の左右方向の中間点が、フィルム(5)
の検査位置(A) とされている。
【0019】光源(1) は、白色蛍光灯(550〜570
nmに極大波長を有する)であり、検査位置(A) から左
に50mm離れてフィルム上方のフィルム(5) からの距離
(L2)50mmの位置に設けられている。また、光源(2)
は、青色蛍光灯(350〜450nmに極大波長を有す
る)であり、検査位置(A) から右に50mm離れて、光源
(1) と同じ高さ位置に設けられている。これら両光源
(1) (2) は、それぞれ照射光がフィルム(5) 面の検査位
置(A) に入射するように向けられている。すなわち、光
源(1) (2) からの照射光のフィルム(5) 面への入射角
(θ)は45°に設定されている。CCDラインセンサ
ー(3) は、フィルム検査位置(A) の上方の距離(L3)73
0mmの位置に設けられている。CCDラインセンサー
(3) は、被検体フィルム(5) の幅が広い場合には、検査
能力向上のため、フィルム幅方向に複数台設置されるこ
とが好ましい。そして、信号処理装置(4) が、CCDラ
インセンサー(3) の出力と接続されている。なお、ここ
で示した(L2)(L3)等の距離は、一例を示したものであっ
て、被検体フィルム(5) の幅と、CCDラインセンサー
(3)の設置台数とによって(すなわち、CCDラインセ
ンサー1台あたりに、どれだけのフィルム幅を検査させ
るかによって)、変化する値である。
nmに極大波長を有する)であり、検査位置(A) から左
に50mm離れてフィルム上方のフィルム(5) からの距離
(L2)50mmの位置に設けられている。また、光源(2)
は、青色蛍光灯(350〜450nmに極大波長を有す
る)であり、検査位置(A) から右に50mm離れて、光源
(1) と同じ高さ位置に設けられている。これら両光源
(1) (2) は、それぞれ照射光がフィルム(5) 面の検査位
置(A) に入射するように向けられている。すなわち、光
源(1) (2) からの照射光のフィルム(5) 面への入射角
(θ)は45°に設定されている。CCDラインセンサ
ー(3) は、フィルム検査位置(A) の上方の距離(L3)73
0mmの位置に設けられている。CCDラインセンサー
(3) は、被検体フィルム(5) の幅が広い場合には、検査
能力向上のため、フィルム幅方向に複数台設置されるこ
とが好ましい。そして、信号処理装置(4) が、CCDラ
インセンサー(3) の出力と接続されている。なお、ここ
で示した(L2)(L3)等の距離は、一例を示したものであっ
て、被検体フィルム(5) の幅と、CCDラインセンサー
(3)の設置台数とによって(すなわち、CCDラインセ
ンサー1台あたりに、どれだけのフィルム幅を検査させ
るかによって)、変化する値である。
【0020】次に検査方法について説明する。上記装置
構成において、フィルム(5) は、ベースロール(6a)側か
ら巻取ロール(6b)側に一定速度で移送される。図1中の
破線で示すように、両光源(1) (2) からフィルム(5) の
検査位置(A) に向けてそれそれ光を照射する。このとき
両光源(1) (2) から照射される光のエネルギー分布を図
2に示す。フィルム(5) の色相や表面状態に応じて、照
射された光の一定量が反射してCCDラインセンサー
(3) で受光される。フィルム(5) に何らかの欠点が存在
すると、反射光に変化を生じ、その変化がCCDライン
センサー(3) で観測される。CCDラインセンサー(3)
では、受光した反射光を映像信号(電圧信号)に変換し
て、信号処理装置(4) に出力する。
構成において、フィルム(5) は、ベースロール(6a)側か
ら巻取ロール(6b)側に一定速度で移送される。図1中の
破線で示すように、両光源(1) (2) からフィルム(5) の
検査位置(A) に向けてそれそれ光を照射する。このとき
両光源(1) (2) から照射される光のエネルギー分布を図
2に示す。フィルム(5) の色相や表面状態に応じて、照
射された光の一定量が反射してCCDラインセンサー
(3) で受光される。フィルム(5) に何らかの欠点が存在
すると、反射光に変化を生じ、その変化がCCDライン
センサー(3) で観測される。CCDラインセンサー(3)
では、受光した反射光を映像信号(電圧信号)に変換し
て、信号処理装置(4) に出力する。
【0021】そして、信号処理装置(4) では、図3に示
すように、まず、映像AGC回路で映像信号のレベル補
