JPH07160586A - メモリ監視方法及びメモリ監視回路 - Google Patents

メモリ監視方法及びメモリ監視回路

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JPH07160586A
JPH07160586A JP5339025A JP33902593A JPH07160586A JP H07160586 A JPH07160586 A JP H07160586A JP 5339025 A JP5339025 A JP 5339025A JP 33902593 A JP33902593 A JP 33902593A JP H07160586 A JPH07160586 A JP H07160586A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
memory
control signal
circuit
read
Prior art date
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Pending
Application number
JP5339025A
Other languages
English (en)
Inventor
Hideaki Tokuchi
秀昭 徳地
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPH07160586A publication Critical patent/JPH07160586A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 メモリに格納されたデータの複数ビットの誤
りを検出する。 【構成】 データラッチ回路2はメモリ1に書き込まれ
るデータDinを保持する。リードパルス生成回路3
は、ライト制御信号Wの終了、すなわちデータDinの
メモリ1への書き込みが終了した時点でリード制御信号
Raを生成する。この信号Raの出力に伴い論理積回路
4からはリード制御信号Rbが出力される。この信号R
bが入力されたメモリ1は格納しているデータをデータ
Doutとして出力する。比較回路5は、データラッチ
回路2からのデータDrとメモリ1からのデータDou
tの全ビットを比較し、これらが一致しないときはデー
タが異常であると判断してエラー信号ERRを出力す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えばマイクロプロセ
ッサ回路のメモリに格納されたデータをチェックするメ
モリ監視方法及びメモリ監視回路に関し、特にデータの
複数ビットの誤りを検出することができるメモリ監視方
法及びメモリ監視回路に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より例えばマイクロプロセッサ回路
のメモリに格納されたデータが正常かどうかをチェック
するメモリ監視回路として、パリティチェックによる方
式が知られている。
【0003】図3はパリティチェックによる従来のメモ
リ監視回路のブロック図である。11はメモリ、12は
メモリ11に入力される書込データDinからパリティ
情報を生成するパリティ生成回路、13はこのパリティ
情報を記憶するパリティ用メモリである。14はパリテ
ィチェック回路であり、パリティ用メモリ13に記憶さ
れたパリティ情報とメモリ11から読み出された読出デ
ータDoutからメモリ11に格納されたデータをチェ
ックし、異常と判断したときにエラー信号ERRを出力
する。また、Wはデータ書き込みのためのライト制御信
号、Rはデータ読み出しのためのリード制御信号であ
る。
【0004】次に、このようなメモリ監視回路の動作を
説明する。メモリ11にデータを書き込むときは、ライ
ト制御信号Wを「L」にして書込データDinをメモリ
11に入力することにより、データDinがメモリ11
に格納される。一方、同様にライト制御信号W及び書込
データDinが入力されるパリティ生成回路12は書込
データDinから1ビットのパリティ情報を生成してパ
リティ用メモリ13に出力し、パリティ用メモリ13は
このパリティ情報を記憶する。
【0005】次いで、メモリ11からデータを読み出す
ときは、リード制御信号Rを「L」にすることにより、
メモリ11に格納されているデータが読出データDou
tとして出力される。同時に、リード制御信号Rが入力
されたパリティ用メモリ13からはパリティ情報が出力
される。そして、パリティチェック回路14は、読出デ
ータDoutとパリティ情報から演算を行いメモリ11
に格納されたデータが正常かどうかを判断する。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】従来のメモリ監視回路
は以上のようにパリティチェックによってデータの正常
・異常を判断しているが、これはビット「1」又は
「0」の総数がパリティ情報を含めて偶数又は奇数であ
ることに基づいており、例えば偶数パリティであればビ
ットの数が偶数のときに正常と判断するので、データが
2ビット以上誤ったときに偶数となって正常と判断して
しまうことがあり、複数ビットの誤りを検出できないと
いう問題点があった。本発明は、上記課題を解決するた
めに、メモリに格納されたデータの複数ビットの誤りを
検出することができるメモリ監視方法及びメモリ監視回
路を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は、メモリに書き
込まれるデータをメモリとは別に保持し、データのメモ
リへの書き込みが終了したタイミングでメモリからデー
タを読み出し、保持されたデータとメモリから読み出さ
れたデータを比較することを特徴とする。
【0008】また、データ書き込みのためのライト制御
信号が入力されるとデータを格納し、データ読み出しの
ためのリード制御信号が入力されると格納されたデータ
を出力するメモリと、このメモリに書き込まれるデータ
を保持するデータラッチ回路と、ライト制御信号の終了
を検出してリード制御信号をメモリに出力するリードパ
ルス生成回路と、データラッチ回路により保持されたデ
ータとリードパルス生成回路から出力されたリード制御
信号に応じてメモリから出力されたデータを比較して一
致しないときにエラー信号を出力する比較回路とを有す
るものである。
【0009】
【作用】本発明によれば、メモリに書き込まれるデータ
をメモリとは別に保持し、書き込みが終了したタイミン
グでメモリからデータを読み出し、保持されたデータと
メモリから読み出されたデータを比較することにより、
メモリに格納されたデータのチェックが行われる。
【0010】また、データラッチ回路によってメモリに
書き込まれるデータが保持され、リードパルス生成回路
からライト制御信号の終了に伴いリード制御信号が出力
される。そして、比較回路によってデータラッチ回路で
保持されたデータとリードパルス生成回路から出力され
たリード制御信号に応じてメモリから出力されたデータ
が比較され、これらが一致しないときにエラー信号が出
力される。
【0011】
【実施例】図1は本発明の1実施例を示すメモリ監視回
路のブロック図、図2はこのメモリ監視回路の動作を説
明するタイミングチャート図であり、図3と同一のもの
には同一の符号を付してある。
【0012】1は図3の例のメモリ11と同様のメモ
リ、2はメモリ1に入力される書込データDinを保持
するデータラッチ回路、3はライト制御信号Wの終了を
検出してリード制御信号Raを生成するリードパルス生
成回路、4はリード制御信号RとRaの論理積をとって
リード制御信号Rbを出力する論理積回路である。ま
た、5は比較回路であり、書込データDinが保持され
た結果データラッチ回路2から出力されたデータDrと
論理積回路4から出力されたリード制御信号Rbに応じ
てメモリ1から出力されたデータDoutを比較し、こ
れらが一致しないときにエラー信号ERRを出力する。
【0013】次に、このようなメモリ監視回路の動作を
説明する。メモリ1にデータを書き込むときは、図2
(a)に示すようにライト制御信号Wを「L」にして図
2(b)に示すように書込データDinをメモリ1に入
力することにより、データDinがメモリ1に格納され
る。そして、データラッチ回路2は、ライト制御信号W
が立ち上がるタイミングで書込データDinを保持す
る。これによりデータラッチ回路2から出力されるの
が、図2(c)に示すデータDrである。
【0014】次いで、リードパルス生成回路3は、ライ
ト制御信号Wの終了、すなわちライト制御信号Wが
「H」となってデータDinのメモリ1への書き込みが
終了したタイミングで、図2(d)に示すようなリード
制御信号Raを生成する。今、リード制御信号Rは読み
出し動作でないことから「H」であり、リード制御信号
Raが「L」になったことにより、論理積回路4の出力
であるリード制御信号Rbはリード制御信号Raと同様
に「L」となる。
【0015】このリード制御信号Rbが入力されたメモ
リ1は、格納しているデータを図2(e)に示すように
読出データDoutとして出力する。次に、比較回路5
は、データラッチ回路2から出力されたデータDrとメ
モリ1から出力されたデータDoutの全ビットを比較
する。
【0016】そして、これらが一致すればメモリ1に格
納されたデータは正常であると判断し、またこれらが一
致しないときはデータが異常であると判断して図2
(f)のようにエラー信号ERRを「L」にする。この
ようにして、データ書き込み時に書込データDinに等
しいデータDrとメモリ1から出力された読出データD
outの全ビットを比較するので、メモリ1に格納され
たデータの複数ビットの誤りを検出することができる。
【0017】なお、本実施例ではメモリ1に入力するリ
ード制御信号Rbを生成する回路として論理積回路4を
用いたが、リード制御信号R又はRaが出力されたとき
にリード制御信号Rbを出力する回路であれば論理積回
路でなくても良い。
【0018】
【発明の効果】本発明によれば、メモリに書き込まれる
データをメモリとは別に保持し、書き込みが終了したタ
イミングでメモリからデータを読み出し、保持されたデ
ータとメモリから読み出されたデータを比較することに
より、データ書き込み時に全ビットのデータチェックが
行われるので、メモリに格納されたデータの複数ビット
の誤りを検出することができ、メモリ監視の信頼性を向
上させることができる。
【0019】また、データラッチ回路、リードパルス生
成回路、比較回路を設けることにより、メモリに格納さ
れたデータの全ビットのチェックを実現することができ
る。また、メモリからのデータの読み出し及びデータの
比較はハードウェアで行うため、ソフトウェア処理では
特に意識する必要がない。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の1実施例を示すメモリ監視回路のブロ
ック図である。
【図2】図1のメモリ監視回路の動作を説明するタイミ
ングチャート図である。
【図3】従来のメモリ監視回路のブロック図である。
【符号の説明】
1 メモリ 2 データラッチ回路 3 リードパルス生成回路 4 論理積回路 5 比較回路

