JPH0511022A - 回路基板検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 回路基板上に搭載された不良部品を速やかに
特定すると共に、回路基板の検査時間の短縮化を図る。 【構成】 電気部品を実装した基板の検査を行う場合、
まずこの電気部品により構成された全体の電気回路を分
割し、分割された回路ブロックのファンクションテスト
をファンクションテスト部１５に実施させてその良否を
判定し、このファンクションテストの結果、否と判定さ
れた場合はインサーキットテスト部１４によりこの不良
回路ブロックのインサーキットテストを実施させて不良
部品の特定を行う。この結果、従来の各テスト方法に比
べ正確かつ迅速なテストを行うことが可能となり、大ロ
ット生産の回路基板を検査する際には極めて有効とな
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、電気部品等が実装され
た回路基板の良否を検査する回路基板検査装置に関する
ものである。

【０００２】

【従来の技術】従来、比較的少ないロットの回路基板を
検査する回路基板検査装置としては、実公昭６３−２９
２６１号公報に開示されているインサーキットテスト装
置や特開昭６１−２６２６７１号公報に開示されている
ファンクションテスタが提案されている。上記のインサ
ーキットテスト装置は、検査プローブを移動させて回路
基板上の全ての回路素子のインピーダンスを測定し、そ
の測定結果のデータと予めメモリに格納されているデー
タとを比較して良否を判定するものである。また、上記
のファンクションテスタは、実際に動作状態にある回路
基板上の任意の測定点の信号を測定し、その測定結果と
良品基板の同一測定点におけるデータとを比較して良否
を判定するものである。即ち、例えば図４に示すよう
に、回路を各回路ブロックＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄに分割し、実
動作時において分割されたこれら各回路ブロックの出力
部ａ，ｂ，ｃ，ｄの信号を測定し、その測定結果が良品
基板の測定結果と異なる場合、この基板を不良と判定す
るものである。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】上記のインサーキット
テスト装置は、検査プローブを移動しながら全ての実装
部品を検査するため、フィクスチャー型の従来のインサ
ーキットテスタに比べて検査時間がかかるという欠点が
あった。また、ファンクションテスタは、回路基板をい
くつかのブロックに分割してその入力側もしくは出力側
において実動作時の信号を測定するため、測定点が少な
くて済み、したがって検査時間が少なくなる利点を有す
るものの、全部品の良，不良が詳細に検査できないとい
う欠点があった。

【０００４】

【課題を解決するための手段】このような課題を解決す
るために、本発明は、回路基板の検査に際し、回路基板
に対し上下，左右へ移動する少なくとも１対の検査プロ
ーブと、この検査プローブにより検出された回路基板か
らの信号をファンクションテスト部またはインサーキッ
トテスト部へ送出させる信号切換部と、ファンクション
テスト部へ指示して回路基板の検査を実施させると共に
この検査結果が否と判定された場合はインサーキットテ
スト部へ検査の指示を行う制御部と、検査を実施する際
に基準となる基準データを格納するメモリとを備えたも
のである。

【０００５】

【作用】ファンクションテスト部における回路基板のフ
ァンクションテスト結果が否と判定された場合のみイン
サーキットテストが実施される。この結果、回路基板上
に搭載された全ての部品の良否を検査せずに不良部品の
特定が行えることになり、不良部品の特定が速やかに行
えると共に、検査時間が短縮される。

【０００６】

【実施例】以下、本発明について図面を参照して説明す
る。図２は、本発明に係る回路基板検査装置の全体の構
成を示す構成図であり、１は回路基板検査装置、２ａ，
２ｂはプローブ駆動装置、３ａ，３ｂは検査プローブ、
４は回路部品が実装されたプリント基板（回路基板）で
ある。また、図１は、本発明の回路基板検査装置の一実
施例を示すブロック図である。同図において、１０はプ
ローブ３ａ，３ｂを駆動するプローブ駆動テーブル、１
２はプローブ制御部、１３は信号切換部、１４はインサ
ーキットテスト部、１５はファンクションテスト部、１
６はＣＰＵ、１７はメモリである。

【０００７】図１，図２に示すように、回路基板４に対
し、上下、左右に移動する検査プローブ３ａ，３ｂを配
置し、回路基板４の検査が開始されると、この検査プロ
ーブ３ａ，３ｂはプローブ制御部１２により制御されて
回路基板上を左右方向へ移動し、回路基板の所定の位置
に到達すると、このプローブの先端のピンが回路基板の
所定の測定箇所に接するまで下方向へ移動する。そし
て、プローブの先端が測定箇所に接すると、回路基板上
の信号がケーブルを介して信号切換部１３に送出され、
さらにこの信号切換部１３を介し、インサーキットテス
ト部１４或いはファンクションテスト部１５に送出され
る。各テスト部においては測定箇所からの信号をデータ
に変換するとともに、このデータと予めメモリ１７内に
格納されＣＰＵ１６から送信されている基準データ（期
待値）とを比較し、そのテスト結果の情報をＣＰＵ１６
に伝達する。

【０００８】即ちＣＰＵ１６では、例えばファンクショ
ンテスト部１５において実施された或る回路部分のファ
ンクションテストの結果のデータが不良と判定されれ
ば、該回路基板上の不良箇所の信号がインサーキットテ
スト部１４へ送出されるように信号切換部１３を切換制
御する。この結果、インサーキットテスト部１４におい
てインサーキットテストが実施されこの回路基板の不良
部品が特定される。