正処理を行い、続いて微分強調処理を行い、判定回路で
欠点の有無の判別を行う。AGC回路では、一定周期に
て現状映像信号レベルと前周期の映像信号レベルとを比
較して補正を連続実施する。このようにレベル補正処理
を行うのは、CCDラインセンサー(3) からの信号には
素子によるバラツキがあり、また、被検体フィルム(5)
によって透過率が異なり信号レベルに差があるからであ
る。微分強調回路では、フィルム(5) の欠点による映像
信号変化は微小であるので、映像信号変化を微分強調し
て、判定回路で欠点の判別を行う。
すように、まず、映像AGC回路で映像信号のレベル補
正処理を行い、続いて微分強調処理を行い、判定回路で
欠点の有無の判別を行う。AGC回路では、一定周期に
て現状映像信号レベルと前周期の映像信号レベルとを比
較して補正を連続実施する。このようにレベル補正処理
を行うのは、CCDラインセンサー(3) からの信号には
素子によるバラツキがあり、また、被検体フィルム(5)
によって透過率が異なり信号レベルに差があるからであ
る。微分強調回路では、フィルム(5) の欠点による映像
信号変化は微小であるので、映像信号変化を微分強調し
て、判定回路で欠点の判別を行う。
【0022】次に、図4および図5を参照して、判定回
路での欠点の判別について詳しく説明する。微分強調回
路で得られた微分信号の電圧と欠点サイズとは一般に正
比例するので、検知すべきサイズ以上の欠点に対してス
レッシュ電圧を予め設定しておく。そしてスレッシュ電
圧と微分信号の電圧とを比較する。スレッシュ電圧以上
の微分信号について欠点と判別する。このスレッシュ電
圧以上の微分信号については、クロックパルスと同期さ
せ2値化を実施して、ビット数によつて欠点の幅判定を
行う(図4)。また、2値化信号の継続時間から欠点の
長さ判定を行う(図5)。このように、判定回路によっ
て、欠点の存在のみならず、欠点の幅判定および長さ判
定をも行うことができる。
路での欠点の判別について詳しく説明する。微分強調回
路で得られた微分信号の電圧と欠点サイズとは一般に正
比例するので、検知すべきサイズ以上の欠点に対してス
レッシュ電圧を予め設定しておく。そしてスレッシュ電
圧と微分信号の電圧とを比較する。スレッシュ電圧以上
の微分信号について欠点と判別する。このスレッシュ電
圧以上の微分信号については、クロックパルスと同期さ
せ2値化を実施して、ビット数によつて欠点の幅判定を
行う(図4)。また、2値化信号の継続時間から欠点の
長さ判定を行う(図5)。このように、判定回路によっ
て、欠点の存在のみならず、欠点の幅判定および長さ判
定をも行うことができる。
【0023】この実施例では、光源(2) から350〜4
50nmに極大波長を有する光を照射するので、フィル
ム(5) に油の付着がある場合には、油が蛍光を発生し
て、フィルム(5) の正常部と欠点部の映像信号に差が顕
著に生じる。また、欠点が、フィルムベース色と同系色
の茶色の場合でも、フィルムベース色と欠点の茶色との
間に色相差が生じ、コントラスト差が得られ、フィルム
(5) の正常部と欠点部の映像信号に差が顕著に生じる。
その結果、不透明被検体フィルム(5) の欠点の検出性能
が、従来の方法に比べて向上した。
50nmに極大波長を有する光を照射するので、フィル
ム(5) に油の付着がある場合には、油が蛍光を発生し
て、フィルム(5) の正常部と欠点部の映像信号に差が顕
著に生じる。また、欠点が、フィルムベース色と同系色
の茶色の場合でも、フィルムベース色と欠点の茶色との
間に色相差が生じ、コントラスト差が得られ、フィルム
(5) の正常部と欠点部の映像信号に差が顕著に生じる。
その結果、不透明被検体フィルム(5) の欠点の検出性能
が、従来の方法に比べて向上した。
【0024】
【発明の効果】本発明の欠点検査方法によると、上述の
ように、欠点が油の付着の場合には、油が蛍光を発生
し、また、欠点の色がフィルムベース色と同系色の場合
にも、コントラスト差が得られるので、フィルムの正常
部と欠点部の映像信号の差が顕著に生じる。その結果、
不透明フィルムの欠点の検出性能が向上する。
ように、欠点が油の付着の場合には、油が蛍光を発生
し、また、欠点の色がフィルムベース色と同系色の場合
にも、コントラスト差が得られるので、フィルムの正常
部と欠点部の映像信号の差が顕著に生じる。その結果、
不透明フィルムの欠点の検出性能が向上する。
【0025】本発明の方法は、茶色のフィルムに油が付