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 メモリに書き込まれるデータをメモリと
    は別に保持し、 前記データのメモリへの書き込みが終了したタイミング
    でメモリから前記データを読み出し、 保持されたデータとメモリから読み出されたデータを比
    較することを特徴とするメモリ監視方法。
  2. 【請求項2】 データ書き込みのためのライト制御信号
    が入力されるとデータを格納し、データ読み出しのため
    のリード制御信号が入力されると格納されたデータを出
    力するメモリと、 このメモリに書き込まれるデータを保持するデータラッ
    チ回路と、 前記ライト制御信号の終了を検出してリード制御信号を
    メモリに出力するリードパルス生成回路と、 前記データラッチ回路によって保持されたデータとリー
    ドパルス生成回路から出力されたリード制御信号に応じ
    てメモリから出力されたデータを比較して一致しないと
    きにエラー信号を出力する比較回路とを有することを特
    徴とするメモリ監視回路。
JP5339025A 1993-12-03 1993-12-03 メモリ監視方法及びメモリ監視回路 Pending JPH07160586A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5339025A JPH07160586A (ja) 1993-12-03 1993-12-03 メモリ監視方法及びメモリ監視回路

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JP5339025A JPH07160586A (ja) 1993-12-03 1993-12-03 メモリ監視方法及びメモリ監視回路

Publications (1)

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JPH07160586A true JPH07160586A (ja) 1995-06-23

Family

ID=18323563

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5339025A Pending JPH07160586A (ja) 1993-12-03 1993-12-03 メモリ監視方法及びメモリ監視回路

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JP (1) JPH07160586A (ja)

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5826400A (ja) * 1981-08-07 1983-02-16 Nec Corp ストアチエツク機能付き記憶素子
JPH03214328A (ja) * 1990-01-19 1991-09-19 Fujitsu Ltd メモリテスト方式

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5826400A (ja) * 1981-08-07 1983-02-16 Nec Corp ストアチエツク機能付き記憶素子
JPH03214328A (ja) * 1990-01-19 1991-09-19 Fujitsu Ltd メモリテスト方式

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