【０００９】次に、図３はこの回路基板検査装置のＣＰ
Ｕ１６の動作を説明するフローチャートである。このフ
ローチャート用い、図４に示すような回路部品が搭載さ
れた回路基板を検査する回路基板検査装置の詳細な動作
を説明する。図４の電気回路を構成する部品が搭載され
た被検査基板である回路基板４がこの装置に装着される
と、プローブ制御部１２はＣＰＵ１６の指示を受けて、
検査プローブ３ａ，３ｂが回路基板４上の所定箇所、つ
まり図４の電気回路の例えば回路ブロックＡの出力部ａ
の実装箇所上へ到達するように左右方向へ移動制御す
る。そして、出力部ａ上に到達するとこのプローブの先
端のピンが出力部ａに接触するまで下方へ移動する。プ
ローブの先端が出力部ａに接触すると、ＣＰＵ１６は先
ずこの回路ブロックＡのファンクションテストを行うた
め、信号切換部１３を制御してプローブにより検出され
た信号がファンクションテスト部１４へ伝達されるよう
に切り換える。その後ファンクションテスト部１４へ指
示してファンクションテストを実施させる（ステップ３
０）。

【００１０】このファンクションテストは、上記したよ
うに、この電気回路が実動作しているときの各回路ブロ
ック内の所定の数カ所からの信号を検出してその良否を
判定するおおまかなものであり、この電気回路の回路ブ
ロックＡの出力部ａからのデータ信号が予めメモリ１７
に記憶されている基準データと比較し正しいと判定され
る場合は、次の回路ブロックＢの出力部ｂへプローブを
移動させて回路ブロックＢのファンクションテストを実
施するが、基準データと異なる場合は、この回路ブロッ
クＡが不良であると判定する（ステップ３１）。

【００１１】そして、回路ブロックＡが不良と判定され
た場合は、この不良回路ブロックＡ内の不良箇所を特定
するためにインサーキットテスト部１４へ指示してイン
サーキットテストを実施させる（ステップ３２）。即
ち、信号切換部１３を制御してプローブ３ａ，３ｂから
の信号がインサーキットテスト部１４へ伝達されるよう
にするとともに、プローブ制御部１２へ指示して、プロ
ーブ３ａ，３ｂを回路基板４内の回路ブロックＡの構成
部品が装着された各部へ、順次接触させるようにする。
そして、順次接触される各接触点からの信号と予めメモ
リ１７内に記憶されている基準データとを順次比較させ
ることにより、回路ブロックＡ内の不良箇所が特定させ
る。

【００１２】このようにして、順次、各回路ブロック毎
のファンクションテスト及びインサーキットテストが実
施される。以上説明したように、本発明は、電気部品を
実装した基板のテストを行う場合、まず分割された回路
ブロックのファンクションテストを実施して、その良否
のおおまかな傾向をつかみ、このファンクションテスト
の結果、否と判定された場合はインサーキットテストに
よりこの不良回路ブロックの詳細な不良箇所を特定する
ようにしたものである。この結果、従来の各テスト方法
に比べ正確かつ迅速なテストを行うことができ、大ロッ
ト生産の回路基板を検査する際に極めて有効となる。

【００１３】なお、本実施例においては、回路基板をテ
ストする場合、いきなりファンクションテストを実施す
るようにしたが、回路基板の電源ラインが短絡している
状態でいきなりファンクションテストを実施すると回路
基板全体が破壊される危険性があるため、ファンクショ
ンテストの実施前に電源ラインの短絡状態を確認するイ
ンサーキットテストを実施するようにしても良い。な
お、この電源短絡状態を確認するインサーキットテスト
は、一般に回路基板には電源ライン数が少ないことから
短時間で実施でき、全体のテスト時間に与える影響度は
少ない。

【００１４】

【発明の効果】以上説明したように、本発明は、ファン
クションテスト部における回路基板のファンクションテ
スト結果が否と判定された場合のみインサーキットテス
トを実施するようにしたので、回路基板上に搭載された
全ての部品の良否を検査することなく不良部品の特定が
行えることになり、したがって不良部品の特定が速やか
に行えると共に、検査時間が短縮され、回路基板検査装
置において顕著な効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る回路基板検査装置の一実施例を示
すブロック図である。

【図２】上記回路基板検査装置の構成図である。

【図３】上記回路基板検査装置の動作を説明するフロー
チャートである。

【図４】上記回路基板検査装置により検査される回路基
板上に搭載された電気部品の回路図である。

【符号の説明】

２ａ，２ｂ プローブ駆動装置 ３ａ，３ｂ 検査プローブ ４ 回路基板 １０ プローブ駆動テーブル １２ プローブ制御部 １３ 信号切換部 １４ インサーキットテスト部 １５ ファンクションテスト部 １６ ＣＰＵ １７ メモリ

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 【請求項１】 電気部品等が実装された回路基板の良否
   を検査する回路基板検査装置において、 回路基板に対し上下，左右へ移動する少なくとも１対の
   検査プローブと、この検査プローブにより検出された前
   記回路基板からの信号をファンクションテスト部または
   インサーキットテスト部へ送出させる信号切換部と、前
   記ファンクションテスト部へ指示して前記回路基板の検
   査を実施させると共にこの検査結果が否と判定された場
   合は前記インサーキットテスト部に対し検査の指示を行
   う制御部と、前記検査を実施する際に基準となるデータ
   を格納するメモリとを備えたことを特徴とする回路基板
   検査装置。