着している場合の検出性能がとりわけ優れている。
着している場合の検出性能がとりわけ優れている。
【0026】さらに、油には280〜450nmの光の
照射によって蛍光を発生するという作用があるので、光
源から、280〜450nmに極大波長を有する光を照
射するという本発明の特徴は、不透明フィルムのみなら
ず透明フィルムの欠点検査にも非常に有効である。
照射によって蛍光を発生するという作用があるので、光
源から、280〜450nmに極大波長を有する光を照
射するという本発明の特徴は、不透明フィルムのみなら
ず透明フィルムの欠点検査にも非常に有効である。
【図1】本発明の装置の概略を示す図である。
【図2】本発明における照射光のエネルギー分布例を示
す図である。
す図である。
【図3】本発明における信号処理装置の概略を示す図で
ある。
ある。
【図4】本発明における欠点判別方法を示す図である。
【図5】本発明における欠点判別方法を示す図である。
(1)(2)…光源 (3) …固体撮像デバイス (4) …信号処理装置 (5) …被検体フィルム (6a)(6b)…移送手段
Claims (1)
- 【請求項1】 少なくとも1つの光源(1) (2) から被検
体不透明フィルム(5) 面に光を照射して、フィルム(5)
面で反射した光を固体撮像デバイス(3) で受光し映像信
号に変換して、得られた映像信号を信号処理装置(4) で
処理してフィルム(5) の欠点の有無を判定する、不透明
フィルムの欠点を検査する方法において、少なくとも1
つの光源(2) から、280〜450nmに極大波長を有
する光を照射することを特徴とする、不透明フィルムの
欠点検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21944193A JPH0772099A (ja) | 1993-09-03 | 1993-09-03 | 不透明フィルムの欠点検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21944193A JPH0772099A (ja) | 1993-09-03 | 1993-09-03 | 不透明フィルムの欠点検査方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0772099A true JPH0772099A (ja) | 1995-03-17 |
Family
ID=16735463
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP21944193A Pending JPH0772099A (ja) | 1993-09-03 | 1993-09-03 | 不透明フィルムの欠点検査方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0772099A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009068983A (ja) * | 2007-09-13 | 2009-04-02 | Inoue Mfg Inc | ロールミルのロール表面検査装置 |
KR200474087Y1 (ko) * | 2013-11-29 | 2014-09-19 | 피에스아이트레이딩 주식회사 | 필름 결함 검사 장치 |
-
1993
- 1993-09-03 JP JP21944193A patent/JPH0772099A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009068983A (ja) * | 2007-09-13 | 2009-04-02 | Inoue Mfg Inc | ロールミルのロール表面検査装置 |
KR200474087Y1 (ko) * | 2013-11-29 | 2014-09-19 | 피에스아이트레이딩 주식회사 | 필름 결함 검사 장치 |
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Date | Code | Title | Description |
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A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20030812 |