JPH0618246B2 - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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JPH0618246B2
JPH0618246B2 JP59270819A JP27081984A JPH0618246B2 JP H0618246 B2 JPH0618246 B2 JP H0618246B2 JP 59270819 A JP59270819 A JP 59270819A JP 27081984 A JP27081984 A JP 27081984A JP H0618246 B2 JPH0618246 B2 JP H0618246B2
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利宣 平島
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Hitachi Ltd
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    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
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    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/488Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
    • H01L23/495Lead-frames or other flat leads
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    • H01L23/49548Cross section geometry
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    • H01L23/49555Cross section geometry characterised by bent parts the bent parts being the outer leads
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    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
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    • HELECTRICITY
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    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は半導体装置、特に、多数の外部接続端子を必要
とする半導体集積回路に用いて有効な技術に関する。
〔従来の技術〕
「Solid state technolgy日本
版」(Sep.1982p69〜p72)には、半導体集積回
路の機能密度の増加、リード(外部接続端子)数の増加
にともなってパッケージの寸法、端子位置に関する余裕
が一層きびしくなっている、との記載がある。
このため、高集積度の半導体集積回路においては、各外
部接続端子の間隔を挟めるとともに、各外部接続端子自
体を細くして、多数の外部接続端子を設けるようにして
いる。
しかし、本発明者の検討によると、上記構成では各外部
接続端子が曲がり易く、その上間隔が狭いので必然的に
配線パターンの間隔も狭くせねばならず、このため実装
時にハンダショートが発生し易い、などの問題点が明ら
かになった。
本発明の第1の目的は、多数の外部接続端子を設けると
ともに、実装時におけるハンダショートなどの不測の事
故を低減し得る半導体装置を提供することにある。
この第1の目的を達成する半導体装置として、本発明者
は、第1図〜第3図に示されている半導体装置を考え
た。
第1図は面実装型と呼ばれている半導体集積回路(以下
においてICという)の斜視図を示し、第2図はICの
要部の平面図を示し、第3図は要部の側面図を示す。
このICの特徴は、リードにおけるパッケージからの突
出部分を捻り構造としたことにある。
第1図に示すように、IC1を構成するパッケージ2の
外周囲からは多数のリード3が突出している。そして、
根元付近では水平状であるが約90度に捻ることによ
り、その先端部は板状体が垂直に直立したような状態に
なっている。
リード3を上記構造に形成することにより、各リード3
の間隔1が第2図に示すように実質的に拡大される。
すなわち、仮りにリード3が仮想線で示すように広幅の
ままであるとすると、配線パターン4もこれに対応して
仮想線で示す如く広幅にしなければならず、このままで
は配線パターン4の間隔が狭くなり、実装時にハンダシ
ョートなどが発生し易い。しかし、リード3を捻ること
により、リード3の間隔1が拡大されるので、配線パタ
ーン4は点線で示すように極めて狭い幅に形成すること
ができる。従って、リード3を上記構成になすことによ
り、配線パターン4間の隙間を大にすることができ、ハ
ンダディップ時におけるハンダショートの発生を低減す
ることができる。
また、リード3を上記構造になすことにより、ハンダデ
ィップ時におけるハンダのりを良好にすることもでき
る。
すなわち、実装時においては、各リード3の垂直部が第
3図に示すようにプリント基板5上に形成された配線パ
ダーン4上に直立する。
そして、ハンダディップ時においては、上記垂直部に沿
ってハンダ6が伸び上がり、リード3と配線パターン4
とを確実にハンダ付けする。
また、上記捻り部分においては、リード3が上下、左右
の何れにも変形しにくくリード3の変形が低減する。
第4図は前記第1の目的を達成する面実装型以外のIC
を示すものである。
第4図に示すように、水平方向に突出したリード13
は、一旦垂直方向に折り曲げられ、しかる後に捻られて
いる。この形状によれば、各リード13間の間隔を上記
の如く実質的に拡大することができ、しかもハンダ付け
も上記同様に確実に行い得られる。
また、ハンダショート、リード13の変形低減について
も、上記同様の効果がえられる。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら、第1図〜第3図に示されている半導体装
置、および、第4図に示されている半導体装置において
は、多数本のリードを設けるとともに、実装時における
ハンダショートなどの不測の事故を低減することができ
るが、半導体装置自体の集積度を高めることができない
という問題点がある。
すなわち、外部接続端子を多数本設けることが可能であ
っても、パッケージ2の内部に封止されるICチップは
単一であるため、半導体装置全体としての集積密度は、
結局、1個のICチップにおける集積密度に制限されて
しまう。つまり、せっかくリードを多数本設けることが
できても、それを充分に活用することができない場合が
発生する。
そこで、本発明の目的は、全体としての集積密度を増加
することができるとともに、その集積密度に応じたリー
ドを多数本確保することができる半導体装置を提供する
ことになる。
〔課題を解決するための手段〕
本発明に係る半導体装置は、ICチップがパッケージ内
に封止されており、ICチップに電気的にそれぞれ接続
された多数本のリードのそれぞれの一部がパッケージの
側面からの外部に突出されているとともに、各リードは
板形状に形成されてその幅広面がパッケージの側面にて
水平になるように配されている半導体装置において、 前記パッケージ(2)内に2個のICチップが上下2段
に積層されて封止されており、 前記リードは上段のリード(13)と下段のリード
(3)とを備えているとともに、 前記上段のICチップが上段のリード(13)に電気的
に接続され、前記下段のICチップが下段のリード
(3)に接続されており、 前記上段のリード(13)と前記下段のリード(3)と
が前記パッケージ(2)の側面にて上段と下段とで交互
に配されてそれぞれ整列されており、 前記上段のリード(13)はその基端部付近が前記パッ
ケージ(2)の側面に沿って下方向に折り曲げられてい
るとともに、その折曲部の下方位置が前記パッケージ
(2)の側面に直交するように捻じられており、 また、前記下段のリード(3)はその基端部付近が前記
上段のリード(13)の捻り部と平行になるような捻じ
られていることを特徴とする。
〔作用〕
前記した手段によれば、ICチップがパッケージ本体内
に上下2段に積層されているため、半導体装置全体とし
ての集積密度を、ICチップが1個の場合に比べて高め
ることができる。
そして、上下の各ICチップはリードを各別に備えてお
り、また、各リードは上下段のもの同士が交互に配され
て、かつ、捻りがそれぞれ与えられているため、リード
群の集積密度も高めることができる。
しかも、上段のリードはパッケージ側面に沿って折り曲
げられて、途中で捻られ、下段のリードは途中から捻ら
れているため、上下のリード同士が互いに干渉するのを
回避することができる。したがって、リード群の集積密
度が2個のICチップによる集積密度を制約すること
は、抑止ないしは抑制することができる。
〔実施例〕
第5図は本発明の一実施例である半導体装置を示す一部
省略斜視図である。
第5図中、第1図〜第4図に示された符号と同一の符号
が付された構成要素は第1図〜第4図において説明した
構成要素と同一の構成および作用効果を有するので、重
複する説明は省略する。
本実施例において、本発明に係るICは、第5図に示す
ように、各リード3、13が二段にわたって設けられて
いる。この場合、ICチップ(図示せず)はパッケージ
2内において積層して設けられ、下段のICチップがリ
ード3に接続され、上段のICチップがリード13に接
続される。
すなわち、パッケージ2内に2個のICチップが上下2
段に積層されて封止されている。リードは上段のリード
13と下段のリード3とを備えているとともに、上段の
ICチップが上段のリード13に電気的に接続され、下
段のICチップが下段のリード3に接続されている。
上段のリード13と下段のリード3とがパッケージ2の
側面にて上段と下段とで交互に配されてそれぞれ整列さ
れており、各リード13および3は板形状に形成されて
パッケージの側面にて厚さ方向が揃えられて幅方向が一
直線に並ぶように整列されている。
上段のリード13はその基端部付近がパッケージ2の側
面に沿って下方向に折り曲げられているとともに、その
折曲部の下方位置がパッケージ2の側面に直交するよう
に捻じられており、また、下段のリード3はその基端部
付近が前記上端のリード13の捻り部と平行になるよう
に捻じられている。
上記構成によれば、交互に設けられたリード3、13が
パッケージ導出部分で重なったとしても配線パターン4
に接触する位置では捻れリード3、13の間隔が大にな
るので、多数のリードを設けるにも関わらず、ハンダシ
ョートなどの事故を低減し得る。
〔発明の効果〕
(1) ICのリードを捻り構造にしたことにより、リ
ードの先端部の間隔を実質的に大にすることができ、多
数のリードを設け、かつリード間の接触を低減する、と
いう効果が得られる。
(2) 上記(1)により、配線パターンの間隔も大に
することができるので、ハンダディップ時におけるハン
ダシュートを低減することができる。
(3) ICチップがパッケージ本体内に上下2段に積
層されているため、半導体装置全体としての集積密度
を、ICチップが1個の場合に比べて高めることができ
る。
(4) そして、上下の各ICチップはリードを各別に
備えており、また、各リードは上下段のもの同士が交互
に配されて、かつ、捻りがそれぞれ与えられているた
め、リード群の集積密度も高めることができる。
(5) しかも、上段のリードはパッケージ側面に沿っ
て折り曲げられて、途中で捻られ、下段のリードは途中
から捻られているため、上下のリード同士が互いに干渉
するのを回避することができる。
(6) 上記(1)〜(5)により、リード群の集積密
度が2個のICチップによる集積密度を制約すること
は、抑止ないしは抑制することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図〜第3図は捻り構造のリードを有するICの第1
実施例を示すものであり、 第1図は上記ICの斜視図、 第2図は上記ICの要部の平面図、 第3図は上記ICの要部の側面図である。 第4図は捻り構造のリードを有するICの第2実施例を
示す要部の斜視図である。 第5図は本発明の一実施例であるICを示す要部の斜視
図である。 1……IC、2……パッケージ、3、13……リード、
4……配線パターン、5……プリント基板、6……ハン
ダ。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】ICチップがパッケージ内に封止されてお
    り、ICチップに電気的にそれぞれ接続された多数本の
    リードのそれぞれの一部がパッケージの側面からの外部
    に突出されているとともに、各リードは板形状に形成さ
    れてその幅広面がパッケージの側面にて水平になるよう
    に配されている半導体装置において、 前記パッケージ(2)内に2個のICチップが上下2段
    に積層されて封止されており、 前記リードは上段のリード(13)と下段のリード
    (3)とを備えているとともに、 前記上段のICチップが上段のリード(13)に電気的
    に接続され、前記下段のICチップが下段のリード
    (3)に接続されており、 前記上段のリード(13)と前記下段のリード(3)と
    が前記パッケージ(2)の側面にて上段と下段とで交互
    に配されてそれぞれ整列されており、 前記上段のリード(13)はその基端部付近が前記パッ
    ケージ(2)の側面に沿って下方向に折り曲げられてい
    るとともに、その折曲部の下方位置が前記パッケージ
    (2)の側面に直交するように捻じられており、 また、前記下段のリード(3)はその基端部付近が前記
    上段のリード(13)の捻り部と平行になるように捻じ
    られていることを特徴とする半導体装置。
JP59270819A 1984-12-24 1984-12-24 半導体装置 Expired - Lifetime JPH0618246B2 (ja)

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JPS61148855A JPS61148855A (ja) 1986-07-07
JPH0618246B2 true JPH0618246B2 (ja) 1994-03-09

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